JP5809590B2 - 信号発生装置および信号発生方法 - Google Patents

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Description

本発明は、信号発生装置および信号発生方法に関する。
従来より、検出した雑音の逆位相の信号を加えることで、雑音をキャンセルする技術が知られている。また、特許文献1には、タイミング発生装置および複数の波形発生装置を組み合わせて、任意の波形を精度良く発生する装置が記載されている。
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1]特開2001−223585号公報
しかしながら、従来、1つのDA変換器により任意の波形を発生させる場合、DA変換器の量子化誤差により生じる雑音を低減することは困難であった。
本発明の第1の態様においては、波形を表す波形データ列に応じた出力信号を出力する信号発生装置であって、前記波形データ列に含まれる各データをサンプリングクロックのタイミングで順次にデジタルアナログ変換して、アナログの信号を出力するDA変換部と、前記DA変換部に供給されるサンプリングクロックに対して、前記出力信号の量子化雑音成分を低減させるジッタを印加するジッタ印加部と、を備える信号発生装置、および、信号発生方法を提供する。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
本実施形態に係る信号発生装置10の構成を示す。 ジッタデータ列の生成処理のフローを示す。 量子化雑音の矩形波形ε′(t)の一例を示す。 量子化雑音の出力波形ε(t)の一例を示す。 ジッタを含まない出力信号の矩形波形f´(t)およびジッタを含む出力信号の矩形波形h´(t)の一例を示す。 ジッタ雑音の矩形波形ε′(t)の一例を示す。 ジッタ雑音の矩形波形ε′(t)の振幅およびパルス幅の一例を示す。 本実施形態の第1変形例に係る信号発生装置10の構成を示す。 本実施形態の第2変形例に係る信号発生装置10の構成を示す。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、本実施形態に係る信号発生装置10の構成を示す。信号発生装置10は、波形を表す波形データ列に応じたアナログの出力信号を出力する。
信号発生装置10は、波形メモリ12と、DA変換部14と、低域通過フィルタ16と、ジッタ計算部18と、ジッタメモリ20と、クロック発生部22と、ジッタ印加部24とを備える。波形メモリ12は、出力すべきアナログの信号の波形を表す波形データ列を記憶する。
DA変換部14は、波形メモリ12から波形データ列に含まれる各データを順次に読み出す。そして、DA変換部14は、波形データ列に含まれる各データをサンプリングクロックのタイミングで順次にデジタルアナログ変換して、アナログの信号を出力する。
低域通過フィルタ16は、DA変換部14から出力されたアナログの信号における低域成分のみを通過する。すなわち、低域通過フィルタ16は、DA変換部14から出力されたアナログ信号における高域成分を除去する。信号発生装置10は、低域通過フィルタ16を通過した信号を、出力信号として外部へ出力する。
ジッタ計算部18は、波形データ列および低域通過フィルタ16の特性に基づき、DA変換部14に供給されるサンプリングクロックに対して印加すべきジッタを表すデータを含むジッタデータ列を計算して生成する。より具体的には、ジッタ計算部18は、出力信号の量子化雑音成分を低減させるジッタを表すデータを含むジッタデータ列を生成する。
ジッタ計算部18は、一例として、ジッタを含まないサンプリングクロックにより波形データ列をデジタルアナログ変換した信号を低域通過フィルタ16を通過させた場合に生じる量子化雑音成分をキャンセルするジッタを表すデータを含むジッタデータ列を生成する。すなわち、ジッタ計算部18は、一例として、低域通過フィルタ16を通過させた後の出力信号に対して、量子化雑音成分と逆相のジッタ雑音成分を生じさるジッタを表すデータを含むジッタデータ列を生成する。
ジッタメモリ20は、ジッタ計算部18により生成されたジッタデータ列を記憶する。クロック発生部22は、予め定められた周期のサンプリングクロックを発生する。
ジッタ印加部24は、ジッタメモリ20からジッタデータ列に含まれる各データを順次に読み出す。ジッタ印加部24は、クロック発生部22により発生されたサンプリングクロックに、ジッタメモリ20に記憶されているジッタデータ列に含まれる各データに応じたジッタを印加する。
ジッタ印加部24は、一例として、予め定められた周期毎に発生するサンプリングクロックの各パルスを、ジッタデータ列に含まれる対応するデータに応じた遅延量で遅延する。これにより、ジッタ印加部24は、サンプリングクロックのパルス毎に、異なる遅延量のジッタを印加することができる。そして、ジッタ印加部24は、ジッタを印加したサンプリングクロックをDA変換部14へと供給する。
このような信号発生装置10では、出力信号の量子化雑音成分を低減させるジッタを含むサンプリングクロックのタイミングで、DA変換部14が波形データ列に含まれる各データをデジタルアナログ変換することができる。これにより、信号発生装置10は、量子化雑音成分をジッタ雑音成分によりキャンセルして、全体として雑音を低減した精度の良いアナログの信号を出力することができる。
具体的には、信号発生装置10では、以下のように量子化雑音成分をジッタ雑音成分によりキャンセルする。
信号発生装置10の出力信号(即ち、低域通過フィルタ16から出力される信号)をh(t)とする。ジッタ雑音成分が0である場合における、信号発生装置10の出力信号をf(t)とする。量子化誤差が0の場合における、信号発生装置10の理想出力信号をg(t)とする。
また、信号発生装置10の出力信号に含まれる、サンプリングクロックのジッタの影響により生じる雑音成分(ジッタ雑音成分)をε(t)とする。信号発生装置10の出力信号に含まれる、量子化誤差による雑音成分(量子化雑音成分)をε(t)とする。なお、tは、時間を表す変数である。
この場合、出力信号h(t)は、下記の式(1)のように、ジッタ雑音成分が0である場合における出力信号f(t)と、ジッタ雑音成分ε(t)とを加算した信号となる。
h(t)=f(t)+ε(t) …(1)
また、ジッタ雑音成分が0である場合における出力信号f(t)は、下記の式(2)のように、量子化誤差が0の場合における理想出力信号g(t)と、量子化雑音成分ε(t)とを加算した信号となる。
f(t)=g(t)+ε(t) …(2)
式(2)を式(1)に代入すると、下記の式(3)のようになる。
h(t)=g(t)+ε(t)+ε(t) …(3)
式(3)から、ε(t)=−ε(t)となった場合、信号発生装置10の出力信号h(t)は、理想出力信号g(t)となる。従って、信号発生装置10は、量子化雑音成分ε(t)をキャンセルするジッタ雑音成分ε(t)、即ち、量子化雑音成分ε(t)に対して逆相のジッタ雑音成分ε(t)を出力信号に生じさせるジッタをサンプリングクロックに印加することにより、量子化雑音成分を低減した精度の良いアナログの信号を出力することができる。
図2は、ジッタ計算部18における、ジッタデータ列の生成処理のフローを示す。ジッタ計算部18は、波形メモリ12に記憶されている波形データ列f[k]に対して以下のステップS11からステップS12の処理を実行して、サンプリングクロックに印加すべきジッタを表すジッタデータ列Δt[k]を生成する。なお、kは、サンプリングクロックのサンプル番号(整数)を表す変数である。
ジッタ計算部18は、当該信号発生装置10における出力信号の発生に先立って、予めステップS11からステップS13の処理を実行する。これにより、信号発生装置10は、出力信号の発生に先立って、ジッタメモリ20に予めジッタデータ列Δt[k]を記憶させることができる。これに代えて、ジッタ計算部18は、出力信号の発生処理と並行して、リアルタイムでステップS11からステップS13の処理を繰り返して実行してもよい。
まず、ステップS11において、ジッタ計算部18は、量子化雑音の矩形波形ε´(t)を算出する。ここで、量子化雑音の矩形波形ε´(t)は、DA変換部14から出力されるアナログの信号(即ち、低域通過フィルタ16に入力前のアナログの信号)に含まれる量子化雑音を表す波形である。
DA変換部14がデジタルアナログ変換するMビット(Mは2以上の整数)の波形データ列をf[k]とする。当該信号発生装置10から出力される波形をMビット以上で表した理想波形データ列を、g[k]とする。
この場合、ジッタ計算部18は、サンプル番号(k)毎に、理想波形データ列g[k]の各データから波形データ列k[k]の対応するデータを減算して、量子化雑音データ列ε[k]を算出する。そして、ジッタ計算部18は、このような量子化雑音データ列ε[k]の各データに応じた矩形波形を、量子化雑音の矩形波形ε´(t)とする。このように生成された量子化雑音の矩形波形ε´(t)は、例えば図3に示されるように、サンプリングクロックのタイミングにおいてレベルが変化する階段状の波形となる。
なお、波形メモリ12は、Mビットより大きい分解能の理想波形データ列g[k]を記憶していてもよい。この場合、DA変換部14は、一例として、理想波形データ列g[k]に含まれる各データの上位のMビットのデータを波形データ列f[k]として読み出して、デジタルアナログ変換処理をする。また、この場合、ジッタ計算部18は、一例として、理想波形データ列g[k]に含まれる各データのMビットより下位のデータを量子化雑音データ列ε[k]として読み出す。
続いて、ステップS12において、ジッタ計算部18は、量子化雑音の離散波形データ列εQ,2[k]を算出する。ここで、量子化雑音の離散波形データ列εQ,2[k]は、信号発生装置10の出力信号に含まれる量子化雑音成分をサンプリングクロックによりリサンプリングしたデータ列である。
ステップS12では、まず、ジッタ計算部18は、ステップS11で算出した量子化雑音の矩形波形ε´(t)を低域通過フィルタ16を通過させた波形ε(t)を算出する。ジッタ計算部18は、一例として、量子化雑音の矩形波形ε´(t)と、低域通過フィルタ16の時間応答関数とを畳み込み積分することにより、波形ε(t)を算出する。また、ジッタ計算部18は、他の一例として、量子化雑音の矩形波形ε´(t)をフーリエ変換し、周波数ドメイン上で低域通過フィルタ16の周波数応答関数を乗算し、乗算結果を逆フーリエ変換することにより、波形ε(t)を算出してもよい。
このような量子化雑音の矩形波形ε´(t)を低域通過フィルタ16を通過させた波形ε(t)は、例えば、図4に示されるように、2つのサンプリングクロックの間が滑らかに接続された波形となる。そして、ジッタ計算部18は、量子化雑音の矩形波形ε´(t)を低域通過フィルタ16を通過させた波形ε(t)を、サンプリングクロックの各タイミングでリサンプリングして、量子化雑音の離散波形データ列εQ,2[k]を生成する。
続いて、ステップS13において、ジッタ計算部18は、ジッタ雑音の離散波形データ列ε[k]を表す関数、および、ステップS12で算出した量子化雑音の離散波形データ列εQ,2[k]に基づき、量子化雑音をキャンセルするジッタを発生させるためのジッタデータ列Δt[k]を算出する。
ここで、ジッタ雑音の離散波形データ列ε[k]を表す関数は、次のように表される。
まず、DA変換部14から出力されるアナログの信号に含まれるジッタ雑音の矩形波形ε´(t)は、例えば図5に示されるように、ジッタ雑音成分が0の場合におけるDA変換部14から出力されるアナログの信号の波形f´(t)から、ジッタ雑音成分を含む場合におけるDA変換部14から出力されるアナログの信号の波形h´(t)を減じた波形となる。従って、ジッタ雑音の矩形波形ε´(t)は、例えば図6に示されるような、離散的に発生する複数のパルスが時間方向に接続された波形となる。
このようなジッタ雑音の矩形波形ε´(t)は、図7に示されるように、各パルスの振幅が、DA変換部14から出力されるアナログの信号の波形f´(t)の変化量(f[k−1]−f[k])を表す。また、このようなジッタ雑音の矩形波形ε´(t)は、パルスの幅が、DA変換部14から出力されるアナログの信号の波形h´(t)のジッタ(Δt[k])を表す。
また、低域通過フィルタ16の出力信号に含まれるジッタ雑音成分ε(t)は、ジッタ雑音の矩形波形ε´(t)を低域通過フィルタ16を通過させた後の波形である。即ち、ジッタ雑音成分ε(t)は、ジッタ雑音の矩形波形ε´(t)と低域通過フィルタ16の時間応答関数とを畳み込み積分した波形である。
