JP6122925B2 - 異物検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、異物検査装置に関する。

特許文献１には、Ｘ線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査と、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する金属検出との両方を行うことができる異物検査装置が記載されている。

特開２０１５−２８４６５号公報

上述した異物検査装置では、Ｘ線検査を行うＸ線検査部が筐体内に収容され、Ｘ線の外部漏洩が抑制されると共に、この同じ筐体内に、金属検出を行う金属検出部が収容される。このような構成においては、例えば金属検出部の筐体内への取付けを行うために、扉部が筐体に設けられる場合がある。

この場合、何らかの理由により筐体に対する扉部のガタつき（振動）が生じると、金属検出部で発生させた磁界の影響から、このガタつきに起因して起電力が生じ、筐体及び扉部に電流が流れるおそれがある。当該電流の流れは、金属検出部における金属検出にとって外乱要因となってしまう。

そこで、本発明は、Ｘ線検査部及び金属検出部を筐体内に収容した異物検査装置において、金属検出部の検出精度の低下を抑制することを目的とする。

本発明の異物検査装置は、被検査物を搬送する搬送部と、Ｘ線の透過性を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査部と、磁界と金属との相互作用を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、搬送部の少なくとも一部、Ｘ線検査部、及び金属検出部を内部に収容し、Ｘ線検査部のＸ線の外部漏洩を抑制する筐体と、を備え、筐体には、当該筐体を開閉する扉部が設けられ、扉部は、閉状態において、筐体に対して絶縁体を介して当接している。

この異物検査装置では、Ｘ線検査部及び金属検出部を内部に収容する筐体の扉部が、閉状態にて筐体に対して絶縁体を介して当接している。そのため、扉部のガタつきが生じたとしても、当該ガタつきに起因する電流の流れ（つまり、金属検出部における金属検出の外乱要因）を絶縁体によって抑制することができる。したがって、Ｘ線検査部及び金属検出部を筐体内に収容した異物検査装置において、金属検出部の検出精度の低下を抑制することが可能となる。

本発明の異物検査装置では、絶縁体は、樹脂で形成されていてもよい。この構成によれば、扉部と筐体との当接部分が樹脂で形成されることから、扉部のガタつき自体を抑制することができる。また、扉部と筐体との当接部分が絶縁されるため、当該部分が金属検出部の磁界に悪影響を及ぼすことを防止することが可能となる。

本発明の異物検査装置では、絶縁体は、扉部の外縁部に当該外縁部に沿って延在するように設けられていてもよい。この構成によれば、当該ガタつきに起因して流れる電流を効果的に抑制することができる。

本発明の異物検査装置では、扉部は、金属で形成されたプレート部材を有し、プレート部材は、絶縁体に沿って延在するように設けられ、扉部と協働して絶縁体を挟んでいてもよい。この場合、プレート部材によって、Ｘ線の外部漏洩を一層抑制することができる。

本発明によれば、Ｘ線検査部及び金属検出部を筐体内に収容した異物検査装置において、金属検出部の検出精度の低下を抑制することが可能となる。

実施形態に係る異物検査装置の正面図である。 図１に示される異物検査装置の内部構成及び制御系を説明する概念図である。 図２のＸ線検査部及び金属検出部の主要構成の説明図である。 図２のＸ線検査部及び金属検出部の主要構成の斜視図である。 図１に示される異物検査装置において下部扉の開状態を示す正面図である。 （ａ）は、図５の下部扉の斜視図である。（ｂ）は、図６（ａ）のＡ−Ａ線に沿う断面図である。 図５の下部扉の一部拡大斜視図である。

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。

図１は実施形態に係る異物検査装置１の正面図である。図１に示される異物検査装置１は、被検査物に含まれる異物を検出する装置である。被検査物は例えば食品である。異物検査装置１は、その内部において被検査物を搬送しつつＸ線検査及び金属検出を行い、被検査物に異物が含まれるか否かを検査する。

Ｘ線検査は、Ｘ線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、Ｘ線検査部２（図２参照）によって実現される。Ｘ線検査では、被検査物とは異なるＸ線透過性を有する異物を検出することができる。一方、金属検出は、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、金属検出部３（図２参照）によって実現される。金属検出では金属異物を検出することができる。Ｘ線検査部２及び金属検出部３の詳細については後述する。

異物検査装置１は、その内部に空間が画成された筐体４を有する。筐体４は、Ｘ線検査部２及び金属検出部３を内部に収容する。筐体４は、Ｘ線検査部２により発生されるＸ線を遮蔽し、Ｘ線の外部漏洩を抑制する。筐体４は、例えばステンレスなどで形成される。

筐体４は、本実施形態では箱状を呈している。筐体４の左側面には、筐体４の内部に連通する開口部４ａが形成されている。同様に、筐体４の右側面には、筐体４の内部に連通する開口部４ｂが形成されている。本実施形態では、被検査物は、開口部４ａから筐体４の内部へ搬入されて検査が行われ、開口部４ｂから筐体４の外部へ搬出される。つまり、開口部４ａが被検査物の搬入口、開口部４ｂが被検査物の搬出口となる。

筐体４の前面には、筐体４を開閉する上部扉４０及び下部扉（扉部）４１が設けられている。上部扉４０及び下部扉４１は、例えば開き戸構造である。上部扉４０又は下部扉４１が開閉されることで、後述するＸ線検査部２及び金属検出部３の少なくとも一部が外部に露出される。上部扉４０及び下部扉４１は、例えばステンレスなどで形成される。

上部扉４０の前面には、ディスプレイ５及び操作スイッチ６が設けられている。ディスプレイ５は、表示機能と入力機能とを兼ね備えた表示装置であり、例えばタッチパネルである。ディスプレイ５は、Ｘ線検査及び金属検出の結果などを表示するとともに、金属検出及びＸ線検査に関する各種パラメータの設定を行う操作画面を表示する。操作スイッチ６は、Ｘ線検査部２及び金属検出部３の電源スイッチなどである。

筐体４は、支持台７によって支持されている。筐体４の上面には、報知部８及びクーラー９が設けられている。報知部８は、異物混入や機器の作動状態を報知する。報知部８は、Ｘ線検査部２に対応する第１報知器８１、及び金属検出部３に対応する第２報知器８２を備えている。クーラー９は、筐体４の内部に冷気を送り、筐体４の内部に配置された機器の温度を調整する。

図２は、図１に示される異物検査装置１の内部構成及び制御系を説明する概念図である。図２に示されるように、筐体４の内部は、後述するＸ線発生器の一部や構成要素の制御基板などが配置される基板室Ｔ１と、被検査物Ｓが搬入されて検査が行われる検査室Ｔ２とに区画されている。基板室Ｔ１は、上述したクーラー９によって温度調整されている。

検査室Ｔ２には、被検査物Ｓを搬送するコンベヤ（搬送部）１０が配置されている。コンベヤ１０は、本実施形態ではローラ式のベルトコンベヤであり、一端部が開口部４ａに位置し且つ他端部が開口部４ｂに位置した状態で、筐体４の内部を水平方向に延在している。つまり、筐体４は、コンベヤ１０のうち一端部及び他端部を除く部分を内部に収容している。本実施形態のコンベヤ１０は、開口部４ａを介して被検査物Ｓを筐体４の内部に搬入し、開口部４ｂを介して被検査物Ｓを筐体４の外部に搬出する。

開口部４ａには、Ｘ線遮蔽カーテン４２が配置されている。同様に、開口部４ｂには、Ｘ線遮蔽カーテン４３が配置されている。Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３は、上端が筐体４に対する固定端であり且つ下端が自由端である。Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３は、Ｘ線検査部２が発生したＸ線を遮蔽し、Ｘ線の外部漏洩を抑制する。Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３は、例えばタングステンを含有する可撓性材料などにより形成される。なお、被検査物Ｓの搬入及び搬出を自動化すべく、コンベヤ１０の右側に搬入用コンベヤ１１を配置し、コンベヤ１０の左側に搬出用コンベヤ１２を配置してもよい。また、搬出用コンベヤ１２が、被検査物Ｓの振分機能を備えていてもよい。

検査室Ｔ２には、被検査物Ｓを通過させるための貫通穴３１ａが形成された環状体のケース３１が配置されている。コンベヤ１０は、貫通穴３１ａを介してケース３１を貫通している。被検査物Ｓは、コンベヤ１０によってケース３１の貫通穴３１ａを通過し、ケース３１においてＸ線検査及び金属検出が順次実行される。ケース３１は、例えばステンレスなどで形成される。

最初に、Ｘ線検査を行うＸ線検査部２について説明する。Ｘ線検査部２は、Ｘ線検査制御部２０、Ｘ線発生器２１、及びＸ線検出器２２を備える。Ｘ線発生器２１は、Ｘ線を発生するＸ線源、及びスリット機構を含む。Ｘ線検出器２２は、Ｘ線発生器２１で発生したＸ線を検出する。Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２は、コンベヤ１０及びケース３１を上下方向から挟むように対向配置されている。なお、Ｘ線発生器２１のうち、Ｘ線源などは基板室Ｔ１に配置され、Ｘ線を照射する機構が検査室Ｔ２に配置されている。Ｘ線検出器２２としては、例えば複数のＸ線検出センサを前後方向に沿って並設したラインセンサが用いられる。Ｘ線検出器２２は、Ｘ線漏洩を低減させるために、基板ケース２３に収容されている。基板ケース２３には、Ｘ線検出器２２へＸ線を到達させるために、スリット２３ａ（図４参照）が設けられている。

Ｘ線検査制御部２０は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースＩ／Ｏ、処理を行うためのプログラムおよび情報などが記憶されたＲＯＭ（Read Only Memory）、データを一時的に記憶するＲＡＭ（RandomAccess Memory）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）などの記憶媒体、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、及び通信回路などを有する。Ｘ線検査制御部２０は、ＣＰＵが出力する信号に基づいて、入力データをＲＡＭに記憶し、ＲＯＭに記憶されているプログラムをＲＡＭにロードし、ＲＡＭにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。

Ｘ線検査制御部２０は、基板室Ｔ１に配置され、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２に接続されている。Ｘ線検査制御部２０は、ディスプレイ５に接続され、操作画面を介して作業員から操作情報を受け付ける。Ｘ線検査制御部２０は、操作情報に基づいてＸ線発生器２１及びＸ線検出器２２の動作プロファイルを設定するとともに、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２の動作を制御する。Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２よりも上流側に配置されたレーザセンサ２４を用いて被検査物Ｓを検出した場合、当該被検査物Ｓの検査を開始する。Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線発生器２１を制御して、コンベヤ１０によって搬送されている被検査物ＳにＸ線を照射させる。Ｘ線検出器２２は、被検査物Ｓを透過したＸ線のＸ線透過量を計測し、計測したＸ線透過量をＸ線検査制御部２０へ出力する。

Ｘ線検査制御部２０は、時系列で取得したＸ線透過量を画素値に反映させたＸ線透過画像を生成する。そして、Ｘ線検査制御部２０は、画像処理技術によりＸ線透過画像を解析して、異物を検出する。例えば、Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線透過画像の画素値に基づいて、被検査物Ｓの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在するか否かを判定する。そして、Ｘ線検査制御部２０は、被検査物Ｓの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在する場合には、異物を検出したと判定する。

Ｘ線検査制御部２０は、作業員からの要求に応じて、Ｘ線検査の結果データをディスプレイ５に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２が正常に作動している場合、第１報知器８１を用いてＸ線検査に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、Ｘ線検査制御部２０は、異物を検出したと判定した場合、第１報知器８１を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。

図３は、図２のＸ線検査部２及び金属検出部３の主要構成の説明図である。図４は、図２のＸ線検査部２及び金属検出部３の主要構成の斜視図である。図３及び図４に示されるように、ケース３１は、本体部３２、第１フード部３３、及び第２フード部３４を有する。第１フード部３３は、本体部３２に対して開口部４ａ側（搬入口側）に設けられている。第２フード部３４は、本体部３２に対して開口部４ｂ側（搬出口側）に設けられている。上述したケース３１の貫通穴３１ａは、本体部３２、第１フード部３３、及び第２フード部３４それぞれの内壁によって画成されている。

第１フード部３３の上面には、Ｘ線を通過させるＸ線通過スリット３３ａがＸ線発生器２１の下方に位置するように形成されている。第１フード部３３の下面には、Ｘ線を通過させるＸ線通過スリット３３ｂがＸ線通過スリット３３ａと対向するように形成されている。Ｘ線通過スリット３３ｂの下方には、Ｘ線検出器２２が配置される。このように構成することで、Ｘ線発生器２１が発生したＸ線２１ａは、Ｘ線通過スリット３３ａ，３３ｂを通過し、ケース３１の内部を搬送されている被検査物Ｓに照射される。なお、第１フード部３３の側面において、Ｘ線通過スリット３３ａ，３３ｂよりも下流側（本体部３２側）にはスリット３３ｃが設けられている。スリット３３ｃには、後述するレーザセンサ３８が配置される。レーザセンサ３８は、スリット３３ｃを介してコンベヤ１０上の被検査物Ｓにレーザを照射する。

次に、金属検出を行う金属検出部３について説明する。金属検出部３は、金属検出制御部３０、サーチコイルである環状の送信コイル３５、及びサーチコイルである環状の受信コイル３６，３７を備える。送信コイル３５及び受信コイル３６，３７は、金属などの導電性材料で形成され、ケース３１の本体部３２の内部に配置されている。送信コイル３５及び受信コイル３６，３７は、貫通穴３１ａの延在方向と同軸に配置されている。つまり、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７は、貫通穴３１ａを囲むように配置されている。これにより、被検査物Ｓは、コンベヤ１０によって送信コイル３５及び受信コイル３６，３７を通過する。

送信コイル３５は、受信コイル３６，３７間に配置されている。受信コイル３６，３７は、互いに差動接続されるとともに送信コイル３５に対して対称に配置されている。２つの受信コイル３６，３７は、同一の鎖交磁束を有する。送信コイル３５は、通電可能に構成されており、磁束を発生する。受信コイル３６，３７それぞれには、送信コイル３５が発生した磁界の電磁誘導によって電圧が励起する。なお、第１フード部３３及び第２フード部３４は、送信コイル３５が発生した磁界の外部漏洩と外来磁界の進入とを抑制する。

金属検出制御部３０は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースＩ／Ｏ、処理を行うためのプログラムおよび情報などが記憶されたＲＯＭ、データを一時的に記憶するＲＡＭ、ＨＤＤなどの記憶媒体、ＣＰＵ、及び通信回路などを有する。金属検出制御部３０は、ＣＰＵが出力する信号に基づいて、入力データをＲＡＭに記憶し、ＲＯＭに記憶されているプログラムをＲＡＭにロードし、ＲＡＭにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。

金属検出制御部３０は、基板室Ｔ１に配置されるとともにＸ線検査制御部２０に接続され、Ｘ線検査制御部２０を介してディスプレイ５の操作画面に入力された作業員からの操作情報を受け付ける。金属検出制御部３０は、操作情報に基づいて送信コイル３５及び受信コイル３６，３７の動作プロファイルを設定する。金属検出制御部３０は、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７よりも上流側に配置されたレーザセンサ３８を用いて被検査物Ｓを検出した場合、当該被検査物Ｓの金属検出を開始する。

金属検出制御部３０は、送信コイル３５へ交番励磁電流を供給し、磁束を発生させる。送信コイル３５によって発生された磁束は、２つの受信コイル３６，３７を貫通し、電磁誘導によって受信コイル３６，３７それぞれに電圧が励起される。金属検出制御部３０は、受信コイル３６，３７の差動接続の出力電圧を取得して、金属検出の判定を行う。金属検出制御部３０は、差動接続の出力電圧が０のときは、金属異物を検出していないと判定する。一方、金属検出制御部３０は、差動接続の出力電圧が０でないときは、金属異物を検出したと判定する。

金属検出制御部３０は、作業員からの要求に応じて、金属検出の結果データをディスプレイ５に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、金属検出制御部３０は、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７が正常に作動している場合、第２報知器８２を用いて金属検出に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、金属検出制御部３０は、異物を検出したと判定した場合、第２報知器８２を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。なお、ケース３１は、耐振特性向上の目的で防振台３９（防振台３９ａ，３９ｂ）により保持されていてもよい。

上述したＸ線検査部２及び金属検出部３は、それぞれ独立に作動可能に構成されている。つまり、異物検査装置１は、Ｘ線検査及び金属検出の両方を行うだけでなく、Ｘ線検査及び金属検出の何れか一方を実行することもできる。上述のとおり、本実施形態では、Ｘ線検査部２がディスプレイ５の表示制御を行うため、Ｘ線検査部２が停止している場合には、ディスプレイ５に金属検出部３の操作画面が表示されない。このため、筐体４の内部には、金属検出部３に接続されたサブディスプレイ（不図示）が配置されている。金属検出部３は、Ｘ線検査部２が停止している場合には、サブディスプレイを介して操作情報を受け付け、サブディスプレイに結果データなどを表示する。

図５は、図１の異物検査装置において下部扉４１の開状態のときを示す正面図である。図６（ａ）は、図５の下部扉４１の斜視図であり、図６（ｂ）は、図６（ａ）のＡ−Ａ線に沿う断面図である。図７は、図５の下部扉４１の一部拡大斜視図である。以下において、下部扉４１が閉じている状態を「閉状態」と称し、下部扉４１が開いている状態を「開状態」と称する。下部扉４１の「内側」及び「外側」とは、閉状態においての内側及び外側を意味する。

図５に示されるように、筐体４には、前面側に開口する開口部４６が形成されており、この開口部４６は、検査室Ｔ２を露出させる。検査室Ｔ２の底面の前側（開口部４６の下方の辺縁部）には、互いに離れて配置された一対のヒンジ５１が設けられている。これら一対のヒンジ５１を介して、開口部４６を塞ぐように下部扉４１が筐体４に取付けられている。これにより、下部扉４１は、その下方側のヒンジ５１を中心にして、左右方向に沿った軸回りに回動可能に構成されている。つまり、筐体４には、当該筐体４を開閉する開き戸構造の下部扉４１が設けられている。

開口部４６の上方の辺縁部には、当該辺縁部に沿って延在するフランジ部４７が設けられている。開口部４６の両側方の側縁部には、当該側縁部に沿って延在するフランジ部４８が設けられている。フランジ部４７，４８は、閉状態において後述の絶縁体５９Ａ，５９Ｂと当接する当接面である。

図６及び図７に示されるように、下部扉４１は、例えばステンレスなどの金属で形成されている。下部扉４１は、矩形板形状の前壁５３と、前壁５３における両側縁それぞれに傾斜部５４を介して連設された側部縁壁５５と、前壁５３における閉状態での上方縁に連設された上部縁壁５６と、を有している。

前壁５３は、その内面に板部材５３ａが積層された二重板構造を有しており、これにより、Ｘ線の外部漏洩の抑制効果が高められている。前壁５３には、ヒンジ５１が固定されている。また前壁５３には、作業員が下部扉４１の開閉操作を行うためのドアハンドル５７ａ（図１参照）を含む開閉制御機構５７が設けられている。側部縁壁５５は、前壁の側縁に沿って延在し、前壁５３と垂直な板形状とされている。傾斜部５４は、その縁に行くに従い内側に傾斜する板形状とされている。上部縁壁５６は、前壁５３における閉状態での上方縁に沿って延在し、前壁５３と垂直な板形状とされている。

本実施形態において、上部縁壁５６の内面には、絶縁体５９Ａが設けられている。絶縁体５９Ａは、上部縁壁５６に沿って延在する。側部縁壁５５の内面には、絶縁体５９Ａと同様な絶縁体５９Ｂが設けられている。絶縁体５９Ｂは、側部縁壁５５に沿って延在する。絶縁体５９Ａは、その両端部で絶縁体５９Ｂに連続するように配置されている。これにより、絶縁体５９Ａ，５９Ｂは、下部扉４１の外縁部に当該外縁部に沿って延在するように設けられる。

絶縁体５９Ａ，５９Ｂは、断面矩形形状を有している。ここでの絶縁体５９Ａ，５９Ｂは、白色に着色されている。絶縁体５９Ａ，５９Ｂは、上部縁壁５６及び側部縁壁５５よりも内側に突出しており、閉状態において開口部４６辺縁のフランジ部４７，４８と当接する。すなわち、下部扉４１は、閉状態において、筐体４に対して絶縁体５９Ａ，５９Ｂを介して当接する。

絶縁体５９Ａ，５９Ｂは、樹脂で形成されている。例えば絶縁体５９Ａ，５９Ｂは、塩化ビニル樹脂又はポリエチレンで形成されている。絶縁体５９Ａ，５９Ｂは、例えば高い耐久性を確保する観点から一定以上の硬度を有しており、弾性ゴム（天然ゴムや合成ゴムに代表される有機高分子を主成分とする、弾性限界が高く弾性率の低い材料）以外の材料で形成されている。

絶縁体５９Ａ，５９Ｂの内面には、当該絶縁体５９Ａ，５９Ｂに沿って延在するプレート部材Ｐが設けられている。プレート部材Ｐは、例えばステンレスなどの金属で形成されている。プレート部材Ｐは、絶縁体５９Ａ，５９Ｂの内面に積層されて当接され、この当接状態においてネジＮによりプレート部材Ｐと共に下部扉４１に固定されている。これにより、プレート部材Ｐは、下部扉４１と協働して絶縁体５９Ａ，５９Ｂを挟む。換言すると、絶縁体５９Ａ，５９Ｂは、下部扉４１とプレート部材Ｐとによって挟持されている。

以上、異物検査装置１では、Ｘ線検査部２及び金属検出部３を内部に収容する筐体４の下部扉４１が、閉状態にて筐体４に対して絶縁体５９Ａ，５９Ｂを介して当接している。これにより、下部扉４１のガタつきが生じたとしても、当該ガタつきに起因する電流の流れ（つまり、金属検出部３における金属検出の外乱要因）を絶縁体５９Ａ，５９Ｂによって抑制することができる。したがって、Ｘ線検査部２及び金属検出部３を筐体４内に収容したハイブリット型の異物検査装置１において、金属検出部３の検出精度の低下を抑制することが可能となる。

異物検査装置１では、絶縁体５９Ａ，５９Ｂは、樹脂で形成されている。これにより、下部扉４１と筐体４との当接部分が樹脂で形成されることから、下部扉４１のガタつき自体を抑制することができる。また、下部扉４１と筐体４との当接部分が非磁性体となるため、当該部分が金属検出部３の磁界に悪影響を及ぼすことを防止することが可能となる。

異物検査装置１では、絶縁体５９Ａ，５９Ｂは、下部扉４１における上部縁壁５６及び側部縁壁５５の各内面に、当該上部縁壁５６及び側部縁壁５５に沿って延在するように設けられている。つまり、下部扉４１の外縁部に当該外縁部に沿って延在するように、絶縁体５９Ａ，５９Ｂが設けられている。これにより、下部扉４１のガタつきに起因して流れる電流を、下部扉４１が筐体４に当接する外縁部の全域にて遮断して効果的に抑制可能となる。

異物検査装置１では、下部扉４１は、金属で形成されたプレート部材Ｐを有しており、このプレート部材Ｐは絶縁体５９Ａ，５９Ｂに沿って延在するように設けられている。プレート部材Ｐは、下部扉４１と協働して絶縁体５９Ａ，５９Ｂを挟んでいる。これにより、プレート部材Ｐによって、Ｘ線の外部漏洩を一層抑制することができる。また、プレート部材Ｐを用いることで、絶縁体５９Ａ，５９Ｂをしっかりと下部扉４１に固定することができる。

以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。

上述した実施形態では、絶縁体５９Ａ，５９Ｂを樹脂で形成したが、樹脂以外の絶縁体で形成してもよい。絶縁体５９Ａ，５９Ｂは下部扉４１の外縁部に当該外縁部に沿って延在するが、絶縁体５９Ａ，５９Ｂの配置構成については特に限定されず、下部扉４１が筐体４に対して絶縁体５９Ａ，５９Ｂを介して当接していればよい。上記実施形態では、絶縁体５９Ａ，５９Ｂを挟むようにプレート部材Ｐを設けたが、例えば仕様等によっては、プレート部材Ｐはなくともよい。

上述した実施形態では、下部扉４１を開き戸構造としたが、その他の種々の扉構造（扉機構）を下部扉４１に採用してもよい。例えば下部扉４１の扉構造は、扉をスライドして開閉する引き戸構造であってもよいし、開き戸構造及び引き戸構造を組み合わせた構造であってもよい。下部扉４１が開き戸構造の場合、例えばガタつきに起因して生じる電流の悪影響が懸念される場合が多いことから、当該電流の流れを絶縁体５９Ａ，５９Ｂで抑制する抑制効果は有効となる。

上述した実施形態では、被検査物Ｓを開口部４ａから開口部４ｂへ搬送する例を示したが、搬送方向を逆にしてもよい。この場合、レーザセンサ２４を開口部４ｂと第２フード部３４との間に配置し、第２フード部３４の側面にスリットを設けてレーザセンサ３８を第２フード部３４に配置すればよい。上記実施形態では、筐体４の内部にコンベヤ１０の一部を配置する例を説明したが、コンベヤ１０はその全てが筐体４の内部に収容されていてもよい。

１…異物検査装置、２…Ｘ線検査部、３…金属検出部、４…筐体、１０…コンベヤ（搬送部）、４１…下部扉（扉部）、５９Ａ，５９Ｂ…絶縁体、Ｐ…プレート部材、Ｓ…被検査物。

Claims (4)

1. 被検査物を搬送する搬送部と、
   Ｘ線の透過性を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査部と、
   磁界と金属との相互作用を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、
   前記搬送部の少なくとも一部、前記Ｘ線検査部、及び前記金属検出部を内部に収容し、前記Ｘ線検査部のＸ線の外部漏洩を抑制する筐体と、を備え、
   前記筐体には、当該筐体を開閉する扉部が設けられ、
   前記扉部は、閉状態において、前記筐体に対して絶縁体を介して当接している、異物検査装置。
2. 前記絶縁体は、樹脂で形成されている、請求項１に記載の異物検査装置。
3. 前記絶縁体は、前記扉部の外縁部に当該外縁部に沿って延在するように設けられている、請求項１又は２に記載の異物検査装置。
4. 前記扉部は、金属で形成されたプレート部材を有し、
   前記プレート部材は、前記絶縁体に沿って延在するように設けられ、前記扉部と協働して前記絶縁体を挟む、請求項３に記載の異物検査装置。

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