JP5881585B2 - アナログデジタル変換器 - Google Patents
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Description
このような逐次比較型ADCにおいては、設定電圧と入力電圧を比較する比較器のregeneration時間(比較器の出力値がMetastable状態(準安定状態)から安定状態に落ち着くまでの時間)が長い場合、大きな変換誤差が発生することがある。
図1は、第1の実施の形態にかかるアナログデジタル変換器(以下、AD変換器という)の構成例を示すブロック図である。図1に示すように、本実施の形態のAD変換器は、S/H(サンプルホールド)回路1と、逐次比較制御部2と、比較器3と、逐次比較レジスタ4と、DA(ディジタルアナログ)変換器(以下、DA変換器という。)5(参照電圧生成部)と、Metastable検出回路(検出部)6とを備える。本実施の形態のAD変換器は、逐次比較型のAD変換器であり、入力されたアナログ信号(アナログ入力)をデジタル出力(デジタルコード)に変換する。本実施の形態のAD変換器は、例えば、無線または有線の受信機や、AD変換を行う電子機器装置、電化製品等に搭載される。なお、S/H回路1は必須ではなく、S/H回路1を備えない場合も本実施の形態の効果を得られる。
DA変換器5から参照電圧として(1/2)Vrefが入力され、比較器3により、アナログ入力と(1/2)Vrefの比較が行われる。この比較により、アナログ入力>(1/2)Vrefである場合、逐次比較レジスタ4に1が格納され、DA変換器5は参照電圧に(1/4)Vrefをプラスする。一方、アナログ入力≦(1/2)Vrefである場合、逐次比較レジスタ4に0が格納され、DA変換器5は参照電圧から(1/4)Vrefをマイナスする。図2の例では、アナログ入力>(1/2)Vrefであるため、逐次比較レジスタ4に1が格納され、参照電圧に(1/4)Vrefがプラスされる。
参照電圧として(1/2+(または−)1/4)Vrefが入力され、比較器3により、アナログ入力と参照電圧の比較が行われる。この比較により、アナログ入力>参照電圧である場合、逐次比較レジスタ4に1が格納され、DA変換器5は参照電圧に(1/8)Vrefをプラスする。一方、アナログ入力≦参照電圧である場合、逐次比較レジスタ4に0が格納され、DA変換器5は参照電圧から(1/8)Vrefをマイナスする。図2の例では、アナログ入力>参照電圧であるため、逐次比較レジスタ4に1が格納され、参照電圧に(1/8)Vrefがプラスされる。
参照電圧として、(1/2+(または−)1/4+(または−)1/8)Vrefが入力され、比較器3により、アナログ入力と参照電圧の比較が行われる。この比較により、アナログ入力>参照電圧である場合、逐次比較レジスタ4に1が格納され、DA変換器5は参照電圧に(1/16)Vrefをプラスする。一方、アナログ入力≦参照電圧である場合、逐次比較レジスタ4に0が格納され、DA変換器5は参照電圧から(1/16)Vrefをマイナスする。図2の例では、アナログ入力≦参照電圧であるため、逐次比較レジスタ4に0が格納され、参照電圧に(1/16)Vrefがマイナスされる。
参照電圧として、(1/2+(または−)1/4+(または−)1/8−(または+)1/16)Vrefが入力され、比較器3により、アナログ入力と参照電圧の比較が行われる。この比較により、アナログ入力>参照電圧である場合、逐次比較レジスタ4に1が格納される。一方、アナログ入力≦参照電圧である場合、逐次比較レジスタ4に0が格納される。図2の例では、アナログ入力>参照電圧であるため、逐次比較レジスタ4に1が格納される。
次に、第2の実施の形態にかかるAD変換器について説明する。本実施の形態のAD変換器の全体構成は、図1に示した第1の実施の形態のAD変換器と同様である。第1の実施の形態と同様の機能を有する構成要素は、第1の実施の形態と同一の符号を付して重複する説明を省略する。
図12は、第3の実施の形態のMetastable検出回路6の構成例を示す図である。本実施の形態のAD変換器の全体構成は、図1に示した第1の実施の形態のAD変換器と同様である。第1の実施の形態と同様の機能を有する構成要素は、第1の実施の形態と同一の符号を付して重複する説明を省略する。
Claims (5)
- 入力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型のアナログデジタル変換器であって、
ビットごとに前記アナログ信号と参照電圧との比較結果を出力する比較器と、
前記比較結果に応じたデジタル値をビットごとに格納し、デジタル信号を出力するレジスタと、
ビットごとに前記比較器が安定状態にあるか否かを検出する検出部と 、
前記検出部が安定状態でないことを示す結果であった場合、当該結果が検出されたビットを検出ビットとし、前記検出ビットの1ビット下位のビットのビット値として、前記比較器の前記比較結果の代わりに、前記検出ビットの確定したビット値を反転させた値を、前記レジスタへ格納するビット確定部と、
を備え、
前記検出部は、
前記比較器から出力される2つの出力信号の論理値が互いに等しい場合と前記2つの出力信号の論理値が互いに異なる場合とで異なる論理値を内部信号として出力する内部信号生成部と、
前記内部信号をラッチする内部信号保持部と、
を備え、
前記内部信号保持部は、所定の時間経過後の前記内部信号を出力することを特徴とするアナログデジタル変換器。 - 入力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型のアナログデジタル変換器であって、
ビットごとに前記アナログ信号と参照電圧との比較結果を出力する比較器と、
前記比較結果に応じたデジタル値をビットごとに格納し、デジタル信号を出力するレジスタと、
ビットごとに前記比較結果が安定状態にあるか否かを検出する検出部と、
前記検出部が安定状態でないことを示す結果であった場合、当該結果が検出されたビットを検出ビットとし、前記検出ビットのビット値として前記比較器の前記比較結果の代わりに第1の値を前記逐次比較レジスタへ格納し、前記検出ビットの1ビット下位のビットのビット値として前記比較器の前記比較結果の代わりに前記第1の値を反転させた第2の値を前記レジスタへ入力するビット確定部と、
を備え、
前記検出部は、
前記比較器から出力される2つの出力信号の論理値が互いに等しい場合と前記出力信号の論理値が互いに異なる場合とで異なる論理値を内部信号として出力する内部信号生成部と、
前記内部信号をラッチする内部信号保持部と、
を備え、
前記内部信号保持部は、所定の時間経過後の前記内部信号を出力することを特徴とするアナログデジタル変換器。 - 前記第1の値を1とすることを特徴とする請求項2に記載のアナログデジタル変換器。
- 前記第1の値を0とすることを特徴とする請求項2に記載のアナログデジタル変換器。
- 前記所定の時間は、前記内部信号生成部自身のMetastable状態が終了するまでの時間であることを特徴とする請求項1から4のいずれか1つに記載のアナログデジタル変換器。
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