JP6973203B2 - 異常検出装置、異常検出システム、および異常検出方法 - Google Patents
異常検出装置、異常検出システム、および異常検出方法 Download PDFInfo
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Description
10 テラヘルツ送受波ヘッド
11 テラヘルツ波発信部
14 テラヘルツ波受信部
20 変位計ヘッド
30 スキャナヘッド
40 テラヘルツ送受波コントローラ
50 変位計コントローラ
60 スキャナコントローラ
70 解析制御部
80 配管
81 鋼管
81a 鋼面
82 樹脂層
82a 表面
200 テラヘルツ波イメージ画像
201 干渉縞
202,203,204 斑模様
210 推定テラヘルツ波イメージ画像
211 特異部
220 異常部イメージ画像
Claims (4)
- 金属基体の上層に非金属層が設けられた対象物の表面の所定位置にテラヘルツ波を照射可能に構成されているとともに、前記対象物の表面を走査可能なテラヘルツ波発信手段と、
前記対象物の前記所定位置において反射されたテラヘルツ波を受信可能に構成されているとともに、前記対象物の表面を座標に関連付けしつつ走査可能なテラヘルツ波受信手段と、
前記対象物の表面の前記所定位置の相対変位を計測して、前記対象物の表面の凹凸データを生成可能に構成されているとともに、前記対象物の表面を座標に関連付けしつつ走査可能な変位計測手段と、
前記テラヘルツ波受信手段によって得られた前記反射されたテラヘルツ波の受信データと、前記変位計測手段によって得られた前記凹凸データとに基づいて、前記金属基体の表面の異常部を抽出する解析手段と、を備え、
前記解析手段は、前記凹凸データを前記対象物の表面に対応させてマッピングした変位情報に基づいて前記金属基体の表面が正常である場合に得られる推定情報を生成し、前記受信データを前記対象物の表面に対応させてマッピングしたテラヘルツ波情報から、前記推定情報を除去して、前記金属基体の表面の異常部を抽出する
ことを特徴とする異常検出装置。 - 前記テラヘルツ波の周波数が0.3THz以上0.6THz以下である
ことを特徴とする請求項1に記載の異常検出装置。 - 金属基体の上層に非金属層が設けられた対象物の表面の所定位置にテラヘルツ波を照射可能に構成されているとともに、前記対象物の表面を走査可能なテラヘルツ波発信手段、前記対象物の前記所定位置において反射されたテラヘルツ波を受信可能に構成されているとともに、前記対象物の表面を座標に関連付けしつつ走査可能なテラヘルツ波受信手段、および、前記対象物の表面の前記所定位置の相対変位を計測して、前記対象物の表面の凹凸データを生成可能に構成されているとともに、前記対象物の表面を座標に関連付けしつつ走査可能な変位計測手段、を備えたテラヘルツ波計測手段と、
前記テラヘルツ波受信手段によって得られた前記反射されたテラヘルツ波の受信データ、および前記変位計測手段によって得られた前記凹凸データに基づいて、前記凹凸データを前記対象物の表面に対応させてマッピングした変位情報に基づいて前記金属基体の表面が正常である場合に得られる推定情報を生成し、前記受信データを前記対象物の表面に対応させてマッピングしたテラヘルツ波情報から、前記推定情報を除去して、前記金属基体の表面の異常部を抽出する解析手段とが、
ネットワークを介して前記受信データおよび前記凹凸データを送受信可能に構成されている
ことを特徴とする異常検出システム。 - 金属基体の上層に非金属層が設けられた対象物の表面を走査しつつ所定位置にテラヘルツ波を照射する照射ステップと、
前記対象物において前記所定位置で反射されたテラヘルツ波を前記対象物の表面の座標に関連付けしつつ受信する受信ステップと、
前記対象物の表面を走査しつつ前記所定位置の相対変位を計測して、前記対象物の表面の凹凸データを座標に関連付けしつつ取得する変位計測ステップと、
前記受信ステップにおいて得られた前記反射されたテラヘルツ波の受信データと、前記変位計測ステップにおいて得られた前記凹凸データとに基づいて、前記凹凸データを前記対象物の表面に対応させてマッピングした変位情報に基づいて前記金属基体の表面が正常である場合に得られる推定情報を生成し、前記受信データを前記対象物の表面に対応させてマッピングしたテラヘルツ波情報から、前記推定情報を除去して、前記金属基体の表面の異常部を抽出する解析ステップとを含む
ことを特徴とする異常検出方法。
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JP2018046679A JP6973203B2 (ja) | 2018-03-14 | 2018-03-14 | 異常検出装置、異常検出システム、および異常検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2018046679A JP6973203B2 (ja) | 2018-03-14 | 2018-03-14 | 異常検出装置、異常検出システム、および異常検出方法 |
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JP2019158643A JP2019158643A (ja) | 2019-09-19 |
JP6973203B2 true JP6973203B2 (ja) | 2021-11-24 |
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ID=67993860
Family Applications (1)
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JP2018046679A Active JP6973203B2 (ja) | 2018-03-14 | 2018-03-14 | 異常検出装置、異常検出システム、および異常検出方法 |
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Country | Link |
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2018
- 2018-03-14 JP JP2018046679A patent/JP6973203B2/ja active Active
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