JP5897871B2 - スルホニウム化合物の製造方法 - Google Patents

スルホニウム化合物の製造方法 Download PDF

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この発明はスルホニウム化合物の製造方法に関する。更に詳しくは、光および/または熱硬化性組成物の重合開始剤として有用であり、特にエポキシ樹脂やスチレンなどのカチオン重合性ビニル化合物の重合開始剤として効果を有するスルホニウム化合物のイオン性不純物を低減した製造方法、ならびのその溶液に関する。
最近、スルホニウム系重合開始剤は液晶やレジスト組成物の酸発生剤として精密電子機器部品に使用されている。この用途では、イオン性不純物が樹脂硬化物中に存在すると、樹脂硬化物の電気特性、耐湿性を著しく低下させ、それによって半導体装置の電気特性および信頼性が低下する。このため重合開始剤から、陽イオンや腐食が問題になる塩素イオンやメチル硫酸イオンなどのイオン性不純物の低減が要請されている。
従来、カチオン重合開始剤として有用なスルホニウム化合物の製造方法としては、対応するスルホニウムハライドやスルホニウム メチル硫酸塩にNaSbF6,KSbF6,NaPF6,KPF6,NaAsF6,CFSOLi,(CFSO)NLi,NaB(C65)4等を作用させ、塩交換反応により製造している。
この塩交換反応の溶媒としては、例えば特許文献1には、酢酸エチルと水を用いた2相系で実施する記載がある。ところがこの方法では、酢酸エチルは水に8%溶解するので、生成した重合開始剤が酢酸エチルとともに酢酸エチル層から一部水層に移行して、収量を低下させてしまう。これとは別に水は酢酸エチルに3%溶解するので、酢酸エチルに溶存している重合開始剤が有機層で水分と反応する。例えば、ヘキサフルオロアンチモナートアニオンは、フッ素イオンを脱離することで陰イオン部分が変化する可能性がある。また、水相からイオン性不純物の混和が想定されるなど、より純度の高い重合開始剤を得ることができない。
特にイオン性の不純物、例えば原料由来の塩素イオンに代表される無機イオンは、一般に水洗によって除去できるものの、加水分解性の重合開始剤に適用することは困難とされている。この場合、有機溶剤だけで再結晶する程度の精製方法しかなく、工業化に問題があった。
特許文献2によれば、重合開始剤は、液晶やレジスト組成物の酸発生剤など精密部品に使用する上で、塩素イオンの低減が要請されていることが記載され、その方法として、製造したスルホニウム ヘキサフルオロホスフェートを炭酸ナトリウム水溶液で洗浄後、メタノールで再結晶することで塩素イオンを低減させる開示がある。ところが、この方法を適用される重合開始剤たるスルホニウム化合物は、炭酸ナトリウム水溶液での加水分解に抵抗性があることが必須であり、それ以外の、塩基や水分に不安定な高感度の開始剤に適用は困難であるという問題点がある。また一般にメタノールを重合開始剤の再結晶溶媒とすることは広く行われているが、メタノールに毒性があること、ならびにメタノール自体が水分を溶解/吸収するため、使用前に脱水処理が必要という不都合がある。
また、塩交換法によるオニウム塩の製造溶媒として、特許文献3、4には酢酸イソプロピルの記載があるものの、溶剤の例示としての記載であり、特に酢酸イソプロピルの有効性は論じられていない。
公開特許公報平成11年第255739号 特許公報4569095号 公開特許公報2004年第123631号 公開特許公報2010年第13433号
この発明は化1で表される、重合開始剤として有用なスルホニウム化合物を安定して製造する方法であって、酢酸イソプロピルを主成分とする有機溶媒で化1の化合物を抽出する工程を含む化1で表されるスルホニウム化合物の製造方法である。この工程の原料としては、MXで表される塩と化2で表されるスルホニウム化合物が例示される。
Figure 0005897871
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(ただし、化1、化2において、R1は水素,メトキシカルボニル基,アセチル基,ベンゾイル基のいずれかを、R2は水素,ハロゲン,C1〜C4のアルキル基のいずれかを、R3はC1〜C4のアルキル基,C1〜C4のアルキル基で置換されていてもよいベンジル基,α−ナフチルメチル基のいずれかを、R4はC1〜C4のアルキル基を示す。XはSbF6,PF6,AsF6,BF4,CFSO,(CFSO2)N,B(C65)4のいずれかを、Mはアルカリ金属,NH4を、Yはハロゲンまたはアルキル硫酸イオンを示す。)
この発明は、先行技術文献とは異なり、化1で表される、重合開始剤として有用なスルホニウム塩の効率的な製造方法であり、各種の方法で合成した化1のスルホニウム化合物を、酢酸イソプロピルを主成分として、酢酸イソプロピル 1容量と、トルエン、ヘキサン、ヘプタンから選ばれた一種または二種以上を0〜0.5容量の混合からなる有機溶媒で抽出する製造方法である。そして具体的には以下の態様が例示される。
まず、第一に、化2で表される原料のスルホニウム化合物とMXで表される塩を、酢酸イソプロピルを主成分とする有機溶媒と水の2相系で塩交換反応させ、生成した化1で表されるスルホニウム化合物を生成と同時に有機溶媒層に抽出する方法である。この場合の水と有機溶媒の量は、攪拌可能な2相系を形成していればよい。また、酢酸イソプロピルを主成分とする有機溶媒は化1で表されるスルホニウム化合物を溶解せしめる量であればよい。水と有機溶媒の比は任意であるものの、水1容量に対して溶媒0.1〜3容量が好ましい。
第二に、化2で表される原料のスルホニウム化合物とMXで表される塩を、水系で塩交換反応させ、生成した化1で表されるスルホニウム化合物を、酢酸イソプロピルを主成分とする有機溶媒で有機溶媒層に抽出する方法である。
この方法は、特許文献1に記載の製造方法に準じてスルフィド化合物とハライド化合物を水中で反応させる方法で製造した化2の化合物を、単離することなく水系で塩交換反応させ、生成した化1で表されるスルホニウム化合物を、酢酸イソプロピルを主成分とする有機溶媒で抽出する方法を含む。
以上の2つの態様は、溶媒として使用する酢酸イソプロピル、ならびにこれを主成分とする上記の混合溶媒が、生成した化1で表されるスルホニウム化合物を選択的に溶解させるとともに、有機層の疎水性をあげることで水洗工程の分液を早め、水洗時間を短縮するとともに塩素イオンなどのイオン性不純物を水層に押し出し、同時に、重合開始剤に使用するスルホニウム化合物と水の接触時間を短縮することで加水分解を防止して反応を安定させ、生成物の純度、収率を向上させたものである。
また、第三の態様として、酢酸イソプロピル中での塩交換反応後、酢酸イソプロピル層にトルエン、ヘキサン、ヘプタンから選ばれた一種または二種以上の溶媒を添加することでさらに有機層の疎水性をあげ、上記以上に脱水を容易にすることで水洗時間を短縮し、塩素イオンなどのイオン性不純物を水層に押し出し、また、スルホニウム化合物と水の接触時間を短縮することで加水分解を防止する製造方法も含まれる。
なおまた、第一、第二の態様で塩交換反応の抽出溶媒にトルエン等を配合した実施系は、そのままあるいは溶媒を加減することで第三の態様を実施できるものである。
特に工業的に製造する場合のスケールアップにおいては、工程上さまざまな水分混入が予想されるが、この方法を適用することで、各工程ならびに重合開始剤への水分混入が防止されるものである。
この発明で溶媒の主成分として使用される酢酸イソプロピルは、沸点89℃の水に微溶の安定な溶媒であり、従来特許文献1などで使用されていた酢酸エチルと異なり、毒劇物取締法の劇物でなく、安全に取り扱うことができる。
なお、トルエン、ヘキサン、ヘプタンを酢酸イソプロピルの0.5容量を超えて添加すると、溶媒の疎水性が上がりすぎて、化1のスルホニウム化合物の溶解性を落として収率の低下を招くので、好ましくない。以上の態様によって抽出、製造された重合開始剤を溶解した溶液は溶媒を除去することによって簡単に固体の製品とすることができる。また、溶液型の重合開始剤はこの溶液を濃度調整することで製品にすることもできる。
ここで態様1と2において、原料とされるスルフィド化合物は、4−ヒドロキシフェニルメチルスルフィド、4−アセトキシフェニルメチルスルフィド、4−(メトキシカルボニルオキシ)フェニルメチルスルフィド等がある。また、ハライド化合物としては、ベンジルクロライド、クロルベンジルクロライド、メチルベンジルクロライド、α−ナフチルメチルクロライド、ベンジルブロマイド、メチルベンジルブロマイド、メチルブロマイド、α−ナフチルメチルブロマイド等がある。これらの組み合わせで化2は製造される。
本発明によって製造されるスルホニウム化合物は、4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネート、4−ヒドロキシフェニル(o−メチルベンジル)メチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネート、4−ヒドロキシフェニル(α−ナフチルメチル)メチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネート、4−アセトキシフェニルジメチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネート、4−(メトキシカルボニルオキシ)フェニルベンジルメチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネートなどの、ヘキサフルオロアンチモネート塩、4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ヘキサフルオロホスフェート、4−ヒドロキシフェニル(α−ナフチルメチル)メチルスルホニウム ヘキサフルオロホスフェート、4−ヒドロキシフェニル(o−メチルベンジル)メチルスルホニウム ヘキサフルオロホスフェート、4−アセトキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ヘキサフルオロホスフェートなどの、ヘキサフルオロホスフェート塩、4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ヘキサフルオロアルセネート、4−ヒドロキシフェニル(o−メチルベンジル)メチルスルホニウム ヘキサフルオロアルセネートなどの、ヘキサフルオロアルセネート塩、4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム テトラフルオロボレート、4−ヒドロキシフェニル(o−メチルベンジル)メチルスルホニウム テトラフルオロボレートなどの、テトラフルオロボレート塩、4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム トリフルオロメタンスルホン酸塩、4−ヒドロキシフェニル(o−メチルベンジル)メチルスルホニウム トリフルオロメタンスルホン酸塩などの、トリフルオロメタンスルホン酸塩、4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ビス(トリフルオロメタンスルホン)イミト゛、4−ヒドロキシフェニル(α−ナフチルメチル)メチルスルホニウム ビス(トリフルオロメタンスルホン)イミト゛などのビス(トリフルオロメタンスルホン)イミト゛塩、4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート、4−ヒドロキシフェニル(α−ナフチルメチル)メチルスルホニウム テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート、4−ヒドロキシフェニル(o−メチルベンジル)メチルスルホニウム テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレートなどの、テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート塩等が挙げられる。
この発明において、化2から化1へのスルホニウム化合物のイオン交換反応は、水もしくは水と酢酸イソプロピルの存在下で実施され、塩交換反応に使用される非求核性陰イオンを有するアルカリ金属塩としては、NaSbF6,KSbF6,NaPF6,KPF6,NaAsF6,KAsF6,NaBF4,LiBF4,LiB(C65)4,NaB(C65)4等がある。反応温度は、アニオンがB(C65)4の場合は25〜40℃、好ましくは30〜35℃、これ以外のアニオンでは20℃以下、好ましくは5〜10℃である。これを越えると化1の重合開始剤として使用されるスルホニウム化合物が熱によって劣化を生じるために好ましくない。イオン交換反応に要する時間はおおむね1時間以内である。
このとき、反応に供する非求核性陰イオンを有するアルカリ金属塩の添加量は、化2で表されるスルホニウム化合物1モルに対して、0.8〜1.2モルが好ましく、より好ましくは0.9〜1.0モルである。
トルエン、ヘキサン、ヘプタンから選ばれた一種または二種以上の溶媒の添加量については、酢酸イソプロピル 1容量に対して、トルエン、ヘキサン、ヘプタンから選ばれた一種または二種以上を0〜0.5容量の混合となるように添加することが好ましい。ここで添加するトルエンなどは、水を溶解させないので、酢酸イソプロピルに残っているわずかの水分をも、水側に押し出す作用をなす。なお、0.5容量を超えると先にも記載のとおり、系内に共存している製品のスルホニウム化合物の溶解度が下がり、製品が析出してくるので、好ましくない。
いわゆる抽出溶媒として使用される類似のエステル類は多種あるが、この発明においては、酢酸イソプロピルに対するスルホニウム化合物の溶解性が、化1、化2共存下では、化1を選択的に溶解させるので、イオン交換反応が定量的に進行していることが理解され、スルホニウム化合物の塩交換反応が安定し、収率が向上し、純度も高いものが安定して得られる。よって、酢酸イソプロピルが化1の重合開始剤製造時における抽出溶媒として有効であることを見出したものである。
また、酢酸イソプロピル単独、あるいは酢酸イソプロピルとトルエン/ヘプタン/ヘキサンの系は、水を溶解させ難いので、スルホニウム化合物を溶解したあとの酢酸イソプロピル相を脱水する必要がない。従来は無機系の脱水剤である無水硫酸ナトリウムや硫酸マグネシウムで処理しており、これら脱水剤由来の無機イオンが不純物となる恐れがあったところ、この問題から回避することができる。以上、溶媒を特定のものに変更することによる効果は大きく、本発明の方法は、特定のスルホニウム化合物の効率的な合成に寄与することができる。
なおまた、本発明で製造した溶液は、濃度を調整することで、そのまま溶液タイプの重合開始剤として使用することもできる。このことで、工程の簡略化をはかることが可能となる利点も存在する。
以下に本発明の実施例を示すが、本発明の範囲はこれに限定されるものではない。なお、この実施例においてイオン分析法は、ナトリウムイオンやカリウムイオン、リチウムイオンなどの陽イオンについては原子吸光分析(原子吸光分光光度計:島津製作所 AA6800)法で、塩素イオンなどのハロゲンイオンについては、イオンクロマトグラフ(日本ダイオネクス ICS-2100)で測定した。
実施例1
4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ヘキサフルオロホスファートの合成
四ツ口コルベンに攪拌機、温度計、コンデンサーをそれぞれ設置する。なお、以下の実施例、比較例においても同様の装置を使用した。
4−ヒドロキシフェニルメチルスルフィド14.5g(0.103モル)、ベンジルクロライド13.8g(0.109モル)、水300mlを35℃で20時間反応させた。反応終了後、未反応物を除去するため、酢酸イソプロピル100mlで洗浄して4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム クロライド27.6g(0.103モル)の水溶液を得た。これに酢酸イソプロピル200mlを加え、次いで、ヘキサフルオロリン酸カリウム 18.9g(0.103モル)を投入し、10℃で30分間反応する。 反応後、分液して生成物が抽出された酢酸イソプロピル層を取り出し、水200mlで有機溶媒相を洗浄した。水分を脱水し、有機溶媒相を減圧濃縮し、白色結晶を得た。 得量は36.7gであった。NMR分析、IR分析、および元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は94.8%、また、融点は148.0〜150.0℃であった。なお、Kイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例2
4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレートの合成
実施例1の前半と同様に合成した4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム クロライド27.6g(0.103モル)の水溶液に酢酸イソプロピル200mlを加え、次いで、テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ホウ酸ナトリウム10%水溶液 723.0g(0.103モル)を滴下し、30℃で1時間反応した。反応後、実施例1と同様に処理して、白色結晶を得た。得量は89.1gであった。NMR分析、IR分析、および元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は95.0%、融点は86.5〜88.0℃であった。なお、Naイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例3
4−ヒドロキシフェニル(α-ナフチルメチル)メチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネートの合成
4−ヒドロキシフェニルメチルスルフィド14.5g(0.103モル)、α-ナフチルメチルクロライド18.2g(0.103モル)、水180mlを35℃で20時間反応させ、4−ヒドロキシフェニル(α-ナフチルメチル)メチルスルホニウム クロライド32.7g(0.103モル)の水溶液を得た。これに酢酸イソプロピル200mLを加え、次いで、ヘキサフルオロアンチモン酸ナトリウム 26.6g(0.103モル)を投入し、5℃で1時間反応した。反応後、実施例1と同様に処理して白色結晶を得た。得量は49.5gであった。NMR分析、IR分析及び元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は93.0%、融点は125.0〜127.0℃であった。なお、Naイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例4
4−ヒドロキシフェニル(α-ナフチルメチル)メチルスルホニウム テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレートの合成
実施例3の前半と同様に合成した4−ヒドロキシフェニル(α-ナフチルメチル)メチルスルホニウム クロライド32.7g(0.103モル)の水溶液に、酢酸イソプロピル400mlを加え、次いで、テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ホウ酸ナトリウム10%水溶液 724.5g(0.103モル)を滴下し、35℃で1時間反応した。反応後、実施例1と同様に処理して白色結晶を得た。得量は86.2gであった。NMR分析、IR分析、および元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は87.0%、融点は130.0〜132.0℃であった。なお、Naイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例5
4−ヒドロキシフェニル(ジメチル)スルホニウム ヘキサフルオロアンチモネートの合成
4−ヒドロキシフェニルメチルスルフィド63.5g(0.453モル)、硫酸ジメチル60.0g(0.468モル)を水中で反応させ、4−ヒドロキシフェニルジメチルスルホニウム メチル硫酸塩120.6g(0.453モル)の水溶液を得た。これに酢酸イソプロピル375mLを加え、次いでヘキサフルオロアンチモン酸ナトリウム 117.2g(0.453モル)を投入し、10℃で30分間反応した。反応後、実施例1と同様に処理して白色結晶を得た。得量は171.8gであった。NMR分析、IR分析及び元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は97.0%、融点は171.0〜172.0℃であった。なお、Naイオンの含有濃度は、検出限界の1ppm未満であった。
実施例6
4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレートの合成
実施例1の前半で合成した4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム クロライド27.6g(0.103モル)の水溶液にテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ホウ酸ナトリウム10%水溶液 723.0g(0.103モル)を滴下し、30℃で1時間反応した。反応後、酢酸イソプロピル200mlを加え、表記物を抽出した。抽出した酢酸イソプロピル層を実施例1と同様に処理して白色結晶を得た。得量は90.0gであった。NMR分析、IR分析、および元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は96.0%、融点は86.0〜88.0℃であった。なお、Naイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例7
4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム トリフルオロメタンスルホン酸塩の合成
実施例1の前半で合成した4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム クロライド27.6g(0.103モル)の水溶液に酢酸イソプロピル200mlを加え、次いでトリフルオロメタンスルホン酸リチウム 16.0g(0.103モル)を投入し、20℃で30分間反応した。反応後、実施例1と同様に処理して、白色結晶を得た。 得量は36.6gであった。NMR分析、IR分析、および元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は93.0%、また、融点は131.0〜132.5℃であった。 なお、リチウムイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例8
4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ビス(トリフルオロメタンスルホン)イミト゛の合成
実施例1の前半で合成した4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム クロライド27.6g(0.103モル)の水溶液に、酢酸イソプロピル200mlを加え、次いでリチウム=ビス(トリフルオロメタンスルホン)イミド 29.6g(0.103モル)を投入し、20℃で30分間反応した。反応後、実施例1と同様に処理して、白色結晶を得た。得量は49.8gであった。NMR分析、IR分析、および元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は94.1%、また、融点は77.5〜79.0℃であった。なお、リチウムイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例9
4−ヒドロキシフェニル(O−メチルベンジル)メチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネートの合成
4−ヒドロキシフェニルメチルスルフィド27.5g(0.196モル)、O−メチルベンジルクロライド29.0g(0.206モル)、水400mlを35℃で20時間反応させ、4−ヒドロキシフェニル(O−メチルベンジル)メチルスルホニウム クロライド55.0g(0.196モル)の水溶液を得た。これに酢酸イソプロピル450mlを加え、次いでヘキサフルオロアンチモン酸ナトリウム50.7g(0.196モル)を投入し、10℃で30分間反応した。反応後、分液により酢酸イソプロピル層を取り出し、トルエン150mlを加え、水 200mlで有機溶媒相を洗浄した。水分を分液、脱水し、有機溶媒相を減圧濃縮し、白色結晶を得た。得量は88.7gであった。NMR分析、IR分析、および元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は94.0%、また、融点は138.0〜139.5℃であった。なお、Naイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例10
4−ヒドロキシフェニル(α-ナフチルメチル)メチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネートの合成
実施例3の前半で合成した4−ヒドロキシフェニル(α-ナフチルメチル)メチルスルホニウム クロライド32.7g(0.103モル)の水溶液に、酢酸イソプロピル200mLを加え、次いでヘキサフルオロアンチモン酸ナトリウム 26.6g(0.103モル)を投入し、5℃で1時間反応した。反応後、分液により酢酸イソプロピル層を取り出し、トルエン75mlを加え、水 50mlで有機溶媒相を洗浄した。水分を分液、脱水し、有機溶媒相を減圧濃縮し、白色結晶を得た。得量は51.4gであった。NMR分析、IR分析及び元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は96.6%、融点は125.0〜127.0℃であった。なお、Naイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例11
4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネートの合成
実施例1の前半で合成した4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム クロライド26.7g(0.100モル)の水溶液に、酢酸イソプロピル450mLを加え、次いでヘキサフルオロアンチモン酸ナトリウム 25.9g(0.100モル)を投入し、10℃で30分間反応した。反応後、実施例9と同様に処理して白色結晶を得た。得量は43.5gであった。NMR分析、IR分析及び元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は93.0%、融点は114.0〜115.5℃であった。なお、Naイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例12
4−アセトキシフェニルジメチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネートの合成
4−アセトキシフェニルジメチルスルホニウム メチル硫酸塩30.9g(0.100モル)に、酢酸イソプロピル300mLを加え、次いでヘキサフルオロアンチモン酸カリウム 25.9g(0.100モル)の水100ml溶液を滴下し、5℃で30分間反応した。反応後、分液により酢酸イソプロピル層を取り出し、酢酸イソプロピル150ml、トルエン150mlを加え、水200mlで有機溶媒相を洗浄した。水分を分液、脱水し、有機溶媒相を減圧濃縮し、白色結晶を得た。得量は40.4gであった。NMR分析、IR分析及び元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は93.3%、融点は154.5〜156.0℃であった。なお、Kイオンの含有濃度は、検出限界の1ppm未満であった。
実施例13
4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレートの合成
実施例1の前半で合成した4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム クロライド27.6g(0.103モル)の水溶液に、酢酸イソプロピル200mlを加え、次いでテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ホウ酸ナトリウム10%水溶液 723.0g(0.103モル)を滴下し、30℃で1時間反応した。反応後、分液により酢酸イソプロピル層を取り出し、酢酸イソプロピル250ml、ヘキサン150mlを加え、水 200mlで有機溶媒相を洗浄した。水分を分液、脱水し、有機溶媒相を減圧濃縮し、白色結晶を得た。得量は89.1gであった。NMR分析、IR分析、および元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は95.0%、融点は86.5〜88.0℃であった。なお、Naイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例14
4−ヒドロキシフェニル(α-ナフチルメチル)メチルスルホニウム テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレートの合成
実施例3の前半で合成した4−ヒドロキシフェニル(α-ナフチルメチル)メチルスルホニウム クロライド32.7g(0.103モル)の水溶液に、酢酸イソプロピル400mlを加え、次いでテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ホウ酸ナトリウム10%水溶液 723.0g(0.103モル)を滴下し、35℃で1時間反応した。反応後、分液により酢酸イソプロピル層を取り出し、酢酸イソプロピル50ml、トルエン180mlを加え、水 250mlで有機溶媒相を洗浄した。水分を分液、脱水し、有機溶媒相を減圧濃縮し、白色結晶を得た。得量は89.2gであった。NMR分析、IR分析、および元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は90.0%、融点は130.0〜131.5℃であった。なお、Naイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例15
実施例14のトルエンをヘプタンに変えた以外は実施例14に従って実施した。収率は89.8%、融点は129.5〜131.5℃であった。なお、Naイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
実施例16
4−ヒドロキシフェニル(α-ナフチルメチル)メチルスルホニウム テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレートの合成
実施例3の前半で合成した4−ヒドロキシフェニル(α-ナフチルメチル)メチルスルホニウム クロライド32.7g(0.103モル)の水溶液にテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ホウ酸ナトリウム10%水溶液 723.0g(0.103モル)を滴下し、35℃で1時間反応した。反応後、酢酸イソプロピル450ml、トルエン180mlを加え、表記物を抽出して、水 250mlで有機溶媒相を洗浄し、分液、脱水した。有機溶媒相を減圧濃縮し、白色結晶を得た。得量は90.0gであった。NMR分析、IR分析、および元素分析の結果、生成物が表記であることを確認した。収率は90.8%、融点は130.0〜131.5℃であった。 なお、Naイオンおよび塩素イオンの含有濃度は、検出限界の各1ppm未満であった。
比較例1
実施例1の酢酸イソプロピルを酢酸エチルに変更した以外は実施例1に従って合成した。得られた結晶はNMR分析、IR分析及び元素分析の結果、4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ヘキサフルオロホスファートであることを確認した。収率は91.6%、融点は140.0〜143.0℃で、実施例に比べて収率、融点ともに低下し、塩素イオンの含有濃度は10ppmであった。
比較例2
実施例11の酢酸イソプロピルを酢酸エチルに変更した以外は実施例11に従って合成した。得られた結晶はNMR分析、IR分析及び元素分析の結果、4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネートであることを確認した。収率は89.8%、融点は112.0〜115.0℃で、Naイオンの含有量は20ppm、塩素イオンの含有濃度は10ppmであった。
比較例3
実施例11の酢酸イソプロピルを酢酸n-ブチルに変更した以外は実施例11に従って合成した。酢酸n−ブチルの沸点は126℃であるので、最終的に減圧蒸留によって除去したが、実施例8よりも蒸留工程時間が1時間と、2倍以上となり、溶媒が微量に残留して結晶化にも6時間を要した。Naイオンの含有量は8ppm、塩素イオンの含有濃度は4ppmであったが、生成した4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネートの収率は75.3%に低下し、融点も103.0〜110.0℃と低下し、かつ融点に幅があった。
比較例4
実施例3の酢酸イソプロピルをヘプタンに変更した以外は実施例3に従って合成した。生成物の4−ヒドロキシフェニル(α-ナフチルメチル)メチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネートの収率は5.3%で、生成物には未反応の原料と無機物が混在していた。
比較例5
実施例7の酢酸イソプロピルを酢酸エチルに変更した以外は実施例7に従って合成した。得られた結晶はNMR分析、IR分析及び元素分析の結果、4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム トリフルオロメタンスルホン酸塩であることを確認した。収率は85.3%、融点は129.0〜133.0℃で実施例7に比べて収率が低下した。なお、リチウムイオンの含有量は20ppm、塩素イオンの含有濃度は15ppmであった。
比較例6
実施例8の酢酸イソプロピルを酢酸エチルに変更した以外は実施例8に従って合成した。得られた結晶はNMR分析、IR分析及び元素分析の結果、4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ビス(トリフルオロメタンスルホン)イミドであることを確認した。収率は87.5%、融点は75.0〜79.0℃であった。なお、リチウムイオンの含有量は18ppm、塩素イオンの含有濃度は13ppmであった。
