JP2005063026A - 基準電圧発生回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】 温度依存性、電源電圧依存性の少ない、バンドギャップ電圧より低い基準電圧を発生する基準電圧発生回路において、素子数が少なく、レイアウトサイズが小さく、かつ消費電流が小さい基準電圧発生回路を提供する。
【解決手段】 基準電圧を生成して出力端子から出力する基準電圧発生回路において、カレントミラー回路により構成され、基準電流を出力する定電流源回路と、定電流源回路の出力に並列接続された第1及び第2の電流電圧変換回路とを有し、第2の電流電圧変換回路からバンドギャップ電圧より低い基準電圧を出力する構成である。
【選択図】 図1
【解決手段】 基準電圧を生成して出力端子から出力する基準電圧発生回路において、カレントミラー回路により構成され、基準電流を出力する定電流源回路と、定電流源回路の出力に並列接続された第1及び第2の電流電圧変換回路とを有し、第2の電流電圧変換回路からバンドギャップ電圧より低い基準電圧を出力する構成である。
【選択図】 図1
Description
本発明は、基準電圧発生回路に関し、電源電圧依存性及び温度依存性が少ない基準電圧発生回路に関する。
従来、電源電圧依存性及び温度依存性が少ない基準電圧発生回路としてバンドギャップ型基準電圧発生回路が知られている。しかし、半導体装置の低電圧化が進んでいる今日においては、バンドギャップ型基準電圧回路は出力基準電圧値が バンドギャップ電圧である約1.25Vで固定であり、低電圧値の基準電圧を発生できないという問題があった。
このための低電圧の基準電圧発生回路として、バンドギャップ型基準電圧発生回路を改良した構成が提案されている。以下に引用文献に記載された構成を説明する。図8は従来例の基準電圧発生回路の基本構成、図9は回路図を示す。従来例においては、第1電流源回路11と第2電流源回路12を電流加算回路13で加算し、加算された電流を電流電圧変換回路14において電圧変換させることにより、基準電圧Vrefを発生させている。
図9において、第1電流源回路11は、電源電位Vddと接地電位Vssとの間にソースを電源電位Vddに接続されたPMOSトランジスタP11と、PMOSトランジスタP11のドレインにアノードが接続され、カソードを接地電位Vssに接続されたダイオードD11とから構成された第1の電流パスと、ソースを電源電位Vddに接続されたPMOSトランジスタP12と、PMOSトランジスタP12のドレインに一端を接続された抵抗R11と、抵抗R11のもう一方の端子にアノードに接続され、カソードを接地電位Vssに接続されたダイオードD12とから構成された第2の電流パスと、PMOSトランジスタP11のドレインを反転入力とし、第2のPMOSトランジスタP12とのドレインを正転入力とし、出力をPMOSトランジスタP11及びPMOSトランジスタP12のゲート入力に供給する第1差動増幅器Amp11から構成されている。
第2電流源回路12は、ソースを電源電位Vddに接続されたPMOSトランジスタP15と、PMOSトランジスタP15のドレインに一端を接続され、他端を接地電位Vssに接続された抵抗R12とから構成された第3の電流パスと、PMOSトランジスタP11のドレインを反転入力とし、PMOSトランジスタP15とのドレインを正転入力とし、出力をPMOSトランジスタP15のゲート入力に供給する第2差動増幅器Amp12から構成されている。
電流加算回路13は、ソースを電源電位Vdd、ドレインを基準電圧出力端子15に接続され、ゲートには第1差動増幅器Amp11の出力が入力されるPMOSトランジスタP13と、ソースを電源電位Vdd、ドレインを基準電圧出力端子に接続され、ゲートには第2差動増幅器Amp12の出力が入力されるPMOSトランジスタP14とにより構成されている。電流電圧変換回路14は、一端を基準電圧出力端子に接続され、他端は接地電位Vssに接続された第3の抵抗R13により構成されている。
これらの構成において、PMOSトランジスタP11、P12、P13はカレントミラー回路を構成し、各PMOSトランジスタを流れる電流は等しくI01となる。また、同様にPMOSトランジスタP14、P15はカレントミラー回路を構成し、各PMOSトランジスタを流れる電流は等しくI02となる。従って、電流電圧変換回路14の抵抗R13に流れる電流は PMOSトランジスタP13を流れる電流I01とPMOSトランジスタP14を流れる電流I02を加算した電流となる。ここで、PMOSトランジスタP11、P12、P13、P14、P15を同一動作特性を有するように、そのサイズを同一のW/Lとし、ダイオードD12をダイオードD11のM個並列接続で構成され、ここでダイオードD11の順方向電圧をVfとすると、
第1電流源11の基準電流I01は
I01=(R11)−1(kT/q)lnM …… (1)
第2電流源12の基準電流I02は
I02=Vf(R12)−1 …… (2)
となる。
従って、出力される基準電圧 Vrefは
Vref=R13(I01+I02) …… (3)
ここで 式(1)、(2)を代入し、
Vref=(R13/R12){(R12/R11)(kT/q)lnM+Vf}…(4)
式(4)において、電源電位Vddの項がないことから電源電圧依存性がなく、また(kT/q)は正の温度依存性であり、Vfは負の温度依存性を有することから各抵抗値の比を適当に設定することで温度依存性のない、低電圧の基準電圧を発生させている。
第1電流源11の基準電流I01は
I01=(R11)−1(kT/q)lnM …… (1)
第2電流源12の基準電流I02は
I02=Vf(R12)−1 …… (2)
となる。
従って、出力される基準電圧 Vrefは
Vref=R13(I01+I02) …… (3)
ここで 式(1)、(2)を代入し、
Vref=(R13/R12){(R12/R11)(kT/q)lnM+Vf}…(4)
式(4)において、電源電位Vddの項がないことから電源電圧依存性がなく、また(kT/q)は正の温度依存性であり、Vfは負の温度依存性を有することから各抵抗値の比を適当に設定することで温度依存性のない、低電圧の基準電圧を発生させている。
この従来例においては、図9から判るように第1と第2の差動増幅器を2台、さらに電流源回路を2セット具備しており、そのため素子数が多くなり、素子数が多いことから、 レイアウトサイズが大きくなり、消費電流が大きくなるという問題点がある。
上記したように温度依存性、電源電圧依存性の少ない、バンドギャップ電圧より低い基準電圧を発生する従来の基準電圧発生回路においては、素子数が多く、レイアウトサイズが大きくなり、消費電流が大きくなるという問題点があった。
本発明は、前記課題を解決するために、基準電圧を生成して出力端子から出力する基準電圧発生回路において、カレントミラー回路により構成され、基準電流を出力する定電流源回路と、該定電流源回路の出力に並列接続された第1及び第2の電流電圧変換回路とを有し、該第2の電流電圧変換回路からバンドギャップ電圧より低い前記基準電圧を出力する構成とする。
また、第1の電流電圧変換回路は、定電流源回路の出力と接地電位との間に直列接続された第1の抵抗と順方向のダイオードを備え、第2の電流電圧変換回路は、定電流源回路の出力と接地電位との間に接続された第2の抵抗を備え、定電流源回路の出力と第1及び第2の電流電圧変換回路との接続点を出力端子とすることができる。
さらに、第1の電流電圧変換回路は、定電流回路の出力と接地電位との間に直列接続された第1の抵抗と順方向のダイオードを備え、第2の電流電圧変換回路は、定電流回路の出力と接地電位との間に直列接続された第2の抵抗と第3の抵抗とを備え、第2の抵抗と第3の抵抗との接続点を出力端子とすることができる。
また、基準電圧発生回路は、電源投入時に前記基準電圧発生回路を活性化させるためのスタートアップ回路をさらに有し、該スタートアップ回路は前記基準電圧を制御信号とすることができる。
本発明の基準電圧発生回路は、基準電圧を生成して出力端子から出力する基準電圧発生回路において、カレントミラー回路により構成され、基準電流を出力する定電流源回路と、該定電流源回路の出力に並列接続された第1及び第2の電流電圧変換回路とを有し、該第2の電流電圧変換回路からバンドギャップ電圧より低い前記基準電圧を出力する構成とすることで、温度依存性、電源電圧依存性の少ない、バンドギャップ電圧より低い基準電圧を、素子数の少ない回路で発生することができる。
本発明の実施例について図面1〜7を参照して、以下説明する。
図1は、本発明の基準電圧発生回路の基本構成ブロック図を示している。図2は図1の基本構成における実施例1の回路図を、図3は実施例1のSimulation Program with Integrated Circuit Emphasis (SPICE)シュミレーション結果を示している。 図2において、実施例1の基準電圧発生回路は、カレントミラー回路からなる定電流源回路1、定電流源回路1から出力される定電流を分流させ、各々の電流を電圧に変換する第1電流電圧変換回路2、及び第2電流電圧変換回路3により構成されている。このように第1、第2電流電圧変換回路とを有することで、バンドギャップ電圧以下の低電圧の基準電圧を発生する基準電圧発生回路が得られる。
図2をもちいて、実施例1を詳細に説明する。定電流源回路1は、ソースは電源電位Vddに接続され、ゲートはPMOSトランジスタM4のドレインに共通接続されたPMOSトランジスタM3、M4、M5と,ドレインとゲートはPMOSトランジスタM3のドレインに、そのソースは接地電位Vssに接続されたNMOSトランジスタM1と、ドレインはPMOSトランジスタM4のドレインに、そのソースは抵抗R1の一端に接続され、ゲートはNMOSトランジスタM1のゲートに共通接続されたNMOSトランジスタM2と、他端は接地電位Vssに接続された抵抗R1により構成されている。ここでPMOSトランジスタM4とM3、M4とM5、及びNMOSトランジスタM1とM2とはそれぞれカレントミラー回路を構成しており、各トランジスタを流れる電流は全て等しい Ioとなる。
第1電流電圧変換回路2は、定電流源回路1のPMOSトランジスタM5のドレインに一端を接続され、他端をダイオードD1のアノードに接続された抵抗R2と、抵抗R2と接地電位Vss間に接続されたダイオードD1とで構成され、定電流源回路1のPMOSトランジスタM5からの定電流Ioの一部の電流αIoを分流させる。第2電流電圧変換回路3は、定電流源1のPMOSトランジスタM5のドレインに一端を、他端を接地電位Vssに接続された抵抗R3で構成され、定電流源回路1のPMOSトランジスタM5からの定電流Ioの残りの一部(1−α)Ioを分流させる。ここで、定電流源回路1のPMOSトランジスタM5のドレインと第1,第2電流電圧変換回路の接続点が基準電圧Vrefの出力となり、基準電圧が得られることになる。
ここで、2つのカレントミラー回路を構成するPMOSトランジスタM3,M4、及びM5同じ特性を有するように、同サイズのW/Lとし(Lはゲートのチャンネル長、Wはゲート幅を表す)、NMOSトランジスタM2はNMOSトランジスタM1をN個並列接続した構成とし、弱反転動作させる。各トランジスタを流れる定電流Io、第1電流電圧変換回路に流れる電流をαIo、第2電流電圧変換回路に流れる電流を(1−α)Io、ダイオードD1の順方向電圧をVF(D1)とすると、
定電流Ioは
Io=(R1)−1(kT/q)lnN … (5)
基準電圧Vrefは
Vref =αIoR2+VF … (6)
=(1−α)IoR3 … (7)
式(6)、(7)より
α=[IoR3−VF]/[Io(R2+R3)] … (8)
式(8)を式(6)に代入して、
Vref=R3(R2+R3)−1{(R2/R1)(kT/q)lnN+VF}…(9)
式(9)を温度Tで微分すると、
ΔVref/ΔT =
R3(R2+R3)−1{(R2/R1)(k/q)lnN+ΔVF/ΔT}…(10)
基準電圧を表わす式(9)には、電源電位Vddの項がないことから、電源電圧依存性がなく、また、抵抗値を上手く設定することで任意の低電圧の基準電圧が得られることがわかる。さらに、式(10)において、VFの温度特性は、負依存性で 約−2mv/℃であり、抵抗R1,R2の比を設定することで、温度依存性をなくすことが出きることが分る。
定電流Ioは
Io=(R1)−1(kT/q)lnN … (5)
基準電圧Vrefは
Vref =αIoR2+VF … (6)
=(1−α)IoR3 … (7)
式(6)、(7)より
α=[IoR3−VF]/[Io(R2+R3)] … (8)
式(8)を式(6)に代入して、
Vref=R3(R2+R3)−1{(R2/R1)(kT/q)lnN+VF}…(9)
式(9)を温度Tで微分すると、
ΔVref/ΔT =
R3(R2+R3)−1{(R2/R1)(k/q)lnN+ΔVF/ΔT}…(10)
基準電圧を表わす式(9)には、電源電位Vddの項がないことから、電源電圧依存性がなく、また、抵抗値を上手く設定することで任意の低電圧の基準電圧が得られることがわかる。さらに、式(10)において、VFの温度特性は、負依存性で 約−2mv/℃であり、抵抗R1,R2の比を設定することで、温度依存性をなくすことが出きることが分る。
以下、具体的に数値を用いて説明する。
図2において 各抵抗の比を
R1、R2=12R1,R3=1.7R1 …設定値1
トランジスタM2とM1の比率Nを
N=11 …設定値2
ダイオードD1の順方向電圧、温度特性を
VF=0.53(V)、
ΔVF/ΔT=−2.48mV/℃
kT/q =26mV …設定値3
以上の設定値を式(9)、(10)に代入すると
Vref=0.8V, ΔVref/ΔT=0 となることが分る。
図2において 各抵抗の比を
R1、R2=12R1,R3=1.7R1 …設定値1
トランジスタM2とM1の比率Nを
N=11 …設定値2
ダイオードD1の順方向電圧、温度特性を
VF=0.53(V)、
ΔVF/ΔT=−2.48mV/℃
kT/q =26mV …設定値3
以上の設定値を式(9)、(10)に代入すると
Vref=0.8V, ΔVref/ΔT=0 となることが分る。
次に、上記の確認のため SPICEによるシミュレーションを行い、その結果を図3に示す。条件は、本発明回路を構成する各トランジスタの閾値電圧バラツキを±25%、温度をー40、25、120℃とし、電源電圧に対する基準電圧Vrefを計算した。図3から、電源電圧0.9V以上において、基準電圧Vref=0.8V、ΔVref/ΔT=0が確認できる。
本実施例1では、定電流Ioを供給する各トランジスタを有するカレントミラー回路から構成された定電流源回路1において定電流源回路1からの定電流を供給するPMOSトランジスタM5のドレインに第1電流電圧変換回路2と第2電流電圧変換回路3とを並列接続させ、定電流源回路からの定電流を電圧変換することでバンドギャップ電圧より低い基準電圧が得られる。
次に、図4、図5を用いて実施例2を説明する。実施例2においては、実施例1に比べて、さらに低い基準電圧を得る場合に適応できる。図4に示す実施例2の回路構成は、図2の回路構成において、第2の電流電圧変換回路の抵抗R3を分割し、抵抗R31と抵抗32とを直列接続された構成とし、抵抗31と抵抗32との接続点を基準電圧Vrefの出力端子とし、同じ記号で示す他の構成要因は図2と同じであり、説明を省略する。ここで得られる基準電圧Vrefは式(9)から
Vref=
R32(R2+R31+R32)−1{(R2/R1)(kT/q)lnN+VF}…(10)
で表わされる。ここで
R32=(5/3)R31 … 設定値4
とし、式(10)に代入すると Vref=0.5Vが得られる.
また、実施例2の確認のため SPICEによるシミュレーションを行い、その結果を図5に示す。シミュレーション条件は、図3における条件と同じである。図5から、電源電圧0.9V以上において、実施例1で発生する基準電圧よりさらに低い基準基準電圧Vref=0.5Vを発生させ、さらにΔVref/ΔT=0であることが確認できる。
Vref=
R32(R2+R31+R32)−1{(R2/R1)(kT/q)lnN+VF}…(10)
で表わされる。ここで
R32=(5/3)R31 … 設定値4
とし、式(10)に代入すると Vref=0.5Vが得られる.
また、実施例2の確認のため SPICEによるシミュレーションを行い、その結果を図5に示す。シミュレーション条件は、図3における条件と同じである。図5から、電源電圧0.9V以上において、実施例1で発生する基準電圧よりさらに低い基準基準電圧Vref=0.5Vを発生させ、さらにΔVref/ΔT=0であることが確認できる。
このように実施例2においては、カレントミラー回路から構成された定電流源回路1において定電流源回路からの定電流を供給するPMOSトランジスタM5のドレインに第1電流電圧変換回路2と第2電流電圧変換回路3とを並列接続させ、さらに第2電流電圧変換回路の抵抗を分割し、分割節点を基準電圧の出力端子とすることで実施例1の基準電圧よりさらに低電圧の基準電圧が得られる。
図6、図7は、本発明における実施例3である。実施例3は、実施例1及び実施例2においては、電源投入時の基準電圧発生までに数msecの時間が必要であり、この電源投入時に短時間に基準電圧を発生させる実施例である。図6は実施例3の回路図であり、図7は実施例における基準電圧発生時間を示す。
実施例3の回路構成は、実施例2における図4の回路構成にスタートアップ回路をさらに付加したものであり、同じ記号で示す定電流源回路1、第1電流電圧変換回路2及び第2電流電圧変換回路4は図4と同じ構成であり、説明を省略し、スタートアップ回路6のみを説明する。
スタートアップ回路6は、基準電圧Vrefを制御信号としてゲートに入力され、ソースは接地電位に接続されたトランジスタM6と、ゲートをトランジスタM6のドレインに、ドレインを定電流源回路のトランジスタM1のドレインに、ソースを電源電位に接続されたトランジスタM7と、ゲートを定電流源回路のトランジスタM4のゲートに、ドレインをトランジスタM6のドレインに、ソースを電源電位に接続されたトランジスタM8とで構成されている。一般に基準電圧発生回路を構成するトランジスタM1〜M5は常時電流を流しており、消費電流を小さくするため小さな電流供給能力のトランジスタで構成されている。その結果電源投入時の基準電圧を発生させるまでに数msecの時間が必要となる。スタートアップ回路6のトランジスタM7は高速で動作するため大きな電流供給能力とし、トランジスタM8は小さな電流供給能力、トランジスタM6は非常に小さな電流供給能力を有するトランジスタサイズである。
次にスタートアップ回路6の動作を説明する。電源投入時には、全ての回路を構成する回路要素の接続点は接地電位であり、電源電位の上昇により電源電位にソースが接続されたトランジスタにより各接続点の充電を開始するが、定電流源回路のトランジスタM3,M4,及びM5の電流供給能力は小さいため、充電速度は遅い。一方スタートアップ回路6のトランジスタM7のゲートはトランジスタM6のジャンクション用量とオーバラップ容量を介して接地電位であり、かつ大きな電流供給能力を有するため、充電速度が早く、定電流源回路のトランジスタM1、M2のゲート電位を急激に引き上げる。スタートアップ回路6によりすばやく充電されることで、各接続点はすばやく動作電圧に到達し、そのため基準電圧発生回路の安定動作がはやくなる。
基準電圧を発生し始めると、非常に小さな電流供給能力を有するトランジスタM6のゲートには、バンドギャップ電圧よりも小さな基準電圧が与えられているためトランジスタM6は極めて微小な電流を流すことになる。そのため、そのドレイン電圧は上昇し、トランジスタM7をオフさせ、定電流源回路1の動作には影響しなくなる。また、トランジスタM6のゲートには、バンドギャップ電圧よりも小さな基準電圧が与えられているため、そのトランジスタのW/Lはそれほど小さくする必要がなく、レイアウト面積を小さくできる。このようにバンドギャップ電圧よりも小さな基準電圧が与えられているため、極めて微小な電流を流すことになり、スタートアップ回路の消費電流は無視できる。このように、レイアウト面積が小さく、かつ、消費電流の小さくて、電源投入時の立ち上がりの早い、バンドギャップ電圧より低い定電圧を有する基準電圧発生回路が得られる。図7には基準電圧発生までの時間を示している。スタート回路のない実施例2では数msecが必要であるが、スタート回路が付加された実施例3では、ただちに所定の基準電圧を発生させているのがわかる。
本実施例では、実施例2の基準電圧発生回路にスタートアップ回路を有する構成としたが、実施例1にも本実施例のスタートアップ回路が適応できることはいうまでもない。
上記したように、本発明は、バンドギャップ電圧より低い基準電圧を得る基準電圧発生回路として、利用できる。
1 定電流源回路
2,3,4,14 電流電圧変換回路
5 出力端子
6 スタートアップ回路
11、12 電流源回路
13 電流加算回路
Amp11,12 差動増幅器
D1,D11、D12 ダイオード
P11〜15 PMOSトランジスタ
M1、〜M8 トランジスタ
R1〜3,R11〜13、R31,R32 抵抗
2,3,4,14 電流電圧変換回路
5 出力端子
6 スタートアップ回路
11、12 電流源回路
13 電流加算回路
Amp11,12 差動増幅器
D1,D11、D12 ダイオード
P11〜15 PMOSトランジスタ
M1、〜M8 トランジスタ
R1〜3,R11〜13、R31,R32 抵抗
Claims (6)
- 基準電圧を生成して出力端子から出力する基準電圧発生回路において、カレントミラー回路により構成され、基準電流を出力する定電流源回路と、該定電流源回路の出力に並列接続された第1及び第2の電流電圧変換回路とを有し、該第2の電流電圧変換回路からバンドギャップ電圧より低い前記基準電圧を出力することを特徴とする基準電圧発生回路。
- 前記第1の電流電圧変換回路は、前記定電流源回路の出力と接地電位との間に直列接続された第1の抵抗と順方向のダイオードを備え、前記第2の電流電圧変換回路は、前記定電流源回路の出力と前記接地電位との間に接続された第2の抵抗を備え、前記定電流源回路の出力と前記第1及び第2の電流電圧変換回路との接続点を前記出力端子とすることを特徴とする請求項1記載の基準電圧発生回路。
- 前記第1の電流電圧変換回路は、前記定電流回路の出力と接地電位との間に直列接続された第1の抵抗と順方向のダイオードを備え、第2の電流電圧変換回路は、前記定電流回路の出力と前記接地電位との間に直列接続された第2の抵抗と第3の抵抗とを備え、前記第2の抵抗と第3の抵抗との接続点を前記出力端子とすることを特徴とする請求項1記載の基準電圧発生回路。
- 前記定電流源回路は、ドレインとゲートを共通接続され、ソースは前記接地電位に接続された第1のトランジスタと、ゲートを前記第1のトランジスタのゲートに接続され、ソースは第3の抵抗を介して前記接地電位に接続された第2のトランジスタとからなる第1のカレントミラー回路と、
ソースを電源電位に接続された第3、第4のトランジスタであって、前記第4のトランジスタのゲートとドレインと前記第3のトランジスタのゲートとが共通接続された第2のカレントミラー回路と、
ソースを電源電位に接続され、ゲートを前記第4のゲートに接続された第5のトランジスタと前記第4のトランジスタとからなる第3のカレントミラー回路と、を有し、
前記第1と第3のトランジスタのドレイン同志が接続され、前記第2と第4のトランジスタのドレイン同志が接続され、前記第5のトランジスタのドレインから基準電流を出力することを特徴とする請求項2または請求項3記載の基準電圧発生回路。 - 前記基準電圧発生回路は、電源投入時に前記基準電圧発生回路を活性化させるためのスタートアップ回路をさらに有し、該スタートアップ回路は前記基準電圧を制御信号とすることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の基準電圧回路。
- 前記スタートアップ回路は、前記基準電圧を制御信号としてゲートに入力され、ソースは接地電位に接続された第6のトランジスタと、
ゲートを前記第6のトランジスタのドレインに、ドレインを前記第1のトランジスタに、ソースを電源電位に接続された第7のトランジスタと、
ゲートを前記第4のトランジスタのゲートに、ドレインを前記第6のトランジスタのドレインに、ソースを電源電位に接続された第8のトランジスタと、を備えたことを特徴とする請求項5記載の基準電圧回路。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009053971A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Nec Electronics Corp | 基準電圧発生回路及びタイマ回路 |
KR20110019064A (ko) * | 2009-08-19 | 2011-02-25 | 삼성전자주식회사 | 전류 기준 회로 |
TWI394367B (zh) * | 2006-02-18 | 2013-04-21 | Seiko Instr Inc | 帶隙定電壓電路 |
JP2013214957A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-17 | Freescale Semiconductor Inc | 起動回路を有する完全相補型自己バイアス差動受信機 |
CN104765405A (zh) * | 2014-01-02 | 2015-07-08 | 意法半导体研发(深圳)有限公司 | 温度和工艺补偿的电流基准电路 |
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Families Citing this family (11)
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JP2010246287A (ja) * | 2009-04-07 | 2010-10-28 | Renesas Electronics Corp | 電流制御回路 |
FR2975513A1 (fr) * | 2011-05-20 | 2012-11-23 | St Microelectronics Rousset | Generation d'une reference de tension stable en temperature |
US20140285175A1 (en) * | 2011-11-04 | 2014-09-25 | Freescale Semiconductor, Inc. | Reference voltage generating circuit, integrated circuit and voltage or current sensing device |
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CN104977971A (zh) * | 2015-07-08 | 2015-10-14 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | 一种无运放低压低功耗的带隙基准电路 |
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Family Cites Families (8)
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---|---|---|---|---|
JP3586073B2 (ja) * | 1997-07-29 | 2004-11-10 | 株式会社東芝 | 基準電圧発生回路 |
US6111397A (en) * | 1998-07-22 | 2000-08-29 | Lsi Logic Corporation | Temperature-compensated reference voltage generator and method therefor |
JP3954245B2 (ja) * | 1999-07-22 | 2007-08-08 | 株式会社東芝 | 電圧発生回路 |
US6222399B1 (en) * | 1999-11-30 | 2001-04-24 | International Business Machines Corporation | Bandgap start-up circuit |
US6384586B1 (en) * | 2000-12-08 | 2002-05-07 | Nec Electronics, Inc. | Regulated low-voltage generation circuit |
JP3638530B2 (ja) * | 2001-02-13 | 2005-04-13 | Necエレクトロニクス株式会社 | 基準電流回路及び基準電圧回路 |
US6677808B1 (en) * | 2002-08-16 | 2004-01-13 | National Semiconductor Corporation | CMOS adjustable bandgap reference with low power and low voltage performance |
JP3808867B2 (ja) * | 2003-12-10 | 2006-08-16 | 株式会社東芝 | 基準電源回路 |
-
2003
- 2003-08-08 JP JP2003290209A patent/JP2005063026A/ja active Pending
-
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI394367B (zh) * | 2006-02-18 | 2013-04-21 | Seiko Instr Inc | 帶隙定電壓電路 |
JP2009053971A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Nec Electronics Corp | 基準電圧発生回路及びタイマ回路 |
KR20110019064A (ko) * | 2009-08-19 | 2011-02-25 | 삼성전자주식회사 | 전류 기준 회로 |
KR101645449B1 (ko) | 2009-08-19 | 2016-08-04 | 삼성전자주식회사 | 전류 기준 회로 |
JP2013214957A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-17 | Freescale Semiconductor Inc | 起動回路を有する完全相補型自己バイアス差動受信機 |
CN104765405A (zh) * | 2014-01-02 | 2015-07-08 | 意法半导体研发(深圳)有限公司 | 温度和工艺补偿的电流基准电路 |
JP2020101572A (ja) * | 2020-04-03 | 2020-07-02 | エイブリック株式会社 | 電流検出回路 |
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