JP2017072585A - X線検査装置 - Google Patents
X線検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017072585A JP2017072585A JP2016183163A JP2016183163A JP2017072585A JP 2017072585 A JP2017072585 A JP 2017072585A JP 2016183163 A JP2016183163 A JP 2016183163A JP 2016183163 A JP2016183163 A JP 2016183163A JP 2017072585 A JP2017072585 A JP 2017072585A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- detection unit
- inspection apparatus
- partition wall
- ray inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 80
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 80
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 58
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 9
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 4
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 13
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 9
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 9
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 206010044565 Tremor Diseases 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- QJVKUMXDEUEQLH-UHFFFAOYSA-N [B].[Fe].[Nd] Chemical compound [B].[Fe].[Nd] QJVKUMXDEUEQLH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910001172 neodymium magnet Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
Claims (9)
- X線を検査室へ照射するX線発生部が筐体内に配置されたX線検査装置であって、
前記検査室に対して着脱可能なX線遮蔽物と、
第1検知部及び第2検知部を有し、前記第1検知部と前記第2検知部との相対位置を検知する位置検知部と、を備え、
前記第1検知部は、前記X線遮蔽物に設けられ、
前記第2検知部は、前記筐体内に設けられた、X線検査装置。 - 前記X線遮蔽物は、少なくとも一部が前記検査室内に配置され、物品を搬送する搬送部である請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記X線遮蔽物は、前記検査室の搬入口側及び搬出口側にそれぞれ設けられた遮蔽カーテンである請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記筐体は非磁性体で形成され、
前記第1検知部は磁石であり、
前記第2検知部は磁気センサである請求項1〜3の何れか一項に記載のX線検査装置。 - 前記第1検知部を保護するカバー部材を備える請求項1〜4の何れか一項に記載のX線検査装置。
- 前記筐体を構成する壁のうち前記検査室内と前記筐体内とを仕切る仕切壁に設けられ、前記検査室内において前記遮蔽カーテンを支持する支持部材をさらに備え、
前記第2検知部は、前記仕切壁に形成された孔を介して前記支持部材に固定されている、請求項3に記載のX線検査装置。 - 前記仕切壁に形成された前記孔を介して前記第2検知部と前記支持部材とを互いに固定する固定部材をさらに備える、請求項6に記載のX線検査装置。
- 前記支持部材における前記仕切壁側の端部には、前記仕切壁に近付くほど太くなる形状を呈するテーパ部が設けられており、
前記遮蔽カーテンのカーテン保持部材には、前記テーパ部に嵌まる切欠きが形成されている、請求項6又は7に記載のX線検査装置。 - 前記支持部材は、円柱状を呈する棒状部材である、請求項6〜8の何れか一項に記載のX線検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2016/079927 WO2017061594A1 (ja) | 2015-10-09 | 2016-10-07 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015200981 | 2015-10-09 | ||
JP2015200981 | 2015-10-09 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017072585A true JP2017072585A (ja) | 2017-04-13 |
JP6755580B2 JP6755580B2 (ja) | 2020-09-16 |
Family
ID=58537601
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016183163A Active JP6755580B2 (ja) | 2015-10-09 | 2016-09-20 | X線検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6755580B2 (ja) |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003156456A (ja) * | 2001-11-22 | 2003-05-30 | Shimadzu Corp | 放射線検査装置 |
JP2005172486A (ja) * | 2003-12-09 | 2005-06-30 | Ishida Co Ltd | 放射線検査装置 |
JP2005308413A (ja) * | 2004-04-16 | 2005-11-04 | Shimadzu Corp | X線異物検出装置 |
JP2006038691A (ja) * | 2004-07-28 | 2006-02-09 | Anritsu Sanki System Co Ltd | 物品検査装置 |
JP2008281416A (ja) * | 2007-05-10 | 2008-11-20 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線異物検出装置 |
JP2013122405A (ja) * | 2011-12-09 | 2013-06-20 | Yamaha Motor Co Ltd | X線検査装置 |
JP2014006064A (ja) * | 2012-06-21 | 2014-01-16 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線検査装置 |
JP2014092410A (ja) * | 2012-11-01 | 2014-05-19 | Ishida Co Ltd | 遮蔽カーテン及びそれを搭載したx線検査装置 |
JP2014219267A (ja) * | 2013-05-08 | 2014-11-20 | 株式会社 システムスクエア | X線検査装置 |
-
2016
- 2016-09-20 JP JP2016183163A patent/JP6755580B2/ja active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003156456A (ja) * | 2001-11-22 | 2003-05-30 | Shimadzu Corp | 放射線検査装置 |
JP2005172486A (ja) * | 2003-12-09 | 2005-06-30 | Ishida Co Ltd | 放射線検査装置 |
JP2005308413A (ja) * | 2004-04-16 | 2005-11-04 | Shimadzu Corp | X線異物検出装置 |
JP2006038691A (ja) * | 2004-07-28 | 2006-02-09 | Anritsu Sanki System Co Ltd | 物品検査装置 |
JP2008281416A (ja) * | 2007-05-10 | 2008-11-20 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線異物検出装置 |
JP2013122405A (ja) * | 2011-12-09 | 2013-06-20 | Yamaha Motor Co Ltd | X線検査装置 |
JP2014006064A (ja) * | 2012-06-21 | 2014-01-16 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線検査装置 |
JP2014092410A (ja) * | 2012-11-01 | 2014-05-19 | Ishida Co Ltd | 遮蔽カーテン及びそれを搭載したx線検査装置 |
JP2014219267A (ja) * | 2013-05-08 | 2014-11-20 | 株式会社 システムスクエア | X線検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6755580B2 (ja) | 2020-09-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6346764B2 (ja) | 異物検査装置 | |
JP5156487B2 (ja) | X線検査装置 | |
US7477726B2 (en) | X-ray inspection apparatus | |
WO2017213146A1 (ja) | 異物検査装置 | |
WO2017061594A1 (ja) | X線検査装置 | |
JP2009008555A (ja) | 物品搬出モニタ | |
JP2000074856A (ja) | X線異物検査装置 | |
JP6755580B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP6157775B1 (ja) | 異物検査装置及び異物検査システム | |
JP6122926B2 (ja) | 異物検査装置 | |
JP6654392B2 (ja) | 異物検査装置 | |
JP6794101B2 (ja) | 異物検査装置 | |
JP2010230559A (ja) | X線検査装置 | |
WO2017057738A1 (ja) | 異物検査装置 | |
JP2007114092A (ja) | 検査システム及び検査装置 | |
JP6979673B2 (ja) | 光検査装置及び光検査システム | |
JP6122925B2 (ja) | 異物検査装置 | |
JP6677996B2 (ja) | 異物検査装置 | |
JP6123005B2 (ja) | 異物検査装置 | |
JP2017067687A (ja) | 異物検査装置 | |
WO2017057740A1 (ja) | 異物検査装置 | |
JP2010071669A (ja) | 計量装置 | |
JP6371561B2 (ja) | 金属検出装置 | |
JP2009135117A (ja) | X線防護箱及びこのx線防護箱を使用するx線検査装置 | |
JP2014032027A (ja) | 放射能検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190920 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200602 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200730 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200818 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200821 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6755580 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |