JP6331698B2 - 基板処理装置および基板搬入位置決定方法 - Google Patents
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Description
2つのウエハカセット間における半導体ウエハの移送条件は、スロットマップ情報画面を有するモニタの表示を操作することで設定される。2つのウエハカセットを取り付けた状態では、モニタに表示されるスロットマップ情報画面において、各ウエハカセットにおける各半導体ウエハの収納位置を設定可能である。
しかしながら、基板の搬入先の収容位置(スロット番号)を、基板毎に逐一設定するには、時間と手間がかかるおそれがある。
また、本発明の他の目的は、最適な収容位置に基板を収容できる基板搬入位置決定方法を提供することである。
この構成によれば、搬入用基板収容器に搬入される処理済みの基板の搬入先収容位置が、当該基板に対応付けられているプロセスジョブ単位で決定される。そのため、プロセスジョブ単位で搬入先収容位置を一括して指定することも可能である。この場合、基板に対応するプロセスジョブを一つずつ確認して搬入先収容位置を設定する操作を行うことなく、搬入先収容位置を所望の位置に設定できる。これにより、時間と手間を費やすことなく、所望の収容位置に基板を搬入できる基板処理装置を提供できる。
また、プロセスジョブには、レシピが対応付けられている。そのため、プロセスジョブ単位で搬入先収容位置を決定する場合、所定のプロセスジョブに対応する搬入先収容位置を互いに隣接するように設定することにより、共通の処理が施された基板を集めて配置することが可能である。
また、同一のプロセスジョブに対応する基板の搬入先収容位置を、共通の収容ブロックに含まれる収容位置に決定する。各収容ブロックが互いに隣り合う複数の収容位置から構成されており、また、前述のようにレシピがプロセスジョブに対応付けられていることにより、同一の処理が施された基板を集めて配置することが可能である。
また、基板収容器に搬入される処理済みの基板の清浄度は、プロセスジョブに対応付けられたレシピに応じて基板毎に異なる場合がある。比較的に清浄度の低い基板が上方の収容位置に収容されると、当該清浄度の低い基板からダストが落下して、下方の収容位置に収容された基板を汚染するおそれがある。
しかしながら、この発明によれば、清浄度の高い基板が上方の収容ブロックに収容されるので、清浄度の高い基板の上方に、清浄度の低い基板が収容されることがない。これにより、ダストの落下により基板汚染の問題を効果的に抑制できる。
請求項2に記載の発明は、前記プロセスジョブに対応する基板の清浄度を入力する清浄度入力手段(53)をさらに含み、前記搬入位置決定部は、前記清浄度入力手段によって入力された前記基板の清浄度に基づいて、前記搬入先収容位置を決定する、請求項1に記載の基板処理装置である。
この構成によれば、清浄度入力手段によって入力された基板の清浄度に基づいて、収容位置を決定する。これにより、同一の清浄度を有する基板を集めて配置することが可能である。
前記の目的を達成するための請求項3に記載の発明は、基板(W)を収容する搬出用基板収容器(C1)と、基板(W)を1枚ずつ収容するための収容位置(BS1〜BS25,CS1〜CS25)を複数有する搬入用基板収容器(C2,C3)とを保持するための収容器保持部(LP)と、前記搬出用基板収容器から搬出された基板に対し、当該基板に対応付けられているプロセスジョブ(PJ1〜PJ4)に対応するレシピを実行する基板処理部(2)と、前記基板処理部で処理が行われた処理済みの基板を前記基板処理部から受け取って、前記搬入用基板収容器に搬入する基板搬送機構(3)と、前記基板搬送機構によって前記処理済みの基板が搬入される前記収容位置である搬入先収容位置を、当該処理済みの基板に対応付けられているプロセスジョブ単位で決定する搬入位置決定部(22)と、前記搬入先収容位置に関する情報である搬入位置情報を入力するための搬入位置入力手段であって、前記プロセスジョブ単位で前記搬入先収容位置を指定可能な搬入位置入力手段(27)とを含み、前記搬入位置決定部は、前記搬入位置入力手段によって入力された前記搬入位置情報に基づいて前記収容位置を決定する、基板処理装置(1)である。
また、プロセスジョブ単位で基板の
搬入先の収容位置を一括して指定できるので、基板に対応する各プロセスジョブを一つずつ確認して搬入先を指定する必要がない。これにより、基板処理装置の利便性が向上し、時間と手間を費やすことなく、基板の収容位置を所望の位置に設定できる。
請求項4に記載の発明は、互いに隣り合う複数の前記収容位置によって収容ブロック(B1〜B12)が形成されており、前記搬入用基板収容器は、複数の前記収容ブロックを有し、前記搬入位置決定部は、同一のプロセスジョブに対応する前記搬入先収容位置を、共通の前記収容ブロックに含まれる前記収容位置に決定する、請求項3に記載の基板処理装置である。
請求項5に記載の発明のように、前記収容位置は、上下方向に積層状態で複数配置されており、前記搬入位置決定部は、上方の前記収容ブロックから順に前記処理済みの基板が搬入されるように前記搬入先収容位置を決定してもよい。
基板収容器に搬入される処理済みの基板の清浄度は、プロセスジョブに対応付けられたレシピに応じて基板毎に異なる場合がある。比較的に清浄度の低い基板が上方の収容位置に収容されると、当該清浄度の低い基板からダストが落下して、下方の収容位置に収容された基板を汚染するおそれがある。
請求項7に記載の発明のように、前記プロセスジョブには、前記基板処理部による処理が施された後の基板(W)の清浄度を示す清浄度情報(CL1〜CL4)が対応付けられており、前記搬入位置決定部は、前記処理済みの基板に対応付けられている前記清浄度情報に基づいて前記搬入先収容位置を決定してもよい。
この構成によれば、各収容ブロックにおいて上方から順に、処理済みの基板が搬入される。そのため、基板を所定の収容位置に搬入する際に、当該収容位置の下方に基板が未搬入である。これにより、基板の搬入の際において、その下方の搬入済みの基板が汚染されることを防止できる。
この方法によれば、請求項1において述べた効果と同様の効果を奏することができる基板搬入位置決定方法を提供することができる。
請求項11に記載の発明は、前記基板処理装置は、前記プロセスジョブに対応する基板の清浄度を入力する清浄度入力手段(53)をさらに含み、前記収容位置決定工程は、前記搬入位置決定部が、前記清浄度入力手段によって入力された前記基板の清浄度に基づいて、前記搬入先収容位置を決定する工程を含む、請求項10に記載の基板搬入位置決定方法である。
この方法によれば、請求項2において述べた効果と同様の効果を奏することができる基板搬入位置決定方法を提供することができる。
請求項13に記載の発明は、互いに隣り合う複数の前記収容位置によって収容ブロックが形成されており、前記搬入用基板収容器は、複数の前記収容ブロックを有し、前記搬入位置入力手段は、前記搬入先収容位置が含まれる前記収容ブロックを指定するブロック指定手段(34)を含み、前記搬入位置決定工程は、前記搬入位置決定部が、前記ブロック指定手段で指定されたブロックに基づいて、前記搬入先収容位置を決定する工程を含む、請求項12に記載の基板搬入位置決定方法である。
図1は、本発明の第1実施形態に係る基板処理装置1の模式的な平面図である。基板処理装置1は、基板の一例としての半導体ウエハ(以下、単に「基板W」という)における主面に対して、薬液処理、洗浄処理等を施すための枚葉型の装置である。
図1に示すように、基板処理装置1は、複数(本実施形態では、3つ)のキャリアC1〜C3を保持するためのロードポートLP(収容器保持部)と、基板Wを処理する複数(この実施形態では、4つ)の処理ユニット2と、インデクサロボットIRおよびセンターロボットCRを含む基板搬送ユニット3(基板搬送手段)とを有している。キャリアC1は、搬出用基板収容器の一例であり、キャリアC2,C3は、搬入用基板収容器の一例である。
インデクサ部5には、インデクサロボットIRが収容配置されている。インデクサロボットIRは、複数のキャリアC1〜C3とセンターロボットCRとの間で基板Wを搬送するロボットである。
図2は、図1に示すキャリアC1〜C3を、インデクサロボットIR側から見た図である。なお、複数のキャリアC1〜C3は、同様の構成を有しているので、図2では、キャリアC2,C3の説明を包含するものとして、キャリアC1の構成について説明する。
再度図1を参照して、インデクサロボットIRは、基板Wを保持するためのハンド10を備えている。インデクサロボットIRは、ハンド10を移動させることにより、搬出元のキャリアC1の収容スロットS1〜S25(以下、キャリアC1の収容スロットS1〜S25を、それぞれ収容スロットAS1〜AS25という場合がある。図6等参照)から基板Wを搬出する搬出動作と、搬入先のキャリアC2,C3の収容スロット(搬入先収容位置)S1〜S25に基板Wを搬入する搬入動作とを行う(以下、キャリアC2の収容スロットS1〜S25を、それぞれ収容スロットBS1〜BS25という場合があり、キャリアC3の収容スロットS1〜S25を、それぞれ収容スロットCS1〜CS25という場合がある。図6等参照)。また、インデクサロボットIRは、ハンド10を移動させることにより、センターロボットCRとの間で、基板Wの受渡動作を行う。
図3に示すように、プロセスジョブPJ(PJ1〜PJ4)が対応付けられた複数の基板Wが、キャリアC1の収容スロットAS1〜AS25に収容されている。図3では、説明の便宜上、4種類のプロセスジョブPJ(PJ1〜PJ4)を例に挙げて説明する。複数種のプロセスジョブPJ1〜PJ4は、基板Wに施される処理の種別(基板Wの処理条件が規定されたレシピ)毎に異ならされている。
プロセスジョブPJは、基板IDと、当該基板IDに対応するレシピID等とに基づいて、基板処理装置1によって生成される。基板IDと、当該基板IDに対応するレシピID等は、たとえば、ホストコンピュータ(図示しない)から基板処理装置1に付与されるものである。生成されたプロセスジョブPJは、プロセスジョブ記憶部18(図4参照)に記憶されている。
次に、図4を参照して、基板処理装置1の電気的構成について説明する。図4は、図1に示す基板処理装置1の電気的構成を示すブロック図である。
プロセスジョブ記憶部18には、キャリアC1に収容された各基板WのプロセスジョブPJ1〜PJ4が記憶されている。前述のようにして基板処理装置1によって生成されたプロセスジョブPJ1〜PJ4がプロセスジョブ記憶部18に記憶されている。
CPU17は、基板搬送ユニット制御部20および処理実行部21を含む。基板搬送ユニット制御部20は、収容スロット決定部22(搬入位置決定部)を含む。収容スロット決定部22は、オペレータによるGUI13の操作によって指定された内容に基づいて、基板Wに関し、搬入先のキャリアC2,C3および収容スロットBS1〜BS25,CS1〜CS25を決定する。基板搬送ユニット制御部20は、収容スロット決定部22の決定に基づいて、基板搬送ユニット3(インデクサロボットIRおよびセンターロボットCR)の動作を制御する。処理実行部21は、プロセスジョブPJ1〜PJ4毎のレシピに応じた処理条件で、処理ユニット2の動作を制御する。
コントロールジョブ作成画面23は、キャリア選択画面24と、スロットマップ表示画面25と、プロセスジョブリスト画面26と、搬入位置入力画面27(搬入位置入力手段)とを含む。
スロットマップ表示画面25は、ローディングキャリア(たとえばキャリアC1)の各収容スロットS1〜S25に収容されている基板Wの情報のマップを表示するための画面である。スロットマップ表示画面25では、各収容スロットS1〜S25のマップ情報として、当該収容スロットS1〜S25に収容されている基板WのプロセスジョブPJ1〜PJ4が表示される。スロットマップ表示画面25では、個々の基板Wに対応付けられたプロセスジョブPJ1〜PJ4が1つずつ可視化されるので、基板Wの収容位置が視覚情報としてオペレータに伝達される。
コントロールジョブ作成画面23は、収容ブロック内における基板Wの搬入順序を決定するブロック内順序設定画面35と、基板Wの処理のスタート方法を決定するスタート法決定画面36とをさらに含む。
この状態で、キャリア選択画面24において、ローディングキャリア(キャリアC1)およびアンローディングキャリア(キャリアC2,C3)がオペレータの操作によって選択される。また、コントロールジョブ作成終了画面(図示しない)が操作されると、プロセスジョブリスト画面26および搬入位置入力画面27の選択内容に応じた内容が決定される。これにより、キャリアC1にコントロールジョブCJが設定される。
ローディング用のロードポートにキャリアC1が載置されると、当該ロードポートのドア(図示しない)が開放させられるとともに、キャリアC1の蓋が開放させられる。その後、CPU17は、インデクサロボットIRのハンド10をキャリアC1にアクセスし、一番下のスロットS1から順に上方に、収容されている基板Wを取り出させる。
基板処理装置1における処理後の基板Wの搬入例を図6〜図10を参照して、より具体的に説明する。図6は、基板処理装置1のローダ用のロードポートLPに搬入されたキャリアC1〜C3のスロットマップを示す図である。
図7〜図10は、第1搬入例〜第4搬入例に係る基板搬入後のスロットマップを示す図である。
GUI41のコントロールジョブ作成画面42は、前述の第1実施形態に係るGUI9のコントロールジョブ作成画面23と異なり、収容ブロック指定画面34を含まない。第2実施形態では、収容スロット決定部22が、各プロセスジョブPJ1〜PJ4に対応付けられた清浄度情報CL1〜CL4に基づいて、各基板Wに対する搬入先の収容スロットS1〜S25を決定する(図3および図4も併せて参照)。以下、図12〜図14を参照して、基板Wの搬入例について説明する。
各プロセスジョブPJ1〜PJ4の清浄度情報CL1〜CL4(図3も併せて参照)は、処理後における基板Wの清浄度の高いものから順に、レベル1、レベル2、レベル3、レベル4と定義されたレベル情報からなる。
第1のプロセスジョブPJ1が対応付けられた基板Wが、収容スロットAS1〜AS4に収容されている。第1のプロセスジョブPJ1に対応付けられている清浄度情報CL1(レベル情報)は、レベル2である。第2のプロセスジョブPJ2が対応付けられた基板Wが、収容スロットAS5〜AS8に収容されている。第2のプロセスジョブPJ2に対応付けられている清浄度情報CL2(レベル情報)は、レベル4である。第3のプロセスジョブPJ3が対応付けられた基板Wが、収容スロットAS9〜AS12に収容されている。第3のプロセスジョブPJ3に対応付けられている清浄度情報CL3(レベル情報)は、レベル1である。第4のプロセスジョブPJ4が対応付けられた基板Wが、収容スロットAS17〜AS20に収容されている。第4のプロセスジョブPJ4に対応付けられている清浄度情報CL4(レベル情報)は、レベル3である。
図13は、第5搬入例を説明するためのスロットマップを示す図である。図13に示す第5搬入例では、キャリアC1に収納された複数の基板Wが、清浄度の高いプロセスジョブPJから順に、キャリアC2の所定の収容ブロックに上詰め収容される例を示している。
第5搬入例では、搬入先のキャリアはキャリアC2のみである。プロセスジョブPJ1(清浄度レベル2)が対応付けられた基板Wが、キャリアC2の収容スロットBS21〜BS18からなる収容ブロックに搬入される。具体的には、搬出元のキャリアC1の収容スロットAS1から搬出させられた基板Wが、搬入先のキャリアC2の収容スロットBS21に搬入され、搬出元のキャリアC1の収容スロットAS2から搬出させられた基板Wが、搬入先のキャリアC2の収容スロットBS20に搬入され、搬出元のキャリアC1の収容スロットAS3から搬出させられた基板Wが、搬入先のキャリアC2の収容スロットBS19に搬入され、搬出元のキャリアC1の収容スロットAS4から搬出させられた基板Wが、搬入先のキャリアC2の収容スロットBS18に搬入される。
第6搬入例では、搬入先のキャリアが、キャリアC2とキャリアC3とに分散されている。プロセスジョブPJ1(清浄度レベル2)が対応付けられた基板Wが、キャリアC3の収容スロットCS25〜CS22からなる収容ブロックに搬入される。具体的には、搬出元のキャリアC1の収容スロットAS1から搬出させられた基板Wが、搬入先のキャリアC3の収容スロットCS25に搬入され、搬出元のキャリアC1の収容スロットAS2から搬出させられた基板Wが、搬入先のキャリアC3の収容スロットCS24に搬入され、搬出元のキャリアC1の収容スロットAS3から搬出させられた基板Wが、搬入先のキャリアC3の収容スロットCS23に搬入され、搬出元のキャリアC1の収容スロットAS4から搬出させられた基板Wが、搬入先のキャリアC3の収容スロットCS22に搬入される。
また、第5および第6搬入例では、各収容ブロックにおいて上方から順に基板Wが搬入される。すなわち、各収容ブロックにおいて、基板Wを所定の収容スロットに搬入する際に、当該収容スロットの下方に基板Wが未搬入である。以上により、収容スロットに既に搬入されている基板Wが汚染されることを防止できる。
以上、この発明の実施形態について説明したが、この発明はさらに他の形態で実施することもできる。
図15は、第2実施形態の一変形例に係るコントロールジョブCJおよびプロセスジョブPJを説明するための図である。図16は、第2実施形態の一変形例に係る電気的構成を示すブロック図である。図17は、レシピ規定テーブルを示す図である。図18は、清浄度−レシピID対応テーブルを示す図である。
「Pre−Treatment」工程は、基板Wの主要な洗浄工程である「Treatment」工程に先立って実行される前処理工程である。また、「Post−Treatment」工程は、「Treatment」工程の後に実行される後処理工程である。
他の変形例に係るコントロールジョブ作成画面52が、前述の第2実施形態に係るコントロールジョブ作成画面23と異なる点は、搬入位置入力画面27が、清浄度を入力するための清浄度レベル入力画面53をさらに含む点である。その他の構成は、前述のコントロールジョブ作成画面23と同様である。図19において、前述の図12に示された各部と対応する部分には同一の参照符号を付して、説明を省略する。
CPU17(収容スロット決定部22)は、この清浄度レベル入力画面53に入力された清浄度のレベルに基づいて、各基板Wの搬入先を決定する。プロセスジョブPJ1〜PJ4(清浄度のレベル)毎の基板Wの搬入先は、前述の第2実施形態において説明した通りである。これにより、前述の第2実施形態において述べた効果と同様の効果を奏することができる。
また、前述の各実施形態において、アンローディングキャリア(キャリアC2,C3)に未処理の基板Wが収容されていてもよい。
また、前述の各実施形態において、ローディングキャリア(キャリアC1)から異なるプロセスジョブPJ1〜PJ4対応する基板Wをランダムに取り出して、アンローディングキャリア(キャリアC2,C3)の予め定められた収容ブロックに、プロセスジョブPJ1〜PJ4毎に基板Wを収容するようにしてもよい。
その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。
2 処理ユニット
3 基板搬送ユニット
22 収容スロット決定部
27 搬入位置入力画面
33 搬入先指定画面
34 収容ブロック指定画面
35 ブロック内順序設定画面
53 清浄度レベル入力画面
B1〜B12 収容ブロック
C1〜C3 キャリア
CL1〜CL4 清浄度情報
PJ1〜PJ4 プロセスジョブ
BS1〜BS25 搬入先のキャリアの収容スロット
CS1〜CS25 搬入先のキャリアの収容スロット
W 基板
Claims (13)
- 基板を収容する搬出用基板収容器と、基板を1枚ずつ収容するための収容位置を上下に積層状態で複数有する搬入用基板収容器であって、互いに隣り合う複数の前記収容位置によって形成される収容ブロックを複数有する搬入用基板収容器とを保持するための収容器保持部と、
前記搬出用基板収容器から搬出された基板に対し、当該基板に対応付けられているプロセスジョブに対応するレシピを実行する基板処理部と、
前記基板処理部で処理が行われた処理済みの基板を前記基板処理部から受け取って、前記搬入用基板収容器に搬入する基板搬送機構と、
前記基板搬送機構によって前記処理済みの基板が搬入される前記収容位置である搬入先収容位置を、当該処理済みの基板に対応付けられているプロセスジョブに基づいて、同一のプロセスジョブに対応する前記搬入先収容位置を共通の前記収容ブロックに含まれる前記収容位置にするように決定する搬入位置決定部とを含み、
前記プロセスジョブには、前記基板処理部による処理が施された後の基板の清浄度を示す清浄度情報が対応付けられており、
前記搬入位置決定部が、前記処理済みの基板に対応付けられている前記清浄度情報に基づいて、清浄度の高い前記処理済みの基板が上方の前記収容ブロックに収容されるように前記搬入先収容位置を決定する、基板処理装置。 - 前記プロセスジョブに対応する基板の清浄度を入力する清浄度入力手段をさらに含み、
前記搬入位置決定部は、前記清浄度入力手段によって入力された前記基板の清浄度に基づいて、前記搬入先収容位置を決定する、請求項1に記載の基板処理装置。 - 基板を収容する搬出用基板収容器と、基板を1枚ずつ収容するための収容位置を複数有する搬入用基板収容器とを保持するための収容器保持部と、
前記搬出用基板収容器から搬出された基板に対し、当該基板に対応付けられているプロセスジョブに対応するレシピを実行する基板処理部と、
前記基板処理部で処理が行われた処理済みの基板を前記基板処理部から受け取って、前記搬入用基板収容器に搬入する基板搬送機構と、
前記基板搬送機構によって前記処理済みの基板が搬入される前記収容位置である搬入先収容位置を、当該処理済みの基板に対応付けられているプロセスジョブ単位で決定する搬入位置決定部と、
前記搬入先収容位置に関する情報である搬入位置情報を入力するための搬入位置入力手段であって、前記プロセスジョブ単位で前記搬入先収容位置を指定可能な搬入位置入力手段とを含み、
前記搬入位置決定部は、前記搬入位置入力手段によって入力された前記搬入位置情報に基づいて前記収容位置を決定する、基板処理装置。 - 互いに隣り合う複数の前記収容位置によって収容ブロックが形成されており、前記搬入用基板収容器は、複数の前記収容ブロックを有し、
前記搬入位置決定部は、同一のプロセスジョブに対応する前記搬入先収容位置を、共通の前記収容ブロックに含まれる前記収容位置に決定する、請求項3に記載の基板処理装置。 - 前記収容位置は、上下方向に積層状態で複数配置されており、
前記搬入位置決定部は、上方の前記収容ブロックから順に前記処理済みの基板が搬入されるように前記搬入先収容位置を決定する、請求項4に記載の基板処理装置。 - 前記収容位置は、上下方向に積層状態で複数配置されており、
前記搬入位置決定部は、清浄度の高い前記処理済みの基板が上方の前記収容ブロックに収容されるように前記搬入先収容位置を決定する、請求項4に記載の基板処理装置。 - 前記プロセスジョブには、前記基板処理部による処理が施された後の基板の清浄度を示す清浄度情報が対応付けられており、
前記搬入位置決定部は、前記処理済みの基板に対応付けられている前記清浄度情報に基づいて前記搬入先収容位置を決定する、請求項6に記載の基板処理装置。 - 前記搬入位置決定部は、各収容ブロックに含まれる各収容位置に上方から順に前記処理済みの基板が搬入されるように、前記搬入先収容位置を決定する、請求項5〜7のいずれか一項に記載の基板処理装置。
- 互いに隣り合う複数の前記収容位置によって収容ブロックが形成されており、前記搬入用基板収容器は、複数の前記収容ブロックを有し、
前記搬入位置入力手段は、前記搬入先収容位置が含まれる前記収容ブロックを指定するブロック指定手段を含む、請求項3〜8のいずれか一項に記載の基板処理装置。 - 基板を収容する搬出用基板収容器と、基板を1枚ずつ収容するための収容位置を上下に積層状態で複数有する搬入用基板収容器であって、互いに隣り合う複数の前記収容位置によって形成される収容ブロックを複数有する搬入用基板収容器とを保持するための収容器保持部とを保持するための収容器保持部と、前記搬出用基板収容器から搬出された基板に対し、当該基板に対応付けられているプロセスジョブに対応するレシピを実行する基板処理部と、前記基板処理部で処理が行われた処理済みの基板を前記基板処理部から受け取って、前記搬入用基板収容器に搬入する基板搬送機構とを含む基板処理装置において実行され、前記基板搬送機構によって前記処理済みの基板が搬入される前記収容位置である搬入先収容位置を決定するための方法であって、
前記搬入先収容位置を、当該処理済みの基板に対応付けられているプロセスジョブに基づいて、同一のプロセスジョブに対応する前記搬入先収容位置を共通の前記収容ブロックに含まれる前記収容位置にするように決定する搬入位置決定工程を含み、
前記プロセスジョブには、前記基板処理部による処理が施された後の基板の清浄度を示す清浄度情報が対応付けられており、
前記搬入位置決定工程が、前記処理済みの基板に対応付けられている前記清浄度情報に基づいて、清浄度の高い前記処理済みの基板が上方の前記収容ブロックに収容されるように前記搬入先収容位置を決定する、基板搬入位置決定方法。 - 前記基板処理装置は、前記プロセスジョブに対応する基板の清浄度を入力する清浄度入力手段をさらに含み、
前記搬入位置決定工程は、前記清浄度入力手段によって入力された前記基板の清浄度に基づいて、前記搬入先収容位置を決定する工程を含む、請求項10に記載の基板搬入位置決定方法。 - 基板を収容する搬出用基板収容器と、基板を1枚ずつ収容する収容位置を複数有する搬入用基板収容器とを保持するための収容器保持部と、前記搬出用基板収容器から搬出された基板に対し、当該基板に対応付けられているプロセスジョブに対応するレシピを実行する基板処理部と、前記基板処理部で処理が行われた処理済みの基板を前記基板処理部から受け取って、前記搬入用基板収容器に搬入する基板搬送機構と、前記基板搬送機構によって前記処理済みの基板が搬入される前記収容位置である搬入先収容位置に関する情報である搬入位置情報を入力するための搬入位置入力手段であって、前記プロセスジョブ単位で前記搬入先収容位置を指定可能な搬入位置入力手段とを含む基板処理装置において実行され、前記基板搬送機構によって前記処理済みの基板が搬入される前記収容位置である搬入先収容位置を決定するための方法であって、
前記搬入先収容位置を、当該処理済みの基板に対応付けられているプロセスジョブ単位で決定する搬入位置決定工程を含み、
前記搬入位置決定工程は、前記搬入位置入力手段によって入力された前記搬入位置情報に基づいて前記搬入先収容位置を決定する工程を含む、基板搬入位置決定方法。 - 互いに隣り合う複数の前記収容位置によって収容ブロックが形成されており、前記搬入用基板収容器は、複数の前記収容ブロックを有し、
前記搬入位置入力手段は、前記搬入先収容位置が含まれる前記収容ブロックを指定するブロック指定手段を含み、
前記搬入位置決定工程は、前記ブロック指定手段で指定されたブロックに基づいて、前記搬入先収容位置を決定する工程を含む、請求項12に記載の基板搬入位置決定方法。
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