JP6124927B2 - エンファシス付加装置及びエンファシス付加方法 - Google Patents

Description

本発明は、試験対象物（ＤＵＴ：device under test ）に入力される試験用信号（元信号）に対し、使用されるコンピュータバス・相互接続規格に応じたエンファシス波形を生成して付加するエンファシス付加装置及びエンファシス付加方法に関する。

送信側で送信する信号の特定の周波数成分を強調することにより、伝送路で減衰しやすい周波数を補償して伝送路で起こる信号の減衰を最小限に抑え、受信側で受信する信号の品質を改善する伝送技術としてエンファシスが従来より知られている。

このエンファシスの伝送技術を用いた装置としては、例えば下記特許文献１に開示されるエンファシス付加装置が知られている。このエンファシス付加装置は、図７に示すように、横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージ５１を設定画面５２上に表示させ、このプリエンファシス波形イメージ５１においてビットを強調させることが可能な箇所のタップにカーソル５３を配置し、このカーソル５３の移動に応じて可変される振幅量に基づいて設定画面５３上のプリエンファシス波形イメージ５１と同一のエンファシス波形を生成して元信号に付加している。

そして、上述した特許文献１を含む従来のエンファシス付加装置では、例えば図７に示す設定画面５２において、アイ振幅の振幅電圧値を設定するための入力ボックス５４と、アイ振幅に対するカーソル５３の振幅量を設定するための入力ボックス５５とを表示し、入力ボックス５４にアイ振幅の振幅電圧値Ｖｐ−ｐを数値入力するとともに、入力ボックス５５にカーソル５３の振幅量であるｄＢ値を数値入力して設定するのが一般的であった。

特開２０１２−０６０６３０号公報

ところで、この種のエンファシス付加装置を用いて元信号にエンファシス波形を付加するにあたっては、例えば図８や図９の規格書に示すように、アイ振幅に対する振幅量（ｄＢ値）ではなく、アイ振幅に対する比として各タップ毎の設定を行い、この設定に基づくエンファシス波形を生成する場合がある。また、規格書によっては、アイ振幅に対する比のステップ数を各タップ毎に調整する方法の手順が規定されているものもある。

図８は、規格団体：ＩＢＴＡによる規格書：InfiniBandTM Architecture Specification Volume 2 Release 1.3 である。この規格書には、図８に示すようなＣｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔｓが規定されており、ステップ数が０．００８３〜０．０５の値で、「Ｉｎｃｒｅａｓｅ」、「ｄｅｃｒｅａｓｅ」する手順の調整方法についても記載されている。

図９は、規格団体：ＩＥＥＥによる規格書：ＩＥＥＥ Ｓｔａｎｄａｒｄ ｆｏｒ Ｅｔｈｅｒｎｅｔ ＳＥＣＴＩＯＮ ＦＩＶＥである。この規格書の調整方法は、「Ｉｎｃｒｅａｓｅ」、「ｄｅｃｒｅａｓｅ」をそれぞれ一つの係数に対して実施しているが、Ａｄｊｕｓｔｍｅｎｔの方法として、同時に動かすことで手順を簡略化できるものである。

さらに、規格団体：ＩＥＥＥによる規格書：Draft Standard for Ethernet Amendment 2:Physical Layer Specifications and Management Parameters for 100 Gb/s Operation Over Backplanes and Copper Cablesには、図８の規格書と同様に、Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ ｓｔｅｐ ｓｉｚｅについての定義が記載されている。具体的には、Ｃ（ｉ）の値を０．００８３から０．０５のステップサイズで、「Ｉｎｃｒｅａｓｅ」、「ｄｅｃｒｅａｓｅ」、又は「ｈｏｌｄ」する手順の調整方法である。

このように、従来のエンファシス付加装置によって図８や図９等の規格書に従ったエンファシス波形を生成する場合には、規格書にはｄＢ表記が無く、アイ振幅に対する比によって規定されているため、ユーザがアイ振幅に対する比をｄＢ値に換算する必要があった。しかも、規格書によっては、アイ振幅に対する比のステップ数を各タップ毎に規格書の規定に従って調整する必要がある。その結果、上述した点を考慮して全てのタップのアイ振幅に対する比を設定するためには、多くの操作を繰り返さなければならず、非常に煩雑な操作となり、設定ミスも生じやすく、ユーザビリティの低下を招くという問題があった。

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、煩雑な操作を無くしてユーザビリティの向上を図ることができるエンファシス付加装置及びエンファシス付加方法を提供することを目的としている。

上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載されたエンファシス付加装置は、試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にエンファシスをかけるためのエンファシス波形を生成して付加するエンファシス付加装置１において、
前記試験用信号に付加されるエンファシス波形イメージ１１上のアイ振幅の値を入力する第１の入力ボックス１２ｅと、前記アイ振幅に対する比のステップ数を指定する第２の入力ボックス１２ｆと、前記エンファシス波形イメージ上のタップ毎の前記アイ振幅に対する比の値を入力する第３の入力ボックス１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄと、前記タップ毎の前記アイ振幅に対する比のステップ数による増加、減少、保持から１つの状態を前記タップ毎に選択する第４の入力ボックス１２ｇ，１２ｈ，１２ｉ，１２ｊとを表示するとともに、前記第１の入力ボックスにアイ振幅の値を入力し、前記第３の入力ボックスにタップ毎の前記アイ振幅に対する比の値を入力し、該アイ振幅に対する比のステップ数を前記第２の入力ボックスで指定し、この指定されたステップ数による増加、減少、保持から何れか１つの状態を前記第４の入力ボックスで前記タップ毎に選択して全てのタップに一括して設定する操作表示部２と、
前記操作表示部により前記第１の入力ボックスに入力設定されたアイ振幅と前記第２の入力ボックスに入力設定された各タップ毎のアイ振幅に対する比に基づいて出力振幅を算出する設定値算出部５と、
前記設定値算出部が算出した出力振幅に基づくエンファシス波形を生成して前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加部６とを備えたことを特徴とする。

請求項２に記載されたエンファシス付加装置は、請求項１のエンファシス付加装置において、
前記操作表示部２により入力設定されたアイ振幅とタップ毎のアイ振幅に対する比に基づいて前記エンファシス波形イメージ１１上のタップ毎の振幅電圧値と前記タップ上のカーソル１３毎のｄＢ値とを算出して表示することを特徴とする。

請求項３に記載されたエンファシス付加方法は、試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にエンファシスをかけるためのエンファシス波形を生成して付加するエンファシス付加方法において、
前記試験用信号に付加されるエンファシス波形イメージ１１上のアイ振幅の値を入力する第１の入力ボックス１２ｅと、前記アイ振幅に対する比のステップ数を指定する第２の入力ボックス１２ｆと、前記エンファシス波形イメージ上のタップ毎の前記アイ振幅に対する比の値を入力する第３の入力ボックス１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄと、前記タップ毎の前記アイ振幅に対する比のステップ数による増加、減少、保持から１つの状態を前記タップ毎に選択する第４の入力ボックス１２ｇ，１２ｈ，１２ｉ，１２ｊとを表示するステップと、
前記第１の入力ボックスにアイ振幅の値を入力し、前記第３の入力ボックスにタップ毎の前記アイ振幅に対する比の値を入力し、前記アイ振幅に対する比のステップ数を前記第２の入力ボックスで指定し、この指定されたステップ数による増加、減少、保持から何れか１つの状態を前記第４の入力ボックスで前記タップ毎に選択して全てのタップに一括して設定するステップと、
前記第１の入力ボックスに入力設定されたアイ振幅と前記第２の入力ボックスに入力設定された各タップ毎のアイ振幅に対する比に基づいて出力振幅を算出するステップと、
前記算出した出力振幅に基づくエンファシス波形を生成して前記試験用信号に付加するステップとを含むことを特徴とする。

請求項４に記載されたエンファシス付加方法は、請求項３のエンファシス付加方法において、
入力設定されたアイ振幅とタップ毎のアイ振幅に対する比に基づいて前記エンファシス波形イメージ１１上のタップ毎の振幅電圧値と前記タップ上のカーソル１３毎のｄＢ値とを算出して表示するステップを含むことを特徴とする。

本発明によれば、規格書に記載されているアイ振幅と各タップ毎のアイ振幅に対する比の値をそのまま数値入力するだけで規格書に記載された値に基づく所望のエンファシス波形を生成して試験用信号に付加でき、煩雑な操作を行う必要がなく、面倒な計算による手間も省け、設定ミスを低減してユーザビリティの向上を図ることができる。

また、全てのタップのアイ振幅に対する比に関して、ステップ数を指定し、指定されたステップ数による状態として、各タップ毎に増加、減少、保持の何れかを選択して設定を行えば、一回の操作で全てのタップの値を一括して設定することができ、規格書で規定されている操作を誰でも容易に実施できる。

本発明に係るエンファシス付加装置のブロック構成図である。 本発明に係るエンファシス付加装置における設定時の表示例を示す図である。 本発明に係るエンファシス付加装置における設定時の他の表示例を示す図である。 （ａ）本発明に係るエンファシス付加装置における設定時の他の表示例を示す図である。 （ｂ）（ａ）の状態選択部の部分拡大図である。 エンファシス波形イメージにおける各タップ毎の振幅値：Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃ，Ｖｄの説明図である。 本発明に係るエンファシス付加装置のエンファシス波形付加部の具体的な回路構成の一例を示す図である。 従来のエンファシス付加装置における設定時の表示例を示す図である。 規格表の一例を示す図である。 規格表の他の一例を示す図である。

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面（図１〜図６）を参照しながら詳細に説明する。

本発明に係るエンファシス付加装置及びエンファシス付加方法は、例えばインターコネクト系の規格に準拠した測定系を構築する際に採用され、試験対象物（ＤＵＴ）に入力される試験用信号（元信号）に対し、使用される通信規格に応じたエンファシス波形（プリエンファシス波形又はディエンファシス波形）を付加するものである。

尚、本発明における通信規格とは、例えばＩｎｆｉｎｉｂａｎｄ，ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ（登録商標），ＳＡＴＡ，ＵＳＢ等のように、装置内部や装置と試験対象物との間に使用されるコンピュータバス・相互接続規格を意味するものである。

図１に示すように、エンファシス付加装置１は、予め決められた所定パターンの試験用信号（元信号）に対し、通信規格に最適なエンファシス波形（プリエンファシス波形又はディエンファシス波形）を生成して付加するため、操作表示部２、情報記憶部３、表示制御部４、設定値算出部５、エンファシス波形付加部６を備えて概略構成されている。

操作表示部２は、例えばユーザが操作するソフトキー、カーソルキー、液晶表示器などを含むものであり、例えばコンピュータグラフィックスとマウスなどのポインティングデバイスを用いた直感的な操作により各種の操作・設定・表示が行える機能を有するＧＵＩ（graphical user interface）で構成される。

操作表示部２は、例えばＢＥＲ(Bit Error Rate)試験やジッタトレランス試験などの各種試験を行うための試験用信号に対してエンファシス波形を付加して出力する際に必要な各種情報の入力操作や各種設定をソフトキーやカーソルキー等の操作により行っている。

また、操作表示部２は、例えばソフトキーやカーソルキー等の操作に基づく設定画面や測定画面を表示している。

尚、図１では、各種情報を操作入力する操作部と、設定画面や測定画面を表示する表示部の両方の機能を操作表示部２が兼ね備えた構成として説明しているが、操作表示部２を操作部と表示部にそれぞれ独立させた構成としてもよい。

ここで、図２〜図４は操作表示部２の入力操作に基づいて選択的に表示される設定画面２Ａ，２Ｂ，２Ｃの各例を示している。図２の設定画面２Ａでは、エンファシス波形イメージ１１と、複数の設定項目として、基準となるアイ振幅：Ｅｙｅ Ａｍｐ［Ｖｐ−ｐ］及び各タップ毎のアイ振幅に対する比：Ｃ（−１）、Ｃ（０）、Ｃ（１）、Ｃ（２）の値を入力するための５つの入力ボックス１２（１２ａ〜１２ｅ）が表示される。

尚、エンファシス波形イメージ１１において、振幅量の増減によりビットを強調させることができる箇所をタップと称し、この各箇所のタップにカーソル１３が配置される。

図２の設定画面２Ａでは、エンファシス波形イメージ１１が画面の右側に表示され、アイ振幅：Ｅｙｅ Ａｍｐ［Ｖｐ−ｐ］の値を数値入力するための入力ボックス１２ｅと、各タップ毎のアイ振幅に対する比：Ｃ（−１）、Ｃ（０）、Ｃ（１）、Ｃ（２）の値を数値入力するための４つの入力ボックス１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄとが画面の左側に縦並びに表示される。アイ振幅と各タップ毎のアイ振幅に対する比の値を設定する場合には、操作表示部２を操作し、規格書に記載されたアイ振幅と各タップ毎のアイ振幅に対する比の値を、該当する入力ボックス１２ａ〜１２ｅに増減キーで調整しながら数値入力する。なお、この数値入力は、キーボードの操作により直接行うこともできる。

