JP5847698B2 - 半導体ブロック接着装置、半導体ブロック接着方法及び半導体ウエハの製造方法 - Google Patents
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Description
図1〜2に示すように、本発明の実施の形態に係る半導体ブロック接着装置1は、半導体ブロック8及び下地基板7の搬入及び搬出を行う搬入出部2と、半導体ブロック8を支持し、半導体ブロック8を上下に移動させる支持部3と、接着剤を下地基板7上に塗布する塗布部4と、制御装置5と、表示装置6とを備える。
次に、図1〜図7の概略図及び図8のフローチャートを用いて、実施の形態に係る半導体ブロック接着方法を説明する。
本発明の実施の形態に用いられる接着剤は、重合性ビニルモノマーを含む接着剤を用いるのが好ましく、特に、(1)(メタ)アクリル系モノマー、(2)重合開始剤、(3)硬化促進剤、及び(4)エラストマーを含む(メタ)アクリル系接着剤を用いることができる。
(メタ)アクリル系モノマーとは、(メタ)アクリル酸及び/又は(メタ)アクリル酸エステルから選ばれるアクリル系化合物という。(メタ)アクリル系モノマーとしては、以下のものが挙げられる。
アルキル(メタ)アクリレートとしては、一般式(A)で示される(メタ)アクリル系モノマー等が挙げられる。
Z−O−R1 ・・・(A)
(式中、Zは(メタ)アクリロイル基を示し、R1は炭素数1〜10のアルキル基を表す。)
ビスフェノール骨格を有する(メタ)アクリル酸モノマーとしては、一般式(B)で示される(メタ)アクリル系モノマー等が挙げられる。
ジシクロペンテニルオキシアルキレン(メタ)アクリレートとしては、一般式(C)で示される(メタ)アクリル系モノマー等が挙げられる。
芳香族基を有する(メタ)アクリレートとしては、一般式(D)で示される(メタ)アクリル系モノマー等が挙げられる。
Z−O−(R5O)r−R6 ・・・(D)
(式中、Zは(メタ)アクリロイル基を示し、R5は−C2H4−、−C3H6−、−CH2CH(CH3)−、−C4H8−又は−C6H12−を示し、R6はフェニル基又は炭素数1〜3のアルキル基を有するフェニル基を示し、rは1〜10の整数を示す。)
ヒドロキシル基を有する(メタ)アクリル系モノマーとしては、一般式(E)で示される(メタ)アクリル系モノマー等が挙げられる。
Z−O−(R7O)s−H ・・・(E)
(式中、Zは(メタ)アクリロイル基を示し、R7は−C2H4−、−C3H6−、−CH2CH(CH3)−、−C4H8−又は−C6H12−を示し、sは1〜10の整数を示す。)
成分(1−1)、成分(1−3)及び成分(1−5)の含有割合は、成分(1−1)、成分(1−3)及び成分(1−5)の合計100質量部中、質量比で、成分(1−1):成分(1−3):成分(1−5)=40〜90:5〜35:5〜35が好ましく、50〜80:10〜25:10〜25がより好ましい。
成分(1−2)、成分(1−4)及び成分(1−5)の含有割合は、成分(1−2)、成分(1−4)及び成分(1−5)の合計100質量部中、質量比で、成分(1−2):成分(1−4):成分(1−5)=1〜20:20〜60:30〜70が好ましく、5〜15:30〜55:35〜60がより好ましい。
重合開始剤としては、クメンハイドロパーオキサイド、パラメンタンハイドロパーオキサイド、ターシャリーブチルハイドロパーオキサイド、ジイソプロピルベンゼンジハイドロパーオキサイド、メチルエチルケトンパーオキサイド、ベンゾイルパーオキサイド及びターシャリーブチルパーオキシベンゾエート等の有機過酸化物が好ましく、これらの1種又は2種以上が使用できる。これらの中では成分(3)や成分(4)との反応性の点で、クメンハイドロパーオキサイドが好ましい。
硬化促進剤としては、β−ジケトンキレート及び/又はβ−ケトエステルが挙げられる。β−ジケトンキレートとしては、バナジルアセチルアセトネート、コバルトアセチルアセトネートオ及び銅アセチルアセトネート等が挙げられる。β−ケトエステルとしては、ナフテン酸バナジル、ステアリン酸バナジル、ナフテン酸銅若しくはオクチル酸コバルト等が挙げられ、これらの1種又は2種以上が使用できる。これらの中では、成分(2)との反応性の点で、還元性を有する金属塩が好ましく、バナジウムアセチルアセトネート、ナフテン酸銅及びオクチル酸コバルトからなる群のうちの1種又は2種以上がより好ましく、バナジルアセチルアセトネートが最も好ましい。
本発明の実施の形態に係る接着剤は、剥離強度と衝撃強度を向上させるためにエラストマー成分を使用することが好ましい。エラストマーとしては、アクリロニトリル−ブタジエン−メタクリル酸共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン−メタクリレート共重合体、メチルメタクリレート−ブタジエン−スチレン共重合体、アクリロニトリル−スチレン−ブタジエン共重合体、並びに、アクリロニトリル−ブタジエンゴム、線状ポリウレタン、スチレン−ブタジエンゴム、クロロプレンゴム及びブタジエンゴム等の各種合成ゴム、天然ゴム、スチレン−ポリブタジエン−スチレン系合成ゴムといったスチレン系熱可塑性エラストマー、ポリエチレン−EPDM合成ゴムといったオレフィン系熱可塑性エラストマー、並びにカプロラクトン型、アジペート型及びPTMG型といったウレタン系熱可塑性エラストマー、ポリブチレンテレフタレート−ポリテトラメチレングリコールマルチブロックポリマーといったポリエステル系熱可塑性エラストマー、ナイロン−ポリオールブロック共重合体といったポリアミド系熱可塑性エラストマー、1,2−ポリブタジエン系熱可塑性エラストマー、並びに塩ビ系熱可塑性エラストマー等が挙げられる。これらのエラストマー成分は相溶性が良ければ、1種又は2種以上を使用することができる。又、末端(メタ)アクリル変性したポリブタジエンも使用できる。これらの中では、(メタ)アクリル系モノマーに対する溶解性や接着性の点で、メチルメタクリレート−ブタジエン−スチレン共重合体及び/又はアクリロニトリル−ブタジエンゴムが好ましく、その併用がより好ましい。
本発明の実施の形態に係る接着剤は、空気に接している部分の硬化を迅速にするために各種パラフィン類を使用することができる。パラフィン類としては、パラフィンワックス、マイクロクリスタリンワックス、カルナバろう、蜜ろう、ラノリン、鯨ろう、セレシン及びカンデリラろう等が挙げられる。これらの1種又は2種以上を使用することができる。
パラフィン類の使用量は、成分(1)100質量部に対して、0.1〜5質量部が好ましく、0.3〜2.5質量部がより好ましい。0.1質量部未満では空気に接している部分の硬化が悪くなる場合があり、5質量部を超えると接着強度が低下する場合がある。
本発明の実施の形態に係る半導体ウエハの製造方法について、図9(a)〜図9(c)の概略図及び図10のフローチャートを用いて説明する。
本発明は上記の実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
2…搬入出部
3…支持部
4…塗布部
5…制御装置
6…表示装置
7…下地基板
8…半導体ブロック
9…接着剤層
10…下地基板付き半導体ブロック
11…架台
12…搬送部材
13…ステージ
21…ガイド
31…支柱部
32…吸着パッド
33…アクチュエータ
34…エア機器
41…支柱部
42…シリンジ
43…ディスペンサ
51…ステージ制御部
52…ブロック昇降制御部
53…ディスペンサ制御部
Claims (18)
- 半導体ブロック及び下地基板の搬入及び搬出を行う搬入出部と、
前記半導体ブロック表面に吸着する吸着パッド、前記吸着パッドに接続され、前記吸着パッドに吸着された前記半導体ブロックを空気圧により上下に移動させるアクチュエータ、及び前記アクチュエータに接続されたエア機器を備える支持部と、
重合性ビニルモノマーを含む仮固定用接着剤を前記下地基板上に塗布する塗布部と、
前記半導体ブロック又は前記下地基板を載せ、前記搬入出部、前記支持部及び前記塗布部間を移動するステージと、
前記塗布部において前記下地基板上に前記接着剤を塗布した後に塗布後の下地基板を前記半導体ブロックの下方へ搬送し、前記半導体ブロックを下方に降ろして前記下地基板と接着させる工程を制御する制御装置と、
を備え、
前記搬入出部、前記支持部及び前記塗布部は、前記ステージの摺動方向に沿って配設されることを特徴とする半導体ブロック接着装置。 - 前記アクチュエータが、エアシリンダーである請求項1に記載の半導体ブロック接着装置。
- 前記搬入出部が、前記半導体ブロックを前記ステージ上の所定位置に固定するガイドを備える請求項1又は2に記載の半導体ブロック接着装置。
- 前記塗布部が、前記接着剤を混合するスタティックミキサーを備える請求項1〜3のいずれか1項に記載の半導体ブロック接着装置。
- 前記接着剤が、(1)(メタ)アクリル系モノマー、(2)重合開始剤、(3)硬化促進剤、及び(4)エラストマーを含む(メタ)アクリル系接着剤である請求項1〜4のいずれか1項に記載の半導体ブロック接着装置。
- 前記接着剤が、前記成分(2)を含む第1剤と、前記成分(3)を含む第2剤とを混合して得られる2剤型(メタ)アクリル系接着剤である請求項5に記載の半導体ブロック接着装置。
- 前記成分(1)が、ヒドロキシアクリル(メタ)アクリレートを含む請求項5に記載の半導体ブロック接着装置。
- 前記成分(2)が、クメンハイドロパーオキサイド、パラメンタンハイドロパーオキサイド、ターシャリーブチルハイドロパーオキサイド、ジイソプロピルベンゼンジハイドロパーオキサイド、メチルエチルケトンパーオキサイド、ベンゾイルパーオキサイド及びターシャリーブチルパーオキシベンゾエート及びこれらの組み合わせよりなる群から選択される請求項5〜7のいずれか1項に記載の半導体ブロック接着装置。
- 前記成分(3)が、β−ジケトンキレート及び/又はβ―ケトエステルである請求項5〜8のいずれか1項に記載の半導体ブロック接着装置。
- 前記接着剤が、(1)(メタ)アクリル系モノマー100質量部に対して、成分(2)を0.5〜10質量部、成分(3)を0.05〜5質量部、成分(4)を5〜35質量部含む請求項5〜9のいずれか1項に記載の半導体ブロック接着装置。
- 搬入出部と、支持部と、塗布部と、半導体ブロック又は下地基板を搬送するためのステージとを備え、前記ステージは前記搬入出部、前記支持部及び前記塗布部の間を摺動支持され、前記搬入出部、前記支持部及び前記塗布部は、前記ステージの摺動方向に沿って配設される半導体ブロック接着装置を用いた半導体ブロック接着方法であって、
半導体ブロックを前記ステージ上に載せ、前記半導体ブロックを前記搬入出部から前記支持部に搬送するステップ(1)と、
前記支持部において前記半導体ブロックを前記ステージの摺動方向に対して上方へ持ち上げ保持するステップ(2)と、
前記ステージを前記支持部から前記搬入出部に戻し、前記ステージ上に下地基板を載せるステップ(3)と、
前記下地基板を載せた前記ステージを前記搬入出部から前記塗布部へ搬送するステップ(4)と、
前記塗布部において、前記下地基板上に重合性ビニルモノマーを含む仮固定用接着剤を塗布するステップ(5)と、
塗布後の前記下地基板を載せた前記ステージを前記塗布部から前記支持部へ搬送し、接着剤が塗布された前記下地基板上に前記半導体ブロックを載せ、前記下地基板と前記半導体ブロックとを接着するステップ(6)と、
接着後の半導体ブロックを、前記支持部から前記搬入出部へ搬送するステップ(7)と
を含む半導体ブロック接着方法。 - 前記接着剤が、(1)(メタ)アクリル系モノマー、(2)重合開始剤、(3)硬化促進剤、及び(4)エラストマーを含む(メタ)アクリル系接着剤である請求項11に記載の半導体ブロック接着方法。
- 前記接着剤が、前記成分(2)を含む第1剤と、前記成分(3)を含む第2剤とを混合して得られる2剤型(メタ)アクリル系接着剤である請求項12に記載の半導体ブロック接着方法。
- 前記成分(1)が、ヒドロキシアクリル(メタ)アクリレートを含む請求項12に記載の半導体ブロック接着方法。
- 前記成分(2)が、クメンハイドロパーオキサイド、パラメンタンハイドロパーオキサイド、ターシャリーブチルハイドロパーオキサイド、ジイソプロピルベンゼンジハイドロパーオキサイド、メチルエチルケトンパーオキサイド、ベンゾイルパーオキサイド及びターシャリーブチルパーオキシベンゾエート及びこれらの組み合わせよりなる群から選択される請求項12〜14のいずれか1項に記載の半導体ブロック接着方法。
- 前記成分(3)が、β−ジケトンキレート及び/又はβ―ケトエステルである請求項12〜15のいずれか1項に記載の半導体ブロック接着方法。
- 前記接着剤が、(1)(メタ)アクリル系モノマー100質量部に対して、成分(2)を0.5〜10質量部、成分(3)を0.05〜5質量部、成分(4)を5〜35質量部含む請求項12〜16に記載の半導体ブロック接着方法。
- 請求項11〜17のいずれか1項の接着方法により得られる下地基板付き半導体ブロックを複数の薄板状に切断し、
切断後の前記下地基板付き半導体ブロックを温水中に浸漬し、
前記温水中において前記下地基板と前記半導体ブロックとを剥離する
ことを特徴とする半導体ウエハの製造方法。
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