JP6301207B2 - X線検査装置 - Google Patents

X線検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6301207B2
JP6301207B2 JP2014119236A JP2014119236A JP6301207B2 JP 6301207 B2 JP6301207 B2 JP 6301207B2 JP 2014119236 A JP2014119236 A JP 2014119236A JP 2014119236 A JP2014119236 A JP 2014119236A JP 6301207 B2 JP6301207 B2 JP 6301207B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
support member
substrate
scintillator
ray
member side
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2014119236A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015232491A (ja
Inventor
格 宮崎
格 宮崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Infivis Co Ltd
Original Assignee
Anritsu Infivis Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Infivis Co Ltd filed Critical Anritsu Infivis Co Ltd
Priority to JP2014119236A priority Critical patent/JP6301207B2/ja
Publication of JP2015232491A publication Critical patent/JP2015232491A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6301207B2 publication Critical patent/JP6301207B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

本発明は、X線を用いて被検査物を検査するX線検査装置に関し、特に、被検査物を搬送しながらX線の照射を行うX線検査装置に関するものである。
一般に、X線検査装置は、搬送路上を所定間隔で順次搬送されてくる各品種の被検査物(例えば、肉、魚、加工食品、医薬品など)にX線発生器からX線を照射し、被検査物を透過したX線の透過量をX線ラインセンサで検出することで、被検査物中の異物(金属、ガラス、石、骨など)や欠陥の有無を判別し、被検査物の良否判定を行っている。
被検査物を搬送しながらX線の照射を行うこの種のX線検査装置において、X線ラインセンサは、基板の上に実装されたフォトダイオードと、フォトダイオード上に接着剤を介して設けられたシンチレータとを含んで構成される。
このX線ラインセンサは、装置の運転中、X線発生器から照射されるX線に常時曝されるため、各部で着色、光子欠陥増大等の劣化が進行し、装置の運転時間の増大とともに輝度が低下する。したがって、X線ラインセンサの劣化や寿命について配慮する必要がある。
これに対し、従来、X線ラインセンサの寿命を定量的に事前に予測することにより、故障前にX線ラインセンサを交換することを可能にしたものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に記載のものは、X線が照射される位置のフォトダイオードの暗電流と、X線が全く照射されない位置のフォトダイオードの暗電流とを比較し、その差が所定値以上となったときにX線ラインセンサが寿命であると判定している。
特許4530523号公報
しかしながら、従来のX線検査装置は、X線ラインセンサの寿命を定量的に把握することはできるが、X線ラインセンサの劣化速度を遅らせることについて検討されていないため、X線ラインセンサの寿命を延ばすことはできなかった。
ここで、X線ラインセンサが劣化する劣化因子としては、フォトダイオードとシンチレータとを接着する接着剤の存在が関係していることが近年分かってきている。接着剤は、主として高分子樹脂から構成されているため、X線を受けた接着材の表面付近から2次電子やフリーラジカルが飛び出し、この2次電子やフリーラジカルがフォトダイオードを劣化させると考えられる。
特に、X線検査装置で用いられるX線のエネルギー(概ね80keV以下)では、X線による直接的なダメージよりも2次電子やフリーラジカルによるダメージが支配的であると考えられる。したがって、接着材に起因するフォトダイオードの劣化に対して配慮することが求められている。
そこで、本発明は、前述のような従来の問題を解決するためになされたもので、X線ラインセンサの劣化速度を遅らせてX線ラインセンサの寿命を延ばすことができるとともに、高さ方向に装置を小型化することができるX線検査装置を提供することを目的としている。
