JP6076047B2 - 電子部品実装装置及び演算装置及び電子部品実装方法 - Google Patents

電子部品実装装置及び演算装置及び電子部品実装方法 Download PDF

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Description

本発明は、電子部品を基板に実装する電子部品実装装置に関する。
電子部品実装装置(以下、単に部品実装装置とも呼称する)は、部品供給装置(テープフィーダやトレイ型部品供給装置)に搭載されている電子部品(以下、単に部品とも呼称する)を、吸着ノズル(以下、単にノズルともいう)の内部を減圧することによって吸着し、基板の所定の位置に搬送して装着する。以下、吸着と装着を含めて実装と呼ぶ。部品実装装置に関し、吸着ノズルが部品を保持する際に、ノズルを部品に向かって伸縮する方向をZ方向とし、Z方向と交差する方向をX,Y方向あるいは、X,Y平面と呼ぶ。
米国特許第7739077号(特許文献1)には、実装条件決定ステップでは、前記動作状態を示すパラメータが所定の範囲内となるように、部品実装機に備えられる部材が移動した後の静止時間を調整して実装条件を決定しても良く、前記動作状態を示すパラメータが所定の範囲内となるように、吸着ノズルが下降した後の静止時間を調整して実装条件を決定しても良い。特に、前記動作状態を示すパラメータが所定の範囲よりも良い場合、前記動作状態を示すパラメータが前記範囲内となるように、前記静止時間を短くして実装条件を決定すれば良く、前記動作状態を示すパラメータが所定の範囲よりも悪い場合、前記動作状態を示すパラメータが前記範囲内となるように、前記静止時間を長くして実装条件を決定する方法が記載されている。
米国特許第7739077号公報
上記のような電子部品実装装置では、フィーダに搭載・保持されている電子部品の位置や、基板の厚みやたわみ、部品装着ノズルが吸着した部品の形状・重量などに応じて、ノズルの吸着時の位置や、ノズルの吸着後の動作速度、ノズルの装着時の位置や、ノズルの装着後の動作速度などを、適切に設定する必要がある。
特許文献1の技術では、吸着異常または装着異常が発生してからパラメータを変更するため、吸着異常や装着異常を未然に予防する方法については開示されていない。
電子部品を保持または実装する位置については、Z方向の部品上面側でのノズル停止位置に対して反対の面(部品の底面)方向にずれた場合には、部品上面とノズルとの距離が大きくなり、部品をノズルによって適切に吸着することは困難となることは考慮されていない。
また、部品の位置がノズル側にずれ、部品上面とノズルとの距離が小さくなった場合も同様に適切な吸着ができないことがある。
このように部品を吸着する際に、適切な距離ではないことによって部品を傾いた状態で吸着することや、吸着できない、あるいは、傾いた状態での実装や、実装できないような吸着異常や装着異常が発生することがある。
吸着ノズルに限らず、例えば粘着式や樹脂製のノズル等、チャックを用いた機械式等の保持手段であっても、部品を保持あるいは装着する際には同様の問題を有している。
以上を鑑み、本発明の目的は、電子部品実装装置に係わり、電子部品の保持または装着の精度を向上させる技術を提供することである。
上記課題を解決するために、本発明の電子部品実装装置は、電子部品を保持手段によって、高さを含む実装条件を用いて保持あるいは装着することによって実装する電子部品実装装置において、所定の実装条件を用いることによって保持あるいは装着された電子部品の位置情報を特定する手段と、特定された位置情報を用いて、電子部品の位置のばらつきを特定する手段と、前記所定の実装条件を複数回変えることによって、複数のばらつきを特定する手段と、特定された複数のばらつきを用いて、前記電子部品の実装条件を特定する手段と、を有することを特徴とする。
本発明の演算装置は、電子部品実装装置に、電子部品を保持手段によって、高さを含む実装条件を用いて保持あるいは装着することによって実装させる動作情報を特定する演算装置において、所定の実装条件を用いることによって保持あるいは装着された電子部品の位置情報を特定する手段と、特定された位置情報を用いて、電子部品の位置のばらつきを特定する手段と、前記所定の実装条件を複数回変えることによって、複数のばらつきを特定する手段と、特定された複数のばらつきを用いて、前記電子部品の実装条件を特定する手段と、を有することを特徴とする。
本発明の実装方法は、電子部品を保持手段によって、高さを含む実装条件を用いて保持あるいは装着することによって実装する電子部品実装方法において、所定の実装条件を用いることによって保持あるいは装着された電子部品の位置情報を特定するステップと、複数の特定された位置情報を用いて、前記実装条件ごとの電子部品の位置のばらつきを特定するステップと、特定されたばらつきを用いて、電子部品の実装条件を特定するステップと、を有することを特徴とする。
本発明は、電子部品実装装置による電子部品の保持または装着にかかる実装作業の精度を向上することができる。
部品実装装置の構成例を示す図である。 部品実装装置での処理例を示すフロー図である。 部品実装装置におけるフィーダ、ヘッド等の部位の構成例、検査装置の構成例、及び基板に対する部品の実装の構成例を模式的に示す図である。 ヘッド及びノズルの構成例を示す図である。 吸着時の部品及びノズルの位置を側面から見た例を示す図である。 装着時の部品及びノズルの位置を側面から見た例を示す図である。 吸着ずれ取得部により計測される部品吸着ずれ量の例を示す図である。 吸着ずれ取得部により計測される部品吸着ずれ(角度)の例を示す図である。 装着ずれ取得部により計測される部品装着ずれ量の例を示す図である。 装着ずれ取得部により計測される部品装着ずれ(角度)の例を示す図である。 演算装置の処理例(停止位置の変更処理)を示すフロー図である。 演算装置の処理例(動作速度の変更処理)を示すフロー図である。 装着情報のテーブル例を示す図である。 動作情報のテーブル例を示す図である。 吸着ずれ情報のテーブル例を示す図である。 装着ずれ情報のテーブル例を示す図である。 吸着ずればらつき情報のテーブル例を示す図である。 装着ずればらつき情報のテーブル例を示す図である。 閾値情報のテーブル例を示す図である。 演算装置の出力する画面例(吸着位置の変更処理)を示す図である。 演算装置の出力する画面例(装着位置の変更処理)を示す図である。 演算装置の出力する画面例(動作速度の変更処理)を示す図である。 部品実装装置での処理例を示すフロー図である。 部品実装装置での処理例を示すフロー図である。
以下、図1〜図20を用いて、本発明の一実施の形態(演算装置、部品実装装置など)について説明する。なお実施の形態を説明するための全図において、同一部には原則として同一符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。説明上の記号として、例えば、フィーダをF、ノズルをN、部品をP、基板をBとする。
本実施の形態の部品実装装置100(演算装置150)では、図1,図3,図4等のハードウェア・ソフトウェアの構成に基づき、図2,図11のような処理(部品実装装置100の動作制御の設定情報を算出・決定・変更する処理を含む)を行う。
図13〜図19のようなデータ情報を管理する。図20のような画面でユーザ(本部品実装装置100を含むシステムを利用・管理するオペレータ等)が情報を入出力可能である。
特徴の1つとして、図2の処理ステップS109(詳細は図11)では、ノズルNによる部品Pの吸着ずれ量(DX1,DY1)や吸着ずれ(角度)(DΘ1)、装着ずれ量(DX2,DY2)や装着ずれ(角度)(DΘ2)に関する、ばらつき情報を用いて、吸着時のノズルNの停止位置(Z1)や装着時のノズルNの停止位置(Z2)やZ方向の動作速度(VZ)等のパラメータの変更値(ばらつき低減のために好適な変更値)を算出し、この結果(吸着条件あるいは装着条件、併せた場合は実装条件とも呼ぶ)を部品実装装置100の動作制御の設定情報に反映する。
[部品実装装置]
図1において、本発明の一実施の形態である部品実装装置100及び演算装置150の構成を示している。演算装置150は部品実装装置100の内部に設けられている。なお、演算装置150が部品実装装置100の外部に接続される形態としてもよいし、演算装置150と全体制御装置140を1つに統合した形態などとしてもよい。
部品実装装置100は、供給装置110、装着装置120、部品検出装置130、全体制御装置140、演算装置150、入力装置170、出力装置171、通信IF装置172、等を備え、これらがバス173を介して相互に接続されている。入力装置170は、ユーザ操作による情報入力を受け付ける例えばマウスやキーボード等である。出力装置171は、ユーザに対して情報を出力するディスプレイやプリンタ等である。通信IF装置172は、バス173や外部ネットワーク等を介して他の装置やシステム(既存の生産管理システム等とも接続可能である)と接続し情報送受信を行うためのインタフェースである。バス173は各部(110〜172)を連結する。各装置(110〜150)のIF部(112〜163等)は、バス173を介して情報送受信を行うためのインタフェースである。また、保持した部品が傾いていた場合や、装着ができないような場合には、部品回収装置174にて電子部品を回収あるいは破棄する機能を有していてもよい。
供給装置110は、複数のフィーダFを備えるフィーダベース111、IF部112、等を備える。供給装置110は、詳しくは図3内に例示する物理構成を有する(なお一例であり各種適用可能である)。
装着装置120は、ヘッド121、ビーム122、ノズル(吸着ノズル)123、駆動制御部124、圧力制御部125、IF部126、等を備える。装着装置120は、詳しくは図3内に例示する物理構成を有する(なお一例であり各種適用可能である)。駆動制御部124は、全体制御装置140からの指示に応じて、後述する装着情報142(図10)で示す装着順序、及び基板B上の部品装着位置座標に対して部品を装着するように、ヘッド121、ビーム122、及びノズル123等の部位(図3〜図5等)を制御する。圧力制御部125は、全体制御装置140からの指示に応じて、ノズル123の内部の圧力を制御する。例えば、圧力制御部125は、全体制御部140から、ノズル123の内部の圧力を低下させてノズル123に部品Pを吸着させるように指示を受ける。また、圧力制御部125は、全体制御部140から、ノズル123の内部の圧力を上昇させてノズル123に部品Pを装着させるように指示を受ける。
位置ずれ情報取得装置130は、吸着ずれ取得部131、装着ずれ取得部132、IF部133、等を備える。吸着ずれ取得部131は、全体制御部140の指示を受けて、部品Pを吸着したノズル123(N)を下方から撮像し、この画像を用いて、パターンマッチング(画像処理)等の手段により、X,Y方向(図3)におけるノズルNによる部品Pの吸着ずれ量(DX1,DY1)や吸着ずれ(角度)(DΘ1)を測定・算出する(後述、図7,図8等)。吸着ずれ取得部131は、例えば図3のように、フィーダベース111と基板B(90)との間に配置され、上記値(DX1,DY1,DΘ1)の算出処理機能を含む。なお、位置ずれ取得部130は下方に限らず、ノズル上部に撮像手段を組み込める場合はヘッド121に搭載してもよい。また、位置ずれに用いる電子部品の位置が特定できればよいため、横方向から撮像してもよい。
なお本実施の形態では、上記DX1,DY1,DΘ1値の算出処理は、吸着ずれ取得部131で行い、その結果を演算装置150が取得する形であるが、演算装置150などの他の部位で当該算出処理を行ってもよい。演算装置150で行う場合は、吸着ずれ取得部131から各データ情報(例えば画像データ)を取得し、演算装置150で各値を算出する。また、上記値を得るための手段は、撮像やパターンマッチング等の手段に限らず各種適用可能である。
また、装着ずれ取得部132は、全体制御部140の指示を受けて、装着後の部品Pを上から撮像し、この画像を用いて、パターンマッチング(画像処理)等の手段により、X,Y方向(図3)における部品Pの装着ずれ量(DX2,DY2)や装着ずれ(角度)(DΘ2)を測定・算出する(後述、図9,図10等)。装着ずれ装着部132は、例えば図3のように、検査装置200にて撮影された画像を取得し、上記値(DX2,DY2,DΘ2)の算出する処理を行う。
なお本実施の形態では、上記DX2,DY2,DΘ2値の算出処理は、検査装置200にて撮影された画像を入力として装着ずれ取得部132で行い、その結果を演算装置150が取得する形であるが、検査装置200にて撮影された画像を演算装置150などの他の部位に送信し、当該部位で当該算出処理を行ってもよい。演算装置150で行う場合は、検査装置200から各データ情報(例えば画像データ)を取得し、演算装置150で各値を算出する。また、上記値を得るための手段は、撮像やパターンマッチング等の手段に限らず各種適用可能である。また、検査装置200と同等の画像取得手段を部品実装装置100に搭載しても良い。
全体制御装置140は、部品実装装置100の主制御部であり、全体制御部144、記憶部141、IF部145、等を備える。記憶部141の記憶領域には、装着情報D1(後述、図13)、動作情報D2(後述、図14)、等を記憶する。
全体制御部144は、供給装置110、装着装置120、部品検出装置130、演算装置150、入力部170、出力部171、及び通信IF部172等で行う処理を制御する。全体制御装置140は、装着情報D1及び動作情報D2に従って、供給装置110や装着装置120、部品検出装置130等の各部位(フィーダF、ノズルN等を含む)の動作を制御する。全体制御部144は、装着情報D1に格納された順序に従って、所定のフィーダFから所定のノズルNにて、動作情報D2に格納されている設定に従って、部品Pを吸着させる。吸着の際、全体制御部144は、位置ずれ情報取得装置130に、吸着ずれ量DX1,DY1、吸着ずれ(角度)DΘ1、等を算出させる。そして全体制御部144は、装着情報D1に格納されている基板Bの位置に、部品Pを装着させる。
さらに全体制御部144は、順序に示された最後までの部品装着位置に部品Pを装着した後に、図3に示す搬送装置300に基板Bを検査装置200に搬送するように指示を出し、検査装置200に基板Bの画像を取得させ、位置ずれ情報取得装置130に装着ずれ量DX2,DY2、装着ずれ(角度)DΘ2、等を算出させる。
装着情報D1及び動作情報D2(その格納情報)は、部品実装装置100の各部位の動作(実装動作)を制御するための情報(設定情報)の1つである。
[演算装置]
演算装置150は、演算制御部160、記憶部151、入力部161、出力部162、IF部163、等を備える。記憶部151の記憶領域には、吸着ずれ情報D3(後述、図12)、吸着ずればらつき情報D4(後述、図13)、装着ずれ情報D5(後述、図14)、装着ずればらつき情報D6(後述、図15)、閾値情報D7(後述、図16)等を記憶する。
演算装置150は、一般的なコンピュータやICなどで実現できる。例えば、演算制御部160は、CPU、メモリ(ROM,RAM等)などのハードウェア、及びそれによるソフトウェアプログラム処理(本実施の形態のプログラムによる処理)などで実現できる。例えば演算制御部160により記憶部151や外部などに格納されているプログラムをロードして実行することにより各処理機能(図2内,図11内に示す処理を含む)を実現する。記憶部151は、各種メモリ、HDD等の外部記憶装置、CDやDVD等の記憶媒体に対して情報を読み書きする装置、あるいは外部ネットワークのデータを読み書きする装置などで実現できる。入力部161は、ユーザ操作による情報入力を受け付けるキーボードやマウスなどの入力装置、出力部162は、ユーザに対して情報を出力するディスプレイなどの出力装置、IF部163は、バス173に接続しバス173を介して情報の送受信を行うためのインタフェース、でそれぞれ実現できる。
演算制御部160は、吸着ずれ情報D3に格納されている情報(実績データ)を用いて、吸着ずれ量DX1,DY1及び吸着ずれ(角度)DΘ1に関するばらつき等を算出し、判定に基づき、動作情報D2に格納されている情報(設定情報)を変更する処理を行う(後述、図2,図11等)。
また、演算制御部160は、装着ずれ情報D5に格納されている情報(実績データ)を用いて、装着ずれ量DX2,DY2及び装着ずれ(角度)DΘ2に関するばらつき等を算出し、判定に基づき、動作情報D2に格納されている情報(設定情報)を変更する処理を行う(後述、図2,図11等)。
演算装置150内に格納される吸着ずれ情報D3、吸着ずればらつき情報D4、装着ずれ情報D5、装着ずればらつき情報D6、閾値情報D7は、演算装置150の処理で必要な情報として管理している。なお必要に応じて、これらの情報は、全体制御装置140内の各情報(装着情報D1、動作情報D2)と統合したり分離したりしてもよい。
[供給装置・装着装置]
図3は、図1の供給装置110及び装着装置120に係わる、フィーダベース111、ヘッド121、ビーム122、及びガイド122a等の概略構成(上面)を示す。フィーダベース111には、複数のフィーダ111a(F)が装着されている。部品供給装置(フィーダベース111)は、一例としてテープ型であり、例えばフィーダF毎に、供給対象の複数の部品Pが搭載される。例えば、フィーダFに格納されている1つの部品Pがヘッド121のノズルN(図4)により吸着されると、全体制御装置140の指示に応じて、当該フィーダFは、残りの部品Pのうちの次の1つを、当該ノズルNにより吸着可能な位置まで自動的に移動(図3ではY方向)させる。
ヘッド121及びビーム122等の動作は、全体制御装置140の指示に応じて制御される。ヘッド121は、ビーム122に沿って、一つの座標軸方向(図3ではX方向)に移動させることができるように構成されている。ビーム122は、ガイド122aに沿って、ヘッド121が移動する座標軸方向と交差する他の座標軸方向(図3ではY方向)に移動することができるように構成されている。更に、ヘッド121(ヘッド121に搭載されるノズルN)を、X,Y方向に対するノズルが伸縮する方向であるZ方向に移動させることができるように構成されている。
ヘッド121及びビーム122をX,Y方向に移動させ、ヘッド121に備えるノズルNをZ方向で移動させ、所定のノズルNにより所定のフィーダFから所定の部品P(50)を吸着することができ、更に各部をX,Y,Z方向で同様に移動させて、基板B(90)上の所定の位置に部品P(50)を装着することができる構成である。
[ヘッド・ノズル]
図4は、ヘッド121の構成例として下面を示す。本ヘッド121は、下面部に、複数の保持手段であるノズル123(N)を備えている。本例では、円状に複数(例えば12)のノズルNが配置されており、回転制御などによって、所望のノズルNの利用が可能な機構である。各ノズルNの位置は番号で識別される。
その他、ヘッド121やノズルNに関しては各種形態が適用可能である。例えば1つのユニットに複数のヘッド121やノズルNを搭載する構成が挙げられる。本実施例では、ノズルNは吸着ノズルとして説明するが、他の樹脂製のノズルや粘着式のノズル、あるいは機械式のチャック等保持手段を用いてもよい。
[吸着ずれ取得装置、吸着ずれ量DX1,DY1、吸着ずれ(角度)DΘ1]
吸着ずれ取得装置131は、撮像による画像から、部品とノズルのX,Y方向における相対位置である吸着ずれ量DX1,DY1と、部品とノズルの相対的な角度である吸着ずれ(角度)DΘ1とを算出する。
図7および図8は、吸着ずれ取得装置131の撮像による画像例である。図7は吸着ずれ量DX1,DY1の算出に用いる画像であり、図8は吸着ずれ(角度)DΘ1の算出に用いる画像である。本実施例では、図7と図8は同一の画像であるが、異なる画像を用いても良い。
図7および図8において、810はノズルNを、820は部品Pを示しており、CNはノズルNの中心点、CPは部品Pの中心点を示している。810は、下面からの撮像であるため画像800上で部品P(820)に隠れて映らないが、ノズルNを予め定められた位置(例えば撮像部位の中心)に移動させることによってノズル中心CNを把握することができる。
図7において、811、812はCNを通る、X,Y方向の基準線を示す。また、821、822はCPを通る、X,Y方向の基準線を示す。811と821、812と822は平行な直線となる。吸着ずれ量DX1は821を基準としたときの811の相対位置となり、吸着ずれ量DY1は822を基準としたときの812の相対位置となる。
図8において、812はCNを通る、X方向の基準線を示す。また、823はCPを通り部品P(820)のある定められた辺(本実施例では長辺)に平行な直線である。吸着ずれ(角度)DΘ1は823を基準としたときの823と812の間の角度である。
DX1,DY1,DΘ1値が大きいほど、ずれが大きく、ノズルNによる部品Pの吸着がしにくくなり、部品Pを斜めに吸着する、部品Pの端を吸着する、部品Pを吸着できない、吸着後に落下してしまう等の異常が発生しやすい。
[装着ずれ取得装置、装着ずれ量DX2,DY2、装着ずれ(角度)DΘ2]
装着ずれ取得装置132は、撮像による画像から、部品のX,Y方向に目標装着位置と実際の装着位置との差分である装着ずれ量DX2,DY2と、部品の目標装着角度と実際の角度との差分である装着ずれ(角度)DΘ2とを算出する。
図9および図10は、装着ずれ取得装置131の撮像による画像例である。図9は装着ずれ量DX2,DY2の算出に用いる画像であり、図10は装着ずれ(角度)DΘ2の算出に用いる画像である。本実施例では、図9と図10は電子部品が装着された位置を撮像した同一の画像の一例であるが、異なる画像を用いても良い。また、角度等が違う画像を用いてもよい。図9および図10において、830は基板Bを、840は装着された部品Pを示している。またTCPは装着時の目標とする部品中心の座標を、CPは装着された部品Pの中心点を示している。TCPは、例えば装着情報D1にて部品装着位置座標として示される。
図9において、831、832はTCPを通る、X,Y方向の基準線を示す。また、841、842はCPを通る、X,Y方向の基準線を示す。831と841、832と842は平行な直線となる。装着ずれ量DX2は841を基準としたときの831の相対位置となり、装着ずれ量DY2は842を基準としたときの832の相対位置となる。
図10において、833はTCPを通る部品の装着角度の基準線を示す。833は装着情報D1にて部品装着位置座標として示される。図10には、部品の装着角度が0°の場合の基準線を示している。また、843はCPを通り部品P(820)のある定められた辺(本実施例では長辺)に平行な直線である。装着ずれ(角度)DΘ3は843を基準としたときの843と833の間の角度である。
DX2,DY2,DΘ2の値が大きいと、装着位置の異常となり、当該部品を装着された基板Bは不良品となる。また、しきい値や範囲を定める等の処理を用いて判定してもよい。
[検査装置、搬送装置]
検査装置200は、図3に示すように部品実装装置100と搬送装置300にて接続される。部品実装装置100が装着情報D1に記された全ての部品装着を実行した後に、基板Bは搬送装置300にて検査装置200に搬送され、図9、図10のような基板Bと部品Pの画像が撮像される。撮像された画像は、装着ずれ取得部132に送信され、装着ずれ量DX2,DY2、装着ずれ(角度)DΘ2が算出される。
[処理概要(図2)]
図2は、本実施の形態の特徴を含む、部品実装装置100での全体的な処理概要のフローを示す(S101等は処理ステップを示す)。特にS109の詳細の構成例については図11を用いて後述し、S112の詳細の構成例については図12を用いて後述する。
(S101)
全体制御装置140の全体制御部144は、装着情報D1(図13)、動作情報D2(図14)を用いて、供給装置110や装着装置120を含む各部に対して実装動作を指示する。
(S102)
S101の指示に基づき、供給装置110は、フィーダF(111a)等を動作させ、装着装置120は、ヘッド121、ビーム122、ノズルN(123)等を動作させる。特に、対象のヘッド121・ノズルNをX,Y方向(図3)で移動させ、対象のフィーダF−部品P(吸着対象)の位置まで移動させる。
(S103)
続いて、ノズル123(N)をZ方向(図5)で移動(下降)させ、対象の部品Pの中心(上)の所定の位置(ノズルNの停止位置Z1)まで移動して停止させる。なお本実施の形態ではS102(X,Y方向移動)とS103(Z方向移動)を分けた形であるが、S102とS103を1つにまとめて同時的に制御(X,Y,Z方向移動)する形も可能である。そして、ノズルNを停止位置Z1で所定の時間停止させ、圧力制御部125によるノズルN内部の減圧により、部品Pを吸着させる。
(S104)
停止位置Lから、ヘッド121・ノズルN等をX,Y,Z方向で移動させ、装着情報D1に示す部品装着位置座標(X,Y,Θ)まで移動させる。
また本実施の形態では、S105の際、吸着ずれ取得部131を用いて、部品Pを吸着した状態のノズルNを下面から撮像することにより、吸着ずれ量DX1,DY1、吸着ずれ(角度)DΘ1を算出する。
(S105)
更に、ノズルN等をZ方向で、所定の動作速度(VZ)で、所定の位置(ノズルNの停止位置Z2)まで移動させ、吸着の解除により、部品Pを装着する(図6)。なお本実施の形態ではS102(X,Y方向移動)とS103(Z方向移動)を分けた形であるが、S102とS103を1つにまとめて同時的に制御(X,Y,Z方向移動)する形も可能である。
(S106)
上記S101〜S105で動作させたフィーダFについて、実績データとなる吸着ずれ情報D3を作成し、演算装置150の記憶部151に格納する。吸着ずれ情報D3には、吸着ずれ量DX1,DY1、吸着ずれ(角度)DΘ1の情報を含む。なおこの格納は他のタイミングでもよい。例えば、演算装置150は必要に応じて吸着ずれ情報D3等を外部(全体制御装置140等)から取得してもよい。複数の各回の部品実装動作ごとに同様に実績データが格納される。
(S107)
上記部品Pの装着後、全体制御装置140の全体制御部144は、上記S1〜S6で動作させたフィーダFについて、演算装置150へ、動作情報D2の変更(その要否判断を含む)を指示する。演算装置150の演算制御部160は、指示に基づき、吸着ずれ情報D3を用いて、動作情報D2の算出・変更のための処理を行う(詳細は図9)。変更する対象は、ノズルNの吸着停止位置Z1を含む。
(S108)
装着情報D1の順序10aに記憶された最後の部品装着位置座標まで部品装着動作を行った場合には、全体制御装置140はS109の処理を行う。そうではない場合には、全体制御装置140はS101の処理に戻る。
(S109)
全体制御装置140は、搬送装置300に基板Bを検査装置200まで搬送させ、検査装置200に搬送された基板Bの画像を撮像させる。更に、全体制御装置140は撮像された画像を入力として、装着ずれ取得部132に装着ずれ量DX2,DY2、装着ずれ(角度)DΘ2を算出させ、装着ずれ情報D5に格納させる。なおこの格納は他のタイミングでもよい。例えば、演算装置150は必要に応じて装着ずれ情報D5等を外部(全体制御装置140等)から取得してもよい。基板の装着が完了するごとに、同様に実績データが格納される。S109の処理は、検査装置200に限らず、検査ヘッドを用いて装着された電子部品を撮像してもよい。
(S110)
全体制御装置140は、装着情報D1にフィーダ番号(10c)に格納された番号のフィーダFについて、それぞれ、演算装置150へ、動作情報D2の変更(その要否判断を含む)を指示する。演算装置150の演算制御部160は、指示に基づき、装着ずれ情報D5を用いて、動作情報D2の算出・変更のための処理を行う(詳細は図12)。変更する対象は、ノズルNの装着停止位置Z2および動作速度VZを含む。
(S111)
装着情報D1の生産基板枚数に示された枚数分だけ基板Bを生産した場合(生産基板枚数に示された枚数分だけ、順序の最初から最後までの実装動作を繰り返し行った場合)には、全体制御装置140は処理を終了する。そうではない場合には、搬送装置300に新たな基板Bを部品実装装置100内に搬送させ、S101に戻って装着情報D1の順序1から実装動作を実行する。
[装着情報]
図13は、装着情報D1の一実施形態である装着情報テーブル例を示す。本テーブルは、順序10a、部品装着位置座標10b、フィーダ番号10c、吸着ノズル番号10d、等の各フィールドを有する。D1(その格納情報)は、フィーダFからノズルNにより部品Pを吸着する際、及び当該部品Pを基板B上に装着する際における、順序、位置、フィーダF、ノズルN、等の情報を含む。なお図示していないが部品ID等の他のフィールドを有してもよい。
順序10aは、基板Bに対する部品Pの装着順序を示す情報と、ノズルNによる当該部品Pの吸着順序を示す情報とが格納される。本実施の形態では、装着順序と吸着順序が同じになるように構成しているが、異なるようにしてもよい。部品装着位置座標10bは、当該部品Pを基板B(図3の90)に装着する位置を示す情報として、基板B上のX,Y方向の座標の情報が格納される。また、装着する角度を示す情報として、基板B上のX方向に対する部品の規定された辺(例えば長辺)の角度を示す情報が格納される。
フィーダ番号10cは、当該部品Pを保持するフィーダF(位置)を示す情報が格納される。本実施の形態では、フィーダベース111(図3)における当該フィーダF(111a)の搭載位置を一意に識別するフィーダ番号が格納される。吸着ノズル番号10dは、当該部品Pを吸着するノズルNを示す情報が格納される。本実施の形態では、当該ノズルNに関係付けられるヘッド121(図4)における当該ノズルNの位置を特定する情報として、当該ノズルNの搭載位置を一意に識別するように割り振られた吸着ノズル番号(例えば1〜12)を用いる。
[動作情報]
図14は、動作情報D2の一実施形態である動作情報テーブル例を示す。本テーブルは、フィーダ番号11a、吸着ノズル番号11b、吸着停止位置(Z1)11c、装着停止位置(Z2)、動作速度(VZ)11e(係数)、等の各フィールドを有する。D2(その格納情報)は、フィーダFからノズルNにより部品Pを吸着する際のノズルNのZ方向の停止位置(Z1)、フィーダFからノズルNにより吸着した部品Pを装着する際のノズルNのZ方向の停止位置(Z2)、フィーダFからノズルNにより吸着した部品Pを装着する際のノズルNのZ方向の動作速度VZ、等の情報を含む。
フィーダ番号11aは、該当フィーダF(対象の部品Pを搭載する)の位置を特定する情報が格納される(10cと同様)。吸着ノズル番号11bは、該当ノズルN(対象の部品Pを吸着する)の位置を特定する情報が格納される(10dと同様)。
吸着停止位置(Z1)11cは、11aで示す位置(フィーダF)に搭載された部品Pを、11bで示すノズルNにより吸着する場合における、ノズルNのZ方向の停止位置を特定する情報が格納される。吸着停止位置(Z1)は、図5のZ方向の位置を示す。例えば、図5に示すように、基準線500(z=0)からの距離が、11cのZ1の格納値と同一になる位置(501)に、ノズルNを下降させて停止させる。
装着停止位置(Z2)11dは、11aで示す位置(フィーダF)に搭載された部品Pを、11bで示すノズルNにより装着する場合における、ノズルNのZ方向の停止位置を特定する情報が格納される。装着停止位置(Z2)は、図6のZ方向の位置を示す。例えば、図6に示すように、基準線500(z=0)からの距離が、11dのZ2の格納値と同一になる位置(502)に、ノズルNを下降させて停止させる。
動作速度(VZ)11e(係数)には、該当位置(フィーダ)の部品Pを該当ノズルNで装着する際における、ノズルNの動作速度Vを特定する情報が格納される。本実施の形態では、動作速度Vとして、少なくとも動作速度VZを含む。動作速度VZは、部品Pを吸着した状態のノズルNをZ方向で下降させる際の動作速度とする。また、11eは係数で表している。11eで示す値を、設定上の所定の標準動作速度値に乗算した値を、実際に使用する動作速度とする。11e(VZ)の制御につき、他の移動時に適用してもよい。例えばX,Y方向の移動、Z方向で上昇させる際の動作速度、及びヘッド121及びビーム122等の移動に適用してもよい。
[吸着ずれ情報]
図15は、吸着ずれ情報D3の一実施形態である吸着ずれ情報テーブル例を示す。吸着ずれ情報D3は、位置ずれ情報取得装置130を用いて検出・算出した情報を含む、部品吸着ずれの情報(実績データ)が格納される。本テーブルは、フィーダ番号(12a)、吸着停止位置Z1(12b)、吸着ずれ量DX1(12c)、吸着ずれ量DY1(12d)、吸着ずれ(角度)DΘ1(12e)、ばらつき算出(14f)等の各フィールドを有する。12a、12bは、図14の11a、11cに対応したフィールドである。また、12c〜12eは、前記S106で説明したように、前述(図7,図8)の吸着ずれ取得部131で検出・算出した吸着ずれ量DX1,DY1,吸着ずれ(角度)DΘ1を特定する情報が格納される。12fには、後述する図11の処理にてばらつきが算出された場合には○が格納される。
[吸着ずればらつき情報]
図16は、吸着ずればらつき情報D4の一実施形態である吸着ずればらつき情報テーブル例を示す。本テーブルは、フィーダ番号(13a)、吸着停止位置Z1(13b)、吸着ずればらつき重み付き和DevAll1(13b)、等の各フィールドを有する。吸着ずればらつき情報D4には、図11の処理で算出される情報が格納される。
吸着ずればらつき情報D4に格納される情報は、ある同一のフィーダFについて測定されたデータから算出された値である。
フィーダ番号(13a)及び吸着停止位置Z1(13b)は、図15の12a、12bに対応したフィールドである。また、吸着ずればらつき重み付き和DevAll1(13c)には図15の12cに格納された値を用いて算出した標準偏差と、図15の12dに格納された値を用いて算出した標準偏差と、図15の12eに格納された値を用いて算出した標準偏差と、の重み付き和が格納される。
吸着ずればらつき重み付き和DevAll1(13c)に格納される値は、同一の吸着停止位置Z1について標準偏差を算出した値である。
[装着ずれ情報]
図17は、装着ずれ情報D5の一実施形態である装着ずれ情報テーブル例を示す。装着ずれ情報D5は、位置ずれ情報取得装置130を用いて検出・算出した情報を含む、部品装着ずれの情報(実績データ)が格納される。本テーブルは、フィーダ番号(14a)、部品装着位置座標(14b)、装着停止位置Z1(14c)、動作速度VZ(14d)、装着ずれ量DX2(14e)、装着ずれ量DY2(14f)、装着ずれ(角度)DΘ2(14g)、ばらつき算出(14h)等の各フィールドを有する。14a、14bは、図13の10c、10bに対応したフィールドである。また、14c、14dは、図14の11d、11eに対応したフィールドである。14e〜14gは、前記S109で説明したように、前述(図9,図10)の装着ずれ取得部132で検出・算出した装着ずれ量DX2,DY2,装着ずれ(角度)DΘ2を特定する情報が格納される。14hには、後述する図12の処理にてばらつきが算出された場合には○が格納される。
[装着ずればらつき情報]
図18は、装着ずればらつき情報D6の一実施形態である装着ずればらつき情報テーブル例を示す。本テーブルは、フィーダ番号(15a)、装着停止位置Z2(15b)、動作速度VZ(15c)、装着ずればらつき重み付き和DevAll2(15d)、等の各フィールドを有する。装着ずればらつき情報D6には、図12の処理で算出される情報が格納される。
吸着ずればらつき情報D4に格納される情報は、ある同一のフィーダFについて測定されたデータから算出された値である。
フィーダ番号(15a)、装着停止位置Z1(15b)、動作速度VZ(15c)は、図17の14a、14c、14dに対応したフィールドである。また、装着ずればらつき重み付き和DevAll2(15d)には、図17の14eに格納された値を用いて算出した標準偏差と、図17の14fに格納された値を用いて算出した標準偏差と、図17の14gに格納された値を用いて算出した標準偏差と、の重み付き和が格納される。
装着ずればらつき重み付き和DevAll2(15d)に格納される値は、同一の装着停止位置Z1及び同一の動作速度VZについて標準偏差を算出した値である。
[閾値情報]
図19は、閾値情報D7の一実施形態である閾値情報テーブル例を示す。本テーブルは、閾値1(16a)、閾値2(16b)、閾値3(16c)、閾値4(16d)、閾値5(16e)、等の各フィールドを有する。閾値情報D7は、吸着時のノズルNの動作の変更に関する、図11の判定(s202,s204)及び、装着時のノズルNの動作の変更に関する図12の判定(s302、s304、s305)で用いる設定情報であり、各フィールド値はユーザにより設定変更可能となっている。
閾値1(16a)は、吸着時のノズルNの動作の変更処理(変更可否の判定を含む)に必要なデータの有無を判定(s202)するための情報が格納される。
閾値2(16b)は、ノズルNの吸着停止位置Z1の変更処理を実施するか否かを判定(s204)するための情報が格納される。
閾値3(16c)は、装着時のノズルNの動作の変更処理(変更可否の判定を含む)に必要なデータの有無を判定(s302)するための情報が格納される。
閾値4(16d)は、ノズルNの装着停止位置Z2および動作速度VZ等の変更処理を実施するか否かを判定(s304)するための情報が格納される。
閾値5(16e)は、ノズルNの動作速度VZの変更処理を実施するか否かを判定(s305)するための情報が格納される。
[処理詳細1(図11)]
図11は、図2のS107に係わる、演算装置150(主に演算制御部160)による動作情報D2(主に吸着停止位置Z1)の算出・変更のための処理例を示す(s201等は処理ステップを表す)。演算制御部160は、例えば全体制御装置140(全体制御部144)から、IF部163等を介して、動作情報D2(テーブル)の変更の対象となるフィーダF(フィーダ位置)を指定する情報(フィーダ番号F1)と、動作情報D2の変更処理の指示を受けると、図11の処理を実行する。
(s201) 演算制御部160は、指示されたフィーダ番号F1について、動作情報D2の変更に利用可能なデータの個数を数える。
演算制御部160は、吸着ずれ情報D3のテーブルで、フィーダ番号(12a)がF1に等しく、かつ、ばらつき算出(12f)に○の格納されていない行の個数(N1)を計算する。
(s202) 演算制御部160は、データの個数N1が閾値1(16a)以上であればデータが十分な個数存在するとしてs203の処理に進み、データの個数N1が閾値1(16a)よりも小さければ、データが必要な個数存在しないとして、処理を終了する。
(s203) 演算制御部160は、吸着ずれ量DX1,DY1、吸着ずれ(角度)DΘ1のばらつき(標準偏差)を算出する。
演算制御部160は、吸着ずれ情報D3のテーブルで、フィーダ番号(12a)がF1に等しく、かつ、ばらつき算出(12f)に○の格納されていない行について、吸着ずれ量DX1(12c)、吸着ずれ量DY1(12d)、吸着ずれ(角度)DΘ1(12e)に格納された値を読み込み、各々について、式(1)、式(2)、式(3)で示される標準偏差の値(DevX1,DevY1,Devθ1)を算出する。また、データを読み込んだ行については、ばらつき算出(12f)に○を格納する。
Figure 0006076047
Figure 0006076047
Figure 0006076047
式(1)において、Xi、Xjは吸着ずれ量DX1(12c)から読み込んだ各行のデータを、nは読み込んだデータの個数を示す。式(2)において、Yi、Yjは吸着ずれ量DY1(12d)から読み込んだ各行のデータを、nは読み込んだデータの個数を示す。式(3)において、θi、θjは吸着ずれ(角度)DΘ1(12e)から読み込んだ各行のデータを、nは読み込んだデータの個数を示す。
(s204) 演算制御部160は、s203で算出した標準偏差の値(DevX1,DevY1,Devθ1)を、次の式(4)に代入し、吸着ばらつき(標準偏差)の重み付き和DevAll1を算出する。
Figure 0006076047
式(4)において、αx1、αy1、αΘ1は、事前に定められた係数であり、例えば、αx1=0.5、αy1=0.5、αΘ1=0.01、といった値が利用される。
さらに、演算制御部160は、吸着ばらつきの重み付き和(DevAll1)と閾値2(16b)を比較し、吸着ばらつきの重み付き和(DevAll1)が閾値2以上であれば、次にs205の処理を行い、閾値2よりも小さければ処理を終了する。
(s205) 演算制御部160は過去に計測された重み付きばらつきの値を比較し、吸着停止位置(Z1)の変更する方向(図5のZ方向のプラス方向またはマイナス方向)を決定する。
まず演算装置160は、吸着ずればらつき情報D4の最終行に1行追加し、フィーダ番号F1と、動作情報D2の当該フィーダF1における吸着停止位置Z1(11c)に格納された値と、前述の吸着ばらつきの重み付き和(DevAll1)を、それぞれ、吸着ずればらつき情報D4のフィーダ番号(13a)、吸着停止位置Z1(13b)、吸着ずればらつき重み付き和DevAll1(13c)の最終行に格納する。
次に演算装置160は、吸着ずればらつき情報D4の吸着停止位置Z1(13b)において最終行に格納された値Z1a(つまり、現在の吸着停止位置Z1の値)と、吸着停止位置Z1(13b)の最終行の1つ前の行に格納された値Z1b(つまり、現在の吸着停止位置Z1に変更する前の吸着停止位置Z1の値)について、重み付きばらつきの値を比較し、吸着停止位置(Z1)の変更する方向(図5のZ方向のプラス方向またはマイナス方向)を決定する。なお、吸着ずればらつき情報D4に1行しかデータが格納されていない場合は、プラス方向に変更する。
演算装置160は、吸着ずればらつき情報D4の各行のうち、フィーダ番号13aがF1と等しい行の値を読み込み、式(5)、式(6)を用いて、Z1aとZ1bにおける重み付きばらつきの値DevC1aとDevC1bを計算する。
Figure 0006076047
Figure 0006076047
式(5)、式(6)において、Z1iは吸着停止位置Z1(13b)について読み込んだ各行の値である。DevAll1iは、吸着ずればらつき重み付き和DevAll1(13c)について読み込んだ各行の値である。βは、事前に定められた係数であり、例えばβ=0.1といった値が利用される。
式(5)、式(6)では、Z1aとZ1bにおける重み付きばらつきの値DevC1aとDevC1bは、Z1aやZ1bで部品吸着を行ったときの重み付きばらつきの値と、Z1aやZ1bに近い吸着停止位置Z1にて部品吸着を行ったときの重み付きばらつきの値との平均値として表される。なお、平均値を重み付き平均としても良い。
DevC1aがDevC1b以下である場合は、吸着停止位置Z1bから吸着停止位置Z1aに変更することで重み付きばらつきを減少させることができたことになる。この場合は、Z1bからZ1aへ動かしたときと同じ方向へ次の処理(s206)で吸着停止位置Z1を変更する。つまり、Z1a−Z1bがプラスの場合は、プラス方向へ、Z1a−Z1bがマイナスの場合は、マイナス方向へ、吸着停止位置Z1を変更する。
DevC1aがDevC1bよりも大きい場合は、吸着停止位置Z1bから吸着停止位置Z1aに変更することで重み付きばらつきを増加してしまったことになる。この場合は、Z1bからZ1aへ動かしたときと反対方向へ次の処理(s206)で吸着停止位置Z1を変更する。つまり、Z1a−Z1bがプラスの場合は、マイナス方向へ、Z1a−Z1bがマイナスの場合は、プラス方向へ、吸着停止位置Z1を変更する。
(s206) 演算装置160は、1つ前の処理(s205)で吸着停止位置Z1をプラス方向に変更すると判定された場合には、動作情報D2についてフィーダ番号(11a)に格納された値がフィーダ番号F1と等しい値である行を全て特定し、当該行について吸着停止位置Z1(11c)の値を+δ1して更新する。δ1は事前に定められた値であり、例えば0.1などが利用される。また、1つ前の処理(s205)で吸着停止位置Z1をマイナス方向に変更すると判定された場合には、動作情報D2についてフィーダ番号(11a)に格納された値がフィーダ番号F1と等しい値である行を全て特定し、当該行について吸着停止位置Z1(11c)の値を−δ1して更新する。
