JP6241600B2

JP6241600B2 - クロック生成装置、電子機器、移動体及びクロック生成方法

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Publication number: JP6241600B2
Application number: JP2013227071A
Authority: JP
Inventors: 鳥海　裕一; 裕一鳥海
Original assignee: Seiko Epson Corp
Current assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 2013-10-31
Filing date: 2013-10-31
Publication date: 2017-12-06
Anticipated expiration: 2033-10-31
Also published as: US20150116021A1; CN104601144A; US9252749B2; CN104601144B; JP2015088025A

Description

本発明は、クロック生成装置、電子機器、移動体及びクロック生成方法に関する。

特許文献１では、サブクロックの１周期に含まれるメインクロックのパルス数をカウントし、カウントしたパルス数と予め定められた基準パルス数とを用いて、サブクロックの１周期に含まれるメインクロックのパルス数が基準パルス数と一致するように、メインクロックの一部をマスクして出力するクロック補正回路が提案されている。

特開２００６−３０９４７９号公報

しかしながら、特許文献１で提案されているクロック補正回路では、クロック補正値の更新周期が常に一定であるため、温度変化が激しい環境では、クロック補正値の更新周期が長すぎて、温度変動によるメインクロックの周波数変動を十分に補正することができずに出力クロックの周波数安定度が劣化する場合があり、逆に、温度変化が緩やかな環境では、クロック補正値の更新周期が短すぎて、メインクロックのパルス数のカウント動作に伴う電流が無駄に消費される場合があるという問題がある。

本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様によれば、無駄な消費電力を低減しながら周波数安定度が比較的高いクロック信号を生成可能なクロック生成装置、電子機器、移動体及びクロック生成方法を提供することができる。

本発明は前述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の態様または適用例として実現することが可能である。

［適用例１］
本適用例に係るクロック生成装置は、第３クロック信号を基準として第１クロック信号と基準周波数値との周波数比を測定し、前記周波数比の測定結果に基づき前記第１クロック信号の一部のクロックがマスクされた第２クロック信号を生成し、前記周波数比の測定結果と前記周波数比の測定結果のＮ個（Ｎは自然数）の平均値との差分が第１基準値よりも大きいときに前記第３クロック信号の周波数温度特性の補償値を更新する。

本適用例に係るクロック生成装置は、Ｎ＝１の場合、すなわち、今回の周波数比の測定結果と前回の周波数比の測定結果との差分が第１基準値よりも大きいときに第３クロック信号の周波数温度特性の補償値を更新する場合も含む。

本適用例に係るクロック生成装置によれば、環境温度の変動が急峻の時は、周波数比の測定結果と周波数比の測定結果のＮ個の平均値との差分が第１基準値よりも大きくなるため、強制的に第３クロック信号の周波数温度特性の補償値（温度補償値）を更新することで、第３クロック信号の周波数安定度を維持することができる。これにより、第３クロック信号の周波数安定度に応じた高い周波数安定度の第２クロック信号を生成することがで
きる。

また、本適用例に係るクロック生成装置によれば、第１のクロック信号の一部のクロックをマスクすることで、第１クロック信号の周波数可変機構（温度補償回路など）を不要にあるいは簡略化しながら、所望の周波数（所望の平均周波数）の第２のクロック信号を生成することができる。

［適用例２］
上記適用例に係るクロック生成装置において、前記差分が第１基準値以内のときは、前記補償値を間欠的に更新するようにしてもよい。

本適用例に係るクロック生成装置によれば、環境温度の変動が緩やかな時は、周波数比の測定結果と周波数比の測定結果のＮ個の平均値との差分が第１基準値以内となるため、第３クロック信号の温度補償値を間欠的に更新することで、第３クロック信号の周波数安定度を維持することができる。そして、本適用例に係るクロック生成装置によれば、環境温度の変動が急峻の時は強制的に第３クロック信号の温度補償値を更新するので、第３クロック信号の温度補償値を間欠的に更新する周期を比較的長くすることができる。これにより、不要な温度補償値の更新により消費される電力を低減しながら、第３クロック信号の周波数安定度に応じた高い周波数安定度の第２クロック信号を生成することができる。

［適用例３］
上記適用例に係るクロック生成装置は、前記第２クロック信号を生成するクロックゲート部と、前記周波数比を測定する周波数測定部と、前記補償値を出力する補償手段を備え、前記補償値に基づき温度補償された前記第３クロック信号を出力する発振用回路と、前記平均値を出力する平均値出力部と、前記周波数比の測定結果と前記平均値とを比較し、前記差分が前記第１基準値よりも大きいときに前記補償手段に前記補償値を更新させる比較部と、を含むようにしてもよい。

本適用例に係るクロック生成装置によれば、比較的簡単な構成で周波数安定度が比較的高い第２クロック信号を生成可能なクロック生成装置を実現することができる。

［適用例４］
上記適用例に係るクロック生成装置において、前記補償手段は、温度検出信号を出力する温度検出部を備え、前記比較部は、前記差分が前記第１基準値よりも大きいときに、前記温度検出部に、出力する前記温度検出信号を更新させるようにしてもよい。

本適用例に係るクロック生成装置によれば、例えば、周波数比の測定結果と周波数比の測定結果のＮ個の平均値との差分が第１基準値以内のときは、温度検出部を間欠的に動作させて温度検出信号を更新し、あるいは、温度検出信号を保持したまま温度検出部を停止させることにより、温度検出部で消費される電力を低減することができる。

［適用例５］
上記適用例に係るクロック生成装置は、前記差分に基づき前記補償値の更新間隔を制御するようにしてもよい。

本適用例に係るクロック生成装置によれば、環境温度の変動は、周波数比の測定結果と周波数比の測定結果のＮ個の平均値との差分が大きいほど激しく、当該差分が小さいほど緩やかなので、当該差分に基づき第３クロック信号の温度補償値の更新間隔を適切に制御することにより、不要な温度補償値の更新により消費される電力を低減しながら、第３クロック信号の周波数安定度に応じた高い周波数安定度の第２クロック信号を生成すること
ができる。

［適用例６］
上記適用例に係るクロック生成装置は、検出部をさらに含み、前記比較部は、前記差分に応じた値を出力し、前記検出部は、前記第２クロック信号のクロック数と前記比較部の出力値とを比較し、比較結果に基づき前記補償値の更新間隔を制御するようにしてもよい。

本適用例に係るクロック生成装置によれば、比較的簡単な構成で無駄な消費電力を低減しながら周波数安定度が比較的高い第２クロック信号を生成可能なクロック生成装置を実現することができる。

［適用例７］
上記適用例に係るクロック生成装置において、前記比較部は、前記差分が前記第１基準値よりも小さい第２基準値以内のとき、前記差分が前記第２基準値よりも大きいときよりも大きい値を出力するようにしてもよい。

本適用例に係るクロック生成装置によれば、周波数比の測定結果と周波数比の測定結果のＮ個の平均値との差分が第２基準値以内の時（環境温度の変動が相対的に緩やかな時）の方が、当該差分が第２基準値よりも大きい時（環境温度の変動が相対的に激しい時）よりも第３クロック信号の温度補償値の更新間隔を長くすることができる。これにより、不要な温度補償値の更新により消費される電力を低減しながら高い周波数安定度の第２クロック信号を生成することができる。

［適用例８］
上記適用例に係るクロック生成装置において、前記平均値は、前記周波数比の測定結果のＮ個の移動平均値であってもよい。

本適用例に係るクロック生成装置によれば、周波数比の測定結果と周波数比の測定結果のＮ個の移動平均値との差分に基づき、環境温度の変動をより確実に検出し、第３クロック信号の温度補償値の更新間隔をより適切に制御することができる。

［適用例９］
本適用例に係る電子機器は、上記のいずれかのクロック生成装置を含む。

［適用例１０］
上記適用例に係る電子機器は、前記クロック生成装置が出力する前記第２クロック信号に同期して時刻情報を生成するリアルタイムクロック装置をさらに含むようにしてもよい。

［適用例１１］
本適用例に係る移動体は、上記のいずれかのクロック生成装置を含む。

［適用例１２］
本適用例に係るクロック生成方法は、第３クロック信号を基準として第１クロック信号と基準周波数値との周波数比を測定するステップと、前記周波数比の測定結果に基づき前記第１クロック信号の一部のクロックがマスクされた第２クロック信号を生成するステップと、前記周波数比の測定結果と前記周波数比の測定結果のＮ個（Ｎは自然数）の平均値との差分が第１基準値よりも大きいときに前記第３クロック信号の周波数温度特性の補償値を更新するステップと、を含む。

本実施形態のクロック生成装置の構成例を示す図。発振用回路３０の構成例を示す図。周波数測定部１０の構成例を示す図。周波数測定部１０の出力信号値とマスク数との関係の説明図。測定時間、基準値、２５ＭＨｚのカウント値、マスク数、補正時間及び補正精度の関係の一例を示す図。マスク信号生成部１１の構成例を示す図。マスク信号生成部１１の動作のタイミングチャートの一例を示す図。周波数測定制御部１３の構成例を示す図。周波数測定制御部１３の動作のタイミングチャートの一例を示す図。第１実施形態における温度補償制御部１８の構成例を示す図。図１１（Ａ）及び図１１（Ｂ）はマスク信号の生成処理を示すフローチャート図、図１１（Ｃ）は第１実施形態における温度補償値の更新処理を示すフローチャート図。一次電源から電源電圧が供給されていない時のタイミングチャートの一例を示す図。周波数変換部１５の構成例を示す図。マスク信号生成部１５２の構成例を示す図。一次電源からの電源電圧の供給が停止する前後のタイミングチャートの一例を示す図。第２実施形態における温度補償制御部１８の構成例を示す図。第２実施形態における温度補償制御部１８の動作のタイミングチャートの一例を示す図。第２実施形態における温度補償値の更新処理を示すフローチャート図。本実施形態の電子機器の機能ブロック図。本実施形態の電子機器の外観の一例を示す図。本実施形態の移動体の一例を示す図。

以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。

１．クロック生成装置
１−１．第１実施形態
図１は、第１実施形態のクロック生成装置の構成例を示す図である。第１実施形態のクロック生成装置１は、周波数測定部１０、マスク信号生成部１１、クロックゲート部１２、周波数測定制御部１３、ＡＮＤ回路１４、周波数変換部１５、クロック選択部１６、ＡＮＤ回路１７、温度補償制御部１８、発振回路２０、発振用回路３０、スイッチ回路４０、ダイオード４２及びダイオード４４を含んで構成されており、１チップの集積回路（ＩＣ）として実現されている。ただし、本実施形態のクロック生成装置１は、これらの要素の一部を省略又は変更し、あるいは他の要素を追加した構成としてもよい。

本実施形態のクロック生成装置１は、さらに、一次電源（Primary Power Supply）と接続され、一次電源からの電源電圧ＶＤＤ１（第１の電源電圧）が供給される電源端子Ｐ１（第１の電源端子）、二次電源（Secondary Power Supply）と接続され、二次電源からの電源電圧ＶＤＤ２（第２の電源電圧）が供給される電源端子Ｐ２（第２の電源端子）、２つのクロック信号ＣＫ６，ＣＫ７をそれぞれ出力するための出力端子Ｐ３，Ｐ４、及び、
水晶振動子２を接続するための２つの端子Ｐ５，Ｐ６及び接地端子Ｐ７を有している。

Ｐ１端子に接続される一次電源は、ＡＣ電源や大容量のリチウムイオンバッテリー等であり、電源電圧ＶＤＤ１は、クロック生成装置１を含む機器（例えば、ノートＰＣやタブレットＰＣ）の電源が切られ、あるいはパワーセーブモード時などには、Ｐ１端子に供給されなくなる。一方、Ｐ２端子に接続される二次電源は、小容量のコインバッテリー等であり、電源電圧ＶＤＤ２は常に供給される。

発振回路２０は、Ｐ２端子からダイオード４４を介して供給される電源電圧ＶＤＤ２で動作し、所定の周波数（本実施形態では３２．７６８ｋＨｚ）よりも高い周波数（３２．７６８ｋＨｚ＋α）で発振する回路である。発振回路２０は、例えば、ＣＲ発振回路、ＬＣ発振回路、発振手段を備えているＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路、シリコンＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）等で実現される。本実施形態では、発振回路２０は、製造ばらつき、動作温度範囲、動作電圧範囲等のあらゆる条件のもとで、常に３２．７６８ｋＨｚよりも高い周波数で発振する。例えば、設計段階において、発振回路２０が最も低い周波数になる条件でも３２．７６８ｋＨｚよりも高くなるようにＴｙｐｉｃａｌ条件での周波数に大きなマージンを確保しておく方法や、発振回路２０の周波数を調整可能に設計し、設計段階である程度のマージンを確保した上で出荷検査時に最も低い周波数になる条件でも必ず３２．７６８ｋＨｚよりも高くなるように発振回路２０の周波数を個別に調整する方法等が考えられる。

発振用回路３０は、Ｐ５端子とＰ６端子の間に接続されており、Ｐ１端子からダイオード４２を介して供給される電源電圧ＶＤＤ１で動作し、水晶振動子２を所定の周波数（本実施形態では２５ＭＨｚ）で発振させ、クロック信号ＣＫ３（第３クロック信号）を出力する。電源電圧ＶＤＤ１がＰ１端子に供給されなくなると、スイッチ回路４０がオフの期間は発振用回路３０の動作が停止し、スイッチ回路４０がオンの期間は、発振用回路３０はＰ２端子からダイオード４４を介して供給される電源電圧ＶＤＤ２で動作する。

また、発振用回路３０は、水晶振動子２の発振周波数の温度補償機能を有し、後述する温度補償制御部１８が出力する温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮがハイレベルの時、温度を測定し、クロック信号ＣＫ３の周波数温度特性の補償値（温度補償値）を更新する。

図２に、本実施形態における発振用回路３０の構成例を示す。図２の例では、発振用回路３０は、温度センサー３１、Ａ／Ｄ変換器３２、レジスター３３、デコーダー３４、容量アレイ３５、増幅回路３６、出力バッファー３７及びメモリー３８を含んで構成されている。

温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮがハイレベルの時、温度センサー３１は温度に応じた電圧値のアナログ信号を出力し、Ａ／Ｄ変換器３２は温度センサー３１の出力信号をデジタル値に変換する。このＡ／Ｄ変換器３２が出力する温度測定結果のデジタル値は、レジスター３３に格納される。すなわち、温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮがハイレベル時は、温度測定が終了すると、レジスター３３の出力値が最新の温度測定結果のデジタル値に更新される。

一方、温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮがローレベルの時は、温度センサー３１とＡ／Ｄ変換器３２は動作を停止する。従って、温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮがローレベルの時は、レジスター３３の出力値は更新されない。

容量アレイ３５は、水晶振動子２を発振させる増幅回路３６の負荷容量回路であり、複
数の容量素子と複数のスイッチにより構成され、スイッチの開閉を選択することで負荷容量値を可変に設定可能になっている。

メモリー３８は、不揮発性のメモリーであり、温度測定結果のデジタル値とクロック信号ＣＫ３の周波数温度特性を温度補償するための負荷容量値、すなわち、容量アレイ３５の各スイッチの開閉情報との対応関係を規定する温度補償情報を記憶している。

デコーダー３４は、メモリー３８に記憶されている温度補償情報を参照し、レジスター３３の出力値に応じた容量アレイ３５の各スイッチの制御信号を出力する。この制御信号が温度補償値に相当する。温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮがハイレベルになる毎に、レジスター３３の出力値が最新の温度測定結果のデジタル値に更新され、これに応じて、デコーダー３４が出力する制御信号（温度補償値）も更新される。

増幅回路３６は、温度に応じてデコーダー３４により可変に設定される容量アレイ３５の容量値を負荷容量値として水晶振動子２を発振させる。本実施形態では、増幅回路３６は水晶振動子２を２５ＭＨｚで発振させる。この２５ＭＨｚの発振信号は出力バッファー３７を介してクロック信号ＣＫ３として出力される。

発振用回路３０が出力する２５ＭＨｚのクロック信号ＣＫ３は、発振回路２０が出力する３２．７６８ｋＨｚ＋αのクロック信号ＣＫ１よりも周波数精度が高く（周波数偏差が小さく）、周波数安定度も高い。そこで、本実施形態では、周波数測定部１０、マスク信号生成部１１及びクロックゲート部１２において、クロック信号ＣＫ３を用いてクロック信号ＣＫ１の周波数３２．７６８ｋＨｚ＋αを測定し、測定結果に応じて補正された３２．７６８ｋＨｚのクロック信号ＣＫ２を生成する。

周波数測定部１０は、クロック信号ＣＫ３を基準として、クロック信号ＣＫ１（第１クロック信号）の周波数と基準周波数値（３２．７６８ｋＨｚ）との比を測定する。この測定値は１回の補正に要する時間（以下、単に「補正時間」という）Ｔ_ｃｏｍｐにおけるクロック信号ＣＫ１のクロックのマスク数と等しい。本実施形態では、周波数測定部１０は、後述する周波数測定制御部１３が出力する周波数測定開始信号ＭＥＡＳ＿ＳＴ（パルス信号）が入力されると、クロック信号ＣＫ１の周波数と基準周波数値（３２．７６８ｋＨｚ）との比の測定（以下、「周波数比測定」という）を開始する。

特に、本実施形態では、周波数測定部１０は、クロック信号ＣＫ１の所与のクロック数に相当する時間（測定時間Ｔ_ｍｅａｓ）に含まれるクロック信号ＣＫ３のクロック数をダウンカウントすることにより、ダウンカウントしたカウント値と、補正時間Ｔ_ｃｏｍｐにおけるクロック信号ＣＫ１のクロックのマスク数が等しくなる。

図３は、本実施形態における周波数測定部１０の構成例を示す図である。図３の例では、周波数測定部１０は、ダウンカウンター１０１、ダウンカウンター１０２、測定終了判定回路１０３を含んで構成されている。

ダウンカウンター１０１は、周波数測定開始信号ＭＥＡＳ＿ＳＴが供給されるまではローレベルの信号を出力し、周波数測定開始信号ＭＥＡＳ＿ＳＴが供給されるとハイレベルの信号を出力し、このクロック信号ＣＫ１のＮクロックをダウンカウントする。ダウンカウンター１０１の出力は、クロック信号ＣＫ１のＮクロックに相当する時間、ハイレベルを保持する。このダウンカウンター１０１の出力信号は周波数比の測定中であることを示す周波数測定イネーブル信号ＭＥＡＳ＿ＥＮであり、ハイレベルを保持する時間が測定時間Ｔ_ｍｅａｓになる。例えば、Ｎ＝１０２４の場合、測定時間Ｔ_ｍｅａｓはクロック信号ＣＫ１の１０２４クロック分に相当する時間である。