本発明に係るX線検査装置は、X線を発生するX線発生器(9)と、X線を検出するX線ラインセンサ(51)と、上面に戴置された被検査物を搬送して前記X線発生器と前記X線ラインセンサとの間を通過させる搬送ベルト(2a)と、前記搬送ベルトを下方から支持する搬送ベルト支持部材(60)と、を備えるX線検査装置において、前記搬送ベルト支持部材は、前記X線発生器と前記X線ラインセンサとを結ぶ直線上に開口部(60a)を有し、前記X線ラインセンサは、複数のフォトダイオード(71)が直線状に並べられたフォトダイオードアレイ(72)が表面に実装される基板(73)と、前記基板を裏面から支持する基板支持部(74a)を有する基板支持部材(74)と、前記フォトダイオードアレイの前記X線発生器側に配置され、X線を光に変換するシンチレータ(75)と、前記搬送ベルト支持部材の前記開口部に装着されるとともに前記シンチレータを支持するシンチレータ支持部(76a)を有し、X線を透過する材料からなるシンチレータ支持部材(76)と、を備え、前記基板支持部材は、前記シンチレータ支持部材と結合する基板支持部材側結合部(74b)を有し、前記シンチレータ支持部材は、前記基板支持部材と結合するシンチレータ支持部材側結合部(76b)を有し、前記基板支持部と前記シンチレータ支持部との間に前記基板、前記フォトダイオードアレイおよび前記シンチレータが変位不能に位置決めされるよう、前記基板支持部材側結合部と前記シンチレータ支持部材側結合部とが結合され、前記シンチレータ支持部が前記搬送ベルト支持部材の前記開口部に液密に接着されることを特徴とする。
この構成により、フォトダイオードアレイとシンチレータとの間に接着剤が設けられていないので、X線の照射により接着剤から2次電子やフリーラジカル等が発生してフォトダイオードアレイを劣化させることがない。したがって、X線ラインセンサの劣化速度を遅らせてX線ラインセンサの寿命を延ばすことができる。
さらに、シンチレータ支持部材のシンチレータ支持部が、搬送ベルト支持部材に形成された開口部に装着され、かつ、搬送ベルト支持部材に液密に接着されるため、搬送ベルト支持部材にX線ラインセンサを密接して配置することができ、高さ方向に装置を小型化することができる。
この結果、X線ラインセンサの劣化速度を遅らせてX線ラインセンサの寿命を延ばすことができるとともに、高さ方向に装置を小型化することができる。
また、本発明に係るX線検査装置は、前記シンチレータ支持部は、前記シンチレータ側に窪む凹部(76e)が形成されるとともに前記搬送ベルト支持部材の前記開口部の端面(60b)に嵌め込まれる嵌合部(76d)を有し、前記嵌合部が前記搬送ベルト支持部材の前記開口部の端面に液密に接着されることを特徴とする。
この構成により、シンチレータ支持部の凹部では薄肉となるため、X線がシンチレータ支持部を通過するときに減衰するのを抑制することができる。
また、シンチレータ支持部の嵌合部が搬送ベルト支持部材の開口部の端面に嵌め込まれることで、X線ラインセンサを搬送ベルト支持部材に対して位置決めすることができる。
また、シンチレータ支持部の嵌合部が搬送ベルト支持部材の開口部の端面に液密に接着されることで、X線ラインセンサを搬送ベルト支持部材に固定することができるとともに、開口部を介して搬送ベルト支持部材の下方側に異物や水等が侵入するのを防止することができる。
また、本発明に係るX線検査装置は、前記シンチレータ支持部は、前記嵌合部から前記搬送ベルト支持部材の延在方向に張り出す張り出し部(76f)を有し、前記搬送ベルト支持部材の開口部は、前記張り出し部と接触する接触面(60d)を有し、前記張り出し部が前記搬送ベルト支持部材の開口部の接触面に液密に接着されることを特徴とする。
この構成により、張り出し部が開口部の接触面に液密に接着されることで、シンチレータ支持部材と搬送ベルト支持部材との接着面積を拡大することができるため、X線ラインセンサを強固に搬送ベルト支持部材に固定することができる。
また、本発明に係るX線検査装置は、前記シンチレータ支持部材側結合部が前記搬送ベルト支持部材に液密に接着されることを特徴とする。
この構成により、シンチレータ支持部材側結合部が搬送ベルト支持部材に液密に接着されることで、シンチレータ支持部材と搬送ベルト支持部材との接着面積を拡大することができるため、X線ラインセンサを強固に搬送ベルト支持部材に固定することができる。
また、本発明に係るX線検査装置は、前記搬送ベルト支持部材、前記基板支持部材側結合部および前記シンチレータ支持部材側結合部の平面視における同一部位に、皿ネジ形状の第1ボルト(79)が挿入される第1ボルト挿入孔(81)がそれぞれ形成され、前記第1ボルトが前記搬送ベルト支持部材側から締結されることで、前記X線ラインセンサが前記搬送ベルト支持部材に固定されるとともに、前記基板支持部材側結合部と前記シンチレータ支持部材側結合部が結合されることを特徴とする。
この構成により、第1ボルトを締結することで、基板支持部材側結合部とシンチレータ支持部材側結合部を強固に結合させることができる。
また、接着のみの場合よりも更に強固に、X線ラインセンサを搬送ベルト支持部材に固定することができる。
また、皿ネジ形状の第1ボルトが搬送ベルト支持部材側から締結されることで、第1ボルトの頭部が搬送ベルト支持部材の表面から突出して搬送ベルトに干渉することなく、X線ラインセンサを搬送ベルト支持部材に固定することができる。
また、本発明に係るX線検査装置は、前記基板支持部材と前記シンチレータ支持部材は、前記基板を挟持する基板支持部材側基板挟持部(74c)およびシンチレータ支持部材側基板挟持部(76c)をそれぞれ有し、前記基板支持部材側基板挟持部の前記シンチレータ支持部材側基板挟持部側の部位、前記シンチレータ支持部材側基板挟持部および前記基板の平面視における同一部位に、第2ボルト(80)が挿入される第2ボルト挿入孔(82)がそれぞれ形成され、前記第2ボルトが前記基板支持部材側基板挟持部の側から締結されることで、前記基板支持部材側基板挟持部とシンチレータ支持部材側基板挟持部が、前記基板を共締めした状態で結合されることを特徴とする。