このことから、ジッタ雑音成分ε(t)は、下記の式(4)に示されるような数式で表される。なお、mは、サンプリングクロックの任意のサンプル番号(整数)を示す。a(t)は、低域通過フィルタ16の時間応答関数を示す。Tは、サンプリングクロックの周期を示す。τは、畳み込み積分のための平行移動量を表す変数である。
Figure 0005809590
即ち、ジッタ雑音成分ε(t)は、m番目のサンプリングクロックに対応するパルス波形と低域通過フィルタ16の時間応答関数a(t)とを畳み込み積分した値を、m=0からm=無限大(演算範囲内の最大値)まで総和演算(加算合計)した値となる。
ここで、τ´=t−τとした場合、式(4)は、下記の式(5)のように変形される。
Figure 0005809590
ジッタ雑音の離散波形データ列ε[k]は、t=k・Tsの場合(k=0,1,2,3,…)におけるジッタ雑音成分ε(t)である。従って、離散波形データ列ε[k]は、下記式(6)のように表される。
Figure 0005809590
それぞれのサンプリングタイミング(k)において、ジッタ雑音成分により量子化雑音成分をキャンセルするには、下記の式(7)に示されるような条件を満たせばよい。
Figure 0005809590
従って、ジッタ計算部18は、それぞれのサンプリングタイミング(k)において、式(7)の条件を満たすようなジッタΔt[k]を算出する。これにより、ステップS13において、ジッタ計算部18は、ジッタ雑音の離散波形データ列ε[k]を表す関数、および、ステップS12で算出した量子化雑音の離散波形データ列εQ,2[k]に基づき、量子化雑音をキャンセルするジッタを発生するジッタデータ列Δt[k]を算出することができる。
信号発生装置10は、以上のように算出されたジッタデータ列Δt[k]に応じたジッタが印加されたサンプリングクロックにより波形データ列をDA変換をすることにより、量子化雑音が少ない信号を出力することができる。これにより、信号発生装置10は、分解能の小さいDA変換部14を用いて、量子化雑音が少ない信号を出力することができる。この結果、信号発生装置10は、目的の精度の信号を高速に出力することができる。
なお、ジッタ計算部18は、低域通過フィルタ16に近似したフィルタモデルの応答特性に応じた量子化雑音成分およびジッタ雑音成分を用いて、ジッタデータ列を算出してもよい。低域通過フィルタ16に近似したフィルタモデルは、一例として、低域通過フィルタ16と略同一のカットオフ周波数を有する低域通過フィルタのフィルタモデルである。より具体的には、例えば、低域通過フィルタ16に近似したフィルタモデルは、低域通過フィルタ16のカットオフ周波数と略同一のカットオフ周波数を有する矩形フィルタである。
このように、ジッタ計算部18は、低域通過フィルタ16に近似したフィルタモデルの応答特性を用いることにより、ジッタデータ列の算出のための演算量を小さくすることができる。なお、ジッタ計算部18は、ジッタデータ列の算出のための演算量を大きくすれば、より精度良く低域通過フィルタ16に近似させることができるので、量子化雑音を精度良くキャンセルするジッタを発生するジッタデータ列を算出することができる。これに対して、信号発生装置10は、ジッタデータ列の算出のための演算量を小さくすれば、ジッタデータ列をより高速に算出することができる。
また、同一レベルの信号を連続して出力する場合には、サンプリングクロックにジッタが含まれていても、出力信号にジッタ雑音成分が含まれない。従って、ジッタ印加部24は、直前のサンプリングクロックにおいて出力した信号と同一レベルの信号を出力する場合においては、予め定められたジッタを印加してもよい。これにより、ジッタ計算部18は、同一レベルの信号を連続して出力する場合におけるジッタデータ列の算出のための演算量を小さくすることができる。
図8は、本実施形態の第1変形例に係る信号発生装置10の構成を示す。本変形例に係る信号発生装置10は、図1に示した同一符号の部材と略同一の構成および機能を採るので、以下相違点を除き説明を省略する。
