JP6314777B2 - 超音波センサー並びにプローブおよび電子機器 - Google Patents

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Description

本発明は、超音波センサー、並びに、それを利用したプローブ、電子機器および超音波画像装置等に関する。
例えば超音波診断装置に用いられる超音波デバイスは一般に知られる。超音波デバイスは振動板を備える。振動板には下電極が積層される。下電極には圧電体が積層される。圧電体には上電極が積層される。圧電体は下電極の輪郭よりも外側に広がって上電極と下電極との短絡を防止する。
特開2000−183413号公報
特許文献1は変位素子を開示する。変位素子は振動板上に積層される圧電素子を備える。振動板の幅に対して圧電素子の幅の比率が特定される。こうして駆動電圧に対して変位の最適化が提案される。しかしながら、特許文献1では、振動板の変位の際に出力される電位は言及されない。また、圧電体厚膜の幅と電極の幅とは一致する。したがって、圧電体膜厚に対して下電極の幅の影響は全く考察されていない。
本発明の少なくとも1つの態様によれば、下電極の幅の調整に応じて、受信時の生成電圧を十分に確保することができる超音波センサーは提供されることができる。
(1)本発明の一態様は、振動板と、前記振動板に積層されて、前記振動板の表面に沿って第1方向に長さLを有し、前記振動板の表面に沿って前記第1方向に直交する第2方向に前記長さL以下の幅Wbeを有する下電極と、前記下電極に積層されて、前記第2方向に幅Wpzを有する圧電体と、前記圧電体に積層される上電極と、を備え、下電極の幅Wbeと圧電体の幅Wpzとの比Wbe/Wpzは0.1以上0.8以下である超音波センサーに関する。
振動板に超音波が作用すると、振動板は振動する。振動板の振動に応じて圧電体に歪みが生成される。圧電体の歪みは電圧を生成する。生成された電圧は下電極および上電極から取り出される。こうして超音波は検出される。下電極の幅Wbeと圧電体の幅Wpzとの比Wbe/Wpzが0.1以上0.8以下に設定されるので、受信時の生成電圧が十分に確保されることができる。その一方で、比Wbe/Wpzが0.1を下回ると、下電極の電気抵抗が増大してしまう。比Wbe/Wpzが0.8を上回ると、場合によって電圧が最大電圧値の60%を割ってしまい、生成電圧は使用域から逸脱する。
(2)前記比Wbe/Wpzは0.5以下であればよい。条件が変化しても、良好な生成電圧は得られる。
(3)前記振動板の表面に直交する平面視で前記圧電体の輪郭から前記第2方向に前記振動板の輪郭までの距離は前記振動板の幅の0.02倍以上0.3倍以下であればよい。十分な受信感度は得られる。
(4)前記第1方向に前記上電極は前記圧電体よりも小さい面積を有してもよい。圧電体は下電極に対して上電極の短絡を防止する。
(5)前記振動板の前記第2方向の幅Wcavと第1方向の長さLcavとのアスペクト比Lcav/Wcavは1以上2以下であればよい。アスペクト比に拘わらず十分に受信感度は得られる。
(6)前記振動板の表面に直交する平面視で前記上電極と前記下電極との重なりの面積は、前記平面視で輪郭で規定される前記振動板の面積に対して1%以上20%以下の範囲であればよい。こうした設定によれば、受信感度は高められる。
(7)前記振動板の輪郭は円形、六角形および楕円のいずれかであってもよい。振動板の形状に拘わらず十分に受信感度は得られる。
(8)超音波センサーはプローブに組み込まれて利用されることができる。プローブは、超音波センサーと、前記超音波センサーを支持する筐体とを備えることができる。
(9)超音波センサーは電子機器に組み込まれて利用されることができる。電子機器は、超音波センサーと、前記超音波センサーに接続されて、前記超音波センサーの出力を処理する処理部とを備えることができる。
(10)超音波センサーは超音波画像装置に組み込まれて利用されることができる。超音波画像装置は、超音波センサーと、前記超音波センサーに接続されて、前記超音波センサーの出力を処理し、画像を生成する処理部と、前記画像を表示する表示装置とを備えることができる。
