JP6281312B2 - シリコンウェーハの製造方法 - Google Patents
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Description
エピタキシャルシリコンウェーハでは、シリコンウェーハにおける抵抗値と、エピタキシャル膜における抵抗値とが異なる場合、反りが発生することが知られている。この原因は、シリコンウェーハとエピタキシャル膜との格子定数のミスフィット(misfit)による弾性変形が生じるため、と考えられている。通常、この反りが大きくなると、デバイス製造工程におけるマスク合わせや、真空チャックによる保持等が困難となる不具合がある。
さらに、シリコンウェーハの研磨工程または研削工程において、シリコンウェーハの反り方向を故意に凹形状へ制御して、お椀状(ドーム状)にすることによりエピタキシャルシリコンウェーハの平坦度を向上させるエピタキシャルシリコンウェーハの製造方法が提案されている(例えば、特許文献2参照)。
この特許文献3では、互いに所定間隔をおいて配置された複数のメインローラ間にワイヤを巻回させたワイヤソーを用い、所望の反りを有するシリコンウェーハを得るシリコンウェーハの製造方法が提案されている。この製造方法では、インゴットを切断している間にそれぞれのメインローラを軸方向に変位させている。このメインローラの変位により、インゴットを切断しているワイヤがメインローラとともにインゴットの軸方向に移動し、切断後に得られるシリコンウェーハの表面に、そのワイヤの移動量に応じた所望の反りが形成される。
まず、波状ワイヤの構成について説明する。
図1(A)に示すように、波状ワイヤ7は、通常の直線状のワイヤに用いる線材71を螺旋状に癖付けすることで形成されている。なお、線材71の直径としては、0.12mm〜0.16mmが例示できる。また、線材71の材質としては、ブラスめっき炭素鋼が例示できる。
波状ワイヤ7は、その長手方向と直交する方向から見ると、波状(略正弦波状)に癖付けされている。癖付けのピッチP(図1(A)における互いに隣り合う最高点72の間隔)は、2.5mm〜5.0mmであることが好ましい。また、癖付けの変位D((図1(A)における最高点72と最低点73と距離d1)−(線材71の線径d2))は、6μm〜12μmであることが好ましい。
図1(B)に示すように、波状ワイヤ7では、インゴットTを切断するときに、隣り合う最高点72の間や、隣り合う最低点73の間に砥粒G1が入り込んだ状態で走行することが可能であるため、走行方向の前方側(ワイヤ抜け側)にも砥粒G1が十分に供給され、当該前方側の切削性が後方側(ワイヤ入り側)の切削性と同じように良くなると推定できる。
これに対し、図1(C)に示すように、通常の直線状のワイヤ9では、波状ワイヤ7のように砥粒G1が入り込む部分がないため、走行方向の前方側に砥粒G1が十分に供給されず、当該前方側の切削性が後方側の切削性より悪くなると推定できる。
次に、ワイヤソーの構成について説明する。
なお、以下において、図2の手前方向から観た場合を基準とし、方向を示した場合、「上」が+Z方向で「下(重力方向)」が−Z方向、「左」が+X方向で「右」が−X方向、「前」が−Y方向であって紙面に直交する手前方向で「後」が+Y方向であって奥方向とする。
図2に示すように、ワイヤソー1は、同一水平面上に2個、これら2個の中間の下方に1個配置された合計3個のメインローラ2を備えている。これら3個のメインローラ2の周りには、軸方向(前後方向)に沿って螺旋状に波状ワイヤ7が巻き付けられている。波状ワイヤ7の両端側には、それぞれ1個ずつのガイドローラ3を介して波状ワイヤ7を送り出したり巻き取ったりするワイヤリール41,42が設けられている。また、各ガイドローラ3とワイヤリール41,42との間には、それぞれトラバーサー43,44が設けられている。トラバーサー43,44は、波状ワイヤ7の送り位置、巻取り位置を調整する機能を有している。さらに、上側の2個のメインローラ2(以下、上側メインローラ21と称す)の上方には、2個の上側メインローラ21の中間位置にスラリー状の砥液Gを供給するノズル5がそれぞれ設けられている。また、ノズル5の上方には、インゴットTを保持して昇降させる送り手段6が設けられている。
ここで、通常、シリコンウェーハを反らせないために、インゴットTを波状ワイヤ7に対して重力方向に直線的に下降させる。このため、外部の影響を受けない場合のインゴットTの切断方向(以下、切断目標方向と称す)は、重力方向と反対方向となる。また、シリコンウェーハを反らせないために、波状ワイヤ7をインゴットTの軸方向に対して略直交する方向に直線的に走行させる。このため、外部の影響を受けない場合の波状ワイヤ7の走行方向(以下、ワイヤ走行目標方向と称す)は、直線的になる。
まず、以下のような仮説に基づく実験1を行った。
図2に示すワイヤソー1において、波状ワイヤ7を前から後ろに向けて、かつ、前から見て左巻きの螺旋状に巻き付けた場合を考える。このような状態で、波状ワイヤ7が上側メインローラ21間を左方向に走行するように、トラバーサ43,44を駆動するとともに、3個のメインローラ2とワイヤリール41,42とを回転させると、波状ワイヤ7は、メインローラ2と平行な一方向に進行する(以下、このときの進行方向(図2に示す場合にあっては後ろに向かう方向)を、ワイヤ進行方向と称す)。
なお、波状ワイヤ7が一方向に進行するとは、例えば、波状ワイヤ7をワイヤリール42からワイヤリール41に一方的に送り出す態様だけでなく、ワイヤリール42から送り出してワイヤリール41で巻き取る波状ワイヤ7の長さが、ワイヤリール41から送り出してワイヤリール42で巻き取る波状ワイヤ7の長さより長くなるように、波状ワイヤ7を往復に走行させて、波状ワイヤ7を一方向に進行させる態様も含む。
この切断の際、ワイヤ進行方向が図2における後ろ方向であって、波状ワイヤ7が上側メインローラ21間で左方向に走行する場合、波状ワイヤ7は、図3(B),(C)に示すように、メインローラ2に巻き付けられた軌跡に倣って、左方向に旋回しながら(ねじれながら)走行する。この場合、旋回入り側T1では、砥粒G1が潤沢に供給され、切削性が良くなる。一方、旋回出側T2では、インゴットTの切り粉T3によって目詰まりが起こり、切削性が悪くなる。
なお、波状ワイヤ7は、波状に癖付けされているが、張力が作用する状態で走行するため、略直線状に伸ばされた状態で走行する。
なお、ワイヤ進行方向を図2における前方向にした場合、シリコンウェーハWFの切断方向の反りは、図3(D)に示す状態とは逆に、上下方向中央部が図2における前側に凹む円弧状になると推定できる。
その結果、図4(B)に示すように、シリコンウェーハWFの形状を波状ワイヤ7の走行方向に測定した場合の反り(以下、走行方向の反りと称す)は、左右方向中央部(図4(B)における上下方向中央部)が、図2における後ろ側(図4(B)における右側)、すなわちワイヤ進行方向側に凹む円弧状になると推定できる。
なお、ワイヤ進行方向を図2における前方向にした場合、シリコンウェーハWFの走行方向の反りは、図4(B)に示す状態とは逆に、上下方向中央部が図2における前側(図4(B)における左側)に凹む円弧状になると推定できる。
以上のことから、波状に癖付けされた波状ワイヤ7を用いてインゴットTを切断することにより、中央部が一方向(ワイヤ進行方向)に凹むドーム状に反った複数のシリコンウェーハWFを得られる可能性があると推定した。
上述のワイヤソー1を用い、以下の表1に示すようなワイヤを用い、表2に示すような実験例1−1,1−2の条件、比較例1−1,1−2の条件で、インゴットTを切断してシリコンウェーハWFを製造した。
なお、表1中、直線状ワイヤとは、波状や螺旋状等の所定形状の癖付けがされていない直線状のワイヤを意味する。
また、各ワイヤは、上述の仮説で説明したような状態でメインローラ2に巻き付けた。
さらに、ワイヤ進行方向を前方向にする際には、波状ワイヤ7を上述の仮説の場合と同じようにメインローラ2に巻き付けた構成において、波状ワイヤ7が上側メインローラ21間を右方向に走行するように、3個のメインローラ2とワイヤリール41,42とを回転させた。
また、直径が300mmのインゴットTを用いた。
シリコンウェーハを製造する際、切断初期(例えば、波状ワイヤ7が図3(A)の実線で示す位置を切断している場合)および切断終期(例えば、波状ワイヤ7が図3(A)の二点鎖線で示す位置を切断している場合)におけるインゴットとワイヤとの接触部分は、切断中期(例えば、波状ワイヤ7が図3(A)の一点鎖線で示す位置を切断している場合)の接触部分と比べて短くなる。このため、切断初期および切断終期にワイヤに作用する負荷は、切断中期に作用する負荷より小さくなる。
そこで、切断中にワイヤに作用する負荷の差を最小限に抑えるために、切断中期のフィード速度を、切断初期および切断終期のフィード速度よりも遅くしている。
図5に示すように、実験例1−1,1−2のシリコンウェーハについては、切断方向および走行方向の両方において、外縁部に対して略中央部がワイヤ進行方向と同じ方向(実験例1−1については図2における後ろ側、実験例1−2については前側)に凹む形状であることが確認できた。
このことから、実験例1−1,1−2のシリコンウェーハでは、切断方向および走行方向において、外縁部に対して略中央部が、ワイヤ進行方向と同じ方向に凹むドーム状に反っていると推定できる。すなわち、上記仮説が正しいことが確認できた。
一方、図6に示すように、比較例1−1,1−2のシリコンウェーハについては、切断方向および走行方向において、反り形状にワイヤ進行方向との相関が見られない。
通常、インゴットの切断により得られたシリコンウェーハに対し、エピタキシャル膜を形成する前に両面の研削が行われる。波状ワイヤ7を用いることで得られたシリコンウェーハの反りが、研削を行うことで消失してしまう可能性がある。
そこで、両面の研削により、シリコンウェーハの反りが消失しないことを確認する実験を行った。
本発明は、このような知見に基づいて完成されたものである。
なお、波状ワイヤとしては、長手方向の一端側から見たときに、円に見えるように螺旋状に癖付けしたものであっても良いし、長手方向の一端側から見たときに、直線に見えるように単に波状に癖付けしたものであっても良い。
そこで、本発明者は、鋭意研究を重ねた結果、フィード速度を適切に設定することで、切断方向の反りが滑らかな円弧状となるシリコンウェーハが得られる可能性があることに着目した。そこで、本発明者は、以下の実験3を行った。
まず、円柱状のインゴットのフィード速度をF、ワイヤとインゴットとの接触部分の長さをLとして、インゴットを切断する際のワイヤの仕事量Wを、以下の式(1)のように定義した。
W=F×L … (1)
実験1において説明したように、切断中期のフィード速度を、切断初期および切断終期のフィード速度よりも遅くしている。このため、図8に示すように、切断初期から切断中期に移行する前後、切断中期から切断終期に移行する前後には、仕事量Wの変化の割合が大きく異なっている。
一方、シリコンウェーハの切断方向の反りの形状に着目すると、仕事量Wの推移とほぼ一致することが確認できた。
以上のことから、仕事量Wが、インゴットの直径が最大となる切断位置で最大値となる略円弧状に変化するように、フィード速度を制御することで、切断方向の反りが略円弧状となるシリコンウェーハが得られると推定できる。すなわち、仕事量Wが滑らかな曲線状に変化するように、フィード速度を制御することで、切断方向の反りが滑らかな円弧状となるシリコンウェーハが得られると推定できる。
本発明の好ましい態様は、このような知見に基づいて完成されたものである。
図9(A),(B)に示すように、切断方向および走行方向の両方について、エピタキシャル膜形成後のシリコンウェーハの反りは、インゴット(シリコンウェーハ)の直径が最大となる中心位置を中心にした、直径の50%(0.5×R(直径))の範囲(以下、切断中央範囲Aと称す)が特に大きくなることが確認できた。
このことから、エピタキシャル膜形成前に切断中央範囲Aの反りを大きくすることで、切断中央範囲Aにおけるエピタキシャル膜形成後の反りが小さくなると推定できる。そこで、この推定が正しいかを確認する実験4を行った。
まず、直線状ワイヤで製造したシリコンウェーハに対して研削を行い、強制的に切断中央範囲Aの反りを大きくした。そして、このシリコンウェーハについて、エピタキシャル膜を形成する前後の形状を調べた。その結果を図10(A),(B)に示す。図10(A),(B)に示すように、切断方向および走行方向の両方について、エピタキシャル膜形成後の切断中央範囲Aのシリコンウェーハの反りは、図9(A),(B)に示す場合と比べて小さくなることが確認できた。
なお、図9,10に結果を示すシリコンウェーハの直径は、300mmである。
このことから、切断中央範囲Aにおける仕事量Wを制御して、当該切断中央範囲Aにおける反りを大きくすることで、エピタキシャル膜形成後の反りを小さくできると推定できる。
実験3の結果に基づく推定では、シリコンウェーハの切断方向の反りと仕事量Wとの推移がほぼ一致するため、フィード速度を略一定にした場合、シリコンウェーハの切断方向の反りの形状は、図11に示す仕事量Wの推移とほぼ一致すると推定できる。この場合、切断中央範囲Aの反りは、図9(A)に反り形状を示すシリコンウェーハよりも大きくなると推定できる。
そして、仕事量Wが図11に示すように変化する場合、切断位置がインゴットの中心位置の場合の仕事量をWmax、切断中央範囲Aでの仕事量をWcntとすると、以下の式(2)の関係が満たされる。
Wcnt≧0.85×Wmax … (2)
本発明の好ましい態様は、このような知見に基づいて完成されたものである。
そこで、本発明者は、以下の実験5を行った。
張力を10N、15N、25N、30Nとしたこと以外は、上記実験1の実験例1−1と同様の条件で直径が300mmのインゴットを切断した。
その結果、張力が10N、30Nの場合に断線が発生し、15N、25Nの場合に断線が発生しないことが確認できた。
また、張力が15N、25Nの条件で製造したシリコンウェーハについて、WarpとBowとを算出した。Warpの算出結果を図12(A)に、Bowの算出結果を図12(B)にそれぞれ示す。
本発明の好ましい態様は、このような知見に基づいて完成されたものである。
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
本実施形態においては、図2に示すようなワイヤソー1を用いて、インゴットTを切断する。ここで、インゴットTの形状は特に限定されないが、通常は円柱状である。また、インゴットTの直径は特に限定されないが、通常、100mm〜450mmである。
そして、トラバーサ43,44を駆動するとともに、複数のメインローラ2とワイヤリール41,42とを回転させることで、波状ワイヤ7をメインローラ2の軸方向と略直交する方向に走行させ(ワイヤ走行工程)、2個の上側メインローラ21間に砥液Gを供給しつつ、インゴットTを下降させて走行中の波状ワイヤ7に押し当てることで、インゴットTを切断して複数のシリコンウェーハWFを製造する(切断工程)。
この際、インゴットTの直径が最大となる切断位置で、仕事量Wが最大値となるように、フィード速度を設定しても良い。また、このように、仕事量Wが略円弧状に変化するように切断位置によってフィード速度を変更しても良いし、切断位置によらずフィード速度を略一定にしても良い。
また、切断中央範囲Aの仕事量Wcntが上記式(2)の関係を満たすように、フィード速度を制御しても良い。
さらに、図11に示すように、切断中央範囲Aの下端側端部(中央から、下端側に直径(R)の25%移動した位置)Abでの仕事量をWb、上端側端部(中央から、上端側に直径(R)の25%移動した位置)Atでの仕事量をWtとした場合、仕事量Wbと仕事量Wtとは同じであっても良いし、異なっていてもよい。
上述したように、上記実施形態では、以下のような作用効果を奏することができる。
なお、本発明は上記実施形態にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の改良ならびに設計の変更などが可能である。
また、切断中央範囲Aの仕事量Wcntが上記式(2)の関係を満たさないように、フィード速度を制御しても良い。
7…波状ワイヤ(ワイヤ)
T…インゴット
WF…シリコンウェーハ
Claims (5)
- 波状に癖付けされた波状ワイヤが螺旋状に巻き付けられた複数のメインローラを回転させることで、前記波状ワイヤを前記メインローラの軸方向と略直交する方向に走行させるワイヤ走行工程と、
前記波状ワイヤにインゴットを押し当てることで前記インゴットを切断し、外縁部に対して中央部が一方向に凹むドーム状に反った複数のシリコンウェーハを製造する切断工程とを行うことを特徴とするシリコンウェーハの製造方法。 - 請求項1に記載のシリコンウェーハの製造方法において、
前記切断工程は、
円柱状のインゴットを前記波状ワイヤに押し当てるときの前記インゴットのフィード速度をF、
前記波状ワイヤと前記インゴットとの接触部分の長さをLとして、
前記円柱状のインゴットにおける当該インゴットの径方向の切断位置に対して、以下の式(1)で定義される仕事量Wが、前記インゴットの直径が最大となる切断位置で最大値となる略円弧状に変化するように、前記インゴットの前記フィード速度を制御することを特徴とするシリコンウェーハの製造方法。
W=F×L … (1) - 請求項2に記載のシリコンウェーハの製造方法において、
前記切断工程は、
前記インゴットの直径が最大となる切断位置での仕事量をWmax、
前記直径が最大となる切断位置を中心とした前記直径の50%の範囲での仕事量をWcntとして、
以下の式(2)で示す関係を満たすように前記インゴットの前記フィード速度を制御することを特徴とするシリコンウェーハの製造方法。
Wcnt≧0.85×Wmax … (2) - 請求項2または請求項3に記載のシリコンウェーハの製造方法において、
前記切断工程は、前記インゴットの切断開始から切断終了までの間、前記インゴットの前記フィード速度を略一定に維持するように制御することを特徴とするシリコンウェーハの製造方法。 - 請求項1から請求項4のいずれかに記載のシリコンウェーハの製造方法において、
前記切断工程は、張力が15N以上25N以下に設定された前記波状ワイヤに前記インゴットを押し当てることを特徴とするシリコンウェーハの製造方法。
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