JP6210264B2 - スクリーン、表示装置、粒子、光学シート、粒子検査装置、及び、粒子検査方法、並びに、粒子製造装置、粒子製造方法、スクリーン製造方法、及び、スクリーン検査方法 - Google Patents
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Description
比誘電率の異なる第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分は、非可視光の波長の反射率又は反射率スペクトル、若しくは、非可視光の波長の透過率又は透過率スペクトルが異なる、粒子を含むスクリーンであって、
所定の厚みを有する保持部、及び、前記保持部に形成されたキャビティ内に収容される前記粒子、を有する粒子層を持つ光学シートと、
電圧を印加されることによって、前記粒子層の前記粒子を駆動するための電場を形成する電極と、
を備える。
前記粒子層を挟んだ基材を備える。
紫外線帯域を吸収又は反射する光学層を有する。
前記スクリーンと、
前記スクリーンにコヒーレント光を照射するプロジェクターと、
を備える。
前記スクリーンの前記電極に電圧を印加する電力源と、
前記電力源から前記電極に印加される印加電圧を制御する制御装置と、
をさらに備え、
前記制御装置は、前記粒子層で前記粒子を動作させるよう、前記電力源の印加電圧を制御する。
前記制御装置は、180°未満の角度範囲内で前記粒子を繰り返し回転させるよう、前記電力源の印加電圧を制御する。
前記制御装置は、前記スクリーンの法線方向に沿って観察者側から前記第1部分が前記第2部分の少なくとも一部を覆うよう、前記電力源の印加電圧により、前記粒子の向き及び位置の少なくとも一方を制御する。
前記スクリーンに用いられる粒子であって、
比誘電率の異なる第1部分と第2部分を含み、
前記第1部分と前記第2部分は、
非可視光の波長の反射率又は反射率スペクトル、若しくは、非可視光の波長の透過率又は透過率スペクトルが異なる。
前記所定の波長は、紫外線帯域又は赤外線帯域である。
前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、
紫外線で励起され、
紫外線、可視光、又は赤外線の蛍光を発する。
前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、
可視光又は赤外線で励起され、
赤外線の蛍光を発する。
前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、
紫外線で励起され、
紫外線、可視光、又は赤外線のリン光を発する。
前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、
可視光又は赤外線で励起され、
赤外線のリン光を発する。
所定の厚みを有する保持部と、
前記保持部に形成されたキャビティ内に収容される請求項8乃至13のいずれか1つに記載の粒子と、
を有する粒子層を備える。
前記粒子層を挟んだ基材を備える。
前記粒子を観察する顕微鏡と、
前記粒子を照明する光源と、
前記顕微鏡によって観察された画像を撮像する撮像部と、
前記撮像部が撮像した前記粒子の画像をあらかじめ定められた合格基準と比較する制御部と、
を備える。
前記粒子を照明するステップと、
前記粒子の画像を撮像するステップと、
撮像された前記粒子の画像とあらかじめ定められた合格基準と比較するステップと、
を有する。
第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、紫外線で励起され、紫外線、可視光、又は赤外線の蛍光を発する粒子と、
前記粒子を保持する保持部、及び、前記保持部に形成されたキャビティ内に収容される前記粒子、を有する粒子層と、
電圧を印加されることによって、前記粒子層の前記粒子を駆動するための電場を形成する電極と、を備える。
第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、可視光又は赤外線で励起され、赤外線の蛍光を発する粒子と、
前記粒子を保持する保持部、及び、前記保持部に形成されたキャビティ内に収容される前記粒子、を有する粒子層と、
電圧を印加されることによって、前記粒子層の前記粒子を駆動するための電場を形成する電極と、を備える。
第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、紫外線で励起され、紫外線、可視光、又は赤外線のリン光を発する粒子と、
前記粒子を保持する保持部、及び、前記保持部に形成されたキャビティ内に収容される前記粒子、を有する粒子層と、
電圧を印加されることによって、前記粒子層の前記粒子を駆動するための電場を形成する電極と、を備える。
第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、可視光又は赤外線で励起され、赤外線のリン光を発する粒子と、
前記粒子を保持する保持部、及び、前記保持部に形成されたキャビティ内に収容される前記粒子、を有する粒子層と、
電圧を印加されることによって、前記粒子層の前記粒子を駆動するための電場を形成する電極と、を備える。
比誘電率の異なる第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分は、非可視光の波長の反射率又は反射率スペクトル、若しくは、非可視光の波長の透過率又は透過率スペクトルが異なる、粒子を製造する装置であって、
前記粒子の前記第1部分を形成する第1材料を貯留する第1貯留部と、
前記粒子の第2部分を形成する第2材料を貯留する第2貯留部と、
液体又は気体のキャリアを貯留するキャリア貯留部と、
前記第1貯留部、前記第2貯留部、及び前記キャリア貯留部にそれぞれ連結され、前記第1材料、前記第2材料、前記第1材料及び前記第2材料から形成された前記粒子、並びに、前記キャリアが流れる流路と、
前記粒子を硬化させる硬化部と、
前記流路を分岐する分岐部と、
前記分岐部によって分岐された一方に連結される排出部と、
前記分岐部によって分岐された他方に連結される廃棄部と、
前記粒子を観察する顕微鏡、前記粒子を照明する光源、前記顕微鏡によって観察された画像を撮像する撮像部、及び、前記撮像部が撮像した前記粒子の画像をあらかじめ定められた合格基準と比較する制御部、を備える、粒子検査装置と、
を備え、
前記制御部は、
前記撮像部が撮像した前記粒子の画像があらかじめ定められた合格基準を満たしている場合、前記硬化部で前記粒子を硬化した後、前記分岐部を前記粒子が前記排出部から排出されるように制御し、
前記撮像部が撮像した前記粒子の画像があらかじめ定められた合格基準を満たしていない場合、前記分岐部を前記粒子が前記廃棄部から廃棄されるように制御する。
前記制御部は、
前記撮像部が撮像した前記粒子の画像があらかじめ定められた合格基準を満たしていない場合、前記第1貯留部から流出させる前記第1材料の流量又は前記第2貯留部から流出させる前記第2材料の流量のうち、少なくとも1つを制御する。
比誘電率の異なる第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分は、非可視光の波長の反射率又は反射率スペクトル、若しくは、非可視光の波長の透過率又は透過率スペクトルが異なる、粒子を製造する方法であって、
所定量の前記第1部分を形成する第1材料と前記第2部分を形成する第2材料を流路に流すステップと、
所定量のキャリアを前記流路に流し、前記第1材料と前記第2材料からなる二相流を所定の長さで切り取るステップと、
前記粒子を照明するステップ、前記粒子の画像を撮像するステップ、及び、撮像された前記粒子の画像とあらかじめ定められた合格基準と比較するステップ、を有する粒子検査方法を実行するステップと、
前記粒子があらかじめ定められた合格基準を満たしている場合、前記粒子を硬化させた後、排出するステップと、
前記粒子があらかじめ定められた合格基準を満たしていない場合、前記粒子を硬化させず、廃棄するステップと、
を有する。
前記粒子があらかじめ定められた合格基準を満たしていない場合、前記第1材料の流量又は前記第2材料の流量のうち、少なくとも1つを制御する。
前記粒子製造方法で形成された粒子を分散させたインキをシート化するステップと、
前記シートを液体に浸漬させて前記粒子の周囲にキャビティが形成され粒子層が製造されるステップと、
前記粒子層が基材に挟まれ光学シートが製造されるステップと、
前記光学シートに電場を形成する電極を設けスクリーンを製造するステップと、
を有する。
前記スクリーン製造方法で製造されたスクリーンに対して、電界の向きを規則的に反転させて前記粒子を反転させるステップと、
前記スクリーンを照明するステップと、
光学デバイスで前記スクリーンの反射率又は透過率を測定するステップと、
測定された前記スクリーンの反射率又は透過率をあらかじめ定めた合格基準と比較するステップと、
を有する。
第2拡散成分67bは、回転楕円体、立方体、直方体、錐体、円筒体等の外径を有するようにしてもよい。
d=(4×S/π)1/2
ただし、
dは、面積円相当径、
Sは、拡散成分断面の透過型電子顕微鏡(TEM:Transmission Electron Microscope)像から取得される面積、
である。
20…プロジェクター
21…コヒーレント光源
30…電力源
35…制御装置
40…スクリーン
41…第1電極
42…第2電極
46…第1カバー層
47…第2カバー層
50…光学シート
51…第1基材
52…第2基材
55…粒子層
56…保持部
56a…キャビティ
57…液体
60…粒子
61…第1部分
66a…第1主部
66b…第1拡散成分
62…第2部分
67a…第2主部
67b…第2拡散成分
70…粒子製造装置
71…第1貯留部
72…第2貯留部
73…キャリア貯留部
74…流路
75…分岐部
76…排出部
77…廃棄部
78…硬化部
80…粒子検査装置
81…制御部
82…顕微鏡
83…反射光源
84…透過光源
85…撮像部
Claims (27)
- 比誘電率の異なる第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分は、非可視光の波長の反射率又は反射率スペクトル、若しくは、非可視光の波長の透過率又は透過率スペクトルが異なる、粒子を含むスクリーンであって、
所定の厚みを有する保持部、及び、前記保持部に形成されたキャビティ内に収容される前記粒子、を有する粒子層を持つ光学シートと、
電圧を印加されることによって、前記粒子層の前記粒子を駆動するための電場を形成する電極と、
を備える、
スクリーン。 - 前記粒子層を挟んだ基材を備える、
請求項1に記載のスクリーン。 - 紫外線帯域を吸収又は反射する光学層を有する、
請求項2に記載のスクリーン。 - 請求項2又は3に記載のスクリーンと、
前記スクリーンにコヒーレント光を照射するプロジェクターと、
を備える、
表示装置。 - 前記スクリーンの前記電極に電圧を印加する電力源と、
前記電力源から前記電極に印加される印加電圧を制御する制御装置と、
をさらに備え、
前記制御装置は、前記粒子層で前記粒子を動作させるよう、前記電力源の印加電圧を制御する、
請求項4に記載の表示装置。 - 前記制御装置は、180°未満の角度範囲内で前記粒子を繰り返し回転させるよう、前記電力源の印加電圧を制御する、
請求項5に記載の表示装置。 - 前記制御装置は、前記スクリーンの法線方向に沿って観察者側から前記第1部分が前記第2部分の少なくとも一部を覆うよう、前記電力源の印加電圧により、前記粒子の向き及び位置の少なくとも一方を制御する、
請求項5又は6に記載の表示装置。
- 請求項1乃至3のいずれか1つに記載のスクリーンに用いられる粒子であって、
比誘電率の異なる第1部分と第2部分を含み、
前記第1部分と前記第2部分は、
非可視光の波長の反射率又は反射率スペクトル、若しくは、非可視光の波長の透過率又は透過率スペクトルが異なる、
粒子。 - 前記所定の波長は、紫外線帯域又は赤外線帯域である、
請求項8に記載の粒子。 - 前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、
紫外線で励起され、
紫外線、可視光、又は赤外線の蛍光を発する、
請求項8又は9に記載の粒子。 - 前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、
可視光又は赤外線で励起され、
赤外線の蛍光を発する、
請求項8又は9に記載の粒子。 - 前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、
紫外線で励起され、
紫外線、可視光、又は赤外線のリン光を発する、
請求項8又は9に記載の粒子。 - 前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、
可視光又は赤外線で励起され、
赤外線のリン光を発する、
請求項8又は9に記載の粒子。 - 所定の厚みを有する保持部と、
前記保持部に形成されたキャビティ内に収容される請求項8乃至13のいずれか1つに記載の粒子と、
を有する粒子層を備える、
光学シート。 - 前記粒子層を挟んだ基材を備える、
請求項14に記載の光学シート。 - 請求項8乃至13のいずれか1つに記載の粒子を観察する顕微鏡と、
前記粒子を照明する光源と、
前記顕微鏡によって観察された画像を撮像する撮像部と、
前記撮像部が撮像した前記粒子の画像をあらかじめ定められた合格基準と比較する制御部と、
を備える、
粒子検査装置。 - 請求項8乃至13のいずれか1つに記載の粒子を照明するステップと、
前記粒子の画像を撮像するステップと、
撮像された前記粒子の画像とあらかじめ定められた合格基準と比較するステップと、
を有する、
粒子検査方法。 - 第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、紫外線で励起され、紫外線、可視光、又は赤外線の蛍光を発する粒子と、
前記粒子を保持する保持部、及び、前記保持部に形成されたキャビティ内に収容される前記粒子、を有する粒子層と、
電圧を印加されることによって、前記粒子層の前記粒子を駆動するための電場を形成する電極と、
を備える、
スクリーン。 - 第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、可視光又は赤外線で励起され、赤外線の蛍光を発する粒子と、
前記粒子を保持する保持部、及び、前記保持部に形成されたキャビティ内に収容される前記粒子、を有する粒子層と、
電圧を印加されることによって、前記粒子層の前記粒子を駆動するための電場を形成する電極と、
を備える、
スクリーン。 - 第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、紫外線で励起され、紫外線、可視光、又は赤外線のリン光を発する粒子と、
前記粒子を保持する保持部、及び、前記保持部に形成されたキャビティ内に収容される前記粒子、を有する粒子層と、
電圧を印加されることによって、前記粒子層の前記粒子を駆動するための電場を形成する電極と、
を備える、
スクリーン。 - 第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分のうち少なくとも1つは、可視光又は赤外線で励起され、赤外線のリン光を発する粒子と、
前記粒子を保持する保持部、及び、前記保持部に形成されたキャビティ内に収容される前記粒子、を有する粒子層と、
電圧を印加されることによって、前記粒子層の前記粒子を駆動するための電場を形成する電極と、
を備える、
スクリーン。 - 比誘電率の異なる第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分は、非可視光の波長の反射率又は反射率スペクトル、若しくは、非可視光の波長の透過率又は透過率スペクトルが異なる、粒子を製造する装置であって、
前記粒子の前記第1部分を形成する第1材料を貯留する第1貯留部と、
前記粒子の第2部分を形成する第2材料を貯留する第2貯留部と、
液体又は気体のキャリアを貯留するキャリア貯留部と、
前記第1貯留部、前記第2貯留部、及び前記キャリア貯留部にそれぞれ連結され、前記第1材料、前記第2材料、前記第1材料及び前記第2材料から形成された前記粒子、並びに、前記キャリアが流れる流路と、
前記粒子を硬化させる硬化部と、
前記流路を分岐する分岐部と、
前記分岐部によって分岐された一方に連結される排出部と、
前記分岐部によって分岐された他方に連結される廃棄部と、
前記粒子を観察する顕微鏡、前記粒子を照明する光源、前記顕微鏡によって観察された画像を撮像する撮像部、及び、前記撮像部が撮像した前記粒子の画像をあらかじめ定められた合格基準と比較する制御部、を備える、粒子検査装置と、
を備え、
前記制御部は、
前記撮像部が撮像した前記粒子の画像があらかじめ定められた合格基準を満たしている場合、前記硬化部で前記粒子を硬化した後、前記分岐部を前記粒子が前記排出部から排出されるように制御し、
前記撮像部が撮像した前記粒子の画像があらかじめ定められた合格基準を満たしていない場合、前記分岐部を前記粒子が前記廃棄部から廃棄されるように制御する、
粒子製造装置。 - 前記制御部は、
前記撮像部が撮像した前記粒子の画像があらかじめ定められた合格基準を満たしていない場合、前記第1貯留部から流出させる前記第1材料の流量又は前記第2貯留部から流出させる前記第2材料の流量のうち、少なくとも1つを制御する、
請求項22に記載の粒子製造装置。 - 比誘電率の異なる第1部分と第2部分を含み、前記第1部分と前記第2部分は、非可視光の波長の反射率又は反射率スペクトル、若しくは、非可視光の波長の透過率又は透過率スペクトルが異なる、粒子を製造する方法であって、
所定量の前記第1部分を形成する第1材料と前記第2部分を形成する第2材料を流路に流すステップと、
所定量のキャリアを前記流路に流し、前記第1材料と前記第2材料からなる二相流を所定の長さで切り取るステップと、
前記粒子を照明するステップ、前記粒子の画像を撮像するステップ、及び、撮像された前記粒子の画像とあらかじめ定められた合格基準と比較するステップ、を有する粒子検査方法を実行するステップと、
前記粒子があらかじめ定められた合格基準を満たしている場合、前記粒子を硬化させた後、排出するステップと、
前記粒子があらかじめ定められた合格基準を満たしていない場合、前記粒子を硬化させず、廃棄するステップと、
を有する、
粒子製造方法。 - 前記粒子があらかじめ定められた合格基準を満たしていない場合、前記第1材料の流量又は前記第2材料の流量のうち、少なくとも1つを制御する
請求項24に記載の粒子製造方法。 - 請求項24又は25に記載された粒子製造方法で形成された粒子を分散させたインキをシート化するステップと、
前記シートを液体に浸漬させて前記粒子の周囲にキャビティが形成され粒子層が製造されるステップと、
前記粒子層が基材に挟まれ光学シートが製造されるステップと、
前記光学シートに電場を形成する電極を設けスクリーンを製造するステップと、
を有する、
スクリーン製造方法。 - 請求項26に記載されたスクリーン製造方法で製造されたスクリーンに対して、電界の向きを規則的に反転させて前記粒子を反転させるステップと、
前記スクリーンを照明するステップと、
光学デバイスで前記スクリーンの反射率又は透過率を測定するステップと、
測定された前記スクリーンの反射率又は透過率をあらかじめ定めた合格基準と比較するステップと、
を有する、
スクリーン検査方法。
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