図３の設定画面２Ｂでは、図２の設定画面２Ａのエンファシス波形イメージ１１と５つの入力ボックス１２ａ〜１２ｅの表示に加え、設定値算出部７で算出されたモニタ表示用の値を表示するための複数のモニタ表示エリア１４（１４ａ〜１４ｈ）がエンファシス波形イメージ１１と入力ボックス１２との間に表示される。モニタ表示用の値は、各タップ毎の振幅値（図３の設定画面２ＢにおけるＶａ，Ｖｂ，Ｖｃ，Ｖｄ）と各カーソル１３毎のｄＢ値（図３の設定画面２ＢにおけるＰｏｓｔ１、Ｐｏｓｔ２、Ｐｒｅ１）であり、該当するモニタ表示エリア１４ａ〜１４ｈに数値表示される。

図４（ａ）の設定画面２Ｃでは、図２の設定画面２Ａのエンファシス波形イメージ１１と５つの入力ボックス１２ａ〜１２ｅの表示に加え、入力ボックス１２の追加として、アイ振幅に対する比のステップ数：Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ ｓｔｅｐの値を数値入力するための入力ボックス１２ｆと、指定されたステップ数による状態（「増加」、「減少」、「保持」の３状態）を各タップ毎に選択入力するための４つの入力ボックス１２ｇ，１２ｈ，１２ｉ，１２ｊとが表示される。アイ振幅に対する比のステップ数を設定する場合は、操作表示部２を操作し、規格書で規定された範囲内の数値を入力ボックス１２ｆに操作入力する。また、指定されたステップ数による状態を設定する場合は、図４（ｂ）に示すように、入力ボックス１２ｇ，１２ｈ，１２ｉ，１２ｊに対し、指定されたステップ数で「増加」：Ｉｎｃｒｅｍｅｎｔ、指定されたステップ数で「減少」：Ｄｅｃｒｅｍｅｎｔ、ステップ数を増減せずにアイ振幅に対する比を「保持」：Ｈｏｌｄの３つの状態がプルダウンメニューとして表示され、操作表示部２を操作し、何れか１つの状態を選択する。そして、これら入力ボックス１２ｆ〜１２ｊの入力内容は、設定画面２Ｃに設けられた実行キー（図４（ａ）のＳｅｔ）１５を押下することで設定として反映される。

尚、図３の設定画面２Ｂに対し、図４の設定画面２Ｃにおけるアイ振幅に対する比のステップ数：Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ ｓｔｅｐの値を数値入力するための入力ボックス１２ｆと、指定されたステップ数による状態（「増加」、「減少」、「保持」の３状態）を選択入力するための４つの入力ボックス１２ｇ，１２ｈ，１２ｉ，１２ｊとを追加して表示し、アイ振幅に対する比のステップ数とステップ数による状態を設定できるようにすることもできる。

また、図２〜４の設定画面２Ａ，２Ｂ，２Ｃにおいて、エンファシス波形イメージ１１、入力ボックス１２（１２ａ〜１２ｊ）、モニタ表示エリア１４（１４ａ〜１４ｈ）は、図示の配置に限定されるものではない。

情報記憶部３は、元信号となる試験用信号に対し、エンファシス波形を付加して出力するために必要な各種情報を記憶している。この各種情報としては、予め決められた通信規格毎の複数種類の基準波形パターン（２ｐｏｓｔ−ｃｕｒｓｏｒ、１ｐｒｅ−ｃｕｒｓｏｒ，３ｐｏｓｔ−ｃｕｒｓｏｒ，１ｐｏｓｔ−ｃｕｒｓｏｒ、１ｐｒｅ−ｃｕｒｓｏｒ，２ｐｏｓｔ−ｃｕｒｓｏｒ，１ｐｏｓｔ−ｃｕｒｓｏｒ等）の波形情報（波形形状を特定する各パラメータ値）、各タップ毎のアイ振幅に対する比から各タップ毎の出力振幅を算出するための計算式、各タップ毎のアイ振幅に対する比から操作表示部２にモニタ表示するための各タップ毎の振幅値：Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃ，Ｖｄ（Ｖｐ−ｐ）と各カーソル１３のｄＢ値を算出するための計算式、操作表示部２の表示画面の１ドット当たりの振幅量や１ドット当たりの時間などがある。

表示制御部４は、操作表示部２の入力操作、情報記憶部３の各種情報、設定値算出部５の算出結果、測定結果などに基づいて操作表示部２の表示（例えば図２〜４に示す設定画面２Ａ，２Ｂ，２Ｃの表示、測定画面の表示など）を制御している。

設定値算出部５は、設定画面２Ａ，２Ｂ，２Ｃ上でアイ振幅と各タップ毎のアイ振幅に対する比が操作入力されると、情報記憶部３に記憶された計算式により、各比毎にアイ振幅に対する出力振幅の振幅量Ｃ（−１）Ａｍｐ，Ｃ（０）Ａｍｐ，Ｃ（１）Ａｍｐ，Ｃ（２）Ａｍｐを算出している。

また、設定値算出部５は、算出したアイ振幅に対する出力振幅の振幅量Ｃ（−１）Ａｍｐ，Ｃ（０）Ａｍｐ，Ｃ（１）Ａｍｐ，Ｃ（２）Ａｍｐを、後述する切替回路２３の各セレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４に対応して振幅電圧（ＶＥＥ１，ＶＥＥ２，ＶＥＥ３，ＶＥＥ４）に振り分け、この振り分けた振幅電圧（ＶＥＥ１，ＶＥＥ２，ＶＥＥ３，ＶＥＥ４）を設定値として出力している。

さらに、設定値算出部５は、設定画面２Ａ，２Ｂ，２Ｃ上でアイ振幅、各タップ毎のアイ振幅に対する比が操作入力されると、情報記憶部３に記憶された計算式により、操作表示部２にモニタ表示するための各タップ毎の振幅値：Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃ，Ｖｄ（Ｖｐ−ｐ）と各カーソル１３のｄＢ値を算出している。

ここで、設定値算出部５が算出する各タップ毎のアイ振幅に対する比の出力振幅の振幅値（Ｖｐ−ｐ）、モニタ表示するための各タップ毎の振幅値（Ｖｐ−ｐ）、各カーソル１３のｄＢ値について具体的な数値例を示して説明する。

今、図２の設定画面２Ａにおいて、アイ振幅として０．４（Ｖｐ−ｐ）、各タップ毎のアイ振幅に対する比としてＣ（−１）：−０．１、Ｃ（０）：０．７５、Ｃ（１）：−０．１、Ｃ（２）：−０．０５の各数値を操作入力して設定されたものとする。

設定値算出部５は、アイ振幅と各タップ毎のアイ振幅に対する比が操作表示部２の操作入力により設定されると、情報記憶部３に記憶された計算式（アイ振幅×アイ振幅に対する比）から各タップ（カーソル１３）毎のアイ振幅に対する比の出力振幅の振幅値：Ｃ（−１）Ａｍｐ，Ｃ（０）Ａｍｐ，Ｃ（１）Ａｍｐ，Ｃ（２）Ａｍｐを以下のように算出する。

Ｃ（−１）Ａｍｐ＝０．４×（−０．１）＝−０．０４（Ｖｐ−ｐ）
Ｃ（０）Ａｍｐ＝０．４×０．７５＝０．３（Ｖｐ−ｐ）
Ｃ（１）Ａｍｐ＝０．４×（−０．１）＝−０．０４（Ｖｐ−ｐ）
Ｃ（２）Ａｍｐ＝０．４×（−０．０５）＝−０．０２（Ｖｐ−ｐ）

また、設定値算出部５は、情報記憶部３に記憶された計算式から操作表示部２にモニタ表示するための各タップ毎の振幅値：Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃ，Ｖｄと各カーソル１３：Ｐｏｓｔ１，Ｐｏｓｔ２，Ｐｒｅ１のｄＢ値を以下のように算出する。

Ｖａ＝Ｃ（−１）Ａｍｐ＋Ｃ（０）Ａｍｐ−Ｃ（１）Ａｍｐ−Ｃ（２）Ａｍｐ＝０．３２（Ｖｐ−ｐ）
Ｖｂ＝Ｃ（−１）Ａｍｐ＋Ｃ（０）Ａｍｐ＋Ｃ（１）Ａｍｐ−Ｃ（２）Ａｍｐ＝０．２４（Ｖｐ−ｐ）
Ｖｃ＝Ｃ（−１）Ａｍｐ＋Ｃ（０）Ａｍｐ＋Ｃ（１）Ａｍｐ＋Ｃ（２）Ａｍｐ＝０．２（Ｖｐ−ｐ）
Ｖｄ＝−Ｃ（−１）Ａｍｐ＋Ｃ（０）Ａｍｐ＋Ｃ（１）Ａｍｐ＋Ｃ（２）Ａｍｐ＝０．２８（Ｖｐ−ｐ）
Ｐｏｓｔ１＝２０×ｌｏｇ（Ｖｂ／Ｖａ）＝−２．５０（ｄＢ）
Ｐｏｓｔ２＝２０×ｌｏｇ（Ｖｃ／Ｖｂ）＝−１．５８（ｄＢ）
Ｐｒｅ１＝２０×ｌｏｇ（Ｖｄ／Ｖｃ）＝２．９２（ｄＢ）

尚、上述した各タップ毎の振幅値：Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃ，Ｖｄは、図５のように定義される。また、Ｐｏｓｔ１，Ｐｏｓｔ２，Ｐｒｅ１は、一つ前の振幅との比（ｄＢ）で表されるものである。

エンファシス波形付加部６は、設定値算出部５が算出した設定値に基づき、エンファシス波形イメージと同じエンファシス波形を試験用信号（エンファシス付加前の元信号）に付加して出力している。

さらに説明すると、エンファシス波形付加部６は、図６に示すように、制御回路２１、データ保持回路２２、切替回路２３、増幅回路２４、加算回路２５を備えた周知（例えば特開２０１２−６０６３０号参照）の回路によって構成することができる。

制御回路２１は、Ｄ／Ａコンバータを含む回路であり、設定値算出部５が算出した設定値（振幅電圧：ＶＥＥ１，ＶＥＥ２，ＶＥＥ３，ＶＥＥ４）を、増幅回路２４の後述する各増幅器２４ａ，２４ｂ，２４ｃ，２４ｄを個別に制御するためのアナログ値からなる制御信号（４つの制御電圧）に変換して出力している。

データ保持回路２２は、Ｃ（クロック）端子の立ち上がりのエッジでＤ端子の入力の値がＱ出力として保持される４つのＤ型フリップフロップ回路（以下、Ｄ−ＦＦと略称する）２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄを直列接続して構成される。データ保持回路２２は、初段のＤ−ＦＦ２２ａのＤ端子にエンファシス波形を付加する前の元信号（試験用信号）が入力され、位相が１ビットずれとなるデータ信号に分岐して各Ｄ−ＦＦ２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄのＱ端子から出力している。

切替回路２３は、データ保持回路２２の４つのＤ−ＦＦ２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄのＱ端子と１対１に対応して接続される４つのセレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４で構成される。切替回路２３の各セレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４は、切替信号の入力により、極性が「ＰＯＳ（ポジティブ）」又は「ＮＥＧ（ネガティブ）」の何れかの状態に予め設定されている。

増幅回路２４は、切替回路２３の４つのセレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の出力と１対１に対応して接続される４つの増幅器２４ａ，２４ｂ，２４ｃ，２４ｄで構成される。これら４つの増幅器２４ａ，２４ｂ，２４ｃ，２４ｄは、制御回路２１からの制御信号（制御電圧）によって個別に電圧が制御される。

加算回路２５は、増幅回路２４の４つの増幅器２４ａ，２４ｂ，２４ｃ，２４ｄの出力を加算し、元信号である試験用信号にエンファシス波形を付加した信号（差動データ信号）を出力している。

尚、エンファシス波形付加部６は、情報記憶部３の各種情報、設定値算出部５が算出した設定値に基づくエンファシス波形イメージと同じエンファシス波形を試験用信号に付加できる構成であれば、図６の回路構成に限定されるものではない。

次に、上記のように構成されるエンファシス付加装置１の動作として、元信号である試験用信号に付加されるエンファシス波形を生成し、この生成したエンファシス波形を試験用信号に付加するエンファシス付加方法について説明する。

ここでは、図２の設定画面２Ａが選択表示された状態で、図８の規格表：Ｔａｂｌｅ ４８ Ｔｘ ＦＩＲ Ｆｉｌｔｅｒ Ｃｏｅｆｆｉｃａｔｉｎ ａｎｄ ＡｍｐｌｉｔｕｄｅｓのＰｒｅｓｅｔ：３のアイ振幅：４００ｍＶによるエンファシス波形を設定する場合を例にとって説明する。

まず、図２の設定画面２Ａにおいて、操作表示部２の操作入力により、アイ振幅：Ｅｙｅ Ａｍｐｌｉｔｕｄｅと各タップ毎のアイ振幅に対する比：Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔを設定入力する。具体的には、アイ振幅が４００ｍＶなので、設定画面２Ａの入力ボックス１２ｅにアイ振幅の数値「０．４００」（Ｖｐ−ｐ）を入力する。また、図８に示すように、規格表のＰｒｅｓｅｔ：３にＣ（−１）：−０．０３、Ｃ（０）：０．８７、Ｃ（１）：−０．１０と記載されているので、設定画面２Ａの入力ボックス１２ａにＣ（−１）の数値「−０．０３」、入力ボックス１２ｂにＣ（０）の数値「０．８７」、入力ボックスル１２ｃにＣ（１）の数値「−０．１０」をそれぞれ入力する。

次に、設定値算出部５は、設定画面２Ａでアイ振幅とアイ振幅に対する比が設定入力されると、情報記憶部３に記憶された計算式により、各タップ毎のアイ振幅に対する比の出力振幅の振幅量Ｃ（−１）Ａｍｐ，Ｃ（０）Ａｍｐ，Ｃ（１）Ａｍｐ，Ｃ（２）Ａｍｐを算出する。そして、算出した出力振幅の振幅量Ｃ（−１）Ａｍｐ，Ｃ（０）Ａｍｐ，Ｃ（１）Ａｍｐ，Ｃ（２）Ａｍｐを、図６の切替回路１３の各セレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４に対応して振幅電圧（ＶＥＥ１，ＶＥＥ２，ＶＥＥ３，ＶＥＥ４）に振り分け、この振り分けた振幅電圧（ＶＥＥ１，ＶＥＥ２，ＶＥＥ３，ＶＥＥ４）を設定値として出力する。

そして、エンファシス波形付加部８は、設定値算出部５が算出した設定値に基づき、エンファシス波形イメージと同じエンファシス波形を試験用信号（エンファシス付加前の元信号）に付加して出力する。

また、図３の設定画面２Ｂが表示された状態では、上述したアイ振幅と各タップ毎のアイ振幅に対する比の設定を行うと、設定値算出部５が情報記憶部３に記憶された計算式から操作表示部２にモニタ表示するための各タップ毎の振幅値：Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃ，Ｖｄ（Ｖｐ−ｐ）と各カーソル１３：Ｐｏｓｔ１，Ｐｏｓｔ２，Ｐｒｅ１のｄＢ値を算出する。

そして、設定値算出部５が算出した各タップ毎の振幅値：Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃ，Ｖｄ（Ｖｐ−ｐ）と各カーソル１３：Ｐｏｓｔ１，Ｐｏｓｔ２，Ｐｒｅ１のｄＢ値は、設定画面３Ｂのモニタ表示エリア１４（１４ａ〜１４ｈ）の該当箇所に表示される。

さらに、図４の設定画面２Ｃが表示された状態では、操作表示部２の操作入力により、アイ振幅に対する比のステップ数：Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ ｓｔｅｐと、ステップ数による状態（「増加」、「減少」、「保持」の３状態）を設定することができる。そして、アイ振幅に対する比のステップ数は、操作表示部２を操作し、規格書で規定された範囲内の所望の数値を入力ボックス１２ｆに操作入力することにより指定する。また、指定されたステップ数よる状態は、入力ボックス１２ｇ，１２ｈ，１２ｉ，１２ｊに対し、プルダウンメニュー表示される「増加」、「減少」、「保持」の３つの状態から何れか１つの状態を選択する。

以上の操作によりステップ数及びステップ数による状態を決定し、実行キー「Ｓｅｔ」１５を押下すると、ステップ数及びステップ数による状態が設定として反映される。これにより、設定値算出部５は、情報記憶部３に記憶された計算式により、上述設定を反映させて各タップ毎のアイ振幅に対する比の振幅値：Ｃ（−１）Ａｍｐ，Ｃ（０）Ａｍｐ，Ｃ（１）Ａｍｐ，Ｃ（２）Ａｍｐ、各タップ毎の振幅値：Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃ，Ｖｄ（Ｖｐ−ｐ）、各カーソル１３：Ｐｏｓｔ１，Ｐｏｓｔ２，Ｐｒｅ１のｄＢ値を算出する。そして、エンファシス波形付加部６は、設定値算出部５が算出した設定値に基づき、エンファシス波形イメージと同じエンファシス波形を試験用信号（エンファシス付加前の元信号）に付加して出力する。

このように、本例のエンファシス付加装置及び方法では、エンファシス波形イメージ１１におけるアイ振幅と各タップ毎のアイ振幅に対する比を設定すると、この設定に基づいて各タップの出力振幅を算出し、算出した出力振幅に基づくエンファシス波形を生成して試験用信号に付加する。これにより、ユーザは規格書に記載されているアイ振幅と各タップ毎のアイ振幅に対する比の値を設定画面２Ａ，２Ｂ，２Ｃの入力ボックス１２（１２ａ〜１２ｅ）に数値入力するだけで規格書に記載された値に基づく所望のエンファシス波形を生成して試験用信号に付加することができ、煩雑な操作を行う必要がなく、面倒な計算による手間も省け、設定ミスを低減してユーザビリティの向上を図ることができる。

また、全てのタップのアイ振幅に対する比に関して、ステップ数を指定し、指定されたステップ数による状態として、各タップ毎に増加、減少、保持の何れかを選択して設定することにより、一回の操作で全てのタップの値を一括して設定することができ、規格書で規定されている操作を誰でも容易に実施することができる。

