JP6123005B2 - 異物検査装置 - Google Patents

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本発明は、異物検査装置に関する。
特許文献1には、X線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出するX線検査と、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する金属検出との両方を行うことができる異物検査装置が記載されている。
特開2015−28465号公報
上述したような異物検査装置には、装置サイズの小型化が求められる。しかし、例えば、X線検査部で発生するX線の外部漏洩を抑制するために設置されるX線遮蔽カーテンが、金属検出部に無為に近付けられると、X線遮蔽カーテンが揺れ動いた際に、金属検出部の検査精度に悪影響を与えるおそれがある。
そこで、本発明は、装置サイズの小型化及び検査精度の向上の両立を図ることができる異物検査装置を提供することを目的とする。
本発明の異物検査装置は、被検査物を搬送する搬送部と、X線の透過性を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出するX線検査部と、磁界と金属との相互作用を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、搬送部の少なくとも一部、X線検査部、及び金属検出部を内部に収容し、搬送部による被検査物の搬入口、及び搬送部による被検査物の搬出口を有する筐体と、搬入口に設けられ、上端が筐体に対する固定端であり且つ下端が自由端である第1X線遮蔽カーテンと、搬出口に設けられ、上端が筐体に対する固定端であり且つ下端が自由端である第2X線遮蔽カーテンと、を備え、金属検出部において搬送部が通過しているケースは、サーチコイルが内部に配置された本体部と、本体部に対して搬入口側に設けられた第1フード部と、本体部に対して搬出口側に設けられた第2フード部と、を有し、第1X線遮蔽カーテンの長さは、第1X線遮蔽カーテンの上端から第1フード部を介して本体部に至る距離よりも小さく、第2X線遮蔽カーテンの長さは、第2X線遮蔽カーテンの上端から第2フード部を介して本体部に至る距離よりも小さい。
この異物検査装置では、搬送部で搬送されている被検査物が接触すること等によって各X線遮蔽カーテンが揺れ動いても、各X線遮蔽カーテンが金属検出部のケースの本体部に接触することが防止される。そのため、金属検出部に各X線遮蔽カーテンが近付くようなレイアウトを採ったとしても、各X線遮蔽カーテンの揺れ動きが金属検出部の磁界に与える影響を抑制することができる。よって、この異物検査装置によれば、装置サイズの小型化及び検査精度の向上の両立を図ることが可能となる。
本発明の異物検査装置では、第1X線遮蔽カーテンの長さは、第1X線遮蔽カーテンの上端から第1フード部に至る距離よりも大きく、第2X線遮蔽カーテンの長さは、第2X線遮蔽カーテンの上端から第2フード部に至る距離よりも大きくてもよい。これにより、金属検出部から各X線遮蔽カーテンが離れて装置サイズが大型化するのをより確実に抑制することができる。
本発明の異物検査装置では、第1フード部には、X線検査部のX線が通過する第1開口が設けられていてもよい。これにより、金属検出部による検査よりも長い処理時間を要するX線検査部による検査を先行して開始させ、装置全体としての処理時間を短縮させることができる。
本発明の異物検査装置では、第2フード部には、本体部を挟んで第1フード部と対称の形状を呈するように第2開口が設けられていてもよい。これにより、開口の影響で金属検出部の磁界のバランスが悪くなるのを防止し、金属検出部による検査精度の低下を抑制することができる。
本発明の異物検査装置は、被検査物を搬送する搬送部と、X線の透過性を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出するX線検査部と、磁界と金属との相互作用を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、搬送部の少なくとも一部、X線検査部、及び金属検出部を内部に収容し、搬送部による被検査物の搬入口、及び搬送部による被検査物の搬出口を有する筐体と、を備え、金属検出部において搬送部が通過しているケースは、サーチコイルが内部に配置された本体部と、本体部に対して搬入口側及び搬出口側の一方の側に設けられた第1フード部と、本体部に対して搬入口側及び搬出口側の他方の側に設けられた第2フード部と、を有し、第1フード部には、X線検査部のX線が通過する第1開口が設けられており、第2フード部には、本体部を挟んで第1フード部と対称の形状を呈するように第2開口が設けられている。
