JP6119451B2 - 薄板レーザ溶接部の疲労寿命予測方法 - Google Patents
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Description
また、特許文献2には、スポット溶接構造部材に対して応力評価から疲労寿命予測までのフローチャートが詳細に示されている。しかしながら、特許文献2では、連続溶接であるレーザ溶接に対しては、外力や変形の状態と応力との関係が定式化されていないため、公称構造応力の評価パラメータとしての妥当性や汎用性が明らかではない。それゆえ、該方法をレーザ溶接部の疲労寿命予測へそのまま適用することはできない。このように、レーザ溶接部の疲労寿命予測については、これまでに十分な検討がなされていなかった。
本発明者らは、この考え方を、上記3つの応力成分が組み合わされる溶接止端部へ拡張することとした。すなわち、疲労寿命が次式で決定されると考えた。
(σI/σIN)p + (τII/τIIN)q + (τIII/τIIIN)r = 1 式(1)
へと代入することにより、疲労寿命Nを算出する疲労寿命算出工程と、を有する、薄板レーザ溶接部の疲労寿命予測方法である。
次に、疲労試験Bについても、外力を変更した複数の条件で行うことにより、面内せん断型応力成分τIIを面外せん断型応力成分τIIIに変えるほかは疲労試験Aの場合と以下同様にして、複数の疲労寿命を求める。疲労試験Bから得られた疲労寿命をN4、N5、および、N6とするとき、疲労寿命N1、N2、および、N3の場合と同様にして、複数のX(疲労寿命N4を用いて得られるX4、疲労寿命N5を用いて得られるX5、および、疲労寿命N6を用いて得られるX6)を求める。このようにしてX1乃至X6を求めたら、例えば、X12+X22+X32+X42+X52+X62が最小になるように、定数p、q、および、rを決定することができる。
そして、図5に示した「引張(はく離)」、「せん断・平行」、および、「せん断・垂直」の結果を用いて、上記式(2)〜(4)に相当する近似式を導出した。このステップは、本発明における応力寿命関係特定工程に相当する。
このようにして、疲労寿命予測対象材の開口型応力成分σI、面内せん断型応力成分τII、および、面外せん断型応力成分τIIIを求めたら、これらの値を上記式(1)の左辺各項の分子へと代入するとともに、既に導出した上記式(2)〜(4)に相当する近似式を上記式(1)の左辺各項の分母へと代入し、さらに、板厚0.8mmの場合にはp=1.44、q=r=2を、板厚1.2mmの場合にはp=1.64、q=r=2をそれぞれ代入することにより、疲労寿命を算出した。本発明による疲労寿命の予測結果を実験結果とともに図7に示す。
Claims (3)
- レーザ溶接される鋼板におけるレーザ溶接部の疲労寿命を、有限要素法解析を用いて予測する際に、
開口型応力成分、面内せん断型応力成分、および、面外せん断型応力成分の3つの応力成分のうち1つの応力成分のみが生じる試験片を用いて、前記3つの応力成分がそれぞれ単独で作用する場合の疲労試験を実施することにより、前記開口型応力成分のみが生じる試験片を用いた疲労試験で導出される疲労寿命、前記面内せん断型応力成分のみが生じる試験片を用いた疲労試験で導出される疲労寿命、および、前記面外せん断型応力成分のみが生じる試験片を用いた疲労試験で導出される疲労寿命をそれぞれ求める、疲労試験工程と、
前記疲労試験が行われる試験片のレーザ溶接部をソリッド要素でモデル化し、且つ、ソリッド要素でモデル化した前記レーザ溶接部以外の前記試験片の非溶接部位をシェル要素でモデル化した解析モデルを用いて、前記疲労試験の有限要素法解析を行うことにより、前記レーザ溶接部のうち前記非溶接部位との境界領域における、前記開口型応力成分のみが生じる試験片を用いた疲労試験で導出される疲労寿命に対する応力σIN、前記面内せん断型応力成分のみが生じる試験片を用いた疲労試験で導出される疲労寿命に対する応力τIIN、および、前記面外せん断型応力成分のみが生じる試験片を用いた疲労試験で導出される疲労寿命に対する応力τIIINをそれぞれ求める、応力算出工程と、
前記応力σINと疲労寿命Nとの関係、前記応力τIINと疲労寿命Nとの関係、および、前記応力τIIINと疲労寿命Nとの関係をそれぞれ得る、応力寿命関係特定工程と、
レーザ溶接部を有する寿命予測対象部材に対し、前記寿命予測対象部材の前記レーザ溶接部をソリッド要素でモデル化し、且つ、前記寿命予測対象部材の前記レーザ溶接部以外の非溶接部位をシェル要素でモデル化した解析モデルを用い、外力条件を付与して有限要素法解析を行うことにより、前記寿命予測対象部材の前記レーザ溶接部のうち前記寿命予測対象部材の前記非溶接部位との境界領域における、開口型応力成分σI、面内せん断型応力成分τII、および、面外せん断型応力成分τIIIをそれぞれ算出する、寿命予測対象解析工程と、
前記応力寿命関係特定工程で得られた、前記疲労寿命Nの関数で表される前記応力σIN、前記応力τIIN、および、前記応力τIIIN、ならびに、前記寿命予測対象解析工程で得られた前記開口型応力成分σI、前記面内せん断型応力成分τII、および、前記面外せん断型応力成分τIIIを、定数p、q、および、rを含む
(σI/σIN)p + (τII/τIIN)q + (τIII/τIIIN)r
= 1 式(1)
へと代入することにより、疲労寿命Nを算出する、疲労寿命算出工程と、
を有する、薄板レーザ溶接部の疲労寿命予測方法。 - 前記式(1)の左辺−1をXとするとき、前記p、q、および、rは、
前記開口型応力成分と前記面内せん断型応力成分とが生じる試験片を用いた疲労試験の結果、および、前記開口型応力成分と前記面外せん断型応力成分とが生じる試験片を用いた疲労試験の結果を用いて、Xの2乗の総和が最小になるように決定される、請求項1に記載の薄板レーザ溶接部の疲労寿命予測方法。 - q=r=2として前記pを求める、請求項2に記載の薄板レーザ溶接部の疲労寿命予測方法。
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