本変形例に係る信号発生装置10は、クロックパターン発生部32と、加算部34とを更に備える。クロックパターン発生部32は、サンプリングクロックの周期でレベルが変化する波形を発生させるクロックパターンデータを出力する。クロックパターン発生部32は、一例として、サンプリングクロックの周期でDCレベルを中心にレベルが反転する波形を表すデータ(例えば、…1,−1,1,−1,1,…というパターン)を順次に発生する。
加算部34は、サンプリングクロック毎に、波形メモリ12から波形データ列に含まれる各データを順次に読み出す。加算部34は、波形データ列に含まれる各データに、クロックパターン発生部32により発生されたクロックパターンデータを加算する。DA変換部14は、波形データ列に含まれる各データとクロックパターンデータとが加算されたデータをデジタルアナログ変換する。
ジッタ計算部18は、クロックパターンデータが加算された波形データ列の各データをデジタルアナログ変換したことにより生じる出力信号の量子化雑音をキャンセルするジッタを表すデータを含むジッタデータ列を生成する。ジッタ印加部24は、クロックパターンデータが加算された波形データ列の各データをデジタルアナログ変換したことにより生じる出力信号の量子化雑音をキャンセルするジッタを、サンプリングクロックに印加する。
このような信号発生装置10は、同一レベルの信号を連続して出力する場合においても、サンプリングクロックにジッタを印加して量子化雑音成分をキャンセルすることができる。なお、信号発生装置10において、クロックパターンデータによる出力信号の変動成分はナイキスト周波数の整数倍に現れるので、低域通過フィルタ16によりカットオフされて出力信号には影響しない。
図9は、本実施形態の第2変形例に係る信号発生装置10の構成を示す。本変形例に係る信号発生装置10は、図1に示した同一符号の部材と略同一の構成および機能を採るので、以下相違点を除き説明を省略する。
本変形例に係る信号発生装置10は、波形メモリ12と、DA変換部14と、低域通過フィルタ16と、ジッタパターンメモリ42と、タイミング発生部44とを備える。即ち、信号発生装置10は、ジッタ計算部18、ジッタメモリ20、クロック発生部22およびジッタ印加部24に代えて、ジッタパターンメモリ42およびタイミング発生部44を備える。
ジッタパターンメモリ42は、ジッタを含んだサンプリングクロックを出力させるためのデータパターンを発生する。タイミング発生部44は、ジッタパターンメモリ42から発生されたデータパターンに応じた波形の信号を発生する。即ち、タイミング発生部44は、ジッタパターンメモリ42から発生されたクロックパターンに応じたサンプリングクロックを発生する。タイミング発生部44は、発生したサンプリングクロックをDA変換部14に供給する。そして、DA変換部14は、タイミング発生部44から供給されたサンプリングクロックのタイミングで波形メモリ12に記憶された波形データに含まれる各データをデジタルアナログ変換する。
ここで、ジッタパターンメモリ42は、出力信号の量子化雑音成分を低減させるジッタを含むサンプリングクロックを出力させるためのデータパターンを発生する。より具体的には、ジッタパターンメモリ42は、図1に示したジッタ印加部24と同様のサンプリングクロックを出力させるためのデータパターンを発生する。
これにより、本変形例に係る信号発生装置10によれば、DA変換部14が、出力信号の量子化雑音成分を低減させるジッタを含むサンプリングクロックのタイミングで、波形データ列に含まれる各データをデジタルアナログ変換することができる。これにより、信号発生装置10は、量子化雑音成分をジッタ雑音成分によりキャンセルして、雑音を低減した精度の良いアナログの信号を出力することができる。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
10 信号発生装置
12 波形メモリ
14 DA変換部
16 低域通過フィルタ
18 ジッタ計算部
20 ジッタメモリ
22 クロック発生部
24 ジッタ印加部
32 クロックパターン発生部
34 加算部
42 ジッタパターンメモリ
44 タイミング発生部

Claims (9)

  1. 波形を表す波形データ列に応じた出力信号を出力する信号発生装置であって、
    前記波形データ列に含まれる各データをサンプリングクロックのタイミングで順次にデジタルアナログ変換して、アナログの信号を出力するDA変換部と、