この異物検査装置では、サーチコイルが内部に配置された本体部に対して搬入口側及び搬出口側のそれぞれにフード部(第1フード部、第2フード部)が設けられている。これにより、例えば筐体を小型化したとしても、金属検出部の磁界に外乱の影響が及ぶのを抑制することができる。更に、第1フード部に、X線検査部のX線が通過する第1開口が設けられており、第2フード部に、本体部を挟んで第1フード部と対称の形状を呈するように第2開口が設けられている。これにより、第1開口の影響で金属検出部の磁界のバランスが悪くなるのを防止し、金属検出部による検査精度の低下を抑制することができる。よって、この異物検査装置によれば、装置サイズの小型化及び検査精度の向上の両立を図ることが可能となる。
本発明の異物検査装置では、第1フード部は、本体部に対して搬入口側に設けられており、第2フード部は、本体部に対して搬出口側に設けられていてもよい。X線検査部のX線が通過する第1開口が設けられた第1フード部を本体部に対して搬入口側に配置することで、金属検出部による検査よりも長い処理時間を要するX線検査部による検査を先行して開始させ、装置全体としての処理時間を短縮させることができる。
本発明の異物検査装置では、第1フード部には、搬送部による被検査物の搬送方向から見た場合に左右対称となるように、投受光センサの光が通過する一対の第3開口が設けられており、第2フード部には、本体部を挟んで第1フード部と対称の形状を呈するように一対の第4開口が設けられていてもよい。これにより、第3開口の影響で金属検出部の磁界のバランスが悪くなるのを防止し、金属検出部による検査精度の低下を抑制することができる。
本発明によれば、装置サイズの小型化及び検査精度の向上の両立を図ることができる異物検査装置を提供することが可能となる。
実施形態に係る異物検査装置の正面図である。 図1に示される異物検査装置の内部構成及び制御系を説明する概念図である。 図2のX線検査部及び金属検出部の主要構成の説明図である。 図2のX線検査部及び金属検出部の主要構成の斜視図である。 図2のX線検査部、金属検出部、及びX線遮蔽カーテンの主要構成の正面図である。 図5のVI−VI線に沿っての断面図である。 図5のVII−VII線に沿っての断面図である。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。なお、以下の説明において、同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
図1は実施形態に係る異物検査装置1の正面図である。図1に示される異物検査装置1は、被検査物に含まれる異物を検出する装置である。被検査物は例えば食品である。異物検査装置1は、その内部において被検査物を搬送しつつX線検査及び金属検出を行い、被検査物に異物が含まれるか否かを検査する。
X線検査は、X線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、X線検査部2(図2参照)によって実現される。X線検査では、被検査物とは異なるX線透過性を有する異物を検出することができる。一方、金属検出は、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、金属検出部3(図2参照)によって実現される。金属検出では金属異物を検出することができる。X線検査部2及び金属検出部3の詳細については後述する。
異物検査装置1は、その内部に空間が画成された筐体4を有する。筐体4は、X線検査部2及び金属検出部3を内部に収容する。筐体4は、X線検査部2により発生されるX線を遮蔽し、X線の外部漏洩を抑制する。筐体4は、例えばステンレスなどで形成される。
筐体4は、本実施形態では箱状を呈している。筐体4の右側面には、筐体4の内部に連通する開口部4aが形成されている。同様に、筐体4の左側面には、筐体4の内部に連通する開口部4bが形成されている。本実施形態では、被検査物は、開口部4aから筐体4の内部へ搬入されて検査が行われ、開口部4bから筐体4の外部へ搬出される。つまり、開口部4aが被検査物の搬入口、開口部4bが被検査物の搬出口となる。
筐体4の前面には、筐体4を開閉する上部扉40及び下部扉41が設けられている。上部扉40及び下部扉41は、例えば開き戸構造である。上部扉40又は下部扉41が開閉されることで、後述するX線検査部2及び金属検出部3の少なくとも一部が外部に露出される。上部扉40及び下部扉41は、例えばステンレスなどで形成される。
