JP6061589B2 - 基準電圧回路 - Google Patents

基準電圧回路 Download PDF

Info

Publication number
JP6061589B2
JP6061589B2 JP2012212944A JP2012212944A JP6061589B2 JP 6061589 B2 JP6061589 B2 JP 6061589B2 JP 2012212944 A JP2012212944 A JP 2012212944A JP 2012212944 A JP2012212944 A JP 2012212944A JP 6061589 B2 JP6061589 B2 JP 6061589B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
transistor
voltage
resistor
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2012212944A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013225282A (ja
Inventor
幸輔 高田
幸輔 高田
杉浦 正一
正一 杉浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ablic Inc
Original Assignee
Ablic Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ablic Inc filed Critical Ablic Inc
Priority to JP2012212944A priority Critical patent/JP6061589B2/ja
Priority to CN201380015584.3A priority patent/CN104204986B/zh
Priority to PCT/JP2013/051707 priority patent/WO2013140852A1/ja
Priority to KR1020147026213A priority patent/KR101995697B1/ko
Priority to TW102104381A priority patent/TWI570537B/zh
Publication of JP2013225282A publication Critical patent/JP2013225282A/ja
Priority to US14/490,399 priority patent/US9910452B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6061589B2 publication Critical patent/JP6061589B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/30Regulators using the difference between the base-emitter voltages of two bipolar transistors operating at different current densities
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/30Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters
    • H03F1/301Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters in MOSFET amplifiers
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/34DC amplifiers in which all stages are DC-coupled
    • H03F3/343DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only
    • H03F3/345DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only with field-effect devices
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/26Current mirrors
    • G05F3/262Current mirrors using field-effect transistors only

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)

Description

本発明は、基準電圧を生成するバンドギャップ基準電圧回路に関し、より詳しくは基準電圧の温度特性を調整する技術に関する。
図7に、従来のバンドギャップ基準電圧回路の回路図を示す。従来のバンドギャップ基準電圧回路は、PMOSトランジスタ602、603、605、606と、NMOSトランジスタ604、609と、バイポーラトランジスタ611、612、613と、抵抗607、608と、起動回路601と、出力端子610と、電源端子101と、グラウンド端子100と、サブストレート端子620で構成されている。
接続について説明する。PMOSトランジスタ602は、ゲートは起動回路601に接続され、ドレインはNMOSトランジスタ609のゲート及びドレインとNMOSトランジスタ604のゲートに接続され、ソースは電源端子101に接続される。PMOSトランジスタ603は、ドレイン及びゲートはNMOSトランジスタ604のドレインに接続され、ソースは電源端子101に接続される。PMOSトランジスタ605は、ゲートはPMOSトランジスタ603のゲートに接続され、ドレインはNMOSトランジスタ609のドレイン及びゲートに接続され、ソースは電源端子101に接続される。PMOSトランジスタ606は、ドレインは出力端子610および抵抗608の一方の端子に接続され、ソースは電源端子101に接続される。バイポーラトランジスタ613は、エミッタは抵抗608のもう一方の端子に接続され、ベースはグラウンド端子100に接続され、コレクタはサブストレート端子620に接続されている。NMOSトランジスタ604は、ゲートはNMOSトランジスタ609のゲートに接続され、ソースは抵抗607の一方の端子に接続される。バイポーラトランジスタ611は、ベースはグラウンド端子100に接続され、エミッタは抵抗607のもう一方の端子に接続され、コレクタはサブストレート端子620に接続される。バイポーラトランジスタ612は、ベースはグラウンド端子100に接続され、エミッタはNMOSトランジスタ609のソースに接続され、コレクタはサブストレート端子620に接続される。
特開平6-309062号公報
しかしながら従来の技術では、出力端子610に発生する出力電圧の値を調整するために抵抗608を調整すると、出力電圧の温度特性が変化してしまうという課題があった。また、バイポーラトランジスタ613のPN接合の順方向電圧以下の電圧を出力することが困難という課題もあった。
本発明は、以上のような課題を解決するために考案されたものであり、任意の出力電圧で任意の温度特性に調整することができる基準電圧回路を提供するものである。
従来の課題を解決するために、本発明の基準電圧回路は以下のような構成とした。
複数のPN接合素子の順方向電圧の差を電流変換し第一の電流を発生する基準電流発生回路と、基準電流発生回路で発生した第一の電流を用いて第二の電流を発生させる電流発生回路と、第一の電流が流れることによって正の温度特性を有する第一の電圧を発生させる第一の抵抗素子と、第一の電流と第二の電流が流れることによって負の温度特性を有する第二の電圧を発生させる第二の抵抗素子を有する電圧発生回路を備え、第一の電圧と第二の電圧を加算した基準電圧を出力する基準電圧回路。
本発明によれば、任意の出力電圧で任意の温度特性に調整することができる。
本発明の基準電圧回路の基本構成を示すブロック図である。 第一の実施形態の基準電圧回路を示す回路図である。 第二の実施形態の基準電圧回路を示す回路図である。 第三の実施形態の基準電圧回路を示す回路図である。 第四の実施形態の基準電圧回路を示す回路図である。 第五の実施形態の基準電圧回路を示す回路図である。 従来の基準電圧回路を示す回路図である。 第一、二、五の実施形態における基準電圧の調整手段を示す回路図である。 第三、四の実施形態における基準電圧の調整手段を示す回路図である。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
図1は、本発明の基準電圧回路の基本構成を示すブロック図である。図1において11は、PN接合素子における順方向電圧の差を電流変換し、任意の値の第一の電流を発生することができる基準電流発生回路である。12は基準電流発生回路11で発生した第一の電流を用いて第二の電流を発生させる電流発生回路である。13は基準電流発生回路11で発生した第一の電流と、電流発生回路12で発生した第二の電流を用い、抵抗に所定の電流を流すことにより、電圧を発生させる電圧発生回路である。そして、その電圧を基準電圧として出力端子10に出力する。
<第一の実施形態>
図2は、第一の実施形態の基準電圧回路を示す回路図である。
第一の実施形態の基準電圧回路は、PMOSトランジスタ111、112、113、114、116、118、120と、NMOSトランジスタ115、117、119と、抵抗131、132、104、105と、PN接合素子102、103と、グラウンド端子100と、電源端子101と、出力端子106と、を備えている。PMOSトランジスタ111、112、113、114と、NMOSトランジスタ115と、抵抗131で電流発生回路140を構成している。PMOSトランジスタ116、118と、NMOSトランジスタ117、119と、抵抗132と、PN接合素子102、103で基準電流発生回路141を構成している。PMOSトランジスタ120と、抵抗104、105で電圧発生回路142を構成している。
接続に関して説明する。PMOSトランジスタ111は、ゲートはPMOSトランジスタ112のゲート及びドレインに接続され、ドレインは抵抗104の一方の端子と105の一方の端子の接続点に接続され、ソースは電源端子101に接続される。抵抗104のもう一方の端子は出力端子106に接続され、抵抗105のもう一方の端子はグラウンド端子100に接続される。PMOSトランジスタ112は、ドレインはPMOSトランジスタ113のソースに接続され、ソースは電源端子101に接続される。PMOSトランジスタ113は、ゲートはNMOSトランジスタ115のドレインに接続され、ドレインはNMOSトランジスタ115のソースに接続される。NMOSトランジスタ115は、ドレインはPMOSトランジスタ114のドレインに接続され、ゲートはNMOSトランジスタ119のゲートに接続され、ソースは抵抗131の一方の端子に接続される。抵抗131のもう一方の端子はグラウンド端子100に接続される。PMOSトランジスタ114は、ゲートはPMOSトランジスタ116のゲートに接続され、ソースは電源端子101に接続される。PMOSトランジスタ116は、ゲートはPMOSトランジスタ118のゲートに接続され、ドレインはNMOSトランジスタ117のドレインに接続され、ソースは電源端子101に接続される。PMOSトランジスタ118は、ゲート及びドレインはNMOSトランジスタ119のドレインに接続され、ソースは電源端子101に接続される。NMOSトランジスタ117は、ゲート及びドレインはNMOSトランジスタ119のゲートに接続され、ソースはPN接合素子102のアノードに接続される。PN接合素子102のカソードはグラウンド端子100に接続される。抵抗132は、一方の端子はNMOSトランジスタ119のソースに接続され、もう一方の端子はPN接合素子103のアノードに接続される。PN接合素子103のカソードはグラウンド端子100に接続される。PMOSトランジスタ120は、ゲートはPMOSトランジスタ118のドレインに接続され、ドレインは出力端子106に接続され、ソースは電源端子101に接続される。
次に、第一の実施形態の基準電圧回路の動作について説明する。便宜上、簡単の為、抵抗131、132、104、105は、温度依存性がないと仮定して説明をする。PN接合素子102、103は適当な面積比(たとえば1対4等)で構成され、基準電流発生回路141は(式1)に示される電流を生成する。抵抗132に温度依存性がないと仮定している為、生成する電流は正の温度特性を持つ。
Figure 0006061589
mはPN接合素子102、103の面積比、R132は抵抗132の抵抗値、kはボルツマン定数、Tは温度、qは電荷を表す。
PMOSトランジスタ114はPMOSトランジスタ118とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ118の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Iが流れるとして説明する。NMOSトランジスタ115とNMOSトランジスタ117は同じサイズのトランジスタであり、ゲートがNMOSトランジスタ119のゲートに接続されている。NMOSトランジスタ117のソースをノードX、NMOSトランジスタ115のソースをノードZ、抵抗104の一方の端子と抵抗105の一方の端子の接続点をノードWとする。
