JP6335000B2 - 水晶振動素子及びその製造方法 - Google Patents

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本発明は、例えば基準信号源やクロック信号源に用いられる音叉型屈曲水晶振動素子などの水晶振動素子及びその製造方法に関する。
水晶振動素子の水晶片は、基部と、この基部から同一方向に延設された二本の振動腕部と、これらの振動腕部の表裏面に形成された溝部と、からなる。この水晶片は、水晶ウェハにウェットエッチングを施すことにより得られる。その一般的なウェットエッチング工程では、基部及び振動腕部の外形を形成する工程と、溝部を形成する工程とに分かれる。一回のウェットエッチングで外形と溝部の両方を形成しようとすると、溝部が表裏で貫通してしまうからである。
これに対し、関連技術1として、一回のウェットエッチングで外形と溝部の両方を形成する製造方法が知られている(例えば特許文献1参照)。この関連技術1では、ウェットエッチングのマスクにおいて溝部となる領域にエッチング抑制パターンを形成しているので、外形となる領域の水晶ウェハが貫通しても、溝部となる領域の水晶ウェハは貫通しない。
図9は、関連技術1の製造方法における耐食膜のパターンの一部を拡大して示す平面図である。図10及び図11は、関連技術1の製造方法で得られた溝部を示す断面図である。以下、これらの図面に基づき説明する。
図9に示すように、水晶ウェハ341の表裏には、耐食膜342からなるマスクが形成されている。耐食膜342のパターンは、振動腕部となる領域352、溝部となる領域354、表の溝部内の山となる領域355、裏の溝部内の山となる領域356などに分けられる。表の溝部内の山となる領域355には耐食膜342からなる突起357(実線)が形成され、裏の溝部内の山となる領域356には耐食膜342からなる突起357(破線)が形成されている。
このような耐食膜342からなるマスクを用いることにより、ウェットエッチング工程では、耐食膜342で覆われていない領域の水晶ウェハ341を除去するととともに、耐食膜342からなる突起357に覆われた領域355,356の水晶ウェハ341をサイドエッチングによって除去する。このとき、耐食膜342からなる突起357がエッチング抑制パターンとして作用するので、図10に示すように、振動腕部312aの外形と表の溝部441aと裏の溝部443aとが、一回のウェットエッチングで同時に形成される。つまり、ウェットエッチングのマスクにおいて溝部となる領域354にエッチング抑制パターンとして突起357を形成しているので、外形となる領域の水晶ウェハ341が貫通しても、溝部となる領域354の水晶ウェハ341は貫通せずに底板523が形成される。
また、図10に示すように、表の溝部441aは、一の開口321からなり、開口321内に振動腕部312aの延設方向に沿って山521と谷522とが交互に連続する底面322を有する。裏の溝部443aも、表から見て表の溝部441aとほぼ同じ位置に同じ形状で形成される。そのため、表の溝部441aに形成された山521は裏の溝部443aに形成された山521に対向し、表の溝部441aに形成された谷522は裏の溝部443aに形成された谷522に対向する。
特開2011−217039号公報
図10に示す関連技術1において、水晶振動素子のクリスタルインピーダンスを低減するには、溝部441a,443aの内側面323に形成される励振電極の面積を大きくする必要がある。しかしながら、関連技術1には次のような問題があった。
図11では、図10における底面322の山521及び谷522を滑らかな曲線に近似して示している。図11から明らかなように、表の溝部441aでは振動腕部312aの先端側316へ行くほど底面322が浅くなり、逆に裏の溝部443aでは振動腕部312aの基部側317へ行くほど底面322が浅くなる。これは、水晶ウェハ341のエッチング異方性によるものである。そのため、溝部441aの内側面323の面積は先端側316ほど小さくなり、逆に溝部443aの内側面323の面積は基部側317ほど小さくなる。したがって、その分、内側面323に形成される励振電極の面積も小さくなっていた。
なお、底面322が浅くなる部分を、エッチング時間を長くして深くする、ことが考えられる。しかし、その場合は、溝部441a,443aの先端側316と基部側317との中央付近において、エッチングが進むことにより、底面322の貫通を招くことになる。
また、図10に示す関連技術1において、溝部441a,443aの内側面323の面積を大きくするには、底面322を更に深くする必要がある。一方、エッチング抑制パターンを用いたことにより、表裏の溝部441a,443aの底面322には山521と谷522が生じている。そのため、底面322の深さは、表裏の溝部441a,443aが谷522の部分で貫通しない程度に制限される。その結果、表裏の溝部441a,443aを隔てる底板523の厚みが山521の部分で厚くなってしまい、その分、内側面323の面積を大きくできない。
そこで、本発明の目的は、溝部内の励振電極の面積を大きくしてクリスタルインピーダンスを低減し得る、水晶振動素子及びその製造方法を提供することにある。
本発明に係る水晶振動素子は、
基部と、この基部から延設された振動腕部と、この振動腕部の表裏面である第一及び第二の主面にそれぞれ設けられた第一及び第二の溝部と、を備えた水晶振動素子であって、
前記第一及び第二の溝部の最も浅い部分の深さと最も深い部分の深さとの差が、水晶ウェハのエッチング異方性によって生じる差よりも小さい、
ことを特徴とする。
本発明に係る水晶振動素子の製造方法は、
本発明に係る水晶振動素子を製造する方法であって、
水晶ウェハの表裏に耐食膜を形成する耐食膜形成工程と、
前記耐食膜上に感光性レジスト膜を形成する感光性レジスト膜形成工程と、
前記基部及び前記振動腕部となる領域の前記感光性レジスト膜を残し、前記第一及び第二の溝部となる領域の前記感光性レジスト膜を除去する露光現像工程と、
前記感光性レジスト膜で覆われていない前記耐食膜を除去することにより前記耐食膜からなるマスクを作成するパターニング工程と、
前記耐食膜からなるマスクを用いて前記水晶ウェハをウェットエッチングするウェットエッチング工程とを含み、
前記露光現像工程では、前記第一及び第二の溝部となる領域に、当該領域の周縁から当該領域の内側へ突出した前記感光性レジスト膜からなる突起を、前記振動腕部の延設方向に間隔を開けて複数配置し、
前記突起は、前記水晶ウェハのエッチング異方性によってエッチングレートの小さくなる部分ほどエッチングを促す形状又は前記間隔とした、
ことを特徴とする。
本発明に係る水晶振動素子によれば、第一及び第二の溝部の最も浅い部分の深さと最も深い部分の深さとの差が、水晶ウェハのエッチング異方性によって生じる差よりも小さいことにより、第一及び第二の溝部を深く形成しても貫通しにくくなるので、溝部内の励振電極の面積を大きくしてクリスタルインピーダンスを低減できる。
本発明に係る水晶振動素子の製造方法よれば、第一及び第二の溝部となる領域において感光性レジスト膜からなる突起を、水晶ウェハのエッチング異方性によってエッチングレートの小さくなる部分ほど、エッチングを促す形状等としたことにより、第一及び第二の溝部となる領域内の水晶ウェハのエッチングレートの差を縮小できるので、第一及び第二の溝部の深さを均一化できる。したがって、本発明によれば、第一及び第二の溝部がエッチングレートの差によって部分的に貫通することを回避しつつ、第一及び第二の溝部を深く形成できるので、第一及び第二の溝部内の励振電極の面積を大きくしてクリスタルインピーダンスを低減できる。
実施形態1の製造方法で得られた水晶片を示す斜視図である。 図1の水晶片に励振電極を形成した状態を示す、図1におけるII−II線断面図である。 図1の水晶片の一部を拡大して示す平面図である。 図3におけるIV−IV線断面図である。 実施形態1の製造方法を示す断面図であり、図5[1][2][3]の順に工程が進行する。 実施形態1の製造方法を示す断面図であり、図6[4][5]の順に工程が進行する。 実施形態1の製造方法における感光性レジスト膜及び耐食膜のパターンの一部を拡大して示す平面図(その1)である。 実施形態1の製造方法における感光性レジスト膜及び耐食膜のパターンの一部を拡大して示す平面図(その2)である。 関連技術1の製造方法における耐食膜のパターンの一部を拡大して示す平面図である。 関連技術1の製造方法で得られた溝部を示す断面図(その1)である。 関連技術1の製造方法で得られた溝部を示す断面図(その2)である。
以下、添付図面を参照しながら、本発明を実施するための形態(以下「実施形態」という。)について説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の構成要素については同一の符号を用いる。図面に描かれた形状は、当業者が理解しやすいように描かれているため、実際の寸法及び比率とは必ずしも一致していない。
図1は、実施形態1の製造方法で得られた水晶片を示す斜視図である。図2は、図1の水晶片に励振電極を形成した状態を示す、図1におけるII−II線断面図である。図3は、図1の水晶片の一部を拡大して示す平面図である。図4は、図3におけるIV−IV線断面図である。以下、図1乃至図4に基づき説明する。
本実施形態1の水晶振動素子は、基部11と、基部11から延設された振動腕部12a,12bと、振動腕部12a,12bの第一の主面131にそれぞれ設けられた第一の溝部141a,142a,141b,142bと、振動腕部12a,12bの第二の主面132にそれぞれ設けられた第二の溝部143a,144a,143b,144bと、を備えている。主面131,132は、振動腕部12a,12bの表裏面である。そして、溝部141a,…の最も浅い部分の深さと最も深い部分の深さとの差(図11底面22参照)が、水晶ウェハのエッチング異方性によって生じる差(図11底面322参照)よりも小さい。例えば、溝部141a,…の最も浅い部分の深さと最も深い部分の深さとの差は、溝部141a,…の最も振動腕部12a,12bの先端側16における深さと最も基部側17における深さとの差である。
本実施形態1の水晶振動素子によれば、溝部141a,…の最も浅い部分の深さと最も深い部分の深さとの差(図11底面22参照)が、水晶ウェハのエッチング異方性によって生じる差(図11底面322参照)よりも小さいことにより、溝部141a,…を深く形成しても貫通しにくくなるので、溝部141a,…内の励振電極31a,31bの面積を大きくしてクリスタルインピーダンスを低減できる。
次に、本実施形態1の水晶振動素子を製造する方法を、実施形態1の製造方法として詳しく説明する。以下の説明の中で、本実施形態1の水晶振動素子の詳細も明らかになる。
図1及び図2に示すように、本実施形態1の製造方法で得られる水晶振動素子は、水晶片10と励振電極31a,31bとを少なくとも備えている。水晶片10は、基部11と、基部11から同一方向に延設された二本の振動腕部12a,12bと、振動腕部12a,12bの第一の主面131にそれぞれ設けられた第一の溝部141a,142a,141b,142bと、振動腕部12a,12bの第二の主面132にそれぞれ設けられた第二の溝部143a,144a,143b,144bと、からなる。主面131,132は、振動腕部12a,12bの表裏面である。
図3及び図4に示すように、溝部141aは、一の開口21からなり、開口21内に振動腕部12aの延設方向に沿って山221と谷222とが交互に連続する底面22を有する。表の溝部141aに形成された山221は裏の溝部143aに形成された谷222に対向し、表の溝部141aに形成された谷222は裏の溝部143aに形成された山221に対向する。他の溝部142a,…についても同様である。図3において、谷222は、露出しているが、わかりやすくするために破線で示している。
なお、図面では、わかりやすくするために、主面131,132と底面22とを平行にしたり、エッチング残渣を省略したりしている。しかし、実際の形状は、水晶のウェットエッチングが異方性を有することにより、図示した形状とは若干異なる。
次に、本実施形態1の製造方法で得られる水晶振動素子の動作について説明する。
図1に示すように、水晶の結晶は三方晶系であり、水晶の頂点を通る結晶軸をZ軸(光軸)、Z軸に垂直な平面内の稜線を結ぶ三つの結晶軸をX軸(電気軸)、X軸及びZ軸に直交する座標軸をY軸(機械軸)とする。ここで、これらのX軸、Y軸及びZ軸からなる右手直交座標系をX軸を中心として±5度の範囲で回転させたときの回転後のY軸及びZ軸を、それぞれY’軸及びZ’軸とする。この場合、本実施形態1では、二本の振動腕部12a,12bの延設方向がY’軸の方向であり、主面131から主面132に向かう方向がZ軸’の方向であり、振動腕部12bから振動腕部12aへ向かう方向がX軸の方向である。なお、X軸、Y’軸及びZ’軸は、図9乃至図11においても図1と同様である。
図2に示すように、振動腕部12aにおいて、励振電極31aは外側面15に設けられ、励振電極31bは内側面23に設けられている。一方、振動腕部12bにおいて、励振電極31bは外側面15に設けられ、励振電極31aは内側面23に設けられている。したがって、振動腕部12aの外側面15に設けられた励振電極31aと溝部141a,142a,143a,144aの内側面23に設けられた励振電極31bとが異極同士となり、振動腕部12bの外側面15に設けられた励振電極31bと溝部141b,142b,143b,144bの内側面23に設けられた励振電極31aとが異極同士となる。このとき、振動腕部12aにおいては、外側面15の励振電極31aと内側面23の励振電極31bとがほぼ平行平板電極となり、振動腕部12bにおいては、外側面15の励振電極31bと内側面23の励振電極31aとがほぼ平行平板電極となり、それらの電極間で大きな電界強度が得られる。