この構成により、第2ボルトを締結することで、基板支持部材側基板挟持部とシンチレータ支持部材側基板挟持部を、基板を共締めした状態で強固に結合することができる。
また、基板支持部材側基板挟持部とシンチレータ支持部材側基板挟持部により挟持された状態で、基板を安定して固定することができる。
また、第2ボルト挿入孔が基板支持部材側基板挟持部のシンチレータ支持部材側基板挟持部側の部位に形成され、第2ボルトが基板支持部材側基板挟持部の側から締結されることで、第2ボルト挿入孔を基板支持部材側基板挟持部の搬送ベルト支持部材側まで貫通させることなく、基板支持部材側基板挟持部とシンチレータ支持部材側基板挟持部を基板を共締めした状態で結合することができる。このため、異物や水等が第2ボルト挿入孔を介して搬送ベルト支持部材側から基板支持部材側基板挟持部側に通過するのを防止することができる。
また、第2ボルトが基板支持部材側基板挟持部の側から締結されることで、基板支持部材側基板挟持部の搬送ベルト支持部材側まで第2ボルト挿入孔を貫通させることなく、基板支持部材側基板挟持部とシンチレータ支持部材側基板挟持部を基板を共締めした状態で結合することができる。
また、本発明に係るX線検査装置は、前記シンチレータ支持部材は、透明または黒色のPEEK樹脂またはPET樹脂からなることを特徴とする。
この構成により、フォトダイオードアレイで発生した光がシンチレータ支持部で反射して再度フォトダイオードアレイ側に戻ってしまうことを防止することができる。
本発明は、X線ラインセンサの劣化速度を遅らせてX線ラインセンサの寿命を延ばすことができるとともに、高さ方向に装置を小型化することができるX線検査装置を提供することができる。
本発明の一実施形態に係るX線検査装置の概略構成を示す斜視図である。 本発明の一実施形態に係るX線検査装置の側面および内部構成を示す図である。 本発明の一実施形態に係るX線検査装置のX線ラインセンサの構成を示す斜視図である。 本発明の一実施形態に係るX線検査装置のX線ラインセンサの構成を示す側面図である。 (a)、(b)は、本発明の一実施形態に係るX線検査装置のX線ラインセンサの他の例を示す側面図である。 本発明の一実施形態に係るX線検査装置のX線ラインセンサの作用を示す側面図である。 本発明の一実施形態に係るX線検査装置のX線ラインセンサの他の作用を示す側面図である。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。まず構成について説明する。図1に示すように、X線検査装置1は、搬送部2とX線検査部3とを筐体4の内部に備え、表示部5を筐体4の前面上部に備えている。
搬送部2は、筐体4に対して水平に配置された駆動ローラ23および従動ローラ24〜26と、これら駆動ローラ23および従動ローラ24〜26に掛け回された無端状の搬送ベルト2aと、予め設定された速度で駆動ローラ23を回転させる駆動モータ6とを備えている。駆動ローラ23および従動ローラ24〜26は、全体的に見て台形となるように配置されている。
搬送部2は、駆動モータ6を駆動することで、搬入口7から搬入された被検査物Wを、予め設定された搬送速度で搬出口8側(図中X方向)に向けて搬送するようになっている。筐体4の内部において搬送ベルト2a上を搬入口7から搬出口8まで貫通する空間は搬送路21を形成している。
X線検査部3は、順次搬送される被検査物Wに対し、搬送路21の途中の検査空間22においてX線を照射するとともに被検査物Wを透過するX線を検出するものであり、搬送路21の途中の検査空間22の上方に所定高さ離隔して配置されたX線発生器9と、搬送部2内にX線発生器9と対向して配置されたX線検出器10を備えている。
X線発生源としてのX線発生器9は、金属製の箱体11の内部に設けられた円筒状のX線管12を図示しない絶縁油に浸漬した構成を有しており、X線管12の陰極からの電子ビームを陽極のターゲットに照射させてX線を生成している。
X線管12は、その長手方向が被検査物Wの搬送方向(X方向)となるよう配置されている。X線管12により生成されたX線は、下方のX線検出器10に向けて、図示しないスリットにより略三角形状のスクリーン状となって搬送方向(X方向)を横切るように照射されるようになっている。
X線検出器10は、X線を検出するためのX線ラインセンサ51(図2参照)を備えている。X線ラインセンサ51の詳細な構成については後述する。
図2に示すように、搬送ベルト2aの下方には、ステンレス等の金属からなる平板状の搬送ベルト支持部材60が設けられており、この搬送ベルト支持部材60は、搬送ベルト2aを下方から支持している。搬送ベルト支持部材60は、X線発生器9とX線ラインセンサ51とを結ぶ直線上に開口部60aを有し、この開口部60aにはX線ラインセンサ51が装着されている。
搬送路21内の天井部21aには、搬送方向(X方向)に沿って複数個所にX線遮蔽用の遮蔽カーテン16が吊り下げ配置されている。遮蔽カーテン16は、X線を遮蔽する鉛粉を混入したゴムシートをのれん状(上部が繋がっており下部が帯状に分割された状態)に加工したものから構成されており、検査空間22から搬送路21を介してX線が筐体4の外部に漏えいすることを防止するものである。
遮蔽カーテン16は、本実施形態では、搬入口7と検査空間22との間、および検査空間22と搬出口8との間にそれぞれ2枚ずつ設けられており、1つの遮蔽カーテン16が被検査物Wと接触して弾性変形して隙間が生じた場合でも、他の遮蔽カーテン16がX線を遮蔽するので漏えい基準量を超えることなくX線の漏えいを防止できるようになっている。搬送路21における遮蔽カーテン16により囲まれた内側の空間が検査空間22を構成している。
X線検査装置1は、X線検出器10からのX線画像が入力されるとともに被検査物W中の異物や欠陥の有無を検査する制御回路40と、制御回路40による検査結果等を表示出力する表示部5と、制御回路40への各種パラメータ等の設定入力を行う設定操作部45とを備えている。
表示部5は、平面ディスプレイ等から構成されており、ユーザに対する表示出力を行うようになっている。この表示部5は、被検査物Wの良否判定結果を「OK」や「NG」等の文字または記号で表示するとともに、総検査数、良品数、NG総数などの検査結果を、既定設定として、または、設定操作部45からの所定のキー操作による要求に基づいて表示するようになっている。
設定操作部45は、ユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成され、制御回路40への各種パラメータ等の設定入力や動作モードの選択等を行うものである。なお、表示部5と設定操作部45とを、タッチパネル式表示器として一体構成してもよい。
制御回路40は、X線検出器10から受け取ったX線画像を一時的に記憶する一時記憶部42と、この一時記憶部42から読み出したデータに対してフィルタや特徴抽出するための画像処理を施す画像処理部43と、画像処理されたデータに対して被検査物W中の異物や欠陥の有無を判定する判定部44と、を備えている。
また、制御回路40は制御部46を備えている。この制御部46は、CPUおよび制御プログラムの記憶領域または作業領域としてのメモリなどを備えて構成されており、設定操作部45で設定された動作モードに基づいて、X線検査装置1の全体的な制御を行うようになっている。
次に、X線ラインセンサ51の詳細な構成について説明する。図3、図4に示すように、本実施形態では、X線ラインセンサ51は、フォトダイオードアレイ72と、基板73と、基板支持部材74と、シンチレータ75と、シンチレータ支持部材76とを備えている。
フォトダイオードアレイ72は、複数のフォトダイオード71が搬送部2の幅方向(Y方向)に直線状に並べられたものから構成されている。基板73は、ガラスエポキシ板から構成されており、その表面(上面)にフォトダイオードアレイ72が実装されている。各フォトダイオード71は、ボンディングワイヤー62によって基板73に電気的に接続されている。基板73は信号線63によって画像ボード64に接続されている。
基板支持部材74は、放熱性に優れるアルミ等の材料を平板状に形成したものから構成されており、基板73を裏面(下方)から支持する基板支持部74aと、シンチレータ支持部材76と結合する基板支持部材側結合部74bとを有している。
また、基板支持部材74は、シンチレータ支持部材76との間で基板73を挟持する基板支持部材側基板挟持部74cを有している。基板支持部材側基板挟持部74cは、基板支持部74aの一部として設けられており、基板73を下方から支持するとともに、基板73を挟持している。
基板支持部材74の下方には、筐体4の一部であるフレーム65が設けられおり、このフレーム65の上には画像ボード64が載置されている。シンチレータ75は、フォトダイオードアレイ72の上方に配置されており、X線を光に変換するようになっている。
シンチレータ支持部材76は、X線が透過可能な材料から構成されており、シンチレータ75を上方から支持するシンチレータ支持部76aと、基板支持部材74と結合するシンチレータ支持部材側結合部76bとを有している。また、シンチレータ支持部材76は、基板支持部材74との間で基板73を挟持するシンチレータ支持部材側基板挟持部76cを有している。
シンチレータ支持部材76は、透明または黒色のPEEK(ポリエーテルエーテルケトン)樹脂またはPET(ポリエチレンテレフタラート)樹脂から構成されている。
本実施形態では、シンチレータ支持部76aは、搬送ベルト支持部材60の開口部60aに液密に接着されている。具体的には、シンチレータ支持部76aは、搬送ベルト支持部材60の開口部60aの端面60bに嵌め込まれる嵌合部76dを有している。嵌合部76dは、平面視で矩形形状に形成されており、搬送ベルト支持部材60の開口部60aの端面60bに液密に接着されている。嵌合部76dは、下方に向かって幅が広くなるように傾斜している。
嵌合部76dの内側にはシンチレータ75側に窪む矩形形状の凹部76eが形成されている。これにより、シンチレータ支持部76aは凹部76eにおいて薄肉に形成されている。
また、シンチレータ支持部76aは、嵌合部76dの基部から搬送ベルト支持部材60の延在方向に張り出す張り出し部76fを有している。換言すると、張り出し部76fは、嵌合部76dの基部から水平に、かつ、凹部76eの反対方向に張り出している。
一方、搬送ベルト支持部材60の開口部60aは、張り出し部76fと接触する接触面60dを有しており、この接触面60dに張り出し部76fが液密に接着されている。さらに、シンチレータ支持部材側結合部76bが搬送ベルト支持部材60の下面に液密に接着されている。
このように、シンチレータ支持部材76は、シンチレータ支持部76aの嵌合部76dと、張り出し部76fとにおいて、搬送ベルト支持部材60の開口部60aに液密に接着されており、シンチレータ支持部材側結合部76bにおいて、搬送ベルト支持部材60の下面に液密に接着されている。したがって、搬送ベルト支持部材60に対してシンチレータ支持部材76が接着されることで、X線ラインセンサ51は、後述する第2ボルト80によりシンチレータ支持部材76、基板73、基板支持部材74が一体化された状態で、搬送ベルト支持部材60に固定されている。
また、X線ラインセンサ51は、第1ボルト79の締結により、接着のみの場合よりも更に強固に搬送ベルト支持部材60に固定されるようになっている。搬送ベルト支持部材60、基板支持部材側結合部74bおよびシンチレータ支持部材側結合部76bの平面視における同一部位には、第1ボルト挿入孔81がそれぞれ形成されており、この第1ボルト挿入孔81には、皿ネジ形状の第1ボルト79が挿入されている。第1ボルト79は、第1ボルト挿入孔81に対して基板支持部材74の部分で螺合し、搬送ベルト支持部材60およびシンチレータ支持部材76の部分で挿通している。第1ボルト挿入孔81は、搬送部2の幅方向に複数設けられている。
X線ラインセンサ51は、第1ボルト79が搬送ベルト支持部材60側から締結されることで、搬送ベルト支持部材60に固定されるようになっている。すなわち、第1ボルト79は、その頭部が搬送ベルト支持部材60の上面から突出しない状態で締結されている。また、第1ボルト79が搬送ベルト支持部材60側から締結されることで、基板支持部材側結合部74bとシンチレータ支持部材側結合部76bが結合されるようになっている。
また、基板支持部材側基板挟持部74cのシンチレータ支持部材側基板挟持部76c側の部位、シンチレータ支持部材側基板挟持部76cおよび基板73の平面視における同一部位には、第2ボルト挿入孔82がそれぞれ形成されており、この第2ボルト挿入孔82には第2ボルト80が挿入されている。第2ボルト80としては本実施形態では鍋ネジを用いているが第1ボルト79と同様に皿ネジを用いてもよい。第2ボルト80は、第2ボルト挿入孔82に対してシンチレータ支持部材76の部分で螺合し、基板73および基板支持部材74の部分で挿通している。第2ボルト挿入孔82は搬送部2の幅方向に複数設けられている。
基板支持部材側基板挟持部74cとシンチレータ支持部材側基板挟持部76cは、第2ボルト挿入孔82が基板支持部材側基板挟持部74cの側から締結されることで、基板73を共締めした状態で結合されるようになっている。
本実施形態では、基板支持部材側結合部74bとシンチレータ支持部材側結合部76bとを第1ボルト79の締結により結合するとともに、基板支持部材側基板挟持部74cとシンチレータ支持部材側基板挟持部76cとを第2ボルト80の締結により結合することで、シンチレータ75がフォトダイオードアレイ72とシンチレータ支持部76aとの間で挟持されるようになっている。
また、これにより、フォトダイオードアレイ72とシンチレータ75との間に接着剤を設けることなく、基板支持部74aとシンチレータ支持部76aとの間に基板73、フォトダイオードアレイ72およびシンチレータ75が変位不能に位置決めされるようになっている。
また、他の例として、図5(a)に示すように、シンチレータ75とシンチレータ支持部76aとの間に接着剤77を設けることで、シンチレータ75をシンチレータ支持部76aに固定してもよい。この場合、フォトダイオードアレイ72とシンチレータ支持部76aとの間でシンチレータ75を挟持する必要がなくなる。このため、基板支持部材側結合部74bとシンチレータ支持部材側結合部76bとを結合したときに、フォトダイオードアレイ72とシンチレータ75との間に隙間を形成しつつ、基板支持部74aとシンチレータ支持部76aとの間に基板73、フォトダイオードアレイ72、シンチレータ75を変位不能に位置決めすることが可能となる。
また、図5(b)に示すように、基板支持部材側結合部74bとシンチレータ支持部材側結合部76bとの間に所定厚さtのスペーサー78を介装することで、基板支持部材側結合部74bとシンチレータ支持部材側結合部76bとを結合したときに、フォトダイオードアレイ72とシンチレータ75との間に所定厚さtに応じた隙間が形成されつつ、基板支持部74aとシンチレータ支持部76aとの間に基板73、フォトダイオードアレイ72、シンチレータ75が変位不能に位置決めされるようになっていてもよい。図5(b)では、隙間tは、スペーサー78の厚さtと等しくなっている。
以上のように、本実施形態に係るX線検査装置1において、X線ラインセンサ51は、複数のフォトダイオード71が直線状に並べられたフォトダイオードアレイ72が表面に実装される基板73と、基板73を裏面から支持する基板支持部74aを有する基板支持部材74と、フォトダイオードアレイ72のX線発生器9側に配置され、X線を光に変換するシンチレータ75と、を備えている。
また、X線ラインセンサ51は、X線を透過する材料からなるシンチレータ支持部材76を備え、このシンチレータ支持部材76は、搬送ベルト支持部材60の開口部60aに装着されるとともにシンチレータ75を支持するシンチレータ支持部76aを有している。
また、基板支持部材74は、シンチレータ支持部材76と結合する基板支持部材側結合部74bを有し、シンチレータ支持部材76は、基板支持部材74と結合するシンチレータ支持部材側結合部76bを有し、基板支持部74aとシンチレータ支持部76aとの間に基板73、フォトダイオードアレイ72およびシンチレータ75が変位不能に位置決めされるよう、基板支持部材側結合部74bとシンチレータ支持部材側結合部76bとが結合されている。搬送ベルト支持部材60は、X線発生器9とX線ラインセンサ51とを結ぶ直線上に開口部60aを有しており、この開口部60aにシンチレータ支持部76aが液密に接着される。
この構成により、フォトダイオードアレイ72とシンチレータ75との間に接着剤が設けられていないので、図6に示すように、例えば、シンチレータ支持部材76とシンチレータ75の間にある接着剤77について、X線の照射により接着剤から2次電子(図中eと記す)やフリーラジカル(図中OHと記す)等が発生してもフォトダイオードアレイ72には及ばないのでフォトダイオードアレイ72を劣化させることがない。したがって、X線ラインセンサ51の劣化速度を遅らせてX線ラインセンサ51の寿命を延ばすことができる。
