JP6226319B2 - 検査装置 - Google Patents
検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6226319B2 JP6226319B2 JP2013209098A JP2013209098A JP6226319B2 JP 6226319 B2 JP6226319 B2 JP 6226319B2 JP 2013209098 A JP2013209098 A JP 2013209098A JP 2013209098 A JP2013209098 A JP 2013209098A JP 6226319 B2 JP6226319 B2 JP 6226319B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sample
- wafer
- inspection apparatus
- illumination
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Description
本発明の別の目的は、試料の内部に存在する欠陥と試料の表面に存在する欠陥とを個別に検出できる検査装置を実現することにある。
試料に対して透過性を有する第1の波長域の照明光及び試料に対して透過性を有しない第2の波長域の照明光を含む単一の照明ビームを発生する光源と、光源から出射した照明ビームを試料表面に対して垂直に投射する対物レンズとを有する照明光学系と、
試料の表面で反射した表面反射光及び試料の内部のボイドないし欠陥で反射した内部反射光を含む反射ビームを前記対物レンズを介して受光する検出系と、
前記検出系から出力される出力信号を受け取り、試料表面に存在する欠陥を表面反射画像として検出し、試料の内部に存在するボイドないし欠陥を内部反射画像として検出する信号処理装置とを有し、
前記検出系は、第1の波長域の表面反射光及び内部反射光を受光して表面反射画像及び内部反射画像を撮像する第1の撮像装置と、第2の波長域の表面反射光を受光して表面反射画像を撮像する第2の撮像装置とを含み、
前記信号処理装置は、前記第1の撮像装置により形成される表面反射画像及び内部反射画像と前記第2の撮像装置により形成される表面反射画像との差分画像を形成する差分画像形成手段を有することを特徴とする。
前記第1の波長域はシリコンに対して透過性を有する赤外域の波長に設定され、前記第2の波長域はシリコンに対して透過性を有しない可視域に設定され、
当該検査装置は、前記接着剤層に存在するボイドないし欠陥を内部反射画像として検出することを特徴とする。
2 光ファイバ
3,4 リレーレンズ
5 ビームスプリッタ
6 対物レンズ
7 試料
8 ステージ
9 ハーフミラー
10,15 結像レンズ
11 第1の撮像装置
12,17増幅器
13 信号処理装置
14 赤外線カットフィルタ
16 第2の撮像装置
20 デバイスウエハ
21 接着剤層
22 サポートウエハ
23 表面欠陥
24 ボイド
30a,30b A/D変換器
31a,31b 画像メモリ
32a,32b ゲイン・オフセット調整手段
33 差分画像形成手段
34 ボイド検出手段
35 欠陥検出手段
40 第1のSLED
41 第2のSLED
42 ハーフミラー
Claims (9)
- 検査すべき試料の内部に存在するボイドないし欠陥を反射画像として検出する検査装置であって、
試料に対して透過性を有する第1の波長域の照明光及び試料に対して透過性を有しない第2の波長域の照明光を含む単一の照明ビームを発生する光源と、光源から出射した照明ビームを試料表面に対して垂直に投射する対物レンズとを有する照明光学系と、
試料の表面で反射した表面反射光及び試料の内部のボイドないし欠陥で反射した内部反射光を含む反射ビームを前記対物レンズを介して受光する検出系と、
前記検出系から出力される出力信号を受け取り、試料表面に存在する欠陥を表面反射画像として検出し、試料の内部に存在するボイドないし欠陥を内部反射画像として検出する信号処理装置とを有し、
前記検出系は、第1の波長域の表面反射光及び内部反射光を受光して表面反射画像及び内部反射画像を撮像する第1の撮像装置と、第2の波長域の表面反射光を受光して表面反射画像を撮像する第2の撮像装置とを含み、
前記信号処理装置は、前記第1の撮像装置により形成される表面反射画像及び内部反射画像と前記第2の撮像装置により形成される表面反射画像との差分画像を形成する差分画像形成手段を有することを特徴とする検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置において、前記信号処理装置は、前記差分画像形成手段からの出力に基づいて試料の内部欠陥情報を出力し、前記第2の撮像装置からの出力に基づいて試料の表面欠陥情報を出力することを特徴とする検査装置。
- 請求項1又は2に記載の検査装置において、前記検査されるべき試料として、各種デバイスが形成されているデバイスウエハと、接着剤層を介してデバイスウエハに貼り合わされ、シリコンウエハにより構成されるサポートウエハとを含む貼り合わせウエハが用いられ、
前記第1の波長域はシリコンに対して透過性を有する赤外域の波長に設定され、前記第2の波長域はシリコンに対して透過性を有しない可視域に設定され、