NMOSトランジスタ115とPMOSトランジスタ113とは、負帰還ループを構成している。このことにより、NMOSトランジスタ115には、PMOSトランジスタ114が提供する電流Iが安定的に流入し、動作点が適当に決定される。NMOSトランジスタ115とNMOSトランジスタ117とはゲート電圧を等しく与えられ、またドレイン電流も等しく与えられる為、ノードXとノードZは同じ電圧となる。抵抗131の抵抗値をR131、PN接合素子102に発生する電圧をV102とする。PMOSトランジスタ113に流れる電流をIzとする。抵抗131には、電流IとIzとが流れる為、R131×(I+Iz)なる電圧が発生し、またノードXとノードZは同じ電圧であることから、この電圧はノードXの電圧V102と等しくなる。
PMOSトランジスタ111はPMOSトランジスタ112とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ112の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Izが流れるとして説明する。PMOSトランジスタ120はPMOSトランジスタ118とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ118の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Iが流れるとして説明する。抵抗105の抵抗値をR105とすると、抵抗105にはこれらを用いることにより、所定の電流I+Izが流れる為、R105×(I+Iz)の電圧が発生する。簡単の為、便宜上、R105とR131を等しく与えれば、すなわち、ノードZの電圧R131×(I+Iz)とノードWの電圧R105×(I+Iz)の電圧は等しくなる。
PN接合素子102に発生するノードXの電圧は負の温度特性を持つ。この為、ノードZの電圧とノードWの電圧も同様に負の温度特性を持つ。
基準電流発生回路141で生成された電流は、正の温度特性を持つ為、PMOSトランジスタ120に流れる電流Iもまた、正の温度特性を持つ。抵抗104の抵抗値をR104とすると抵抗104の両端に発生する電圧は、I×R104となり、これは正の温度特性を持つ。
負の温度特性を持つノードWの電圧R105×(I+Iz)と正の温度特性を持つ抵抗104の両端に発生する電圧I×R104の和を適当に与えることにより、出力端子106に、任意の出力電圧で任意の温度特性を持つ電圧を出力することができる。例えば、PMOSトランジスタ118とPMOSトランジスタ120のカレントミラー比、PMOSトランジスタ118とPMOSトランジスタ114のカレントミラー比、PMOSトランジスタ112とPMOSトランジスタ111のカレントミラー比、抵抗104と抵抗105の抵抗値を調節することにより、このことが可能となる。
また、図8に示す電流発生回路140ように抵抗131を131ra、131rb、131rcに分けて構成し、それぞれの抵抗の接続点と、PMOSトランジスタ113のドレインとの間にスイッチ素子131sa、131sb、131scを接続してもよい。これらのスイッチ素子を任意に切り替えて電流Izを調節することで、出力端子106の電圧を調節することが可能となる。抵抗131の構成は、直列、並列の接続、及び本数は実施形態の構成に限るものでなく、スイッチの素材や個数もトランジスタやヒューズでも良く、実施形態の構成に限るものではない。
なお、PN接合素子はダイオードやバイポーラトランジスタの飽和結線、弱反転動作するMOSトランジスタを用いることができ特定の形態に限定されない。
なお、上記説明では、各種カレントミラー比が等しいものとして説明をしたが、任意の出力電圧で任意の温度特性を持つ電圧を出力する目的に関する限り、特定のカレントミラー比に限定されない。
なお、NMOSトランジスタ115とNMOSトランジスタ117は同じサイズのトランジスタであると記載したが、PMOSトランジスタ114に流れる電流値や抵抗131を調節してノードXとノードZの電圧値を調節できれば同じサイズに限定されない。
なお、上記説明では、各種抵抗に温度依存性がないものとして説明をしたが、温度依存性があっても良い。電流Iも電流Izも明らかに抵抗に反比例する関係で与えられ、これらに基づいて生成される電流が抵抗に流入することにより生成する出力電圧は、抵抗値には直接的には拠らない。この為、抵抗が同種の温度依存性である条件を満たしさえすれば、温度依存性があっても、上記説明同様の効果が期待できることは明白である。
なお、基準電流発生回路141の構成は、電流Iを生成する目的に関する限り、第一の実施形態の構成に限るものではない。
なお、電流発生回路140の構成は、電流Izを生成する目的に関する限り、第一の実施形態の構成に限るものではない。
なお、電圧発生回路142の構成は、出力電圧を発生させる目的に関する限り、第一の実施形態の構成に限るものではない。
以上に説明したように、第一の実施形態の基準電圧回路によれば、負の温度特性を持つ電圧と正の温度特性を持つ電圧の和を適当に与えることにより、任意の出力電圧で任意の温度特性を得ることができる。
<第二の実施形態>
図3は、第二の実施形態の基準電圧回路の回路図である。図2との違いは基準電流発生回路141の構成を変更した点である。
第二の実施形態の基準電圧回路においては、PMOSトランジスタ116、118と、NMOSトランジスタ202と、抵抗132と、PN接合素子102、103と、アンプ201で基準電流発生回路241を構成している。他は図2の第一の実施形態の基準電圧回路と同様である。
接続に関して説明する。アンプ201は、反転入力端子はNMOSトランジスタ202のソースとPN接合素子102のアノードに接続され、非反転入力端子は抵抗132の一方の端子とPMOSトランジスタ118のドレインに接続され、出力端子はPMOSトランジスタ114のゲートとPMOSトランジスタ116のゲートと、PMOSトランジスタ118のゲートとPMOSトランジスタ120のゲートに接続される。NMOSトランジスタ202のゲートとドレインはNMOSトランジスタ115のゲートとPMOSトランジスタ116のドレインに接続される。他は図2の第一の実施形態の基準電圧回路の接続と同様である。
次に、第二の実施形態の基準電圧回路の動作について説明する。便宜上、簡単の為、抵抗131、132、104、105は、温度依存性がないと仮定して説明をする。PN接合素子102、103は適当な面積比(たとえば1対4等)で構成され、基準電流発生回路241は(式2)に示される電流を生成する。抵抗132に温度依存性がないと仮定している為、生成する電流は正の温度特性を持つ。
Figure 0006061589
mはPN接合素子102、103の面積比、R132は抵抗132の抵抗値、kはボルツマン定数、Tは温度、qは電荷を表す。
PMOSトランジスタ114、116、118、120は、カレントミラーを構成しており、この為、サイズに基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Iが流れるとして説明する。NMOSトランジスタ115とNMOSトランジスタ202は同じサイズのトランジスタであり、ゲートが共通接続されている。NMOSトランジスタ202のソースをノードX、NMOSトランジスタ115のソースをノードZ、抵抗104の一方の端子と抵抗105の一方の端子の接続点をノードWとする。
NMOSトランジスタ115とPMOSトランジスタ113とは、負帰還ループを構成している。このことにより、NMOSトランジスタ115には、PMOSトランジスタ114が提供する電流Iが安定的に流入し、動作点が適当に決定される。NMOSトランジスタ115とNMOSトランジスタ202とはゲート電圧を等しく与えられ、またドレイン電流も等しく与えられる為、ノードXとノードZは同じ電圧となる。抵抗131の抵抗値をR131、PN接合素子102に発生する電圧をV102とする。PMOSトランジスタ113に流れる電流をIzとする。抵抗131には、電流IとIzとが流れる為、R131×(I+Iz)なる電圧が発生し、またノードXとノードZは同じ電圧であることから、この電圧はV102と等しくなる。