以上、本発明に係るエンファシス付加装置及びエンファシス付加方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述及び図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例及び運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。

１ エンファシス付加装置
２ 操作表示部
３ 情報記憶部
４ 表示制御部
５ 設定値算出部
６ エンファシス波形付加部
１１ エンファシス波形イメージ
１２（１２ａ〜１２ｊ） 入力ボックス
１３ カーソル
１４（１４ａ〜１４ｈ） モニタ表示エリア
２１ 制御回路
２２ データ保持回路
２３ 切替回路
２４ 増幅回路
２５ 加算回路
５１ プリエンファシス波形イメージ
５２ 設定画面
５３ カーソル
５４，５５ 入力ボックス

Claims (4)

1. 試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にエンファシスをかけるためのエンファシス波形を生成して付加するエンファシス付加装置（１）において、
   前記試験用信号に付加されるエンファシス波形イメージ（１１）上のアイ振幅の値を入力する第１の入力ボックス（１２ｅ）と、前記アイ振幅に対する比のステップ数を指定する第２の入力ボックス（１２ｆ）と、前記エンファシス波形イメージ上のタップ毎の前記アイ振幅に対する比の値を入力する第３の入力ボックス（１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄ）と、前記タップ毎の前記アイ振幅に対する比のステップ数による増加、減少、保持から１つの状態を前記タップ毎に選択する第４の入力ボックス（１２ｇ，１２ｈ，１２ｉ，１２ｊ）とを表示するとともに、前記第１の入力ボックスにアイ振幅の値を入力し、前記第３の入力ボックスにタップ毎の前記アイ振幅に対する比の値を入力し、該アイ振幅に対する比のステップ数を前記第２の入力ボックスで指定し、この指定されたステップ数による増加、減少、保持から何れか１つの状態を前記第４の入力ボックスで前記タップ毎に選択して全てのタップに一括して設定する操作表示部（２）と、
   前記操作表示部により前記第１の入力ボックスに入力設定されたアイ振幅と前記第２の入力ボックスに入力設定された各タップ毎のアイ振幅に対する比に基づいて出力振幅を算出する設定値算出部（５）と、
   前記設定値算出部が算出した出力振幅に基づくエンファシス波形を生成して前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加部（６）とを備えたことを特徴とするエンファシス付加装置。
2. 前記操作表示部（２）により入力設定されたアイ振幅とタップ毎のアイ振幅に対する比に基づいて前記エンファシス波形イメージ（１１）上のタップ毎の振幅電圧値と前記タップ上のカーソル（１３）毎のｄＢ値とを算出して表示することを特徴とする請求項１記載のエンファシス付加装置。
3. 試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にエンファシスをかけるためのエンファシス波形を生成して付加するエンファシス付加方法において、
   前記試験用信号に付加されるエンファシス波形イメージ（１１）上のアイ振幅の値を入力する第１の入力ボックス（１２ｅ）と、前記アイ振幅に対する比のステップ数を指定する第２の入力ボックス（１２ｆ）と、前記エンファシス波形イメージ上のタップ毎の前記アイ振幅に対する比の値を入力する第３の入力ボックス（１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄ）と、前記タップ毎の前記アイ振幅に対する比のステップ数による増加、減少、保持から１つの状態を前記タップ毎に選択する第４の入力ボックス（１２ｇ，１２ｈ，１２ｉ，１２ｊ）とを表示するステップと、
   前記第１の入力ボックスにアイ振幅の値を入力し、前記第３の入力ボックスにタップ毎の前記アイ振幅に対する比の値を入力し、前記アイ振幅に対する比のステップ数を前記第２の入力ボックスで指定し、この指定されたステップ数による増加、減少、保持から何れか１つの状態を前記第４の入力ボックスで前記タップ毎に選択して全てのタップに一括して設定するステップと、
   前記第１の入力ボックスに入力設定されたアイ振幅と前記第２の入力ボックスに入力設定された各タップ毎のアイ振幅に対する比に基づいて出力振幅を算出するステップと、
   前記算出した出力振幅に基づくエンファシス波形を生成して前記試験用信号に付加するステップとを含むことを特徴とするエンファシス付加方法。
4. 入力設定されたアイ振幅とタップ毎のアイ振幅に対する比に基づいて前記エンファシス波形イメージ（１１）上のタップ毎の振幅電圧値と前記タップ上のカーソル（１３）毎のｄＢ値とを算出して表示するステップを含むことを特徴とする請求項３記載のエンファシス付加方法。

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