JP6000696B2 - X線応力測定装置およびx線応力測定方法 - Google Patents
X線応力測定装置およびx線応力測定方法 Download PDFInfo
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Description
図1乃至図7に示すように、本実施例のX線応力測定装置1は、試料Sを固定する試料台10と、試料台10に固定された試料SにX線を入射するX線発生器11と、試料測定点Pで回折された回折X線を検出する回折X線検出器12と、試料台10に固定された試料Sの標準固定位置からの試料面法線方向の変位量を測定する変位量測定器13と、回折面法線Nの傾き角ψ及び対応する回折X線の回折角2θに基づいて試料内の応力を測定する処理測定装置14等とで構成されている。
図9に示すように、本実施例のX線応力測定装置1を用いたX線応力測定方法は、試料Sの標準固定位置からの試料面法線方向の変位量を測定する変位量測定工程(S100)と、X線発生器11及び回折X線検出器12又は試料Sを回転させて試料面法線Zに対する回折面法線Nの傾き角ψを変化させ、回折面法線Nの傾き角ψに対応する回折X線の回折角2θを求める回折角解析工程(S110)と、変位量測定工程(S100)にて測定された変位量に基づいて回折角解析工程(S110)にて求められた回折角を補正する回折角補正工程(S120)と、回折面法線Nの傾き角ψ及び回折角補正工程(S120)にて補正された回折X線の回折角2θに基づいて試料内の応力を求める応力測定工程(S130)と、を有してなる。
10 試料台
11 X線発生器
12 回折X線検出器
13 変位量測定器
14 処理測定装置
16 測定アーム
18a ガイドレール
18b 駆動装置
N 回折面法線
P 試料測定点
S 試料
Z 試料面法線
ψ 傾き角
2θ 回折角
Claims (2)
- 試料にX線を入射するX線発生器と、試料測定点で回折された回折X線を検出する回折X線検出器とを具備してなり、前記X線発生器及び回折X線検出器又は試料を回転させて試料面法線に対する回折面法線の傾き角を変化させ、回折面法線の傾き角及び対応する回折X線の回折角に基づいて試料内の応力を測定するX線応力測定装置において、
試料に対して試料面法線に沿ってレーザを照射するレーザ変位計として構成され、試料面法線方向における試料表面からレーザ変位計までの離間距離が予め設定され、試料に対してレーザを照射した場合の離間距離の変位を試料の標準固定位置からの試料面法線方向の変位量として測定する変位量測定器と、
前記回折X線検出器を検出器走査面上で回折X線方向と交差する方向に直線走査させる検出器駆動機構と、を具備してなり、
前記変位量測定器にて測定された変位量に基づいて、前記検出器駆動機構にて直線走査された前記回折X線検出器にて検出された回折X線の回折角を補正する、
ことを特徴とするX線応力測定装置。 - 試料にX線を入射するX線発生器と、試料測定点で回折された回折X線を検出する回折X線検出器とを具備してなるX線応力測定装置を用いて、試料内の応力を測定するX線応力測定方法において、
試料に対して試料面法線に沿ってレーザを照射するレーザ変位計が配置され、試料面法線方向における試料表面からレーザ変位計までの離間距離が予め設定され、試料に対してレーザを照射した場合の離間距離の変位を試料の標準固定位置からの試料面法線方向の変位量として測定する変位量測定工程と、
前記X線発生器及び回折X線検出器又は試料を回転させて試料面法線に対する回折面法線の傾き角を変化させ、前記回折X線検出器を検出器走査面上で回折X線方向と交差する方向に直線走査させて検出される回折面法線の傾き角に対応する回折X線の回折角を求める回折角解析工程と、
前記変位量測定工程にて測定された変位量に基づいて前記回折角解析工程にて求められた回折角を補正する回折角補正工程と、
回折面法線の傾き角及び前記回折角補正工程にて補正された回折X線の回折角に基づいて試料内の応力を求める応力測定工程と、
を有してなることを特徴とするX線応力測定方法。
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