上部扉40の前面には、ディスプレイ5及び操作スイッチ6が設けられている。ディスプレイ5は、表示機能と入力機能を兼ね備えた表示装置であり、例えばタッチパネルである。ディスプレイ5は、X線検査及び金属検出の結果などを表示するとともに、金属検出及びX線検査に関する各種パラメータの設定を行う操作画面を表示する。操作スイッチ6は、X線検査部2及び金属検出部3の電源スイッチなどである。
筐体4は、支持台7によって支持されている。筐体4の上面には、報知部8及びクーラー9が設けられている。報知部8は、異物混入や機器の作動状態を報知する。報知部8は、X線検査部2に対応する第1報知器81、及び金属検出部3に対応する第2報知器82を備えている。クーラー9は、筐体4の内部に冷気を送り、筐体4の内部に配置された機器の温度を調整する。
図2は、図1に示される異物検査装置1の内部構成及び制御系を説明する概念図である。図2に示されるように、筐体4の内部は、後述するX線発生器の一部や構成要素の制御基板などが配置される基板室T1と、被検査物Sが搬入されて検査が行われる検査室T2とに区画されている。基板室T1は、上述したクーラー9によって温度調整されている。
検査室T2には、被検査物Sを搬送するコンベヤ(搬送部)10が配置されている。コンベヤ10は、本実施形態ではローラ式のベルトコンベヤであり、一端部が開口部4aに位置し且つ他端部が開口部4bに位置した状態で、筐体4の内部を水平方向に延在している。つまり、筐体4は、コンベヤ10のうち一端部及び他端部を除く部分を内部に収容している。本実施形態のコンベヤ10は、開口部4aを介して被検査物Sを筐体4の内部に搬入し、開口部4bを介して被検査物Sを筐体4の外部に搬出する。
開口部4aには、X線遮蔽カーテン(第1X線遮蔽カーテン)42が配置されている。同様に、開口部4bには、X線遮蔽カーテン(第2X線遮蔽カーテン)43が配置されている。X線遮蔽カーテン42,43は、上端が筐体4に対する固定端であり且つ下端が自由端である。X線遮蔽カーテン42,43は、X線検査部2が発生したX線を遮蔽し、X線の外部漏洩を抑制する。X線遮蔽カーテン42,43は、例えばタングステンの金属材料を含有する可撓性材料などにより形成される。なお、被検査物Sの搬入及び搬出を自動化すべく、コンベヤ10の右側に搬入用コンベヤ11を配置し、コンベヤ10の左側に搬出用コンベヤ12を配置してもよい。また、搬出用コンベヤ12が、被検査物Sの振分機能を備えていてもよい。
検査室T2には、被検査物Sを通過させるための貫通穴31aが形成された環状体のケース31が配置されている。コンベヤ10は、貫通穴31aを介してケース31を貫通している。被検査物Sは、コンベヤ10によってケース31の貫通穴31aを通過し、ケース31においてX線検査及び金属検出が順次実行される。ケース31は、例えばステンレスなどで形成される。
最初に、X線検査を行うX線検査部2について説明する。X線検査部2は、X線検査制御部20、X線発生器21、及びX線検出器22を備える。X線発生器21は、X線を発生するX線源、及びスリット機構を含む。X線検出器22は、X線発生器21で発生したX線を検出する。X線発生器21及びX線検出器22は、コンベヤ10及びケース31を上下方向から挟むように対向配置されている。なお、X線発生器21のうち、X線源などは基板室T1に配置され、X線を照射する機構が検査室T2に配置されている。X線検出器22としては、例えば複数のX線検出センサを前後方向に沿って並設したラインセンサが用いられる。X線検出器22は、X線漏洩を低減させるために、基板ケース23に収容されている。基板ケース23には、X線検出器22へX線を到達させるために、スリット23a(図4参照)が設けられている。
X線検査制御部20は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースI/O、処理を行うためのプログラムおよび情報などが記憶されたROM(Read Only Memory)、データを一時的に記憶するRAM(RandomAccess Memory)、HDD(Hard Disk Drive)などの記憶媒体、CPU(Central Processing Unit)、及び通信回路などを有する。X線検査制御部20は、CPUが出力する信号に基づいて、入力データをRAMに記憶し、ROMに記憶されているプログラムをRAMにロードし、RAMにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。
X線検査制御部20は、基板室T1に配置され、X線発生器21及びX線検出器22に接続されている。X線検査制御部20は、ディスプレイ5に接続され、操作画面を介して作業員から操作情報を受け付ける。X線検査制御部20は、操作情報に基づいてX線発生器21及びX線検出器22の動作プロファイルを設定するとともに、X線発生器21及びX線検出器22の動作を制御する。X線検査制御部20は、X線発生器21及びX線検出器22よりも上流側に配置されたレーザセンサ24を用いて被検査物Sを検出した場合、当該被検査物Sの検査を開始する。X線検査制御部20は、X線発生器21を制御して、コンベヤ10によって搬送されている被検査物SにX線を照射させる。X線検出器22は、被検査物Sを透過したX線のX線透過量を計測し、計測したX線透過量をX線検査制御部20へ出力する。