ダウンカウンター１０２は、ダウンカウンター１０１の出力信号がハイレベルを保持する間に入力されたクロック信号ＣＫ３のクロック数をダウンカウントする。ダウンカウンター１０２の初期値は、３２．７６８ｋＨｚのＮ周期に相当する期間を２５ＭＨｚでカウントしたときのカウント値（＝２５ＭＨｚ／３２．７６８ｋＨｚ×Ｎ）である。

測定終了判定回路１０３は、ダウンカウンター１０１の出力信号のハイレベルからローレベルへの変化を検出すると、周波数測定終了信号ＭＥＡＳ＿ＥＮＤ（パルス信号）を発生させ、後述する温度補償制御部１８に出力する。

このように構成された周波数測定部１０の出力信号値（ダウンカウンター１０２の出力信号値）Ｋを測定することで、補正時間Ｔ_ｃｏｍｐあたりのクロック信号ＣＫ１のクロックのマスク数と等しい値を得ることができる。

次に、図４（Ａ）及び図４（Ｂ）を用いて、信号値Ｋとマスク数との関係について説明する。３２．７６８ｋＨｚの５１２クロック分に相当する時間は１５．６２５ｍｓであり（図４（Ａ）の一点鎖線）、この１５．６２５ｍｓは、２５ＭＨｚの３９０６２５クロック分に相当する時間と一致する（図４（Ｂ）の実線）。前述の通り、この３９０６２５は基準値Ｆに相当する。

また、３２．７６８ｋＨｚ＋αの周期が３２．７６８ｋＨｚの周期の１０％減（α＝３２．７６８ｋＨｚ×１／９）に相当する場合は、３２．７６８ｋＨｚ＋αの５１２クロック分に相当する時間（測定時間Ｔ_ｍｅａｓに相当する）は１４．０６２５ｍｓであり（図４（Ａ）の実線）、この１４．０６２５ｍｓは、２５ＭＨｚの３５１５６２クロック分に相当する時間とほぼ一致する（図４（Ｂ）の実線）。この３５１５６２は、３９０６２５（基準値Ｆ）を初期値としたダウンカウンター１０２のカウント値の減少値に相当し、測定時間Ｔ_ｍｅａｓの経過後のダウンカウンター１０２の値は、ダウンカウンター１０２の初期値３９０６２５（基準値Ｆ）と３５１５６２（ダウンカウンター１０２のカウント値の減少値）との差である３９０６３となる。この値は、信号値Ｋに等しい。

一方、３２．７６８ｋＨｚ＋αの周期は３２．７６８ｋＨｚの周期の１０％減であるから、３２．７６８ｋＨｚ＋αを３２．７６８ｋＨｚに補正するためには１０％分のクロックをマスクすればよい。従って、３２．７６８ｋＨｚ＋αの３９０６２５クロック（基準値Ｆ）に対してそのほぼ１０％分の３９０６３クロック（信号値Ｋ）をマスクすることで、３２．７６８ｋＨｚに補正することができる。すなわち、補正時間Ｔ_ｃｏｍｐあたりに、クロック信号ＣＫ１のクロックをＫ回だけマスクすればよく、信号値Ｋがそのままマスク数になる。

図５に、測定時間Ｔ_ｍｅａｓ、基準値Ｆ、２５ＭＨｚのカウント値、マスク数Ｋ、補正時間Ｔ_ｃｏｍｐ及び補正精度の関係の一例を示す。図５は、３２．７６８ｋＨｚ＋αの周期が３２．７６８ｋＨｚの周期の１０％減（α＝３２．７６８ｋＨｚ×１／９）に相当する場合の例である。例えば、クロック信号ＣＫ１（３２．７６８ｋＨｚ＋α）の６４クロック分に相当する時間を測定時間Ｔ_ｍｅａｓとする場合（ダウンカウンター１０１のＮ＝６４の場合）、測定時間Ｔ_ｍｅａｓは１．７５７８１２５ｍｓ、基準値Ｆは４８８２８、クロック信号ＣＫ３（２５ＭＨｚ）のカウント数は４３９４５、マスク数Ｋは４８８３、補正時間Ｔ_ｃｏｍｐは１．３４ｓ（クロック信号ＣＫ１の４８８２８クロック分に相当する時間）、補正精度は２０．４８ｐｐｍである。また、例えば、クロック信号ＣＫ１（３２．７６８ｋＨｚ＋α）の５１２クロック分に相当する時間を測定時間Ｔ_ｍｅａｓとする場合（ダウンカウンター１０１のＮ＝５１２の場合）、測定時間Ｔ_ｍｅａｓは１４．６０２５ｍｓ、基準値Ｆは３９０６２５、クロック信号ＣＫ３（２５ＭＨｚ）のカウント数は
３５１５６２、マスク数Ｋは３９０６３、補正時間Ｔ_ｃｏｍｐは１０．７３ｓ（クロック信号ＣＫ１の３９０６２５クロック分に相当する時間）、補正精度は２．５６ｐｐｍである。図５からわかるように、測定時間Ｔ_ｍｅａｓを長くするほど補正精度が高くなる。

図１に戻り、マスク信号生成部１１は、周波数測定部１０が計算したマスク数（出力信号値）Ｋに応じて、クロックゲート部１２のマスクタイミングを制御するマスク信号を生成する。

クロックゲート部１２は、マスク信号生成部１１が生成したマスク信号に応じて、クロック信号ＣＫ１が有する一部のクロックを伝搬させないようにマスクし、所定時間あたりに所定数のクロックを有する、平均周波数が３２．７６８ｋＨｚのクロック信号ＣＫ２（第２クロック信号）を生成する。

例えば、マスク信号生成部１１が、補正時間Ｔ_ｃｏｍｐにおいてクロック信号ＣＫ１のＫクロック分だけ連続してあるいは分散してハイレベルとなるマスク信号を生成し、クロックゲート部１２を、クロック信号ＣＫ１とマスク信号が入力される２入力ＡＮＤ回路で実現すれば、当該２入力ＡＮＤ回路の出力信号は平均周波数が３２．７６８ｋＨｚのクロック信号ＣＫ２になる。

電源電圧ＶＤＤ１がＰ１端子に供給されていない時は、クロックゲート部１２が出力するクロック信号ＣＫ２がクロック選択部１６により選択され、クロック信号ＣＫ６としてＰ３端子を介して外部に出力される。従って、本実施形態のクロック生成装置１は、クロックの粗密があるクロック信号ＣＫ６を出力するが、例えば、ＲＴＣ（Real Time Clock）等の数十ｍ秒、または数百ｍ秒の時間を計時するような計時装置であれば、多少の粗密があるクロック信号ＣＫ６で動作しても大きな問題は生じない。ただし、例えば、２．５６ｐｐｍの精度での補正が要求される場合には、図５に示したように補正時間Ｔ_ｃｏｍｐが１１秒程度になり、この間にクロック信号ＣＫ１のクロックをＫ回連続してマスクすると、クロック信号ＣＫ６のクロックが１秒程度停止する状況も起こり得る。このような場合、例えば、クロック信号ＣＫ６を用いて針を駆動させるアナログ時計では針が１秒程度停止し、また、クロック信号ＣＫ６を用いて電子メロディーを流す音楽再生機器では一瞬おかしなリズムの音が再生される等の不具合が生じ得る。

そこで、本実施形態では、マスク信号生成部１１は、補正時間Ｔ_ｃｏｍｐにおいて、クロック信号ＣＫ１のクロックをマスクするタイミングをできるだけ均等に分散させるようなマスク信号を生成する。

図６に、本実施形態におけるマスク信号生成部１１の構成例を示す。図６の例では、マスク信号生成部１１は、キャリーアウト出力付きの加算回路１１１とアキュムレーター（累算器）１１２を含んで構成されている。

加算回路１１１は、マスク数（周波数測定部１０の出力信号値）Ｋとアキュムレーター１１２の出力値ｙ（ｉ−１）とを加算して出力する。ただし、加算回路１１１の出力信号値ｙ（ｉ）の上限は基準値Ｆ−１であり、ｙ（ｉ）＝（ｙ（ｉ−１）＋Ｋ）ｍｏｄＦ（ｙ（ｉ）は（ｙ（ｉ−１）＋Ｋ）をＦで割った時の余り）である。また、加算回路１１１は、ｙ（ｉ−１）＋Ｋ＜Ｆの時にローレベル、ｙ（ｉ−１）＋Ｋ≧Ｆの時にハイレベルとなるマスク信号を生成して出力する。ここで、クロック信号ＣＫ１のＦクロック分に相当する時間が補正時間Ｔ_ｃｏｍｐであり、基準値Ｆは測定時間Ｔ_ｍｅａｓの設定に対応づけて設定される。なお、基準値Ｆの値や測定時間Ｔ_ｍｅａｓを決定するＮの値は、設計段階で固定してもよいし、内部レジスターの設定で変更可能にしておいてもよい。

アキュムレーター１１２は、クロック信号ＣＫ１のクロックが入力されると、加算回路１１１の出力信号値ｙ（ｉ）を保存するレジスターである。従って、クロック信号ＣＫ１のクロックが入力される毎に、アキュムレーター１１２の出力信号値ｙ（ｉ−１）は加算回路１１１の出力信号値ｙ（ｉ）に更新される。

図７に、マスク信号生成部１１の動作のタイミングチャートの一例を示す。図７は、３２．７６８ｋＨｚ＋αの周期が３２．７６８ｋＨｚの周期の１０％減（α＝３２．７６８ｋＨｚ×１／９）に相当する場合の例であり、測定時間Ｔ_ｍｅａｓはクロック信号ＣＫ１の５１２クロック分に相当する時間に設定されており、これに対応づけて基準値Ｆは３９０６２５に設定されている。すなわち、補正時間Ｔ_ｃｏｍｐは、クロック信号ＣＫ１の３９０６２５クロック分の時間に相当する。マスク数（周波数測定部１０の出力信号値）Ｋは３９０６３であるので、補正時間Ｔ_ｃｏｍｐにおいて、クロック信号ＣＫ１の３９０６２５クロックのうち３９０６３クロック（１０％）がマスクされる。図７に示すように、クロック信号ＣＫ１は１０クロック毎に１クロックがマスクされており、図６のような簡単な構成で、クロックマスクのタイミングをほぼ等間隔に分散化できることがわかる。

本実施形態のクロック生成装置１は、１回目の補正（補正時間Ｔ_ｃｏｍｐ）が終了すると、１回目と同じ値のＫにより１回目の補正と同じ補正時間Ｔ_ｃｏｍｐで２回目の補正を行い、以降は同様に、次に周波数比測定を行うまで、同様の補正を繰り返す。そして、クロック生成装置１は、前回の周波数比測定の開始後、所定のインターバル時間Ｔ_ｉｎｔ１が経過すると新たに周波数比測定を行い、信号値Ｋを更新する。

図１に戻り、周波数測定制御部１３は、クロックゲート部１２が出力するクロック信号ＣＫ２のクロック数をカウントすることでこのインターバル時間Ｔ_ｉｎｔ１を計測するとともに、インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ１を計測する毎に、周波数測定部１０に周波数測定開始信号ＭＥＡＳ＿ＳＴを供給する。

図８に、本実施形態における周波数測定制御部１３の構成例を示す。図８の例では、周波数測定制御部１３は、カウンター１３１及び検出部１３２を含んで構成されている。

カウンター１３１は、クロック信号ＣＫ２のクロック数をカウントするアップカウンターであり、カウント値Ｔ２を出力する。

検出部１３２は、所定値Ｔ１とカウンター１３１の出力値Ｔ２を比較し、比較結果に基づき周波数測定開始信号ＭＥＡＳ＿ＳＴを出力する。本実施形態では、検出部１３２は、Ｔ２＝Ｔ１の時（Ｔ２≧Ｔ１の時でもよい）にハイレベルとなる周波数測定開始信号ＭＥＡＳ＿ＳＴを出力する。そして、周波数測定開始信号ＭＥＡＳ＿ＳＴがハイレベルの時、カウンター１３１は０にリセットされる。

図９に、カウンター１３１のカウント値Ｔ２と周波数測定開始信号ＭＥＡＳ＿ＳＴのタイミングチャートの一例を示す。カウンター１３１のカウント値Ｔ２がＴ１に達する毎に周波数測定開始信号ＭＥＡＳ＿ＳＴのパルスが発生し、その発生間隔は一定である。前述したように、周波数測定開始信号ＭＥＡＳ＿ＳＴは周波数測定部１０が周波数比測定を開始する信号であるので、周波数測定開始信号ＭＥＡＳ＿ＳＴのパルスの発生間隔はインターバル時間（周波数比の測定間隔）Ｔ_ｉｎｔ１と一致する。すなわち、周波数測定部１０は、一定のインターバル時間Ｔ_ｉｎｔ１毎に周波数比測定を間欠的に行う。

なお、インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ１の値（実際はＴ_ｉｎｔ１を決めるＴ１の値）は、環境条件や周波数補正誤差の許容範囲等を考慮して適宜選択され、設計段階で固定してもよいし、内部レジスターの設定または不揮発性メモリーの設定等によって変更可能にしてお
いてもよい。

図１に戻り、温度補償制御部１８は、基本的には、一定のインターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２が経過する毎に、一定時間ハイレベルとなる温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮを生成する。温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮがハイレベルとなる時間は、発振用回路３０の温度センサー３１及びＡ／Ｄ変換器３２が温度測定を開始してから終了するまでに要する時間以上に設定される。インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２は、基本的には温度変化は緩やかであるとして比較的長い時間、例えば、数秒〜数十秒オーダーの時間に設定される。インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２を長くすることで、温度センサー３１及びＡ／Ｄ変換器３２で消費される電流を低減させることができる。しかしながら、急激に温度が変化した場合、発振用回路３０の負荷容量値を速やかに更新しなければ、周波数精度が急激に劣化することになり得る。そこで、本実施形態では、温度変動に応じてマスク数Ｋが変動することを利用し、温度補償制御部１８は、マスク数Ｋが急激に変化した場合には強制的に速やかに温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮをハイレベルにする。

図１０に、本実施形態における温度補償制御部１８の構成例を示す。図１０の例では、温度補償制御部１８は、ＦＩＦＯ（First-In First-Out）メモリー１８１、平均値出力部１８２、比較部１８３、インターバルタイマー１８４及びＯＲ回路１８５を含んで構成されている。

ＦＩＦＯメモリー１８１は、Ｎ個（Ｎは自然数）のマスク数（周波数測定部１０の出力信号値）Ｋ（Ｋ（１）〜Ｋ（Ｎ））を順番に記憶するものである。ＦＩＦＯメモリー１８１は、周波数測定部１０から周波数測定終了信号ＭＥＡＳ＿ＥＮＤが入力される毎に、各Ｋ（ｉ）をＫ（ｉ＋１）（ｉ＝１〜Ｎ−１）に移動し、最新のマスク数ＫをＫ（１）として記憶する。この時、Ｋ（Ｎ）はＦＩＦＯメモリー１８１から追い出される（消去される）。

比較部１８３は、最新のマスク数ＫとＮ個のマスク数Ｋの平均値（移動平均値）との差分（差分の絶対値）を計算し、周波数測定終了信号ＭＥＡＳ＿ＥＮＤが入力される時に当該差分と第１基準値Ｒ１とを比較し、比較結果に応じて強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮをハイレベルにする。第１基準値Ｒ１は、強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮをハイレベルにするか否かを決定する閾値であり、設計段階で固定してもよいし、内部レジスターの設定または不揮発性メモリーの設定等によって変更可能にしておいてもよい。本実施形態では、比較部１８３は、最新のマスク数ＫとＮ個のマスク数Ｋの平均値（移動平均値）との差分がＲ１以内であれば強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮをローレベルに固定し、当該差分がＲ１よりも大きい時は強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮを一定時間ハイレベルにする。

なお、Ｎ＝１の場合、平均値出力部１８２は、ＦＩＦＯメモリー１８１に記憶されているマスク数Ｋ（１）をそのまま出力し、比較部１８３は、最新のマスク数Ｋと前回のマスク数Ｋ（１）との差分を計算し、周波数測定終了信号ＭＥＡＳ＿ＥＮＤが入力される時に当該差分と第１基準値Ｒ１とを比較する。

インターバルタイマー１８４は、クロック信号ＣＫ２のクロック数を所定数カウントする毎に一定時間だけハイレベルとなる間欠イネーブル信号ＩＮＴ＿ＥＮを出力する。

ＯＲ回路１８５は、強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮの電圧レベルと間欠イネーブル信号ＩＮＴ＿ＥＮの電圧レベルの論理和の電圧レベルを出力する回路であり、ＯＲ回路１８５の出力信号が温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮとなる。すなわち、強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮと間欠イネーブル信号ＩＮＴ＿ＥＮがともにローレベルの時
、温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮはローレベルであり、強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮと間欠イネーブル信号ＩＮＴ＿ＥＮの一方又は両方がハイレベルの時、温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮはハイレベルである。

図１１（Ａ）及び図１１（Ｂ）は、これまでに説明したマスク信号の生成処理を示すフローチャート図である。図１１（Ａ）は周波数比測定のフローチャート図であり、図１１（Ｂ）は周波数補正のフローチャート図である。また、図１１（Ｃ）は、これまでに説明した温度補償値の更新処理を示すフローチャート図である。この周波数比測定、周波数補正及び温度補償値の更新は、並行して行われる。

図１１（Ａ）に示す周波数比測定のフローチャートでは、クロック生成装置１は、まず、カウント値Ｔ２をリセットし、クロック信号ＣＫ２のクロック数をカウントする（Ｓ１０）。

次に、クロック生成装置１は、クロック信号ＣＫ１のＮクロック分の測定時間Ｔ_ｍｅａｓに含まれるクロック信号ＣＫ３のクロック数をカウントする（Ｓ２０）。ここで得られたカウント値は、マスク数Ｋと等しい。

そして、クロック生成装置１は、クロック信号ＣＫ２のクロック数のカウント値Ｔ２が所定値Ｔ１と一致（すなわち、インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ１が経過）する毎に（Ｓ３０のＹ）、ステップＳ１０及びＳ２０の処理を繰り返し行う。

図１１（Ｂ）に示す周波数補正のフローチャートでは、クロック生成装置１は、まず、アキュムレーター１１２の出力値ｙ（ｉ−１）、マスク数Ｋ（図１１（Ａ）のステップＳ２０で得られた最新のマスク数Ｋ）、基準値Ｆより、ｙ（ｉ）＝（ｙ（ｉ−１）＋Ｋ）ｍｏｄＦを計算する（Ｓ１１０）。

次に、クロック生成装置１は、ｙ（ｉ−１）＋Ｋ≧Ｆであれば（Ｓ１２０のＹ）、マスク信号をハイレベルにし（Ｓ１３０）、クロック信号ＣＫ１の次の立ち上がりエッジのタイミングで（Ｓ１４０のＹ）、マスク信号をローレベルにするとともに（Ｓ１５０）、アキュムレーター１１２の出力値ｙ（ｉ−１）をｙ（ｉ）に更新する（Ｓ１６０）。

一方、ｙ（ｉ−１）＋Ｋ＜Ｆであれば（Ｓ１２０のＮ）、クロック生成装置１は、クロック信号ＣＫ１の次の立ち上がりエッジのタイミングで（Ｓ１４０のＹ）、マスク信号をローレベルに維持するとともに（Ｓ１５０）、アキュムレーター１１２の出力値ｙ（ｉ−１）をｙ（ｉ）に更新する（Ｓ１６０）。

そして、クロック生成装置１は、図１１（Ａ）のステップＳ２０で得られた最新のマスク数Ｋを用いてステップＳ１１０〜Ｓ１６０の処理を繰り返し行う。

図１１（Ｃ）に示す温度補償値の更新処理のフローチャートでは、クロック生成装置１は、まず、インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２の計測を開始する（Ｓ２１０）。

次に、クロック生成装置１は、図１１（Ａ）のステップＳ２０で得られたマスク数Ｋと直前のＮ個のマスク数Ｋの平均値（移動平均値）との差分（差分の絶対値）が第１基準値Ｒ１よりも大きい場合（Ｓ２２０のＹ）には、一定時間だけ温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮをハイレベルにして温度測定を行い、温度補償値を更新する（Ｓ２５０）。

また、クロック生成装置１は、インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２が経過した場合（Ｓ２３０のＹ）には、次のインターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２の計測を開始した後（Ｓ２４０）、一定時
間だけ温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮをハイレベルにして温度測定を行い、温度補償値を更新する（Ｓ２５０）。

図１に戻り、周波数測定イネーブル信号ＭＥＡＳ＿ＥＮと温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮは、２入力のＯＲ回路１９の２つの入力にそれぞれ供給される。ＯＲ回路１９の出力信号は、２入力のＡＮＤ回路１４の非反転入力に供給され、ＡＮＤ回路１４の反転入力にはダイオード４２を介してＰ１端子の電圧が供給される。従って、ＡＮＤ回路１４は、Ｐ１端子に電源電圧ＶＤＤ１が供給されている時は常にローレベルの信号を出力し、Ｐ１端子に電源電圧ＶＤＤ１が供給されていない時は、周波数測定イネーブル信号ＭＥＡＳ＿ＥＮと温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮの一方又は両方がハイレベルの期間はハイレベルの信号を出力し、周波数測定イネーブル信号ＭＥＡＳ＿ＥＮと温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮの両方がローレベルの期間はローレベルの信号を出力する。

ＡＮＤ回路１４の出力信号は、スイッチ回路４０の制御入力に供給され、スイッチ回路４０は、ＡＮＤ回路１４の出力信号がハイレベルの時はオン（２端子間を電気的に接続）し、ローレベルの時はオフ（２端子間を電気的に遮断）する。

従って、Ｐ１端子に電源電圧ＶＤＤ１が供給されている時は、スイッチ回路４０が常にオフなので、発振用回路３０には電源電圧ＶＤＤ２は供給されず、電源電圧ＶＤＤ１のみが供給されてクロック信号ＣＫ３が出力される。一方、Ｐ１端子に電源電圧ＶＤＤ１が供給されていない時は、発振用回路３０には周波数測定部１０が周波数比測定を行う期間（周波数測定イネーブル信号ＭＥＡＳ＿ＥＮがハイレベルの期間）と発振用回路３０が温度測定を行う期間（温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮがハイレベルの期間）のみ電源電圧ＶＤＤ２が供給されてクロック信号ＣＫ３が出力される。

Ｐ１端子に電源電圧ＶＤＤ１が供給されている時は、クロック信号ＣＫ３は、ＡＮＤ回路１７を通過し、クロック信号ＣＫ７としてＰ４端子を介して外部に出力される。一方、Ｐ１端子に電源電圧ＶＤＤ１が供給されていない時は、周波数測定部１０による周波数比の測定期間と発振用回路３０による温度の測定期間に発生するクロック信号ＣＫ３はＡＮＤ回路１７でマスクされ、外部には出力されない。図１２に、Ｐ１端子に電源電圧ＶＤＤ１が供給されていない時のタイミングチャートの一例を示す。なお、図１２の例では、間欠的に行われる温度測定の期間は周波数比の測定期間の一部と重なっており、強制的に行われる温度測定の期間は周波数比の測定期間の終了後（マスク数Ｋが更新された後）から開始されている。

周波数変換部１５は、Ｐ１端子に電源電圧ＶＤＤ１が供給されている時にクロック信号ＣＫ３を周波数変換し、平均周波数が所定の周波数（本実施形態では３２．７６８ｋＨｚ）となるクロック信号ＣＫ５を生成する。

周波数変換部１５は、分周比が可変な分周回路を用いて複数の分周比を切り替えながらクロック信号ＣＫ３を分周することで、平均周波数が３２．７６８ｋＨｚのクロック信号を生成するようにしてもよい。例えば、クロック信号ＣＫ３に対して、４８１回の７６３分周と３１回の７６２分周を順番に繰り返すことで、平均周波数が３２．７６８ｋＨｚのクロック信号ＣＫ５が得られる。

あるいは、周波数変換部１５は、図１３に示すような構成としてもよい。図１３の例では、周波数変換部１５は、分周回路１５１、マスク信号生成部１５２及びクロックゲート部１５３を含んで構成されている。分周回路１５１は、クロック信号ＣＫ３（第３クロック信号）が入力され、クロック信号ＣＫ３を所定の分周比で分周して３２．７６８ｋＨｚよりも高い周波数のクロック信号ＣＫ４を生成する。本実施形態では、分周回路１５１は、クロック信号ＣＫ３を７６２分周して３２．８０８ｋＨｚ（＝２５ＭＨｚ／７６２）の
クロック信号ＣＫ４を生成する。

マスク信号生成部１５２は、クロック信号ＣＫ４の所定のクロック数あたりの所定のマスク数の情報に基づいて、クロックゲート部１５３のマスクタイミングを制御するマスク信号を生成する。

クロックゲート部１５３は、マスク信号生成部１５２が生成したマスク信号に応じて、分周回路１５１の出力クロック信号ＣＫ４が有する一部のクロックを伝搬させないようにマスクし、平均周波数が３２．７６８ｋＨｚのクロック信号ＣＫ５を生成する。

例えば、３２．８０８ｋＨｚの３９０６２５クロック分に相当する時間に含まれる３２．７６８ｋＨｚのクロック数は３９０１４４であり、その差は４８１である。従って、例えば、マスク信号生成部１５２が、クロック信号ＣＫ４の３９０６２５クロックあたりに４８１クロックをマスクするマスク信号を生成し、クロックゲート部１５３を、クロック信号ＣＫ４とマスク信号が入力される２入力ＡＮＤ回路で実現してもよい。

本実施形態では、マスク信号生成部１５２は、マスク信号生成部１１と同様に、クロック信号ＣＫ４のクロックをマスクするタイミングをできるだけ均等に分散させるようなマスク信号を生成する。図１４に、本実施形態におけるマスク信号生成部１５２の構成例を示す。図１４の例では、マスク信号生成部１５２は、キャリーアウト出力付きの加算回路１５４とアキュムレーター（累算器）１５５を含んで構成されている。

加算回路１５４は、所定値Ｌとアキュムレーター１５５の出力値ｚ（ｉ−１）とを加算して出力する。ただし、加算回路１５４の出力信号値ｚ（ｉ）の上限はＧ−１であり、ｚ（ｉ）＝（ｚ（ｉ−１）＋Ｌ）ｍｏｄＧ（ｚ（ｉ）は（ｚ（ｉ−１）＋Ｌ）をＧで割った時の余り）である。また、加算回路１５４は、ｚ（ｉ−１）＋Ｌ＜Ｇの時にローレベル、ｚ（ｉ−１）＋Ｌ≧Ｇの時にハイレベルとなるマスク信号を生成して出力する。ここで、例えば、所定値Ｌはクロック信号ＣＫ４のＧクロックあたりのマスク数であり、Ｇを３９０６２５とすると、Ｌは４８１である。なお、Ｌの値やＧの値は、設計段階で固定してもよいし、内部レジスターの設定で変更可能にしておいてもよい。

アキュムレーター１５５は、分周クロック信号ＣＫ４のクロックが入力されると、加算回路１５４の出力信号値ｚ（ｉ）を保存するレジスターである。従って、分周クロック信号ＣＫ４のクロックが入力される毎に、アキュムレーター１５５の出力信号値ｚ（ｉ−１）は加算回路１５４の出力信号値ｚ（ｉ）に更新される。

