JP6352436B2 - 成膜装置 - Google Patents

成膜装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6352436B2
JP6352436B2 JP2016552844A JP2016552844A JP6352436B2 JP 6352436 B2 JP6352436 B2 JP 6352436B2 JP 2016552844 A JP2016552844 A JP 2016552844A JP 2016552844 A JP2016552844 A JP 2016552844A JP 6352436 B2 JP6352436 B2 JP 6352436B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film forming
substrate
unit
chuck
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016552844A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2016056275A1 (ja
Inventor
直之 野沢
直之 野沢
信雄 松木
信雄 松木
怜士 坂本
怜士 坂本
石原 雅仁
雅仁 石原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Anelva Corp
Original Assignee
Canon Anelva Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Anelva Corp filed Critical Canon Anelva Corp
Publication of JPWO2016056275A1 publication Critical patent/JPWO2016056275A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6352436B2 publication Critical patent/JP6352436B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/50Substrate holders
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/02Pretreatment of the material to be coated
    • C23C14/021Cleaning or etching treatments
    • C23C14/022Cleaning or etching treatments by means of bombardment with energetic particles or radiation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/04Coating on selected surface areas, e.g. using masks
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3464Sputtering using more than one target
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/54Controlling or regulating the coating process
    • C23C14/541Heating or cooling of the substrates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • C23C14/564Means for minimising impurities in the coating chamber such as dust, moisture, residual gases
    • C23C14/566Means for minimising impurities in the coating chamber such as dust, moisture, residual gases using a load-lock chamber
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • C23C14/568Transferring the substrates through a series of coating stations
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/458Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
    • C23C16/4582Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
    • C23C16/4583Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
    • C23C16/4586Elements in the interior of the support, e.g. electrodes, heating or cooling devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3411Constructional aspects of the reactor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3488Constructional details of particle beam apparatus not otherwise provided for, e.g. arrangement, mounting, housing, environment; special provisions for cleaning or maintenance of the apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67109Apparatus for thermal treatment mainly by convection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67201Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the load-lock chamber
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67207Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations comprising a chamber adapted to a particular process
    • H01L21/67213Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations comprising a chamber adapted to a particular process comprising at least one ion or electron beam chamber
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67712Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrate being handled substantially vertically
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/6776Continuous loading and unloading into and out of a processing chamber, e.g. transporting belts within processing chambers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

本発明は、基板に膜を形成する成膜装置に関する。
電子デバイスの製造において、プラズマPVDまたはプラズマCVD等のプラズマ処理によって基板に種々の膜が形成されうる。例えば、特許文献1には、基板を搬送しながら該基板に膜を形成する成膜装置が記載されている。このような成膜装置では、処理中の基板が加熱され、処理のための適正温度から外れたり、変形したりしうる。特に、樹脂基板などにおいては、この変形量が大きくなり問題となりうる。
一方、基板の2つの面の双方に膜を形成する成膜装置がある。特許文献2に記載された成膜装置では、成膜部において基板の1つの面に膜が形成された後に、基板が成膜部から出されてキャリア回転部に移動される。キャリア回転部では、基板を保持したキャリア載置部材が180度回転される。回転された基板は、成膜部に戻されて、成膜部において、他の面に膜が形成される。このような成膜装置では、搬送回数や搬送時間が増加する点で、スループットが低いという問題がある。また、スループットの向上を図るべく複数の基板の同時処理を可能にした場合において、1つの成膜部が他の成膜部に膜を形成するという問題がある。
特開2014−58698号公報 特開2014−28999号公報
本発明の第1の側面は、基板を搬送しながら該基板に膜を形成する成膜装置において該基板の変形を抑制するために有利な技術を提供することを目的とする。
本発明の第1の側面は、成膜装置に係り、該成膜装置は、チャンバーと、前記チャンバーの中で基板を保持する保持部と、前記基板が前記チャンバーの中の成膜領域を通過するように前記基板を保持した前記保持部を移動させる駆動部と、前記成膜領域に成膜物質を供給することによって前記成膜領域を通過している前記基板に膜を形成する成膜部と、前記保持部を冷却する冷却部と、を備える。
本発明の第2の側面は、スループットの向上に有利な技術を提供することを目的とする。
本発明の第2の側面は、第1面および第2面を有する複数の基板の前記第1面および前記第2面に膜を形成する成膜装置に係り、該成膜装置は、チャンバーと、互いに反対側に位置する第1チャックおよび第2チャックを有し、前記チャンバーの中において、前記第1チャックでは基板の前記第2面の側を保持し、前記第2チャックでは基板の前記第1面の側を保持する保持部と、前記第1チャックおよび前記第2チャックによってそれぞれ保持された基板が前記チャンバーの中の成膜領域を通過するように前記保持部を移動させる駆動部と、前記第1チャックによって保持された基板に膜を形成する第1成膜部と、前記第2チャックによって保持された基板に膜を形成する第2成膜部と、前記第1チャックによって前記第2面の側が保持され前記第1成膜部によって前記第1面に膜が形成された基板を前記第2チャックによって前記第1面の側が保持されるように操作する操作機構と、を備える。
