JP6186392B2 - 電流共振型dc−dcコンバータ - Google Patents

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Description

実施形態は、電流共振型DC−DCコンバータに関する。
電流共振型DC(Direct Current)−DCコンバータは、典型的には、スイッチング回路の駆動周波数を制御することにより、安定した出力電圧を負荷に供給する。駆動周波数をその可変範囲の下限値を超えて低く設定すると、共振回路のインピーダンスがキャパシティブ(すなわち、キャパシタンス成分がインダクタンス成分に比べて優位)な状態になる。通常、駆動周波数は、共振回路のインピーダンスがインダクティブ(すなわち、インダクタンス成分がキャパシタンス成分に比べて優位)な状態で制御される。故に、共振回路のインピーダンスがインダクティブな状態からキャパシティブな状態へと移行すると、出力電圧(または出力電流)制御の極性が反転するため制御が破綻し、DC−DCコンバータの継続動作が不可能となる。加えて、スイッチング回路に含まれるFET(Field Effect Transistor)のボディ(寄生)ダイオードのリカバリ電流により、スイッチング損失が増大(すなわち、効率が低下)するうえに当該FETが破損するおそれもある。
共振回路のインピーダンスがインダクティブな状態からキャパシティブな状態へと移行する現象は、共振はずれとも呼ばれる。共振はずれの発生を防止する技法として、スイッチング回路に含まれる各FETがOFF状態からON状態へと切り替わる時点でそのボディダイオードに電流が流れなければ、次のサイクルで当該FETがONとなることを禁止したり駆動周波数を高く設定したりすることが知られている。しかしながら、この技法では、スイッチング回路に含まれる各FETのボディダイオードに流れる電流の値を検出するために付加的な機構が必要となるので、係る機構によるコスト、回路規模および損失の増大が問題となる。さらに、この機構の構成次第では、共振はずれの検知遅れ(例えば、フィルタ回路による)が増加することもあり、この検知遅れが大きいほど駆動周波数の下限値を大きく制限して十分なマージンを確保する必要がある。
特開2000−134929号公報
実施形態は、共振はずれを防止することを目的とする。
実施形態によれば、電流共振型DC−DCコンバータは、スイッチング回路と、共振回路と、制御回路と、電流検出素子と、検出回路とを含む。スイッチング回路は、複数のトランジスタを含み、当該複数のトランジスタが複数の制御信号に応じてON/OFF動作することで、入力直流電圧に基づく交流電圧を生成する。共振回路は、交流電圧を出力直流電圧へと変換する。制御回路は、出力直流電圧または共振回路の出力電流に基づいて複数の制御信号の周波数を制御する。電流検出素子は、共振回路の入力電流を検出する。検出回路は、複数のトランジスタのうちの1つである第1のトランジスタに与えられる第1の制御信号の電圧と入力電流との関係を示す情報を検出し、検出信号を生成する。さらに、制御回路は、検出信号が共振回路のインピーダンスがキャパシティブな状態にあることを示す場合には、周波数の下限値を引き上げる。
第1の実施形態に係る電流共振型DC−DCコンバータを例示する回路図。 電流共振型DC−DCコンバータの基本回路を例示する回路図。 図2のLCR共振回路の等価回路を例示する回路図。 図2のLCR共振回路の周波数特性を例示するグラフ。 図2のLCR共振回路のインピーダンスがインダクティブである場合に図2のスイッチング回路に含まれるFETを流れる電流を例示するグラフ。 図2のLCR共振回路のインピーダンスがキャパシティブである場合に図2のスイッチング回路に含まれるFETを流れる電流を例示するグラフ。 図1の位相検出回路の具体例を示す回路図。 図1の変形例を示す回路図。 FETを流れる負方向の電流を検出する技法の説明図。 FETを流れる負方向の電流を検出する技法の説明図。 FETを流れる負方向の電流を検出する技法の説明図。
以下、図面を参照しながら実施形態の説明が述べられる。尚、以降、説明済みの要素と同一または類似の要素には同一または類似の符号が付され、重複する説明は基本的に省略される。
(第1の実施形態)
図2には、電流共振型DC−DCコンバータの基本回路が例示される。図2の基本回路は、ハーフブリッジ型のDC−DCコンバータに相当し、かつ、共振はずれへの対策が施されていないので、図1に示されるフルブリッジ型のDC−DCコンバータとは一部の構成において異なるものの基本的な動作原理では共通する。図2の電流共振型DC−DCコンバータは、スイッチング回路と、LCR共振回路とを含む。
スイッチング回路は、直流入力電圧(Vin)に基づいて矩形波を生成し、この矩形波をLCR共振回路の入力端子へと供給する。この矩形波は、スイッチング回路に含まれるFET Q201およびFET Q202のゲート端子へと供給される第1の制御信号および第2の制御信号によって制御される。
FET Q201のゲート端子は、図示されない制御回路に接続される。FET Q201のドレイン端子は、直流電源の正極端子に接続される。FET Q201のソース端子は、FET Q202のドレイン端子およびスイッチング回路の第1の出力端子に接続される。すなわち、FET Q202は、FET Q201に直列接続される。
FET Q202のゲート端子は、図示されない制御回路に接続される。FET Q202のドレイン端子は、FET Q201のソース端子およびスイッチング回路の第1の出力端子に接続される。FET Q202のソース端子は、直流電源の負極端子に接続される。
FET Q201およびFET Q202は、制御回路からLCR共振回路の出力電圧または出力電流に基づいて生成された第1の制御信号および第2の制御信号を受け取り、当該第1の制御信号および第2の制御信号のレベルに応じて交互にON/OFFする。ここで、第1の制御信号および第2の制御信号は、共に、周波数がfに等しくデューティー比が約50%に等しいパルス信号に相当する。換言すれば、FET Q202は、第1の制御信号の反転信号に概ね相当する第2の制御信号のレベルに応じて、FET Q201のON/OFFタイミングと略同一のタイミングでFET Q201と逆の状態に切り替わる。
具体的には、制御回路は、FET Q201をLCR共振回路の出力電圧または出力電流に基づく駆動周波数(f)でON/OFFする。そして、スイッチング回路は、LCR共振回路に含まれるトランスT1の一次側インダクタに矩形波交流電圧を印加することになる。
LCR共振回路は、入力端子、第1の出力端子および第2の出力端子を備える。LCR共振回路は、入力端子を介してスイッチング回路から供給される矩形波交流電圧を昇圧または降圧することで直流出力電圧を生成する。そして、LCR共振回路は、第1の出力端子と第2の出力端子との間に接続された負荷に出力電圧を印加する。
LCR共振回路は、共振キャパシタC1と、共振キャパシタC2と、トランスT1と、整流回路D1と、負荷とを含む。このLCR共振回路の共振特性は、共振キャパシタC1および共振キャパシタC2の合成キャパシタンス(Cs)と、トランスT1の漏洩インダクタンス(L1)および励磁インダクタンスと、負荷の抵抗値(RL)によって決まる。なお、整流回路D1は、トランスT1の二次側に接続され、当該トランスT1からの交流入力電圧を整流することによって直流出力電圧を生成する。
図2のLCR共振回路(Z1)の等価回路が図3に例示される。図3において、LTはトランスT1の一次側の主インダクタンスを表し、Rloadは負荷の抵抗値(RL)をトランスT1の一次側へと変換した場合の等価抵抗を表す。
図4に例示されるように、図2のLCR共振回路の利得(すなわち、出力電圧(V2)/入力電圧(V1))およびインピーダンスの角度は周波数に依存して変動する。図4に示されるように、LCR共振回路の利得は、上に凸に変化しており、その極大値よりも高域側(すなわち、LCR共振回路のインピーダンスがインダクティブな状態となる周波数領域)では駆動周波数(f)に対して単調減少する。そして、通常、LCR共振回路のインピーダンスがインダクティブな状態で駆動周波数(f)を制御することにより、出力電圧または出力電流は調整される。例えば、入力電圧(V1)がある程度変動したとしても、係る変動に応じて駆動周波数(f)を変化させることでLCR共振回路の出力電圧または出力電流を安定化させることができる。
具体的には、LCR共振回路の出力電圧が目標値に比べて低い場合には駆動周波数(f)を可変範囲内で低下させることにより、当該出力電圧を高めることができる。他方、LCR共振回路の出力電圧が目標値に比べて高い場合には駆動周波数(f)を可変範囲内で高めることにより、当該出力電圧を低下させることができる。
他方、図2のLCR共振回路の利得は、そのインピーダンスがキャパシティブな状態では駆動周波数(f)に対して単調増加する。すなわち、LCR共振回路のインピーダンスがインダクティブな状態からキャパシティブな状態へと移行する(すなわち、共振はずれが生じる)と、出力電圧(または出力電流)制御の極性が反転して制御が破綻することになる。故に、電流共振型DC−DCコンバータにおいて、共振はずれの発生を検知および防止することが求められる。
共振はずれの検知に関して、スイッチング回路に含まれる各FETがOFF状態からON状態に切り替わった時点でそのボディダイオードに電流が流れるか否かによって、LCR共振回路のインピーダンスがインダクティブな状態であるかキャパシティブな状態であるかを推定することが可能である。なお、FETのボディダイオードは、そのアノードが当該FETのソース端子に接続され、そのカソードが当該FETのドレイン端子に接続される。故に、FETのボディダイオードに順方向電流が流れている状態では、当該FETには負方向(すなわち、ソース端子からドレイン端子の方向)の電流が流れていることになる。
図5に例示されるように、LCR共振回路のインピーダンスがインダクティブな状態では、スイッチング回路に含まれるFETがOFF状態からON状態へと切り替わった時点で当該FETには負方向の電流が流れる。故に、FETのボディダイオードに順方向電流が流れている。他方、図6に例示されるように、LCR共振回路のインピーダンスがキャパシティブな状態では、スイッチング回路に含まれるFETがOFF状態からON状態へと切り替わった時点で当該FETには正方向の電流が流れる。すなわち、FETのボディダイオードに順方向電流が流れていない。
FETに流れる負方向の電流は、様々な技法を用いて検知することができる。例えば、図9に示されるように、シャント抵抗器および差動増幅器を用いてスイッチング回路に含まれるFETのドレイン電流を検出することが可能である。しかしながら、係る技法によれば、シャント抵抗器の挿入損失、ならびに、高速、高電圧かつ高性能な差動増幅器による回路規模およびコストの増加が問題となる。
或いは、差動増幅器を用いることなくFETに流れる負方向の電流を検出することも可能である。具体的には、図10に示されるように、シャント抵抗器、フィルタ、反転回路および図示されない負電源を用いてスイッチング回路に含まれるFETのソース電流を検出することが可能である。このフィルタは、ソース電流に混入する高速のゲート電流成分を抑圧する低域通過型フィルタである。また、反転回路および負電源は、負の電圧を検知するために用いられる。しかしながら、係る技法によっても、シャント抵抗器の挿入損失は避けられず、フィルタ、反転回路および負電源による回路規模およびコストの増加も生じる。加えて、フィルタによる検知遅れの増加も問題となる。図10の反転回路および負電源を図11に示すようにバイアス回路に置き換えることで回路規模およびコストの増加を軽減することも可能であるが、当該バイアス回路による回路規模およびコストの増加は避けられない。
さらに、図9、図10および図11のいずれの技法も、FETに流れる電流の大きさを計測して計測値を閾値と比較する必要があり、係る回路動作による遅延が共振はずれの検知遅れに上乗せされる。故に、これらの技法によれば、共振はずれの発生をより確実に防止するために、駆動周波数(f)の可変範囲(特に、下限値)を大きく制限して十分なマージンを確保する必要がある。そして、マージンを確保することにより、回路規模およびコストはさらに増加することになる。
第1の実施形態に係る電流共振型DC−DC変換器は、LCR共振回路を流れる電流(入力電流)の位相とスイッチング回路に含まれるFETのゲート電圧(ゲート−ソース間電圧)の位相との関係に基づいて共振はずれの発生(またはその兆候)を速やかに検知し、例えば駆動周波数の下限値を引き上げることで共振はずれの発生を防止する。なお、以降の説明では、FET Q102のゲート電圧に注目するが、他のFETのゲート電圧の位相とLCR共振回路の入力電流の位相とを比較してもよい。
第1の実施形態に係る電流共振型DC−DC変換器が図1に例示される。図1の電流共振型DC−DC変換器は、スイッチング回路と、LCR共振回路と、制御回路100と、位相検出回路130とを含む。なお、制御回路100および位相検出回路130の一部または全部がマイクロコントローラとして実装されてもよい。
スイッチング回路は、FET Q101と、FET Q102と、FET Q103と、FET Q104とを含む。なお、FET Q101、FET Q102、FET Q103およびFET Q104は、他の種別のトランジスタに置き換えられてもよい。例えば、バイポーラトランジスタ、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)が採用されてもよい。同様に、ゲート電圧は、トランジスタの種別に応じて、ベース電圧または制御電圧などとして読み替えられてよい。
スイッチング回路は、直流電源によって印加される直流入力電圧(Vin)に基づいて2つの矩形波を生成し、この2つの矩形波をLCR共振回路の第1の入力端子および第2の入力端子へとそれぞれ供給する。この矩形波は、制御回路100からFET Q101、FET Q102、FET Q103およびFET Q104のゲート端子へと供給される第1の制御信号、第2の制御信号、第3の制御信号および第4の制御信号によって制御される。
FET Q101のゲート端子は、制御回路100に接続される。FET Q101のドレイン端子は、直流電源の正極端子に接続される。FET Q101のソース端子は、FET Q102のドレイン端子およびスイッチング回路の第1の出力端子に接続される。すなわち、FET Q102は、FET Q101に直列接続される。
FET Q102のゲート端子は、制御回路100に接続される。さらに、FET Q102のゲート端子は、位相検出回路130にも接続される。FET Q102のドレイン端子は、FET Q101のソース端子およびスイッチング回路の第1の出力端子に接続される。FET Q102のソース端子は、直流電源の負極端子に接続される。
FET Q101およびFET Q102は、制御回路100から第1の制御信号および第2の制御信号を受け取り、当該第1の制御信号および第2の制御信号のレベルに応じて交互にON/OFFする。ここで、第1の制御信号および第2の制御信号は、共に、周波数がfに等しくデューティー比が約50%に等しいパルス信号に相当する。換言すれば、FET Q102は、第1の制御信号の反転信号に概ね相当する第2の制御信号のレベルに応じて、FET Q101のON/OFFタイミングと略同一のタイミングでFET Q101と逆の状態に切り替わる。
FET Q103のゲート端子は、制御回路100に接続される。FET Q103のドレイン端子は、直流電源の正極端子に接続される。すなわち、図1の例では、FET Q103は、FET Q101に並列接続される。FET Q103のソース端子は、FET Q104のドレイン端子およびスイッチング回路の第2の出力端子に接続される。すなわち、FET Q104は、FET Q103に直列接続される。
FET Q104のゲート端子は、制御回路100に接続される。FET Q104のドレイン端子は、FET Q103のソース端子およびスイッチング回路の第2の出力端子に接続される。FET Q104のソース端子は、直流電源の負極端子に接続される。すなわち、図1の例では、FET Q104は、FET Q102に並列接続される。
FET Q103およびFET Q104は、FET Q101およびFET Q102と並列に配置されており、制御回路100から第3の制御信号および第4の制御信号を受け取り、当該第3の制御信号および第4の制御信号のレベルに応じて交互にON/OFFする。ここで、第3の制御信号および第4の制御信号は、共に、周波数がfに等しくデューティー比が約50%に等しいパルス信号に相当する。換言すれば、FET Q104は、第3の制御信号の反転信号に概ね相当する第4の制御信号のレベルに応じて、FET Q103のON/OFFタイミングと略同一のタイミングでFET Q103と逆の状態に切り替わる。
一例として、FET Q101のON/OFFタイミングは、FET Q104のON/OFFタイミングと一致していてもよい。換言すれば、FET Q102のON/OFFタイミングは、FET Q103のON/OFFタイミングと一致していてもよい。この場合に、LCR共振回路に印加される矩形波交流電圧は、そのピーク電圧が±Vinに等しく、その周波数がfに等しい。
LCR共振回路は、第1の入力端子、第2の入力端子、第1の出力端子および第2の出力端子を備える。LCR共振回路の第1の入力端子および第2の入力端子は、スイッチング回路の第1の出力端子および第2の出力端子にそれぞれ接続される。LCR共振回路の第1の出力端子および第2の出力端子は、負荷の第1の端子および第2の端子にそれぞれ接続可能である。さらに、LCR共振回路の出力電圧または出力電流の測定のために、LCR共振回路の第1の出力端子および第2の出力端子の少なくとも一方は制御回路100にも接続される。
LCR共振回路は、第1の入力端子および第2の入力端子を介してスイッチング回路から供給される矩形波交流電圧を昇圧または降圧することで直流出力電圧を生成する。そして、LCR共振回路は、第1の出力端子と第2の出力端子との間に接続された負荷に出力電圧を印加する。
LCR共振回路は、共振キャパシタC3と、トランスT1と、整流回路D1と、負荷とを含む。このLCR共振回路の共振特性は、共振キャパシタC3のキャパシタンスと、トランスT1の漏洩インダクタンス(L1)および励磁インダクタンスと、負荷の抵抗値(RL)によって決まる。LCR共振回路の周波数特性は、図4と同様に変化する。なお、整流回路D1は、トランスT1の二次側に接続され、当該トランスT1からの交流入力電圧を整流することによって直流出力電圧を生成する。
さらに、LCR共振回路には、カレントトランスCTが挿入されている。カレントトランスCTは、LCR共振回路の入力電流に比例する電流を検出する。この電流は抵抗器R101によって電圧に変換され、位相検出回路130へと供給される。
制御回路100は、LCR共振回路の出力電圧または出力電流を検知する。そして、制御回路100は、FET Q101、FET Q102、FET Q103およびFET Q104をそれぞれ駆動するための第1の制御信号、第2の制御信号、第3の制御信号および第4の制御信号を、LCR共振回路の出力電圧または出力電流に基づいて生成する。制御回路100は、第1の制御信号、第2の制御信号、第3の制御信号および第4の制御信号をスイッチング回路へと出力する。
例えば、制御回路100は、LCR共振回路の出力電圧が目標値に近づくように、第1の制御信号、第2の制御信号、第3の制御信号および第4の制御信号の周波数を制御してもよい。但し、第1の制御信号、第2の制御信号、第3の制御信号および第4の制御信号の周波数は、LCR共振回路のインピーダンスがインダクティブな状態を維持することのできる周波数領域内で制御される必要がある。
そこで、制御回路100は、位相検出回路130によって生成される検出信号(後述される)を監視する。検出信号が共振はずれの発生(またはその兆候)を示す場合には、制御回路100は、第1の制御信号、第2の制御信号、第3の制御信号および第4の制御信号の周波数(f)の下限値を引き上げる。係る動作によって、共振はずれの発生を防止することができる。他方、検出信号が共振はずれの発生(またはその兆候)を示していない場合には、制御回路100は下限値を維持すればよい。
図1に例示されるように、制御回路100は、コントローラ110と発振回路120とを含むことができる。コントローラ110は、LCR共振回路の出力電圧または出力電流を検知し、検知結果に基づいて発振回路120の発振周波数を制御する。さらに、コントローラ110は、位相検出回路130によって生成される検出信号が共振はずれの発生(またはその兆候)を示している場合には、発振回路120の発振周波数の下限値を引き上げる。発振回路120は、コントローラ110から供給される発振制御信号に応じた周波数で発振することで、第1の制御信号、第2の制御信号、第3の制御信号および第4の制御信号を生成し、スイッチング回路へと出力する。
位相検出回路130は、FET Q102のゲート電圧の位相とLCR共振回路の入力電流(例えば、カレントトランスCTの出力信号)の位相との関係を示す位相情報を検出して検出信号を生成する。例えば、位相検出回路130は、FET Q102のゲート電圧とカレントトランスCTの出力信号との位相差を示す検出信号を生成してもよい。位相検出回路130は、検出信号を制御回路100へと出力する。
この検出信号を参照することにより、制御回路100は共振はずれが発生しているか否かを推定することができる。具体的には、図1の電流共振型DC−DCコンバータにおいて、LCR共振回路のインピーダンスがインダクティブな状態にあれば、当該LCR共振回路の入力電流の位相は、FET Q102のゲート電圧の位相に対して遅れ位相となる。他方、LCR共振回路のインピーダンスがキャパシティブな状態にあれば、当該LCR共振回路の入力電流の位相は、FET Q102のゲート電圧の位相に対して進み位相となる。すなわち、両者の位相の関係を参照すれば、LCR共振回路のインピーダンスがインダクティブな状態にあるのかキャパシティブな状態にあるのかを判定することができる。
位相検出回路130は、様々な回路によって実現することができる。例えば、図7に示されるように、位相検出回路130は微分回路131および論理回路132の組み合わせによって実現されてもよい。
微分回路131は、FET Q102のゲート電圧を微分することで、当該ゲート電圧の導関数に比例する電圧を持つ出力信号を生成する。具体的には、微分回路131の出力信号の電圧は、FET Q102のゲート電圧の立ち上がり時(すなわち、FET Q102がOFF状態からON状態へと切り替わる時点)に大きな正の値(Highレベルのディジタル信号に相当)となる。微分回路131の出力信号は、論理回路132へと供給される。
論理回路132は、例えばANDゲートであって、カレントトランスCTの出力信号および微分回路131の出力信号を入力する。カレントトランスCTの出力信号は、FET Q102に負方向(図7中の矢印と逆方向)の電流が流れていれば正の値の電圧(Highレベルのディジタル信号に相当)を持ち、FET Q102に正方向(図7中の矢印と同方向)の電流が流れていれば負の値の電圧(Lowレベルのディジタル信号に相当)を持つ。すなわち、LCR共振回路の入力電流の位相がFET Q102のゲート電圧の位相に対して遅れ位相であるならば、FET Q102のゲート電圧の立ち上がり時にカレントトランスCTの出力信号はHighレベルとなる。他方、LCR共振回路の入力電流の位相がFET Q102のゲート電圧の位相に対して進み位相であるならば、FET Q102のゲート電圧の立ち上がり時にカレントトランスCTの出力信号はLowレベルとなる。論理回路132は、カレントトランスCTの出力信号および微分回路131の出力信号の論理積を演算し、演算結果を制御回路100へと出力する。なお、この論理積は、FET Q102のゲート電圧の立ち上がり時に、カレントトランスCTの出力信号の論理レベルに一致する。
制御回路100は、FET Q102のゲート電圧の立ち上がり時に論理回路132からHighレベルの演算結果が入力されれば、共振はずれが発生していないと判定する。他方、制御回路100は、FET Q102のゲート電圧の立ち上がり時に論理回路132からLowレベルの演算結果が入力されれば、共振はずれが発生していると判定する。
或いは、図1の電流共振型DC−DCコンバータは、図8に例示されるように変形されてもよい。図8の電流共振型DC−DCコンバータは、スイッチング回路と、LCR共振回路と、制御回路100と、位相検出回路130と、電圧検出回路140とを含む。
図8のスイッチング回路は、図1のスイッチング回路と同一または類似であってよい。図8のLCR共振回路も、図1のスイッチング回路と概ね類似であってよいが、加極性のカレントトランスCTが減極性のカレントトランスT2に置き換わっている。
図8の制御回路100は、端子Fminを介して位相検出回路130に接続されており、当該端子Fminに印加される電圧(位相検出回路130によって生成される検出信号に相当)に応じて駆動周波数(f)の下限値を決定する。また、図8の制御回路100は、電圧検出回路140によって検出されたLCR共振回路の出力電圧に基づいて駆動周波数を制御する。その余の点では、図8の制御回路100は、図1の制御回路100と同一または類似であってよい。
電圧検出回路140は、LCR共振回路の出力電圧を検出し、検出結果を制御回路100に通知する。
図8の位相検出回路130は、微分回路131を構成するキャパシタC4および抵抗器R1の他に様々な受動素子および能動素子(論理ゲートを含む)を備えている。以下、図8の位相検出回路130の動作について説明する。
微分回路131としてのキャパシタC4および抵抗器R1は、FET Q102のゲート電圧を微分することで、当該ゲート電圧の導関数に比例する電圧を持つ出力信号を生成する。微分回路131は、その出力信号を論理回路U1の端子1へと供給する。
カレントトランスT2は、LCR共振回路の入力電流に比例する電流を検出する。そして、FET Q102に正方向(図8中の矢印と同方向)の電流が流れていれば、トランジスタQNPNの制御電圧は上昇して当該トランジスタQNPNはON状態となるので、論理回路U1の端子2にはLowレベルのディジタル信号に相当する電圧が印加される。他方、FET Q102に負方向(図8中の矢印と逆方向)の電流が流れていれば、トランジスタQNPNの制御電圧は降下して当該トランジスタQNPNはOFF状態となるので、論理回路U1の端子2にはHighレベルのディジタル信号に相当する電圧が印加される
論理回路U1は、端子1および端子2の入力信号の論理積の論理反転を演算し、演算結果を端子4を介して出力する。論理回路U1は、例えばNANDゲートを用いて実装されてもよい。LCR共振回路の入力電流の位相がFET Q102のゲート電圧の位相に対して遅れ位相であるならば、FET Q102のゲート電圧の立ち上がり時には端子1および端子2の入力信号はいずれもHighレベルとなるので、演算結果はLowレベルとなる。他方、LCR共振回路の入力電流の位相がFET Q102のゲート電圧の位相に対して進み位相であるならば、FET Q102のゲート電圧の立ち上がり時には端子1の入力信号がHighレベルとなり端子2の入力信号はLowレベルとなるので、演算結果はHighレベルとなる。
抵抗器R4およびキャパシタC7は、論理回路U1の出力信号がLowレベルである(すなわち、LCR共振回路の入力電流の位相がFET Q102のゲート電圧の位相に対して遅れ位相である)場合に、そのパルス幅を拡張するパルス幅拡張回路として機能する。このパルス幅拡張回路の出力信号(すなわち、パルス幅が拡張されたLowレベルのディジタル信号またはパルス幅が維持されたHighレベルのディジタル信号)を論理回路U2の端子1および端子2に共通に出力する。
論理回路U2は、端子1および端子2の共通入力信号の論理積の論理反転を演算し、演算結果を端子4を介して出力する。要するに、論理回路U2は、バッファ回路兼極性反転回路に相当する。論理回路U2は、例えばNANDゲートを用いて実装されてもよい。
論理回路U2の出力信号がHighレベルである(すなわち、LCR共振回路の入力電流の位相がFET Q102のゲート電圧の位相に対して遅れ位相である)ならば、ダイオードD4は逆方向バイアスされるので抵抗器R6を流れる電流は当該ダイオードD4に分岐しない。
他方、論理回路U2の出力信号がLowレベルである(すなわち、LCR共振回路の入力電流の位相がFET Q102のゲート電圧の位相に対して進み位相である)ならば、ダイオードD4は順方向バイアスされる(ダイオードD4のカソードが略接地される)ので抵抗器R6を流れる電流は当該ダイオードD4に分岐する。換言すれば、端子Fminに接続される実効抵抗値が減少し、端子Fminに印加される電圧は降下する。そして、駆動周波数(f)の下限値は、端子Fminの電圧降下に応じて引き上げられる。
以上説明したように、第1の実施形態に係る電流共振型DC−DCコンバータは、スイッチング回路に含まれるトランジスタに与えられる制御信号の第1の位相とLCR共振回路の入力電流の第2の位相との関係を示す位相情報を検出し、当該位相情報が第2の位相が第1の位相に対して進み位相であることを示すならば、当該制御信号の周波数の下限値を引き上げる。従って、このDC−DCコンバータによれば、共振はずれを防止することが可能である。
このDC−DCコンバータは、位相比較に基づいて共振はずれを検知するので、電流の大小比較に基づいて共振はずれを検知する技法に比べて、検知遅れを削減することができる。すなわち、このDC−DCコンバータによれば、駆動周波数の下限値を大きく制限しなくても十分なマージンが確保されるので、回路規模およびコストの増大を抑制することができる。さらに、このDC−DCコンバータは、LCR共振回路の入力電流を検出するための電流検出素子として低損失なカレントトランスを採用するので、シャント抵抗器を採用する場合に比べて損失も削減できる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
100・・・制御回路
110・・・コントローラ
120・・・発振回路
130・・・位相検出回路
131・・・微分回路
132,U1,U2・・・論理回路
140・・・電圧検出回路
C1,C2,C3・・・共振キャパシタ
C4,C5,C6,C7,C8,C9・・・キャパシタ
D1・・・整流回路
D2,D3,D4・・・ダイオード
CT,T2・・・カレントトランス
Q101,Q102,Q103,Q104,Q201,Q202・・・FET
R1,R2,R3,R4,R5,R6,R7,R101・・・抵抗器
T1・・・トランス
QNPN・・・トランジスタ

Claims (4)

  1. 複数のトランジスタを含み、当該複数のトランジスタが複数の制御信号に応じてON/OFF動作することで、入力直流電圧に基づく交流電圧を生成するスイッチング回路と、
    前記交流電圧を出力直流電圧へと変換する共振回路と、
    前記出力直流電圧または前記共振回路の出力電流に基づいて前記複数の制御信号の周波数を制御する制御回路と、
    前記共振回路の入力電流を検出する電流検出素子と、
    前記複数のトランジスタのうちの1つである第1のトランジスタに与えられる第1の制御信号の電圧と前記入力電流との関係を示す情報を検出し、検出信号を生成する検出回路と
    を具備し、
    前記制御回路は、前記検出信号が前記共振回路のインピーダンスがキャパシティブな状態にあることを示す場合には、前記周波数の下限値を引き上げ
    前記検出回路は、
    前記第1の制御信号の電圧を微分する微分回路と、
    前記微分回路の出力信号および前記電流検出素子の出力信号を論理演算することで前記第1の制御信号の電圧の第1の位相と前記入力電流の第2の位相との関係を示す情報を検出し、前記検出信号を生成する論理回路と
    を含む
    電流共振型DC−DCコンバータ。
  2. 前記電流検出素子は、カレントトランスを含む、請求項1に記載の電流共振型DC−DCコンバータ。
  3. 前記制御回路は、前記検出信号が前記第2の位相が前記第1の位相に対して進み位相であることを示すならば、前記周波数の下限値を引き上げる、請求項1または請求項2に記載の電流共振型DC−DCコンバータ。
  4. 前記制御回路および前記検出回路はマイクロコントローラとして実装される、請求項1乃至請求項3のいずれか1項記載の電流共振型DC−DCコンバータ。
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