JP6073988B2 - 光学デバイス用のガリウム及び窒素含有三角形又は菱形形状の構成 - Google Patents

光学デバイス用のガリウム及び窒素含有三角形又は菱形形状の構成 Download PDF

Info

Publication number
JP6073988B2
JP6073988B2 JP2015139276A JP2015139276A JP6073988B2 JP 6073988 B2 JP6073988 B2 JP 6073988B2 JP 2015139276 A JP2015139276 A JP 2015139276A JP 2015139276 A JP2015139276 A JP 2015139276A JP 6073988 B2 JP6073988 B2 JP 6073988B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plane
light emitting
wafer
substrate
scribe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015139276A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016006881A (ja
Inventor
シャルマ ラジャット
シャルマ ラジャット
フェルカー アンドリュー
フェルカー アンドリュー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Soraa Inc
Original Assignee
Soraa Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Soraa Inc filed Critical Soraa Inc
Publication of JP2016006881A publication Critical patent/JP2016006881A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6073988B2 publication Critical patent/JP6073988B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0095Post-treatment of devices, e.g. annealing, recrystallisation or short-circuit elimination
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Dicing (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

関連出願への相互参照
本出願は、米国仮出願No.61/356,473号(出願日:2010年6月18日)に対する優先権を主張する。本明細書中、同出願を参考のため及び全ての目的のために援用する。
本発明は、主に照明技術に関する。より詳細には、本発明の実施形態は、肉厚のガリウム及び窒素含有基板部材(例えば、極性結晶配向面に構成されたGaN)の分離プロセスを用いた光学デバイス(例えば、発光ダイオード(LED))の製造技術を含む。いくつかの実施形態において、前記ガリウム及び窒素含有基板は、三角形形状又は菱形形状に構成される。本発明は、白色照明、多色照明、一般照明、装飾照明、自動車用ランプ及び航空機用ランプ、街灯、植物成長用照明、表示灯、フラットパネルディスプレイ及び他の光電子デバイス用の照明に適用することができる。
1800年代後半に 、トーマスエジソンが電球を発明した。「エジソン電球」と一般的に呼ばれる従来の電球は百年を超える期間にわたって用いられている。このような従来の電球では、タングステンフィラメントがガラス球中に封入され、ガラス球がベース中に密封され、ベースがソケットにねじ込まれている。前記ソケットは、AC電源又はDC電源に接続される。従来の電球は、住宅照明、建物照明、及び屋外照明並びに照明を必要とする他の領域において一般的に用いられている。残念なことに、従来のエジソン電球には欠点が存在する。すなわち、用いられるエネルギーのうち90%を越えるエネルギーが、熱エネルギーとして消散する。さらに、従来の電球の場合、フィラメント要素の熱膨張及び収縮に起因して、頻繁に故障する。
固体照明技術は公知である。固体照明は、発光ダイオード(LEDと称される)の製造において、半導体材料に依存する。先ず、赤色LEDが実証され、商品化された。赤色LEDでは、アルミニウムインジウムガリウムリン化物、すなわちAlInGaP半導体材料が用いられる。最近、Shuji Nakamura(中村修二)により、青色発光LEDの青色範囲のLED発光を生じるInGaN材料の使用法が開発された。この青色LEDをきっかけにして、固体白色照明及び青色レーザーダイオードなどの技術革新がもたらされ、青色レーザーダイオードにより、ブルーレイ(ブルーレイディスクアソシエーションの登録商標)、DVDプレーヤ及び他の開発が可能となった。他の色のLEDも提案されている。
GaN系高輝度UVLED、青色LED及び緑色LEDが提案及び実証されており、一定の成功を収めている。一般に、効率は紫外線において最高となり、発光波長が青色又は緑色領域に上昇するにつれて下降する。残念なことに、高輝度かつ高効率のGaN系緑色LEDの達成は特に困難とされてきた。さらに、GaN系LEDを大規模かつ効率的に製造するのは高コストで困難とされてきた。
従来のLED作製プロセスにおいては、典型的にはウェーハをスクライビング(溝加工)し切断(ブレーキング)することにより、個々のLEDチップを製造する。これらのウェーハは、典型的には2本の実質的に直交する軸に沿ってスクライブされ、これらの個々の軸は、前記ウェーハの2つの非等価な結晶配向面と平行でかつ同一平面上にある。例えば、サファイア上にGaNを含むLEDウェーハをシンギュレート(個別切断)して正方形または長方形チップとする場合、前記2つの直交するスクライブ軸は、サファイアウェーハのm面及びa面とそれぞれ平行でかつ同一平面上にある。ここで、前記m面及びa面は本質的に等価ではない。
特定の実施形態において、本方法は、バルクc面GaNウェーハのためのスクライブ及び切断プロセスを含む。前記ウェーハは、2つ以上の非直交軸に沿ってスクライブされる。これらの2つ以上の軸は、前記GaNウェーハの等価結晶面とそれぞれ平行でかつ同一平面上にある。例えば、バルクc面GaNウェーハは、3本の軸に沿ってスクライブされる(これら3本の軸のなす角度は、それぞれ60°である)。これらの3本の軸は、前記c面GaNウェーハの3つのm面にそれぞれ平行でかつ同一平面上にある。特定の実施形態において、前記3つのm面は、本質的に等価である。1つ以上の局面において、本発明は、c面GaNウェーハの場合、三角形状又は菱形形状のチップジオメトリを作製する方法を含む。この方法は、従来の正方形または長方形のジオメトリと比較していくつかの利点を持ち得る。本発明は、面内の6回対称と、c面GaNウェーハ独自の結晶構造とを利用する。すなわち、GaNは、特定の実施形態によりウルツ鉱結晶構造を有する。別の好適な実施形態において、前記バルクc面GaNウェーハは、3本の軸に沿ってスクライブされ得る(これら3本の軸のなす角度は、それぞれ60°である)。これらの3本の軸は、前記c面GaNウェーハの3つのa面とそれぞれ平行でかつ同一平面上にある。前記3つのa面は、本質的に等価である。
特定の実施形態において、本発明は、ガリウム及び窒素含有基板を提供する。前記ガリウム及び窒素含有基板は、5つを超えない表面領域からなる三角形形状に構成される。好適には、前記5つの表面領域は、それぞれ第1の等価面から構成された3つの表面領域と、第2の等価面から構成された2つの表面領域とから構成される。
別の実施形態において、本発明は、6個を超えない表面領域からなる菱形形状基板を提供する。好適には、前記6個の表面領域は、それぞれ第1の等価面から構成された4つの表面領域と、第2の等価面から構成された2つの表面領域とから構成される。第1の表面領域はc面に構成され、第2の表面領域は前記c面に構成される。前記方法はまた、少なくとも第1のm面領域と、第2のm面領域と、第3のm面領域とを露出させる工程を含む。さらに、本発明は、ガリウム及び窒素含有基板からダイを分離する方法を提供する。本発明はまた、ガリウム及び窒素含有光学デバイスを含む。前記デバイスは、ガリウム及び窒素含有基板を含む。前記ガリウム及び窒素含有基板は、ベース領域と、3つを越えない主要平面側部領域とを有する。前記3つを越えない主要平面側部領域は、前記ベース領域により形成された三角形配置で構成される。
好適な実施形態において、本方法及び構造は、以下の要素のうち1つ以上を含み得る。以下の要素は、変形、変更、代替などを含み得る。
1.LEDエピタキシャル構造を積層し、p型及びn型層を形成したバルクc面GaNウェーハに、3方向(相互になす角度は60°)に沿って「スクライブストリート」を形成し、スクライブストリートにより、前記ウェーハを個々のLEDトレースに分離する。これらのスクライブストリートは、前記c面GaNウェーハの3つのm面に対してそれぞれ平行となるように配置され、3本のスクライブ線によって規定される三角形形状が正三角形となるように交差するように設計される。
2.前記LEDウェーハの第1の表面を、第1の「スクライブストリート」方向に沿ってレーザスクライブする。前記第1の表面上のスクライブ領域内におけるスクライブ深さは典型的には、前記LEDウェーハの厚さの20−50%である。
3.その後、前記LEDウェーハの第1の表面を、第2の「スクライブストリート」方向に沿ってレーザスクライブする。前記第1の表面上のスクライブ領域内におけるスクライブ深さは典型的には、前記LEDウェーハの厚さの20−50%である。
4.前記LEDウェーハの第1の表面を、第3の「スクライブストリート」方向に沿ってレーザスクライブする。前記第1の表面上のスクライブ領域内におけるスクライブ深さは典型的には、前記LEDウェーハの厚さの20−50%である。
5.前記第2の表面上のスクライブ領域内のスクライブ深さは典型的には、前記LEDウェーハの厚さの20〜50%である。
6.その後、前記3つの「スクライブストリート」の方向に沿ってアンビル切断器機構を用いて前記スクライブされたLEDウェーハを切断する。特定の実施形態において、切断は、前記ウェーハの第1の表面上のスクライブ領域に規定された面に沿って行われる。前記第3の「スクライブストリート」の方向に沿った切断を行うことにより、個々の三角形状LEDチップが得られる。
特定の実施形態において、本発明は、肉厚のc面GaNウェーハを三角形状LEDチップにシンギュレート(個別切断)する方法を提供する。前記三角形状LEDチップは、側壁に位置する3つの等価なm面によって規定される。1つ以上の実施形態において、c面GaNウェーハでは、前記m面は容易に劈開する自然破壊面であるため、1組のm面配向に沿った切断を主に行うシンギュレーションプロセスを行うことにより、m面配向及びa面配向双方に沿った切断を行うプロセスよりも高い歩留まりが得られる。別の特定の実施形態において、本発明は、c面GaNウェーハを三角形状LEDチップにシンギュレーションする方法を提供する。前記三角形状LEDチップは、側壁に位置する3つの等価m面によって規定される。1つ以上の実施形態において、前記a面に沿って切断を行うことにより、特徴的表面テクスチャを得ることができ、その結果、光取り出し(抽出)効率が向上する。
本発明によって提供される三角形状チップは、従来の正方形または長方形のチップと比較して光取り出し効率が向上したことが特徴である。これは、前記側壁における全内部反射の確率が低減することに起因して面内発光漏れのパスあたりの確率が増加することによる。さらに、三角形状チップを用いることにより、正方形または長方形のチップの場合よりも光閉じ込め軌道が少数となるため、チップの光取り出し効率を向上させることができる。
図1〜図3は、三角形状ガリウム及び窒素含有材料を形成する方法を示す図である。
図4〜図6は、菱形形状ガリウム及び窒素含有材料を形成する方法を示す図である。
図7は、GaN(ウルツ鉱)結晶構造のm面(赤色線)及びa面(緑色線)の相対的配置を示す図であり、前記図の面は、c面を示す。
図8は、光学デバイスのレーザスクライビングプロセスを示す側面図である。
図9は、光学デバイスの切断プロセスを示す側面図である。
図10は、正方形及び三角形チップにおける光抽出のモデル化から得られた光抽出図である。
図11は、側壁表面粗度に対する三角形チップの光取り出し効率のシミュレーションである。
図1〜図3は、本発明の実施形態による三角形状ガリウム及び窒素含有材料を形成する方法を示す簡単な図である。図1に示すように、本発明は、ガリウム及び窒素含有基板部材を提供する。前記部材は、ガリウム及び窒素を含有する一定厚さの材料を含む。前記材料は、5つを超えない表面領域からなる三角形形状に構成される。好適には、前記5つの表面領域は、それぞれ第1の等価面から構成された3つの表面領域を含む。前記3つの表面領域を除く前記5つの表面領域は、第2の等価面から構成された2つの表面領域を含む。図示された三角形状チップの上面図には、特定の実施形態によるGaNのm面に相当する3つの縁部の向きが示されている(破線又は赤色線を参照)。
特定の実施形態において、前記ガリウム及び窒素含有基板は三角形状である。前記三角形状基板は、押し出された三角形形状であり得る。特定の実施形態において、前記三角形状領域の3つの表面領域はそれぞれ第1の等価面であり、前記第1の等価面はm面又はa面である(図2を参照)。前記三角形状領域の第2の表面領域はそれぞれ第2の等価面である。前記第2の等価面は、c面である。特定の実施形態において、前記ガリウム及び窒素含有基板はGaN基板である。もちろん、他の変形、変更、代替などが可能である。
特定の実施形態において、前記三角形状領域の3つの表面領域は、それぞれ第1の等価面上に設けられたそれぞれのスクライブから構成される。一例として、前記3つの表面領域は、180度の内部領域によって構成される。他の例において、前記2つの表面領域は、相互に平行な配置となるように構成される。
次に、図3を参照すると、三角形状LEDチップの光学顕微鏡写真が示されている。図示のように、前記GaN基板は、露出した3つのm面を有するバルクc面GaNから構成される。また図示するように、少なくとも1つの特定の実施形態において、前記ガリウム及び窒素含有部材上には、少なくとも一つの光学デバイスが載置される。前記光学デバイスとしては、発光ダイオード、レーザデバイス又は他のデバイス並びに光学デバイス及び電気デバイスの組み合わせがあり得る。他の種類のデバイスとしては、電気切り換えデバイス、機械デバイス、及びこれらの組み合わせなどが挙げられる。
図4〜図6は、本発明の実施形態による三角形状ガリウム及び窒素含有材料を形成する方法を示す簡単な図である。図示のように、前記基板には、GaNm面に相当する4つの縁部が示される(点線又は赤色線を参照)。前記基板部材は、6個を超えない表面領域からなる菱形形状に構成されたガリウム及び窒素を含有する一定厚さの材料を含む。好適には、前記6個の表面領域は、それぞれ第1等価面から構成された4つの表面領域を含む。前記4つの表面領域を除く前記6個の表面領域は、第2の等価面から構成された2つの表面領域を含む。
特定の実施形態において、前記菱形形状である基板の前記6個の表面領域のうち第1の4つの表面領域のいずれの2つの間も90度の交差にはならない。特定の実施形態において、前記菱形形状は、図5に示すようにm面又はa面である第1の等価面を含む。図示のように、前記4つの縁部は、GaNa面に相当する(緑色破線線又は破線線)。特定の実施形態において、前記菱形形状は、c面である第2の等価面を含む。
特定の実施形態において、前記菱形形状の4つの表面領域は、それぞれ第1の等価面上に設けられたそれぞれのスクライブから構成される。好適には、前記4つの表面領域は、90度とならないような内部領域によって構成される。好適には、前記2つの表面領域は、相互に平行な配置となるよう構成される。
次に図6を参照すると、菱形形状LEDチップの光学顕微鏡写真が示されている。図示のように、前記GaN基板は、露出した4つのm面を有するバルクc面GaNから構成される。また図示するように、少なくとも1つの特定の実施形態において、前記ガリウム及び窒素含有部材上に少なくとも一つの光学デバイスが載置される。前記光学デバイスとしては、発光ダイオード、レーザデバイス又は他のデバイス並びに光学デバイス及び電気デバイスの組み合わせがあり得る。
図7は、本発明の実施形態によるGaN(ウルツ鉱)結晶構造におけるm面(赤色線)及びa面(緑色線)の相対的配置を示す簡単な図である。図中、図の面は、c面を示す。
図8は、本発明の実施形態による光学デバイスのレーザスクライビングプロセスを示す簡単な側面図である。特定の実施形態において、特定の実施形態に従って、前記ウェーハの第1の表面の「スクライブストリート」内において1つ以上の軸に沿って前記LEDウェーハがレーザスクライブされる。他の実施形態において、前記スクライビングは、鋸、ダイヤモンドスクライブ、化学エッチング(光アシストを含むか又は含まない)、反応性イオン又はプラズマエッチング、粉砕又は組み合わせを用いて行うことができる。特定の実施形態によれば、前記第1の表面上のスクライブ領域内におけるスクライブ深さは典型的には、前記LEDウェーハの厚さの20〜50%である。他の実施形態において、前記スクライブ深さを変更してもよく、他の寸法とすることもできる。
特定の実施形態において、その後前記LEDウェーハをひっくり返し、前記ウェーハの第2の表面の「スクライブストリート」内において1つ以上の軸に沿ってレーザスクライブする。その際、前記第2の表面上のスクライブが、前記ウェーハの第1の表面上のスクライブと重なった配置となるように注意を払う。特定の実施形態において、前記第2の表面上のスクライブ領域内のスクライブ深さは典型的には、前記LEDウェーハの厚さの20〜50%である。その後、前記スクライブされたLEDウェーハをアンビル切断器機構(例えば、以下にさらに説明するようなもの)を用いて切断する。
図9は、本発明の実施形態による光学デバイスの切断プロセスを示す簡単な側面図である。図示のように、ウェーハの両側に配列した2つのスクライブ領域によって規定された面に沿って切断する。特定の実施形態において、本方法で、肉厚のGaNウェーハをシンギュレーションすることにより、LED作製プロセスにおける高コストでかつ時間のかかるラッピング工程及び研磨工程をを省くことができる。
図10は、正方形チップ及び三角形チップの光取り出し効率Cexを比較したモデル化結果を示す。シミュレーションにより、光抽出図が得られた(例えば、抽出効率対光子出射方向(kx、ky))。図示のように、正方形チップの場合、5個の抽出円錐が(1面あたりに)得られており、Cex=46%となる。三角形チップの場合、7個の抽出円錐が得られており(各垂直側壁は、面内光を直接又は別の側壁からの反射の後に抽出することができ)、その結果Cex=57%となる。これらの数は、実際の構造(金属及びGaN基板中の損失を含む)に関連し、チップ壁面のいかなる表面粗面化とも積算されない。
図11は、光取り出し効率に対する側壁粗面化の影響をモデル化によって予測した結果を示す。効果的な側壁粗さにより、三角形チップの光取り出し効率は80%を超え得る(平滑な側壁の場合には57%)。
特定の実施形態において、肉厚のGaNウェーハを個々のLEDチップにシンギュレーションするための方法を提供する。前記個々のLEDチップの横寸法は、標準的な片面スクライブ方法によって得られるチップの横寸法よりもずっと小さい。他の実施形態において、本方法を用いれば、スクライブ及び切断プロセス工程において、従来の方法より高いプロセス歩留まりが得られる。さらに、チップアウトおよびダブレット(切断工程において分離されなかった複数対のチップ)の発生も低減する。他の実施形態において、前記スクライブ領域に起因して、前記生成されたLEDチップの側壁上において表面が粗面化され、その結果、片面上のスクライビングによって生成されたチップと比較して前記チップからの光抽出が向上し得る。
他の実施形態において、本方法は、以下に記載するような他の変更、組み合わせ及び改変も含み得る。
1.LEDウェーハとしては、c面GaNウェーハを用いることができる。
2.他の実施形態においては、複数のスクライブ方法のうち少なくとも1つを用いて、個々のLEDウェーハの2つの表面の少なくとも1方にスクライブすることができる。前記スクライブ方法は、レーザスクライビング、ダイヤモンドスクライビングおよび鋸切り/ダイシングから選択された少なくとも2つ以上の方法を含み得る。
3.特定の実施形態において、前記LEDウェーハのいずれか一方の面上のスクライブ深さは、前記LEDウェーハの厚さの0.5%〜99.5%の範囲で変更することができる。
4.別の実施形態において、前記スクライブ領域は、連続スクライブ線を含んでもよいし、あるいは破線又は点線のスクライブ線を含んでもよい。2つ以上の軸に沿ったスクライブ領域は、特定の実施形態による設計によって「スクライブストリート」を交差させることによって規定された領域内において交差してもよいし、交差しなくてもよい。
5.また、特定の実施形態によれば、第1の表面上の少なくとも1つの「スクライブストリート」の向き及び第2の表面上の少なくとも1つの「スクライブストリート」向きに沿ってスクライビングを行うことができ、これにより、選択された少なくとも2つの「スクライブストリート」の向きが非平行となる。
6.前記スクライブされたLEDウェーハは、アンビル切断器、ローラーブレーカー又はブレーカーバー、組み合わせなどを含む群から選択された1つの方法又は複数の方法を用いて切断することができる。
上記において特定の実施形態について詳細に説明してきたが、多様な改変、別の構造及び均等物が利用可能である。本明細書中においては、1つ以上の特定のガリウム及び窒素含有表面配向について記述しているが、面配向の複数のファミリのうちいずれか1つが利用可能であることが認識される。上記の記載及び例示は、添付の特許請求の範囲によって規定される本発明の範囲を制限するものとしてとられるべきではない。

Claims (13)

  1. 発光素子であって、当該発光素子は、
    III族窒化物含有基板と、ここで、当該基板はウルツ鉱型結晶構造を有し、当該結晶構造は、少なくとも第1のa面、第2のa面、および第3のa面を規定する、
    前記基板上に形成された発光エピタキシャル構造と、
    を有し、
    前記素子は、前記第1のa面、第2のa面、および第3のa面に沿った第1の面、第2の面、および第3の面を有し、当該第1の面、第2の面、および第3の面は三角形を形成し、
    前記素子は、第4の面および第5の面を有し、これら第4の面および第5の面は、三角形をなしている、
    発光素子。
  2. 前記基板はバルクGaNを含む、請求項1に記載の発光素子。
  3. 前記第1の面、第2の面、および第3の面は、それぞれ、前記第1のa面、第2のa面、および第3のa面に沿って切断することによって定義される、請求項1に記載の発光素子。
  4. 前記第4の面および第5の面は互いに平行であり、前記第1の面、第2の面、および第3の面は、前記第4の面および第5の面に対して直角をなしている、請求項1に記載の発光素子。
  5. 前記第4の面および第5の面は、c面に沿って配向している、請求項に記載の発光素子。
  6. 前記発光素子は、面を5つしか有していない、請求項1に記載の発光素子。
  7. 前記第1の面、第2の面、および第3の面は粗面であり、これにより、光抽出効率が80%を超える、請求項1に記載の発光素子。
  8. ウェーハーから発光素子のダイを少なくとも1つ分離する方法であって、
    前記ウェーハーは、互いに平行な第1の表面と第2の表面とを規定し、
    前記ウェーハーは、
    III族窒化物含有基板と、ここで、当該基板はウルツ鉱型結晶構造を有し、当該結晶構造は、少なくとも第1のa面、第2のa面、および第3のa面を規定する、
    前記基板上に形成された発光エピタキシャル構造と、
    を少なくとも有し、
    当該方法は、
    前記第1のa面、第2のa面および第3のa面で構成されたスクライビング線に沿って、少なくとも前記第1の表面に対してスクライビングを行う工程と、
    前記ウェーハーに対して、前記スクライブ線に沿ってブレーキングを行うことにより、前記ウェーハーからダイを分離する工程と、ここで、当該ブレーキングによって前記ダイには第1の面、第2の面、および第3の面が形成され、これら第1の面、第2の面、および第3の面は三角形を形成している、
    を含む、方法。
  9. 前記第1の表面は前記基板の底面である、請求項に記載の方法。
  10. 前記ブレーキングによって、前記第1の面、第2の面、および第3の面は粗面となる、請求項に記載の方法。
  11. 前記ダイは、第4の面および第5の面を有し、当該第4の面および第5の面は、前記第1の表面の一部、および前記第2の表面の一部で構成される、請求項に記載の方法。
  12. 前記第1の表面および第2の表面は、c面に沿って配向している、請求項11に記載の方法。
  13. 前記基板はバルクGaNを含む、請求項に記載の方法。
JP2015139276A 2010-06-18 2015-07-12 光学デバイス用のガリウム及び窒素含有三角形又は菱形形状の構成 Active JP6073988B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US35647310P 2010-06-18 2010-06-18
US61/356,473 2010-06-18
US13/163,482 US8293551B2 (en) 2010-06-18 2011-06-17 Gallium and nitrogen containing triangular or diamond-shaped configuration for optical devices
US13/163,482 2011-06-17

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013515583A Division JP5870097B2 (ja) 2010-06-18 2011-06-20 光学デバイス用のガリウム及び窒素含有三角形又は菱形形状の構成

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016006881A JP2016006881A (ja) 2016-01-14
JP6073988B2 true JP6073988B2 (ja) 2017-02-01

Family

ID=45348929

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013515583A Active JP5870097B2 (ja) 2010-06-18 2011-06-20 光学デバイス用のガリウム及び窒素含有三角形又は菱形形状の構成
JP2015139276A Active JP6073988B2 (ja) 2010-06-18 2015-07-12 光学デバイス用のガリウム及び窒素含有三角形又は菱形形状の構成

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013515583A Active JP5870097B2 (ja) 2010-06-18 2011-06-20 光学デバイス用のガリウム及び窒素含有三角形又は菱形形状の構成

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8293551B2 (ja)
JP (2) JP5870097B2 (ja)
DE (1) DE112011102068T5 (ja)
WO (1) WO2011160129A2 (ja)

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI470823B (zh) * 2009-02-11 2015-01-21 Epistar Corp 發光元件及其製造方法
US8247886B1 (en) 2009-03-09 2012-08-21 Soraa, Inc. Polarization direction of optical devices using selected spatial configurations
US8299473B1 (en) 2009-04-07 2012-10-30 Soraa, Inc. Polarized white light devices using non-polar or semipolar gallium containing materials and transparent phosphors
US8791499B1 (en) 2009-05-27 2014-07-29 Soraa, Inc. GaN containing optical devices and method with ESD stability
US9000466B1 (en) 2010-08-23 2015-04-07 Soraa, Inc. Methods and devices for light extraction from a group III-nitride volumetric LED using surface and sidewall roughening
US9293644B2 (en) 2009-09-18 2016-03-22 Soraa, Inc. Power light emitting diode and method with uniform current density operation
DE112010003700T5 (de) 2009-09-18 2013-02-28 Soraa, Inc. Power-leuchtdiode und verfahren mit stromdichtebetrieb
US8933644B2 (en) 2009-09-18 2015-01-13 Soraa, Inc. LED lamps with improved quality of light
US9583678B2 (en) 2009-09-18 2017-02-28 Soraa, Inc. High-performance LED fabrication
US8740413B1 (en) 2010-02-03 2014-06-03 Soraa, Inc. System and method for providing color light sources in proximity to predetermined wavelength conversion structures
US10147850B1 (en) 2010-02-03 2018-12-04 Soraa, Inc. System and method for providing color light sources in proximity to predetermined wavelength conversion structures
US8905588B2 (en) 2010-02-03 2014-12-09 Sorra, Inc. System and method for providing color light sources in proximity to predetermined wavelength conversion structures
US9450143B2 (en) * 2010-06-18 2016-09-20 Soraa, Inc. Gallium and nitrogen containing triangular or diamond-shaped configuration for optical devices
US8786053B2 (en) 2011-01-24 2014-07-22 Soraa, Inc. Gallium-nitride-on-handle substrate materials and devices and method of manufacture
US8686431B2 (en) * 2011-08-22 2014-04-01 Soraa, Inc. Gallium and nitrogen containing trilateral configuration for optical devices
US9646827B1 (en) 2011-08-23 2017-05-09 Soraa, Inc. Method for smoothing surface of a substrate containing gallium and nitrogen
US8912025B2 (en) 2011-11-23 2014-12-16 Soraa, Inc. Method for manufacture of bright GaN LEDs using a selective removal process
KR101909633B1 (ko) 2011-12-30 2018-12-19 삼성전자 주식회사 레이저 스크라이빙을 이용한 발광소자 칩 웨이퍼의 절단 방법
WO2013134432A1 (en) 2012-03-06 2013-09-12 Soraa, Inc. Light emitting diodes with low refractive index material layers to reduce light guiding effects
US8971368B1 (en) 2012-08-16 2015-03-03 Soraa Laser Diode, Inc. Laser devices having a gallium and nitrogen containing semipolar surface orientation
US9978904B2 (en) 2012-10-16 2018-05-22 Soraa, Inc. Indium gallium nitride light emitting devices
US8802471B1 (en) 2012-12-21 2014-08-12 Soraa, Inc. Contacts for an n-type gallium and nitrogen substrate for optical devices
US8994033B2 (en) 2013-07-09 2015-03-31 Soraa, Inc. Contacts for an n-type gallium and nitrogen substrate for optical devices
US9419189B1 (en) 2013-11-04 2016-08-16 Soraa, Inc. Small LED source with high brightness and high efficiency
JP2015207752A (ja) 2014-04-08 2015-11-19 パナソニックIpマネジメント株式会社 窒化物半導体発光ダイオード
GB201418810D0 (en) 2014-10-22 2014-12-03 Infiniled Ltd Display
GB201418772D0 (en) * 2014-10-22 2014-12-03 Infiniled Ltd Display
KR102306671B1 (ko) * 2015-06-16 2021-09-29 삼성전자주식회사 발광 소자 패키지
KR102599333B1 (ko) * 2016-12-23 2023-11-06 엘지디스플레이 주식회사 광원 모듈 및 이를 포함하는 백라이트 유닛과 액정 표시 장치
DE102017120037A1 (de) * 2017-08-31 2019-02-28 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Herstellung einer Vielzahl strahlungsemittierender Halbleiterchips, strahlungsemittierender Halbleiterchip und strahlungsemittierender Halbleiterchip-Array
DE102022123683A1 (de) 2022-09-15 2024-03-21 Ams-Osram International Gmbh Optoelektronisches bauelement und verfahren zu dessen herstellung

Family Cites Families (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3557011B2 (ja) * 1995-03-30 2004-08-25 株式会社東芝 半導体発光素子、及びその製造方法
JPH0982587A (ja) * 1995-09-08 1997-03-28 Hewlett Packard Co <Hp> 非方形電子チップの製造方法
US5764674A (en) 1996-06-28 1998-06-09 Honeywell Inc. Current confinement for a vertical cavity surface emitting laser
US6542526B1 (en) 1996-10-30 2003-04-01 Hitachi, Ltd. Optical information processor and semiconductor light emitting device suitable for the same
US6104450A (en) 1996-11-07 2000-08-15 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device, and methods of manufacturing and driving same
JPH10335750A (ja) 1997-06-03 1998-12-18 Sony Corp 半導体基板および半導体装置
JPH11340507A (ja) * 1998-05-26 1999-12-10 Matsushita Electron Corp 半導体発光素子およびその製造方法
JPH11340576A (ja) * 1998-05-28 1999-12-10 Sumitomo Electric Ind Ltd 窒化ガリウム系半導体デバイス
JP2001177146A (ja) * 1999-12-21 2001-06-29 Mitsubishi Cable Ind Ltd 三角形状の半導体素子及びその製法
US6858882B2 (en) 2000-09-08 2005-02-22 Sharp Kabushiki Kaisha Nitride semiconductor light-emitting device and optical device including the same
US6936488B2 (en) 2000-10-23 2005-08-30 General Electric Company Homoepitaxial gallium-nitride-based light emitting device and method for producing
JP2002190635A (ja) * 2000-12-20 2002-07-05 Sharp Corp 半導体レーザ素子およびその製造方法
JP4055503B2 (ja) * 2001-07-24 2008-03-05 日亜化学工業株式会社 半導体発光素子
JP3801125B2 (ja) 2001-10-09 2006-07-26 住友電気工業株式会社 単結晶窒化ガリウム基板と単結晶窒化ガリウムの結晶成長方法および単結晶窒化ガリウム基板の製造方法
US6498355B1 (en) 2001-10-09 2002-12-24 Lumileds Lighting, U.S., Llc High flux LED array
US6809781B2 (en) 2002-09-24 2004-10-26 General Electric Company Phosphor blends and backlight sources for liquid crystal displays
US7009199B2 (en) 2002-10-22 2006-03-07 Cree, Inc. Electronic devices having a header and antiparallel connected light emitting diodes for producing light from AC current
US7157745B2 (en) 2004-04-09 2007-01-02 Blonder Greg E Illumination devices comprising white light emitting diodes and diode arrays and method and apparatus for making them
US7341880B2 (en) 2003-09-17 2008-03-11 Luminus Devices, Inc. Light emitting device processes
US7128849B2 (en) 2003-10-31 2006-10-31 General Electric Company Phosphors containing boron and metals of Group IIIA and IIIB
US20060038542A1 (en) 2003-12-23 2006-02-23 Tessera, Inc. Solid state lighting device
US20050199899A1 (en) 2004-03-11 2005-09-15 Ming-Der Lin Package array and package unit of flip chip LED
US6956246B1 (en) 2004-06-03 2005-10-18 Lumileds Lighting U.S., Llc Resonant cavity III-nitride light emitting devices fabricated by growth substrate removal
KR100661708B1 (ko) 2004-10-19 2006-12-26 엘지이노텍 주식회사 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법
US7858408B2 (en) 2004-11-15 2010-12-28 Koninklijke Philips Electronics N.V. LED with phosphor tile and overmolded phosphor in lens
US7358542B2 (en) 2005-02-02 2008-04-15 Lumination Llc Red emitting phosphor materials for use in LED and LCD applications
EP2315253A1 (en) 2005-03-10 2011-04-27 The Regents of the University of California Technique for the growth of planar semi-polar gallium nitride
US7358543B2 (en) 2005-05-27 2008-04-15 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Light emitting device having a layer of photonic crystals and a region of diffusing material and method for fabricating the device
EP1905088A4 (en) 2005-06-21 2012-11-21 Univ California PACKAGING TECHNIQUE FOR THE MANUFACTURE OF POLARIZED ELECTROLUMINESCENT DIODES
US8148713B2 (en) 2008-04-04 2012-04-03 The Regents Of The University Of California Method for fabrication of semipolar (Al, In, Ga, B)N based light emitting diodes
JP4656410B2 (ja) 2005-09-05 2011-03-23 住友電気工業株式会社 窒化物半導体デバイスの製造方法
US8044430B2 (en) 2006-01-18 2011-10-25 Panasonic Corporation Nitride semiconductor light-emitting device comprising multiple semiconductor layers having substantially uniform N-type dopant concentration
US8044412B2 (en) 2006-01-20 2011-10-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd Package for a light emitting element
JP4819577B2 (ja) 2006-05-31 2011-11-24 キヤノン株式会社 パターン転写方法およびパターン転写装置
US20090273005A1 (en) 2006-07-24 2009-11-05 Hung-Yi Lin Opto-electronic package structure having silicon-substrate and method of forming the same
JP2008141118A (ja) 2006-12-05 2008-06-19 Rohm Co Ltd 半導体白色発光装置
TW200834962A (en) 2007-02-08 2008-08-16 Touch Micro System Tech LED array package structure having Si-substrate and method of making the same
WO2008100505A1 (en) 2007-02-12 2008-08-21 The Regents Of The University Of California Optimization of laser bar orientation for nonpolar and semipolar (ga,ai,in,b)n diode lasers
JP2008311640A (ja) 2007-05-16 2008-12-25 Rohm Co Ltd 半導体レーザダイオード
JP4614988B2 (ja) 2007-05-31 2011-01-19 シャープ株式会社 窒化物系半導体レーザ素子及びその製造方法
EP2003696B1 (en) 2007-06-14 2012-02-29 Sumitomo Electric Industries, Ltd. GaN substrate, substrate with epitaxial layer, semiconductor device and method of manufacturing GaN substrate
US7733571B1 (en) 2007-07-24 2010-06-08 Rockwell Collins, Inc. Phosphor screen and displays systems
JP2009071162A (ja) * 2007-09-14 2009-04-02 Rohm Co Ltd 半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP2009081374A (ja) 2007-09-27 2009-04-16 Rohm Co Ltd 半導体発光素子
JP5053893B2 (ja) * 2008-03-07 2012-10-24 住友電気工業株式会社 窒化物半導体レーザを作製する方法
US8847249B2 (en) 2008-06-16 2014-09-30 Soraa, Inc. Solid-state optical device having enhanced indium content in active regions
US20100006873A1 (en) 2008-06-25 2010-01-14 Soraa, Inc. HIGHLY POLARIZED WHITE LIGHT SOURCE BY COMBINING BLUE LED ON SEMIPOLAR OR NONPOLAR GaN WITH YELLOW LED ON SEMIPOLAR OR NONPOLAR GaN
CN101621101A (zh) 2008-06-30 2010-01-06 展晶科技(深圳)有限公司 发光二极管及其制造方法
WO2010017148A1 (en) 2008-08-04 2010-02-11 Soraa, Inc. White light devices using non-polar or semipolar gallium containing materials and phosphors
US8148801B2 (en) 2008-08-25 2012-04-03 Soraa, Inc. Nitride crystal with removable surface layer and methods of manufacture
US7923741B1 (en) 2009-01-05 2011-04-12 Lednovation, Inc. Semiconductor lighting device with reflective remote wavelength conversion
US20110056429A1 (en) 2009-08-21 2011-03-10 Soraa, Inc. Rapid Growth Method and Structures for Gallium and Nitrogen Containing Ultra-Thin Epitaxial Structures for Devices
JP5123331B2 (ja) * 2010-01-18 2013-01-23 シャープ株式会社 窒化物半導体チップの製造方法および窒化物半導体チップ

Also Published As

Publication number Publication date
WO2011160129A3 (en) 2012-03-01
CN102947492A (zh) 2013-02-27
WO2011160129A2 (en) 2011-12-22
JP2013535109A (ja) 2013-09-09
US20110315999A1 (en) 2011-12-29
US8293551B2 (en) 2012-10-23
DE112011102068T5 (de) 2013-03-28
JP5870097B2 (ja) 2016-02-24
JP2016006881A (ja) 2016-01-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6073988B2 (ja) 光学デバイス用のガリウム及び窒素含有三角形又は菱形形状の構成
US11411135B2 (en) Gallium and nitrogen containing triangular or diamond-shaped configuration for optical devices
US20210104503A1 (en) Wafer level packaging of light emitting diodes (leds)
US8313964B2 (en) Singulation method and resulting device of thick gallium and nitrogen containing substrates
US9076926B2 (en) Gallium and nitrogen containing trilateral configuration for optical devices
KR101509834B1 (ko) 반도체 발광 소자 및 그 제조 방법
US8232122B2 (en) Method for fabricating light emitting diode chip
TWI473269B (zh) 具有不平整主動層之發光裝置及其形成方法
US8597967B1 (en) Method and system for dicing substrates containing gallium and nitrogen material
KR20130012376A (ko) 반도체 발광소자 제조방법
CN105428486A (zh) 一种具有三维p-n结的半导体发光二极管芯片及其制备方法
TW201715751A (zh) 發光裝置
JP5599675B2 (ja) Ledデバイスチップの製造方法
TWI420706B (zh) 發光二極體及其製造方法
JP6628727B2 (ja) 加工されたサブストレートを用いた半導体発光デバイス及びその製造方法
CN102947492B (zh) 用于光学器件的含镓和氮的三角形或菱形的配置
CN102148324A (zh) 一种带有衬底聚光反射镜的led芯片及其制作方法
US8911518B1 (en) Method and system for dicing substrates containing gallium and nitrogen material with conductive core via structures
JP2013038208A (ja) 発光素子およびその製造方法
CN102655196B (zh) 氮化物系半导体发光结构
TWI546978B (zh) 半導體發光元件及其製作方法
TW201242084A (en) Chip structure for enhancing light extraction efficiency and process using the same
TWI387137B (zh) 製作發光二極體結構的方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150811

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150811

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150818

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150911

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151106

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160413

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160415

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20160714

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20160913

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161014

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20161209

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170105

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6073988

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250