本発明の第3の側面は、スループットの向上を図るべく複数の基板の同時処理を可能にした場合における問題を解決するための有利な技術を提供することを目的とする。
本発明の第3の側面は、成膜装置に係り、該成膜装置は、チャンバーと、互いに反対側に位置する第1チャックおよび第2チャックを有し、前記チャンバーの中において、前記第1チャックおよび前記第2チャックのそれぞれによって基板を保持する保持部と、前記第1チャックおよび前記第2チャックによってそれぞれ保持された基板が前記チャンバーの中の成膜領域を通過するように前記保持部を移動させる駆動部と、前記第1チャックによって保持された基板に膜を形成する第1成膜部と、前記第2チャックによって保持された基板に膜を形成する第2成膜部と、を備え、前記保持部は、膜を形成する際の前記保持部の可動域において前記第1成膜部と前記第2成膜部とが対面しないように前記第1成膜部の側の空間と前記第2成膜部の側の空間とを分離する分離部を含む。
本発明の1つの実施形態の成膜装置を水平面に平行な面で切断した模式的な断面図。 本発明の1つの実施形態の成膜装置の一部分を鉛直方向に沿った面で切断した断面図。 本発明の1つの実施形態の成膜装置の一部分を鉛直方向に沿った面で切断した断面図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。 本発明の1つの実施形態の具体的な動作例を説明する図。
以下、添付図面を参照しながら本発明をその例示的な実施形態を通して説明する。
図1は、本発明の1つの実施形態の成膜装置1を水平面に平行な面で切断した模式的な断面図である。図2A、2Bは、成膜装置1の一部分を鉛直方向に沿った面で切断した断面図である。ここで、XY平面は水平面に平行な面であり、Z軸は鉛直方向に平行な軸である。成膜装置1は、基板S(S1、S2・・・)に膜を形成する装置として構成される。この明細書では、複数の基板を相互に区別するためのS1、S2、S3、S4のような符号が用いられるが、基板を相互に区別する必要がない場合には、基板Sと記載する。基板Sは、例えば、キャリアCRによって保持された状態で搬送され処理されうる。
成膜装置1は、基板S(S1、S2・・・)に膜を形成する処理を行うためのチャンバー(成膜チャンバーまたは主チャンバーとも呼ばれうる)50の他に、プラットホーム10およびロードロックチャンバー30を備えうる。プラットホーム10は、他の装置との間で基板Sを受け渡しするために使用されうる。プラットホーム10とロードロックチャンバー30との間には、バルブ20が設けられ、ロードロックチャンバー30とチャンバー50との間にはバルブ40が設けられている。
成膜装置1は、チャンバー50の中で基板Sを保持する保持部60を備えうる。保持部60は、互いに反対側に配置された第1チャックCH1および第2チャックCH2を有しうる。第1チャックCH1および第2チャックCH2は、例えば、静電チャックまたはメカニカルチャックを含みうる。成膜装置1は、基板Sがチャンバー50の中の成膜領域FFAを通過するように基板Sを保持した保持部60を移動経路TPに沿って移動させる駆動部110を備えうる。駆動部110は、例えば、リニアモータまたはボールネジ機構を含みうる。移動経路TPは、例えば、基板Sの被処理面に平行である。
成膜装置1は、成膜領域FFAに成膜物質を供給することによって成膜領域FFAを通過している基板Sに膜を形成する成膜部FFを備えうる。ここで、成膜領域FFAは、基板Sに膜が形成される領域である。成膜部FFは、第1チャックCH1によって保持された基板S(便宜上、第1基板という)と、第2チャックCH2によって保持された他の基板S(便宜上、第2基板という)とに膜を同時に形成するように構成されうる。第1基板および第2基板の各々は、互いに反対側の面である第1面および第2面を有する。第1基板および第2基板は、第1チャックCH1によって第2面の側が保持された状態で、成膜部FFによって第1面に膜が形成され、第2チャックCH2によって第1面の側が保持された状態で、成膜部FFによって第2面に膜が形成されうる。このような構成は、スループットの向上に有利である。また、このような構成は、成膜装置1の小型化にも有利である。
成膜部FFは、移動経路TPに沿って第1方向(例えば、+Y方向)に基板Sが移動しているとき、および、移動経路TPに沿って該第1方向とは反対方向である第2方向(例えば、−Y方向)に基板Sが移動しているときの双方において、基板Sに膜を形成するように構成されうる。成膜部FFは、第1チャックCH1によって保持された基板Sに膜を形成する第1成膜部FF1と、第2チャックCH2によって保持された基板Sに膜を形成する第2成膜部FF2とを含みうる。成膜領域FFAは、第1成膜部FF1と第2成膜部FF2との間に配されうる。
成膜部FFは、成膜領域FFAに成膜物質が供給されるようにプラズマを発生するプラズマ発生部を含みうる。より具体的な例として、成膜部FFは、スパッタリングによって基板Sに膜を形成するように構成されうる。スパッタリングによって膜を形成するように構成される成膜部FFは、例えば、ターゲットと基板との間に電圧を印加することによってプラズマを発生させうる。成膜部FFは、例えば、CVDによって基板Sに膜を形成するように構成されてもよい。
一例において、第1成膜部FF1は、スパッタリングによって基板Sに膜を形成するように構成されうる。第1成膜部FF1は、複数のターゲットT1、T2を含み、基板Sに対して複数の膜(典型的には、複数種類の膜)を形成しうる。第1成膜部FF1は、その他、イオンガンI1を含んでもよい。イオンガンI1は、基板Sにイオンを照射する。イオンが照射された基板Sは、例えば、平坦化、粗面化、クリーニングおよび/または活性化されうる。
同様に、第2成膜部FF2は、スパッタリングによって基板Sに膜を形成するように構成されうる。第2成膜部FF2は、複数のターゲットT3、T4を含み、基板Sに対して複数の膜(典型的には、複数種類の膜)を形成しうる。第2成膜部FF2は、その他、イオンガンI2を含んでもよい。イオンガンI2は、基板Sにイオンを照射する。イオンが照射された基板Sは、例えば、平坦化、粗面化、クリーニングおよび/または活性化されうる。
このように、1つの成膜部によって複数種類の処理が可能な構成は、成膜装置1の小型化に有利である。この例では、複数のターゲットおよびイオンガンを保持する保持体を回転させることによって処理の切り替えが実現されている。
保持部60は、基板Sに膜を形成する際の保持部60の可動域(駆動部110によって保持部60が駆動される範囲)において、好ましくは該可動域の全域において、第1成膜部FF1と第2成膜部FF2とが対面しないように、第1成膜部FF1の側の空間と第2成膜部FF2の側の空間とを分離する分離部SPを含みうる。
成膜装置1は、保持部60を冷却する冷却部CVを備えうる。冷却部CVは、保持部60に配置された冷媒流路CCと、冷媒流路CCに冷媒を供給する供給部CSとを含みうる。冷却部CVは、更に供給部CSと冷媒流路CCとを接続するチューブ122、124を含みうる。保持部60が冷却部CVによって冷却されることによって、保持部60によって保持されている基板Sが冷却され、例えば、基板Sの変形などが抑制されうる。
成膜装置1は、チャンバー50に設けられた開口OPに一端が接続され、他端が閉塞部材135によって閉塞されたベローズ130と、保持部60と閉塞部材135とを接続する中空部材120とを更に備えうる。供給部CSは、中空部材120の中に配置されたチューブ122、124を通してチャンバー50の外部(典型的には、大気圧の空間)からチャンバー50の中に配置された保持部60に冷媒を供給するように構成されうる。第1チャックCH1および第2チャックCH2に対して電力および信号を供給するケーブルも中空部材120に配されうる。
成膜装置1は、駆動部110が保持部60を移動経路TPに沿って移動させる動作に応じて閉塞部材135を移動させる第2駆動部140を備えうる。第2駆動部140は、例えば、リニアモータまたはボールネジ機構を含みうる。
ロードロックチャンバー30では、プラットホーム10から提供される未処理の基板Sおよびチャンバー50から提供される成膜後の基板Sが操作機構72によって操作される。操作機構72は、例えば、複数の基板Sを保持可能なコンテナ70をX軸に沿って駆動する。プラットホーム10とロードロックチャンバー30との間では、不図示の搬送機構によって基板Sが搬送される。ロードロックチャンバー30とチャンバー50との間では、搬送機構74によって基板Sが搬送される。操作機構72は、例えば、第1チャックCH1によって第2面の側が保持され第1成膜部FF1によって第1面に膜が形成された基板Sを第2チャックCH2によって第1面の側が保持されるように操作する。
以下、図3〜図23を参照しながら成膜装置1の具体的な動作例を説明する。以下では、基板Sを相互に区別するために基板S1、S2、S3、S4のように記載する。基板S1、S2、S3、S4は、被処理面として互いに反対側の第1面および第2面を有し、第1面は+X方向に向いた面、第2面は−X方向に向いた面であるものとする。図3に示された状態では、基板S1は、チャンバー50において既に第1面および第2面に膜が形成され、チャンバー50から取り出されてロードロックチャンバー30内のコンテナ70に収容されている。また、基板S2は、チャンバー50内において既に第1面には膜が形成されているが、まだチャンバー50内において第2面には膜が形成されていない。また、基板S3は、まだチャンバー50内において第1面および第2面の双方に膜が形成されていない。
まず、図3、4、5に模式的に示されているように、基板S3の第1面および基板S2の第2面に同時に膜を形成するために、コンテナ70内の基板S3、S2がそれぞれ第1チャックCH1、第2チャックCH2に搬送機構74によって搬送され、第1チャックCH1、第2チャックCH2によって保持される。ここで、基板S3は、その第2面が第1チャックCH1によって保持され、基板S2は、その第1面が第2チャックCH2によって保持される。
次いで、図6、7に模式的に示されているように、イオンガンI1、I2からイオンを放射させながら駆動部110によって移動経路TPに沿って+Y方向(第1方向)に、基板S3、S2を保持した保持部60が移動される。これによって、基板S3の第1面および基板S2の第2面は、例えば、平坦化、粗面化、クリーニングおよび/または活性化される。
次いで、図8に模式的に示されているように、イオンガンI1、I2からのイオンの放射が停止され、その後、図9に模式的に示されているように、ターゲットT1、T3が成膜領域に向けられる。次いで、図10に模式的に示されているように、既に第1面および第2面に膜が形成された基板S1がロードロックチャンバー30からプラットホーム10にバルブ20を通して排出される。なお、この排出に先立って、基板S1をロードロックチャンバー30からプラットホーム10に排出することができるようにコンテナ70が操作機構72によって操作され、また、ロードロックチャンバー30が大気圧に調整される。