PMOSトランジスタ111はPMOSトランジスタ112とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ112の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Izが流れるとして説明する。PMOSトランジスタ120はPMOSトランジスタ116とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ116の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Iが流れるとして説明する。抵抗105の抵抗値をR105とすると、抵抗105にはこれらを用いることにより、所定の電流I+Izが流れる為、R105×(I+Iz)の電圧が発生する。簡単の為、便宜上、R105とR131を等しく与えれば、すなわち、ノードZの電圧R131×(I+Iz)とノードWの電圧R105×(I+Iz)の電圧は等しくなる。
PN接合素子102に発生するノードXの電圧は負の温度特性を持つ。この為、ノードZの電圧とノードWの電圧も同様に負の温度特性を持つ。
基準電流発生回路241で生成された電流は、正の温度特性を持つ為、PMOSトランジスタ120に流れる電流Iもまた、正の温度特性を持つ。抵抗104の抵抗値をR104とすると抵抗104の両端に発生する電圧は、I×R104となり、これは正の温度特性を持つ。
負の温度特性を持つノードWの電圧R105×(I+Iz)と正の温度特性を持つ抵抗104の両端に発生する電圧I×R104の和を適当に与えることにより、出力端子106に、任意の出力電圧で任意の温度特性を持つ電圧を出力することができる。例えば、PMOSトランジスタ116とPMOSトランジスタ120のカレントミラー比、PMOSトランジスタ116とPMOSトランジスタ114のカレントミラー比、PMOSトランジスタ112とPMOSトランジスタ111のカレントミラー比、抵抗104と抵抗105の抵抗値を調節することにより、このことが可能となる。
また、図8に示す電流発生回路140ように抵抗131を131ra、131rb、131rcに分けて構成し、それぞれの抵抗の接続点と、PMOSトランジスタ113のドレインとの間にスイッチ素子131sa、131sb、131scを接続してもよい。これらのスイッチ素子を任意に切り替えて電流Izを調節することで、出力端子106の電圧を調節することが可能となる。抵抗131の構成は、直列、並列の接続、及び本数は実施形態の構成に限るものでなく、スイッチの素材や個数もトランジスタやヒューズでも良く、実施形態の構成に限るものではない。
なお、PN接合素子はダイオードやバイポーラトランジスタの飽和結線、弱反転動作するMOSトランジスタを用いることができ特定の形態に限定されない。
なお、上記説明では、各種カレントミラー比が等しいものとして説明をしたが、任意の出力電圧で任意の温度特性を持つ電圧を出力する目的に関する限り、特定のカレントミラー比に限定されない。
なお、NMOSトランジスタ115とNMOSトランジスタ117は同じサイズのトランジスタであると記載したが、PMOSトランジスタ114に流れる電流値や抵抗131を調節してノードXとノードZの電圧値を調節できれば同じサイズに限定されない。
なお、上記説明では、各種抵抗に温度依存性がないものとして説明をしたが、温度依存性があっても良い。電流Iも電流Izも明らかに抵抗に反比例する関係で与えられ、これらに基づいて生成される電流が抵抗に流入することにより生成する出力電圧は、抵抗値には直接的には拠らない。この為、抵抗が同種の温度依存性である条件を満たしさえすれば、温度依存性があっても、上記説明同様の効果が期待できることは明白である。
なお、基準電流発生回路241の構成は、電流Iを生成する目的に関する限り、第二の実施形態の構成に限るものではない。
なお、電流発生回路140の構成は、電流Izを生成する目的に関する限り、第二の実施形態の構成に限るものではない。
なお、電圧発生回路142の構成は、出力電圧を発生させる目的に関する限り、第二の実施形態の構成に限るものではない。
以上に説明したように、第二の実施形態の基準電圧回路によれば、負の温度特性を持つ電圧と正の温度特性を持つ電圧の和を適当に与えることにより、任意の出力電圧で任意の温度特性を得ることができる。
<第三の実施形態>
図4は、第三の実施形態の基準電圧回路の回路図である。図2との違いは電流発生回路140の構成を変更した点である。
第三の実施形態の基準電圧回路においては、PMOSトランジスタ301、302と、NMOSトランジスタ304と、抵抗131と、アンプ303で電流発生回路340を構成している。他は図2の第一の実施形態の基準電圧回路と同様である。
接続に関して説明する。アンプ303は、反転入力端子はNMOSトランジスタ304のソースと抵抗131の一方の端子に接続され、非反転入力端子はNMOSトランジスタ117のソースとPN接合素子102のアノードに接続され、出力端子はNMOSトランジスタ304のゲートに接続される。抵抗131のもう一方の端子はグラウンド端子100に接続される。PMOSトランジスタ302は、ゲート及びドレインはNMOSトランジスタ304のドレインに接続され、ソースは電源端子101に接続される。PMOSトランジスタ301は、ゲートはPMOSトランジスタ302のゲートに接続され、ドレインは抵抗104の一方の端子と抵抗105の一方の端子の接続点に接続され、ソースは電源端子101に接続される。他は図2の第一の実施形態の基準電圧回路の接続と同様である。
次に、第三の実施形態の基準電圧回路の動作について説明する。便宜上、簡単の為、抵抗131、132、104、105は、温度依存性がないと仮定して説明をする。PN接合素子102、103は適当な面積比(たとえば1対4等)で構成され、基準電流発生回路141は第一の実施形態と同様な電流を生成する。抵抗132に温度依存性がないと仮定している為、生成する電流は正の温度特性を持つ。NMOSトランジスタ117のソースをノードX、NMOSトランジスタ304のソースをノードZ、抵抗104の一方の端子と抵抗105の一方の端子の接続点をノードWとする。
アンプ303とNMOSトランジスタ304とは、負帰還ループを構成している。このことにより、ノードXとノードZの電圧は同じ電圧に制御される。
抵抗131の抵抗値をR131、PN接合素子102に発生する電圧をV102とする。PMOSトランジスタ302に流れる電流をIzとする。抵抗131には、電流Izが流れる為、R131×Izなる電圧が発生し、またノードXとノードZは同じ電圧であることから、この電圧はV102と等しくなる。
PMOSトランジスタ301はPMOSトランジスタ302とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ302の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Izが流れるとして説明する。PMOSトランジスタ120はPMOSトランジスタ118とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ118の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Iが流れるとして説明する。抵抗105の抵抗値をR105とすると、抵抗105にはこれらを用いることにより、所定の電流I+Izが流れる為、R105×(I+Iz)の電圧が発生する。
PN接合素子102に発生するノードXの電圧は負の温度特性を持つ。この為、ノードZの電圧も同様に負の温度特性を持つ。
すなわち、R131×Izは負の温度特性を持つ為、これを抵抗比倍した値である抵抗105に発生する電圧成分R105×Izもまた、負の温度特性を持つ。
一方、基準電流発生回路141で生成された電流は、正の温度特性を持つ為、PMOSトランジスタ120に流れる電流Iもまた、正の温度特性を持つ。抵抗104の抵抗値をR104とすると抵抗104の両端に発生する電圧成分R104×Iと、抵抗105に発生する電圧成分R105×Iの和は、正の温度特性を持つことになる。
負の温度特性を持つ電圧成分R131×Izと、正の温度特性を持つ電圧成分R104×IとR105×Iとの和を適当に与えることにより、出力端子106に、任意の出力電圧で任意の温度特性を持つ電圧を出力することができる。例えば、PMOSトランジスタ116とPMOSトランジスタ120のカレントミラー比、PMOSトランジスタ302とPMOSトランジスタ301のカレントミラー比、抵抗104と抵抗105の抵抗値を調節することにより、このことが可能となる。
また、図9に示す電流発生回路340ように抵抗131を131ra、131rb、131rcに分けて構成し、それぞれの抵抗の接続点と、アンプの反転入力端子との間にスイッチ素子131sa、131sb、131scを接続してもよい。これらのスイッチ素子を任意に切り替えて出力端子106の電圧を調節することで、出力端子106の電圧を調節することが可能となる。抵抗131の構成は、直列、並列の接続、及び本数は実施形態の構成に限るものでなく、スイッチの素材や個数もトランジスタやヒューズでも良く、実施形態の構成に限るものではない。
なお、PN接合素子はダイオードやバイポーラトランジスタの飽和結線、弱反転動作するMOSトランジスタを用いることができ特定の形態に限定されない。
なお、上記説明では、各種カレントミラー比が等しいものとして説明をしたが、任意の出力電圧で任意の温度特性を持つ電圧を出力する目的に関する限り、特定のカレントミラー比に限定されない。
なお、アンプ303は、ノードXとノードZの電圧値を調節できれば、一形態に限定されない。
なお、上記説明では、各種抵抗に温度依存性がないものとして説明をしたが、温度依存性があっても良い。電流Iも電流Izも明らかに抵抗に反比例する関係で与えられ、これらに基づいて生成される電流が抵抗に流入することにより生成する出力電圧は、抵抗値には直接的には拠らない。この為、抵抗が同種の温度依存性である条件を満たしさえすれば、温度依存性があっても、上記説明同様の効果が期待できることは明白である。
なお、基準電流発生回路141の構成は、電流Iを生成する目的に関する限り、第三の実施形態の構成に限るものではない。
なお、電流発生回路340の構成は、電流Izを生成する目的に関する限り、第三の実施形態の構成に限るものではない。
なお、電圧発生回路142の構成は、出力電圧を発生させる目的に関する限り、第三の実施形態の構成に限るものではない。
以上に説明したように、第三の実施形態の基準電圧回路によれば、負の温度特性を持つ電圧と正の温度特性を持つ電圧の和を適当に与えることにより、任意の出力電圧で任意の温度特性を得ることができる。
<第四の実施形態>
図5は、第四の実施形態の基準電圧回路の回路図である。図3との違いは電流発生回路140の構成を変更し、NMOSトランジスタ202を削除した点である。
第四の実施形態の基準電圧回路は、PMOSトランジスタ301、302と、NMOSトランジスタ304と、抵抗131と、アンプ303で電流発生回路340を構成している。他は図3の第二の実施形態の基準電圧回路と同様である。
接続に関して説明する。アンプ303は、反転入力端子はNMOSトランジスタ304のソースと抵抗131の一方の端子に接続され、非反転入力端子はPN接合素子102のアノードとPMOSトランジスタ116のドレインとアンプ201の反転入力端子に接続され、出力端子はNMOSトランジスタ304のゲートに接続される。抵抗131のもう一方の端子はグラウンド端子100に接続される。PMOSトランジスタ302は、ゲート及びドレインはNMOSトランジスタ304のドレインに接続され、ソースは電源端子101に接続される。PMOSトランジスタ301は、ゲートはPMOSトランジスタ302のゲートに接続され、ドレインは抵抗104と抵抗105の接続点に接続され、ソースは電源端子101に接続される。他は図3の第二の実施形態の基準電圧回路の接続と同様である。
次に、第四の実施形態の基準電圧回路の動作について説明する。便宜上、簡単の為、抵抗131、132、104、105は、温度依存性がないと仮定して説明をする。PN接合素子102、103は適当な面積比(たとえば1対4等)で構成され、基準電流発生回路441は第二の実施形態と同様に抵抗132に温度依存性がないとすると正の温度特性を持った電流を生成する。PN接合素子102のアノードをノードX、NMOSトランジスタ304のソースをノードZ、抵抗104と抵抗105の接続点をノードWとする。
アンプ303とNMOSトランジスタ304とは、負帰還ループを構成している。このことにより、ノードXとノードZの電圧は同じ電圧に制御される。
抵抗131の抵抗値をR131、PN接合素子102に発生する電圧をV102とする。PMOSトランジスタ302に流れる電流をIzとする。抵抗131には、電流Izが流れる為、R131×Izなる電圧が発生し、またノードXとノードZは同じ電圧であることから、この電圧はV102と等しくなる。
PMOSトランジスタ301はPMOSトランジスタ302とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ302の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Izが流れるとして説明する。PMOSトランジスタ120はPMOSトランジスタ118とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ118の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Iが流れるとして説明する。抵抗105の抵抗値をR105とすると、抵抗105にはこれらを用いることにより、所定の電流I+Izが流れる為、R105×(I+Iz)の電圧が発生する。
PN接合素子102に発生するノードXの電圧は負の温度特性を持つ。この為、ノードZの電圧も同様に負の温度特性を持つ。
すなわち、R131×Izは負の温度特性を持つ為、これを抵抗比倍した値である抵抗105に発生する電圧成分R105×Izもまた、負の温度特性を持つ。
一方、基準電流発生回路441で生成された電流は、正の温度特性を持つ為、PMOSトランジスタ120に流れる電流Iもまた、正の温度特性を持つ。抵抗104の抵抗値をR104とすると抵抗104の両端に発生する電圧成分R104×Iと、抵抗105に発生する電圧成分R105×Iの和は、正の温度特性を持つことになる。
負の温度特性を持つ電圧成分R131×Izと、正の温度特性を持つ電圧成分R104×IとR105×Iとの和を適当に与えることにより、出力端子106に、任意の出力電圧で任意の温度特性を持つ電圧を出力することができる。例えば、PMOSトランジスタ116とPMOSトランジスタ120のカレントミラー比、PMOSトランジスタ302とPMOSトランジスタ301のカレントミラー比、抵抗104と抵抗105の抵抗値を調節することにより、このことが可能となる。
また、図9に示す電流発生回路340ように抵抗131を131ra、131rb、131rcに分けて構成し、それぞれの抵抗の接続点と、アンプの反転入力端子との間にスイッチ素子131sa、131sb、131scを接続してもよい。これらのスイッチ素子を任意に切り替えて出力端子106の電圧を調節することで、出力端子106の電圧を調節することが可能となる。抵抗131の構成は、直列、並列の接続、及び本数は実施形態の構成に限るものでなく、スイッチの素材や個数もトランジスタやヒューズでも良く、実施形態の構成に限るものではない。
なお、PN接合素子はダイオードやバイポーラトランジスタの飽和結線、弱反転動作するMOSトランジスタを用いることができ特定の形態に限定されない。
なお、上記説明では、各種カレントミラー比が等しいものとして説明をしたが、任意の出力電圧で任意の温度特性を持つ電圧を出力する目的に関する限り、特定のカレントミラー比に限定されない。
なお、アンプ303は、ノードXとノードZの電圧値を調節できれば、一形態に限定されない。
なお、上記説明では、各種抵抗に温度依存性がないものとして説明をしたが、温度依存性があっても良い。電流Iも電流Izも明らかに抵抗に反比例する関係で与えられ、これらに基づいて生成される電流が抵抗に流入することにより生成する出力電圧は、抵抗値には直接的には拠らない。この為、抵抗が同種の温度依存性である条件を満たしさえすれば、温度依存性があっても、上記説明同様の効果が期待できることは明白である。
なお、基準電流発生回路441の構成は、電流Iを生成する目的に関する限り、第四の実施形態の構成に限るものではない。
なお、電流発生回路340の構成は、電流Izを生成する目的に関する限り、第四の実施形態の構成に限るものではない。
なお、電圧発生回路142の構成は、出力電圧を発生させる目的に関する限り、第四の実施形態の構成に限るものではない。
以上に説明したように、第四の実施形態の基準電圧回路によれば、負の温度特性を持つ電圧と正の温度特性を持つ電圧の和を適当に与えることにより、任意の出力電圧で任意の温度特性を得ることができる。
<第五の実施形態>
図6は、第五の実施形態の基準電圧回路の回路図である。図2との違いは電流発生回路140、電圧発生回路142の構成を変更した点である。
第五の実施形態の基準電圧回路は、PMOSトランジスタ511、520と、抵抗504、505と、出力端子506を備えている。PMOSトランジスタ111、112、113、114、511と、NMOSトランジスタ115と、抵抗131で電流発生回路540を構成している。PMOSトランジスタ120、520と、抵抗104、105、504、505で電圧発生回路542を構成している。他は図2の第一の実施形態の基準電圧回路と同様である。
接続に関して説明する。PMOSトランジスタ511は、ゲートはPMOSトランジスタ111のゲートに接続され、ドレインは抵抗504の一方の端子と抵抗505の一方の端子の接続点に接続され、ソースは電源端子101に接続される。抵抗505のもう一方の端子はグラウンド端子100に接続される。PMOSトランジスタ520は、ゲートはPMOSトランジスタ120のゲートに接続され、ソースは電源端子101に接続され、ドレインは出力端子506及び抵抗504のもう一方の端子に接続される。他は図2の第一の実施形態の基準電圧回路の接続と同様である。
次に、第五の実施形態の基準電圧回路の動作について説明する。便宜上、簡単の為、抵抗131、132、104、105、504、505は、温度依存性がないと仮定して説明をする。PN接合素子102、103は適当な面積比(たとえば1対4等)で構成され、基準電流発生回路141は第一の実施形態と同様に抵抗132に温度依存性がないとすると正の温度特性を持った電流を生成する。PN接合素子102のアノードをノードX、NMOSトランジスタ115のソースをノードZ、抵抗104と抵抗105の接続点をノードW、抵抗504と抵抗505の接続点をノードYとする。
NMOSトランジスタ115とPMOSトランジスタ113とは、負帰還ループを構成している。このことにより、NMOSトランジスタ115には、PMOSトランジスタ114が提供する電流Iが安定的に流入し、動作点が適当に決定される。NMOSトランジスタ115とNMOSトランジスタ117とはゲート電圧を等しく与えられ、またドレイン電流も等しく与えられる為、ノードXとノードZは同じ電圧となる。抵抗131の抵抗値をR131、PN接合素子102に発生する電圧をV102とする。PMOSトランジスタ113に流れる電流をIzとする。抵抗131には、電流IとIzとが流れる為、R131×(I+Iz)なる電圧が発生し、またノードXとノードZは同じ電圧であることから、この電圧はノードXの電圧V102と等しくなる。
PMOSトランジスタ111はPMOSトランジスタ112とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ112の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Izが流れるとして説明する。PMOSトランジスタ120はPMOSトランジスタ118とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ118の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Iが流れるとして説明する。抵抗105の抵抗値をR105とすると、抵抗105にはこれらを用いることにより、所定の電流I+Izが流れる為、R105×(I+Iz)の電圧が発生する。簡単の為、便宜上、R105とR131を等しく与えれば、すなわち、ノードZの電圧R131×(I+Iz)とノードWの電圧R105×(I+Iz)の電圧は等しくなる。
PMOSトランジスタ511はPMOSトランジスタ112とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ112の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Izが流れるとして説明する。PMOSトランジスタ520はPMOSトランジスタ118とカレントミラーを構成しており、この為、PMOSトランジスタ118の電流に基づいた電流が流れる。簡単の為、便宜上、同じ大きさの電流Iが流れるとして説明する。抵抗505の抵抗値をR505とすると、抵抗505にはこれらを用いることにより、所定の電流I+Izが流れる為、R505×(I+Iz)の電圧が発生する。簡単の為、便宜上、R505とR131を等しく与えれば、すなわち、ノードZの電圧R131×(I+Iz)とノードYの電圧R505×(I+Iz)の電圧は等しくなる。
PN接合素子102に発生するノードXの電圧は負の温度特性を持つ。この為、ノードZの電圧とノードW、ノードYの電圧も同様に負の温度特性を持つ。
基準電流発生回路141で生成された電流は、正の温度特性を持つ為、PMOSトランジスタ120、520に流れる電流Iもまた、正の温度特性を持つ。抵抗104の抵抗値をR104とすると抵抗104の両端に発生する電圧は、I×R104となり、これは正の温度特性を持つ。抵抗504の抵抗値をR504とすると抵抗504の両端に発生する電圧は、I×R504となり、これは正の温度特性を持つ。
負の温度特性を持つノードWの電圧R105×(I+Iz)と正の温度特性を持つ抵抗104の両端に発生する電圧I×R104の和を適当に与えることにより、出力端子106に、任意の出力電圧で任意の温度特性を持つ電圧を出力することができる。例えば、PMOSトランジスタ118とPMOSトランジスタ120のカレントミラー比、PMOSトランジスタ118とPMOSトランジスタ114のカレントミラー比、PMOSトランジスタ112とPMOSトランジスタ111のカレントミラー比、抵抗104と抵抗105の抵抗値を調節することにより、このことが可能となる。
負の温度特性を持つノードYの電圧R505×(I+Iz)と正の温度特性を持つ抵抗504の両端に発生する電圧I×R504の和を適当に与えることにより、出力端子506に、任意の出力電圧で任意の温度特性を持つ電圧を出力することができる。例えば、PMOSトランジスタ118とPMOSトランジスタ520のカレントミラー比、PMOSトランジスタ118とPMOSトランジスタ114のカレントミラー比、PMOSトランジスタ112とPMOSトランジスタ511のカレントミラー比、抵抗504と抵抗505の抵抗値を調節することにより、このことが可能となる。
また、図8に示す電流発生回路140ように抵抗131を131ra、131rb、131rcに分けて構成し、それぞれの抵抗の接続点と、PMOSトランジスタ113のドレインとの間にスイッチ素子131sa、131sb、131scを接続してもよい。これらのスイッチ素子を任意に切り替えて電流Izを調節することで、出力端子106、506の電圧を調節することが可能となる。抵抗131の構成は、直列、並列の接続、及び本数は実施形態の構成に限るものでなく、スイッチの素材や個数もトランジスタやヒューズでも良く、実施形態の構成に限るものではない。
なお、PN接合素子はダイオードやバイポーラトランジスタの飽和結線、弱反転動作するMOSトランジスタを用いることができ特定の形態に限定されない。
なお、上記説明では、各種カレントミラー比が等しいものとして説明をしたが、任意の出力電圧で任意の温度特性を持つ電圧を出力する目的に関する限り、特定のカレントミラー比に限定されない。
なお、NMOSトランジスタ115とNMOSトランジスタ117は同じサイズのトランジスタであると記載したが、PMOSトランジスタ114に流れる電流値や抵抗131を調節してノードXとノードZの電圧値を調節できれば同じサイズに限定されない。
なお、上記説明では、各種抵抗に温度依存性がないものとして説明をしたが、温度依存性があっても良い。電流Iも電流Izも明らかに抵抗に反比例する関係で与えられ、これらに基づいて生成される電流が抵抗に流入することにより生成する出力電圧は、抵抗値には直接的には拠らない。この為、抵抗が同種の温度依存性である条件を満たしさえすれば、温度依存性があっても、上記説明同様の効果が期待できることは明白である。
なお、基準電流発生回路141の構成は、電流Iを生成する目的に関する限り、第五の実施形態の構成に限るものではない。
なお、電流発生回路540の構成は、電流Izを生成する目的に関する限り、第五の実施形態の構成に限るものではない。
なお、電圧発生回路542の構成は、出力電圧を発生させる目的に関する限り、第五の実施形態の構成に限るものではない。
なお、第五の実施形態では二つの出力電圧を例に説明したが、出力電圧をさらに増やしても同様に電流発生回路540の出力の数を増やすことで任意の温度特性で任意の出力電圧値に調節することが可能である。また、電流発生回路540の数を増やし出力端子106、506の電圧を個別に調整してもよい。
以上に説明したように、第五の実施形態の基準電圧回路によれば、負の温度特性を持つ電圧と正の温度特性を持つ電圧の和を適当に与えることにより、任意の出力電圧で任意の温度特性を得ることができる。また、出力電圧や温度特性の異なる第二の電圧を出力することができる。
11 基準電流発生回路
12 電流発生回路
13 電圧発生回路
102、103 PN接合素子
201 アンプ

