JP5980481B2 - Ct装置のx線発生装置及び検出器の位置キャリブレーション装置、キャリブレーション装置のキャリブレーション方法、並びct装置のキャリブレーション方法 - Google Patents
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Description
まず、上述の方法にはフィルムが使われるが、フィルムは一回限りのものである。普通、POR及びBOWに合わせて少なくとも8枚のフィルムが必要で、その中でアライメント前に4枚が必要で、アライメント後の再検査にさらに4枚が必要である。再検査が失敗すれば、さらに多いフィルムが必要である。このため、従来技術はコストが高くなる。
さらに、従来技術では直定規又はマイクロメーターでアライメントのずれ量を測定するが、フィルムの分布縁部がはっきり見えないことが多いので、得られた結果が正確ではない。
キャリブレーション装置を走査平面の1位置に置き、
CT装置のX線発生装置がキャリブレーション装置に対してそれぞれに0度及び180度露光を行い、
検出器に投射されるX線分布とX線管とISO中心との三角関係に基づいて、X線管の偏移量を獲得し、
X線管の偏移量に基づいてX線管を調節してX線管の焦点及びコリメータの中心を走査平面に位置決めする工程を含む。
キャリブレーション装置を検出器チャンネルの左側、中央及右側に置き、
この3つのキャリブレーション装置に対して露光を行い、
露光後に検出器が得られたデータを獲得し、
獲得したデータに基づいてこの3つの位置でのアライメントのずれ量を計算して獲得し、
アライメントのずれ量が0になるように検出器を調整する工程を含むものである。
キャリブレーション装置が1位置から2位置に移動した際、その中心が検出器での変位aを計算し、
以下の数式によりX線管の偏移量??を獲得するものである。
ここで、
CはX線管10の焦点から2位置までの距離を示し、
EはX線管10の焦点からコリメータの孔までの距離を示し、
AはX線管10の焦点から検出器12までの距離を示し、
Dは1位置から2位置までの距離を示す。
ここで、
γはキャリブレーション装置と空気投射との比例で、
Tは回転中心でのX線の厚さで、
NはX線管の焦点からISOの中心までの距離で、
PAはA窓での平均投射データを示し、
PBはB窓での平均投射データを示す。
回転平面の校正を行い、
窓でのビームの校正を行い、
X線管が冷やされた後検出器とX線管の焦点とをアライメントし、
コリメータと検出器とをx軸方向でアライメントし、
z軸方向でコリメータを校正し、
z軸方向でコリメータが校正されて得られたX線管の焦点がz軸方向での偏移量に基づいて、偏移量が0になるまでに上述のステップを順に繰り返す工程を含むものである。
キャリブレーション装置を走査平面の1位置に置き、
CT装置のX線発生装置がキャリブレーション装置に対してそれぞれに0度及び180度露光を行い、
検出器に投射されるX線分布及びX線管とISO中心との三角関係に基づいて、X線管の偏移量を獲得し、
X線管の偏移量に基づいてX線管を調節してX線管の焦点及びコリメータの中心を走査平面に位置決めする工程を含む。
キャリブレーション装置を検出器チャンネルの左側、中央及び右側に置き、
この3つのキャリブレーション装置に対して露光を行い、
露光後に検出器が得られたデータを獲得し、
獲得したデータに基づいてこの3つの位置でのアライメントのずれ量を計算して獲得し、
アライメントのずれ量が0になるように検出器を調整するする工程を含む。
キャリブレーション装置が1位置から2位置に移動した際、その中心が検出器での変位aを計算し、
以下の数式によりX線管の偏移量??を獲得するものである。
ここで、
CはX線管10の焦点から2位置までの距離を示し、
EはX線管10の焦点からコリメータの孔までの距離を示し、
AはX線管10の焦点から検出器12までの距離を示し、
Dは1位置から2位置までの距離を示す。
ここで、
γはキャリブレーション装置と空気投射との比例で、
Tは回転中心でのX線の厚さで、
NはX線管の焦点からISOの中心までの距離で、
PAはA窓での平均投射データを示し、
PBはB窓での平均投射データを示す。
次に、フィルムが使われないので、環境保護に影響がない。
さらに、本発明は直定規又はマイクロメーターが必要せずにアライメントのずれ量を測定することができるので、得られた結果がより正確である。
図2に示されたように、CT装置のX線発生装置及び検出器の位置キャリブレーション装置は、分割窓3、分割窓フレーム2、本体フレーム1及びスプリング4を備える。
図4では、X線管10がそれぞれに0度位置及び180度位置でX線を発射してjigをスキャンした後にこの2回のスキャンがz軸方向で現れた幾何関係を示している。
CはX線管10の焦点から2位置までの距離を示し、
EはX線管10の焦点からコリメータの孔までの距離を示し、
AはX線管10の焦点から検出器12までの距離を示し、
Dは1位置から2位置までの距離を示す。
PB=BB+γAA … 数式(4)
ここで、γはキャリブレーション装置と空気投射との比例で、定数である。
2a=AA−BB … 数式(5)
仮に、
NはX線管の焦点からISOの中心までの距離である。
まず、キャリブレーション装置を検出器チャンネルの左側、中央及右側に置き、
つぎに、この3つのキャリブレーション装置に対して露光が行われ、
露光後に検出器が得られたデータを獲得し、
獲得したデータに基づいてこの3つの位置でのアライメントのずれ量を計算して獲得し、
アライメントのずれ量が0になるように検出器12を調整する。
回転平面の校正を行い、
窓でのビームの校正を行い、
X線管10が冷やされた後検出器12とX線管の焦点とをアライメントし、
コリメータ11と検出器12とをx軸方向でアライメントし、
z軸方向でコリメータを校正し、
z軸方向でコリメータが校正されて得られたX線管の焦点がz軸方向での偏移量に基づいて、偏移量が0になるまでに上述のステップを順に繰り返す。
キャリブレーション装置を走査平面の1位置に置き、
CT装置のX線発生装置がキャリブレーション装置に対してそれぞれに0度及び180度露光を行い、
検出器に投射されるX線分布とX線管とISO中心との三角関係に基づいて、X線管の偏移量を獲得し、
X線管の偏移量に基づいてX線管を調節してX線管の焦点及びコリメータの中心を走査平面に位置決める。
キャリブレーション装置を検出器チャンネルの左側、中央及右側に置き、
つぎに、この3つのキャリブレーション装置に対して露光を行い、
露光後に検出器が得られたデータを獲得し、
獲得したデータに基づいてこの3つの位置でのアライメントのずれ量を計算して獲得し、
アライメントのずれ量が基本的に0になるように検出器を調整する。
キャリブレーション装置が1位置から2位置に移動した際、その中心が検出器での変位aを計算し、
以下の数式(3)によりX線管の偏移量??を獲得する。
CはX線管10の焦点から2位置までの距離を示し、
EはX線管10の焦点からコリメータの孔までの距離を示し、
AはX線管10の焦点から検出器12までの距離を示し、
Dは1位置から2位置までの距離を示す。
γはキャリブレーション装置と空気投射との比例で、
Tは回転中心でのX線の厚さで、
NはX線管の焦点からISOの中心までの距離で、
PAはA窓での平均投射データを示し、
PBはB窓での平均投射データを示す。
Claims (9)
- 分割窓、分割窓フレーム、本体フレーム及びスプリングを備え、
前記分割窓フレームは前記分割窓を支持し、
前記スプリングは一端が前記分割窓フレームに接続され、他端が前記本体フレームに接続されるCT装置のX線発生装置及び検出器の位置キャリブレーション装置。 - 前記分割窓の2つの中心線が前記分割窓を4つの領域に分け、対角線にある2つの前記領域には2つの窓がそれぞれ設けられている請求項1に記載のCT装置のX線発生装置及び検出器の位置キャリブレーション装置。
- 前記分割窓を調節するボルトを備える請求項1又は請求項2に記載のCT装置のX線発生装置及び検出器の位置キャリブレーション装置。
- 請求項1から請求項3のいずれか一項のキャリブレーション装置を用いてCT装置のX線発生装置及び検出器の位置をキャリブレーションするキャリブレーション方法であって、
前記キャリブレーション装置を走査平面の1位置に置き、
前記CT装置のX線発生装置が前記キャリブレーション装置に対してそれぞれに0度及び180度露光を行い、
前記検出器に投射されるX線分布とX線管とISO中心との三角関係に基づいて、前記X線管の偏移量を獲得し、
前記X線管の偏移量に基づいて前記X線管を調節して前記X線管の焦点及びコリメータの中心を前記走査平面に位置決めるキャリブレーション方法。 - 前記キャリブレーション装置を検出器チャンネルの左側、中央及び右側に置き、
この3つの前記キャリブレーション装置に対して露光を行い、
露光後に前記検出器が得られたデータを獲得し、
獲得した前記データに基づいてこの3つの位置でのアライメントのずれ量を計算して獲得し、
前記アライメントのずれ量が0になるように前記検出器を調整する請求項4に記載のキャリブレーション方法。 - 前記検出器に投射されるX線分布とX線管とISO中心との三角関係に基づいたX線管の偏移量の獲得は、
前記キャリブレーション装置が1位置から2位置に移動した際、その中心が前記検出器での変位aを計算し、
以下の数式によりX線管の偏移量??を獲得するものである請求項4又は請求項5に記載のキャリブレーション方法。
CはX線管の焦点から2位置までの距離を示し、
EはX線管の焦点からコリメータの孔までの距離を示し、
AはX線管の焦点から検出器までの距離を示し、
Dは1位置から2位置までの距離を示す。 - a)回転平面の校正を行うステップと、
b)位置キャリブレーション装置の窓でのビームの校正を行うステップと、
c)X線管が冷やされた後検出器と前記X線管の焦点とをアライメントするステップと、
d)コリメータと前記検出器とをx軸方向でアライメントするステップと、
e)z軸方向で前記コリメータを校正するステップと、
前記コリメータの前記校正により得られた前記X線管の焦点の前記z軸方向での偏移量に基づいて、前記偏移量が0になるまで上述のステップa)−e)を順に繰り返るステップと、
を含み、
前記回転平面の校正を行うステップは、
キャリブレーション装置を走査平面の1位置に置くステップと、
CT装置のX線発生装置が前記キャリブレーション装置に対してそれぞれに0度及び180度露光を行うステップと、
前記検出器に投射されるX線分布とX線管とISO中心との三角関係に基づいて、前記X線管の偏移量を獲得するステップと、
前記X線管の前記偏移量に基づいて前記X線管を調節して前記X線管の焦点及び前記コリメータの中心を前記走査平面に位置決めるステップとを含む、キャリブレーション方法。 - 前記窓でのビームの校正を行うステップは、
前記キャリブレーション装置を検出器チャンネルの左側、中央及右側に置くステップと、
この3つの前記キャリブレーション装置に対して露光を行うステップと、
露光後に前記検出器が得られたデータを獲得するステップと、
獲得した前記データに基づいてこの3つの位置でのアライメントのずれ量を計算して獲得するステップと、
前記アライメントのずれ量が0になるように前記検出器を調整するステップとを含む、請求項7に記載のCT装置のキャリブレーション方法。 - 前記検出器に投射されるX線分布とX線管とISO中心との三角関係に基づいたX線管の偏移量の獲得は、
前記キャリブレーション装置が1位置から2位置に移動した際、その中心が前記検出器での変位aを計算し、
以下の数式によりX線管の偏移量??を獲得するものである請求項8に記載のCT装置のキャリブレーション方法。
CはX線管の焦点から2位置までの距離を示し、
EはX線管の焦点からコリメータの孔までの距離を示し、
AはX線管の焦点から検出器までの距離を示し、
Dは1位置から2位置までの距離を示す。
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