    前記DA変換部に供給されるサンプリングクロックに対して、前記出力信号の量子化雑音成分を低減させるジッタを印加するジッタ印加部と、
    前記波形データ列に含まれる各データに、前記サンプリングクロックの周期でレベルが変化する波形を発生させるクロックパターンデータを加算する加算部と、
    を備え
    前記DA変換部は、前記波形データ列に含まれる各データと前記クロックパターンデータとが加算されたデータをデジタルアナログ変換し、
    前記ジッタ印加部は、前記クロックパターンデータが加算された前記波形データ列の各データをデジタルアナログ変換したことにより生じる出力信号の量子化雑音成分をキャンセルするジッタを前記サンプリングクロックに印加する
    信号発生装置。
  2. 前記DA変換部は、アナログの信号を低域通過フィルタを介して出力し、
    前記ジッタ印加部は、ジッタを含まない前記サンプリングクロックにより前記波形データ列をデジタルアナログ変換した信号を前記低域通過フィルタを通過させた場合に生じる量子化雑音成分をキャンセルするジッタを、前記サンプリングクロックに印加する
    請求項1に記載の信号発生装置。
  3. 前記ジッタ印加部は、前記低域通過フィルタを通過させた後の出力信号に対して前記量子化雑音成分と逆相のジッタ雑音成分を生じさるジッタを、前記サンプリングクロックに印加する
    請求項2に記載の信号発生装置。
  4. 前記サンプリングクロックに印加すべきジッタを表すデータを含むジッタデータ列を算出して生成するジッタ計算部を更に備える
    請求項3に記載の信号発生装置。
  5. 前記ジッタ計算部は、前記低域通過フィルタに近似したフィルタモデルの応答特性に応じた前記量子化雑音成分および前記ジッタ雑音成分を用いて、ジッタデータ列を算出する
    請求項4に記載の信号発生装置。
  6. 前記ジッタ印加部は、直前のサンプリングクロックにおいて出力した信号と同一レベルの信号を出力する場合においては、予め定められた値のジッタを印加する
    請求項1から5の何れか1項に記載の信号発生装置。
  7. 前記波形データ列を記憶する波形メモリを更に備え、
    前記DA変換部は、前記波形メモリから前記波形データ列に含まれる各データのそれぞれを読み出す
    請求項1からの何れか1項に記載の信号発生装置。
  8. 前記サンプリングクロックに印加すべきジッタを表すジッタデータ列を記憶するジッタメモリを更に備え、
    前記ジッタ印加部は、前記ジッタデータ列に含まれる各データに応じたジッタを印加したサンプリングクロックを発生して、前記DA変換部に供給する
    請求項に記載の信号発生装置。
  9. 波形を表す波形データ列に応じた出力信号を出力する信号発生方法であって、
    前記波形データ列に含まれる各データに、サンプリングクロックの周期でレベルが変化する波形を発生させるクロックパターンデータを加算し、
    DA変換部により、前記波形データ列に含まれる各データと前記クロックパターンデータとが加算されたデータをサンプリングクロックのタイミングで順次にデジタルアナログ変換して、アナログの信号を出力し、
    前記クロックパターンデータが加算された前記波形データ列の各データをデジタルアナログ変換したことにより生じる出力信号の量子化雑音成分をキャンセルするジッタを前記サンプリングクロックに印加する
    信号発生方法。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5655034B2 (ja) * 2012-06-14 2015-01-14 旭化成エレクトロニクス株式会社 D/a変換器及びそのd/a変換器を用いたa/d変換器
CN108572266B (zh) * 2017-12-11 2020-09-15 深圳市鼎阳科技股份有限公司 一种波形发生装置
EP4300130A1 (en) * 2021-02-25 2024-01-03 Mitsubishi Electric Corporation Data processing device and radar device
CN113691241B (zh) * 2021-08-11 2022-03-15 电子科技大学 一种基于幅度转换时序的高精度数字抖动注入装置
CN115524658B (zh) * 2022-11-28 2023-04-07 北京志翔科技股份有限公司 电能表运行误差确定方法及装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61144930A (ja) * 1984-12-19 1986-07-02 Hitachi Ltd 信号形成回路
JPH0810829B2 (ja) * 1986-03-07 1996-01-31 ティアツク株式会社 デイジタル―アナログ変換装置
JPH02134723A (ja) * 1988-11-15 1990-05-23 Konica Corp 磁気記録媒体
JPH0718172Y2 (ja) * 1989-04-12 1995-04-26 横河電機株式会社 可変周波数信号発生装置
US5654657A (en) * 1995-08-01 1997-08-05 Schlumberger Technologies Inc. Accurate alignment of clocks in mixed-signal tester
US5793822A (en) * 1995-10-16 1998-08-11 Symbios, Inc. Bist jitter tolerance measurement technique
JP3433655B2 (ja) * 1997-10-14 2003-08-04 ヤマハ株式会社 波形整形装置およびσδ型d/a変換装置
JPH11168325A (ja) * 1997-12-04 1999-06-22 Sony Corp 信号発生回路
JP3613787B2 (ja) * 1999-10-18 2005-01-26 日本プレシジョン・サーキッツ株式会社 自己変調型クロック発生回路
JP4365970B2 (ja) 2000-02-07 2009-11-18 株式会社アドバンテスト 任意波形発生装置及びこの任意波形発生装置を備えた試験装置
US7181097B2 (en) 2001-03-15 2007-02-20 Massachusetts Institute Of Technology Methods of achieving optimal communications performance
EP1928093B1 (en) * 2002-08-26 2015-10-21 Mitsubishi Denki K.K. Waveform generation method, waveform generation program, waveform generation circuit and radar apparatus
WO2006009159A1 (ja) * 2004-07-22 2006-01-26 Rohm Co., Ltd クロック生成回路および通信装置
JP4451486B2 (ja) * 2005-06-06 2010-04-14 三菱電機株式会社 アナログ/デジタル変換装置およびデジタル/アナログ変換装置
US20070019931A1 (en) * 2005-07-19 2007-01-25 Texas Instruments Incorporated Systems and methods for re-synchronizing video and audio data
EP2360488B1 (en) * 2007-03-20 2013-01-23 Rambus Inc. Integrated circuit having receiver jitter tolerance ("JTOL") measurement
US8390495B2 (en) * 2011-07-15 2013-03-05 Mediatek Singapore Pte. Ltd. MIMO delta-sigma delta analog-to-digital converter using noise canceling

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