JP6455168B2 - メモリ装置システム - Google Patents

メモリ装置システム Download PDF

Info

Publication number
JP6455168B2
JP6455168B2 JP2015007031A JP2015007031A JP6455168B2 JP 6455168 B2 JP6455168 B2 JP 6455168B2 JP 2015007031 A JP2015007031 A JP 2015007031A JP 2015007031 A JP2015007031 A JP 2015007031A JP 6455168 B2 JP6455168 B2 JP 6455168B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
stored
register
parity
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015007031A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016133910A (ja
Inventor
直記 吉田
直記 吉田
公徳 中島
公徳 中島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Denso Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp, Denso Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2015007031A priority Critical patent/JP6455168B2/ja
Priority to DE112015005965.2T priority patent/DE112015005965B4/de
Priority to CN201580073172.4A priority patent/CN107111563B/zh
Priority to PCT/JP2015/006433 priority patent/WO2016113826A1/ja
Priority to US15/540,415 priority patent/US10289498B2/en
Publication of JP2016133910A publication Critical patent/JP2016133910A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6455168B2 publication Critical patent/JP6455168B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/14Error detection or correction of the data by redundancy in operation
    • G06F11/1402Saving, restoring, recovering or retrying
    • G06F11/1446Point-in-time backing up or restoration of persistent data
    • G06F11/1458Management of the backup or restore process
    • G06F11/1469Backup restoration techniques
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/16Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
    • G06F11/1666Error detection or correction of the data by redundancy in hardware where the redundant component is memory or memory area
    • G06F11/167Error detection by comparing the memory output
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1076Parity data used in redundant arrays of independent storages, e.g. in RAID systems
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/14Error detection or correction of the data by redundancy in operation
    • G06F11/1402Saving, restoring, recovering or retrying
    • G06F11/1446Point-in-time backing up or restoration of persistent data
    • G06F11/1448Management of the data involved in backup or backup restore
    • G06F11/1451Management of the data involved in backup or backup restore by selection of backup contents
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2201/00Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
    • G06F2201/805Real-time
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2201/00Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
    • G06F2201/82Solving problems relating to consistency

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)

Description

本発明は、第1、第2メモリを有するメモリ装置システムに関するものである。
従来より、同じデータが格納されるようにした第1、第2メモリ(二重化メモリ)を有し、第1、第2メモリに格納されたデータを比較器にて比較して当該データが正常であるか異常であるかを判定するメモリ装置システムが提案されている(例えば、特許文献1)。具体的には、このようなメモリ装置システムでは、第1、第2メモリに格納されているデータが一旦第1、第2レジスタに格納され、比較器は、第1、第2メモリに格納されたデータを読み込んで比較を行う。なお、このようなメモリ装置システムでは、第1、第2メモリに格納されたデータは、全てのデータが第1、第2レジスタに一度に格納されるようになっている。
特開2011−154593号公報
しかしながら、上記メモリ装置システムでは、第1、第2メモリに格納されたデータは第1、第2レジスタに一度に格納されるため、第1、第2レジスタの必要容量が大きくなり、大型化し易いという問題がある。また、比較器は、第1、第2メモリのデータを一度に比較するため、第1、第2メモリの容量に応じた処理容量が必要となり、大型化し易いという問題がある。
本発明は上記点に鑑みて、第1、第2レジスタおよび比較器の小型化を図ることのできるメモリ装置システムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明ではm行(mは2以上の整数)のアドレスを有し、m行のアドレスにそれぞれ異なるデータが格納されていると共に、データのエラーを検出するためのパリティビットが格納されている第1メモリ(1)と、m行(mは2以上の整数)のアドレスを有し、初期状態において、第1メモリに格納されているデータと同じデータが格納されている第2メモリ(2)と、第1メモリと接続され、第1メモリに格納されているデータのm分割された1つのデータのみがアドレスの順に格納される第1レジスタ(3)と、第2メモリと接続され、第2メモリに格納されているデータのm分割された1つのデータであって、第1レジスタに格納される第1メモリのデータと同じアドレスであるデータが格納される第2レジスタ(4)と、第1、第2メモリに格納されたデータを比較する比較器(5)と、比較器にて比較された第1メモリのデータが格納される転送レジスタ(6)と、比較器にて第1、第2レジスタのデータが一致しないと判定された場合、第2レジスタのデータが格納される誤データレジスタ(7)と、比較器にて第1、第2レジスタのデータが一致しないと判定された場合、第2レジスタに格納されたデータにおける第2メモリのアドレスが格納される誤アドレスレジスタ(8)と、転送レジスタに格納された全てのデータのパリティを演算すると共に、当該パリティがパリティビットと一致しているか否かを判定するパリティ演算手段(9)と、パリティ演算手段の演算結果に基づいて所定の制御を行う制御手段(10)と、を備え、以下の点を特徴としている。
すなわち、制御手段は、転送レジスタに第1メモリに格納されている全てのデータが格納された後、パリティ演算手段に転送レジスタに格納された全てのデータのパリティとパリティビットとが一致しているか否かを判定させ、パリティ演算手段が一致していると判定した際には転送レジスタに当該転送レジスタに格納されている全てのデータを外部回路(12)に送信させ、パリティ演算手段が一致していないと判定した際には、転送レジスタに格納されているデータのうちの誤アドレスレジスタに格納されているアドレスのデータを誤データレジスタに格納されているデータに差し替えた後、再びパリティ演算手段に転送レジスタに格納された全てのデータのパリティとパリティビットとが一致しているか否かを判定させ、パリティ演算手段が一致していると判定した際も転送レジスタに当該転送レジスタに格納されている全てのデータを外部回路に送信させることを特徴としている。
これによれば、第1、第2レジスタには、第1、第2メモリに格納されているデータのうちのm分割された1つのデータ、つまり1つのアドレスのデータのみが格納される。また、比較器は、第1、第2レジスタに格納された1つのアドレスのデータを比較する。このため、第1、第2レジスタおよび比較器は、1つのアドレスのデータに対応するものであればよく、小型化を図ることができる。
また、第1メモリに格納されているデータが全て転送レジスタに格納された後、第1メモリに予め格納されているパリティビットと、全てのデータに対するパリティとが一致しているか否かを判定する。そして、転送レジスタに格納されているデータが異常である場合(パリティが一致しない場合)には、転送レジスタに格納されているデータのうちの誤アドレスレジスタに格納されているアドレスのデータを誤データレジスタに格納されているデータと差し替えている。その後、差し替えた後のデータが正常である場合(パリティが一致する場合)、外部回路に当該データを送信するようにしている。このため、第1、第2メモリの1つのアドレスのデータに異常(故障)が発生したとしても、通常の作動を行うことができ、メモリ装置システム全体としての故障率の低減を図ることもできる。
なお、この欄および特許請求の範囲で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
本発明の第1実施形態におけるメモリ装置システムの全体構成を示す模式図である。 図1に示す制御部が行うフローチャートである。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、同一符号を付して説明を行う。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態について図面を参照しつつ説明する。図1に示されるように、本実施形態のメモリ装置システムは、第1、第2メモリ1、2、第1、第2レジスタ3、4、比較器5、転送レジスタ6、誤データレジスタ7、誤アドレスレジスタ8、パリティ演算部9、制御部10を有している。なお、本実施形態では、パリティ演算部9が本発明のパリティ演算手段に相当し、制御部10が本発明の制御手段に相当している。
第1、第2メモリ1、2は、m(mは2以上の整数であり、m=2、3、4…と表すことができる)行のアドレスを有すると共にアドレス長がn(nは1以上の整数であり、n=1、2、3…と表すことができる)ビットとされている不揮発性メモリが用いられ、初期状態において、同じデータが格納されている。つまり、第1、第2メモリ1、2には、初期状態において、冗長的にデータが格納されている。なお、m、nは、本実施形態では、m+nが全体のビット数に対して最小の整数となるように選択されており、例えば、全体のビット数が512ビットの場合には、m+n=9となるように構成されている。
また、第1、第2メモリ1、2には、アドレス毎に異なるデータが格納されている。本実施形態では、各アドレスに、加速度センサ、角速度センサ、圧力センサ等の物理量に応じたセンサ信号を出力する物理量センサを制御するための制御回路の調整機構に使用される電源電圧、周波数、基準電流等のデータや、各物理量センサのオフセット調整や感度調整等の特性調整を行う際に使用されるオフセット値、感度調整値、温度調整値等のデータが格納されている。
さらに、第1、第2メモリ1、2には、少なくとも1つのアドレスに、エラー検出機能としてのパリティビットが予め格納されている。言い換えると、第1、第2メモリ1、2には、全体として少なくとも1つのパリティビットが予め格納されている。本実施形態では、パリティビットは当該パリティビットと他のビットのデータにおける「1」の数が常に偶数となるように設定されており、いわゆる偶数パリティとされている。なお、パリティビットは、当該パリティビットと他のビットにおける「1」の数が常に奇数となるように設定されたいわゆる奇数パリティとされていてもよい。
そして、第1、第2メモリ1、2は、m分割された1つのデータを順に第1、第2レジスタ3、4に格納する。つまり、第1、第2メモリ1、2は、1つのアドレス毎のデータを順に第1、第2レジスタ3、4に格納する。第1、第2レジスタ3、4は、それぞれ第1、第2メモリ1、2の1つのアドレス分のデータのみを格納できるように構成されており、第1、第2メモリ1、2の1つのアドレスのデータのみを一時的に格納する。
比較器5は、第1、第2レジスタ3、4に格納されているデータを順に比較する。つまり、第1、第2レジスタ3、4には、第1、第2メモリ1、2から順に1つのアドレスのデータが格納されるため、格納されたデータを順に比較する。そして、第1、第2レジスタ3、4に格納されているデータが同じであると判定した場合、第1レジスタ3のデータを転送レジスタ6に格納し、比較器5と接続されているカウンタ11を更新する。一方、第1、第2レジスタ3、4に格納されているデータが異なると判定した場合、第1レジスタ3のデータを転送レジスタ6に格納すると共に第2レジスタ4のデータを誤データレジスタ7に格納する。そして、そのときのカウンタ11の値を誤アドレスレジスタ8に格納した後、カウンタ11を更新する。
また、比較器5は、第1、第2レジスタ3、4に格納されているデータを順に比較するが、比較を開始してから第1、第2レジスタ3、4に格納されているデータが異なると2回判定した場合には、制御信号Sを制御部10に送信して比較を終了する。つまり、転送レジスタ6には、第1、第2レジスタ3、4の各アドレスに格納されているデータが全て一致している場合、または、第1、第2レジスタ3、4の各アドレスに格納されているデータが1つのみ異なる場合に、最初に第1メモリ1のデータが全て格納されるようになっている。
転送レジスタ6、誤データレジスタ7、誤アドレスレジスタ8は、上記のように、比較器5での比較結果に基づいて各種のデータが格納される。そして、転送レジスタ6は、後述するパリティ演算部9での演算結果に基づき、転送レジスタ6に格納されているデータの全部、または一部を外部回路12に送信する。なお、外部回路12とは、第1、第2メモリ1、2に格納されているデータを用いて制御を行う制御回路等である。
パリティ演算部9は、転送レジスタ6に最初にデータ(第1メモリ1のアドレス0のデータ)が入力されると、入力されたデータのパリティ(各アドレスのビットのデータにおける「1」の数が奇数であるか偶数であるか)を演算する。また、転送レジスタ6にその後のデータが入力されると、入力された各データのパリティを演算すると共に、既に演算したパリティとの和を演算する。つまり、入力された全てのデータに対するパリティを演算する。