(s207) 演算制御部160は、s206までの処理結果に基づき、吸着ずればらつき重み付き和の履歴と、吸着停止位置Z1の変更履歴を表示し、ユーザが変更状況を確認可能とする(図20)。
図20は、s207で表示する画面例を示す。本画面では、修正対象となるフィーダFの番号(g11)、吸着ずれ重み付き和と変更回数を軸とするグラフ(g12)、吸着停止位置Z1の変更を判定する際の閾値(g13)、吸着ずればらつき重み付き和の履歴をグラフ上にプロットした点(g140〜g142)、吸着停止位置Z1と変更回数を軸とするグラフ(g15)、吸着ずればらつき重み付き和の履歴をグラフ上にプロットした点(g160〜g162)等を表示する。
演算装置160は、g11にフィーダ番号F1を、g13に閾値2(16b)を、g140〜g142に、吸着ずればらつき情報D4の各行のうちフィーダ番号(13a)にフィーダ番号F1と等しい値が格納された行にある、吸着ずればらつき重み付き和DevAll1(13c)に格納された値を表示する。なお、g140〜g142は、吸着ずればらつき情報D4の上の行に格納されたものから順に表示される。さらに、演算装置160は、g160〜g162に、吸着ずればらつき情報D4の各行のうちフィーダ番号(13a)にフィーダ番号F1と等しい値が格納された行にある、吸着停止位置Z1(13b)に格納された値を表示する。なお、g160〜g162は、吸着ずればらつき情報D4の上の行に格納されたものから順に表示される。
[処理詳細2(図12)]
図11は、図2のS110に係わる、演算装置150(主に演算制御部160)による動作情報D2(主に装着停止位置Z1、動作速度VZ)の算出・変更のための処理例を示す(s301等は処理ステップを表す)。演算制御部160は、例えば全体制御装置140(全体制御部144)から、IF部163等を介して、動作情報D2(テーブル)の変更の対象となるフィーダF(フィーダ位置)を指定する情報(フィーダ番号F1)と、動作情報D2の変更処理の指示を受けると、図12の処理を実行する。
(s301) 演算制御部160は、指示されたフィーダ番号F1について、動作情報D2の変更に利用可能なデータの個数を数える。
演算制御部160は、装着ずれ情報D5のテーブルで、フィーダ番号(12a)がF1に等しく、かつ、ばらつき算出(12h)に○の格納されていない行の個数(N2)を計算する。
(s302) 演算制御部160は、データの個数N2が閾値3(16c)以上であればデータが十分な個数存在するとしてs303の処理に進み、データの個数N2が閾値3(16c)よりも小さければ、データが必要な個数存在しないとして、処理を終了する。
(s303) 演算制御部160は、装着ずれ量DX2,DY2、装着ずれ(角度)DΘ2のばらつき(標準偏差)を算出する。
演算制御部160は、装着ずれ情報D5のテーブルで、フィーダ番号(14a)がF1に等しく、かつ、ばらつき算出(14h)に○の格納されていない行について、装着ずれ量DX2(14e)、装着ずれ量DY2(14f)、装着ずれ(角度)DΘ2(14g)に格納された値を読み込み、各々について、式(7)、式(8)、式(9)で示される標準偏差の値(DevX2,DevY2,Devθ2)を算出する。また、データを読み込んだ行については、ばらつき算出(14h)に○を格納する。
Figure 0006076047
Figure 0006076047
Figure 0006076047
式(7)において、Xi、Xj装着ずれ量DX2(14e)から読み込んだ各行のデータを、nは読み込んだデータの個数を示す。式(8)において、Yi、Yjは装着ずれ量DY2(14f)から読み込んだ各行のデータを、nは読み込んだデータの個数を示す。式(9)において、θi、θjは装着ずれ(角度)DΘ2(14g)から読み込んだ各行のデータを、nは読み込んだデータの個数を示す。
(s304) 演算制御部160は、s303で算出した標準偏差の値(DevX2,DevY2,Devθ2)を、次の式(10)に代入し、装着ばらつき(標準偏差)の重み付き和DevAll2を算出する。
Figure 0006076047
式(10)において、αx2、αy2、αΘ2は、事前に定められた係数であり、例えば、αx2=0.5、αy2=0.5、αΘ2=0.01、といった値が利用される。
さらに、演算制御部160は、装着ばらつきの重み付き和(DevAll2)と閾値4(16d)を比較し、装着ずればらつきの重み付き和(DevAll2)が閾値4以上であれば、次にs305の処理を行い、閾値4よりも小さければ処理を終了する。
(s305) 演算制御部160は装着停止位置Z2の変更回数を計算し、次の処理を決定する。
演算制御部160は装着ずればらつき情報D6について、フィーダ番号(15a)がフィーダ番号F1に等しい行の個数N3を計算する。N3が閾値5(16e)以上であれば、装着停止位置Z2を変更しても装着ずれのばらつきは減少しないとして、動作速度(VZ)の変更処理(s309)に進む。N3が閾値5(16e)よりも小さければ、装着停止位置Z2の変更で装着ずれのばらつきを減少できる可能性が高いとして、装着停止位置Z2の変更処理(s306)に進む。
(s306) 演算制御部160は過去に計測された重み付きばらつきの値を比較し、装着停止位置(Z2)の変更する方向(図6のZ方向のプラス方向またはマイナス方向)を決定する。
まず演算装置160は、装着ずればらつき情報D6の最終行に1行追加し、フィーダ番号F1と、動作情報D2の当該フィーダF1における装着停止位置Z2(11d)に格納された値と、動作情報D2の当該フィーダF1における動作速度VZ(11e)に格納された値と、前述の装着ばらつきの重み付き和(DevAll2)を、それぞれ、装着ずればらつき情報D6のフィーダ番号(15a)、装着停止位置Z2(15b)、装着ずればらつき重み付き和DevAll2(15c)の最終行に格納する。
次に演算装置160は、装着ずればらつき情報D6の装着停止位置Z2(15b)において最終行に格納された値Z2a(つまり、現在の装着停止位置Z2の値)と、装着停止位置Z2(15b)の最終行の1つ前の行に格納された値Z2b(つまり、現在の装着停止位置Z2に変更する前の装着停止位置Z2の値)について、重み付きばらつきの値を比較し、装着停止位置(Z2)の変更する方向(図6のZ方向のプラス方向またはマイナス方向)を決定する。なお、装着ずればらつき情報D6に1行しかデータが格納されていない場合は、プラス方向に変更する。
演算装置160は、装着ずればらつき情報D6の各行のうち、フィーダ番号(15a)がF1と等しく、かつ動作速度VZ(15c)が現在の動作速度(動作情報D2において、フィーダ番号(11a)がF1と等しい行に格納された11eの値)と等しい行の値を読み込み、式(11)、式(12)を用いて、Z2aとZ2bにおける重み付きばらつきの値DevC2aとDevC2bを計算する。
Figure 0006076047
Figure 0006076047
式(11)、式(12)において、Z2iは装着停止位置Z2(15b)について読み込んだ各行の値である。DevAll2iは、装着ずればらつき重み付き和DevAll2(15d)について読み込んだ各行の値である。βは、事前に定められた係数であり、例えばβ=0.1といった値が利用される。
式(11)、式(12)では、Z2aとZ2bにおける重み付きばらつきの値DevC2aとDevC2bは、Z2aやZ2bで部品装着を行ったときの重み付きばらつきの値と、Z2aやZ2bに近い装着停止位置Z2にて部品装着を行ったときの重み付きばらつきの値との平均値として表される。なお、平均値を重み付き平均としても良い。
DevC2aがDevC2b以下である場合は、装着停止位置Z2bから装着停止位置Z2aに変更することで重み付きばらつきを減少させることができたことになる。この場合は、Z2bからZ2aへ動かしたときと同じ方向へ次の処理(s307)で装着停止位置Z2を変更する。つまり、Z2a−Z2bがプラスの場合は、プラス方向へ、Z2a−Z2bがマイナスの場合は、マイナス方向へ、装着停止位置Z2を変更する。
DevC2aがDevC2bよりも大きい場合は、装着停止位置Z2bから装着停止位置Z2aに変更することで重み付きばらつきを増加してしまったことになる。この場合は、Z2bからZ2aへ動かしたときと反対方向へ次の処理(s307)で装着停止位置Z2を変更する。つまり、Z2a−Z2bがプラスの場合は、マイナス方向へ、Z2a−Z2bがマイナスの場合は、プラス方向へ、装着停止位置Z2を変更する。
