JP6030290B2 - 表示装置製造方法、及び、表示装置製造方法により製造された表示装置 - Google Patents
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Description
本発明の他の目的は前記方法により製造された表示装置を提供することである。
前記レジストは、80℃乃至100℃の温度で50秒乃至70秒の間加熱されることにより、先硬化される(ステップ32)。前記先硬化の間に前記レジスト内部の溶媒は一部が揮発され、したがって前記レジストが軟性を有して粘性が向上される。しかし、前記レジストは完全に硬化された状態ではない。
前記ゲートラインGLは、前記第1絶縁基板110上に配置される。前記ゲートラインGLは、第1方向D1へ延長されて配置される。
200第2基板
300映像表示部
301映像表示層
310液晶層
320電気泳動層
330エレクトロクロミックス層
340エレクトロウェッティング層
ADS接着スペーサー
CF カラーフィルター層
EL1第1電極
EL2第2電極
PA 画素領域
SCP段差補償パターン
SM 半導体パターン
SL シーラント
SS 支持スペーサー
TFT薄膜トランジスター
Claims (8)
- 第1基板の上に第1高さを有する接着スペーサーを形成する段階と、
第2基板の上に前記第1高さより低い第2高さを有する支持スペーサーを形成する段階と、
前記第1基板と前記第2基板の中でいずれか1つの基板上に、複数の画素領域を含む映像表示部を形成する段階と、
前記画素領域の縁に、互いに交差するゲートライン及びデータラインを形成する段階と、
前記データラインと前記ゲートラインとの間に絶縁膜を形成する段階と、
前記ゲートラインと前記データラインとの交差部の付近で、前記データラインと前記絶縁膜との段差を補償する段差補償パターンを形成する段階と、
前記画素領域に対応する薄膜トランジスターを形成する段階と、
前記支持スペーサーの上面が前記第1基板に接触するまで前記第1基板と前記第2基板を圧搾して、前記第2基板が前記接着スペーサーに接着されるようにする段階と、
を含み、
前記接着スペーサーは、前記画素領域の縁に形成された隔壁であって、前記段差補償パターンと重畳し、前記薄膜トランジスターとは重畳しない位置に配置され、
前記データラインは、前記画素領域の縁に沿って延びる第1データライン部と、前記交差部の付近で、前記ゲートラインに沿った一方向へと突出されるように形成される第2データライン部とを含み、
前記段差補償パターンは、前記ゲートラインを挟む両側にて、前記第1データライン部から延長されるように延びることを特徴とする、
表示装置製造方法。
- 前記接着スペーサーを形成する段階は
前記第1基板の上にレジストを塗布する段階と、
前記レジストを80℃乃至100℃の温度で50秒乃至70秒の間加熱することによって、硬化する先硬化段階と、
前記レジストを露光する段階と、
前記レジストを現像する段階と、
を含むことを特徴とする請求項1に記載の表示装置製造方法。 - 前記圧搾段階の前に、前記第1基板と前記第2基板との中でいずれか1つの基板の縁に沿って、シーラントを形成する段階をさらに含む請求項2に記載の表示装置製造方法。
- 前記圧搾段階の前に、前記接着スペーサーに対向するように前記第2基板の上に無機膜を形成する段階をさらに含む請求項3に記載の表示装置製造方法。
- 前記圧搾段階の後に、前記接着スペーサーと前記シーラントとを100℃乃至140℃の温度で15分乃至120分の間加熱することによって、硬化する後硬化段階をさらに含むことを特徴とする請求項3に記載の表示装置製造方法。
- 前記支持スペーサーを形成する段階は、
前記第2基板の上にレジストを塗布する段階と、
前記レジストを80℃乃至100℃の温度で50秒乃至70秒の間加熱することによって、硬化する先硬化段階と、
前記レジストを露光する段階と、
前記レジストを現像する段階と、
前記レジストを210℃乃至240℃の温度で15分乃至120分の間加熱することによって、硬化する後硬化段階と、
を含むことを特徴とする請求項1に記載の表示装置製造方法。 - 前記映像表示部は、光を吸収或いは反射して映像を表す映像表示層を含み、
前記映像表示層は、液晶層、電気泳動層、エレクトロウェッティング層、及び、エレクトロクロミックス層のいずれか1つであることを特徴とする請求項1に記載の表示装置製造方法。 - 前記映像表示層は、液晶層であり、前記液晶層はコレステリック液晶を含むことを特徴とする請求項7に記載の表示装置製造方法。
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