JP6443198B2 - 発光素子 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体部を有する発光素子に関する。
絶縁性の基板と、n型半導体層と、p型半導体層と、n型半導体層に電気的に接続されたn側パッド部と、p型半導体層に電気的に接続されたp側パッド部と、を備える発光素子が知られている(例えば特許文献1)。ここでは、p側パッド部は、p型半導体層の上方に設けられている。
特開平10-275934号公報
しかしながら、特許文献1においては、半導体層部からの光の一部がp側パッド部や半導体部そのもので吸収されてしまうので、十分な光取出し効率が得られない可能性があった。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、高い光取り出し効率の発光素子を提供することを課題とする。
絶縁性の基板と、基板上に設けられ基板の側から順にn型半導体層とp型半導体層とを有する半導体部と、n型半導体層に電気的に接続されたn側電極と、p型半導体層に電気的に接続されたp側電極と、を備える発光素子である。半導体部には、半導体部に設けられた第1内面によって規定され、n型半導体層とp型半導体層を貫通する第1貫通部が設けられている。そして、p側電極は、p型半導体層の上方から第1貫通部における前記基板の上方に亘って設けられたp側透光部と、第1貫通部における基板の上方において、p側透光部に接続されたp側パッド部と、を有する。
高い光取り出し効率の発光素子とすることができる。
本発明の一実施形態に係る発光素子の平面図である。 図1のA−A’線における断面図である。 図1のB−B’線における断面図である。
以下に図面を参照しながら、本発明を実施するための形態を説明する。ただし、以下に示す形態は、本発明の技術思想を具体化するための例示であって、本発明を以下に限定するものではない。また、各図面が示す部材の大きさや位置関係等は、説明を明確にするために誇張していることがある。さらに、同一の名称、符号については、原則として同一もしくは同質の部材を示しており、重複した説明は適宜省略する。
図1に、本実施形態に係る発光素子100を、発光面側となる上面から見た図を示す。図2は、図1のA−A’部における断面図であり、図3は、図1のB−B’線における断面図である。ここで、図1においては、第1貫通部30から露出している基板10の領域とp側パッド部62が設けられた領域との位置関係、および、第2貫通部40から露出している基板10の領域とn側パッド部72が設けられた領域との位置関係を明確にするために、第2絶縁膜80、p側透光部61およびn側透光部61の描写を省略している。また、図3では、図面の理解を容易にするために、横方向における半導体部の長さと貫通部の長さの比などを図1から変更している。なお、本明細書では、図1等の下側(基板10側)を「下」と表現し、図1等の上側(基板10と反対側)を「上」と表現している。
各図に示すように、発光素子100は、絶縁性の基板10と、基板10上に設けられ基板10の側から順にn型半導体層21とp型半導体層23とを有する半導体部20と、n型半導体層21に電気的に接続されたn側電極70と、p型半導体層23に電気的に接続されたp側電極60と、を備える。半導体部20には、半導体部20に設けられた第1内面24によって規定され、n型半導体層21とp型半導体層23を貫通する第1貫通部30が設けられている。そして、p側電極60は、p型半導体層23の上方から第1貫通部30における前記基板10の上方に亘って設けられたp側透光部61と、第1貫通部30における基板10の上方においてp側透光部61に接続されたp側パッド部62と、を有する。
一般に、基板の屈折率は半導体部の屈折率よりも小さいので、半導体部で生じた光の一部は半導体部内で留まろうとする。しかし、半導体部内において光の導波が繰り返されると、一部の光は半導体部(特に活性層)で吸収され、また他の一部の光はp側パッド部で吸収されてしまう。そこで、発光素子100では、半導体部20において第1内面24で規定されn型半導体層21とp型半導体層23を貫通する第1貫通部30を設けている。そして、p側透光部61は第1貫通部30の底部まで延在しており、第1貫通部30の底部においてp側透光部61にp側パッド部62が設けられている。つまり、発光素子100では、半導体部20に形成された第1貫通部30の底部にp側パッド部62を設けることにより、従来であればp側パッド部62の下方で半導体部やp側パッドに吸収される光を、第1内面24から外部に取り出すことができる。したがって、発光素子100では、光取出し効率が向上することが期待できる。
以下、発光素子における主な構成要素について、図面を参照しながら説明する。なお、ここでは、発光素子100をLED(発光ダイオード)としている。
(基板10)
基板10は、半導体をエピタキシャル成長させるためのものである。基板10は、半導体部20に接続された上面と、上面に隣接する側面と、を有することができる。基板10としては、サファイアやスピネル等の絶縁性の材料を用いることができるが、本実施形態では、サファイアを用いている。ここで、サファイアの屈折率は略1.7であり、この値は半導体部を構成する一般的な材料の屈折率よりも小さい。
(半導体部20)
図2に示すように、半導体部20は、下方から順に、n型半導体層21と、活性層22と、p型半導体層23と、を備える。より詳細には、基板10の所定の領域にn型半導体層21が設けられ、n型半導体層21の上面の一領域に活性層22が設けられ、活性層22の上面の全領域にp型半導体層23が設けられている。半導体部20は、基板10に接続された下面と、下面に隣接する側面と、を有することができる。基板10の側面と、前記半導体部20の側面とは、実質的に同一面上にある構造とすることができる。
半導体部20を構成する各層の材料は、特に限定されるものではないが、本実施形態では、InAlGa1−X−YN(0≦X、0≦Y、X+Y<1)であらわされる窒化物半導体を用いている。ここで、窒化物半導体の代表例であるGaNの屈折率は略2.5であり、基板の代表例であるサファイアの屈折率(1.7)よりも大幅に大きい。したがって、半導体部20で生じた光の多くは、サファイア基板には侵入せずに、半導体部20内を導波すると考えられる。
図2に示すように、半導体部20は第1内面24を有し、第1内面24により第1貫通部30が規定される。第1貫通部30は、n型半導体層21およびp型半導体層23を半導体層の積層方向に貫通しており、第1貫通部30の底部において基板10が露出している。図1において、ハッチングで示された領域が、第1貫通部30の底面において基板10が露出する部分である。第1貫通部30は、例えば、半導体部20をエッチングすることによって設けることができる。
また、半導体部20において、第1貫通部30と異なる位置に、基板10が露出するようにp型半導体層23およびn型半導体層21を貫通する第2貫通部40を形成することもできる。第2貫通部40は、半導体部20に設けられる第2内面25によって規定されている。図1においてハッチングで示された領域が、第2貫通部40の底面において基板10が露出する部分である。第2貫通部40は、詳細には、活性層22が形成されていない部分におけるn型半導体層21の一部に設けることができる。
(第1絶縁膜50)
第1内面24、すなわち第1貫通部30の側面には、第1絶縁膜50を形成することができる。第1絶縁膜50としては、SiOなどの絶縁性の材料を用いることができる。第1貫通部30を形成すると、第1内面24において、n型半導体層21、活性層22、およびp型半導体層23が露出されるが、第1内面24のうちn型半導体層21、活性層22およびp型半導体層23を第1絶縁膜50で覆うことで、電流のリークを抑制することができる。さらに、透光性の第1絶縁膜50を用いることで、半導体部20で生じた光を第1内面24から外部に取り出すことができる。
また、第1絶縁膜50は、半導体部20の第1内面24だけでなく、第1貫通部30の底部において第1貫通部30から露出する基板10の上面を覆っている。この場合、第1貫通部30の底部において、第1絶縁膜50上にp側透光部61が設けられ、さらにp側透光部61上にp側パッド部62が設けられることになる。
第1絶縁膜50の材料は、その屈折率が、基板10の屈折率又は半導体部20の屈折率の少なくともいずれか一方、好ましくはその両方よりも小さいものを選択することができる。例えば、第1絶縁膜50をSiOで形成すれば、SiOの屈折率は略1.5なので、基板10を構成するサファイアの屈折率(略1.7)よりも小さくすることができる。そうすることで、半導体部20で発生した光が基板10へ透過した際、基板10側からp側パッド部62側へ向かう光の一部を、第1絶縁膜50によって基板10側へ反射することができる。そのため、p側パッド部62の裏面側による光吸収をさらに防ぐことができる。
第1絶縁膜50の膜厚は、200nm以上500nm以下とすることができる。膜厚を一定以上にすることで基板10方向への光の反射効果を得られやすくすることができ、膜厚を一定以下とすることで量産性の低下を抑制することができる。
半導体部20に第2貫通部を形成する場合は、第1絶縁膜50は、さらに第2貫通部40から露出する基板10の上面も覆っていてもよい。その場合も、上記と同様の効果が期待できる。
第1絶縁膜50は、単層で構成することもできるが、複数層で構成することもできる。第1絶縁膜50を複数層で構成する場合、屈折率の異なる層(例えばSiOとNb)を所定の膜厚で交互に積層することでDBR(分布ブラッグ反射)膜とすることができる。この場合は、半導体部20からの光をDBR膜により効果的に反射させることができる。
(p側電極)
p側電極60は、p側透光部61と、p側パッド部62と、を有する。p側透光部61は、p型半導体層23に接続され、p型半導体層23の上方から、第1貫通部30において露出する基板10の上方に亘って設けられている。p側透光部61は、p側パッド部62に供給された電流をp型半導体層23へ伝導する役割を担うので、p型半導体層23の上面の略全体を覆っていることが好ましい。
p側透光部61は、p型半導体層23上面から、第1貫通部30において露出する基板10上における第1絶縁膜50の上面にかけて延在している。これにより、第1貫通部30の底部において、p側透光部61上にp側パッド部62を設けることができる。
p側透光部61としては、ITO、IZOなどの、透光性であり導電性を有する材料が用いられる。p側透光部61の膜厚は、例えば、60nmないし300nmの範囲の大きさとすることができる。
p側パッド部62は、第1貫通部30において露出する基板10の上方において、p側透光部61に接続されて設けられている。p側パッド部62を第1貫通部30内に形成してp側パッド部62の直下に半導体部20を存在させないようにしたため、活性層22で発生した光は、p側パッド部62の裏面側まで伝搬されにくい。その結果、p側パッド部62による光の吸収を抑制することができ、発光素子100の光取り出し効率を向上させることができる。
また、p側パッド部62は、第1貫通部30の底部のみに設けられており、第1内面24には設けられていない。第1内面24上には、p側透光部61が設けられており、p側パッド部62とp型半導体層23とは、p側透光部61によって電気的に接続されている。つまり、第1内面24には、半導体部20側から順に、第1絶縁膜50とp側透光部61とを設けることで、半導体部20で生じた光を第1内面24から取り出すことが可能となる。
図2に示すように、p側電極60は、第1貫通部30において露出する基板10の上方において、p側透光部61に接続されp側パッド部62から延伸するp側延伸部63を有することが好ましい。p側延伸部63は、上面視において、前記p側パッド部から2つに分かれ、前記2つのそれぞれが互いに平行な直線部分を有する形状とすることができる。そのような形状とすることで、p側パッド部62において外部から供給した電流を、p側延伸部63に沿って発光素子100全体へ拡散させることが可能となる。この場合、平面視における第1貫通部30の形状は、図1に示すように、p側パッド部62およびp側延伸部63に対応した形状とすることができる。つまり、第1貫通部30の内側において、p側パッド部62およびp側延伸部63を第1内面24から僅かに離間させて形成することにより、第1貫通部30の形状をp側パッド部62およびp側延伸部63に対応させることができる。これにより、第1貫通部30が形成される領域を最小限(半導体部20が存在する領域を最大限)とすることができるので、より高い光出力を得ることができる。
p側パッド部62およびp側延伸部63は、Ti/Rh/W/Au(この場合、Tiが半導体部20に最も近い側に設けられ、Auが半導体部20に最も遠い側に設けられることを意味する。)、Rh/W/Au、RhCr/Pt/AuまたはCr/Pt/Ru/Au等の金属で構成することができる。中でも、Cr/Pt/Ru/Auは半導体部20との密着力が強いので好ましい。なお、「RhCr」は、RhとCrの合金を意味する。
(n側電極)
n側電極70は、n側透光部71と、n側パッド部72と、を有することができる。n側透光部71は、n型半導体層21に接続され、n型半導体層21の上方から、第2貫通部40において露出する基板10の上方に亘って設けられている。発光素子100の駆動時には、電流が半導体部20からn側透光部71に電流が流れることになる。
n側透光部71は、n型半導体層21の上面から第2貫通部40において露出する基板10の上面まで延伸していることがさらに好ましい。このような形態とすることで、第2貫通部の底部において、n側透光部71上にn側パッド部72を設けることができる。本実施形態では、平面視において、第2貫通部40の周辺領域にn型半導体層21の上面が露出しており、その領域と第2内面25の双方においてn側透光部71がn型半導体層21と電気的に接続されている。n型半導体層21の上面だけでなく第2貫通部40の側面すなわち第2内面25にn側透光部71を形成することにより、n型半導体層21とn側透光部71との接触面積を大きくとることができる。これにより、接触抵抗が低減するので、発光素子100のVf(順方向電圧)を低下させることが可能となる。n側透光部71の材料や膜厚としては、p側透光部61と同様のものとすることができる。
n側パッド部72は、第2貫通部40において露出する基板10の上方において、n側透光部71に接続されて設けられる。本実施形態では、n側パッド部72を第2貫通部40内に形成してn側パッド部72の直下に半導体部20を存在させないようにしているため、活性層22で発生した光が、n側パッド部72の裏面側まで伝搬されにくい。その結果、n側パッド部72による光の吸収を抑制することができ、発光素子100の光取り出し効率を向上させることができる。
さらに、図2に示すように、n側電極70は、第2貫通部40において露出する基板10の上方において、n側透光部71に接続されn側パッド部72から延伸するn側延伸部73を有することが好ましい。発光素子100を上方から見たときに、n側延伸部73は、p側パッド部62に向かって延伸する形状とすることができる。また、n側延伸部73は、発光素子100を上方から見たときに、p側延伸部63のうち2つの先端領域の間に挟まれるように配置されている形状とすることができる。そのような形状とすることで、n側パッド部72において外部から供給した電流を、n側延伸部73に沿って発光素子100全体へ拡散させることが可能となる。この場合、平面視における第2貫通部40の形状は、図1に示すように、n側パッド部72およびn側延伸部73に対応した形状とすることができる。つまり、第2貫通部40の内側において、n側パッド部72およびn側延伸部73を第2内面25から僅かに離間させて形成することにより、第2貫通部40の形状をn側パッド部72およびn側延伸部73に対応させることができる。これにより、第2貫通部40が形成される領域を最小限(半導体部20が存在する領域を最大限)とすることができるので、より高い光出力を得ることができる。
また、n側パッド部72は、第2貫通部40の底部のみに設けられており、第2内面25には設けられていない。第2内面25上には、n側透光部71が設けられており、n側パッド部72とn型半導体層21とは、n側透光部71によって電気的に接続されている。つまり、第2内面25には、n側透光部71を設けることで、半導体部20で生じた光を第2内面25から取り出すことが可能となる。
(第2絶縁膜)
半導体部20、p側透光部61、n側透光部71、p側延伸部63およびn側延伸部73は、露出される部分の表面が第2絶縁膜80で被覆されていることが好ましい。また、図2に示すように、p側パッド部62およびn側パッド部72についても、ワイヤ等で外部と接続される部分以外の表面は、第2絶縁膜80で被覆されていることが好ましく、n側パッド部72についても同様である。そうすることで、各部材を損傷や汚損から保護することができる。第2絶縁膜80は、第1絶縁膜50と同様の材料を利用することができ、膜厚としては、例えば30nmないし500nmの範囲とすることができる。
100 発光素子
10 基板
20 半導体部
21 n型半導体層
22 活性層
23 p型半導体層
24 第1内面
25 第2内面
30 第1貫通部
40 第2貫通部
50 第1絶縁膜
60 p側電極
61 p側透光部
62 p側パッド部
63 p側延伸部
70 n側電極
71 n側透光部
72 n側パッド部
73 n側延伸部
80 第2絶縁膜

Claims (14)

  1. 絶縁性の基板と、前記基板の側から順にn型半導体層とp型半導体層とを有する前記基板上に設けられた半導体部と、前記n型半導体層に電気的に接続されたn側電極と、前記p型半導体層に電気的に接続されたp側電極と、を備える発光素子であって、
    前記半導体部には、前記半導体部に設けられた第1内面により規定される第1貫通部であって、前記基板が露出するように前記n型半導体層及び前記p半導体層を貫通する第1貫通部と、前記半導体部に設けられた第2内面により規定される第2貫通部であって、前記基板が露出するように前記p型半導体層および前記n型半導体層を貫通する第2貫通部が設けられており、
    前記p側電極は、
    前記p型半導体層に接続され、前記p型半導体層の上方から前記第1貫通部における前記基板の上方に亘って設けられたp側透光部と、
    前記第1貫通部における前記基板の上方において、前記p側透光部に接続されたp側パッド部と、を有し、
    前記n側電極は、
    前記n型半導体層に接続され、前記n型半導体層の上方から前記第2貫通部における前記基板の上方に亘って設けられたn側透光部と、
    前記第2貫通部における前記基板の上方において、前記n側透光部に接続されたn側パッド部と、
    前記第2貫通部における前記基板の上方において、前記n側透光部に接続され前記n側パッド部から延伸するn側延伸部を有することを特徴とする発光素子。
  2. 前記p側電極は、前記第1貫通部における前記基板の上方において、前記p側透光部に接続され前記p側パッド部から延伸するp側延伸部を有することを特徴とする請求項1に記載の発光素子。
  3. 前記第1貫通部は、平面視において前記p側パッド部及び前記p側延伸部に対応した形状を有することを特徴とする請求項に記載の発光素子。
  4. 前記第2貫通部は、平面視において前記n側パッド部及び前記n側延伸部に対応した形状を有することを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の発光素子。
  5. 前記第1内面は、前記半導体部よりも小さい屈折率を有する第1絶縁膜によって覆われることを特徴とする、請求項1ないしのいずれか1項に記載の発光素子。
  6. 前記第1貫通部において、前記基板は、前記基板よりも小さい屈折率を有する第1絶縁膜によって覆われることを特徴とする請求項に記載の発光素子。
  7. 絶縁性の基板と、前記基板の側から順にn型半導体層とp型半導体層とを有する前記基板上に設けられた半導体部と、前記n型半導体層に電気的に接続されたn側電極と、前記p型半導体層に電気的に接続されたp側電極と、を備える発光素子であって、
    前記半導体部には、前記半導体部に設けられた第1内面により規定される第1貫通部であって、前記基板が露出するように前記n型半導体層及び前記p半導体層を貫通する第1貫通部が設けられており、
    前記第1貫通部の底部において、前記第1貫通部から露出する前記基板の上面は、第1絶縁膜によって覆われており、
    前記p側電極は、
    前記p型半導体層に接続され、前記p型半導体層の上方から前記第1貫通部における前記基板の上方に亘って設けられたp側透光部と、
    前記第1貫通部における前記基板の上方にある前記第1絶縁膜の直上において、前記p側透光部に接続されたp側パッド部と、を有することを特徴とする発光素子。
  8. 前記半導体部には、前記半導体部に設けられた第2内面により規定される第2貫通部であって、前記基板が露出するように前記p型半導体層および前記n型半導体層を貫通する第2貫通部が設けられており、
    前記n側電極は、
    前記n型半導体層に接続され、前記n型半導体層の上方から前記第2貫通部における前記基板の上方に亘って設けられたn側透光部と、
    前記第2貫通部における前記基板の上方において、前記n側透光部に接続されたn側パッド部と、を有することを特徴とする請求項7に記載の発光素子。
  9. 前記p側電極は、前記第1貫通部における前記基板の上方において、前記p側透光部に接続され前記p側パッド部から延伸するp側延伸部を有することを特徴とする請求項7または8に記載の発光素子。
  10. 前記n側電極は、前記第2貫通部における前記基板の上方において、前記n側透光部に接続され前記n側パッド部から延伸するn側延伸部を有することを特徴とする請求項8または請求項8を引用する請求項9に記載の発光素子。
  11. 前記第1貫通部は、平面視において前記p側パッド部及び前記p側延伸部に対応した形状を有することを特徴とする請求項9に記載の発光素子。
  12. 前記第2貫通部は、平面視において前記n側パッド部及び前記n側延伸部に対応した形状を有することを特徴とする請求項10に記載の発光素子。
  13. 前記第1内面は、前記半導体部よりも小さい屈折率を有する前記第1絶縁膜によって覆われることを特徴とする、請求項7ないし12のいずれか1項に記載の発光素子。
  14. 前記第1貫通部において、前記基板は、前記基板よりも小さい屈折率を有する前記第1絶縁膜によって覆われることを特徴とする請求項13に記載の発光素子。
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