X線検査制御部20は、時系列で取得したX線透過量を画素値に反映させたX線透過画像を生成する。そして、X線検査制御部20は、画像処理技術によりX線透過画像を解析して、異物を検出する。例えば、X線検査制御部20は、X線透過画像の画素値に基づいて、被検査物Sの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在するか否かを判定する。そして、X線検査制御部20は、被検査物Sの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在する場合には、異物を検出したと判定する。
X線検査制御部20は、作業員からの要求に応じて、X線検査の結果データをディスプレイ5に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、X線検査制御部20は、X線発生器21及びX線検出器22が正常に作動している場合、第1報知器81を用いてX線検査に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、X線検査制御部20は、異物を検出したと判定した場合、第1報知器81を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。
図3は、図2のX線検査部2及び金属検出部3の主要構成の説明図である。図4は、図2のX線検査部2及び金属検出部3の主要構成の斜視図である。図3及び図4に示されるように、ケース31は、本体部32、第1フード部33、及び第2フード部34を有する。第1フード部33は、本体部32に対して開口部4a側(搬入口側)に設けられている。第2フード部34は、本体部32に対して開口部4b側(搬出口側)に設けられている。上述したケース31の貫通穴31aは、本体部32、第1フード部33、及び第2フード部34それぞれの内壁によって画成されている。
第1フード部33の上面には、X線を通過させるX線通過スリット(第1開口)33aがX線発生器21の下方に位置するように形成されている。第1フード部33の下面には、X線を通過させるX線通過スリット(第1開口)33bがX線通過スリット33aと対向するように形成されている。X線通過スリット33bの下方には、X線検出器22が配置される。このように構成することで、X線発生器21が発生したX線21aは、X線通過スリット33a,33bを通過し、ケース31の内部を搬送されている被検査物Sに照射される。なお、第1フード部33の側面において、X線通過スリット33a,33bよりも下流側(本体部32側)にはスリット33cが設けられている。スリット33cには、レーザセンサ38が配置される。レーザセンサ38は、スリット33cを介してコンベヤ10上の被検査物Sにレーザを照射する。
次に、金属検出を行う金属検出部3について説明する。金属検出部3は、金属検出制御部30、サーチコイルである環状の送信コイル35、及びサーチコイルである環状の受信コイル36,37を備える。送信コイル35及び受信コイル36,37は、金属などの導電性材料で形成され、ケース31の本体部32の内部に配置されている。送信コイル35及び受信コイル36,37は、貫通穴31aの延在方向と同軸に配置されている。つまり、送信コイル35及び受信コイル36,37は、貫通穴31aを囲むように配置されている。これにより、被検査物Sは、コンベヤ10によって送信コイル35及び受信コイル36,37を通過する。
送信コイル35は、受信コイル36,37間に配置されている。受信コイル36,37は、互いに差動接続されるとともに送信コイル35に対して対称に配置されている。2つの受信コイル36,37は、同一の鎖交磁束を有する。送信コイル35は、通電可能に構成されており、磁束を発生する。受信コイル36,37それぞれには、送信コイル35が発生した磁界の電磁誘導によって電圧が励起する。なお、第1フード部33及び第2フード部34は、送信コイル35が発生した磁界の外部漏洩と外来磁界の進入を遮蔽する。
金属検出制御部30は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースI/O、処理を行うためのプログラムおよび情報などが記憶されたROM、データを一時的に記憶するRAM、HDDなどの記憶媒体、CPU、及び通信回路などを有する。金属検出制御部30は、CPUが出力する信号に基づいて、入力データをRAMに記憶し、ROMに記憶されているプログラムをRAMにロードし、RAMにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。