一実施形態に係る電子機器の一具体例すなわち超音波診断装置を概略的に示す外観図である。 超音波デバイスの拡大平面図である。 図1のA−A線に沿った断面図である。 シミュレーションモデルの構成を概略的に示す概念図である。 シミュレーションソフトウェア上で構成されたシミュレーションモデルを示す図である。 送信時および受信時にx方向にひずみεの分布を示すグラフである。 送信時および受信時にx方向にz方向変位の分布を示すグラフである。 送信時および受信時にy方向にz方向変位の分布を示すグラフである。 シミュレーションモデルの構成を概略的に示す概念図である。 図9のB−B線に沿った断面図である。 図9のC−C線に沿った断面図である。 比Wbe/Wpzの変化に応じて「送信時の変位」および「受信時の生成電圧」を示すグラフである。 振動板の幅Wcavが60[μm]に設定された際にシミュレーションモデルで生成される「受信時の生成電圧」を示すグラフである。 振動板の幅Wcavが45[μm]に設定された際にシミュレーションモデルで生成される「受信時の生成電圧」を示すグラフである。 振動板の幅Wcavが30[μm]に設定された際にシミュレーションモデルで生成される「受信時の生成電圧」を示すグラフである。 振動板の幅Wcavが60[μm]に設定された際にシミュレーションモデルで生成される「送信時の変位」を示すグラフである。 振動板の幅Wcavが45[μm]に設定された際にシミュレーションモデルで生成される「送信時の変位」を示すグラフである。 振動板の幅Wcavが30[μm]に設定された際にシミュレーションモデルで生成される「送信時の変位」を示すグラフである。 アスペクト比Lcav/Wcav=1のシミュレーションモデルを概略的に示す概念図である。 アスペクト比Lcav/Wcav=1または2のときにシミュレーションモデルで生成される規格化された「受信時の生成電圧」を示すグラフである。 アスペクト比Lcav/Wcav=1または2のときにシミュレーションモデルで生成される規格化された「送信時の変位」を示すグラフである。 円形の輪郭の振動板を有するシミュレーションモデルを概略的に示す概念図である。 六角形の輪郭の振動板を有するシミュレーションモデルを概略的に示す概念図である。 楕円形の輪郭の振動板を有するシミュレーションモデルを概略的に示す概念図である。 比Warm/Wcavの変化に応じて「受信時の生成電圧」を示すグラフである。 実測に基づき比Warm/Wcavと共振周波数との関係を示すグラフである。 シミュレーションに基づき比Warm/Wcavと受信時の生成電圧との関係を示すグラフである。 上電極および下電極の重なり具合を定義するシミュレーションモデルを概略的に示す概念図である。 シミュレーションに基づき上電極および下電極の重なり具合と受信時の生成電圧との関係を示すグラフである。
以下、添付図面を参照しつつ本発明の一実施形態を説明する。なお、以下に説明する本実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。
(1)超音波診断装置の全体構成
図1は本発明の一実施形態に係る電子機器の一具体例すなわち超音波診断装置(超音波画像装置)11の構成を概略的に示す。超音波診断装置11は装置端末(処理部)12と超音波プローブ(プローブ)13とを備える。装置端末12と超音波プローブ13とはケーブル14で相互に接続される。装置端末12と超音波プローブ13とはケーブル14を通じて電気信号をやりとりする。装置端末12にはディスプレイパネル(表示装置)15が組み込まれる。ディスプレイパネル15の画面は装置端末12の表面で露出する。装置端末12では、超音波プローブ13で検出された超音波に基づき画像が生成される。画像化された検出結果がディスプレイパネル15の画面に表示される。
超音波プローブ13は筐体16を有する。筐体16には超音波デバイスユニットDVが嵌め込まれる。超音波デバイスユニットDVは超音波デバイス(超音波センサー)17を備える。超音波デバイス17は音響レンズ18を備える。音響レンズ18の外表面には部分円筒面18aが形成される。部分円筒面18aは平板部18bで囲まれる。平板部18bの外周は全周で途切れなく筐体16に結合される。こうして平板部18bは筐体の一部として機能する。音響レンズ18は例えばシリコーン樹脂から形成される。音響レンズ18は生体の音響インピーダンスに近い音響インピーダンスを有する。超音波デバイス17は表面から超音波を出力するとともに超音波の反射波を受信する。
(2)超音波デバイスの構造
図2は一実施形態に係る超音波デバイス17の平面図を概略的に示す。超音波デバイス17は基体21を備える。基体21には素子アレイ22が形成される。素子アレイ22は超音波トランスデューサー素子(以下「素子」という)23の配列で構成される。配列は複数行複数列のマトリクスで形成される。その他、配列では千鳥配置が確立されてもよい。千鳥配置では偶数列の素子23群は奇数列の素子23群に対して行ピッチの2分の1でずらされればよい。奇数列および偶数列の一方の素子数は他方の素子数に比べて1つ少なくてもよい。
個々の素子23は振動板24を備える。振動板24の詳細は後述される。図2では振動板24の膜面に直交する方向の平面視(基板の厚み方向からの平面視)で振動板24の輪郭が点線で描かれる。輪郭の内側は振動板24の領域内に相当する。輪郭の外側は振動板24の領域外に相当する。振動板24上には圧電素子25が形成される。圧電素子25では、後述されるように、上電極および下電極の間に圧電体膜が挟まれる。これらは順番に重ねられる。
素子アレイ22は素子アレイ領域26を区画する。素子アレイ領域26の輪郭は、最外周の振動板24に外接する最小面積の四辺形で形成される。平面視で輪郭の図心27は素子アレイ22の中心線CLに重なる。素子アレイ22は例えば中心線CLを対称軸にして線対称に形成されることができる。超音波デバイス17は1枚の超音波トランスデューサー素子チップ(基板)として構成される。
基体21の表面には複数本の第1導電体28が形成される。第1導電体28は配列の列方向に相互に平行に延びる。1列の素子23ごとに1本の第1導電体28が割り当てられる。1本の第1導電体28は配列の列方向に並ぶ素子23に共通に配置される。第1導電体28は個々の素子23ごとに下電極を形成する。このように第1導電体28は振動板24の領域内および領域外に配置される。第1導電体28ごとに素子23の送信列が形成される。第1導電体28には例えばチタン(Ti)、イリジウム(Ir)、白金(Pt)およびチタン(Ti)の積層膜が用いられることができる。ただし、第1導電体28にはその他の導電材が利用されてもよい。
基体21の表面には複数本の第2導電体29が形成される。第2導電体29は配列の列方向に相互に平行に延びる。1列の素子23ごとに1本の第2導電体29が割り当てられる。1本の第2導電体29は配列の列方向に並ぶ素子23に共通に配置される。第2導電体29は個々の素子23ごとに下電極を形成する。このように第2導電体29は振動板24の領域内および領域外に配置される。第2導電体29ごとに素子23の受信列が形成される。送信列には少なくとも1列の受信列が組み合わせられる。ここでは、送信列および受信列は列方向に交互に配置される。第1導電体28には例えばチタン(Ti)、イリジウム(Ir)、白金(Pt)およびチタン(Ti)の積層膜が用いられることができる。ただし、第2導電体29にはその他の導電材が利用されてもよい。
基体21の表面には複数本の第3導電体31が形成される。第3導電体31は配列の行方向に相互に平行に延びる。1行の素子23ごとに1本の第3導電体31が割り当てられる。1本の第3導電体31は配列の行方向に並ぶ素子23に共通に接続される。第3導電体31は個々の素子23ごとに上電極を形成する。第3導電体31の両端は1対の引き出し配線32にそれぞれ接続される。引き出し配線32は配列の列方向に相互に平行に延びる。したがって、全ての第3導電体31は同一長さを有する。こうしてマトリクス全体の素子23に共通に上電極は接続される。このように第3導電体31は振動板24の領域内および領域外に配置される。第3導電体31は例えばイリジウム(Ir)で形成されることができる。ただし、第3導電体31にはその他の導電材が利用されてもよい。
列ごとに素子23の通電は切り替えられる。こうした通電の切り替えに応じてリニアスキャンやセクタースキャンは実現される。1列の素子23は同時に超音波を出力することから、1列の個数すなわち配列の行数は超音波の出力レベルに応じて決定されることができる。行数は例えば10〜15行程度に設定されればよい。図中では省略されて5行が描かれる。配列の列数はスキャンの範囲の広がりに応じて決定されることができる。列数は例えば128列や256列に設定されればよい。図中では省略されて8列が描かれる。上電極および下電極の役割は入れ替えられてもよい。すなわち、マトリクス全体の素子23に共通に下電極が接続される一方で、配列の列ごとに共通に上電極が接続されてもよい。
基体21の輪郭は、相互に平行な1対の直線で仕切られて対向する第1辺21aおよび第2辺21bを有する。第1辺21aと素子アレイ22の輪郭との間に1ラインの第1端子アレイ33aが配置される。第2辺21bと素子アレイ22の輪郭との間に1ラインの第2端子アレイ33bが配置される。第1端子アレイ33aは第1辺21aに平行に1ラインを形成することができる。第2端子アレイ33bは第2辺21bに平行に1ラインを形成することができる。
第1端子アレイ33aは1対の上電極端子34並びに第1下電極端子35および第2下電極端子36で構成される。上電極端子34は第1端子アレイ33aの両端に配置される。上電極端子34にはそれぞれ引き出し配線32が接続される。こうして上電極端子34には全ての素子23が共通に接続される。上電極端子34の間に第1下電極端子35および第2下電極端子36が配置される。第1下電極端子35は第1導電体28に接続され、第2下電極端子36は第2導電体29に接続される。こうして第1下電極端子35には個々の送信列ごとに素子23が接続される。第2下電極端子36には個々の受信列ごとに素子23が接続される。
同様に、第2端子アレイ33bは1対の上電極端子37並びに複数の第3下電極端子38および第4下電極端子39で構成される。上電極端子37は第2端子アレイ33bの両端に配置される。上電極端子37にはそれぞれ引き出し配線32が接続される。こうして上電極端子37には全ての素子23が共通に接続される。上電極端子37の間に第3下電極端子38および第4下電極端子39が配置される。第3下電極端子38は第1導電体28に接続され、第4下電極端子39は第2導電体29に接続される。こうして第3下電極端子38には個々の送信列ごとに素子23が接続される。第2下電極端子36には個々の受信列ごとに素子23が接続される。
基体21には第1フレキシブルプリント配線板(以下「第1配線板」という)41が連結される。第1配線板41は第1端子アレイ33aに覆い被さる。第1配線板41の一端には上電極端子34並びに第1および第2下電極端子35、36に個別に対応して導電線すなわち第1信号線が形成される。第1信号線は上電極端子34並びに第1および第2下電極端子35、36に個別に向き合わせられ個別に接合される。
同様に、基体21には第2フレキシブルプリント配線板(以下「第2配線板」という)42が覆い被さる。第2配線板42は第2端子アレイ33bに覆い被さる。第2配線板42の一端には上電極端子37並びに第3および第4下電極端子38、39に個別に対応して導電線すなわち第2信号線が形成される。第2信号線は上電極端子37並びに第3および第4下電極端子38、39に個別に向き合わせられ個別に接合される。
振動板24上では第3導電体31に並列に電極分離膜43が配置される。電極分離膜43は第3導電体31の長手方向に帯状に延びる。電極分離膜43は絶縁性および防湿性を有する。電極分離膜43は例えばアルミナ(Al)や酸化シリコン(SiO)といった防湿性絶縁材から形成される。電極分離膜43は個々の第3導電体31を挟んで第3導電体31の両側に分離して形成される。第3導電体31は振動板24上で第1導電体28および第2導電体29に交差することから、電極分離膜43は振動板24上で第1導電体28および第2導電体29上を横切る。
基体21上で振動板24の領域外には絶縁膜44が形成される。絶縁膜44は第1および第2導電体28、29の長手方向に帯状に延びる。絶縁膜44は第1および第2導電体28、29に並列に配置される。絶縁膜44は例えばアルミナや酸化シリコンといった防湿性の絶縁材から形成される。絶縁膜44の素材は電極分離膜43の素材と一致すればよい。絶縁膜44は第3導電体31上を横切る。こうして絶縁膜44は第3導電体31上に形成される。絶縁膜44は電極分離膜43に連続する。絶縁膜44は、第3導電体31を挟んで第3導電体31の両側に配置される電極分離膜43に接続される。
図3に示されるように、基体21は基板46および被覆膜47を備える。基板46の表面に一面に被覆膜47が積層される。基板46には個々の素子23ごとに開口部48が形成される。開口部48は基板46に対してアレイ状に配置される。開口部48が配置される領域の輪郭は素子アレイ領域26の輪郭に相当する。隣接する2つの開口部48の間には仕切り壁49が区画される。隣接する開口部48は仕切り壁49で仕切られる。仕切り壁49の壁厚みは開口部48の間隔に相当する。基板46は例えばシリコン基板で形成されればよい。
被覆膜47は、基板46の表面に積層される酸化シリコン(SiO)層51と、酸化シリコン層51の表面に積層される酸化ジルコニウム(ZrO)層52とで構成される。開口部48の輪郭に対応して被覆膜47の一部が振動板24を形成する。振動板24は、被覆膜47のうち、開口部48に臨むことから基板46の厚み方向に膜振動することができる部分である。酸化シリコン層51の膜厚は共振周波数に基づき決定されることができる。
振動板24の表面に下電極54、圧電体膜55および上電極56が順番に積層される。圧電体膜55は例えばジルコン酸チタン酸鉛(PZT)で形成されることができる。圧電体膜55にはその他の圧電材料が用いられてもよい。ここで、第1導電体28は下電極54および第1導電膜57を有する。第1導電膜57は下電極54に接続される。第1導電膜57は下電極54に連続する。第1導電膜57の膜厚は下電極54の膜厚よりも大きい。第1導電膜57には第2導電膜58が接続される。第2導電膜58は、第1導電膜57から分岐し圧電体膜55上に延び、上電極56から離隔した位置で途切れる。圧電体膜55の頂上面には、上電極56と第2導電膜58との間に隙間59が形成される。
図3に示されるように、上電極56と第2導電膜58との間に電極分離膜43は形成される。電極分離膜43は圧電体膜55の頂上面で隙間59を塞ぐ。電極分離膜43は隙間59に充填される。こうして上電極56および第2導電膜58の間で圧電体膜55の表面は電極分離膜43で覆われる。ここでは、第1導電体28の長手方向に電極分離膜43は振動板24の領域内に留まる。電極分離膜43は振動板24の縁に係らない。
基体21の表面には音響整合層61が積層される。音響整合層61は素子アレイ22を覆う。音響整合層61の膜厚は振動板24の共振周波数に応じて決定される。音響整合層61には例えばシリコーン樹脂膜が用いられることができる。
音響整合層61上に音響レンズ18が配置される。音響レンズ18は音響整合層61の表面に密着する。音響レンズ18は音響整合層61の働きで基体21に接着される。音響レンズ18の部分円筒面18aは第3導電体31に平行な母線を有する。部分円筒面18aの曲率は、1筋の第1導電体28に接続される1列の素子23から発信される超音波の焦点位置に応じて決定される。音響レンズ18は例えばシリコーン樹脂から形成される。音響レンズ18は生体の音響インピーダンスに近い音響インピーダンスを有する。
基体21の裏面にはバッキング材62が固定される。バッキング材62の表面に基体21の裏面が重ねられる。バッキング材62は超音波デバイス17の裏面で開口部48を閉じる。バッキング材62はリジッドな基材を備えることができる。ここでは、仕切り壁49は接合面でバッキング材62に結合される。バッキング材62は個々の仕切り壁49に少なくとも1カ所の接合域で接合される。接合にあたって接着剤は用いられることができる。
(3)超音波診断装置の動作
次に超音波診断装置11の動作を簡単に説明する。超音波の送信にあたって送信列の素子23の圧電素子25にはパルス信号が供給される。パルス信号は第1および第3下電極端子35、38および上電極端子34、37を通じて列ごとに素子23に供給される。個々の素子23では下電極54および上電極56の間で圧電体膜55に電界が作用する。圧電体膜55は超音波の周波数で振動する。圧電体膜55の振動は振動板24に伝わる。こうして振動板24は超音波振動する。その結果、被検体(例えば人体の内部)に向けて所望の超音波ビームは発せられる。
超音波の反射波は受信列の素子23の振動板24を振動させる。振動板24の超音波振動は所望の周波数で圧電体膜55を超音波振動させる。圧電体膜55の圧電効果に応じて圧電素子25から電圧が出力される。個々の素子23では上電極56と下電極54との間で電位が生成される。電位は第2および第4下電極端子36、39および上電極端子34、37から電気信号として出力される。こうして超音波は検出される。
超音波の送信および受信は繰り返される。その結果、リニアスキャンやセクタースキャンは実現される。スキャンが完了すると、出力信号のデジタル信号に基づき画像が形成される。形成された画像はディスプレイパネル15の画面に表示される。
(4)薄膜型超音波トランスデューサー素子の挙動
本発明者は送信時と受信時とで薄膜型超音波トランスデューサー素子の挙動を観察した。観察にあたって素子23のひずみシミュレーションが実施された。図4に示されるように、素子23に対応してシミュレーションモデル71は構成された。このシミュレーションモデル71では開口部48の輪郭で振動板72は区画された。振動板72は平面視で1辺=39.5μmの正方形に形作られた。振動板72上には圧電体膜73が形成された。圧電体膜73の輪郭は平面視で1辺=31.5μmの正方形に形作られた。圧電体膜73の形成に先立って振動板72上には下電極74が積層された。圧電体膜73は下電極74上に積層された。圧電体膜73上には上電極75が積層された。上電極75の材料で防湿用の導電膜76(前述の第2導電膜58に相当)は形成された。導電膜76は圧電体膜73を覆った。図5に示されるように、計算処理にあたってシミュレーションモデル71は平面視で均等に4分割された。送信時には上電極75に−15Vの電圧が印加された。受信時には振動板72に垂直方向上方から1×10[Pa]の圧力が印加された。その際に、上電極75および導電膜76直下のひずみεは算出された。