次いで、図11に模式的に示されているように、成膜領域にガスが供給されプラズマが生成され、ターゲットT1、T3から成膜領域にスパッタリングによって成膜物質が放出される。次いで、図12、13に模式的に示されているように、駆動部110によって搬送路TPに沿って−Y方向(第2方向)に、基板S3、S2を保持した保持部60が移動される。これによって、基板S3の第1面および基板S2の第2面に第1膜が形成される。また、プラットホーム10に排出された基板S1は、不図示の搬送機構によって除去される。
図11、13に模式的に示されているように、保持部60に設けられた分離部SPは、ターゲットT1を有する第1成膜部FF1の側の空間とターゲットT3を有する第2成膜部FF2の側の空間とを相互に分離するように機能する。分離部SPは、例えば、第1成膜部FF1による第2成膜部FF2への膜の形成、および、第2成膜部FF2による第1成膜部FF1への膜の形成の抑制に寄与する。また、分離部SPは、第1成膜部FF1と第2成膜部FF2との間におけるコンタミネーションの抑制にも寄与する。コンタミネーションの抑制は、特に、ターゲットT1、T3の材料が相互に異なる場合に特に有効である。
次いで、図14に模式的に示されているように、新たな基板S4がプラットホーム10に提供され、また、基板S4を受け取ることができる位置にコンテナ70が操作機構72によって操作される。また、ターゲットT2、T4が成膜領域に向けられる。
次いで、図15に模式的に示されているように、成膜領域にガスが供給されプラズマが生成され、ターゲットT2、T4から成膜領域にスパッタリングによって成膜物質が放出される。また、プラットホーム10からロードロックチャンバー30内のコンテナ70に不図示の搬送機構によって基板S4が搬送される。その後、ロードロックチャンバー30の中が減圧される。また、後に基板S2、S3をコンテナ70が受け取ることができるように、コンテナ70が操作機構72によって操作される。
次いで、図16、17に模式的に示されているように、駆動部110によって搬送路TPに沿って+Y方向(第1方向)に、基板S3、S2を保持した保持部60が移動される。これによって、基板S3の第1面および基板S2の第2面の第1膜の上に第2膜が形成される。次いで、図18、19に模式的に示されているように、駆動部110によって搬送路TPに沿って−Y方向(第2方向)に、基板S3、S2を保持した保持部60が移動される。これによって、基板S3の第1面および基板S2の第2面の第2膜の上に更に第2膜が形成される。
次いで、図20、21に模式的に示されているように、基板S3、S2がそれぞれ第1チャックCH1、第2チャックCH2から取り外されて、搬送機構74によってバルブ40を通してコンテナ70に搬送される。
以降は、基板を変更して上記の手順が繰り返えされる。その繰り返し手順の冒頭部分を背爪すれば、図22、23に模式的に示されているように、基板S4の第1面および基板S3の第2面に同時に膜を形成するために、コンテナ70内の基板S4、S3がそれぞれ第1チャックCH1、第2チャックCH2に搬送機構74によって搬送され、第1チャックCH1、第2チャックCH2によって保持される。
本願は、2014年10月10日提出の日本国特許出願特願2014−209380を基礎として優先権を主張するものであり、その記載内容の全てを、ここに援用する。
50:チャンバー、60:保持部、S1、S2、S3、S4:基板、CR:キャリア、FFA:成膜領域、110:駆動部、TP:移動経路、FF:成膜部、FF1:第1成膜部、FF2:第2成膜部、CV:冷却部、CC:冷却流路、CS:供給部、CH1:第1チャック、CH2:第2チャック、SP:分離部、10:プラットホーム、30:ロードロックチャンバー、70:コンテナ、72:操作機構、74:搬送機構、140:第2駆動部、120:中空部材、130:ベローズ、135:閉塞部材

Claims (17)

  1. 第1面および第2面を有する複数の基板の前記第1面および前記第2面に膜を形成する成膜装置であって、
    チャンバーと、
    互いに反対側に位置する第1チャックおよび第2チャックを有し、前記チャンバーの中において、前記第1チャックでは第1基板の前記第2面の側を保持し、前記第2チャックでは第2基板の前記第1面の側を保持する保持部と、
    前記第1チャックおよび前記第2チャックによってそれぞれ保持された前記第1基板および前記第2基板が前記チャンバーの中の成膜領域を通過するように前記保持部を移動させる駆動部と、
    前記第1チャックによって保持された前記第1基板の前記第1面に膜を形成する第1成膜部と、
    前記第2チャックによって保持された前記第2基板の前記第2面に膜を形成する第2成膜部と、
    前記第1チャックによって前記第2面の側が保持された前記第1基板の前記第1面に前記第1成膜部によって膜が形成された後に、前記第1基板の前記第1面の側が前記第2チャックによって保持されるように前記第1基板を操作する操作機構と、
    前記保持部を冷却する冷却部と、
    を備えることを特徴とする成膜装置。
  2. 前記冷却部は、前記保持部に配置された冷媒流路と、前記冷媒流路に冷媒を供給する供給部と、を含む、
    ことを特徴とする請求項1に記載の成膜装置。
  3. 前記チャンバーに設けられた開口に一端が接続され、他端が閉塞部材によって閉塞されたベローズと、
    前記保持部と前記閉塞部材とを接続する中空部材と、を更に備え、
    前記供給部は、前記中空部材を通して前記チャンバーの外部から前記保持部に冷媒を供給する、
    ことを特徴とする請求項2に記載の成膜装置。
  4. 前記駆動部が前記保持部を移動させる動作に応じて前記閉塞部材を移動させる第2駆動部を更に備える、
    ことを特徴とする請求項3に記載の成膜装置。
  5. 前記駆動部は、前記第1基板および前記第2基板の被処理面に平行な移動経路に沿って前記保持部を移動させる、
    ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の成膜装置。
  6. 前記第1成膜部および前記第2成膜部は、前記移動経路に沿って第1方向に前記第1基板および前記第2基板が移動しているとき、および、前記移動経路に沿って前記第1方向とは反対方向である第2方向に前記第1基板および前記第2基板が移動しているときの双方において、前記第1基板および前記第2基板に膜を形成する、
    ことを特徴とする請求項5に記載の成膜装置。
  7. 第1成膜部および前記第2成膜部は、前記第1チャックによって保持された前記第1基板の前記第1面と、前記第2チャックによって保持された前記第2基板の前記第2面とに膜を同時に形成する、
    ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の成膜装置。
  8. 記保持部は、膜を形成する際の前記保持部の可動域において前記第1成膜部と前記第2成膜部とが対面しないように前記第1成膜部の側の空間と前記第2成膜部の側の空間とを分離する分離部を含む、
    ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の成膜装置。
  9. 前記分離部は、膜を形成する際の前記保持部の前記可動域の全域において前記第1成膜部と前記第2成膜部とが対面しないように前記第1成膜部の側の空間と前記第2成膜部の側の空間とを分離する、
    ことを特徴とする請求項8に記載の成膜装置。
  10. 前記保持部と前記操作機構との間で前記第1基板および前記第2基板を搬送する搬送機構を更に備え、
    前記駆動部は、前記保持部を移動経路に沿って移動させ、
    前記搬送機構は、前記第1基板および前記第2基板を前記移動経路と平行な方向に搬送し、
    前記操作機構は、コンテナを移動させるように構成され、前記搬送機構によって前記保持部の前記第1チャックから搬送されてきた前記第1基板が前記コンテナに収容された状態で前記コンテナを前記移動経路と直交する方向に移動させ、
    前記第1チャックから搬送されてきた前記第1基板が前記コンテナに収容された状態における前記操作機構による前記コンテナの移動は、前記搬送機構によって前記第1基板が前記コンテナから前記第2チャックに搬送されるようになされる、
    ことを特徴とする請求項1に記載の成膜装置。
  11. 前記第1成膜部および前記第2成膜部は、前記第1基板および前記第2基板に複数種類の膜を形成することができるように構成されている、
    ことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の成膜装置。
  12. 前記第1成膜部および前記第2成膜部は、前記成膜領域に成膜物質が供給されるようにプラズマを発生するプラズマ発生部を含む、
    ことを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の成膜装置。
  13. 前記第1成膜部および前記第2成膜部は、スパッタリングによって前記第1基板および前記第2基板に膜を形成する、
    ことを特徴とする請求項12に記載の成膜装置。
  14. 前記成膜領域を通過している前記第1基板および前記第2基板にイオンを照射するイオンガンを更に備える、
    ことを特徴とする請求項1乃至13のいずれか1項に記載の成膜装置。
  15. 第1面および第2面を有する複数の基板の前記第1面および前記第2面に膜を形成する成膜装置であって、
    チャンバーと、
    互いに反対側に位置する第1チャックおよび第2チャックを有し、前記チャンバーの中において、前記第1チャックでは基板の前記第2面の側を保持し、前記第2チャックでは基板の前記第1面の側を保持する保持部と、
    前記第1チャックおよび前記第2チャックによってそれぞれ保持された基板が前記チャンバーの中の成膜領域を通過するように前記保持部を移動させる駆動部と、
    前記第1チャックによって保持された基板に膜を形成する第1成膜部と、
    前記第2チャックによって保持された基板に膜を形成する第2成膜部と、
    前記第1チャックによって前記第2面の側が保持され前記第1成膜部によって前記第1面に膜が形成された基板を前記第2チャックによって前記第1面の側が保持されるように操作する操作機構と、
    を備えることを特徴とする成膜装置。
  16. 前記保持部と前記操作機構との間で基板を搬送する搬送機構を更に備え、
    前記駆動部は、前記保持部を移動経路に沿って移動させ、
    前記搬送機構は、基板を前記移動経路と平行な方向に搬送し、
    前記操作機構は、コンテナを移動させるように構成され、前記搬送機構によって前記保持部の前記第1チャックから搬送されてきた第1基板が前記コンテナに収容された状態で前記コンテナを前記移動経路と直交する方向に移動させ、
    前記第1チャックから搬送されてきた前記第1基板が前記コンテナに収容された状態における前記操作機構による前記コンテナの移動は、前記搬送機構によって前記第1基板が前記コンテナから前記第2チャックに搬送されるようになされる、
    ことを特徴とする請求項15に記載の成膜装置。
  17. チャンバーと、
    互いに反対側に位置する第1チャックおよび第2チャックを有し、前記チャンバーの中において、前記第1チャックおよび前記第2チャックのそれぞれによって基板を保持する保持部と、
    前記第1チャックおよび前記第2チャックによってそれぞれ保持された基板が前記チャンバーの中の成膜領域を通過するように前記保持部を移動させる駆動部と、
    前記第1チャックによって保持された基板に膜を形成する第1成膜部と、
    前記第2チャックによって保持された基板に膜を形成する第2成膜部と、を備え、
    前記保持部は、膜を形成する際の前記保持部の可動域の全域において前記第1成膜部と前記第2成膜部とが対面しないように前記第1成膜部の側の空間と前記第2成膜部の側の空間とを分離する分離部を含む、
    ことを特徴とする成膜装置。
JP2016552844A 2014-10-10 2015-06-22 成膜装置 Active JP6352436B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014209380 2014-10-10
JP2014209380 2014-10-10
PCT/JP2015/067908 WO2016056275A1 (ja) 2014-10-10 2015-06-22 成膜装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2016056275A1 JPWO2016056275A1 (ja) 2017-07-06
JP6352436B2 true JP6352436B2 (ja) 2018-07-04

Family

ID=55652900

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016552844A Active JP6352436B2 (ja) 2014-10-10 2015-06-22 成膜装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10738380B2 (ja)
JP (1) JP6352436B2 (ja)
KR (2) KR20190071003A (ja)
CN (2) CN110129761B (ja)
TW (1) TWI570256B (ja)
WO (1) WO2016056275A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019192680A1 (en) * 2018-04-03 2019-10-10 Applied Materials, Inc. Apparatus for handling a carrier in a vacuum chamber, vacuum deposition system, and method of handling a carrier in a vacuum chamber
WO2021199479A1 (ja) * 2020-04-01 2021-10-07 キヤノンアネルバ株式会社 成膜装置、成膜装置の制御装置及び成膜方法
CN115427606B (zh) * 2020-04-01 2024-01-02 佳能安内华股份有限公司 成膜设备、成膜设备的控制设备以及成膜方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2844491C2 (de) * 1978-10-12 1983-04-14 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Vakuum-Beschichtungsanlage mit einer Einrichtung zum kontinuierlichen Substrattransport
JP3525882B2 (ja) * 2000-10-05 2004-05-10 日本電気株式会社 プラズマcvd装置および成膜方法
US20030107865A1 (en) 2000-12-11 2003-06-12 Shinsuke Masuda Wafer handling apparatus and method of manufacturing the same
US6678143B2 (en) 2000-12-11 2004-01-13 General Electric Company Electrostatic chuck and method of manufacturing the same
US7988398B2 (en) * 2002-07-22 2011-08-02 Brooks Automation, Inc. Linear substrate transport apparatus
JP2005320599A (ja) * 2004-05-11 2005-11-17 Sumitomo Metal Mining Co Ltd カソード取付構造体、カソード取付構造体を用いた薄膜形成装置および薄膜形成方法
KR101270526B1 (ko) * 2004-05-26 2013-06-04 가부시키가이샤 아루박 진공처리장치
JP4660241B2 (ja) * 2005-03-25 2011-03-30 株式会社昭和真空 スパッタ装置
JP2006299358A (ja) * 2005-04-21 2006-11-02 Sumitomo Heavy Ind Ltd 真空成膜装置及び真空成膜方法
JP5544697B2 (ja) * 2008-09-30 2014-07-09 東京エレクトロン株式会社 成膜装置
WO2010067591A1 (ja) * 2008-12-09 2010-06-17 キヤノンアネルバ株式会社 ラック・アンド・ピニオン機構、真空処理装置、ラック・アンド・ピニオン機構の駆動制御方法、駆動制御プログラム及び記録媒体
JP2011032508A (ja) 2009-07-30 2011-02-17 Tohoku Univ 配線基板プラズマ処理装置及び配線基板の製造方法
US8414083B2 (en) * 2010-03-08 2013-04-09 Crysteel Manufacturing, Inc. Tailgate
JP2014058698A (ja) 2010-12-15 2014-04-03 Canon Anelva Corp スパッタリング装置
JP2013172015A (ja) * 2012-02-21 2013-09-02 Hitachi High-Technologies Corp 成膜装置、及び成膜装置用基板搬送機構
JP2014028999A (ja) 2012-07-31 2014-02-13 Ulvac Japan Ltd 成膜装置
JP2014189861A (ja) * 2013-03-28 2014-10-06 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 膜形成方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20170211179A1 (en) 2017-07-27
TWI570256B (zh) 2017-02-11
CN106795626B (zh) 2019-05-28
KR101991187B1 (ko) 2019-06-19
JPWO2016056275A1 (ja) 2017-07-06
KR20170061696A (ko) 2017-06-05
KR20190071003A (ko) 2019-06-21
CN106795626A (zh) 2017-05-31
CN110129761B (zh) 2021-04-27
US10738380B2 (en) 2020-08-11
WO2016056275A1 (ja) 2016-04-14
CN110129761A (zh) 2019-08-16
TW201623664A (zh) 2016-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102250215B1 (ko) 포커스 링 교환 방법
TWI685032B (zh) 不需要晶圓傾斜或旋轉的離子束蝕刻
TWI723132B (zh) 利用低溫晶圓溫度之離子束蝕刻
KR101206959B1 (ko) 기판의 처리 장치
JP6352436B2 (ja) 成膜装置
US20230256483A1 (en) Method for cleaning a vacuum system used in the manufacture of oled devices, method for vacuum deposition on a substrate to manufacture oled devices, and apparatus for vacuum deposition on a substrate to manufacture oled devices
JP6800237B2 (ja) 基板を脱ガスするためのチャンバ
US8316796B2 (en) Film coating system and isolating device thereof
US9425029B2 (en) Processing apparatus having a first shield and a second shield arranged to sandwich a substrate
JP2019167618A (ja) 真空処理装置及びトレイ
JP2020026547A (ja) 成膜装置および成膜方法
JP6126302B2 (ja) 成膜装置
JP2014133923A (ja) 保持装置、成膜装置及び搬送方法
KR20210150512A (ko) 기판을 이동시키기 위한 장치, 증착 장치 및 프로세싱 시스템
JP5478324B2 (ja) クリーニング装置、成膜装置、成膜方法
JP2007221171A (ja) 異種薄膜作成装置
JP5832372B2 (ja) 真空処理装置
KR20210000356A (ko) 기판 처리 장치 및 방법
JP6121576B1 (ja) 成膜装置
US20150294839A1 (en) Plasma processing apparatus and plasma processing method
WO2015132830A1 (ja) 真空処理装置及び真空処理方法
JP2007009309A (ja) 成膜方法及び成膜装置
KR20220136402A (ko) 성막 장치, 성막 장치의 제어 장치 및 성막 방법
JP2023182374A (ja) プラズマ処理装置
JP2022078648A (ja) スパッタリング装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170321

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170321

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180514

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180606

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6352436

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250