そして、転送レジスタ6に全てのデータが入力されると、第1メモリ1に予め格納されているパリティビットと、全てのデータに対するパリティとが一致しているか否かを判定する。つまり、転送レジスタ6に入力されたデータが正常であるか異常であるかを判定する。
制御部10は、CPU、記憶手段を構成する各種メモリ、周辺機器等を用いて構成されており、第1、第2メモリ1、2、比較器5、転送レジスタ6、誤データレジスタ7、誤アドレスレジスタ8、パリティ演算部9、カウンタ11、図示しない報知手段等と接続されている。
そして、カウンタ11の値に基づいて第1、第2メモリ1、2に制御信号P1を送信し、第1、第2メモリ1、2に、当該第1、第2メモリ1、2に格納されているデータのうちのカウンタ11の値のアドレスのデータを第1、第2レジスタ3、4に格納させる。また、制御信号P2を送信し、比較器5に第1、第2レジスタ3、4に格納されているデータを読み込ませてデータを比較させる。そして、制御信号P3を送信し、パリティ演算部9に転送レジスタ6に格納されているデータのパリティを演算させる。
さらに、カウンタ11の値がmである場合、つまり、第1、第2メモリ1、2に格納さされているデータを全て比較した場合、制御信号P4を送信し、パリティ演算部9に第1メモリ1に予め格納されているパリティビットと、全てのデータに対するパリティとが一致しているか否かを判定させる。
そして、パリティ演算部9での判定結果を読み込み、パリティ演算部9が転送レジスタ6に格納されているデータが正常であると判定した場合、制御信号P5を送信して転送レジスタ6から外部回路12に当該転送レジスタ6に格納されているデータを送信させる。一方、パリティ演算部9が転送レジスタ6に格納されているデータが異常であると判定した場合、転送レジスタ6に格納されているデータのうち、誤アドレスレジスタ8に格納されているアドレスのデータを誤データレジスタ7に格納されているデータに差し替える。つまり、比較器5で第1、第2レジスタ3、4のデータが異なると判定されたデータのうちの他方のデータ(第2メモリ2のデータ)に差し替える。その後、再びパリティ演算部9に制御信号P4を送信し、パリティ演算部9に第1メモリ1に予め格納されているパリティビットと、全てのデータに対するパリティとが一致しているか否かを判定させる。
そして、パリティ演算部9が転送レジスタ6に格納されているデータが正常であると判定した場合、制御信号P5を送信し、転送レジスタ6から外部回路12に当該転送レジスタ6に格納されているデータを送信させる。一方、パリティ演算部9が転送レジスタ6に格納されているデータが異常であると判定した場合、制御信号P6を送信し、転送レジスタ6から外部回路12に、転送レジスタ6に格納されているデータのうちの差し替えたデータを除くデータを送信させる。そして、報知手段としての音声手段や映像手段等を介し、当該アドレスに格納されているデータ(制御機器)が有効でないことを報知する。
以上が本実施形態におけるメモリ装置システムの構成である。次に、上記メモリ装置システムにおける制御部10の作動について図2を参照しつつ具体的に説明する。なお、本実施形態のメモリ装置システムは、例えば、車両に搭載され、イグニッションスイッチがオンされると下記作動を開始する。
まず、制御信号P1〜P3を送信する(S101)。これにより、最初はカウンタ11の値が0に設定されているため、第1、第2メモリ1、2から当該第1、第2メモリ1、2に格納されているデータのうちのアドレス0のデータが第1、第2レジスタ3、4に格納される(制御信号P1)。そして、比較器5にて第1、第2レジスタ3、4に格納されているデータが読み込まれ、第1、第2レジスタ3、4に格納されているデータが同じである場合、第1レジスタ3のデータが転送レジスタ6に格納されてカウンタ11の値が更新される。一方、第1、第2レジスタ3、4に格納されているデータが異なる場合、第1レジスタ3のデータが転送レジスタ6に格納されると共に第2レジスタ4のデータが誤データレジスタ7に格納され、そのときのカウンタ11の値が誤アドレスレジスタ8に格納された後、カウンタ11が更新される(制御信号P2)。また、比較器5から転送レジスタ6にデータが格納されるため、パリティ演算部9にて転送レジスタ6に格納されたデータのパリティが演算される(制御信号P3)。
次に、比較器5からの制御信号Sを受信したか否かを判定する(S102)。比較器5からの制御信号Sを受信した場合(S102:YES)には、第1、第2メモリ1、2に格納されているデータのうちの2つのアドレスのデータが異なっているため、処理を終了する。なお、本実施形態では、処理を終了する際には、報知手段を介して第1、第2メモリ1、2に格納されているデータが有効でないことを報知するようになっている。
比較器5からの制御信号Sを受信していない場合(S102:NO)には、カウンタ11の値がmであるか否かを判定する(S103)。そして、カウンタ11の値がmでない場合(S103:NO)には、ステップS101、S102の作動を繰り返し行う。つまり、第1、第2メモリ1、2に格納されているデータの全てのアドレスのデータを比較させる。カウンタ11の値がmである場合(S103:YES)には、第1、第2メモリ1、2の各アドレスに格納されているデータの比較が終了しているため、制御信号P4を送信し、パリティ演算部9に第1メモリ1に予め格納されているパリティビットと、全てのデータに対するパリティとが一致しているか否かを判定させる。つまり、転送レジスタ6に入力されたデータが正常であるか異常であるかを判定させる(S104)。
そして、パリティ演算部9の演算結果を読み込み、パリティ演算部9が転送レジスタ6に格納されているデータが正常であると判定した場合(S105:YES)、制御信号P5を送信して転送レジスタ6のデータを外部回路12に出力させて処理を終了する。(S106)。一方、パリティ演算部9が転送レジスタ6に格納されているデータが異常であると判定した場合(S105:NO)、誤アドレスレジスタ8に格納されているデータ(誤データレジスタ7に格納されているデータのアドレス)および誤データレジスタ7に格納されているデータを読み込む。そして、転送レジスタ6に格納されているデータのうちの誤アドレスレジスタ8に格納されているアドレスのデータを誤データレジスタ7に格納されているデータに差し替える(S107)。
その後、再び制御信号P4を送信し、パリティ演算部9に第1メモリ1に予め格納されているパリティビットと、全てのデータに対するパリティとが一致しているか否かを判定させる(S108)。
そして、パリティ演算部9の演算結果を読み込み、パリティ演算部9が転送レジスタ6に格納されているデータが正常であると判定した場合(S109:YES)、上記ステップS106の制御を行って転送レジスタ6のデータを外部回路12に出力させる。一方、パリティ演算部9が転送レジスタ6に格納されているデータが異常であると判定した場合(S109:NO)、制御信号P6を転送レジスタ6に送信し、転送レジスタ6から外部回路12に、転送レジスタ6に格納されているデータのうちの差し替えられたデータを除く他のデータを出力させて処理を終了する。なお、本実施形態では、制御信号P6を送信して処理を終了する場合には、報知手段としての音声手段や映像手段等を介し、当該アドレスに格納されているデータ(制御機器)が有効でないことを報知するようにしている。
以上説明したように、本実施形態では、第1、第2メモリ1、2には、初期状態において同じデータが格納され、格納されたデータは1つのアドレス毎に第1、第2レジスタ3、4に格納されるようになっている。また、比較器5は、第1、第2レジスタ3、4に格納された1つのアドレスのデータを順に比較するようになっている。このため、第1、第2レジスタ3、4および比較器5は、1つのアドレスのデータに対応するものであればよく、小型化を図ることができる。
また、第1メモリ1に格納されているデータが全て転送レジスタ6に格納された後、第1メモリ1に予め格納されているパリティビットと、全てのデータに対するパリティとが一致しているか否かを判定している。そして、転送レジスタ6に格納されているデータが異常である場合には、転送レジスタ6に格納されているデータのうちの誤アドレスレジスタ8に格納されているアドレスのデータを誤データレジスタ7に格納されているデータと差し替えている。そして、差し替えた後のデータが正常である場合、外部回路12に転送レジスタ6に格納されたデータを送信するようにしている。このため、第1、第2メモリ1、2の1つのアドレスのデータに異常が発生したとしても、通常の作動を行うことができ、メモリ装置システム全体としての故障率の低減を図ることができる。
さらに、差し替えられた後のデータが異常である場合、転送レジスタ6から外部回路12に、転送レジスタ6に格納されているデータのうちの差し替えられたデータを除く他のデータを出力するようにしている。このため、第1、第2メモリ1、2の1つのアドレスのデータ(差し替えたアドレスのデータ)に異常が発生しているとしても、他のアドレスのデータをそのまま使用することができる。
また、本実施形態では、m+nは全体のビット数に対して最小の整数となるように選択されているため、更なる小型化を図ることができる。
(他の実施形態)
本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した範囲内において適宜変更が可能である。
例えば、上記第1実施形態では、パリティ演算部9と制御部10とを別の構成としているが、制御部10の中にパリティ演算部9が組み込まれていてもよい。また、上記第1実施形態では、制御信号P2を送信して比較器5に第1、第2レジスタ3、4に格納されているデータを読み込ませるようにしているが、第1、第2レジスタ3、4に制御信号を送信して当該第1、第2レジスタ3、4に格納されているデータを比較器5に送信させるようにしてもよい。
さらに、上記第1実施形態において、m+nは全体のビット数に対して最小の整数となるように選択されていなくてもよい。
1 第1メモリ
2 第2メモリ
3 第1レジスタ
4 第2レジスタ
5 比較器
6 転送レジスタ
7 誤データレジスタ
8 誤アドレスレジスタ
9 パリティ演算部
10 制御部

Claims (6)

  1. m行(mは2以上の整数)のアドレスを有し、前記m行のアドレスにそれぞれ異なるデータが格納されていると共に、前記データのエラーを検出するためのパリティビットが格納されている第1メモリ(1)と、
    m行(mは2以上の整数)のアドレスを有し、初期状態において、前記第1メモリに格納されているデータと同じデータが格納されている第2メモリ(2)と、
    前記第1メモリと接続され、前記第1メモリに格納されているデータのm分割された1つのデータのみが前記アドレスの順に格納される第1レジスタ(3)と、
    前記第2メモリと接続され、前記第2メモリに格納されているデータのm分割された1つのデータであって、前記第1レジスタに格納される前記第1メモリのデータと同じアドレスであるデータが格納される第2レジスタ(4)と、
    前記第1、第2メモリに格納されたデータを比較する比較器(5)と、
    前記比較器にて比較された第1メモリのデータが格納される転送レジスタ(6)と、
    前記比較器にて前記第1、第2レジスタのデータが一致しないと判定された場合、前記第2レジスタのデータが格納される誤データレジスタ(7)と、
    前記比較器にて前記第1、第2レジスタのデータが一致しないと判定された場合、前記第2レジスタに格納されたデータにおける前記第2メモリのアドレスが格納される誤アドレスレジスタ(8)と、
    前記転送レジスタに格納された全てのデータのパリティを演算すると共に、当該パリティが前記パリティビットと一致しているか否かを判定するパリティ演算手段(9)と、
    前記パリティ演算手段の演算結果に基づいて所定の制御を行う制御手段(10)と、を備え、
    前記制御手段は、
    前記転送レジスタに前記第1メモリに格納されている全てのデータが格納された後、前記パリティ演算手段に前記転送レジスタに格納された全てのデータのパリティと前記パリティビットとが一致しているか否かを判定させ、前記パリティ演算手段が一致していると判定した際には前記転送レジスタに当該転送レジスタに格納されている全てのデータを外部回路(12)に送信させ、前記パリティ演算手段が一致していないと判定した際には、前記転送レジスタに格納されているデータのうちの前記誤アドレスレジスタに格納されているアドレスのデータを前記誤データレジスタに格納されているデータに差し替えた後、再び前記パリティ演算手段に前記転送レジスタに格納された全てのデータのパリティと前記パリティビットとが一致しているか否かを判定させ、前記パリティ演算手段が一致していると判定した際も前記転送レジスタに当該転送レジスタに格納されている全てのデータを前記外部回路に送信させることを特徴とするメモリ装置システム。
  2. 前記制御手段は、再び前記パリティ演算手段に前記転送レジスタに格納された全てのデータのパリティと前記パリティビットとが一致しているか否かを判定させた際、前記パリティ演算手段が一致していないと判定した場合には、前記転送レジスタに当該転送レジスタに格納されているデータのうちの前記誤アドレスレジスタに格納されているアドレスのデータを除く他のデータを前記外部回路に送信させることを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置システム。
  3. 前記第1、第2メモリには、物理量に応じたセンサ信号を出力する物理量センサを制御する制御回路に使用されるデータがそれぞれの前記アドレスに格納されていることを特徴とする請求項1または2に記載のメモリ装置システム。
  4. 前記第1、第2メモリには、物理量に応じたセンサ信号を出力する物理量センサの特性を調整するためのデータがそれぞれの前記アドレスに格納されていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1つに記載のメモリ装置システム。
  5. 前記第1、第2メモリは、不揮発性メモリであることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1つに記載のメモリ装置システム。
  6. 前記第1、第2メモリは、アドレス長がn(nは1以上の整数)ビットとされ、前記mおよび前記nは、m+nが全体のビット数に対して最小の整数となるように選択されていることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1つに記載のメモリ装置システム。

JP2015007031A 2015-01-16 2015-01-16 メモリ装置システム Active JP6455168B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015007031A JP6455168B2 (ja) 2015-01-16 2015-01-16 メモリ装置システム
DE112015005965.2T DE112015005965B4 (de) 2015-01-16 2015-12-24 Speichervorrichtungssystem
CN201580073172.4A CN107111563B (zh) 2015-01-16 2015-12-24 存储器装置系统
PCT/JP2015/006433 WO2016113826A1 (ja) 2015-01-16 2015-12-24 メモリ装置システム
US15/540,415 US10289498B2 (en) 2015-01-16 2015-12-24 Memory device system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015007031A JP6455168B2 (ja) 2015-01-16 2015-01-16 メモリ装置システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016133910A JP2016133910A (ja) 2016-07-25
JP6455168B2 true JP6455168B2 (ja) 2019-01-23

Family

ID=56405394

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015007031A Active JP6455168B2 (ja) 2015-01-16 2015-01-16 メモリ装置システム

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10289498B2 (ja)
JP (1) JP6455168B2 (ja)
CN (1) CN107111563B (ja)
DE (1) DE112015005965B4 (ja)
WO (1) WO2016113826A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT201800003233A1 (it) * 2018-03-02 2019-09-02 Stmicroelectronics Application Gmbh Sistema di elaborazione, relativo circuito integrato e procedimento
US10855529B2 (en) * 2018-11-26 2020-12-01 Stmicroelectronics Application Gmbh Processing system, related integrated circuit, device and method

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6368200A (ja) 1986-09-10 1988-03-28 株式会社東芝 脱水機
JPH06222990A (ja) * 1992-10-16 1994-08-12 Fujitsu Ltd データ処理装置
US5499384A (en) * 1992-12-31 1996-03-12 Seiko Epson Corporation Input output control unit having dedicated paths for controlling the input and output of data between host processor and external device
JPH07160587A (ja) * 1993-12-07 1995-06-23 Fujitsu Ltd 多重化メモリ装置
JP3630350B2 (ja) * 1996-07-05 2005-03-16 富士通株式会社 メモリデータ比較方式
KR100252136B1 (ko) * 1997-12-29 2000-04-15 윤종용 디지털 신호 처리 칩에서의 반복 구문 실행 제어회로
US7007203B2 (en) * 2002-08-02 2006-02-28 Motorola, Inc. Error checking in a reconfigurable logic signal processor (RLSP)
US7290179B2 (en) * 2003-12-01 2007-10-30 Intel Corporation System and method for soft error handling
US7257762B2 (en) * 2004-10-07 2007-08-14 Lsi Corporation Memory interface with write buffer and encoder
CN101034961B (zh) * 2007-04-11 2010-05-26 重庆重邮信科通信技术有限公司 多进程harq技术ir缓存的管理方法及装置
JP5233415B2 (ja) * 2008-05-29 2013-07-10 富士通株式会社 エラー特定方法、データ処理装置、及び半導体装置
US8151176B2 (en) * 2008-11-13 2012-04-03 Lsi Corporation CPU instruction RAM parity error procedure
JP5482275B2 (ja) * 2009-04-01 2014-05-07 セイコーエプソン株式会社 記憶装置、基板、液体容器、データ記憶部に書き込むべきデータをホスト回路から受け付ける方法、ホスト回路に対し電気的に接続可能な記憶装置を含むシステム
JP2011154593A (ja) 2010-01-28 2011-08-11 Nec Corp メモリ装置およびそのセルフチェック制御方法
CN101917582B (zh) * 2010-08-16 2012-11-21 福州瑞芯微电子有限公司 手持设备同时实现屏幕旋转和去交错功能的方法
US8589759B2 (en) * 2010-10-01 2013-11-19 Hamilton Sundstrand Corporation RAM single event upset (SEU) method to correct errors
JP5942512B2 (ja) * 2012-03-19 2016-06-29 富士通株式会社 ストレージ制御装置およびストレージシステム
WO2015045122A1 (ja) * 2013-09-27 2015-04-02 株式会社日立製作所 ストレージ装置、ストレージシステム、およびデータ管理方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2016113826A1 (ja) 2016-07-21
US20180004608A1 (en) 2018-01-04
DE112015005965B4 (de) 2024-02-29
DE112015005965T5 (de) 2017-10-26
CN107111563A (zh) 2017-08-29
US10289498B2 (en) 2019-05-14
JP2016133910A (ja) 2016-07-25
CN107111563B (zh) 2020-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9037941B2 (en) Systems and methods for error checking and correcting for memory module
US8042023B2 (en) Memory system with cyclic redundancy check
US9425829B2 (en) Adaptive error correction codes (ECCs) for electronic memories
US7865804B2 (en) System and method for enhanced error detection in memory peripherals
US20080195919A1 (en) Semiconductor memory device for byte-based masking operation and method of generating parity data
KR20150040537A (ko) 반도체 메모리 장치 및 이를 포함하는 반도체 시스템
JP6455168B2 (ja) メモリ装置システム
KR20160017922A (ko) 반도체 메모리 장치
JP2016081341A (ja) 電子制御装置
KR20100031402A (ko) 프리 페이지 검출 방법 및 장치와 이를 이용한 에러 정정 코드 디코딩 방법 및 장치
US20200051627A1 (en) Memory systems for memory devices and methods of operating the memory systems
EP3480958A1 (en) Bus bridge with improved fault detection
US20160041861A1 (en) Method and device for monitoring data error status in a memory
JP6332134B2 (ja) メモリ診断回路
WO2021038923A1 (ja) 制御装置、ユーザプログラムの実行制御方法、およびシステムプログラム
KR20220023476A (ko) 레이드 데이터 저장 장치 및 이를 포함하는 데이터 저장 시스템
JP2008225835A (ja) メモリアクセス制御方法及び回路、並びに情報処理装置
JP2011154459A (ja) コンピュータシステムのプログラム異常動作検出装置
US9519539B2 (en) Monitoring data error status in a memory
JP7350488B2 (ja) 周辺装置制御システム、および周辺装置制御方法
JP2011054221A (ja) 記憶装置及び電子機器
JP2010102434A (ja) データ消失復帰装置
JP2017011609A (ja) 半導体集積回路装置
US7661056B2 (en) Circuit arrangement for processing data
KR100842319B1 (ko) 전자제어장치에서 튜닝 파라미터의 고장을 검출하는 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20171019

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181120

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181203

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6455168

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250