(s307) 演算装置160は、1つ前の処理(s306)で装着停止位置Z2をプラス方向に変更すると判定された場合には、動作情報D2についてフィーダ番号(11a)に格納された値がフィーダ番号F1と等しい値である行を全て特定し、当該行について装着停止位置Z2(11d)の値を+δ2して更新する。δ2は事前に定められた値であり、例えば0.1などが利用される。また、1つ前の処理(s306)で装着停止位置Z2をマイナス方向に変更すると判定された場合には、動作情報D2についてフィーダ番号(11a)に格納された値がフィーダ番号F1と等しい値である行を全て特定し、当該行について装着停止位置Z2(11d)の値を−δ2して更新する。
(s308) 演算制御部160は、s307での処理結果に基づき、装着ずればらつき重み付き和の履歴と、装着停止位置Z2の変更履歴を表示し、ユーザが変更状況を確認可能とする(図21)。
図21は、s308で表示する画面例を示す。本画面では、修正対象となるフィーダFの番号(g21)、装着ずれ重み付き和と変更回数を軸とするグラフ(g22)、装着停止位置Z2の変更を判定する際の閾値(g23)、装着ずればらつき重み付き和の履歴をグラフ上にプロットした点(g240〜g242)、装着停止位置Z2と変更回数を軸とするグラフ(g25)、装着ずればらつき重み付き和の履歴をグラフ上にプロットした点(g260〜g262)等を表示する。
演算装置160は、g21にフィーダ番号F1を、g23に閾値5(16d)を、g240〜g242に、装着ずればらつき情報D6の各行のうち、フィーダ番号(13a)にフィーダ番号F1と等しく、かつ、動作速度VZ(15c)が現在の動作速度(動作情報D2において、フィーダ番号(11a)がF1と等しい行に格納された11eの値)と等しい行において、装着ずればらつき重み付き和DevAll1(15d)に格納された値を表示する。なお、g240〜g242は、装着ずればらつき情報D6の上の行に格納されたものから順に表示される。さらに、演算装置160は、g260〜g262に、装着ずればらつき情報D6の各行のうちフィーダ番号(15a)にフィーダ番号F1と等しく、かつ、動作速度VZ(15c)が現在の動作速度(動作情報D2において、フィーダ番号(11a)がF1と等しい行に格納された11eの値)と等しい行において、装着停止位置Z2(15b)に格納された値を表示する。なお、g260〜g262は、装着ずればらつき情報D6の上の行に格納されたものから順に表示される。
(s309) 演算制御部160は、動作速度VZを変更する。
演算制御部160は、動作情報D2についてフィーダ番号(11a)に格納された値がフィーダ番号F1と等しい値である行を全て特定し、当該行について動作速度VZ(11e)の値をγ倍して更新する。γは事前に定められた値であり、例えば0.5などが利用される。なおここで変更前の値をVZ1、変更後の値をVZ2とする
(s310) 演算装置160は、s309での処理の結果に基づき動作速度VZを変更したことを示す情報を提示する(図22)。
演算装置160は、g31にフィーダ番号F1を、g32にVZ1を、g33にVZ2の値を表示する。
なお、本実施例ではフィーダ番号(12a)が等しいデータについてばらつきを算出しているが、部品装着位置座標(14b)が等しいデータについてばらつきを算出しても良い。その場合は、動作情報D2の変更指示の際には、フィーダ番号(12a)と部品装着位置座標(14b)を指定する情報が送信されることとなる。
以上説明したように、本実施の形態の部品実装装置100(演算装置150)においては、実績データ(吸着ずれ情報D3、装着ずれ情報D5)による部品Pのずれの情報を入力として、吸着時のノズルNの停止位置(Z1)、装着時のノズルNの停止位置(Z2)や、動作速度(VZ)等を好適に算出・変更することにより、部品吸着ずれや部品装着ずれを減少させ、異常や不良の発生を抑制することができる。
本実施例によれば、部品実装装置に係わり、部品吸着後のノズルと部品の相対位置である吸着位置ずれのばらつきや、部品装着後の基板と部品の相対位置である装着位置ずれのばらつきを用いて、吸着時や装着時のノズルのZ方向位置や動作速度等を好適に算出・決定することにより異常の発生を抑制することができる。
本実施例は、装着された電子部品の装着ずれの測定方法について図1と図23を用いて、検査装置200と同等の画像取得手段を部品実装装置100に搭載した例を説明する。
S101からS107までは実施例1と同様の処理を行う。
次に、S2309の説明をする。検査装置200と同様の処理を行う画像取得手段は、例えば、部品実装装置100に複数搭載されたヘッド121のうち、基板上の部品を撮影できる検査ヘッドを一つ以上装着し、検査ヘッドを用いて画像を取得する。あるいは、ヘッド121は実装する際に基板のマーカ(基準)を撮像する手段を有している場合は、これを用いて装着後の部品Pを撮像してもよい。
次に、S2310にて、撮像した画像をノズルNによる部品Pの吸着ずれ量(DX1,DY1)や吸着ずれ(角度)(DΘ1)、装着ずれ量(DX2,DY2)や装着ずれ(角度)(DΘ2)に関する、ばらつき情報を用いて、吸着時のノズルNの停止位置(Z1)や装着時のノズルNの停止位置(Z2)やZ方向の動作速度(VZ)等のパラメータの変更値(ばらつき低減のために好適な変更値)を算出し、この結果(保持手段の実装条件)を部品実装装置100の動作制御の設定情報に反映する。
次に、S2308は、実装すべき部品が最終順序の部品装着が完了しているかを判定する。完了していれば、S111へ進み、完了していなければS101へ戻り実装を継続する。
ここで、図23のフローチャートには、S2309がS107の後に記載されているが、撮像すべき部品Pの画像が取得できていれば、どの工程であっても適宜行ってもよい。
このように、検査を随時可能なタイミングで行うことで、実装中にS2310の修正を適宜行うことが可能となる。
本実施例では、吸着時と実装時の電子部品を撮像することによって、ノズルの停止位置Z1,Z2や停止するまでの速度等の実装条件を随時修正することが可能となり、吸着時や装着時のノズルのZ方向位置や動作速度等を好適に算出・決定することにより異常の発生を抑制することができる。また、実装中に随時修正を行うため、実装を停止することがなく、吸着や装着時のエラーを減らすことによって全体のスループットを向上させることができる。
本実施例は、実施例1あるいは実施例2と同様の構成であるため、装置構成の説明は省略する。
生産する基板はそれぞれ基板自体の厚みが均一でないことがある。また、基板を部品実装装置100で固定する際には、ピンを用いて固定するため、場所によってたわみが発生し、均一な高さではないことがある。したがって、停止位置Z2の高さを特定する上で基板の厚みやたわみは重要なパラメータの一つである。
そこで、本実施例では、電子部品を実装する基板を、剛性が高く厚みが均一な評価基板(図示しない)を使用する。なお、部品実装装置100に固定した際の基板の厚みが均一になるものであれば剛性は問わない。
評価基板を部品実装装置100に固定し、図2のS101からS110の処理を行う。
本実施例によって、基板の厚みが一定であるため、実装対象の部品に適したノズルNの停止位置Z1、Z2を、実装する基板ごとの誤差の影響を受けることなく特定することができる。
基板誤差を含まない停止位置Z1,Z2となるため、立ち上げ時に本実施例の工程を行うことによって、ばらつきが小さいことによる高精度の実装を実現する停止位置Z1,Z2や停止速度等の実装条件を、基板を量産する以前に特定することが可能となる。
本実施例では、使用実績がない新規の電子部品を扱う際の一例を図24のフローチャートを用いて説明する。装置構成は、実施例1あるいは実施例2と同様である。使用する基板は実施例3記載の評価基板を使用するのが望ましい。
使用実績がない新規の電子部品は適切な停止位置Z1,Z2は特定されていない。これに対して、実施例3同様にS101からS107,S2309,S2310と処理を行う。S2310で停止位置Z1,Z2が更新される。
ここで、S2411では、基板に装着した部品を停止位置Z2で吸着する。
次に、S2412では、吸着した部品をフィーダまで移動し、部品をフィーダに戻す。または、部品回収装置174まで移動し、回収あるいは破棄する。このフィーダまたは部品回収装置174までの移動中に、吸着ずれ取得部132を通過し、S106とS107を実行し、動作情報(吸着)の修正を演算装置に指示してもよい。
本実施例では、吸着時と実装時の電子部品を撮像することによって、ノズルの停止位置Z1,Z2や停止速度等の実装条件を随時修正することが可能となる。吸着時や装着時のノズルのZ方向位置や動作速度等を好適に算出・決定することにより異常の発生を抑制することができる。また、予め立ち上げ時に新規部品のZ方向位置や動作等を特定することによって、吸着や装着時のエラーを低減させることが可能となるため、量産時の調整が少なくなり全体のスループットを向上させることができる。また部品を回収することにより、実装条件の特定に必要となる部品の使用量を減少させることができる。
なお、本発明で、電子部品または部品と称するものは、一般的に電子部品と呼ぶもの以外も含み、電子部品実装装置によって基板等に装着可能なものを含む。例えば、抵抗やコンデンサ、コイル等、スイッチやスペーサ、アンテナ用の治具等の機械部品も含む。また、プリント基板は樹脂基板やガラス基板、半導体基板等も含み、電子部品実装装置で扱えるものであればよい。
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることは言うまでもない。
50…部品(P)、90…基板(B)、100…部品実装装置、110…供給装置、111…フィーダベース、111a…フィーダ(F)、112,125,133,145,163…IF部、120…装着装置、121…ヘッド、122…ビーム、122a…ガイド、123…ノズル(吸着ノズル)(N)、124…駆動制御部、125…圧力制御部、130…部品検出装置、131…吸着ずれ取得部、132…装着ずれ取得部、140…全体制御装置、141…記憶部、144…全体制御部、150…演算装置、151…記憶部、D1…装着情報、D2…動作情報、D3…吸着ずれ情報、D4…吸着ずればらつき情報、D5…装着ずれ情報、D6…装着ずればらつき情報、D7…閾値情報、160…演算制御部、161…入力部、162…出力部、170…入力装置、171…出力装置、172…通信IF装置、173…バス、200…検査装置、300…搬送装置

Claims (15)

  1. 電子部品を保持手段によって、XY平面に直交する高さ方向の条件を含む実装条件を用いて保持あるいは装着することによって実装する電子部品実装装置において、
    所定の実装条件を用いることによって、保持された電子部品のXY平面上の位置情報、及び装着された電子部品のXY平面上の位置情報を特定する手段と、
    特定された電子部品のXY平面上の位置情報を用いて、保持された電子部品のXY平面上の位置のばらつき、及び装着された電子部品のXY平面上の位置のばらつきを特定する手段と、
    前記所定の実装条件を複数回変えることによって、電子部品のXY平面上の位置について複数のばらつきを特定する手段と、
    電子部品のXY平面上の位置について特定された複数のばらつきを用いて、前記電子部品の実装条件を特定する手段と、を有し
    前記電子部品の実装条件を特定する手段は、
    電子部品のXY平面上の位置について特定された複数のばらつきを用いて、前記実装条件として、電子部品を保持するときの前記保持手段の高さ方向の停止位置、及び電子部品を装着するときの前記保持手段の高さ方向の停止位置を特定する、電子部品実装装置。
  2. 請求項1記載の電子部品実装装置において、
    保持された電子部品のXY平面上の位置情報は、保持手段と保持された電子部品との位置関係を示す情報であり、
    装着された前記電子部品のXY平面上の位置情報は、電子部品が基板に装着されるべき位置と装着された電子部品との位置関係を示す情報であることを特徴とする電子部品実装装置。
  3. 請求項1記載の電子部品実装装置において、
    前記実装条件を特定する手段は、前記電子部品の実装条件を特定されたばらつきが所定の値を超えた場合に、前記電子部品の実装条件を特定し変更することを特徴とする電子部品実装装置。
  4. 請求項1記載の電子部品実装装置において、
    前記電子部品の実装条件を特定する手段は、
    変更回数が閾値より小さい場合、装着された電子部品のXY平面上の位置の複数のばらつきを用いて、装着に用いる前記保持手段の高さ方向の停止位置を変更し、
    変更回数が閾値より大きい場合、装着に用いる前記保持手段の高さ方向の下降速度を変更する、ことを特徴とする電子部品実装装置。
  5. 請求項1記載の電子部品実装装置において、
    保持あるいは装着した電子部品を、部品供給部あるいは部品回収部へ格納することを特徴とする電子部品実装装置。
  6. 電子部品実装装置に、電子部品を保持手段によって、XY平面に直交する高さ方向の条件を含む実装条件を用いて保持あるいは装着することによって実装させる動作情報を特定する演算装置において、
    所定の実装条件を用いることによって、保持された電子部品のXY平面上の位置情報、及び装着された電子部品のXY平面上の位置情報を特定する手段と、
    特定された電子部品のXY平面上の位置情報を用いて、保持された電子部品のXY平面上の位置のばらつき、及び装着された電子部品のXY平面上の位置のばらつきを特定する手段と、
    前記所定の実装条件を複数回変えることによって、電子部品のXY平面上の位置について複数のばらつきを特定する手段と、
    電子部品のXY平面上の位置について特定された複数のばらつきを用いて、前記電子部品の実装条件を特定する手段と、を有し
    前記電子部品の実装条件を特定する手段は、
    電子部品のXY平面上の位置について特定された複数のばらつきを用いて、前記実装条件として、電子部品を保持するときの前記保持手段の高さ方向の停止位置、及び電子部品を装着するときの前記保持手段の高さ方向の停止位置を特定する、演算装置。
  7. 請求項6記載の演算装置において、
    保持された電子部品のXY平面上の位置情報は、保持手段と保持された電子部品との位置関係を示す情報であり、
    装着された電子部品のXY平面上の位置情報は、電子部品が基板に装着されるべき位置と装着された電子部品との位置関係を示す情報であることを特徴とする演算装置。
  8. 請求項6記載の演算装置において、
    前記実装条件を特定する手段は、前記電子部品の実装条件を特定されたばらつきが所定の値を超えた場合に、前記電子部品の実装条件を特定し変更することを特徴とする演算装置。
  9. 請求項6記載の演算装置において、
    前記電子部品の実装条件を特定する手段は、
    変更回数が閾値より小さい場合、装着された電子部品のXY平面上の位置の複数のばらつきを用いて、装着に用いる前記保持手段の高さ方向の停止位置を変更し、
    変更回数が閾値より大きい場合、装着に用いる前記保持手段の高さ方向の下降速度を変更する、ことを特徴とする演算装置。
  10. 請求項7記載の演算装置において、
    前記電子部品の位置のばらつきを、特定された位置関係の差を前記実装条件ごとに和を用いて算出することによって特定することを特徴とする演算装置。
  11. 請求項7記載の演算装置において、
    前記電子部品の位置のばらつきを、特定された位置関係の差を前記実装条件ごとに標準偏差の重み付き和を利用して算出することによって特定することを特徴とする演算装置。
  12. 電子部品を保持手段によって、XY平面に直交する高さ方向の条件を含む実装条件を用いて保持あるいは装着することによって実装する電子部品実装方法において、
    所定の実装条件を用いることによって、保持された電子部品のXY平面上の位置情報、及び装着された電子部品のXY平面上の位置情報を特定するステップと、
    複数の特定された電子部品のXY平面上の位置情報を用いて、前記実装条件ごとの電子部品のXY平面上の位置のばらつきを特定するステップと、
    特定された前記実装条件ごとの電子部品のXY平面上の位置のばらつきを用いて、電子部品の実装条件を特定するステップと、を有し
    前記電子部品の実装条件を特定するステップは、
    特定された前記実装条件ごとの電子部品のXY平面上の位置のばらつきを用いて、前記実装条件として、電子部品を保持するときの前記保持手段の高さ方向の停止位置、及び電子部品を装着するときの前記保持手段の高さ方向の停止位置を特定する、電子部品実装方法。
  13. 請求項12記載の電子部品実装方法において、
    保持された電子部品のXY平面上の位置情報は、保持手段と保持された電子部品との位置関係を示す情報であり、
    装着された電子部品のXY平面上の位置情報は、電子部品が基板に装着されるべき位置と装着された電子部品との位置関係を示す情報であることを特徴とする電子部品実装方法。
  14. 請求項12記載の電子部品実装方法において、
    前記電子部品の実装条件を特定するステップは、
    変更回数が閾値より小さい場合、装着された電子部品のXY平面上の位置の複数のばらつきを用いて、装着に用いる前記保持手段の高さ方向の停止位置を変更し、
    変更回数が閾値より大きい場合、装着に用いる前記保持手段の高さ方向の下降速度を変更する、ことを特徴とする電子部品実装方法。
  15. 請求項12記載の電子部品実装方法において、
    前記電子部品の実装条件を特定するステップは、特定された実装条件ごとの電子部品の位置のばらつきを比較し、前記ばらつきが大きな実装条件と前記電子部品の実装条件との差分が、前記ばらつきの大きな実装条件と前記所定の実装条件との差分よりも大きくなるように実装条件を特定することを特徴とする電子部品実装方法。
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