励振電極31a,31bに交番電圧を印加した場合、印加後のある電気的状態を瞬間的に捉えると、振動腕部12aにおいて、内側面23に設けられた励振電極31bはプラス電位となり、外側面15に設けられた励振電極31aはマイナス電位となり、プラスからマイナスに電界が生じる。このとき、振動腕部12bにおいて、内側面23に設けられた励振電極31aはマイナス電位となり、外側面15に設けられた励振電極31bはプラス電位となり、振動腕部12aに生じた極性とは反対の極性となり、プラスからマイナスに電界が生じる。この交番電圧で生じた電界によって、振動腕部12a,12bに伸縮現象が生じ、所定の共振周波数の屈曲振動モードが得られる。
ここで、内側面23に形成される励振電極31a,31bの面積が大きいほどクリスタルインピーダンスが下がるので、内側面23の面積をできるだけ大きくすることが求められる。
次に、本実施形態1の製造方法について説明する。図5及び図6は、実施形態1の製造方法を示す断面図である。図7及び図8は、実施形態1の製造方法における感光性レジスト膜及び耐食膜のパターンの一部を拡大して示す平面図である。以下、図5乃至図8を中心に、図1乃至図4も用いつつ、本実施形態1の製造方法ついて説明する。
本実施形態1の製造方法では、まず図5[1]に示すように、水晶ウェハ41の表裏に耐食膜42を形成する(耐食膜形成工程)。例えば、スパッタによりクロム又はクロム及び金の二層からなる耐食膜42を成膜する。
続いて、図5[2]に示すように、耐食膜42上に感光性レジスト膜43を形成する(感光性レジスト膜形成工程)。感光性レジスト膜43は、例えばポジ型を使用する。
続いて、図5[3]に示すように、基部及び振動腕部となる領域52の感光性レジスト膜43を残し、かつ、溝部となる領域54の感光性レジスト膜43を除去する(露光現像工程)。ここで、水晶ウェハ41上に残された感光性レジスト膜43は、図7に示す平面形状となる。
続いて、図6[4]に示すように、感光性レジスト膜43で覆われていない耐食膜42を除去することにより、耐食膜42からなるマスクを作成する(パターニング工程)。耐食膜42の除去には、耐食膜42のみをエッチングし、水晶ウェハ41をエッチングしない強酸を用いる。この耐食膜42からなるマスクも、図7に示す平面形状となる。
続いて、図6[5]に示すように、耐食膜42からなるマスクを用いて水晶ウェハ41をウェットエッチングする(ウェットエッチング工程)。このエッチング液には、フッ酸を用いる。図6[5]では、感光性レジスト膜43が除去されているが、感光性レジスト膜43を残しておき次の工程でリフトオフ法を用いて電極等を形成してもよい。
その後、図2に示すように、振動腕部12a,12b等に励振電極31a,31b等の金属膜を形成する。これらの金属膜は、例えば成膜、フォトリソグラフィ、エッチングにより形成され、例えばチタンの上にパラジウム又は金が設けられた積層構造となっている。
ここで、露光現像工程(図5[3]及び図7)では、溝部となる領域54に、領域54の周縁から領域54の内側へ突出した感光性レジスト膜43からなる突起57を、領域54の長手方向(すなわち振動腕部の延設方向)に間隔を開けて複数配置する。突起57は、水晶ウェハ41のエッチング異方性によってエッチングレートの小さくなる部分ほどエッチングを促す(すなわちエッチングレートの大きくなる部分ほどエッチングを抑える)形状又は間隔としている。図7において、表の溝部内の山となる領域55には突起57(実線)が形成され、裏の溝部内の山となる領域56には突起57(破線)が形成されている。
本実施形態1では、突起57の形状等を次のようにしている。突起57は、領域54の周縁から領域54の内側へ斜めに突出する平行四辺形状であり、エッチングレートの小さくなる部分ほど突出方向の長さ69を短くする(すなわちエッチングレートの大きくなる部分ほど長さ69を長くする)。一方、表の溝部となる領域54では先端側16へ行くほどエッチングレートが小さくなり、逆に裏の溝部となる領域54では基部側17へ行くほどエッチングレートが小さくなる。これは、水晶ウェハ41のエッチング異方性によるものである。そこで、表の溝部となる領域54では先端側16へ行くほど突起57(実線)の長さ69を短くし、逆に裏の溝部となる領域54では基部側17へ行くほど突起57(破線)の長さ69を短くする。このとき、突起57の長さ69は、全ての突起57に対して一定値ずつ短くする。また、突起57の長さ69に垂直な方向の幅67、及び、突起57の間隔70は、全ての突起57で等しくする。
なお、突起57の長さ69を徐々に短くする場合、全ての突起57に対して徐々に短くしてもよいし、一部の突起57についてのみ徐々に短くしてもよい。そのとき、短くする割合は、一定でもよいし、変化してもよい。また、エッチングレートの小さくなる部分ほどエッチングを促す突起57の形状等としては、例えば次の(1)(2)(3)のいずれか一つ又は二つ以上の組み合わせを選択してもよい。
(1)表の溝部となる領域54では先端側16へ行くにつれて突起57(実線)の長さ69をL11>L12>L13(図8)と短くし、逆に裏の溝部となる領域54では基部側17へ行くにつれて突起57(破線)の長さ69をL23>L22>L21(図8)と短くする。
(2)表の溝部となる領域54では先端側16へ行くにつれて突起57(実線)の幅67をW11>W12>W13(図8)と狭くし、逆に裏の溝部となる領域54では基部側17へ行くにつれて突起57(破線)の幅67をW23>W22>W21(図8)と狭くする。
(3)表の溝部となる領域54では先端側16へ行くにつれて突起57(実線)の間隔70をP11<P12<P13(図8)と広くし、逆に裏の溝部となる領域54では基部側17へ行くにつれて突起57(破線)の間隔70をP23<P22<P21(図8)と狭くする。
本実施形態1では、図8において、L11>L12>L13、L23>L22>L21、W11=W12=W13=W21=W22=W23、P11=P12=P13=P21=P22=P23としている。
なお、突起57の形状等は、上記(1)(2)(3)に限らず、エッチングレートの小さくなる部分ほどエッチングを促す形状等であればどのようなものでもよい。
前述のとおり、露光現像工程(図5[3])において水晶ウェハ41上に残される感光性レジスト膜43は、図7に示す平面形状となる。つまり、図7に示すように、露光現像工程では、表の溝部に形成される山となる領域55、及び、裏の溝部に形成される山となる領域56に、それぞれ感光性レジスト膜43からなる突起57を残す。
この場合、水晶のエッチングレートは、表の溝部となる領域54において、突起57(実線)で覆われた領域55が最も小さくなり、領域55から離れるに従い大きくなり、隣接する二つの領域55の概ね中間で最も大きくなる。裏の溝部となる領域54において突起57(破線)で覆われた領域56についても同様である。そのため、領域55,56に対応して、図4に示すように、底面22の山221が形成され、隣接する二つの山221の概ね中間に谷222が形成される。そこで、一方の溝部の最も深い場所である谷222が他方の溝部の最も浅い場所である山221と向かい合う形状になるように、表の溝部に形成される山となる領域55と裏の溝部に形成される山となる領域56とを一定距離(ずれ64)ずらして、それぞれ感光性レジスト膜43からなる突起57を残す。この一定距離は、隣接する二つの山221の間隔(ピッチ)70の概ね半分であるが、水晶のウェットエッチングに異方性があるため、間隔70の半分丁度になるとは限らない。
また、前述のとおり、パターニング工程(図6[4])で作成される耐食膜42からなるマスクも、図7に示す平面形状となる。そして、図7に示すように、このような平面形状の耐食膜42からなるマスクを用いることにより、ウェットエッチング工程では、耐食膜42で覆われていない領域の水晶ウェハ41を除去するととともに、耐食膜42からなる突起57に覆われた領域55,56の水晶ウェハ41をサイドエッチングによって除去する。このとき、耐食膜42からなる突起57がエッチング抑制パターンとして作用するので、図1に示す基部11及び振動腕部12a,12bの外形と溝部141a,…とが一回のウェットエッチングで同時に形成される。
なお、図7に示す突起57の傾き66及び幅67は、エッチング抑制パターンとして作用する値、かつ、領域55,56の水晶が当該サイドエッチングによって消滅する値に設定しておく。また、突起57の傾き66を60°とすると、突起57で覆われる水晶の突出方向がY’軸方向、当該水晶の両側面の法線方向が±X軸方向となる。そして、水晶のエッチングレートは、X軸方向がY’軸方向よりも大きい。したがって、突起57の傾き66を60°とすることにより、突起57で覆われる水晶はサイドエッチングされやすくなる。ただし、X軸及びY’軸は三本ずつあるので、ここでいうX軸及びY’軸は、図1に示すX軸及びY’軸とは異なる。
次に、本実施形態1の寸法例について説明する。
図1において、振動腕部12a,12bの長さ61は1200μm、振動腕部12a,12bの幅62は58μmである。図4において、振動腕部12a(すなわち水晶ウェハ41)の厚みtは100μmである。図3及び図7において、山221及び突起57の間隔70は50μm、表裏の山221のずれ64及び表裏の突起57のずれ64は22.5μmである。図7において、溝部となる領域54の幅65は13μm、突起57のY’軸方向からの傾き66は60°、突起57の幅67は4.5μmである。なお、これらの寸法は、あくまで一例であり、設計上適切な値を選べばよい。
次に、本実施形態1の製造方法の作用及び効果について説明する。
(1)溝部となる領域54において感光性レジスト膜43からなる突起57を、水晶ウェハ41のエッチング異方性によってエッチングレートの小さくなる部分ほど、エッチングを促す形状等としたことにより、溝部となる領域54内の水晶ウェハ41のエッチングレートの差を縮小できるので、溝部141a,…の深さを均一化できる。したがって、溝部141a,…がエッチングレートの差によって部分的に貫通することを回避しつつ、溝部141a,…を深く形成できるので、溝部141a,…内の励振電極31a,31bの面積を大きくしてクリスタルインピーダンスを低減できる。
(2)ウェットエッチング工程では、耐食膜42で覆われていない領域の水晶ウェハ41を除去するととともに、耐食膜42からなる突起57に覆われた領域の水晶ウェハ41をサイドエッチングによって除去することにより、溝部141a,…内の内側面23の面積をより大きくできるので、溝部141a,…内の励振電極31a,31bの面積を大きくしてクリスタルインピーダンスをより低減できる。
(3)水晶ウェハ41のエッチング異方性によってエッチングレートの小さくなる部分ほど、突起57の長さ69を短くする、突起57の幅67を狭くする、及び、突起57の間隔70を広くする、のいずれか一つ又は二つ以上の組み合わせとすることにより、溝部となる領域54内の水晶ウェハ41のエッチングレートの差を確実に縮小できる。また、突起57の長さ69を短くする場合及び突起57の幅67を狭くする場合は、次の(4)で述べる効果を奏する。更に、突起57の長さ69を短くする場合は、突起57の幅67を狭くする場合に比べて、最大値から最小値まで変化する範囲を広く採ることができるとともに、突起57の幅67を一定にすることによって突起57の下の水晶ウェハ41をサイドエッチングによって容易に除去できる。
(4)溝部となる領域54の水晶ウェハ41を耐食膜42からなる複数の突起57(すなわちエッチング抑制パターン)で覆うことにより、基部11及び振動腕部12a,12bの外形と溝部141a,…とを一回のウェットエッチングで同時に形成できる。この場合、溝部となる領域54内における水晶のエッチングレートは、突起57で覆われた領域55,56が最も小さくなり、この領域から離れるに従い大きくなり、隣接する二つの突起57の概ね中間の領域が最も大きくなる。その結果、図4に示すように、溝部141aの底面22は、山221と谷222が交互に連続する形状となる。ただし、谷222は、水晶のウェットエッチングの異方性により、隣接する二つの山221の中間から少しずれた位置になる。
本実施形態1によれば、表の溝部141a,…の最も深い場所である谷222と裏の溝部143a,…の最も浅い場所である山221とを向かい合うように形成することにより、エッチング抑制パターンを用いて基部11及び振動腕部12a,12bの外形と溝部141a,…とを一回のウェットエッチングで同時に形成する場合でも、溝部141a,…同士の貫通を回避しつつ谷222を極限まで深く形成できる。その結果、溝部141a,…の内側面23の面積が更に増加することにより、内側面23に形成される励振電極31a,31bの面積も増加するので、クリスタルインピーダンスを更に低減できる。
また、図4において、溝部141a,143aに形成された谷222の深さ68は、振動腕部12aの厚みtの50%以上かつ60%以下とすることが望ましい。この場合、50%未満では、前述の効果がやや不十分になる。60%を越えると、水晶の結晶方位依存性によるエッチングレートの差によって形成される傾斜角71,72がほぼ一定であるため、エッチング抑制パターンや厚みtについて最良の選択をしても、幾何学的な条件により、溝部141a,143a同士が貫通する割合が増える。なお、図10に示す関連技術1では、谷522の深さを振動腕部312aの厚みの50%以上にすることはできない。なぜなら、表裏の溝部441a,443aが谷522の部分で貫通してしまうからである。
更に、図3及び図4において、前述のようにX軸、Y’軸及びZ’軸を設定した場合、山221のY’軸方向の間隔70をPとしたとき、溝部141aに形成された山221に対する、溝部143aに形成された山221のY’軸方向のずれ64は、0.4P以上かつ0.5P未満が好ましく、0.45Pがより好ましい。実験によれば、ずれ64をこの範囲内とすることにより、内側面23の面積を最も広くできる。その理由は、このずれ64の範囲における本実施形態1の振動腕部12a,12bの結晶方位では、水晶の結晶方位によるウェットエッチングレートの異方性に基いて、底板223の厚みdがほぼ一定となることにより、厚みdを最小化できるので、底板223の専有面積を小さくできるからである。
底板223の専有面積とは、内側面23と同一面で底板223を切断した場合の底板223の断面積をいうものとする。つまり、(底板の専有面積)+(内側面の面積)=一定、であるから、底板の専有面積が大きくなれば、その分、内側面の面積が小さくなる。
つまり、図4において、ウェットエッチングレートの異方性に起因して、山221から−Y’軸方向の底面22の傾斜角71の方が、山221からY’軸方向の底面22の傾斜角72よりも少し小さくなる。そのため、谷222の形成される位置は、隣接する二つの山221の中間ではなく、その中間から−Y’方向へ少しずれる。そこで、ウェットエッチングレートの異方性を考慮して、溝部141aの谷222に溝部143aの山221が対向するように、溝部141aに形成された山221に対する、溝部143aに形成された山221のY’軸方向のずれ64を、設定すると良い。最後に、本実施形態1の製造方法によって形成された底面22の一例を、図11に仮想線(二点鎖線)で示す。
本発明は、外形と溝部とを一回のウェットエッチングで同時に形成する場合に限らず、外形と溝部とを別々のウェットエッチングで形成する場合でも、エッチング抑制パターンを用いて溝部を形成するならば適用可能である。例えば、感光性レジスト膜形成工程、露光現像工程、パターニング工程及びウェットエッチング工程を、それぞれ外形形成用と溝部形成用の二つ用意し、外形と溝部を別々に形成する方法が挙げられる。
以上、上記実施形態を参照して本発明を説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細については、当業者が理解し得るさまざまな変更を加えることができる。また、本発明には、上記実施形態の構成の一部又は全部を相互に適宜組み合わせたものも含まれる。
<実施形態1>
10 水晶片
11 基部
12a,12b 振動腕部
131 主面(第一の主面)
132 主面(第二の主面)
15 外側面
16 先端側
17 基部側
141a,142a,141b,142b 溝部(第一の溝部)
143a,144a,143b,144b 溝部(第二の溝部)
21 開口
22 底面
221 山
222 谷
223 底板
23 内側面
31a,31b 励振電極
41 水晶ウェハ
42 耐食膜
43 感光性レジスト膜
52 振動腕部となる領域
54 溝部となる領域
55 第一の溝部の山となる領域
56 第二の溝部の山となる領域
57 突起
61,69 長さ
62,65,67 幅
64 ずれ
66 傾き
68 深さ
70 間隔
71,72 傾斜角
d,t 厚み
<関連技術1>
312a 振動腕部
316 先端側
317 基部側
321 開口
322 底面
521 山
522 谷
523 底板
323 内側面
341 水晶ウェハ
342 耐食膜
352 振動腕部となる領域
354 溝部となる領域
355 表の溝部の山となる領域
356 裏の溝部の山となる領域
357 突起
441a,443a 溝部

Claims (7)

  1. 基部と、この基部から延設された振動腕部と、この振動腕部の表裏面である第一及び第二の主面にそれぞれ設けられた第一及び第二の溝部と、を備えた水晶振動素子であって、
    前記第一及び第二の溝部の最も浅い部分の深さと最も深い部分の深さとの差が、水晶ウェハのエッチング異方性によって生じる差よりも小さい、
    ことを特徴とする水晶振動素子。
  2. 前記第一及び第二の溝部の最も浅い部分の深さと最も深い部分の深さとの差は、前記第一及び第二の溝部の最も前記振動腕部の先端側における深さと最も前記基部側における深さとの差である、
    請求項1記載の水晶振動素子。
  3. 請求項1又は2記載の水晶振動素子を製造する方法であって、
    水晶ウェハの表裏に耐食膜を形成する耐食膜形成工程と、
    前記耐食膜上に感光性レジスト膜を形成する感光性レジスト膜形成工程と、
    前記基部及び前記振動腕部となる領域の前記感光性レジスト膜を残し、前記第一及び第二の溝部となる領域の前記感光性レジスト膜を除去する露光現像工程と、
    前記感光性レジスト膜で覆われていない前記耐食膜を除去することにより前記耐食膜からなるマスクを作成するパターニング工程と、
    前記耐食膜からなるマスクを用いて前記水晶ウェハをウェットエッチングするウェットエッチング工程とを含み、
    前記露光現像工程では、前記第一及び第二の溝部となる領域に、当該領域の周縁から当該領域の内側へ突出した前記感光性レジスト膜からなる突起を、前記振動腕部の延設方向に間隔を開けて複数配置し、
    前記突起は、前記水晶ウェハのエッチング異方性によってエッチングレートの小さくなる部分ほどエッチングを促す形状又は前記間隔とした、
    ことを特徴とする水晶振動素子の製造方法。
  4. 前記ウェットエッチング工程では、前記耐食膜で覆われていない領域の前記水晶ウェハを除去するととともに、前記耐食膜からなる前記突起に覆われた領域の前記水晶ウェハをサイドエッチングによって除去する、
    請求項3記載の水晶振動素子の製造方法。
  5. 基部と、この基部から延設された振動腕部と、この振動腕部の表裏面である第一及び第二の主面にそれぞれ設けられた第一及び第二の溝部と、を備えた水晶振動素子を製造する方法であって、
    水晶ウェハの表裏に耐食膜を形成する耐食膜形成工程と、
    前記耐食膜上に感光性レジスト膜を形成する感光性レジスト膜形成工程と、
    前記基部及び前記振動腕部となる領域の前記感光性レジスト膜を残し、前記第一及び第二の溝部となる領域の前記感光性レジスト膜を除去する露光現像工程と、
    前記感光性レジスト膜で覆われていない前記耐食膜を除去することにより前記耐食膜からなるマスクを作成するパターニング工程と、
    前記耐食膜からなるマスクを用いて前記水晶ウェハをウェットエッチングするウェットエッチング工程とを含み、
    前記露光現像工程では、前記第一及び第二の溝部となる領域に、当該領域の周縁から当該領域の内側へ突出した前記感光性レジスト膜からなる突起を、前記振動腕部の延設方向に間隔を開けて複数配置し、
    前記突起は、前記水晶ウェハのエッチング異方性によってエッチングレートの小さくなる部分ほど、前記突起の突出方向の長さを短くする、当該長さに垂直な方向の幅を狭くする、及び、前記間隔を広くする、のいずれか一つ又は二つ以上の組み合わせとした、
    ことを特徴とする水晶振動素子の製造方法。
  6. 基部と、この基部から延設された振動腕部と、この振動腕部の表裏面である第一及び第二の主面にそれぞれ設けられた第一及び第二の溝部と、を備えた水晶振動素子を製造する方法であって、
    水晶ウェハの表裏に耐食膜を形成する耐食膜形成工程と、
    前記耐食膜上に感光性レジスト膜を形成する感光性レジスト膜形成工程と、
    前記基部及び前記振動腕部となる領域の前記感光性レジスト膜を残し、前記第一及び第二の溝部となる領域の前記感光性レジスト膜を除去する露光現像工程と、
    前記感光性レジスト膜で覆われていない前記耐食膜を除去することにより前記耐食膜からなるマスクを作成するパターニング工程と、
    前記耐食膜からなるマスクを用いて前記水晶ウェハをウェットエッチングするウェットエッチング工程とを含み、
    前記露光現像工程では、前記第一及び第二の溝部となる領域に、当該領域の周縁から当該領域の内側へ突出した前記感光性レジスト膜からなる突起を、前記振動腕部の延設方向に間隔を開けて複数配置し、
    前記第一及び第二の溝部は、それぞれ一の開口からなり、当該開口内に前記振動腕部の延設方向に沿って山と谷とが交互に連続する底面を有し、
    前記第一の溝部に形成された前記山は前記第二の溝部に形成された前記谷に対向し、
    前記第一の溝部に形成された前記谷は前記第二の溝部に形成された前記山に対向し、
    前記露光現像工程では、前記第一及び第二の溝部に形成される前記山となる領域に前記突起を残し、
    前記突起の突出方向の長さは、前記エッチングレートの小さくなる部分ほど短くした、
    ことを特徴とする水晶振動素子の製造方法。
  7. 水晶の頂点を通る結晶軸をZ軸、このZ軸に垂直な平面内の稜線を結ぶ三つの結晶軸をX軸、前記X軸及び前記Z軸に直交する座標軸をY軸とし、これらのX軸、Y軸及びZ軸からなる右手直交座標系を前記X軸を中心として±5度の範囲で回転させたときの回転後の前記Y軸及び前記Z軸を、それぞれY’軸及びZ’軸とした場合、
    前記振動腕部の延設方向をY’軸方向とし、前記第一の主面から前記第二の主面に向かう方向をZ軸’方向とすると、
    前記第一の溝部となる領域では前記基部側へ行くほど前記突起の前記長さを短くし、前記第二の溝部となる領域では前記振動腕部の先端側へ行くほど前記突起の前記長さを短くする、
    請求項6記載の水晶振動素子の製造方法。
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