金属検出制御部30は、基板室T1に配置されるとともにX線検査制御部20に接続され、X線検査制御部20を介してディスプレイ5の操作画面に入力された作業員からの操作情報を受け付ける。金属検出制御部30は、操作情報に基づいて送信コイル35及び受信コイル36,37の動作プロファイルを設定する。金属検出制御部30は、送信コイル35及び受信コイル36,37よりも上流側に配置されたレーザセンサ38を用いて被検査物Sを検出した場合、当該被検査物Sの金属検出を開始する。
金属検出制御部30は、送信コイル35へ交番励磁電流を供給し、磁束を発生させる。送信コイル35によって発生された磁束は、2つの受信コイル36,37を貫通し、電磁誘導によって受信コイル36,37それぞれに電圧が励起される。金属検出制御部30は、受信コイル36,37の差動接続の出力電圧を取得して、金属検出の判定を行う。金属検出制御部30は、差動接続の出力電圧が0のときは、金属異物を検出していないと判定する。一方、金属検出制御部30は、差動接続の出力電圧が0でないときは、金属異物を検出したと判定する。
金属検出制御部30は、作業員からの要求に応じて、金属検出の結果データをディスプレイ5に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、金属検出制御部30は、送信コイル35及び受信コイル36,37が正常に作動している場合、第2報知器82を用いて金属検出に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、金属検出制御部30は、異物を検出したと判定した場合、第2報知器82を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。なお、ケース31は、耐振特性向上の目的で防振台39(防振台39a,39b)により保持されていてもよい。
上述したX線検査部2及び金属検出部3は、それぞれ独立に作動可能に構成されている。つまり、異物検査装置1は、X線検査及び金属検出の両方を行うだけでなく、X線検査及び金属検出の何れか一方を実行することもできる。上述のとおり、本実施形態では、X線検査部2がディスプレイ5の表示制御を行うため、X線検査部2が停止している場合には、ディスプレイ5に金属検出部3の操作画面が表示されない。このため、筐体4の内部には、金属検出部3に接続されたサブディスプレイ(不図示)が配置されている。金属検出部3は、X線検査部2が停止している場合には、サブディスプレイを介して操作情報を受け付け、サブディスプレイに結果データなどを表示する。
次に、金属検出部3のケース31とX線遮蔽カーテン42,43との位置関係について説明する。図5に示されるように、ケース31に最も近いX線遮蔽カーテン42に着目すると、X線遮蔽カーテン42の上端42aと第1フード部33との最短の距離d1に、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向に沿った第1フード部33の長さd2を加えた値が、X線遮蔽カーテン42の上端42aから第1フード部33を介して本体部32に至る距離となる。ここで、X線遮蔽カーテン42の長さ(すなわち、上端42aから下端42bに至る距離)L1は、X線遮蔽カーテン42の上端42aから第1フード部33を介して本体部32に至る距離、すなわち、d1+d2よりも小さい。このことは、X線遮蔽カーテン42が揺れ動いても、X線遮蔽カーテン42が本体部32に接触することがないことを意味する。その一方で、X線遮蔽カーテン42の長さL1は、X線遮蔽カーテン42の上端42aから第1フード部33に至る距離d1よりも大きい。このことは、X線遮蔽カーテン42が揺れ動くと、X線遮蔽カーテン42が第1フード部33に接触することを意味する。なお、図5では、レーザセンサ24の図示を省略している。
同様に、ケース31に最も近いX線遮蔽カーテン43に着目すると、X線遮蔽カーテン43の上端43aと第2フード部34との最短の距離d3に、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向に沿った第2フード部34の長さd4を加えた値が、X線遮蔽カーテン43の上端43aから第2フード部34を介して本体部32に至る距離となる。ここで、X線遮蔽カーテン43の長さ(すなわち、上端43aから下端43bに至る距離)L2は、X線遮蔽カーテン43の上端43aから第2フード部34を介して本体部32に至る距離、すなわち、d3+d4よりも小さい。このことは、X線遮蔽カーテン43が揺れ動いても、X線遮蔽カーテン43が本体部32に接触することがないことを意味する。その一方で、X線遮蔽カーテン43の長さL2は、X線遮蔽カーテン43の上端43aから第2フード部34に至る距離d3よりも大きい。このことは、X線遮蔽カーテン43が揺れ動くと、X線遮蔽カーテン43が第2フード部34に接触することを意味する。
次に、ケース31の形状について説明する。図6に示されるように、本体部32に対して開口部4a側(搬入口側)に設けられた第1フード部33には、X線検査部2のX線が通過する一対のX線通過スリット(第1開口)33a,33bが設けられている。一対のX線通過スリット33a,33bは、鉛直方向において互いに対向している。また、第1フード部33には、レーザセンサ38を含む投受光センサの光(レーザ)が通過する一対のスリット(第3開口)33c,33dが設けられている。一対のスリット33c,33dは、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向に垂直な水平方向において互いに対向している。第1フード部33は、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向から見た場合に、左右対称(鉛直方向に沿って第1フード部33の中心を通る線を基準として左右対称)の形状を呈している。つまり、第1フード部33には、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向から見た場合に左右対称となるように、一対のX線通過スリット33a,33b及び一対のスリット33c,33dが設けられている。
図7に示されるように、本体部32に対して開口部4b側(搬出口側)に設けられた第2フード部34は、本体部32を挟んで第1フード部33と対称の形状を呈している。つまり、第2フード部34には、本体部32を挟んで第1フード部33と対称の形状を呈するように、X線通過スリット33aに対応するスリット(第2開口)34a、X線通過スリット33bに対応するスリット(第2開口)34b、スリット33cに対応するスリット(第4開口)34c、及びスリット33dに対応するスリット(第4開口)34dが設けられている。第2フード部34は、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向から見た場合に、左右対称(鉛直方向に沿って第2フード部34の中心を通る線を基準として左右対称)の形状を呈している。つまり、第2フード部34には、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向から見た場合に左右対称となるように、且つ本体部32を挟んで第1フード部33と対称の形状を呈するように、一対のスリット34a,34b及び一対のスリット34c,34dが設けられている。
以上説明したように、異物検査装置1では、X線遮蔽カーテン42の長さL1が、X線遮蔽カーテン42の上端42aから第1フード部33を介して本体部32に至る距離d1+d2よりも小さく、X線遮蔽カーテン43の長さL2が、X線遮蔽カーテン43の上端43aから第2フード部34を介して本体部32に至る距離d3+d4よりも小さい。したがって、コンベヤ10で搬送されている被検査物Sが接触すること等によって各X線遮蔽カーテン42,43が揺れ動いても、各X線遮蔽カーテン42,43が金属検出部3のケース31の本体部32に接触することが防止される。そのため、金属検出部3に各X線遮蔽カーテン42,43が近付くようなレイアウトを採ったとしても、各X線遮蔽カーテン42,43の揺れ動きが金属検出部3の磁界に与える影響を抑制することができる。よって、異物検査装置1によれば、装置サイズの小型化及び検査精度の向上の両立を図ることが可能となる。
また、異物検査装置1では、X線遮蔽カーテン42の長さL1が、X線遮蔽カーテン42の上端42aから第1フード部33に至る距離d1よりも大きく、X線遮蔽カーテン43の長さL2が、X線遮蔽カーテン43の上端43aから第2フード部34に至る距離d3よりも大きい。これにより、金属検出部3から各X線遮蔽カーテン42,43が離れて装置サイズが大型化するのをより確実に抑制することができる。
また、異物検査装置1では、第1フード部33に、X線検査部2のX線が通過するX線通過スリット33a,33bが設けられている。これにより、金属検出部3による検査よりも長い処理時間を要するX線検査部2による検査を先行して開始させ、装置全体としての処理時間を短縮させることができる。
また、異物検査装置1では、第2フード部34に、本体部32を挟んで第1フード部33と対称の形状を呈するように、スリット34a,34b,34cが設けられている。これにより、スリットの影響で金属検出部3の磁界のバランスが悪くなるのを防止し、金属検出部3による検査精度の低下を抑制することができる。また、第1フード部33と第2フード部34とが本体部32を挟んで対称の形状を呈しているため、部品としての共用化を図ることができる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではない。
例えば、X線遮蔽カーテン42は、「X線遮蔽カーテン42の長さが、X線遮蔽カーテン42の上端42aから第1フード部33に至る距離よりも大きい」との条件を満たしていなくてもよい。特に、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向において上流側の配置されたX線遮蔽カーテン42は、当該条件を満たさない場合がある。同様に、X線遮蔽カーテン43は、「X線遮蔽カーテン43の長さが、X線遮蔽カーテン43の上端43aから第2フード部34に至る距離よりも大きい」との条件を満たしていなくてもよい。特に、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向において下流側の配置されたX線遮蔽カーテン43は、当該条件を満たさない場合がある。
また、本実施形態では、筐体4の内部にコンベヤ10の一部を配置する例を説明したが、コンベヤ10はその全てが筐体4の内部に収容されていてもよい。
また、異物検査装置1は、次のように構成されていてもよい。すなわち、異物検査装置1は、コンベヤ10と、X線検査部2と、金属検出部3と、開口部4a,4bを有する筐体4と、を備え、ケース31が、本体部32と、第1フード部33と、第2フード部34と、を有し、第1フード部33に、X線検査部2のX線が通過するX線通過スリット33a,33bが設けられており、第2フード部34に、本体部32を挟んで第1フード部33と対称の形状を呈するようにスリット34a,34bが設けられていてもよい。この異物検査装置1(以下、「変形例の異物検査装置1」という)では、送信コイル35及び受信コイル36,37が内部に配置された本体部32に対して開口部4a側及び開口部4b側に第1フード部33及び第2フード部34がそれぞれ設けられている。これにより、例えば筐体4を小型化したとしても、金属検出部3の磁界に外乱の影響が及ぶのを抑制することができる。更に、第1フード部33に、X線検査部2のX線が通過するX線通過スリット33a,33bが設けられており、第2フード部34に、本体部32を挟んで第1フード部33と対称の形状を呈するようにスリット34a,34bが設けられている。これにより、X線通過スリット33a,33bの影響で金属検出部3の磁界のバランスが悪くなるのを防止し、金属検出部3による検査精度の低下を抑制することができる。よって、変形例の異物検査装置1によれば、装置サイズの小型化及び検査精度の向上の両立を図ることが可能となる。なお、この場合には、被検査物Sは、開口部4bから筐体4の内部に搬入され、筐体4の内部において検査が行われ、開口部4aから筐体4の外部に搬出されてもよい。つまり、開口部4bが被検査物Sの搬入口であり、開口部4aが被検査物Sの搬出口であってもよい。
また、変形例の異物検査装置1では、第1フード部33が、本体部32に対して開口部(搬入口)4a側に設けられており、第2フード部34が、本体部32に対して開口部(搬出口)4b側に設けられていてもよい。X線検査部2のX線が通過するX線通過スリット33a,33bが設けられた第1フード部33を本体部32に対して搬入口側に配置することで、金属検出部3による検査よりも長い処理時間を要するX線検査部2による検査を先行して開始させ、装置全体としての処理時間を短縮させることができる。
また、変形例の異物検査装置1では、第1フード部33に、コンベヤ10による被検査物Sの搬送方向から見た場合に左右対称となるように、投受光センサの光が通過する一対のスリット33c,33dが設けられており、第2フード部34に、本体部32を挟んで第1フード部33と対称の形状を呈するように一対のスリット34c,34dが設けられていてもよい。これにより、一対のスリット33c,33dの影響で金属検出部3の磁界のバランスが悪くなるのを防止し、金属検出部3による検査精度の低下を抑制することができる。
1…異物検査装置、2…X線検査部、3…金属検出部、4…筐体、4a…開口部(搬入口)、4b…開口部(搬出口)、10…コンベヤ(搬送部)、31…ケース、32…本体部、33…第1フード部、33a,33b…X線通過スリット(第1開口)、33c,33d…スリット(第3開口)、34…第2フード部、34a,34b…スリット(第2開口)、34c,34d…スリット(第4開口)、35…送信コイル(サーチコイル)、36,37…受信コイル(サーチコイル)、42…X線遮蔽カーテン(第1X線遮蔽カーテン)、42a…上端、42b…下端、43…X線遮蔽カーテン(第2X線遮蔽カーテン)、43a…上端、43b…下端、S…被検査物。

Claims (4)

  1. 被検査物を搬送する搬送部と、
    X線の透過性を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出するX線検査部と、
    磁界と金属との相互作用を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、
    前記搬送部の少なくとも一部、前記X線検査部、及び前記金属検出部を内部に収容し、前記搬送部による前記被検査物の搬入口、及び前記搬送部による前記被検査物の搬出口を有する筐体と、を備え、
    前記金属検出部において前記搬送部が通過しているケースは、
    サーチコイルが内部に配置された本体部と、
    前記本体部に対して前記搬入口側及び前記搬出口側の一方の側に設けられた第1フード部と、
    前記本体部に対して前記搬入口側及び前記搬出口側の他方の側に設けられた第2フード部と、を有し、
    前記第1フード部には、前記X線検査部のX線が通過する第1開口が設けられており、
    前記第2フード部には、前記本体部を挟んで前記第1フード部と対称の形状を呈するように第2開口が設けられており、
    前記第1フード部には、前記搬送部による前記被検査物の搬送方向から見た場合に左右対称となるように、投受光センサの光が通過する一対の第3開口が設けられており、
    前記第2フード部には、前記本体部を挟んで前記第1フード部と対称の形状を呈するように一対の第4開口が設けられている、異物検査装置。
  2. 前記第1フード部は、前記本体部に対して前記搬入口側に設けられており、
    前記第2フード部は、前記本体部に対して前記搬出口側に設けられている、請求項記載の異物検査装置。
  3. 前記搬入口に設けられ、上端が前記筐体に対する固定端であり且つ下端が自由端である第1X線遮蔽カーテンと、
    前記搬出口に設けられ、上端が前記筐体に対する固定端であり且つ下端が自由端である第2X線遮蔽カーテンと、を更に備え、
    前記第1X線遮蔽カーテンの長さは、前記第1X線遮蔽カーテンの前記上端から前記第1フード部を介して前記本体部に至る距離よりも小さく、
    前記第2X線遮蔽カーテンの長さは、前記第2X線遮蔽カーテンの前記上端から前記第2フード部を介して前記本体部に至る距離よりも小さい、請求項2記載の異物検査装置。
  4. 前記第1X線遮蔽カーテンの前記長さは、前記第1X線遮蔽カーテンの前記上端から前記第1フード部に至る距離よりも大きく、
    前記第2X線遮蔽カーテンの前記長さは、前記第2X線遮蔽カーテンの前記上端から前記第2フード部に至る距離よりも大きい、請求項記載の異物検査装置。
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JP3526263B2 (ja) * 2000-09-08 2004-05-10 株式会社イシダ X線異物検査装置
JP3857271B2 (ja) * 2001-09-21 2006-12-13 トック・エンジニアリング株式会社 金属異物検知方法とその装置
JP2005043149A (ja) * 2003-07-25 2005-02-17 Idemitsu Petrochem Co Ltd ブチレンポリマーの臭気測定方法
JPWO2005043149A1 (ja) * 2003-10-30 2007-11-29 トック・エンジニアリング株式会社 ハイブリッド型異物検知装置とそのトレサビリティ用システム
CN100342247C (zh) * 2004-09-14 2007-10-10 株式会社羽岛 检针装置
CN101021493A (zh) * 2007-02-16 2007-08-22 邸生才 成品烟箱缺条、条烟缺包x光检测装置及其检测方法
JP2009068910A (ja) * 2007-09-11 2009-04-02 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP5906070B2 (ja) * 2011-11-30 2016-04-20 アンリツインフィビス株式会社 物品検査装置
JP6346764B2 (ja) * 2013-06-25 2018-06-20 日新電子工業株式会社 異物検査装置
WO2017213146A1 (ja) * 2016-06-06 2017-12-14 株式会社イシダ 異物検査装置

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