Claims (6)

  1. 複数のPN接合素子の順方向電圧の差を電流変換し、第一の電流を発生する基準電流発生回路と、
    前記基準電流発生回路で発生した前記第一の電流を用いて第二の電流を発生させる電流発生回路と、
    前記第一の電流が流れることによって正の温度特性を有する第一の電圧を発生させる第一の抵抗と、前記第一の電流と前記第二の電流が流れることによって負の温度特性を有する第二の電圧を発生させる第二の抵抗と、を有する電圧発生回路と、を備え、
    前記電流発生回路は、前記第一の電流に基づく電流と、前記第二の電流に基づく電流の両方が流れる第三の抵抗を有し、
    前記第一の電圧と、前記第三の抵抗に発生する電圧に基づく前記第二の電圧を加算した基準電圧を出力する基準電圧回路。
  2. 前記電流発生回路は、
    ゲートが前記基準電流発生回路に接続され、前記第一の電流に基づく電流を流す第一のトランジスタと、
    ゲートが前記基準電流発生回路に接続され、ドレインが前記第一のトランジスタのドレインに接続され、前記第一の電流に基づく電流を流す第二のトランジスタと、
    ゲートが前記第一のトランジスタのドレインに接続され、ドレインが前記第二のトランジスタのソースに接続され、前記第二の電流を流す第三のトランジスタと、
    前記第二のトランジスタのソースと前記第三のトランジスタのドレインに接続され、前記第一の電流に基づく電流と前記第二の電流を流す第三の抵抗と、
    ゲート及びドレインが前記第三のトランジスタのソースに接続された第四のトランジスタと、
    ゲートが前記第四のトランジスタのゲートに接続され、ドレインが前記電圧発生回路に接続され、前記第二の抵抗に前記第二の電流を流す第五のトランジスタと、
    を備えたことを特徴とする請求項1に記載の基準電圧回路。
  3. 前記基準電流発生回路は、
    ゲート及びドレインが前記第一のトランジスタのゲートに接続された第六のトランジスタと、
    ゲートが前記第六のトランジスタのゲート及びドレインに接続された第七のトランジスタと、
    ゲート及びドレインが前記第二のトランジスタのゲートと前記第七のトランジスタのドレインに接続された第八のトランジスタと、
    ゲートが前記第八のトランジスタのゲート及びドレインに接続され、ドレインが前記第六のトランジスタのドレインに接続された第九のトランジスタと、
    前記第八のトランジスタのソースに接続された第一のPN接合素子と、
    一端が前記第九のトランジスタのソースに接続された第四の抵抗と、
    前記第四の抵抗の他端に接続された第二のPN接合素子と、
    を備えたことを特徴とする請求項2に記載の基準電圧回路。
  4. 前記基準電流発生回路は、
    ゲートが前記第一のトランジスタのゲートに接続された第六のトランジスタと、
    ゲートが前記第六のトランジスタのゲートに接続された第七のトランジスタと、
    ゲート及びドレインが前記第二のトランジスタのゲートと前記第七のトランジスタのドレインに接続された第八のトランジスタと、
    反転入力端子が前記第八のトランジスタのソースに接続され、非反転入力端子が前記第六のトランジスタのドレインに接続され、出力端子が前記第六及び第七のトランジスタのゲートに接続されたアンプと、
    前記第八のトランジスタのソースに接続された第一のPN接合素子と、
    一端が前記第六のトランジスタのドレインに接続された第四の抵抗と、
    前記第四の抵抗の他端に接続された第二のPN接合素子と、
    を備えたことを特徴とする請求項2に記載の基準電圧回路。
  5. 前記第三の抵抗は、
    前記第三のトランジスタのドレインと前記第二のトランジスタのソースの間に接続された第一のスイッチ素子と、
    前記第二のトランジスタのソースに接続され、直列に複数の抵抗で構成される第五の抵抗と、
    前記直列に複数の抵抗で構成された第五の抵抗の接続点に接続された第二のスイッチ素子と、を備えることを特徴とする請求項2から4のいずれかに記載の基準電圧回路。
  6. 前記電流発生回路は、複数の前記第二の電流を出力し、
    前記電圧発生回路は、前記複数の第二の電流を受けて、複数の基準電圧を発生する
    ことを特徴とする請求項1からのいずれかに記載の基準電圧回路。
JP2012212944A 2012-03-22 2012-09-26 基準電圧回路 Expired - Fee Related JP6061589B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012212944A JP6061589B2 (ja) 2012-03-22 2012-09-26 基準電圧回路
CN201380015584.3A CN104204986B (zh) 2012-03-22 2013-01-28 基准电压电路
PCT/JP2013/051707 WO2013140852A1 (ja) 2012-03-22 2013-01-28 基準電圧回路
KR1020147026213A KR101995697B1 (ko) 2012-03-22 2013-01-28 기준 전압 회로
TW102104381A TWI570537B (zh) 2012-03-22 2013-02-05 Reference voltage circuit
US14/490,399 US9910452B2 (en) 2012-03-22 2014-09-18 Reference-voltage circuit

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012065976 2012-03-22
JP2012065976 2012-03-22
JP2012212944A JP6061589B2 (ja) 2012-03-22 2012-09-26 基準電圧回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013225282A JP2013225282A (ja) 2013-10-31
JP6061589B2 true JP6061589B2 (ja) 2017-01-18

Family

ID=49222319

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012212944A Expired - Fee Related JP6061589B2 (ja) 2012-03-22 2012-09-26 基準電圧回路

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9910452B2 (ja)
JP (1) JP6061589B2 (ja)
KR (1) KR101995697B1 (ja)
CN (1) CN104204986B (ja)
TW (1) TWI570537B (ja)
WO (1) WO2013140852A1 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140080725A (ko) * 2012-12-14 2014-07-01 에스케이하이닉스 주식회사 음전압 조절 회로 및 이를 포함하는 전압 생성 회로
EP2784934B1 (en) 2013-03-25 2020-09-23 Dialog Semiconductor B.V. Electronic biasing circuit for constant transconductance
CN104977975B (zh) * 2014-04-14 2017-04-12 奇景光电股份有限公司 温度非相关的整合电压源与电流源
US10007289B2 (en) * 2016-11-01 2018-06-26 Dialog Semiconductor (Uk) Limited High precision voltage reference circuit
JP6785705B2 (ja) * 2017-03-31 2020-11-18 エイブリック株式会社 過電流保護回路及びボルテージレギュレータ
CN108536208B (zh) * 2018-05-10 2020-09-25 上海华虹宏力半导体制造有限公司 偏置电流电路
US10739808B2 (en) 2018-05-31 2020-08-11 Richwave Technology Corp. Reference voltage generator and bias voltage generator
JP7334081B2 (ja) * 2019-07-29 2023-08-28 エイブリック株式会社 基準電圧回路
US11287840B2 (en) * 2020-08-14 2022-03-29 Semiconductor Components Industries, Llc Voltage reference with temperature compensation
CN112034922B (zh) * 2020-11-06 2021-01-15 成都铱通科技有限公司 一种带精确阈值的正温度系数偏置电压生成电路
US11762410B2 (en) 2021-06-25 2023-09-19 Semiconductor Components Industries, Llc Voltage reference with temperature-selective second-order temperature compensation

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06309062A (ja) 1993-04-21 1994-11-04 Nec Corp 時刻調整機能付き端末装置
JPH06309052A (ja) 1993-04-23 1994-11-04 Nippon Steel Corp バンドギャップレギュレータ
US6384586B1 (en) * 2000-12-08 2002-05-07 Nec Electronics, Inc. Regulated low-voltage generation circuit
JP2003345449A (ja) * 2002-05-23 2003-12-05 Yasu Semiconductor Corp 基準電圧発生回路
JP4093819B2 (ja) * 2002-08-09 2008-06-04 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路
JP4517062B2 (ja) * 2004-02-24 2010-08-04 泰博 杉本 定電圧発生回路
US7372316B2 (en) * 2004-11-25 2008-05-13 Stmicroelectronics Pvt. Ltd. Temperature compensated reference current generator
JP2008123480A (ja) * 2006-10-16 2008-05-29 Nec Electronics Corp 基準電圧発生回路
CN101197124A (zh) * 2008-01-09 2008-06-11 友达光电股份有限公司 液晶显示装置及其能带隙参考电压电路
JP5123679B2 (ja) * 2008-01-28 2013-01-23 ルネサスエレクトロニクス株式会社 基準電圧生成回路及びその起動制御方法
JP2009217809A (ja) * 2008-02-12 2009-09-24 Seiko Epson Corp 基準電圧生成回路、集積回路装置および信号処理装置
KR101069713B1 (ko) * 2009-10-30 2011-10-04 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 전압 트리밍 회로 및 방법
US8680840B2 (en) * 2010-02-11 2014-03-25 Semiconductor Components Industries, Llc Circuits and methods of producing a reference current or voltage

Also Published As

Publication number Publication date
KR101995697B1 (ko) 2019-07-03
US9910452B2 (en) 2018-03-06
US20150002131A1 (en) 2015-01-01
TWI570537B (zh) 2017-02-11
WO2013140852A1 (ja) 2013-09-26
CN104204986A (zh) 2014-12-10
CN104204986B (zh) 2016-08-17
JP2013225282A (ja) 2013-10-31
TW201339795A (zh) 2013-10-01
KR20140138184A (ko) 2014-12-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6061589B2 (ja) 基準電圧回路
JP4499696B2 (ja) 基準電流生成装置
CN101231536B (zh) 具有可调节温度系数的偏流发生装置
TWI521326B (zh) 帶隙參考電壓產生電路
CN106200732A (zh) 生成输出电压的电路及低压降稳压器的输出电压的设置方法
KR20120056222A (ko) 정전류 회로 및 기준 전압 회로
JP2006262348A (ja) 半導体回路
CN109857185A (zh) 包括带隙参考电路的电路
JP2017134756A (ja) 電圧電流変換回路及びこれを備えたスイッチングレギュレータ
CN103324232B (zh) 基准电压电路
JP2005063026A (ja) 基準電圧発生回路
JP2006277360A (ja) 定電流回路、および定電流生成方法
US20100264980A1 (en) Temperature-compensated voltage comparator
JP2010086056A (ja) 定電流回路
JP3556482B2 (ja) 定電圧発生回路
JP2019106094A (ja) 電流生成回路
US20130063201A1 (en) Reference voltage circuit
KR100930500B1 (ko) 비교기를 이용한 밴드갭 기준회로
JP5884234B2 (ja) 基準電圧回路
JP5699515B2 (ja) 基準電圧発生回路
JP6045148B2 (ja) 基準電流発生回路および基準電圧発生回路
TWI564692B (zh) 能隙參考電路
JP2016057962A (ja) 基準電圧回路及び電源回路
JP2004310444A (ja) 電圧発生回路
CN101216717A (zh) 参考电压电路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150708

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20160112

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160920

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161115

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20161206

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20161213

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6061589

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees