JP2022545552A - ハニカム体の検品システムおよび方法 - Google Patents

Abstract

ハニカム体上に表面欠陥があるかを調べて識別する改良された検品技術を開示する。改良された検品では、ハニカム体の外面の道程の測定を利用して、外面の画像を収集する。画像を組み合わせて、ハニカム体の外面を示す複合画像にする。複合画像を分析して、表面欠陥を識別する。

Description

関連出願の相互参照

本願は、米国特許法第１２０条の下、２０１９年８月３０日出願の米国仮特許出願第６２／８９３，９０６号の優先権の利益を主張し、その内容は依拠され、全体として参照により本明細書に組み込まれる。

本願は、ハニカム体の検品システム、および、検品方法に関する。

ハニカム体は、燃焼排気中の汚染物質などの作業流体内の不要物を処理する微粒子フィルタおよび触媒コンバータの構成など、様々な利用例で用いられている。ハニカム体の製造は、ハニカム体の衝撃性能に悪影響を与えうる表面欠陥があるかを検品する工程を含みうる。

本明細書において、特に、ハニカム体の撮像および検品を改良するための様々なアプローチを記載する。

例えば、ハニカム体の検品装置は、ハニカム体の全外面を正確に撮像するように構成されうる。検品装置は、多数の収集した画像に基づく複合画像を形成するように構成されうる。各画像の撮像は、ハニカム体の円周方向道程を基に指示されうる。

１つの態様において、ハニカム体の検品装置を提供する。装置は、ハニカム体を支持する作動部であって、ハニカム体を、回転軸を中心にハニカム体の１フル回転の少なくとも一部に亘って連続して回転させるように構成された作動部と、ハニカム体の外周面の検品領域を網羅する視野範囲を有するカメラと、ハニカム体が作動部によって回転される時に、ハニカム体の円周部に沿った円周方向道程を測定するセンサであって、カメラに、ハニカム体の検品領域の画像を円周方向道程の所定の増分毎に収集させるように構成されたセンサと、ハニカム体の外周面の検品領域を網羅する照射領域を有する光源とを含む。

いくつかの実施形態において、光源の照射軸とカメラの光軸の間の角度は、１５°以下である。いくつかの実施形態において、光源は、複数の光源を含み、各複数の光源の照射軸とカメラの光軸の間の角度は、１５°以下である。いくつかの実施形態において、複数の光源は、合わせて、少なくとも２，０００，０００ルクスの強度を有するものである。

いくつかの実施形態において、カメラは、検品領域の中心で、ハニカム体の外周面を中心に、そこから外側に約５ｍｍおよび内側に約５ｍｍ延伸する被写界深度を有するものである。

いくつかの実施形態において、光源は、少なくとも１，０００，０００ルクスの強度を有するものである。いくつかの実施形態において、センサは、０．２μｍ以下の測定分解能を有するエンコーダである。

いくつかの実施形態において、カメラは、複数のカメラを含むものである。いくつかの実施形態において、複数のカメラは、ハニカム体の円周部の周りに分布し、各カメラの視野範囲は、ハニカム体の全長以上である回転軸に平行に測定された長さを有するものである。いくつかの実施形態において、複数のカメラは、回転軸に平行に分布し、合わせて、ハニカム体の全長以上である回転軸に平行に測定された合計長さを有する視野範囲を有するものである。

いくつかの実施形態において、視野範囲は、回転軸に平行に測定されたハニカム体の全長以上である回転軸に平行に測定された長さを有するものである。いくつかの実施形態において、装置は、カメラとハニカム体の間のカメラの光軸に平行な方向の距離を特定するように構成された距離センサを、更に含む。

いくつかの実施形態において、装置は、ハニカム体を作動部上に配置するよう構成された載置機構を、更に含む。

いくつかの実施形態において、装置は、画像を分析して、１つ以上の表面欠陥を識別するように構成された制御部を、更に含む。

いくつかの実施形態において、装置は、ハニカム体を、識別された表面欠陥の数が所定の閾値以上であることに少なくとも部分的に基づいて、不合格容器に移動するように構成された不合格作動部を、更に含む。

いくつかの実施形態において、装置は、識別された表面欠陥の数が所定の閾値以未満であることに少なくとも部分的に基づいて、ハニカム体の表面に印を付与するように構成された印付与装置を、更に含む。いくつかの実施形態において、印は、ハニカム体が検品に合格したことを示すものである。

いくつかの実施形態において、作動部は、検品領域のハニカム体の端面とハニカム体の外周面との交差部分から離間するものである。

他の態様において、ハニカム体の検品装置を提供する。装置は、ハニカム体の外周面と係合し支持するように構成された作動部であって、ハニカム体を、回転軸を中心にハニカム体の１フル回転の少なくとも一部に亘って連続して回転させるように構成された作動部と、ハニカム体の外周面の検品領域を網羅する視野範囲を有するカメラと、カメラに、ハニカム体の外周面の検品領域の画像を所定間隔で収集させるように構成されたセンサと、ハニカム体の外周面の検品領域を網羅する照射領域を有する光源とを含む。

いくつかの実施形態において、作動部は、ハニカム体を受け付けるように構成された１対のローラを含み、ローラの少なくとも一方を回転させることで、ハニカム体の外周面と少なくとも一方のローラとの摩擦係合により、ハニカム体を回転させるものである。

いくつかの実施形態において、センサは、ハニカム体が作動部によって回転される時に、ハニカム体の円周部に沿った円周方向道程を測定するものであり、所定間隔は、円周方向道程の増分を含むものである。

いくつかの実施形態において、第１の光源の照射軸とカメラの光軸の間の角度は、１５°以下であり、第２の光源の照射軸とカメラの光軸の間の角度は、１５°以下である。

いくつかの実施形態において、第１の光源は、少なくとも１，０００，０００ルクスの強度を有し、第２の光源は、少なくとも１，０００，０００ルクスの強度を有するものである。いくつかの実施形態において、センサは、エンコーダである。いくつかの実施形態において、センサは、０．２μｍ以下の測定分解能を有するものである。

他の態様において、ハニカム体の外周面の検品方法を提供する。方法は、ハニカム体を、ハニカム体の外周面と係合した作動部を介して、連続して回転させる工程と、ハニカム体の外周面の円周部に沿って、円周方向道程を測定する工程と、カメラに、ハニカム体の外周面の複数の画像を収集させる工程であって、複数の画像は、ハニカム体の１回転に亘って、外周面の円周方向道程の所定の増分毎に収集されるものである工程と、複数の画像を組み合わせて複合画像にする工程と、複合画像を分析して、ハニカム体の外周面上の１つ以上の表面欠陥を識別する工程とを含む。

いくつかの実施形態において、方法は、ハニカム体を、識別された表面欠陥の数が所定の閾値以上であることに少なくとも部分的に基づいて、不合格にする工程を、更に含む。

いくつかの実施形態において、方法は、識別された表面欠陥の数が所定の閾値以未満であることに少なくとも部分的に基づいて、ハニカム体の表面に印を付与する工程を、更に含む。

いくつかの実施形態において、センサが、円周方向道程を、０．２μｍ以下の分解能で測定する。

いくつかの実施形態において、作動部は、ハニカム体を受け付けるように構成された１対のローラを含み、ハニカム体を連続して回転させる工程は、ローラの少なくとも一方を回転させて、ハニカム体の外周面と少なくとも一方のローラとの摩擦係合により、ハニカム体をハニカム体の縦軸を中心に回転させる工程を含むものである。

この概要は、次の詳細な記載において更に記載する概念を、選択して、簡略に示すものである。この概要は、請求する主題の主要な特徴も不可欠な特徴も特定することを意図せず、更に、請求する主題の範囲を限定するように用いられることも意図しない。更に、本発明は、詳細な記載、および／または、本明細書の他の部分で記載した特定の実施形態に限定されるものではない。本明細書において、そのような実施形態は、例示にすぎない。当業者には、本明細書の教示に基づいて、更なる実施形態が明らかであろう。

添付の図面は、本明細書に組み込まれて、その一部を形成するものであり、本発明の実施形態を図示し、更に、明細書の記載と共に、包含される原理を説明して、当業者が、開示した技術を製造および使用可能にする役割を果たしている。

開示した技術の特徴および利点は、以下の詳細な記載を、類似の参照符号が全図を通して対応要素を特定している図面と共に読むことで、より明らかになるだろう。図面において、類似の参照番号は、概して、同一、機能的に同様、および／または、構造的に同様の要素を示す。要素が最初に示される図の番号を、対応する参照番号中の左寄りの数字に示している。

例示的なハニカム体の斜視図である。 図１のハニカム体の側面図である。 実施形態による例示的なハニカム体の検品装置の前面図である。 図３の例示的な装置の一部の側面図である。 図３の例示的な装置の一部の斜視図である。 検品領域を含むハニカム体の外面を概略的に示す側面図である。 実施形態による例示的なハニカム体の検品装置の前面図である。 実施形態による例示的なハニカム体の検品装置の一部の側面図である。 欠陥を含むハニカム体の斜視図である。 図９のハニカム体を概略的に示す斜視図である。 図９のハニカム体の外面の複合画像の上面図である。 実施形態による例示的なハニカム体の外面の検品方法のフローチャートである。

以下の詳細な記載は、本開示の実施形態を示す添付の図面を参照する。しかしながら、本発明の範囲は、これらの実施形態に限定されるものではなく、添付の請求項によって画定されるものである。したがって、図示した実施形態の変更例など、添付の図面に示したものを超えた実施形態も、本発明に包含されうる。

本明細書において、「一実施形態」、「実施形態」、「例」などと記載する場合は、記載した実施形態が、特定の特徴物、構造、または、特徴を含みうるが、必ずしも、全ての実施形態が、その特定の特徴物、構造、または、特徴を含むものではないことを意味する。更に、そのような語句は、必ずしも、同じ実施形態を称するものではない。更に、特定の特徴物、構造、または、特徴を、ある実施形態に関連して記載する場合、明示したかに関わらず、他の実施形態に関して、そのような特徴物、構造、または、特徴を実施することは、当業者の知識の範囲内である。

本明細書に記載の実施形態は、ハニカム体の外面を検品するのに用いられる従来の検品システムを改良するものである。本明細書に記載の実施形態の利点は、部品を作動部に正確に配置することを要しない簡略な載置を含み、その結果、労働コストを削減する。開示した実施形態は、回転速度の変化による歪んだ、または、不完全な画像となることを避ける。実施形態は、ハニカム体の円周方向道程を直接測定した結果に基づく正確な撮像を提供する。更なる利点は、本明細書に記載の実施形態は、ハニカム体上の表面の異常部の特徴および大きさを特定して、任意の異常部が存在するかを判断し、更に、存在する場合には、任意のそのような異常部が、ハニカム体の修理または廃棄を必要とする欠陥であるかを判断することを可能にする。実施形態は、品質制御および処理監視のために、拡大画像の収集も可能にする。

図１、２は、例示的なハニカム体１００を示している。ハニカム体１００は、概して、押出成形されたセラミック材料から形成される。ハニカム体１００は、複数の交差する内壁部１０２を含み、それらは、ハニカム体１００を通って、縦軸Ｌに略平行に第１の端部１０４から第２の端部１０６に縦方向に延伸する。内壁部１０２は、合わせて、第１の端部１０４から第２の端部１０６までハニカム体１００を通って延伸する孔または内腔を形成する複数のチャネルまたはセル１０８を画定し、ハニカム体１００の多孔性ハニカム構造を形成する。ハニカム体１００は、多孔性セラミック材料から構成されうる。

外被覆部１０９は、内壁部１０２を囲み、ハニカム体１００の外面１１０を画定する。外面１１０は、ハニカム体１００の両端部１０４、１０６の間に縦方向に延伸する円周方向表面を称する。本明細書における記載を容易にするために、円周方向（および／または、円周）という用語を用いているが、ハニカム体１００は、円筒以外の形状でありうるもので、円周面は、そのような任意の形状の外周縁面を称することを意図する。外被覆部１０９は、ハニカム体１００の外形を形成し画定する。本明細書に開示のシステムおよび方法は、任意の異常部が、外被覆部１０９に、および／または、その上に存在するかを検出するように配列される。異常部を検出した場合、これらの異常部のいくつかは、単に美的点での異常部であるが、他の異常部は、検品でハニカム体が不合格になり、例えば、ハニカム体１００の修理または廃棄が必要になる欠陥でありうる。本明細書に記載の実施形態は、異常部が、そのような欠陥を構成するかを判断可能である。美的点での異常部の例は、限定されるものではないが、サイドスティック、緩んだファイバ、管ゲージマーク、および、波形を含む。（修理または廃棄を必要としうる）欠陥の例は、限定されるものではないが、大／小の完全な亀裂、大／小の部分的亀裂、油亀裂、隆起した亀裂、空気割れ目、および、縁部欠けを含む。

ハニカム体の検品方法および装置を、本明細書に記載する。そのような検品装置は、全外面１１０の複合画像を提供するように構成され、繰返し可能に、外面１１０を完全に網羅して検品する。例えば、検品装置は、ハニカム体１００の全長およびハニカム体１００の円周の所定の部分に亘って延伸する検品領域１１２に対応する一連の画像を取得するように構成されうる。検品領域の画像は組み合わされて、全外面１１０を示す複合画像を形成する。

図３～５を参照して、ハニカム体１００を検品する例示的な装置３００を記載する。装置３００は、作動部３０２、カメラ３０４、センサ３０６、および、光源アセンブリ３０８を含む。作動部３０２は、検品中、ハニカム体１００を支持し、ハニカム体１００を回転させるように構成される。実施形態において、作動部３０２は、ハニカム体１００を、縦軸Ｌを中心にハニカム体１００の少なくとも１フル回転に亘って連続して回転させるように構成される。実施形態において、作動部３０２は、モータ５１２によって駆動されてハニカム体１００を回転させる少なくとも１つの駆動ローラ３１０を含む。駆動ローラ３１０は、ハニカム体１００の外面１１０に接触し、少なくとも部分的には、駆動ローラ３１０と外面１１０との間で摩擦を生じさせる材料で構成されうる。このようにして、ハニカム体１００の表面１１０が駆動ローラ３１０と係合する場合には、駆動ローラ３１０の回転が、ハニカム体１００の回転を生じさせる。駆動ローラ３１０は、比較的柔軟な材料を含み、ハニカム体１００の衝撃を吸収しうる。例えば、材料は、ポリウレタンでありうる。

実施形態において、作動部３０２は、例えば、自由に回転自在な第２のローラ３１４も含む。第２のローラ３１４は、駆動ローラ３１０と組み合わさり、ハニカム体１００の支持部を形成する。例えば、第２のローラ３１４と駆動ローラ３１０は、ハニカム体１００を駆動ローラ３１０と第２のローラ３１４の間に形成された間隙３１５に受け付けた時に、ハニカム体１００を支持しうる。ハニカム体１００は、水平の向きに支持されうるが、ハニカム体１００は、任意の適した向きに支持されうるものである。第２のローラ３１４は、駆動ローラ３１０によって回転させられたハニカム体１００の回転と共に回転するように構成される。実施形態において、駆動ローラ３１０と第２のローラ３１４は、ハニカム体１００の検品領域１１２の反対側に、ローラ３１０、３１４が検品領域１１２の周囲から離間するように配置される。そのように離間させることで、ローラ３１０、３１４が、カメラ３０４の視野範囲も、作動部３０２からの反射を生じることによってなど、光源アセンブリ３０８から提供された照明光も、確実に妨げないようにする。作動部３０２のローラシステムによる利点は、ハニカム体１００の縦軸Ｌと作動部の回転軸との正確な位置合わせを必要としないことである。その代わりに、ハニカム体１００は、ローラ３１０、３１４と係合した時に、縦軸Ｌ（例えば、ハニカム体１００が円筒の場合には、ハニカム体の中心軸）を中心に回転することになる。更に、外面１１０がローラ３１０、３１４と係合するので、ハニカム体１００は、概して外被覆部１０９より破損し易い端部１０４、１０６を接触も係合もさせる必要なく、ローラ３１０、３１４上に載置されうる点で有利である。

ハニカム体１００は、作動部３０２に、手動または自動で載置されうる。例えば、操作者は、ハニカム体１００を作動部３０２に手動で載置しうる。他の例において、装置は、ロボットなど、ハニカム体１００を作動部３０２に配置するように構成された載置機構を含む。

図５に示すように、モータ５１２は、駆動ローラ３１０に連結されて、駆動ローラ３１０がモータ５１２を介して回転するのを可能にする。実施形態において、モータ５１２は、ギアボックス５１６を介して駆動ローラ３１０に連結される。ギアボックス５１６は、ベルトまたはチェーン駆動部などの駆動機構３１８に連結されうる。その代わりに、モータ５１２またはギアボックス５１６は、駆動ローラ３１０に直接連結されうる。モータ５１２は、サーボモータでありうるが、電気モータまたは空気圧モータなどの他のモータも用いうる。実施形態において、モータ５１２の回転速度は、ハニカム体１００の外面１１０が少なくとも１２５ｍｍ／ｓ、ある実施形態においては、少なくとも１５０ｍｍ／ｓ、更に、ある実施形態においては、少なくとも２５０ｍｍ／ｓの速度で進行するように設定される。

カメラ３０４は、ハニカム体１００に対して、カメラ３０４がハニカム体１００の外面１１０の望ましい検品領域１１２を網羅する視野範囲ＦＯＶおよび被写界深度ＤＯＦを画定するように配列される。例えば、視野範囲ＦＯＶは、ハニカム体１００の回転軸（例えば、縦軸Ｌ）に平行な方向に、検品領域１１２の長さ寸法ＩＬ以上の長さ寸法ＣＬを有する大きさにして、カメラ３０４がハニカム体１００の全長を撮像するように構成しうる。実施形態において、視野範囲ＦＯＶの長さ寸法ＣＬは、検品領域１１２の長さ寸法ＩＬ、および／または、ハニカム体の端部１０４、１０６の間の全長より、少なくとも約３％、約５％、または、約１０％長い。更に、視野範囲ＦＯＶは、検品領域１１２の弧状部長さである幅寸法ＩＷを網羅する幅寸法ＣＷを有するようにして、カメラ３０４がハニカム体１００の円周部の特定の長さを撮像するように構成される。実施形態において、検品領域１１２の幅寸法ＩＷは、２～２０μｍの範囲であり、更なる実施形態において、５～１５μｍの範囲であり、更なる実施形態において、約１０μｍである。

更に、カメラ３０４は、被写界深度ＤＯＦが、検品領域１１２に含まれる外面１１０の全体を合焦可能にするように選択される。例えば、外面１１０は、概して、ハニカム体１００の縦軸Ｌを中心に湾曲している。その結果、カメラ３０４の光軸ＯＰに平行に測定した時に、検品領域１１２内の外面１１０の部分同士がカメラ３０４から異なる距離になる。検品領域１１２の外面１１０からカメラまでの最小距離とカメラまでの最大距離の差は、図６に示すような線分深さＳを画定し、カメラの被写界深度ＤＯＦは、線分深さＳ以上である。実施形態において、検品装置は、１０ｍｍ（つまり、外面１１０から＋／－５ｍｍ）の被写界深度内で、約６．２”（約１５．７ｃｍ）の長さ寸法ＩＬおよび約１０μｍの幅寸法ＩＷ有する検品領域１１２を撮像するように構成されたカメラを備えることによって、約６．０”（約１５．２ｃｍ）の直径を有するハニカム体１００を検品するように構成されうる。

カメラ３０４は、レンズ３０５に連結されて、拡大、および／または、カメラ３０４の視野範囲ＦＯＶの変更を行うようにしうる。実施形態において、レンズは、テレセントリックレンズである。実施形態において、レンズは、マクロレンズである。実施形態において、レンズは、×０．０５～×２．０の範囲の拡大を行う。実施形態において、レンズは、×０．３５の拡大を行う。

更に、カメラ３０４は、６０秒より非常に短い検品周期時間を支援するデータ転送速度を提供するように選択される。実施形態において、データ転送速度は、ハニカム体１００の全外面１１０の画像を撮像して、撮像した画像を記憶部に２０秒未満で転送するのに十分速い速度である。実施形態において、周期時間は、約５秒未満、約２秒未満、または、より好ましくは、約１．５秒未満である。実施形態において、カメラ３０４は、ラインスキャンカメラである。一実施形態において、カメラ３０４は、０．５μｍ～７．５μｍの分解能を有する１０ｋ～２０ｋ画素のリニアアレイから構成され、更に、ある実施形態において、３．５μｍの画素分解能を有する１６ｋ画素のリニアアレイから構成される。

検品装置３００は、カメラ３０４とハニカム体１００とが、カメラの光軸ＯＰに平行な方向に相対移動するように構成された移動自在な固定部も含みうる。例えば、移動自在な固定部は、カメラマウント３２０および少なくとも１つの摺動レール３２２を含む平行移動摺動機構でありうる。カメラマウント３２０は、カメラマウント３２０が平行移動可能なように、摺動レール３２２に移動自在に連結される。摺動レール３２２は、ハニカム体１００に対して固定されうる。カメラ３０４は、カメラマウント３２０に、カメラ３０４がカメラ３０４の光軸ＯＰに平行な方向に摺動レール３２２およびハニカム体１００に対して平行移動可能となる向きに固定連結されうる。実施形態において、摺動レール３２２は、垂直に向けられて、カメラ３０４は垂直軸方向にハニカム体１００に向かって、および、離れるように、平行移動自在である。実施形態において、カメラ３０４は、被写界深度ＤＯＦの中心が、検査されているハニカム体１００の公称直径上に概して位置するように配置され、例えば、被写界深度は、検品領域１１２の幅寸法ＩＷの中心Ｃで、ハニカム体１００の公称外径から外側に５ｍｍおよび内側に５ｍｍ延伸する合焦領域を画定する（つまり、＋／－５ｍｍ）。

センサ３０６は、検品装置３００に含まれ、ハニカム体１００が作動部３０２の駆動ローラによって回転される時に、ハニカム体１００の円周方向道程を測定するように構成される。センサ３０６は、ハニカム体が回転される時に、カメラ３０４にハニカム体１００の検品領域１１２の画像を収集させるために、つまり、カメラ３０４を指示または他の態様で作動させる信号を送るために採用される。円周方向道程を用いて、カメラ３０４に画像を収集させるので、有利には、ハニカム体１００の回転速度の変化が複合画像に影響しないし、撮像中に、外面１１０の一部を意図せずに抜かすことがない。例えば、センサ３０６は、カメラ３０４に、ハニカム体１００の外面１１０の円周方向道程の所定の増分毎に検品領域１１２の画像を収集させるように構成される。実施形態において、センサ３０６は、駆動ローラ３１０に連結される。駆動ローラ３１０は、ハニカム体１００の外面１１０に直接接触して、回転中に、駆動ローラ３１０の円周方向道程が外面１１０の円周方向道程と同じになるようにする。実施形態において、センサ３０６は、駆動ローラ３１０に連結されたエンコーダであるが、センサ３０６は、エンコーダに限定されず、接触または非接触の道程測定装置を含みうる。センサ３０６は、可撓性回転連結部５０７を用いて、駆動ローラ３１０に連結され、回転中に、ローラ３１０、および／または、センサ３０６が互いに拘束も破損もされ合わないようにしうる。実施形態において、センサ３０６は、０．５μｍ未満の測定分解能を有するエンコーダであり、ある実施形態において、０．２μｍ未満の測定分解能であり、更に、ある実施形態において、０．１μｍ未満の測定分解能である。実施形態において、ハニカム体１００を連続して回転させる時に、センサ３０６は、カメラ３０４に、画像を、外面１１０の円周方向道程の１０μｍの増分毎に収集させる。

光源アセンブリ３０８は、光を発して、その光をハニカム体１００の外面１１０に向けるように構成される。発せられた光は、外面１１０上に、検品領域１１２を網羅する照射領域１１２を形成し、カメラ３０４によって撮像される間、検品領域１１２が照らされるようにする。光源アセンブリ３０８は、照射軸Ｉを画定する少なくとも１つの光源３２４を含み、更に、複数の光源３２４を含みうる。光源３２４は、ＬＥＤ光源アレイから構成された光源３２４など、高強度の単色ＬＥＤ光源でありうる。光源３２４によって発せられた光は、少なくとも１つの波長によって画定され、波長は、望ましい画質を提供するためにハニカム体１００の材料に合うように選択されうる。実施形態において、光源アセンブリ３０８は、白色光を発するように構成され、更に、他の実施形態において、光源アセンブリ３０８は、赤色光を発するように構成される。各光源３２４は、レンズ３２５も含み、ハニカム体１００の一部をライン状に照射など、非常によく合焦された狭い照射領域を提供しうる。実施形態において、光源は、少なくとも２００ｍｍの長さを有する照射領域を提供するように構成される。

図示した実施形態において、光源アセンブリ３０８は、１対の光源３２４を含み、各々、照射軸Ｉを画定する。複数の光源３２４を含む実施形態において、各光源３２４は、合焦した高強度光源であり、複数の光源３２４の照射領域が重なるように、検品領域を網羅する照射領域が外面１１０に形成されるように構成されうる。実施形態において、光源３２４は、照射軸Ｉとカメラの光軸ＯＰの間の照射角θを画定するように向けられる。実施形態において、照射角θは、できるだけ０°に近く、波形など、いくつかの表面異常部の視認性を低下させる。実施形態において、照射角θは、１５°以下、１２°以下、または、１０°以下である。実施形態において、１対の光源が含まれ、光源は、カメラ３０４の光軸ＯＰの両側に配置されて、＋θ、および、－θの照射角を提供する。光源アセンブリ３０８は、合わせて、少なくとも１，０００，０００ルクスの強度など、高強度の光を発するように構成され、ある実施形態において、少なくとも２，０００，０００ルクスの強度でありうる。例えば、合わせて２，０００，０００ルクスの強度の複数の光源が含まれうる。

検品装置３００は、カメラ３０４とハニカム体１００の間の距離に関する情報を提供する距離センサ３２６も含みうる。距離センサ３２６は、カメラ３０４とハニカム体１００の間のカメラ３０４の光軸ＯＰに平行な方向の距離を特定するように構成される。実施形態において、距離センサ３２６は、カメラ３０４と移動自在なように、カメラマウント３２０に連結される。距離センサ３２６によって提供された測定情報を、ハニカム体１００を作動部３０２に載置した後に用いて、カメラ３０４をハニカム体１００に対して、カメラ３０４の被写界深度ＤＯＦがハニカム体１００の検品領域１１２を網羅するように配置する。距離センサは、レーザ光をハニカム体１００の外面１１０に向けて、レーザ光の反射を感知し、更に、その情報を距離データに変換するレーザ近接センサなどのレーザ系システムでありうる。

いくつかの実施形態において、検品装置３００は、制御部３２８を含む。制御部３２８は、ハニカム体１００の外面１１０の画像を分析して、異常部を欠陥として分類すべきかを判断することによって、１つ以上の表面欠陥を識別し、更に、分析結果を出力するように構成されうる。例えば、制御部３２８は、ハニカム体１００を回転させる間にカメラ３０４によって撮像された検品領域の画像を順に繋ぎ合わせて、複合画像を形成しうる。複合画像は、欠陥でありうる表面異常部を含む全外面１１０を示す。制御部３２８は、測定情報の収集、および／または、異常部を形状または他の特徴によって種類に分類することなどによって、異常部を分析し、異常部が欠陥であるかを判断する。制御部３２８は、欠陥を数えて、欠陥数が、欠陥数の所定の閾値を超えるかを判断するようにも構成されうる。実施形態において、欠陥数の閾値は、１０である。他の実施形態において、欠陥数の閾値は、５、または、３、または、１である。ある例において、制御部３２８からの判断結果を用いて、ハニカム体１００をソート、または、ハニカム体１００に印を付与しうる。

実施形態において、装置３００は、検品したハニカム体をソートするのに用いられる不合格作動部３３０を含む。実施形態において、不合格作動部３３０は、選択的に延伸してハニカム体１００の一部に接触する移動自在な楔形部として配列される。一例において、不合格作動部３３０は、ハニカム体１００の下方で、駆動ローラ３１０と第２のローラ３１４に間に配置される。他の例において、不合格作動部３３０は、ハニカム体１００の横側に配置される。不合格作動部３３０の移動は、少なくとも部分的には、制御部３２８によって判断された識別欠陥の数に基づいて行われうる。例えば、ハニカム体１００が、１０、５、または、１などの閾値以上の数の表面欠陥を有する場合、ハニカム体１００は不合格になりうる。ハニカム体１００が、不合格になるのに十分な数の欠陥を含むと判断された場合、不合格作動部３３０は、ハニカム体１００に向かって平行移動され、その作動部３３０（例えば、楔形体）は、ハニカム体１００を作動部３０２から、作動部３０２に隣接して配置された不合格容器３３２に排出する。

実施形態において、装置３００は、印付与装置３３４を含む。印付与装置３３４は、ハニカム体１００の外面１１０へのインクの吹き付けなどによって、少なくとも１つの印を、ハニカム体１００の表面に付与するように構成される。印付与装置３３４は、ハニカム体１００の表面に「合格」、「可」、「不可」、または、「不合格」と書くこと、および／または、符号（例えば、チェックマーク、Ｘ、円、または、他の形状、象徴的記号、文字、色、シンボル、若しくは、それらの組合せ）の印を付与することによって、合格、および／または、不合格の検品結果を、ハニカム体１００によって示すように動作しうる。印付与装置３３４の動作は、少なくとも部分的には、制御部３２８によって判断された識別欠陥の数に基づきうる。例えば、ハニカム体１００は、上記閾値に基づいて、合格または不合格とされ、それに応じて、ハニカム体１００は、印を付与されうる。ある例において、識別表面欠陥が閾値未満の場合には、印付与装置３３４を用いて（例えば、「合格」または「可」を外面１１０に付与することによって）、ハニカム体１００は、検品に合格した印を付与される。

部分存在検知センサ３３６が、装置３００に備えられ、ハニカム体１００が作動部３０２上に配置された時に識別するようにし、ハニカム体１００の検品を開始するのに用いられうる。部分存在検知センサ３３６は、作動部３０２の一部に固定されて、載置されたハニカム体１００が占める駆動ローラ３１０の隣接位置に向けられうる。部分存在検知センサ３３６は、レーザ存在検知センサでありうる。実施形態において、ハニカム体１００が存在するかを、部分存在検知センサ３３６の代わりに、距離センサ３２６によって判断しうる。

ここで、図７を参照して、他の例示的なハニカム体１００の検品装置７００を記載する。装置７００は、ハニカム体１００の円周部の周りに分布した複数のカメラによって、ハニカム体１００の全外面の検品を行う時間を短縮しうる構成を提供する。装置７００は、作動部３０２、第１のカメラ３０４ａ、第２のカメラ３０４ｂ、センサ３０６、第１の光源アセンブリ３０８ａ、および、第２の光源アセンブリ３０８ｂを含む。装置７００は、制御部３２８、第１の距離センサ３２６ａ、および、第２の距離センサ３２６ｂも含みうる。本明細書における記載を容易にするために、基本の参照番号の後にアルファベット（例えば、「ａ」、「ｂ」など）を付した任意の構成要素の記載は、後にアルファベットを付していない基本の参照番号で識別される構成要素の記載と概して共通である。例えば、距離センサ３２６ａ、３２６ｂの構造および動作は、距離センサ３２６の記載から、理解される。このようにして、作動部３０２、センサ３０６、光源アセンブリ３０８ａ、３０８ｂ、制御部３２８、および、距離センサ３２６ａ、３２６ｂは、上記実施形態で組み込んだものなので、更に詳細に記載しない。

装置７００は、ハニカム体１００の円周部の周りに分布した第１のカメラ３０４ａおよび第２のカメラ３０４ｂを含み、両方のカメラ３０４ａ、３０４ｂは、センサ３０６による道程の測定結果に基づいて動作する。それ以外の点では、カメラ３０４ａ、３０４ｂは、既に記載したように構成される。実施形態において、各カメラは、ハニカム体１００の直径方向に反対の位置で、外面１１０の画像を撮像する。第１のカメラ３０４ａおよび第２のカメラ３０４ｂは、各々、ハニカム体１００の長さ以上であるハニカム体１００の縦軸Ｌなどの回転軸に平行に測定した視野範囲を有するように構成される。その結果、ハニカム体１００が縦軸Ｌを中心に１フル回転の半分だけ回転した後で、制御部３２８によって、画像を組み合わせて、全外面１１０の複合画像を生成しうる。上記実施形態と同様に、装置は、カメラとハニカム体１００とが、カメラの光軸ＯＰと略平行な方向に互いに相対的に移動するように構成される。

ここで、図８を参照して、ハニカム体１００の検品装置８００を記載する。装置８００は、複数のカメラを用いてハニカム体１００の外面１１０の画像を撮像する他の構成を提供する。この構成の利点は、更なるカメラを組み込んで、撮像しうる検品領域１１２の長さ寸法ＩＬを長くして、より長いハニカム体を収めることである。装置８００は、作動部３０２、第１のカメラ３０４ａ、第２のカメラ３０４ｂ、センサ３０６、および、光源アセンブリ３０８を含む。装置８００は、距離センサ３２６、および、部分存在検知センサ３３６も含みうる。作動部３０２、センサ３０６、光源アセンブリ３０８、距離センサ３２６、および、部分存在検知センサ３３６は、既に記載した実施形態でも組み込んだものなので、更に詳細に記載しない。

装置８００は、ハニカム体１００の回転軸、縦軸Ｌに平行に分布した第１のカメラ３０４ｃおよび第２のカメラ３０４ｄを含み、両方のカメラ３０４ｃ、３０４ｄは、センサ３０６による道程の測定結果に基づいて動作する。それ以外の点では、カメラ３０４ｃ、３０４ｄは、既に記載したように構成される。第１のカメラ３０４ｃ、および、第２のカメラ３０４ｄは、合わせて、ハニカム体１００の長さ以上である回転軸に平行に測定した視野範囲を有するように構成される。その結果、ハニカム体１００が、縦軸Ｌを中心に１フル回転した後で、制御部（例えば、制御部３２８）によって、画像を組み合わせて、全外面１１０の複合画像を生成しうる。上記実施形態と同様に、装置は、カメラとハニカム体１００とが、カメラの光軸ＯＰと略平行な方向に互いに相対的に移動自在ように構成される。

装置３００、８００を用いたような実施形態において、ハニカム体１００の連続した１フル回転に亘って画像を取得することによって、全外面１１０を撮像しうる。装置７００を用いたような実施形態において、ハニカム体１００の連続した部分回転に亘って画像を取得することによって、外面１１０を撮像しうる。回転量は、ユーザによって予め決定されるか、または、制御部が、必要な回転を、少なくとも部分的には、外径などのハニカム体１００の寸法属性に基づいて決定するように構成しうる。寸法属性は、ユーザによって入力されるか、または、装置に含まれる１つ以上のセンサを用いて測定されうる。更に、回転量は、複合画像の端部では、重複画像を取得して、全外面を確実に撮像するように選択されうる。実施形態において、装置は、円筒状ハニカム体１００の回転距離が、公称直径に基づくようにして構成され、更に、所定のパーセントで距離を長くするなどして、所定の許容度を距離に与えるようにする。実施形態において、その所定のパーセントは、１０％以下であり、ある実施形態においては、５％以下であり、更に、ある実施形態においては、３％以下である。

ここで、図９～１１を参照して、多数の欠陥を有するハニカム体９００を記載する。上記のように、ハニカム体は、完全な亀裂、部分的亀裂、油亀裂、および、空気割れ目を含む広範囲の様々な表面欠陥を有しうる。完全な亀裂以外の全ては、ハニカム体の長さの一部のみに沿って延伸する。例えば、完全亀裂９４２、部分的亀裂９４４、および、油亀裂９４６を有するハニカム体９００を図示している。本明細書に記載のハニカム体の検品装置の実施形態は、ハニカム体の外面９１０の検品領域を撮像することによって、全外面９１０を撮像する。撮像は、外面９１０の円周方向道程の測定結果に基づいて行われ、更に、カメラの視野範囲は、ハニカム体９００の全長を撮像するように選択されるので、外面９１０の一部が画像にないということがない。その結果、ハニカム体９００の全長に亘っては延伸しない欠陥が、検品で漏れることがない。

複合画像１１５０は、ハニカム体９００が検品領域に基づいて回転される時に撮像した、ハニカム体９００の円周部の周りの一連の部分を網羅する複数の画像Ｐ_１～Ｐ_ｎから、形成される。上記のように、同じ領域の１つ以上の追加の画像（例えば、画像Ｐ_ｎ＋１、Ｐ_ｎ＋２など）を重複して、第１の画像（例えば、Ｐ_１、Ｐ_２など）として撮像し、次に、重複画像を廃棄するか、または、他の態様で、複合画像１１５０の形成に用いないようにしうる。図１１に概略的に示したように、複合画像１１５０は、複合画像１１５０の長さＡがハニカム体９００の円周長さに対応し、高さＢがハニカム体９００の全長に対応するように、外被覆部がハニカム体９００から剥がされて、平らに置かれて撮像されたかのように形成するのが効果的である。最終複合画像１１５０は、複数の画像Ｐを、撮像したのと同じ順序で繋ぎ合わせて形成されて、最終複合画像１１５０が、ハニカム体９００上の任意の欠陥を含む全外面９１０の外見を正確に表示する。

図１２は、例示的なハニカム体の外面の検品方法のフローチャート１２００を示している。フローチャート１２００の処理は、例えば、図３、７、８に各々示した検品装置３００、７００、８００の任意の実施形態を用いて行いうる。当業者には、更なる構造的および動作的実施形態も、フローチャート１２００の記載を基に明らかだろう。

図１２に示すように、フローチャート１２００の方法は、工程１２６０で始まる。工程１２６０において、ハニカム体（例えば、ハニカム体１００）は、回転される。実施形態において、ハニカム体を回転させる工程は、少なくとも１フル回転を通してなど、ハニカム体を連続して回転させる工程を含む。ハニカム体は、作動部３０２などの作動部を用いて、回転されうる。

工程１２６２において、ハニカム体の外面の円周方向道程を測定する。実施形態において、工程１２６２の円周方向道程の測定工程は、円周方向道程を、ハニカム体の外面の円周部に沿って測定する工程を含む。実施形態において、センサ３０６を用いて、円周方向道程を測定する。

工程１２６４において、カメラに、複数の画像を収集させる。実施形態において、工程１２６４のカメラを動作させる工程は、カメラに、ハニカム体の外面の複数の画像を収集させる工程を含む。ハニカム体の１回転の間に、複数の画像が、外面の円周方向道程の所定の増分毎に収集される。実施形態において、カメラの視野範囲は、カメラに撮像させるのに用いた道程量に一致するハニカム体の円周部の一部を撮像する。実施形態において、カメラ３０４を用いて、複数の画像を収集する。

工程１２６６において、複数の画像を組み合わせる。工程１２６６の複数の画像を組み合わせる工程は、複数の画像を組み合わせて、複合画像にする工程を含む。実施形態において、複合画像は、ハニカム体の全外面を表示する。実施形態において、制御部３２８を用いて、複数の画像を繋ぎ合わせる。

工程１２６８において、複合画像を分析する。工程１２６８の複合画像の分析工程は、複合画像を分析して、ハニカム体の外面上の１つ以上の表面欠陥を識別する工程を含む。実施形態において、制御部３２８を用いて、複合画像を分析する。例えば、分析工程を、機械学習アルゴリズム、画像処理アルゴリズムなどの１つ以上のアルゴリズムによって行って、異常部が存在するかを検出、および／または、異常部の種類を分類しうる。例えば、閾値を用いたものなど、画像処理アルゴリズムを用いて、明暗差による色の異常部（例えば、明るい色の外面１１０上の暗い異常部）の検出を補助しうる。一実施形態において、ディープラーニングアルゴリズム、例えば、ＲｅｓＮｅｔなど、画像分類を行うように構成されたニューラルネットワークを用い、それは、合格および不合格ハニカムの画像を管理するように学習して、ニューラルネットワークが更に学習して、不合格ではない異常部と比べて、どの異常部が不合格な欠陥であるかを検出するようになる。例えば、異なる種類の欠陥または異常部を示す数百または数千の画像を、異常部のないハニカム体の画像と共に、アルゴリズムに提供して、アルゴリズムが各シナリオを特定するように学習させ、それに応じて、ハニカムを分類しうる。当業者は、収集した画像に基づく検出およびハニカム体の分類に適した他のアルゴリズムが分かるだろう。

方法は、少なくとも部分的には、識別した表面欠陥の数が所定の閾値より大きいことに基づいて、ハニカム体を不合格にする工程も含みうる。実施形態において、識別された表面欠陥の数が、１０以上の場合、更に、他の実施形態においては、５以上の場合に、ハニカム体は、不合格になる。更に、方法は、少なくとも部分的には、表面欠陥の数などの合格／不合格閾値に基づいて、印をハニカム体の表面に付与する工程を含みうる。実施形態において、識別された表面欠陥の数が１０未満、更に、他の実施形態において、５未満の場合に、ハニカム体は、検品に合格した印を付与される。

構造的特徴、および／または、動作に特有の表現で、主題を記載したが、添付の請求項に記載の主題は、必ずしも、上記のような具体的な特徴にも動作にも限定されないと理解すべきである。そうではなく、上記のような具体的な特徴および動作は、請求項を実施する例として開示したものであり、他の等価の特徴および動作も、請求項の範囲であることを意図する。

以下、本発明の好ましい実施形態を項分け記載する。

実施形態１
ハニカム体の検品装置において、
ハニカム体を支持する作動部であって、該ハニカム体を、回転軸を中心に該ハニカム体の１フル回転の少なくとも一部に亘って連続して回転させるように構成された作動部と、
前記ハニカム体の外周面の検品領域を網羅する視野範囲を有するカメラと、
前記ハニカム体が前記作動部によって回転される時に、該ハニカム体の円周部に沿った円周方向道程を測定するセンサであって、前記カメラに、該ハニカム体の前記検品領域の画像を該円周方向道程の所定の増分毎に収集させるように構成されたセンサと、
前記ハニカム体の前記外周面の前記検品領域を網羅する照射領域を有する光源と
を含む装置。

実施形態２
前記光源の照射軸と前記カメラの光軸の間の角度は、１５°以下である、実施形態１に記載の装置。

実施形態３
前記光源は、複数の光源を含み、各該複数の光源の前記照射軸と前記カメラの前記光軸の間の角度は、１５°以下である、実施形態２に記載の装置。

実施形態４
前記複数の光源は、合わせて、少なくとも２，０００，０００ルクスの強度を有するものである、実施形態３に記載の装置。

実施形態５
前記カメラは、前記検品領域の中心で、前記ハニカム体の前記外周面を中心に、そこから外側に約５ｍｍおよび内側に約５ｍｍ延伸する被写界深度を有するものである、実施形態１から４のいずれか１つに記載の装置。

実施形態６
前記光源は、少なくとも１，０００，０００ルクスの強度を有するものである、実施形態１から５のいずれか１つに記載の装置。

実施形態７
前記センサは、０．２μｍ以下の測定分解能を有するエンコーダである、実施形態１から６のいずれか１つに記載の装置。

実施形態８
前記カメラは、複数のカメラを含むものである、実施形態１から７のいずれか１つに記載の装置。

実施形態９
前記複数のカメラは、前記ハニカム体の前記円周部の周りに分布し、各該カメラの前記視野範囲は、該ハニカム体の全長以上である前記回転軸に平行に測定された長さを有するものである、実施形態８に記載の装置。

実施形態１０
前記複数のカメラは、前記回転軸に平行に分布し、合わせて、前記ハニカム体の全長以上である該回転軸に平行に測定された合計長さを有する視野範囲を有するものである、実施形態８に記載の装置。

実施形態１１
前記視野範囲は、前記回転軸に平行に測定された前記ハニカム体の全長以上である該回転軸に平行に測定された長さを有するものである、実施形態１から１０のいずれか１つに記載の装置。

実施形態１２
前記カメラと前記ハニカム体の間の該カメラの光軸に平行な方向の距離を特定するように構成された距離センサを、
更に含む、実施形態１から１１のいずれか１つに記載の装置。

実施形態１３
前記ハニカム体を前記作動部上に配置するよう構成された載置機構を、
更に含む、実施形態１から１２のいずれか１つに記載の装置。

実施形態１４
前記画像を分析して、１つ以上の表面欠陥を識別するように構成された制御部を、
更に含む、実施形態１から１３のいずれか１つに記載の装置。

実施形態１５
前記ハニカム体を、識別された表面欠陥の数が所定の閾値以上であることに少なくとも部分的に基づいて、不合格容器に移動するように構成された不合格作動部を、
更に含む、実施形態１４に記載の装置。

実施形態１６
識別された表面欠陥の数が所定の閾値以未満であることに少なくとも部分的に基づいて、前記ハニカム体の表面に印を付与するように構成された印付与装置を、
更に含む、実施形態１４に記載の装置。

実施形態１７
前記印は、前記ハニカム体が検品に合格したことを示すものである、実施形態１６に記載の装置。

実施形態１８
前記作動部は、前記検品領域の前記ハニカム体の端面と該ハニカム体の前記外周面との交差部分から離間するものである、実施形態１から１７のいずれか１つに記載の装置。

実施形態１９
ハニカム体の検品装置において、
ハニカム体の外周面と係合し支持するように構成された作動部であって、該ハニカム体を、回転軸を中心に該ハニカム体の１フル回転の少なくとも一部に亘って連続して回転させるように構成された作動部と、
前記ハニカム体の前記外周面の検品領域を網羅する視野範囲を有するカメラと、
前記カメラに、前記ハニカム体の前記外周面の前記検品領域の画像を所定間隔で収集させるように構成されたセンサと、
前記ハニカム体の前記外周面の前記検品領域を網羅する照射領域を有する光源と
を含む装置。

実施形態２０
前記作動部は、前記ハニカム体を受け付けるように構成された１対のローラを含み、該ローラの少なくとも一方を回転させることで、該ハニカム体の前記外周面と該少なくとも一方のローラとの摩擦係合により、該ハニカム体を回転させるものである、実施形態１９に記載の装置。

実施形態２１
前記センサは、前記ハニカム体が前記作動部によって回転される時に、該ハニカム体の円周部に沿った円周方向道程を測定するものであり、前記所定間隔は、円周方向道程の増分を含むものである、実施形態１９または２０に記載の装置。

実施形態２２
第１の光源の照射軸と前記カメラの光軸の間の角度は、１５°以下であり、第２の光源の照射軸と該カメラの該光軸の間の角度は、１５°以下である、実施形態１９から２１のいずれか１つに記載の装置。

実施形態２３
第１の光源は、少なくとも１，０００，０００ルクスの強度を有し、第２の光源は、少なくとも１，０００，０００ルクスの強度を有するものである、実施形態１９から２２のいずれか１つに記載の装置。

実施形態２４
前記センサは、エンコーダである、実施形態１９から２３のいずれか１つに記載の装置。

実施形態２５
前記センサは、０．２μｍ以下の測定分解能を有するものである、実施形態１９から２４のいずれか１つに記載の装置。

実施形態２６
ハニカム体の外周面の検品方法において、
ハニカム体を、該ハニカム体の外周面と係合した作動部を介して、連続して回転させる工程と、
前記ハニカム体の前記外周面の円周部に沿って、円周方向道程を測定する工程と、
カメラに、前記ハニカム体の前記外周面の複数の画像を収集させる工程であって、該複数の画像は、該ハニカム体の１回転に亘って、該外周面の円周方向道程の所定の増分毎に収集されるものである工程と、
前記複数の画像を組み合わせて複合画像にする工程と、
前記複合画像を分析して、前記ハニカム体の前記外周面上の１つ以上の表面欠陥を識別する工程と
を含む方法。

実施形態２７
前記ハニカム体を、識別された表面欠陥の数が所定の閾値以上であることに少なくとも部分的に基づいて、不合格にする工程を、
更に含む、実施形態２６に記載の方法。

実施形態２８
識別された表面欠陥の数が所定の閾値以未満であることに少なくとも部分的に基づいて、前記ハニカム体の表面に印を付与する工程を、
更に含む、実施形態２６または２７に記載の方法。

実施形態２９
センサが、前記円周方向道程を、０．２μｍ以下の分解能で測定する、実施形態２６から２８のいずれか１つに記載の方法。

実施形態３０
前記作動部は、前記ハニカム体を受け付けるように構成された１対のローラを含み、
前記ハニカム体を連続して回転させる工程は、前記ローラの少なくとも一方を回転させて、該ハニカム体の前記外周面と該少なくとも一方のローラとの摩擦係合により、該ハニカム体を該ハニカム体の縦軸を中心に回転させる工程を含むものである、実施形態２６から２９のいずれか１つに記載の方法。

１００ ハニカム体
３０２ 作動部
３０４ カメラ
３０６ センサ
３０８ 光源アセンブリ
３１０、３１４ ローラ
３２４ 光源
３２８ 制御部
３３０ 不合格作動部
３３４ 印付与装置
３３６ 部分存在検知センサ

Claims (5)

1. ハニカム体の検品装置において、
   ハニカム体を支持する作動部であって、該ハニカム体を、回転軸を中心に該ハニカム体の１フル回転の少なくとも一部に亘って連続して回転させるように構成された作動部と、
   前記ハニカム体の外周面の検品領域を網羅する視野範囲を有するカメラと、
   前記ハニカム体が前記作動部によって回転される時に、該ハニカム体の円周部に沿った円周方向道程を測定するセンサであって、前記カメラに、該ハニカム体の前記検品領域の画像を該円周方向道程の所定の増分毎に収集させるように構成されたセンサと、
   前記ハニカム体の前記外周面の前記検品領域を網羅する照射領域を有する光源と
   を含む装置。
2. 前記画像を分析して、１つ以上の表面欠陥を識別するように構成された制御部を、
   更に含む、請求項１に記載の装置。
3. 識別された表面欠陥の数が所定の閾値以未満であることに少なくとも部分的に基づいて、前記ハニカム体の表面に印を付与するように構成された印付与装置を、
   更に含む、請求項２に記載の装置。
4. ハニカム体の外周面の検品方法において、
   ハニカム体を、該ハニカム体の外周面と係合した作動部を介して、連続して回転させる工程と、
   前記ハニカム体の前記外周面の円周部に沿って、円周方向道程を測定する工程と、
   カメラに、前記ハニカム体の前記外周面の複数の画像を収集させる工程であって、該複数の画像は、該ハニカム体の１回転に亘って、該外周面の円周方向道程の所定の増分毎に収集されるものである工程と、
   前記複数の画像を組み合わせて複合画像にする工程と、
   前記複合画像を分析して、前記ハニカム体の前記外周面上の１つ以上の表面欠陥を識別する工程と
   を含む方法。
5. 前記作動部は、前記ハニカム体を受け付けるように構成された１対のローラを含み、
   前記ハニカム体を連続して回転させる工程は、前記ローラの少なくとも一方を回転させて、該ハニカム体の前記外周面と該少なくとも一方のローラとの摩擦係合により、該ハニカム体を該ハニカム体の縦軸を中心に回転させる工程を含むものである、請求項４に記載の方法。

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