本実施形態のクロック生成装置１では、電源電圧ＶＤＤ１がＰ１端子に供給されている時は、クロックゲート部１５３が出力するクロック信号ＣＫ５がクロック選択部１６により選択され、クロック信号ＣＫ６としてＰ３端子を介して外部に出力される。また、先に説明したように、電源電圧ＶＤＤ１がＰ１端子に供給されていない時は、クロックゲート部１２が出力するクロック信号ＣＫ２がクロック選択部１６により選択され、クロック信号ＣＫ６としてＰ３端子を介して外部に出力される。図１５に、Ｐ１端子への電源電圧ＶＤＤ１の供給が停止する前後のクロック生成装置１の動作のタイミングチャートの一例を示す。なお、本実施形態では、一次電源からの電源電圧ＶＤＤ１の供給がいつ停止するか分からないので、発振回路２０の発振動作を常に継続しておき、電源電圧ＶＤＤ１が供給されている時も周波数測定部１０によるクロック信号ＣＫ１の周波数比測定が間欠的に行われる。

以上に説明したように、第１実施形態のクロック生成装置によれば、３２．７６８ｋＨｚよりも高いクロック信号ＣＫ１の一部のクロックをマスクすることで、発振回路２０の
周波数調整を不要あるいは簡略化しながら、平均周波数が３２．７６８ｋＨｚのクロック信号ＣＫ２を生成することができる。さらに、第１実施形態のクロック生成装置によれば、環境温度の変動が急峻の時は、マスク数ＫとＮ個のマスク数Ｋの移動平均値との差分が第１基準値Ｒ１よりも大きくなるため、強制的に温度測定を行ってクロック信号ＣＫ３の温度補償値を更新し、環境温度の変動が緩やかな時は、当該差分が第１基準値Ｒ１以内となるため、インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２毎に間欠的に温度測定を行って当該温度補償値を更新することで、クロック信号ＣＫ３の周波数安定度を維持することができる。このように、第１実施形態のクロック生成装置によれば、環境温度の変動が急峻の時は強制的にクロック信号ＣＫ３の温度補償値を更新するので、クロック信号ＣＫ３の温度補償値を間欠的に更新する周期を比較的長くすることができるため、不要な温度測定により消費される電力を低減しながら、クロック信号ＣＫ３の周波数安定度に応じた高い周波数安定度のクロック信号ＣＫ２を生成することができる。

また、第１実施形態のクロック生成装置によれば、クロック信号ＣＫ２を生成するためのマスク数Ｋをクロック信号ＣＫ３の温度補償値の更新制御に兼用するので、当該クロック装置のサイズを低減することができる。

また、第１実施形態のクロック生成装置によれば、クロック信号ＣＫ１の所定クロック分の時間に含まれるクロック信号ＣＫ３のクロック数をカウントすることで、簡単な構成でクロック信号ＣＫ１のマスク数Ｋを直接的に計算することができるとともに、クロック信号ＣＫ１に対して十分高い周波数のクロック信号ＣＫ３を用いることで、測定時間を短縮しながら所望の補正精度を達成することができる。

また、第１実施形態のクロック生成装置によれば、加算回路１１１とアキュムレーター１１２を用いてマスク信号生成部１１を構成することで、簡単な構成でありながら、クロック信号ＣＫ１のクロックをマスクするタイミングをできるだけ均等に分散させたクロック信号ＣＫ２を生成することができる。

また、第１実施形態のクロック生成装置によれば、Ｐ１端子に電源電圧ＶＤＤ１が供給されている時は、クロック信号ＣＫ３から直接生成したクロック信号ＣＫ５を選択して出力するので、クロック信号ＣＫ２よりも周波数精度の高い３２．７６８ｋＨｚのクロック信号を出力することができる。一方、Ｐ１端子に電源電圧ＶＤＤ１が供給されていない時でも、Ｐ２端子に常時供給されている電源電圧ＶＤＤ２を電源電圧としてクロック信号ＣＫ１から生成したクロック信号ＣＫ２を選択し、３２．７６８ｋＨｚのクロック信号を出力することができる。

また、第１実施形態のクロック生成装置によれば、加算回路１５４とアキュムレーター１５５を用いてマスク信号生成部１５２を構成することで、簡単な構成でありながら、クロック信号ＣＫ４のクロックをマスクするタイミングをできるだけ均等に分散させたクロック信号ＣＫ５を生成することができる。

また、第１実施形態のクロック生成装置によれば、電源電圧ＶＤＤ２が供給されていれば、間欠的にクロック信号ＣＫ１の周波数を測定するので、電源電圧ＶＤＤ１の供給がいつ停止しても、直近の測定結果を用いて、クロック信号ＣＫ１に対して適切に周波数補正がされたクロック信号ＣＫ２を速やかに生成することができる。さらに、電源電圧ＶＤＤ１の供給が停止した後も、間欠的にクロック信号ＣＫ１の周波数を測定するので、消費電力を削減しながら、環境変化に起因するクロック信号ＣＫ１の周波数変動の影響を低減してほぼ一定周波数のクロック信号ＣＫ２を生成し続けることができる。

１−２．第２実施形態
第１実施形態のクロック生成装置１では、マスク数Ｋが急激に変化した場合、温度が急激に変化したと想定し、強制的に温度測定を行って温度補償値を更新するようにしているが、間欠的に行う温度測定の測定間隔（インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２）は一定である。従って、温度変動が急激ではないが比較的大きい環境では、インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２の設定によっては温度補償が間に合わず、クロック信号ＣＫ３の周波数温度特性が劣化するおそれがある。一方、温度変動がほとんどないか、あるいは、緩やかな環境では、それほど頻繁に温度補償値を更新する必要がないが、インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２の設定によっては必要以上に短い間隔で温度測定が行われ、無駄な電流が消費されるおそれがある。そこで、第２実施形態のクロック生成装置１では、温度補償制御部１８は、マスク数ＫとＮ回のマスク数Ｋの移動平均値との差分が第１基準値Ｒ１よりも大きい時は、第１実施形態と同様に、強制的に温度測定を行って温度補償値を更新し、当該差分が第１基準値Ｒ１以内の時は、第２基準値Ｒ２（＜Ｒ１）を閾値としてインターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２の長さを切り替える。

図１６に、第２実施形態における温度補償制御部１８の構成例を示す。図１６において、図１０と同じ構成要素には同じ符号を付している。図１６の例では、温度補償制御部１８は、ＦＩＦＯ（First-In First-Out）メモリー１８１、平均値出力部１８２、比較部１８３、ＯＲ回路１８５、カウンター１８６及び検出部１８７を含んで構成されている。

ＦＩＦＯメモリー１８１及び平均値出力部１８２の構成及び機能は、図１０と同様であるため、その説明を省略する。

比較部１８３は、最新のマスク数ＫとＮ個のマスク数Ｋの平均値（移動平均値）との差分（差分の絶対値）を計算し、周波数測定終了信号ＭＥＡＳ＿ＥＮＤが入力される時に当該差分と第１基準値Ｒ１とを比較し、比較結果に応じて強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮをハイレベルにする。第１基準値Ｒ１は、強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮをハイレベルにするか否かを決定する閾値であり、設計段階で固定してもよいし、内部レジスターの設定等によって変更可能にしておいてもよい。本実施形態では、比較部１８３は、最新のマスク数ＫとＮ個のマスク数Ｋの平均値（移動平均値）との差分がＲ１以内であれば強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮをローレベルに固定し、当該差分がＲ１よりも大きい時は強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮを一定時間ハイレベルにする。

また、比較部１８３は、周波数測定終了信号ＭＥＡＳ＿ＥＮＤが入力される時に最新のマスク数ＫとＮ個のマスク数Ｋの平均値（移動平均値）との差分（差分の絶対値）と第２基準値Ｒ２とを比較し、比較結果に応じた値Ｔ３を出力する。第２基準値Ｒ２は、Ｔ３の値を切り替える閾値であり、設計段階で固定してもよいし、内部レジスターの設定等によって変更可能にしておいてもよい。本実施形態では、第２基準値Ｒ２は第１基準値Ｒ１よりも小さく、比較部１８３は、最新のマスク数ＫとＮ個のマスク数Ｋの平均値（移動平均値）との差分がＲ２以内であればＴ３＝Ａ（＞Ｂ）、当該差分がＲ２よりも大きい時はＴ３＝Ｂ（＜Ａ）を出力する。

なお、Ｎ＝１の場合、平均値出力部１８２は、ＦＩＦＯメモリー１８１に記憶されているマスク数Ｋ（１）をそのまま出力し、比較部１８３は、最新のマスク数Ｋと前回のマスク数Ｋ（１）との差分を計算し、周波数測定終了信号ＭＥＡＳ＿ＥＮＤが入力される時に当該差分と第１基準値Ｒ１及び第２基準値Ｒ２とを比較する。

カウンター１８６は、クロック信号ＣＫ２のクロック数をカウントするアップカウンターであり、カウント値Ｔ４を出力する。

検出部１８７は、比較部１８３の出力値Ｔ３とカウンター１８６の出力値Ｔ４を比較し
、比較結果に基づき、一定時間だけハイレベルとなる間欠イネーブル信号ＩＮＴ＿ＥＮとリセット信号ＲＳＴを出力する。本実施形態では、検出部１８７は、Ｔ４＝Ｔ３の時（Ｔ４≧Ｔ３の時でもよい）から一定時間だけハイレベルとなる間欠イネーブル信号ＩＮＴ＿ＥＮを出力する。また、検出部１８７は、Ｔ４＝Ｔ３の時（Ｔ４≧Ｔ３の時でもよい）にハイレベルとなるリセット信号ＲＳＴ出力する。このリセット信号ＲＳＴがハイレベルの時、カウンター１８６は０にリセットされる。

ＯＲ回路１８５は、強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮの電圧レベルと間欠イネーブル信号ＩＮＴ＿ＥＮの電圧レベルの論理和の電圧レベルを出力する回路であり、ＯＲ回路１８５の出力信号が温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮとなる。

図１７（Ａ）及び図１７（Ｂ）に、カウンター１８６のカウント値Ｔ４、温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮ及びリセット信号ＲＳＴのタイミングチャートの一例を示す。図１７（Ａ）及び図１７（Ｂ）では、強制イネーブル信号ＦＯＲＣＥ＿ＥＮは常にローレベルであり、間欠イネーブル信号ＩＮＴ＿ＥＮがそのまま温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮとなっている。

図１７（Ａ）は、Ｔ３＝Ａ（＞Ｂ）の時、すなわち、最新のマスク数ＫとＮ個のマスク数Ｋの平均値（移動平均値）との差分がＲ２以内の時の例である。一方、図１７（Ｂ）は、Ｔ３＝Ｂ（＜Ａ）の時、すなわち、最新のマスク数ＫとＮ個のマスク数Ｋの平均値（移動平均値）との差分がＲ２よりも大きくＲ１よりも小さい時の例である。

カウンター１８６のカウント値Ｔ４がＴ３に達する毎に温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮが一定時間だけハイレベルとなるとともに、リセット信号ＲＳＴのパルスが発生し、その間隔は、図１７（Ａ）の方が長く、図１７（Ｂ）の方が短い。前述したように、温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮがハイレベルの時に発振用回路３０の温度センサー３１及びＡ／Ｄ変換器３２が温度測定を行い、温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮがハイレベルになる（リセット信号ＲＳＴのパルスが発生する）間隔はインターバル時間（温度の測定間隔）Ｔ_ｉｎｔ２と一致する。すなわち、検出部１８７は、Ｔ３の値に応じて温度の測定間隔を制御し、発振用回路３０の温度センサー３１及びＡ／Ｄ変換器３２は、インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２毎に温度測定を間欠的に行う。

なお、インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２の値（実際はＴ_ｉｎｔ２を決めるＴ３の値）は、環境条件や周波数補正誤差の許容範囲等を考慮して適宜選択され、設計段階で固定してもよいし、内部レジスターの設定等によって変更可能にしておいてもよい。

第２実施形態のクロック生成装置１の機能ブロック図は、第１実施形態（図１）と同じであるため、その図示及び説明を省略する。また、第２実施形態のクロック生成装置１における温度補償制御部１８以外の構成も、第１実施形態と同じであるため、その図示及び説明を省略する。

図１８は、第２実施形態における温度補償値の更新処理を示すフローチャート図である。この温度補償値の更新は、周波数比測定及び周波数補正と並行して行われる。なお、第２実施形態における周波数比測定のフローチャート及び周波数補正のフローチャートは、第１実施形態（図１１（Ａ）及び図１１（Ｂ））と同様であるため、その図示及び説明を省略する。

図１８に示す温度補償値の更新処理のフローチャートでは、クロック生成装置１は、まず、カウント値Ｔ４をリセットし、クロック信号ＣＫ２のクロック数のカウントを開始する（Ｓ３１０）。

次に、クロック生成装置１は、マスク数Ｋ（図１１（Ａ）のステップＳ２０で得られたマスク数Ｋ）と直前のＮ個のマスク数Ｋの平均値（移動平均値）との差分（差分の絶対値）が第２基準値Ｒ２以内である場合（Ｓ３２０のＹ）にはＴ３＝Ａ（＞Ｂ）に設定し（Ｓ３３０）、第２基準値Ｒ２よりも大きい場合（Ｓ３２０のＮ）にはＴ３＝Ｂ（＜Ａ）に設定する（Ｓ３４０）。

次に、クロック生成装置１は、マスク数Ｋと直前のＮ個のマスク数Ｋの平均値（移動平均値）との差分が第１基準値Ｒ１よりも大きい場合（Ｓ３５０のＹ）には、一定時間だけ温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮをハイレベルにして温度測定を行い、温度補償値を更新する（Ｓ３８０）。

また、クロック生成装置１は、クロック信号ＣＫ２のクロック数のカウント値Ｔ４がＴ３と一致していなければ（Ｓ３６０のＮ）、ステップＳ３２０以降の処理を再び行い、カウント値Ｔ４がＴ３と一致（すなわち、インターバル時間Ｔ_ｉｎｔ２が経過）すれば（Ｓ３６０のＹ）、カウント値Ｔ４をリセットし、クロック信号ＣＫ２のクロック数のカウントを開始する（Ｓ３７０）。

さらに、クロック生成装置１は、カウント値Ｔ４がＴ３と一致すると（Ｓ３６０のＹ）、一定時間だけ温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮをハイレベルにして温度測定を行い、温度補償値を更新し（Ｓ３８０）、ステップＳ３２０以降の処理を再び行う。

以上に説明した第２実施形態のクロック生成装置は、第１実施形態のクロック生成装置と同様の効果を奏する。さらに、第２実施形態のクロック生成装置によれば、マスク数ＫとＮ個のマスク数Ｋの移動平均値との差分が第１基準値Ｒ１よりも小さい時に間欠的に行う温度測定の間隔は、当該差分が第２基準値Ｒ２以内の時（環境温度の変動が相対的に緩やかな時）の方が、当該差分が第２基準値Ｒ２よりも大きい時（環境温度の変動が相対的に激しい時）よりも長いので、第１実施形態のクロック装置と比較して、不要な温度測定により消費される電力をさらに低減することができる。

２．電子機器
図１９は、本実施形態の電子機器の機能ブロック図である。また、図２０は、本実施形態の電子機器の一例である移動体通信機器の外観の一例を示す図である。

本実施形態の電子機器３００は、クロック生成装置３１０、リアルタイムクロック（ＲＴＣ）装置３２０、ＣＰＵ（Central Processing Unit）３３０、操作部３４０、ＲＯＭ（Read Only Memory）３５０、ＲＡＭ（Random Access Memory）３６０、通信部３７０、表示部３８０、一次電源３９０、二次電源３９２を含んで構成されている。なお、本実施形態の電子機器は、図１９の構成要素（各部）の一部を省略又は変更し、あるいは他の構成要素を付加した構成としてもよい。

一次電源３９０は、例えば、電子機器３００に内蔵のリチウムイオンバッテリー等の電源、あるいは、電子機器３００の外部のＡＣ電源等である。二次電源３９２は、例えば、電子機器３００に内蔵のコインバッテリー等の電源である。

クロック生成装置３１０は、例えば、前述した第１実施形態又は第２実施形態のクロック生成装置１であり、先に説明したように、一次電源３９０の電源電圧が供給されている時は、クロック信号ＣＫ６（３２．７６８ｋＨｚ）とクロック信号ＣＫ７（２５ＭＨｚ）をともに出力し、一次電源３９０の電源電圧が供給されていない時は、クロック信号ＣＫ６（３２．７６８ｋＨｚ）を出力し、クロック信号ＣＫ７（２５ＭＨｚ）を出力しない。

リアルタイムクロック装置３２０は、電源切替回路３２１と、電源切替回路３２１の出力電圧が電源電圧として供給される計時回路３２２とを含む、例えば、１チップのＩＣである。電源切替回路３２１は、一次電源３９０の電源電圧が供給されている時は、計時回路３２２に一次電源３９０の電源電圧を供給し、一次電源３９０の電源電圧が供給されなくなると、計時回路３２２に供給する電源電圧を二次電源３９２の電源電圧に切り替える。計時回路３２２は、クロック生成装置３１０が出力するクロック信号ＣＫ６に同期して計時処理を行う。

ＣＰＵ３３０は、一次電源３９０で動作し、ＲＯＭ３５０等に記憶されているプログラムに従い、各種の計算処理や制御処理を行う。具体的には、ＣＰＵ３３０は、クロック生成装置３１０が出力するクロック信号ＣＫ７に同期して、操作部３４０からの操作信号に応じた各種の処理、外部とデータ通信を行うために通信部３７０を制御する処理、表示部３８０に各種の情報を表示させるための表示信号を送信する処理等を行う。

操作部３４０は、操作キーやボタンスイッチ等により構成される入力装置であり、ユーザーによる操作に応じた操作信号をＣＰＵ３３０に出力する。

ＲＯＭ３５０は、ＣＰＵ３３０が各種の計算処理や制御処理を行うためのプログラムやデータ等を記憶している。

ＲＡＭ３６０は、ＣＰＵ３３０の作業領域として用いられ、ＲＯＭ３５０から読み出されたプログラムやデータ、操作部３４０から入力されたデータ、ＣＰＵ３３０が各種プログラムに従って実行した演算結果等を一時的に記憶する。

通信部３７０は、ＣＰＵ３３０と外部装置との間のデータ通信を成立させるための各種制御を行う。

表示部３８０は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）等により構成される表示装置であり、ＣＰＵ３３０から入力される表示信号に基づいて各種の情報を表示する。表示部３８０には操作部３４０として機能するタッチパネルが設けられていてもよい。

クロック生成装置３１０として本実施形態のクロック生成装置１を組み込むことにより、より低コストで信頼性の高い電子機器を実現することができる。

このような電子機器３００としては種々の電子機器が考えられ、例えば、パーソナルコンピューター（例えば、モバイル型パーソナルコンピューター、ラップトップ型パーソナルコンピューター、ノート型パーソナルコンピューター、タブレット型パーソナルコンピューター）、携帯電話機などの移動体端末、ディジタルスチールカメラ、インクジェット式吐出装置（例えば、インクジェットプリンター）、ルーターやスイッチなどのストレージエリアネットワーク機器、ローカルエリアネットワーク機器、テレビ、ビデオカメラ、ビデオテープレコーダー、カーナビゲーション装置、ページャー、電子手帳（通信機能付も含む）、電子辞書、電卓、電子ゲーム機器、ゲーム用コントローラー、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、防犯用テレビモニター、電子双眼鏡、ＰＯＳ端末、医療機器（例えば、電子体温計、血圧計、血糖計、心電図計測装置、超音波診断装置、電子内視鏡）、魚群探知機、各種測定機器、計器類（例えば、車両、航空機、船舶の計器類）、フライトシミュレーター、ヘッドマウントディスプレイ、モーショントレース、モーショントラッキング、モーションコントローラー、ＰＤＲ（歩行者位置方位計測）等が挙げられる。

３．移動体
図２１は、本実施形態の移動体の一例を示す図（上面図）である。図１６に示す移動体４００は、クロック生成装置４１０、クロック生成装置４１０が出力する各種のクロック信号に同期して、エンジンシステム、ブレーキシステム、キーレスエントリーシステム等の各種の制御を行うコントローラー４２０，４３０，４４０、バッテリー４５０、バックアップ用バッテリー４６０を含んで構成されている。なお、本実施形態の移動体は、図２１の構成要素（各部）の一部を省略又は変更してもよいし、他の構成要素を付加した構成としてもよい。

クロック生成装置４１０として、上述の各実施形態のクロック生成装置１を適用することができ、これにより高い信頼性を確保することができる。

このような移動体４００としては種々の移動体が考えられ、例えば、自動車（電気自動車も含む）、ジェット機やヘリコプター等の航空機、船舶、ロケット、人工衛星等が挙げられる。

４．変形例
本発明は本実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。

例えば、本実施形態では、１つのＩＣで実現されたクロック生成装置１を例に挙げて説明したが、クロック生成装置１は、複数のＩＣで実現されてもよいし、クロック生成装置１の複数の構成要素にそれぞれ対応する複数のディスクリート部品をボード上で配線接続することで実現されてもよい。

また、例えば、本実施形態のクロック生成装置１では、一次電源の電源電圧ＶＤＤ１が供給されている時はクロック信号ＣＫ６としてクロック信号ＣＫ５を選択し、一次電源の電源電圧ＶＤＤ１が供給されていない時はクロック信号ＣＫ６としてクロック信号ＣＫ２を選択して外部に出力しているが、クロック生成装置１は、クロック信号ＣＫ１（第１クロック信号に相当する）のクロックの一部をマスクして生成したクロック信号ＣＫ２（第２クロック信号に相当する）を常に外部出力するようにしてもよい。この場合、周波数変換部１５とクロック選択部１６は無くてもよい。

また、例えば、第２実施形態のクロック生成装置１は、温度補償制御部１８の比較部１８３が、平均値出力部１８２の出力値をｎ個（ｎ≧２）の基準値Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，・・・，Ｒｎ（Ｒ１＞Ｒ２＞Ｒ３＞・・・＞Ｒｎ）と比較し、平均値出力部１８２の出力値がＲ１よりも大きい時は、温度測定イネーブル信号ＴＥＭＰ＿ＥＮを一定時間だけ強制的にハイレベルにするとともに、平均値出力部１８２の出力値がＲ１以下の時は、Ｒ２よりも大きくＲ１以下の範囲，Ｒ３よりも大きくＲ２以下の範囲，・・・，Ｒｎ以下の範囲のｎ＋１個の範囲のいずれに含まれるかによって、判定結果に応じてＴ１の値をｎ個の値から選択してもよい。このようにすれば、温度の測定間隔をマスク数Ｋの移動平均値に応じてより細かく設定することができるので、周波数精度を維持しながら、より省電力化が可能となる。

また、例えば、本実施形態のクロック生成装置１では、周波数比測定の基準となるクロック信号として、水晶振動子２と発振用回路３０で構成される水晶発振器が出力するクロック信号ＣＫ３を用いているが、温度補償水晶発振器（ＯＣＸＯ（Oven Controlled Xtal(Crystal) Oscillator））、原子発振器、温度補償型のＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）発振器等の各種の発振器の出力クロック信号を用いてもよい。

また、例えば、本実施形態のクロック生成装置１では、平均値出力部１８２は、ＦＩＦＯメモリー１８１に新たに１つのマスク数Ｋが記憶される毎にＮ個のマスク数Ｋの移動平均値を計算しているが、ＦＩＦＯメモリー１８１に新たにｍ個（２≦ｍ≦Ｎ）のマスク数Ｋが記憶される毎にＮ個のマスク数Ｋの移動平均値を計算するようにしてもよい。

上述した各実施形態及び変形例は一例であって、これらに限定されるわけではない。例えば、各実施形態及び変形例を適宜組み合わせることも可能である。

本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成（例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成）を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。

１クロック生成装置、２水晶振動子、１０周波数測定部、１１マスク信号生成部、１２クロックゲート部、１３周波数測定制御部、１４ＡＮＤ回路、１５周波数変換部、１６クロック選択部、１７ＡＮＤ回路、１８温度補償制御部、２０発振回路、３０発振用回路、３１温度センサー、３２Ａ／Ｄ変換器、３３レジスター、３４デコーダー、３５容量アレイ、３６増幅回路、３７出力バッファー、３８
メモリー、４０スイッチ回路、４２ダイオード、４４ダイオード、１０１ダウンカウンター、１０２ダウンカウンター、１０３測定終了判定回路、１１１加算回路、１１２アキュムレーター（累算器）、１３１カウンター、１３２検出部、１５１分周回路、１５２マスク信号生成部、１５３クロックゲート部、１５４加算回路、１５５アキュムレーター（累算器）、１８１ＦＩＦＯメモリー、１８２平均値出力部、１８３比較部、１８４インターバルタイマー、１８５ＯＲ回路、１８６カウンター、１８７検出部、３００電子機器、３１０クロック生成装置、３２０リアルタイムクロック（ＲＴＣ）装置、３２１電源切替回路、３２２計時回路、３３０ＣＰＵ、３４０操作部、３５０ＲＯＭ、３６０ＲＡＭ、３７０通信部、３８０表示部、３９０一次電源、３９２二次電源、４００移動体、４１０クロック生成装置、４２０，４３０，４４０コントローラー、４５０バッテリー、４６０バックアップ用バッテリー

Claims

第３クロック信号を基準として第１クロック信号と基準周波数値との周波数比を測定し、
前記周波数比の測定結果に基づき前記第１クロック信号の一部のクロックがマスクされた第２クロック信号を生成し、
前記周波数比の測定結果と前記周波数比の測定結果のＮ個（Ｎは自然数）の平均値との差分が第１基準値よりも大きいときに前記第３クロック信号の周波数温度特性の補償値を更新する、クロック生成装置。
前記差分が第１基準値以内のときは、前記補償値を間欠的に更新する、請求項１に記載のクロック生成装置。
前記第２クロック信号を生成するクロックゲート部と、
前記周波数比を測定する周波数測定部と、
前記補償値を出力する補償手段を備え、前記補償値に基づき温度補償された前記第３クロック信号を出力する発振用回路と、
前記平均値を出力する平均値出力部と、
前記周波数比の測定結果と前記平均値とを比較し、前記差分が前記第１基準値よりも大きいときに前記補償手段に前記補償値を更新させる比較部と、を含む、請求項１又は２に記載のクロック生成装置。
前記補償手段は、温度検出信号を出力する温度検出部を備え、
前記比較部は、
前記差分が前記第１基準値よりも大きいときに、前記温度検出部に、出力する前記温度検出信号を更新させる、請求項３に記載のクロック生成装置。
前記差分に基づき前記補償値の更新間隔を制御する、請求項１乃至４のいずれか一項に記載のクロック生成装置。
検出部をさらに含み、
前記比較部は、前記差分に応じた値を出力し、
前記検出部は、
前記第２クロック信号のクロック数と前記比較部の出力値とを比較し、比較結果に基づき前記補償値の更新間隔を制御する、請求項３又は４に記載のクロック生成装置。
前記比較部は、
前記差分が前記第１基準値よりも小さい第２基準値以内のとき、前記差分が前記第２基準値よりも大きいときよりも大きい値を出力する、請求項６に記載のクロック生成装置。
前記平均値は、前記周波数比の測定結果のＮ個の移動平均値である、請求項１乃至７のいずれか一項に記載のクロック生成装置。
請求項１乃至８のいずれか一項に記載のクロック生成装置を含む、電子機器。
請求項９において、
前記クロック生成装置が出力する前記第２クロック信号に同期して時刻情報を生成するリアルタイムクロック装置をさらに含む、電子機器。
請求項１乃至８のいずれか一項に記載のクロック生成装置を含む、移動体。
第３クロック信号を基準として第１クロック信号と基準周波数値との周波数比を測定するステップと、
前記周波数比の測定結果に基づき前記第１クロック信号の一部のクロックがマスクされた第２クロック信号を生成するステップと、
前記周波数比の測定結果と前記周波数比の測定結果のＮ個（Ｎは自然数）の平均値との差分が第１基準値よりも大きいときに前記第３クロック信号の周波数温度特性の補償値を更新するステップと、を含む、クロック生成方法。