さらに、シンチレータ支持部材76のシンチレータ支持部76aが、搬送ベルト支持部材60に形成された開口部60aに装着され、かつ、搬送ベルト支持部材60に液密に接着されるため、搬送ベルト支持部材60にX線ラインセンサ51を密接して配置することができ、高さ方向に装置を小型化することができる。例えば、図7に示すように、駆動ローラ23と従動ローラ26によって搬送ベルト2aを張架し、図2の従動ローラ24、25を省略することができるため、高さ方向に装置を小型化することができる。
この結果、X線ラインセンサ51の劣化速度を遅らせてX線ラインセンサ51の寿命を延ばすことができるとともに、高さ方向に装置を小型化することができる。
また、本実施形態に係るX線検査装置1において、シンチレータ支持部76aは、シンチレータ75側に窪む凹部76eが形成されるとともに搬送ベルト支持部材60の開口部60aの端面60bに嵌め込まれる嵌合部76dを有し、この嵌合部76dは搬送ベルト支持部材60の開口部60aの端面60bに液密に接着されている。
この構成により、シンチレータ支持部76aの凹部76eでは薄肉となるため、X線がシンチレータ支持部76aを通過するときに減衰するのを抑制することができる。
また、シンチレータ支持部76aの嵌合部76dが搬送ベルト支持部材60の開口部60aの端面60bに嵌め込まれることで、X線ラインセンサ51を搬送ベルト支持部材60に対して位置決めすることができる。
また、シンチレータ支持部76aの嵌合部76dが搬送ベルト支持部材60の開口部60aの端面60bに液密に接着されることで、X線ラインセンサ51を搬送ベルト支持部材60に固定することができるとともに、開口部60aを介して搬送ベルト支持部材60の下方側に異物や水等が侵入するのを防止することができる。
また、本実施形態に係るX線検査装置1において、シンチレータ支持部76aは、嵌合部76dから搬送ベルト支持部材60の延在方向に張り出す張り出し部76fを有し、搬送ベルト支持部材60の開口部60aは、張り出し部76fと接触する接触面60dを有し、張り出し部76fが搬送ベルト支持部材60の開口部60aの接触面60dに液密に接着されている。
この構成により、張り出し部76fが開口部60aの接触面60dに液密に接着されることで、シンチレータ支持部材76と搬送ベルト支持部材60との接着面積を拡大することができるため、X線ラインセンサ51を強固に搬送ベルト支持部材60に固定することができる。
また、本実施形態に係るX線検査装置1において、シンチレータ支持部材側結合部76bが搬送ベルト支持部材60に液密に接着されている。
この構成により、シンチレータ支持部材側結合部76bが搬送ベルト支持部材60に液密に接着されることで、シンチレータ支持部材76と搬送ベルト支持部材60との接着面積を拡大することができるため、X線ラインセンサ51を強固に搬送ベルト支持部材60に固定することができる。
また、本実施形態に係るX線検査装置1において、搬送ベルト支持部材60、基板支持部材側結合部74bおよびシンチレータ支持部材側結合部76bの平面視における同一部位に、皿ネジ形状の第1ボルト79が挿入される第1ボルト挿入孔81がそれぞれ形成され、第1ボルト79が搬送ベルト支持部材60側から締結されることで、X線ラインセンサ51が搬送ベルト支持部材60に固定されるとともに、基板支持部材側結合部74bとシンチレータ支持部材側結合部76bが結合されている。
この構成により、第1ボルト79を締結することで、基板支持部材側結合部74bとシンチレータ支持部材側結合部76bを強固に結合させることができる。
また、接着のみの場合よりも更に強固に、X線ラインセンサ51を搬送ベルト支持部材60に固定することができる。
また、皿ネジ形状の第1ボルト79が搬送ベルト支持部材60側から締結されることで、第1ボルト79の頭部が搬送ベルト支持部材60の表面から突出して搬送ベルトに干渉することなく、X線ラインセンサ51を搬送ベルト支持部材60に固定することができる。
また、本実施形態に係るX線検査装置1において、基板支持部材74とシンチレータ支持部材76は、基板73を挟持する基板支持部材側基板挟持部74cおよびシンチレータ支持部材側基板挟持部76cをそれぞれ有し、基板支持部材側基板挟持部74cのシンチレータ支持部材側基板挟持部76c側の部位、シンチレータ支持部材側基板挟持部76cおよび基板73の平面視における同一部位に、第2ボルト80が挿入される第2ボルト挿入孔82がそれぞれ形成され、第2ボルト80が基板支持部材側基板挟持部74cの側から締結されることで、基板支持部材側基板挟持部74cとシンチレータ支持部材側基板挟持部76cが、基板73を共締めした状態で結合されている。
この構成により、第2ボルト80を締結することで、基板支持部材側基板挟持部74cとシンチレータ支持部材側基板挟持部76cを、基板を共締めした状態で強固に結合することができる。
また、基板支持部材側基板挟持部74cとシンチレータ支持部材側基板挟持部76cにより挟持された状態で、基板を安定して固定することができる。
また、第2ボルト挿入孔82が基板支持部材側基板挟持部74cのシンチレータ支持部材側基板挟持部76c側の部位に形成され、第2ボルト80が基板支持部材側基板挟持部74cの側から締結されることで、第2ボルト挿入孔82を基板支持部材側基板挟持部74cの搬送ベルト支持部材60側まで貫通させることなく、基板支持部材側基板挟持部74cとシンチレータ支持部材側基板挟持部76cを基板を共締めした状態で結合することができる。このため、異物や水等が第2ボルト挿入孔82を介して搬送ベルト支持部材60側から基板支持部材側基板挟持部74c側に通過するのを防止することができる。
また、第2ボルト80が基板支持部材側基板挟持部74cの側から締結されることで、基板支持部材側基板挟持部74cの搬送ベルト支持部材60側まで第2ボルト挿入孔82を貫通させることなく、基板支持部材側基板挟持部74cとシンチレータ支持部材側基板挟持部76cを基板を共締めした状態で結合することができる。
また、本実施形態に係るX線検査装置1において、シンチレータ支持部材76は、透明または黒色のPEEK樹脂またはPET樹脂からなる。
この構成により、フォトダイオードアレイ72で発生した光がシンチレータ支持部材76で反射して再度フォトダイオードアレイ72側に戻ってしまうことを防止することができる。
以上のように、本発明に係るX線検査装置は、X線ラインセンサの劣化速度を遅らせてX線ラインセンサの寿命を延ばすことができるとともに、高さ方向に装置を小型化することができるという効果を有し、被検査物を搬送しながらX線の照射を行うX線検査装置として有用である。
1 X線検査装置
2a 搬送ベルト
9 X線発生器
51 X線ラインセンサ
60 搬送ベルト支持部材
60a 開口部
60b 端面
60d 接触面
71 フォトダイオード
72 フォトダイオードアレイ
73 基板
74 基板支持部材
74a 基板支持部
74b 基板支持部材側結合部
74c 基板支持部材側基板挟持部
75 シンチレータ
76 シンチレータ支持部材
76a シンチレータ支持部
76b シンチレータ支持部材側結合部
76c シンチレータ支持部材側基板挟持部
76d 嵌合部
76e 凹部
76f 張り出し部
79 第1ボルト
80 第2ボルト
81 第1ボルト挿入孔
82 第2ボルト挿入孔
W 被検査物

Claims (7)

  1. X線を発生するX線発生器(9)と、
    X線を検出するX線ラインセンサ(51)と、
    上面に戴置された被検査物を搬送して前記X線発生器と前記X線ラインセンサとの間を通過させる搬送ベルト(2a)と、
    前記搬送ベルトを下方から支持する搬送ベルト支持部材(60)と、を備えるX線検査装置において、
    前記搬送ベルト支持部材は、前記X線発生器と前記X線ラインセンサとを結ぶ直線上に開口部(60a)を有し、
    前記X線ラインセンサは、
    複数のフォトダイオード(71)が直線状に並べられたフォトダイオードアレイ(72)が表面に実装される基板(73)と、
    前記基板を裏面から支持する基板支持部(74a)を有する基板支持部材(74)と、
    前記フォトダイオードアレイの前記X線発生器側に配置され、X線を光に変換するシンチレータ(75)と、
    前記搬送ベルト支持部材の前記開口部に装着されるとともに前記シンチレータを支持するシンチレータ支持部(76a)を有し、X線を透過する材料からなるシンチレータ支持部材(76)と、を備え、
    前記基板支持部材は、前記シンチレータ支持部材と結合する基板支持部材側結合部(74b)を有し、
    前記シンチレータ支持部材は、前記基板支持部材と結合するシンチレータ支持部材側結合部(76b)を有し、
    前記基板支持部と前記シンチレータ支持部との間に前記基板、前記フォトダイオードアレイおよび前記シンチレータが変位不能に位置決めされるよう、前記基板支持部材側結合部と前記シンチレータ支持部材側結合部とが結合され、
    前記シンチレータ支持部が前記搬送ベルト支持部材の前記開口部に液密に接着されることを特徴とするX線検査装置。
  2. 前記シンチレータ支持部は、前記シンチレータ側に窪む凹部(76e)が形成されるとともに前記搬送ベルト支持部材の前記開口部の端面(60b)に嵌め込まれる嵌合部(76d)を有し、
    前記嵌合部が前記搬送ベルト支持部材の前記開口部の端面に液密に接着されることを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
  3. 前記シンチレータ支持部は、前記嵌合部から前記搬送ベルト支持部材の延在方向に張り出す張り出し部(76f)を有し、
    前記搬送ベルト支持部材の開口部は、前記張り出し部と接触する接触面(60d)を有し、
    前記張り出し部が前記搬送ベルト支持部材の開口部の接触面に液密に接着されることを特徴とする請求項2に記載のX線検査装置。
  4. 前記シンチレータ支持部材側結合部が前記搬送ベルト支持部材に液密に接着されることを特徴とする請求項3に記載のX線検査装置。
  5. 前記搬送ベルト支持部材、前記基板支持部材側結合部および前記シンチレータ支持部材側結合部の平面視における同一部位に、皿ネジ形状の第1ボルト(79)が挿入される第1ボルト挿入孔(81)がそれぞれ形成され、
    前記第1ボルトが前記搬送ベルト支持部材側から締結されることで、前記X線ラインセンサが前記搬送ベルト支持部材に固定されるとともに、前記基板支持部材側結合部と前記シンチレータ支持部材側結合部が結合されることを特徴とする請求項1から請求項4の何れか1項に記載のX線検査装置。
  6. 前記基板支持部材と前記シンチレータ支持部材は、前記基板を挟持する基板支持部材側基板挟持部(74c)およびシンチレータ支持部材側基板挟持部(76c)をそれぞれ有し、
    前記基板支持部材側基板挟持部の前記シンチレータ支持部材側基板挟持部の側の部位、前記シンチレータ支持部材側基板挟持部および前記基板の平面視における同一部位に、第2ボルト(80)が挿入される第2ボルト挿入孔(82)がそれぞれ形成され、
    前記第2ボルトが前記基板支持部材側基板挟持部の側から締結されることで、前記基板支持部材側基板挟持部とシンチレータ支持部材側基板挟持部が、前記基板を共締めした状態で結合されることを特徴とする請求項1から請求項5の何れか1項に記載のX線検査装置。