図6はx方向にひずみεの分布を示す。ひずみシミュレーションの結果、送信時と受信時とでシミュレーションモデル71が共通する場合に送信時と受信時とでひずみεの分布が全く相違することが確認された。送信時には受信時に比べてひずみεの絶対量が著しく大きいことが確認された。送信時には、振動板72の中心から振動板72の縁に向かって離れた位置でひずみεのピークが生じた一方で、受信時には振動板72の中心でピークが現れた。受信時には、振動板72の縁から振動板72の中心に向かって徐々にひずみが増大した。送信時には振動板72の中心で収縮するひずみεが観察され、振動板72の縁に近い位置で伸張するひずみεは観察された。図7はx方向にz方向変位の分布を示す。図8はy方向にz方向変位の分布を示す。いずれの場合も、送信時には受信時に比べてz方向変位の絶対量が著しく大きいことが確認された。送信時と受信時とで薄膜型超音波トランスデューサー素子の最適な構造は相違することが明かされた。
本発明者は受信時に効果的な薄膜型超音波トランスデューサー素子の構造を追求した。素子23の変位シミュレーションが実施された。シミュレーションには有限要素法解析システムfemtet(登録商標)が用いられた。図9に示されるように、素子23に対応してシミュレーションモデル81は構成された。このシミュレーションモデル81では開口部48の輪郭で振動板82は区画された。振動板82上には圧電体膜83が積層された。圧電体膜83の形成に先立って振動板82上には下電極84が積層された。圧電体膜83は下電極84上に積層された。圧電体膜83上には上電極85が形成された。上電極85の材料で防湿用の導電膜86(前述の第2導電膜58に相当)が形成された。図10に示されるように、導電膜86は部分的に圧電体膜83を覆った。
下電極84は振動板82の表面に沿って第1方向D1に長さLbeで延びる。下電極84は振動板82の表面に沿って第1方向D1に直交する第2方向D2に幅Wbeを有する。圧電体膜83は第1方向D1に長さLpzで延びて第2方向D2に幅Wpzを有する。振動板82は第1方向D1に長さLcavで延びて第2方向D2に幅Wcavを有する。ここでは、振動板82のアスペクト比Lcav/Wcavは2に設定された。図11に示されるように、圧電体膜83の輪郭から第2方向D2に振動板82の輪郭まで腕幅Warmが規定された。
計算処理にあたってシミュレーションモデルでは圧電体膜83の幅Wpzは固定された。下電極84の幅Wbeを変更することで比Wbe/Wpzは変更された。「送信時の変位」および「受信時の生成電圧」が算出された。受信時には1[kPa]の圧力が振動板82に垂直方向から印加された。送信時には下電極84に10[V]の電圧が印加された。ここでは、圧電体膜83の幅Wpzおよび振動板82の幅Wcavの比Wpz/Wcavは0.7に固定された。振動板82の幅Wcavは45[μm]で固定された。腕幅Warmおよび振動板82の幅Wcavの比Warm/Wcavは0.15で固定された。計算処理の結果、図12に示されるように、受信時には比Wbe/Wpzが小さくなるほど(下電極84の幅Wbeが細くなるほど)生成電圧は増大することが確認された。その一方で、送信時には比Wbe/Wpzが大きくなるほど変位が増大することが確認された。
本発明者は複数通りで振動板82の幅Wcavを変化させ同様に検証を繰り返した。図13には振動板82の幅Wcavが60[μm]に設定された際にシミュレーションモデル81で生成される「受信時の生成電圧」が示される。図14には振動板82の幅Wcavが45[μm]に設定された際にシミュレーションモデル81で生成される「受信時の生成電圧」が示される。図15には振動板82の幅Wcavが30[μm]に設定された際にシミュレーションモデル81で生成される「受信時の生成電圧」が示される。いずれも場合でも、腕幅Warmおよび振動板82の幅Wcavの比Warm/Wcavは複数通り(0.35、0.25、0.15、0.05)で変更された。同様に、図16には振動板82の幅Wcavが60[μm]に設定された際にシミュレーションモデル81で生成される「送信時の変位」が示される。図17には振動板82の幅Wcavが45[μm]に設定された際にシミュレーションモデル81で生成される「送信時の変位」が示される。図18には振動板82の幅Wcavが30[μm]に設定された際にシミュレーションモデル81で生成される「送信時の変位」が示される。
前述のように、振動板82に超音波が作用すると、振動板82は振動する。振動板82の振動に応じて圧電体膜83に歪みが生成される。圧電体膜83の歪みは電圧を生成する。生成された電圧は下電極84および上電極85から取り出される。こうして超音波は検出される。下電極84の幅Wbeと圧電体膜83の幅Wpzとの比Wbe/Wpzが0.1以上0.8以下に設定されれば、受信時の生成電圧が十分に確保されることができる。その一方で、比Wbe/Wpzが0.1を下回ると、下電極84の電気抵抗が増大してしまう。比Wbe/Wpzが0.8を上回ると、場合によって電圧が最大電圧値の60%を割ってしまい、生成電圧は使用域から逸脱する。特に、受信時には比Warm/Wcavが0.35に設定されると、比Wbe/Wpzの変化に拘わらず生成電圧の変化は小さく、比Warm/Wcavが縮小するほど比Wbe/Wpzの変化に応じて生成電圧の変化は大きい。比Wbe/Wpzが0.5以下であれば、比Warm/Wcavの変化に拘わらず比Warm/Wcav=0.35よりも大きい受信電圧は確保される。したがって、比Wbe/Wpzは0.5以下であれば、条件が変化しても、良好な生成電圧は得られることが理解される。
本発明者は振動板82の平面形状を変化させ同様に検証を実施した。図19に示されるように、本発明者はシミュレーションモデル81に基づき振動板82のアスペクト比Lcav/Wcavを1に設定した。図20に示されるように、受信時にはアスペクト比1でもアスペクト比2でも同様な傾向が観察された。同様に、図21に示されるように、送信時でもアスペクト比1およびアスペクト比2で同様な傾向が観察された。図22〜図24に示されるように、振動板82の輪郭形状が円形、六角形または楕円に変更されても、同様な傾向が観察された。
次に本発明者は腕幅Warmおよび振動板82の幅Wcavの比Warm/Wcavを変化させ同様に検証を実施した。振動板82のアスペクト比Lcav/Wcavは2に設定された。下電極84の幅Wbeは(圧電体膜83の幅Wpz−8[μm])で設定された。振動板82の幅Wcavは、共振周波数を一定に維持するように比Warm/Wcavの値ごとに設定された。そうしなければ、腕幅Warmが短くなるにつれて共振周波数が高くなり、受信時の生成電圧を平等に比較できない。計算処理の結果、図25に示されるように、共振周波数の高低に拘わらず比Warm/Wcav=0.15程度で生成電圧のピーク値が観察された。最大生成電圧の0.8倍を使用範囲と定義すると、比Warm/Wcavが0.02以上0.3以下に設定されると、受信特性の向上が期待できることが理解される。
本発明者は腕幅Warmおよび振動板82の幅Wcavの比Warm/Wcavに応じて受信感度を実測した。振動板82のアスペクト比Lcav/Wcavは10に設定された。振動板82の幅Wcavは一定に維持された。図26に示されるように、腕幅Warmが短くなるにつれて共振周波数は高くなる傾向にあった。実測の結果、比Warm/Wcavの0.1〜0.2程度で生成電圧のピーク値が観察された。同様に、本発明者はシミュレーションを実施した。図27に示されるように、比Warm/Wcavの0.2〜0.3程度で生成電圧のピーク値が観察された。
次に本発明者は振動板の表面に直交する平面視で上電極と下電極との重なり具合を変化させて同様に検証を実施した。図28に示されるように、本発明者はシミュレーションモデル91に基づき振動板92のアスペクト比Lcav/Wcavを1に設定した。重なり具合の設定にあたって上電極93および下電極94に挟まれた円形の輪郭の部分圧電体(以下「交差部」という)95が規定された。交差部95の直径がパラメーターとして利用された。交差部95の中心は振動板92の重心に重ねられた。振動板92の輪郭の各辺の大きさは39.5μmに設定された。図29に示されるように、規格化された受信感度の0.9倍以上を使用範囲と定義すると、交差部95の面積Seleが振動板92の面積Scavに対して1%以上20%以下であれば、高い受信感度が得られることが理解される。ただし、本検証では各辺の大きさが39.5μmに設定されたものの、各辺の大きさが20μm以上100μmの範囲内であれば、同様な結果が得られる。
今回の検証では振動板の酸化シリコン層51は膜厚1070nmに設定されたものの、膜厚1000nm以上5000nm以下の範囲で有効な効果は得られる。圧電体膜55の膜厚は1350nmに設定されたものの、膜厚500nm以上3000nm以下の範囲で有効な効果は得られる。下電極74、84、94の膜厚は150nmに設定されたものの、膜厚50nm以上500nm以下の範囲で有効な効果は得られる。上電極75、85、93の膜厚は50nmに設定されたものの、膜厚10nm以上100nm以下の範囲で有効な効果は得られる。
なお、上記のように本実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できるであろう。したがって、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれる。例えば、明細書または図面において、少なくとも一度、より広義または同義な異なる用語とともに記載された用語は、明細書または図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えられることができる。また、超音波診断装置11、超音波プローブ13、超音波デバイス17等の構成および動作も本実施形態で説明したものに限定されず、種々の変形が可能である。
11 電子機器としての超音波画像装置(超音波診断装置)、12 処理部(装置端末)、13 プローブ(超音波プローブ)、15 表示装置(ディスプレイパネル)、16 筐体、17 超音波センサー(超音波デバイス)、24 振動板、54 下電極、55 圧電体(圧電体膜)、56 上電極、72 振動板、73 圧電体(圧電体膜)、74 下電極、75 上電極、76 導電膜、82 振動板、83 圧電体(圧電体膜)、84 下電極、85 上電極、D1 第1方向、D2 第2方向。

Claims (10)

  1. 振動板と、
    前記振動板に積層されて、前記振動板の表面に沿って第1方向に長さLを有し、前記振動板の表面に沿って前記第1方向に直交する第2方向に前記長さL以下の幅Wbeを有する下電極と、
    前記下電極に積層されて、前記第2方向に幅Wpzを有する圧電体と、
    前記圧電体に積層される上電極と、を備え、
    下電極の幅Wbeと圧電体の幅Wpzとの比Wbe/Wpzは0.1以上0.8以下であることを特徴とする超音波センサー。
  2. 請求項1に記載の超音波センサーにおいて、前記比Wbe/Wpzは0.5以下であることを特徴とする超音波センサー。
  3. 請求項1または2に記載の超音波センサーにおいて、前記振動板の表面に直交する平面視で前記圧電体の輪郭から前記第2方向に前記振動板の輪郭までの距離は前記振動板の幅の0.02倍以上0.3倍以下であることを特徴とする超音波センサー。
  4. 請求項1〜3のいずれか1項に記載の超音波センサーにおいて、前記第1方向に前記上電極は前記圧電体よりも小さい面積を有することを特徴とする超音波センサー。
  5. 請求項1〜4のいずれか1項に記載の超音波センサーにおいて、前記振動板の前記第2方向の幅Wcavと第1方向の長さLcavとのアスペクト比Lcav/Wcavは1以上2以下であることを特徴とする超音波センサー。
  6. 請求項1〜5のいずれか1項に記載の超音波センサーにおいて、前記振動板の表面に直交する平面視で前記上電極と前記下電極との重なりの面積は、前記平面視で輪郭で規定される前記振動板の面積に対して1%以上20%以下の範囲であることを特徴とする超音波センサー。
  7. 請求項1〜6のいずれか1項に記載の超音波センサーにおいて、前記振動板の輪郭は円形、六角形および楕円のいずれかであることを特徴とする超音波センサー。
  8. 請求項1〜7のいずれか1項に記載の超音波センサーと、前記超音波センサーを支持する筐体とを備えることを特徴とするプローブ。
  9. 請求項1〜7のいずれか1項に記載の超音波センサーと、前記超音波センサーに接続されて、前記超音波センサーの出力を処理する処理装置とを備えることを特徴とする電子機器。
  10. 請求項1〜7のいずれか1項に記載の超音波センサーと、前記超音波センサーの出力から生成される画像を表示する表示装置とを備えることを特徴とする超音波画像装置。
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