当該検査装置は、前記接着剤層に存在するボイドないし欠陥を内部反射画像として検出することを特徴とする検査装置。 - 請求項3に記載の検査装置において、前記貼り合わせウエハは、前記サポートウエハが対物レンズと対向するようにステージ上に配置され、前記照明ビームは、前記サポートウエハに向けて投射されることを特徴とする検査装置。
- 請求項3又は4に記載の検査装置において、前記照明光学系は、光源として、赤外域の波長の照明光及び可視域の波長の照明光を含む照明ビームを発生するハロゲンランプを有することを特徴とする検査装置。
- 請求項3又は4に記載の検査装置において、前記照明光学系は、光源として、赤外域の波長の照明光を発生する第1のSLEDと、可視域の波長の照明光を発生する第2のSLEDと、これら第1及び第2のSLEDから出射する照明光を合成して単一の照明ビームを形成するビーム合成手段とを含むことを特徴とする検査装置。
- 請求項1から6までのいずれか1項に記載の検査装置において、前記検出系は、前記第1の波長域の光を透過すると共に第2の波長域の光を反射し又は前記第1の波長域の光を反射すると共に第2の波長域の光を透過するダイクロイックミラー、又は、前記試料から出射した反射ビームを2つのビームに分割するビーム分割素子と第1の波長域の光を選択的にカットする光学フィルタを含むことを特徴とする検査装置。
- 請求項3から7までのいずれか1項に記載の検査装置において、前記第1の撮像装置は赤外域の波長光に対して感度を有するInGaAsセンサにより構成され、前記第2の撮像装置は可視域の波長光に感度を有するCCDセンサ又はCMOSセンサにより構成されることを特徴とするウエハ検査装置。
- 請求項8に記載の検査装置において、前記InGaAsセンサは、互いに平行に配置した2つのInGaAsラインセンサを含み、これら2つのInGaAsラインセンサの画素から出力される出力信号を相補的に用いることを特徴とする検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013209098A JP6226319B2 (ja) | 2013-10-04 | 2013-10-04 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013209098A JP6226319B2 (ja) | 2013-10-04 | 2013-10-04 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015072241A JP2015072241A (ja) | 2015-04-16 |
JP6226319B2 true JP6226319B2 (ja) | 2017-11-08 |
Family
ID=53014698
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013209098A Active JP6226319B2 (ja) | 2013-10-04 | 2013-10-04 | 検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6226319B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017111092A (ja) * | 2015-12-18 | 2017-06-22 | 株式会社フジクラ | 光学素子および光学装置、光学素子および光学装置の検査装置、並びに光学素子および光学装置の検査方法 |
JP6789049B2 (ja) * | 2016-09-28 | 2020-11-25 | 株式会社日立製作所 | 検査装置及び検査方法 |
CN111587395B (zh) * | 2018-02-08 | 2022-05-17 | 东丽工程株式会社 | 激光光源装置和检查装置 |
JP7154985B2 (ja) * | 2018-02-08 | 2022-10-18 | 東レエンジニアリング株式会社 | レーザ光源装置および検査装置 |
JP6973203B2 (ja) * | 2018-03-14 | 2021-11-24 | Jfeエンジニアリング株式会社 | 異常検出装置、異常検出システム、および異常検出方法 |
JP7059730B2 (ja) * | 2018-03-20 | 2022-04-26 | 株式会社Jvcケンウッド | 検査装置及び検査方法 |
CN116169058A (zh) * | 2022-12-30 | 2023-05-26 | 天通银厦新材料有限公司 | 一种8英寸蓝宝石衬底贴片装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06331559A (ja) * | 1993-05-18 | 1994-12-02 | Hitachi Ltd | 異物検査方法および異物検査装置 |
JPH09304182A (ja) * | 1996-05-20 | 1997-11-28 | Satake Eng Co Ltd | 穀粒色彩選別機 |
JPH1151845A (ja) * | 1997-08-08 | 1999-02-26 | Toyo Seimaiki Seisakusho:Kk | 粒状体選別装置 |
JPH11237226A (ja) * | 1997-11-28 | 1999-08-31 | Hitachi Ltd | 欠陥検査装置 |
JPH11326224A (ja) * | 1998-03-15 | 1999-11-26 | Omron Corp | 検査方法及び検査装置 |
JP2005012524A (ja) * | 2003-06-19 | 2005-01-13 | Noritsu Koki Co Ltd | 画像読取装置の検査方法及び検査装置 |
JP2009175035A (ja) * | 2008-01-25 | 2009-08-06 | Topcon Corp | 検査方法及び検査装置 |
JP2011033449A (ja) * | 2009-07-31 | 2011-02-17 | Sumco Corp | ウェーハの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 |
JP2013015428A (ja) * | 2011-07-05 | 2013-01-24 | Lasertec Corp | 検査装置、検査方法及び半導体装置の製造方法 |
-
2013
- 2013-10-04 JP JP2013209098A patent/JP6226319B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2015072241A (ja) | 2015-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6226319B2 (ja) | 検査装置 | |
JP4716148B1 (ja) | 検査装置並びに欠陥分類方法及び欠陥検出方法 | |
TWI439684B (zh) | 具自晶圓或其他工件特定材料層所發射光致發光信號優先偵測之光致發光成像 | |
CN107966453B (zh) | 一种芯片缺陷检测装置及检测方法 | |
JP5158552B1 (ja) | 顕微鏡及び検査装置 | |
TWI402498B (zh) | 影像形成方法及影像形成裝置 | |
JP5725501B2 (ja) | 検査装置 | |
JP2009092407A5 (ja) | ||
TWI738788B (zh) | 使用奇點光束之暗場晶圓奈米缺陷檢驗系統 | |
JP2012164801A (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
JP6487617B2 (ja) | マイクロレンズアレイの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | |
JP2013061185A (ja) | パターン検査装置およびパターン検査方法 | |
JP5419293B2 (ja) | 検査装置 | |
JP2008096252A (ja) | 近接場検査方法及び装置 | |
JP2013217703A (ja) | 検査装置 | |
JP4844694B2 (ja) | 検査装置及び欠陥分類方法 | |
CN113767277A (zh) | 用于对样品表面进行检查的正入射相移偏转测量传感器、系统和方法 | |
JP5114808B2 (ja) | 検査装置及び欠陥検査方法 | |
JP6373074B2 (ja) | マスク検査装置及びマスク検査方法 | |
TW201738983A (zh) | 檢測裝置及檢測方法 | |
JP6142996B2 (ja) | ビア形状測定装置及びビア検査装置 | |
JP7373644B2 (ja) | 透過及び反射光を組み合わせた半導体素子の内部クラックの撮像 | |
JP2013015428A (ja) | 検査装置、検査方法及び半導体装置の製造方法 | |
JP2006313143A (ja) | ムラ検査装置およびムラ検査方法 | |
US20230060883A1 (en) | Defect inspection apparatus and defect inspection method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160905 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170412 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170412 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170427 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170905 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20171003 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6226319 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |