JP6039222B2 - 検出装置、検出方法、インプリント装置及びデバイス製造方法 - Google Patents
検出装置、検出方法、インプリント装置及びデバイス製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6039222B2 JP6039222B2 JP2012094074A JP2012094074A JP6039222B2 JP 6039222 B2 JP6039222 B2 JP 6039222B2 JP 2012094074 A JP2012094074 A JP 2012094074A JP 2012094074 A JP2012094074 A JP 2012094074A JP 6039222 B2 JP6039222 B2 JP 6039222B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mark
- substrate
- mold
- marks
- deviation amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
- G01B11/27—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2012094074A JP6039222B2 (ja) | 2011-05-10 | 2012-04-17 | 検出装置、検出方法、インプリント装置及びデバイス製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2011105633 | 2011-05-10 | ||
| JP2011105633 | 2011-05-10 | ||
| JP2012094074A JP6039222B2 (ja) | 2011-05-10 | 2012-04-17 | 検出装置、検出方法、インプリント装置及びデバイス製造方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012253325A JP2012253325A (ja) | 2012-12-20 |
| JP2012253325A5 JP2012253325A5 (enExample) | 2015-06-11 |
| JP6039222B2 true JP6039222B2 (ja) | 2016-12-07 |
Family
ID=47141354
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2012094074A Active JP6039222B2 (ja) | 2011-05-10 | 2012-04-17 | 検出装置、検出方法、インプリント装置及びデバイス製造方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20120286443A1 (enExample) |
| JP (1) | JP6039222B2 (enExample) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL2005259A (en) * | 2009-09-29 | 2011-03-30 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
| NL2005975A (en) | 2010-03-03 | 2011-09-06 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
| JP5864929B2 (ja) * | 2011-07-15 | 2016-02-17 | キヤノン株式会社 | インプリント装置および物品の製造方法 |
| JP6282069B2 (ja) * | 2013-09-13 | 2018-02-21 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、インプリント方法、検出方法及びデバイス製造方法 |
| TWI529059B (zh) * | 2013-11-29 | 2016-04-11 | Taiwan Green Point Entpr Co | Injection molding machine and the use of the tablet press detection system and detection methods |
| JP6478635B2 (ja) | 2015-01-05 | 2019-03-06 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、インプリント方法及び物品の製造方法 |
| JP6799397B2 (ja) * | 2015-08-10 | 2020-12-16 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、および物品の製造方法 |
| JP6671160B2 (ja) * | 2015-11-30 | 2020-03-25 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、物品製造方法および位置合わせ方法 |
| US10416576B2 (en) * | 2016-09-14 | 2019-09-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical system for use in stage control |
| JP2019028331A (ja) | 2017-08-01 | 2019-02-21 | 株式会社ブイ・テクノロジー | 露光装置 |
| JP6876218B2 (ja) * | 2017-09-05 | 2021-05-26 | 株式会社ブイ・テクノロジー | 露光装置 |
| US10705435B2 (en) | 2018-01-12 | 2020-07-07 | Globalfoundries Inc. | Self-referencing and self-calibrating interference pattern overlay measurement |
| US11256177B2 (en) | 2019-09-11 | 2022-02-22 | Kla Corporation | Imaging overlay targets using Moiré elements and rotational symmetry arrangements |
| JP6860709B2 (ja) * | 2020-01-17 | 2021-04-21 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、物品製造方法および位置合わせ方法 |
| US11686576B2 (en) | 2020-06-04 | 2023-06-27 | Kla Corporation | Metrology target for one-dimensional measurement of periodic misregistration |
| JP7638737B2 (ja) * | 2021-03-12 | 2025-03-04 | キヤノン株式会社 | 位置検出装置、位置検出方法、及び物品の製造方法 |
| US11796925B2 (en) | 2022-01-03 | 2023-10-24 | Kla Corporation | Scanning overlay metrology using overlay targets having multiple spatial frequencies |
| US12032300B2 (en) | 2022-02-14 | 2024-07-09 | Kla Corporation | Imaging overlay with mutually coherent oblique illumination |
| US12487190B2 (en) | 2022-03-30 | 2025-12-02 | Kla Corporation | System and method for isolation of specific fourier pupil frequency in overlay metrology |
| US12422363B2 (en) | 2022-03-30 | 2025-09-23 | Kla Corporation | Scanning scatterometry overlay metrology |
| US12235588B2 (en) | 2023-02-16 | 2025-02-25 | Kla Corporation | Scanning overlay metrology with high signal to noise ratio |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52144973A (en) * | 1976-05-28 | 1977-12-02 | Hitachi Ltd | Positioning method of semiconductor wafers |
| US4200395A (en) * | 1977-05-03 | 1980-04-29 | Massachusetts Institute Of Technology | Alignment of diffraction gratings |
| JP2574619B2 (ja) * | 1993-01-29 | 1997-01-22 | 松下電器産業株式会社 | 露光装置 |
| JP2006245072A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-14 | Canon Inc | パターン転写用モールドおよび転写装置 |
| JP4290177B2 (ja) * | 2005-06-08 | 2009-07-01 | キヤノン株式会社 | モールド、アライメント方法、パターン形成装置、パターン転写装置、及びチップの製造方法 |
| NL2003347A (en) * | 2008-09-11 | 2010-03-16 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
| JP2010080630A (ja) * | 2008-09-25 | 2010-04-08 | Canon Inc | 押印装置および物品の製造方法 |
| JP5324309B2 (ja) * | 2009-05-12 | 2013-10-23 | ボンドテック株式会社 | アライメント装置、アライメント方法および半導体装置 |
-
2012
- 2012-04-17 JP JP2012094074A patent/JP6039222B2/ja active Active
- 2012-04-20 US US13/452,625 patent/US20120286443A1/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2012253325A (ja) | 2012-12-20 |
| US20120286443A1 (en) | 2012-11-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6039222B2 (ja) | 検出装置、検出方法、インプリント装置及びデバイス製造方法 | |
| KR101299473B1 (ko) | 나노 스케일 장치를 제조하기 위한 간섭 분석 | |
| KR101353715B1 (ko) | 임프린트 장치 및 패턴 전사 방법 | |
| JP6120678B2 (ja) | インプリント方法、インプリント装置及びデバイス製造方法 | |
| JP4795300B2 (ja) | 位置合わせ方法、インプリント方法、位置合わせ装置、インプリント装置、及び位置計測方法 | |
| TWI567486B (zh) | 圖案形成方法、微影裝置、微影系統、及製造物品的方法 | |
| KR101656123B1 (ko) | 임프린트 장치 및 물품 제조 방법 | |
| JP6341883B2 (ja) | 位置検出装置、位置検出方法、インプリント装置及び物品の製造方法 | |
| US20120091611A1 (en) | Imprint method and apparatus | |
| KR101576118B1 (ko) | 임프린트 장치 및 물품의 제조 방법 | |
| US20150122175A1 (en) | Mark position detector, imprint apparatus, and article manufacturing method | |
| US11784077B2 (en) | Wafer overlay marks, overlay measurement systems, and related methods | |
| CN104849956A (zh) | 检测装置、压印装置及物品的制造方法 | |
| CN104102090B (zh) | 压印装置、物品的制造方法以及对准装置 | |
| JP2011243664A (ja) | インプリント装置及び物品の製造方法 | |
| JP2014241398A (ja) | インプリント装置、デバイス製造方法およびインプリント方法 | |
| JP2008100507A (ja) | インプリント装置およびアライメント方法 | |
| US20170151694A1 (en) | Imprint apparatus and method for producing article | |
| JP2016134441A (ja) | インプリント装置、インプリント方法、および物品の製造方法 | |
| KR101503021B1 (ko) | 측정장치 및 이의 보정방법 | |
| KR101522878B1 (ko) | 측정장치 및 이의 보정방법 | |
| KR101008328B1 (ko) | 모아레를 이용한 3차원 측정장치의 격자이동방법 및격자이동장치 | |
| JP6381721B2 (ja) | インプリント方法、インプリント装置及びデバイス製造方法 | |
| JP3921432B2 (ja) | モアレ光学系を用いた形状測定装置及び形状測定方法 | |
| JP2012129314A (ja) | インプリント装置、そのモールド及び物品の製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150416 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150416 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160215 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160322 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160520 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161004 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161104 |
|
| R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6039222 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |