JP6308822B2 - 電荷発生層の検査方法および電子写真感光体の量産方法 - Google Patents
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Description
電子写真感光体は、電荷発生物質を結着樹脂とともに溶解または分散させて電荷発生層用塗布液を作製し、それを支持体上に塗布して塗膜を形成し、塗膜を乾燥することにより製造される。
押し出し及び引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製の支持体のムラは、成型工程において生じる支持体の母線方向に形成されるスジ状のムラである。このムラは感度に大きく影響する電荷発生層の膜厚ムラとは異なり、画像欠陥の原因になり難いムラであるため、検査では支持体のムラが検出されても、電荷発生層の膜厚ムラが検出されなければ、欠陥が無しと判断したい。
しかしながら、この支持体上に形成された下引き層の上に電荷発生層が形成した後に、電荷発生層の膜厚ムラを検知する検査において、膜厚ムラの存在が検出された場合に、検出されたムラが画像欠陥の原因となり得る電荷発生層の膜厚ムラなのか、支持体のムラなのかを区別できない場合があることが分かった。
押し出し及び引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製の支持体、
該支持体の周面の直上に形成された下引き層、及び
該下引き層の直上に形成された電荷発生層
を有する被検査物の該電荷発生層を検査する方法であって、
可視光領域の一部の波長の光に対する該下引き層の透過率が、1%以上であり、
該検査方法は、
該電荷発生層に光を照射し、その反射光を受光手段で受光して、該電荷発生層の欠陥及び被疑欠陥の有無を検査する検査工程を有し、
該電荷発生層に照射する光の波長が、該電荷発生層の吸収波長領域の一部であり、かつ、
該電荷発生層に照射する光に対する該下引き層の透過率が、0.3%以下である
電荷発生層の検査方法が提供される。
複数の電子写真感光体を製造する電子写真感光体の量産方法であって、
該量産方法が、
押し出し及び引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製の支持体、
該支持体の周面の直上に形成された下引き層、及び
該下引き層の直上に形成された電荷発生層
を有する被検査物を得る第一の工程、
該第一の工程後、該被検査物の該電荷発生層に光を照射し、その反射光を受光手段で受光し、該電荷発生層の欠陥及び被疑欠陥の有無を検査して、該被検査物を、下記(a)、(b)、及び(c):
(a)該電荷発生層に欠陥が有る被検査物、
(b)該電荷発生層に被疑欠陥が有る被検査物、
(c)該電荷発生層に欠陥及び被疑欠陥が無い被検査物、
のいずれかに判定する第二の工程、並びに
該第二の工程後、下記(i)および(ii):
(i)該第二の工程で、該電荷発生層に被疑欠陥が有る被検査物であると判定された被検査物のうち、その後の目視検査で該被疑欠陥が該電荷発生層の欠陥ではないと判定された被検査物、
(ii)該第二の工程で、該電荷発生層に該欠陥及び該被疑欠陥が無い被検査物であると判定された被検査物
のいずれかに該当する被検査物の支持体を加熱処理する第三の工程
を有し、
可視光領域の一部の波長の光に対する該下引き層の透過率が、1%以上であり、
該電荷発生層に照射する光の波長が、該電荷発生層の吸収波長領域の一部であり、かつ、
該電荷発生層に照射する光に対する該下引き層の透過率が、0.3%以下である
ことを特徴とする電子写真感光体の量産方法が提供される。
本発明の検査方法は、
押し出し及び引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製の支持体、
該支持体の周面の直上に形成された下引き層、及び
該下引き層の直上に形成された電荷発生層
を有する被検査物の該電荷発生層を検査する方法に関する。
本発明の検査方法の対象である被検査物に含まれる下引き層は、可視光領域の一部の波長に対する透過率が1%以上である層である。そして、該検査方法は、該電荷発生層に光を照射し、その反射光を受光手段で受光し、該電荷発生層の欠陥及び被疑欠陥の有無を検査する検査工程を有する。該検査工程において、該電荷発生層に照射する光の波長が、該電荷発生層の吸収波長領域の一部であり、かつ、該電荷発生層に照射する光に対する該下引き層の透過率が、0.3%以下である。
なお、本発明において、可視光領域とは波長が380〜780nmの範囲である。
また、本発明は、検査工程に用いられる光の波長が、電荷発生層の吸収波長領域の一部であることを特徴とする。光の波長が電荷発生層の吸収波長領域の一部でないと、電荷発生層の膜厚ムラがあっても反射光の強度に差がつかないため、電荷発生層の膜厚ムラを検出することが困難になる。
まず、図1に、本発明の検査工程において検査される支持体ならびに検査に用いられる光源および受光手段を上からみたときの概略図を示す。
図1中の支持体1は、押し出し及び引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製の支持体である。支持体の直上には可視光領域の一部の波長に対する透過率が1%以上である下引き層(不図示)と下引き層の直上には電荷発生層(不図示)が形成されている。これが、被検査物の一例である。
照射された光は、矢印Cの方向に反射されて受光手段3で受光される。電荷発生層に膜厚ムラがある場合、膜厚ムラの部分とそうでない部分では反射光の強度に差が生じるため、その反射光の強度差を解析することで電荷発生層に膜厚ムラがあるかどうかを判断する。
電荷発生層上に電荷輸送層や保護層などを形成した後に検査する場合、検査に用いる光の波長を吸収する物質や散乱する物質等が、電荷輸送層や保護層に含有されていると電荷発生層の膜厚ムラを検知し難くなることがある。そのような場合は、電荷発生層に検査に必要な光が届くよう光量を調整すればよい。もし、電荷輸送層や保護層による光の吸収や散乱が大きくて十分な光が電荷発生層まで届かない場合は、電荷輸送層や保護層を形成する前に検査することが好ましい。
支持体としては、押し出し及び引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製の支持体が用いられる。支持体の材料としては、アルミニウムもしくはアルミニウム合金を用いることができる。本発明において、「アルミニウム製」とは、アルミニウムまたはアルミニウム合金でできていることを意味する。
支持体上には、可視光領域の一部の波長に対する透過率が1%以上である下引き層が設けられる。
下引き層は、金属酸化物粒子、結着樹脂を溶剤とともに分散処理して得られる下引き層用塗布液の塗膜を乾燥させることにより形成することができる。分散方法としては、ホモジナイザー、超音波分散機、ボールミル、サンドミル、ロールミル、振動ミル、アトライター、液衝突型高速分散機を用いた方法が挙げられる。
下引き層に用いられる樹脂としては、アクリル樹脂、アリル樹脂、アルキッド樹脂、エチルセルロース樹脂、エチレン−アクリル酸コポリマー、エポキシ樹脂、カゼイン樹脂、シリコーン樹脂、ゼラチン樹脂、フェノール樹脂、ブチラール樹脂、ポリアクリレート樹脂、ポリアセタール樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリアリルエーテル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリビニルアルコール樹脂、ポリブタジエン樹脂、ポリプロピレン樹脂が挙げられる。また、1種あるいは2種以上のものを混合して用いることができる。これらの中でも、ポリウレタン樹脂が好ましい。
下引き層に用いられる金属酸化物粒子としては、酸化亜鉛、酸化チタン、酸化スズ、酸化ジルコニウム、および酸化アルミニウムからなる群より選択される少なくとも1つを有する粒子が挙げられる。好ましくは、酸化亜鉛粒子であり、酸化亜鉛粒子であると透過率が高くなりやすくなり、本発明の効果が有効に得られる。
下引き層には、さらに、有機樹脂微粒子、レベリング剤を含有させてもよい。
可視光領域の一部の波長に対する下引き層の透過率には、主に金属酸化物粒子の粒径及び比率、有機樹脂微粒子の粒径及び比率、下引き層の膜厚などが影響する。したがって、それらを変更することにより透過率を調整することができる。
例えば、金属酸化物粒子の平均粒径は、1μm以下であることが好ましく、0.01μm以上0.5μm以下であることがより好ましい。下引き層における金属酸化物粒子と結着樹脂との含有比率は、金属酸化物粒子:結着樹脂が2:1〜4:1(質量比)であることが好ましい。
また、有機樹脂微粒子の平均粒径は、0.5μm以上5μm以下であることが好ましい。下引き層における有機樹脂微粒子の含有比率は、下引き層の全固形分に対して20質量%以下であることが好ましい。
下引き層の膜厚は、0.5μm以上30μm以下であることが好ましく、特には1μm以上25μm以下であることがより好ましい。
下引き層上には、電荷発生層が形成される。
本発明に用いられる電荷発生物質としては、検査工程に用いられる光の波長を吸収する特性を有するものが用いられる。具体的には、アゾ顔料、フタロシアニン顔料、インジゴ顔料、ペリレン顔料、多環キノン顔料、スクワリリウム色素、チアピリリウム塩、トリフェニルメタン色素、キナクリドン顔料や、アズレニウム塩顔料、シアニン染料、アントアントロン顔料、ピラントロン顔料、キサンテン色素、キノンイミン色素、スチリル色素などが挙げられる。これら電荷発生物質は1種のみ用いてもよく、2種以上用いてもよい。これら電荷発生物質の中でも、感度の観点から、フタロシアニン顔料やアゾ顔料が好ましく、特にはフタロシアニン顔料がより好ましい。
分散方法としては、ホモジナイザー、超音波分散機、ボールミル、サンドミル、ロールミル、振動ミル、アトライター、液衝突型高速分散機を用いた方法が挙げられる。
電荷発生物質と結着樹脂との割合は、結着樹脂1質量部に対して電荷発生物質が0.3質量部以上10質量部以下であることがより好ましい。
電荷発生層上には、電荷輸送層が形成される。
本発明で用いられる電荷輸送物質としては、トリアリールアミン化合物、ヒドラゾン化合物、スチリル化合物、スチルベン化合物、ブタジエン化合物などが挙げられる。これら電荷輸送物質は、1種のみ用いてもよく、2種以上用いてもよい。これらの中でも、電荷の移動度の観点から、トリアリールアミン化合物が好ましい。
電子写真感光体の電荷輸送層が1層である場合、その電荷輸送層の膜厚は5μm以上40μm以下であることが好ましく、8μm以上30μm以下であることがより好ましい。電荷輸送層を積層構成とした場合、支持体側の電荷輸送層の膜厚は、5μm以上30μm以下であることが好ましく、表面側の電荷輸送層の膜厚は、1μm以上10μm以下であることが好ましい。
また、電荷輸送層には、酸化防止剤、紫外線吸収剤、可塑剤などを必要に応じて添加することもできる。
保護層は、結着樹脂を有機溶剤に溶解させて得られる保護層用塗布液を塗布し、これを乾燥させることによって形成することができる。保護層に用いられる樹脂としては、ポリビニルブチラール樹脂、ポリエステル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアリレート樹脂、ポリウレタン樹脂、スチレン−ブタジエンコポリマー、スチレン−アクリル酸コポリマー、スチレン−アクリロニトリルコポリマーなどが挙げられる。
保護層の膜厚は0.5μm以上10μm以下であることが好ましく、1μm以上7μm以下であることが好ましい。また、保護層には、導電性粒子などを必要に応じて添加することもできる。
上記各層の塗布液を塗布する際には、例えば、浸漬塗布法(浸漬コーティング法)、スプレーコーティング法、スピンナーコーティング法、ローラーコーティング法、マイヤーバーコーティング法、ブレードコーティング法などの塗布方法を用いることができる。
前記電荷発生層の検査方法を、電子写真感光体の量産方法に適用することができる。
具体的には、本発明の電子写真感光体の量産方法は、
複数の電子写真感光体を製造する電子写真感光体の量産方法であって、
該量産方法が、
押し出し及び引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製の支持体、
該支持体の周面の直上に形成された下引き層、及び
該下引き層の直上に形成された電荷発生層
を有する被検査物を得る第一の工程、
該第一の工程後、該被検査物の該電荷発生層に光を照射し、その反射光を受光手段で受光し、該電荷発生層の欠陥及び被疑欠陥の有無を検査して、該被検査物を、下記(a)、(b)、及び(c):
(a)該電荷発生層に欠陥が有る被検査物、
(b)該電荷発生層に被疑欠陥が有る被検査物、
(c)該電荷発生層に欠陥及び被疑欠陥が無い被検査物、
のいずれかに判定する第二の工程、並びに
該第二の工程後、下記(i)及び(ii):
(i)該第二の工程で、該電荷発生層に該被疑欠陥が有る被検査物であると判定された被検査物のうち、その後の目視検査で該被疑欠陥は該電荷発生層の欠陥ではないと判定された被検査物、
(ii)該第二の工程で、該欠陥及び該被疑欠陥が無い被検査物であると判定された被検査物
のいずれかに該当する被検査物を加熱処理する第三の工程
を有し、
可視光領域の一部の波長に対する該下引き層の透過率が、1%以上である層であり、
該第二の工程において照射される光の波長が、該電荷発生層の吸収波長領域の一部であり、かつ、
該電荷発生層に照射する光に対する該下引き層の透過率が、0.3%以下である。
上記第二の工程の検査により、電荷発生層の膜厚ムラと、引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製の支持体のムラとを区別できる。これによって、電荷発生層に膜厚ムラがないのに欠陥有と判定してしまうことを回避でき、量産効率が向上する。
(製造例1)
・支持体
支持体(導電性支持体)として、直径30mm、長さ357.5mmの押し出し及び引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製のシリンダーを20本用いた。
次に、金属酸化物として酸化亜鉛粒子(比表面積:19m2/g、粉体抵抗:4.7×106Ω・cm)100部をトルエン500部と攪拌混合し、これにシランカップリング剤(化合物名:N-2-(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、商品名:KBM602、信越化学工業(株)製)0.8部を添加し、6時間攪拌した。その後、トルエンを減圧留去して、130℃で6時間加熱乾燥し、表面処理された酸化亜鉛粒子を得た。
分散後、シリコーンオイル(商品名:SH28PA、東レ・ダウコーニング(株)製)0.01部、架橋ポリメタクリル酸メチル(PMMA)粒子(商品名:TECHPOLYMER SSX−103、積水化成品工業(株)製、平均一次粒径3.0μm)を5.6部加えて攪拌し、下引き層用塗布液を調製した。
この下引き層用塗布液を上記支持体上に浸漬塗布し、得られた塗膜を40分間160℃で乾燥させて、膜厚が18μmの下引き層を形成した。
次に、CuKα特性X線回折におけるブラッグ角2θ±0.2°の7.4°および28.1°にピークを有する結晶形のヒドロキシガリウムフタロシアニン結晶(電荷発生物質)を用意した。このヒドロキシガリウムフタロシアニン結晶4部、および下記式(A)で示される化合物0.04部を、シクロヘキサノン100部にポリビニルブチラール樹脂(商品名:エスレックBX−1、積水化学工業(株)製)2部を溶解させた液に加えた。
その後、直径1mmのガラスビーズを用いたサンドミル装置にて23±3℃の雰囲気下で1時間分散処理し、分散処理後、酢酸エチル100部を加えて、電荷発生層用塗布液を調製した。この電荷発生層用塗布液を上記下引き層上に浸漬塗布し、得られた塗膜を10分間90℃で乾燥させることによって、膜厚が0.21μmの電荷発生層を形成した。
膜厚ムラ検査用のサンプルとして、電荷発生層に膜厚ムラのあるもの10本と、膜厚ムラのないもの11本とを作製した。電荷発生層に膜厚ムラのあるものは浸漬塗布直後の支持体の一部にのみ風を当てたまま、得られた塗膜を10分間90℃で乾燥させることによって作製した。
次に、下記式(B)で示される化合物(電荷輸送物質)50部、下記式(C)で示される化合物(電荷輸送物質)50部、およびポリカーボネート樹脂(商品名:ユーピロンZ400、三菱ガス化学(株)製)100部を、クロロベンゼン650部およびジメトキシメタン150部の混合溶剤に溶解させることによって、電荷輸送層用塗布液を調製した。
この電荷輸送層用塗布液を、液が均一になってから1日間静置した後、上記電荷発生層上に浸漬塗布し、得られた塗膜を60分間110℃で乾燥させることによって、膜厚が18μmの電荷輸送層(第一電荷輸送層)を形成した。
次に、下記式(D)で示される化合物(連鎖重合性官能基であるアクリルロイルオキシ基を有する電荷輸送物質)36部、ポリテトラフルオロエチレン樹脂微粉末(ルブロンL−2、ダイキン工業(株)製)4部およびn−プロパノール60部を超高圧分散機で分散混合することによって、保護層用塗布液を調製した。
作製した電子写真感光体をキヤノン(株)製の複写機imageRUNNER iR−ADVC5051に取り付けてハーフトーン画像を出力した。
その結果、電荷発生層に膜厚ムラのないサンプル(電子写真感光体)を取り付けて出力したハーフトーン画像にはムラは現れなかった。つまり、押し出し及び引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製のシリンダーに起因するスジ状のムラは画像上に現れなかった。一方、電荷発生層に膜厚ムラのあるサンプルを取り付けて出力したハーフトーン画像にはムラが現れた。
したがって、電荷発生層の膜厚ムラ検査工程で、電荷発生層に膜厚ムラが無ければ欠陥無、電荷発生層に膜厚ムラが有れば欠陥有と判定する必要がある。
実施例1において、電荷輸送層(第一電荷輸送層)まで作製し、保護層(第二電荷輸送層)を作製せずに、電荷発生層の膜厚ムラ検査用サンプルを製造した。
(製造例3)
実施例1において、電荷発生層まで作製し、電荷輸送層(第一電荷輸送層)および保護層(第二電荷輸送層)は作製しなかった以外は製造例1と同様にして電荷発生層の膜厚ムラ検査用サンプルを製造した。
支持体(導電性支持体)として、直径30mm、長さ357.5mmの押し出し及び引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製のシリンダーを20本用いた。
次に、酸化亜鉛粒子(比表面積:19m2/g、粉体抵抗:4.7×106Ω・cm)100部をトルエン500部と攪拌混合し、これにシランカップリング剤(化合物名:N-2-(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、商品名:KBM602、信越化学工業(株)製)0.8部を添加し、6時間攪拌した。
その後、トルエンを減圧留去して、130℃で6時間加熱乾燥し、表面処理された酸化亜鉛粒子を得た。
この溶液に前記表面処理された酸化亜鉛粒子80.64部、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン0.4部(和光純薬工業(株)製)、酸化亜鉛粒子10部(商品名:LPZINC−2、堺化学工業(株)製)を加え、これを直径0.8mmのガラスビーズを用いたサンドミル装置で23±3℃雰囲気下で3時間分散した。分散後、シリコーンオイル(商品名:SH28PA)を0.01部加えて攪拌し、下引き層用塗布液を調製した。
次に、製造例1と同様にして、電荷発生層および電荷輸送層を形成し、電荷発生層の膜厚ムラ検査用サンプルを製造した。
製造例1で作製した電荷発生層の膜厚ムラ検査用サンプルを用い、後述の評価を行った。検査工程の光源としては、高輝度LED直線照明(アイテックシステム(株)製、青色LED、中心波長450nm)を用いた。評価の結果を表1に示した。
(実施例2)
下記の点以外は、実施例1と同様にして評価した。製造例2で作製した電荷発生層の膜厚ムラ検査用サンプルを用いた。電荷発生層の膜厚ムラを検査した後、支持体を60分間、100℃で加熱処理した。
下記の点以外は、実施例1と同様にして評価した。製造例3で作製した電荷発生層の膜厚ムラ検査用サンプルを用いた。電荷発生層の膜厚ムラを検査した後、支持体を60分間、100℃で加熱処理した。
(実施例4)
下記の点以外は、実施例1と同様にして評価した。製造例2で作製した電荷発生層の膜厚ムラ検査用サンプルを用いた。電荷発生層の膜厚ムラを検査した後、保護層(第二電荷輸送層)を形成しなかった。
下記の点以外は、実施例1と同様にして評価した。電荷発生層の膜厚ムラを検査した後、支持体を60分間、100℃で加熱処理した。
(実施例6)
下記の点以外は、実施例2と同様にして評価した。製造例4で作製した電荷発生層の膜厚ムラ検査用サンプルを用いた。
検査工程の光源を中心波長が525nmの緑色LEDに変えた以外は、実施例1と同様にして評価した。
(比較例2)
検査工程の光源を中心波長が630nmの赤色LEDに変えた以外は、実施例1と同様にして評価した。
(比較例3)
検査工程の光源を中心波長が630nmの赤色LEDに変えた以外は、実施例6と同様にして評価した。
実施例1〜6および比較例1〜3のサンプルの評価方法については、以下のとおりである。
<吸光度測定>
実施例および比較例で用いた検査工程の光の波長が電荷発生層の吸収波長域の一部であるかを確認するため、吸光度の測定を行った。
吸光度測定用の装置として、日本分光(株)製の紫外可視分光光度計V−570を使用した。製造例1の電荷発生層用塗布液をガラスプレート上に製造例1と同様の条件で浸漬塗布、乾燥し、膜厚等が製造例1と同様の電荷発生層を形成した。
次に、電荷発生層を形成したガラスサンプルを測定位置にセットし、450nm、525nm、630nmの吸光度を測定した。その結果、製造例1の電荷発生層の吸光度は、それぞれ0.11、0.10、0.72であり、いずれの波長も電荷発生層の吸収波長域の一部であることが確認された。
製造例1および4の下引き層について、透過率の測定を行った。
透過率測定用の装置として、日本分光(株)製の紫外可視分光光度計V−570を使用した。製造例1および4の下引き層用塗布液をガラスプレート上に製造例1および4と同様の条件で浸漬塗布、乾燥し、膜厚等が製造例1および4と同様の下引き層を形成した。
透過率は、装置の固定波長測定モードを用いて測定した。まず、ガラスプレートのみを測定位置にセットし、そのときの透過率が100%になるようゼロ点調整を行った。
さらに、製造例1および4の下引き層について検査工程の光源と同じ波長の光の透過率を測定した。評価結果を表1に示す。
製造例で作製した電荷発生層に膜厚ムラがあるサンプル(膜厚ムラができるように意図して作製したサンプル)と膜厚ムラのないサンプルを図1に示す光源および受光手段を用いて検査した。各実施例および各比較例で使用した光源の波長を表1に示す。検査は膜厚ムラのあるサンプルとないサンプルを各10本ずつ検査し、反射光に強度差が生じて、それらのサンプルが欠陥有と判定される本数と欠陥無と判定される本数を評価した。評価結果を表1に示す。
評価は、実施例1〜6および比較例1〜3で検査した膜厚ムラのないサンプル及び検査を行わなかった膜厚ムラのないサンプルを用いた。検査を行ったサンプルのうち保護層(第二電荷輸送層)まで形成していないものは膜厚ムラの検査工程後、製造例1と同様にして保護層(第二電荷輸送層)まで塗布、乾燥し、電子写真感光体を作製した。
評価用の電子写真装置として、電位測定が可能なように改造したキヤノン(株)製の複写機imageRUNNER iR−ADV C5051を使用した。
一方、比較例1および3では、電荷発生層に膜厚ムラがないサンプルの一部が欠陥有と判定されてしまった。比較例2では、電荷発生層に膜厚ムラがないサンプルの全てが欠陥有と判定されてしまった。
比較例1〜3で、電荷発生層に膜厚ムラがないサンプルの一部または全てが欠陥有と判定されてしまった理由は、検査光が下引き層を透過し、支持体の表面に到達し、支持体の表面のムラに起因して検査光の反射光に強度差が生じたためである。
Claims (10)
- 押し出し及び引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製の支持体、
該支持体の周面の直上に形成された下引き層、及び
該下引き層の直上に形成された電荷発生層
を有する被検査物の該電荷発生層を検査する方法であって、
可視光領域の一部の波長の光に対する該下引き層の透過率が、1%以上であり、
該検査方法は、
該電荷発生層に光を照射し、その反射光を受光手段で受光して、該電荷発生層の欠陥及び被疑欠陥の有無を検査する検査工程を有し、
該電荷発生層に照射する光の波長が、該電荷発生層の吸収波長領域の一部であり、かつ、
該電荷発生層に照射する光に対する該下引き層の透過率が、0.3%以下である
ことを特徴とする電荷発生層の検査方法。 - 前記被検査物が、前記電荷発生層の直上に形成された電荷輸送層をさらに有する請求項1に記載の電荷発生層の検査方法。
- 前記検査工程が、前記反射光の強度差により前記電荷発生層の欠陥及び被疑欠陥の有無を検査する工程である請求項1または2に記載の電荷発生層の検査方法。
- 前記電荷発生層が、フタロシアニン顔料を含有する請求項1から3のいずれか1項に記載の電荷発生層の検査方法。
- 前記下引き層が、酸化亜鉛粒子を含有する請求項1から4のいずれか1項に記載の電荷発生層の検査方法。
- 複数の電子写真感光体を製造する電子写真感光体の量産方法であって、
該量産方法が、
押し出し及び引き抜き加工により成型され、周面が切削されていない円筒状のアルミニウム製の支持体、
該支持体の周面の直上に形成された下引き層、及び
該下引き層の直上に形成された電荷発生層
を有する被検査物を得る第一の工程、
該第一の工程後、該被検査物の該電荷発生層に光を照射し、その反射光を受光手段で受光し、該電荷発生層の欠陥及び被疑欠陥の有無を検査して、該被検査物を、下記(a)、(b)、及び(c):
(a)該電荷発生層に欠陥が有る被検査物、
(b)該電荷発生層に被疑欠陥が有る被検査物、
(c)該電荷発生層に欠陥及び被疑欠陥が無い被検査物、
のいずれかに判定する第二の工程、並びに
該第二の工程後、下記(i)及び(ii):
(i)該第二の工程で、該電荷発生層に被疑欠陥が有る被検査物であると判定された被検査物のうち、その後の目視検査で該被疑欠陥が該電荷発生層の欠陥ではないと判定された被検査物、
(ii)該第二の工程で、該電荷発生層に該欠陥及び該被疑欠陥が無い被検査物であると判定された被検査物
のいずれかに該当する被検査物の支持体を加熱処理する第三の工程
を有し、
可視光領域の一部の波長の光に対する該下引き層の透過率が、1%以上であり、
該電荷発生層に照射する光の波長が、該電荷発生層の吸収波長領域の一部であり、かつ、
該電荷発生層に照射する光に対する該下引き層の透過率が、0.3%以下である
ことを特徴とする電子写真感光体の量産方法。 - 前記被検査物が、前記電荷発生層の直上に形成された電荷輸送層をさらに有する請求項6に記載の電子写真感光体の量産方法。
- 前記第二の工程が、前記反射光の強度差により前記電荷発生層の欠陥及び被疑欠陥の有無を検査する工程である請求項6または7に記載の電子写真感光体の量産方法。
- 前記電荷発生層が、フタロシアニン顔料を含有する請求項6から8のいずれか1項に記載の電子写真感光体の量産方法。
- 前記下引き層が、酸化亜鉛粒子を含有する請求項6から9のいずれか1項に記載の電子写真感光体の量産方法。
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