  7. 前記シンチレータ支持部材は、透明または黒色のPEEK樹脂またはPET樹脂からなることを特徴とする請求項1から請求項6の何れか1項に記載のX線検査装置。
JP2014119236A 2014-06-10 2014-06-10 X線検査装置 Active JP6301207B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014119236A JP6301207B2 (ja) 2014-06-10 2014-06-10 X線検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014119236A JP6301207B2 (ja) 2014-06-10 2014-06-10 X線検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015232491A JP2015232491A (ja) 2015-12-24
JP6301207B2 true JP6301207B2 (ja) 2018-03-28

Family

ID=54934020

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014119236A Active JP6301207B2 (ja) 2014-06-10 2014-06-10 X線検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6301207B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2023017664A1 (ja) * 2021-08-10 2023-02-16

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU768044B2 (en) * 1999-10-21 2003-11-27 Foss Electric A/S Method and apparatus for determination of properties of food or feed
JP3860758B2 (ja) * 2002-02-07 2006-12-20 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器
JP2004037204A (ja) * 2002-07-02 2004-02-05 Hamamatsu Photonics Kk X線検出器及びこれを備えた検査システム
JP5728250B2 (ja) * 2011-03-01 2015-06-03 キヤノン株式会社 放射線検出装置、シンチレータパネル、それらの製造方法、および放射線検出システム
JP5996294B2 (ja) * 2012-06-21 2016-09-21 アンリツインフィビス株式会社 X線検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2015232491A (ja) 2015-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2011242374A (ja) X線検査装置
JP5706724B2 (ja) X線異物検出装置
WO2018034170A1 (ja) X線検査装置
JP5580609B2 (ja) X線異物検出装置およびx線異物検出方法
JP5452131B2 (ja) X線検出器およびx線検査装置
JP6301207B2 (ja) X線検査装置
JP5860305B2 (ja) X線異物検出装置
JP6830243B2 (ja) X線検査装置
WO2018097023A1 (ja) 放射線検出装置、放射線画像取得装置、及び放射線画像の取得方法
JP5894657B1 (ja) X線検査装置
JP2011089965A (ja) 物品検査装置
JP5996294B2 (ja) X線検査装置
JP6397213B2 (ja) X線検査装置
JP4109232B2 (ja) X線検査装置
JP6274939B2 (ja) X線検査装置
WO2019039329A1 (ja) 光検査装置、及び異常検出方法
JP2006329822A (ja) 電磁波検出器およびこれを備えた検査装置
JP5855530B2 (ja) X線検査装置
JP6401504B2 (ja) X線検査装置
US20240319118A1 (en) X-ray inspection apparatus
JP5420481B2 (ja) X線検査装置
JP2013205338A (ja) X線検査装置
JP3728257B2 (ja) X線異物検出装置
JP2009109227A (ja) 検査装置
CN111796336B (zh) 检查装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170515

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180220

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180228

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6301207

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250