重合試験例1
減圧濃縮の前まで実施例3に従って合成し、熱カチオン重合開始剤である4−ヒドロキシフェニル(α-ナフチルメチル)メチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネートの22.1%酢酸イソプロピル溶液を得た。これを酢酸イソプロピルで濃度が20%になるように希釈した。この溶液0.5gを、JER828(ジャパンエポキシレジン株式会社製 ビスフェノールA型エポキシ樹脂の商品名)10gと混合して、JISK7071(1988)の手法に準じて90℃におけるゲル化時間を測定したところ、1分20秒でゲル化した。
重合試験例2
エポキシ樹脂JER828をセロキサイド2021(ダイセル化学工業株式会社製
エポキシ樹脂の商品名)に変更した以外は重合試験例1に記載の方法と同様にして80℃でゲル化時間を測定したところ、1分30秒でゲル化した。
重合試験例3
減圧濃縮の前まで実施例11に従って合成し、熱カチオン重合開始剤である4−ヒドロキシフェニルベンジルメチルスルホニウム ヘキサフルオロアンチモネートの10%酢酸イソプロピル溶液を得た。この溶液1gを、JER828(ジャパンエポキシレジン株式会社製 ビスフェノールA型エポキシ樹脂の商品名)10gと混合して、JISK7071(1988)の手法に準じて120℃におけるゲル化時間を測定したところ、1分36秒でゲル化した。
重合試験例4
エポキシ樹脂JER828をセロキサイド2021(ダイセル化学工業株式会社製
エポキシ樹脂の商品名)に変更した以外は重合試験例3に記載の方法と同様にして80℃でゲル化時間を測定したところ、4分32秒でゲル化した。
この発明は重合開始剤として有用なスルホニウム化合物の製造に有用であり、特に無機イオンが存在しない高純度のスルホニウム化合物を製造する方法として有効である。また、製造された溶液のまま重合開始剤として使用することができるので、工程の短縮がはかられるなど、製品形態のひとつとして有用である。


Claims (7)

  1. 化2で表されるスルホニウム化合物とMXで表される塩を、酢酸イソプロピルを主成分とする有機溶媒と水の2相系で反応させ、生成した化1で表されるスルホニウム化合物を有機溶媒層に抽出してなる化1で表されるスルホニウム化合物の製造方法。

    Figure 0005897871

    Figure 0005897871

    (ただし、化1、化2において、R1は水素,メトキシカルボニル基,アセチル基,ベンゾイル基のいずれかを、R2は水素,ハロゲン,C1〜C4のアルキル基のいずれかを、R3はC1〜C4のアルキル基,C1〜C4のアルキル基で置換されていてもよいベンジル基,α−ナフチルメチル基のいずれかを、R4はC1〜C4のアルキル基を示す。Yはハロゲンまたはアルキル硫酸イオンを、Mはアルカリ金属,NH4を、XはSbF6,PF6,AsF6,BF4,CFSO,(CFSO2)N,B(C65)4のいずれかを示す。)
  2. 請求項1に記載の化2で表されるスルホニウム化合物とMXで表される塩を水溶媒で反応させ、生成した化1で表されるスルホニウム化合物を、酢酸イソプロピルを主成分とする有機溶媒で有機溶媒層に抽出してなる請求項1に記載の化1で表されるスルホニウム化合物の製造方法。
  3. 請求項1または2に記載の製造方法において、抽出後の有機溶媒層に酢酸イソプロピル 1容量に対して、トルエン、ヘキサン、ヘプタンから選ばれた一種または二種以上を0.5容量以下になるように混合してなる請求項1に記載の化1で表されるスルホニウム化合物の製造方法。
  4. 酢酸イソプロピルを主成分とする有機溶媒が酢酸イソプロピル 1容量に対して、トルエン、ヘキサン、ヘプタンから選ばれた一種または二種以上を0〜0.5容量混合したものである請求項1〜2のいずれかに記載のスルホニウム化合物の製造方法。
  5. 請求項1または2に記載の製造方法において、抽出後の有機溶媒層に酢酸イソプロピル 1容量に対して、トルエン、ヘキサン、ヘプタンから選ばれた一種または二種以上を脱水のための溶媒として混合してなる請求項3のスルホニウム化合物の製造方法。
  6. 請求項1に記載の化1で表されるスルホニウム化合物の酢酸イソプロピル溶液であって、酢酸イソプロピルに対する化1で表されるスルホニウム化合物の濃度が0.09〜0.46g/mLである、樹脂を含まない溶液。
  7. 酢酸イソプロピル 1容量に対して、トルエン、ヘキサン、ヘプタンから選ばれた一種または二種以上を0〜0.5容量混合した有機溶媒に、請求項1に記載の化1で表されるスルホニウム化合物を溶解した溶液であって、酢酸イソプロピルに対する化1で表されるスルホニウム化合物の濃度が0.08〜0.26g/mLである、樹脂を含まない樹脂を含まない溶液。
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