JP5798998B2 - 試験光入射装置及び試験光入射方法 - Google Patents
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Description
この心線対照に用いられる試験光は、通常、光回線を収容する通信ビルから光ファイバの心線に入射される(非特許文献1参照)。この場合、光線路保守支援システムが設置された通信ビルにおいては、保守拠点に設置されている支援操作端末から遠隔で試験光を入射することが可能である。これに対して、光線路保守支援システムが未設置のビルの場合は、作業者が当該ビルに入局し、試験用光源によって発生される試験光を光ファイバの心線に直接入射しているのが実状である。
そこで本発明は、上記の課題を鑑みてなされたもので、作業者のスキルによらず、被対照光ファイバ心線をセットするだけで、容易に所定の調軸精度で側方から試験光を入射することのできる試験光入射装置及び試験光入射方法を提供することを目的とする。
(1)被心線対照の対照光ファイバ心線に試験光を入射する試験光入射装置において、前記対照光ファイバ心線の曲げを形成する径を有する半円状の凹部とこの凹部の両側に前記対照光ファイバ心線をガイドする一対のガイドV溝と前記凹部の底面に前記対照光ファイバ心線を固定する固定V溝とが形成されるガイドブロックと、前記ガイドブロックの凹部の径と略同径の円柱構造物を備え、前記ガイドブロックの凹部に形成された固定V溝に前記対照光ファイバ心線を固定した状態で前記円柱構造物を押しつけるように支持する支持部材を備える支持ブロックとを具備し、前記ガイドブロックは、前記ガイドブロック及び支持ブロックの接合により前記凹部と円柱構造物との間に前記対照光ファイバ心線が挟まれた状態で前記対照光ファイバ心線の曲げ部に前記試験光を入射する試験光用光ファイバを備える態様とする。
(4)(1)において、前記固定V溝は、少なくとも一部の深さが前記対照光ファイバ心線の径より浅い構造の態様とする。
(6)(1)において、前記試験光用光ファイバは、その中心のガラス部先端が樹脂で覆われる態様とする。
(7)(1)において、前記試験光用光ファイバは、先端部にフェルールで覆われたシングルモードファイバを装着し、そのフェルール先端部に前記固定V溝を形成してなる態様とする。
(8)被心線対照の対照光ファイバ心線に試験光を入射する試験光入射方法において、前記対照光ファイバ心線に曲げを加えるためのガイドブロックに、前記対照光ファイバ心線の曲げを形成する径を有する半円状の凹部とこの凹部の両側に前記対照光ファイバ心線をガイドする一対のガイドV溝と前記凹部の底面に前記対照光ファイバ心線を固定する固定V溝とを形成し、前記ガイドブロックに接合される支持ブロックに、前記ガイドブロックの凹部の径と略同径の円柱構造物と、前記ガイドブロックの凹部に形成された固定V溝に前記対照光ファイバ心線を固定した状態で前記円柱構造物を押しつけるように支持する支持部材を備える支持ブロックを形成し、前記ガイドブロックには、前記ガイドブロック及び支持ブロックの接合により前記凹部と円柱構造物との間に前記対照光ファイバ心線が挟まれた状態で前記対照光ファイバ心線の曲げ部に前記試験光を入射する試験光用光ファイバを内挿させる態様とする。
(第1の実施形態)
第1の実施形態に係る試験光入射装置は、図1に示すガイドブロック11と図2に示す支持ブロック12で構成される。
(第2の実施形態)
第2の実施形態では、図1に示した半円状の凹部111とV溝112〜114を有するガイドブロック11に設けられる、試験光入射構造について、図4乃至図6を参照して説明する。
第3の実施形態では、対照光ファイバ心線21と試験光用光ファイバ22とのアライメント方法について述べる。
図7は第1及び第2の実施形態に従い、対照光ファイバ心線21をガイドブロック11と支持ブロック12で挟み込んだ状態を示している。対照光ファイバ心線21がガイドブロック11の凹部111に沿って曲げられており、ガイドブロック11の中に埋め込まれた光ファイバ22を通じて、試験光が対照光ファイバ心線21へ光結合させることができる。
被覆が付いた光ファイバは、被覆外径の中心とガラス外径の中心が完全に一致していることはなく、必ず偏心している。上記実施形態では、被覆外径を基準にしているため、対照光ファイバ心線21のコアの中心と試験光用光ファイバ22のコアの中心がずれる可能性がある。
第5の実施形態では、対照光ファイバ心線21の被覆部を傷つけずに、かつ、結合効率を高めるための試験光用光ファイバ22の加工について述べる。
図10は、第5の実施形態を説明するために、対照光ファイバ心線21と試験光用光ファイバ22との接触部分を示す概略図で、図中、221は試験用光ファイバ22のガラス部、222はその被覆部である。本実施形態において、課題は、試験光用光ファイバ22のガラス部221の先端が図10に示すように角張っていると、その角が対照光ファイバ心線21に接することによる対照光ファイバ心線21の表面への加傷、ファイバ折損につながることにある。加傷がないようにするためには、試験光用光ファイバ22のガラス部221の先端部と対照光ファイバ21の曲げ部に空隙を設けなければならないが、これでは当然、結合効率が劣化する。
第6の実施形態では、対照光ファイバ心線21との結合効率を高めるための試験光用光ファイバ22の加工について述べる。
図12は、第6の実施形態として、対照光ファイバ心線21と試験光用光ファイバ22との接触部分の構造を示す概略図で、図中、221は試験用光ファイバ22のガラス部、222はその被覆部、223は硬化反応により形成した光導波路である。本実施形態では、図12に示すように、光ファイバガラス部221の先端に光硬化性樹脂を充填し、その先端から心線対照する光ファイバ心線21までの空間を、樹脂を硬化させた光導波路によって結合する。これによって、空隙からの光の漏れを抑制できるため、結合効率を向上させる。
第7の実施形態では、試験光用光ファイバ22の先端にフェルールを加工した部品を装着して対照光ファイバ心線21に当接させる構造について述べる。
図13は第7の実施形態に係る試験光用光ファイバ22の先端部分を示す断面図である。この光ファイバ22の先端部は、SCコネクタ224を介してシングルモードファイバ225が装着され、このシングルモードファイバ225の他方の端部には樹脂によるフェルール226が装着される。フェルール226の先端部はファイバ部分と共に斜めにカットされ、研磨面となるように形成される。
図15(A)、(B)はそれぞれフェルール226が装着された試験光用光ファイバ22をガイドブロック(図1及び図4に示したものと同等であるが、試験光用溝115がフェルールの径に合わせて形成されるものとする)11に組み込んだ状態を示す正面図及び上面図である。この場合、ガイドブロック11の凹部111の底面にフェルール226の先端部が露出され、その先端部に形成されるV溝がガイド用のV溝112〜114と連続するように調整される。
Claims (8)
- 被心線対照の対照光ファイバ心線に試験光を入射する試験光入射装置において、
前記対照光ファイバ心線の曲げを形成する径を有する半円状の凹部とこの凹部の両側に前記対照光ファイバ心線をガイドする一対のガイドV溝と前記凹部の底面に前記対照光ファイバ心線を固定する固定V溝とが形成されるガイドブロックと、
前記ガイドブロックの凹部の径と略同径の円柱構造物を備え、前記ガイドブロックの凹部に形成された固定V溝に前記対照光ファイバ心線を固定した状態で前記円柱構造物を押しつけるように支持する支持部材を備える支持ブロックと
を具備し、
前記ガイドブロックは、前記ガイドブロック及び支持ブロックの接合により前記凹部と円柱構造物との間に前記対照光ファイバ心線が挟まれた状態で前記対照光ファイバ心線の曲げ部に前記試験光を入射する試験光用光ファイバを備えることを特徴とする試験光入射装置。 - 前記ガイドブロックは、左右対称の第1及び第2のブロックを接合する構造であり、
前記第1及び第2のブロックは、接合によって前記凹部、一対のガイドV溝、固定V溝が形成される形状であって、
前記第1及び第2のブロックには、側部から前記凹部の底部に向けて延設され、前記試験光用光ファイバを収容する試験光用溝が形成されることを特徴とする請求項1記載の試験光入射装置。 - 前記支持ブロックの支持部材は、前記ガイドブロックを前記円柱構造物が前記凹部の底面に接合する方向にスライドさせる構造であることを特徴とする請求項1記載の試験光入射装置。
- 前記固定V溝は、少なくとも一部の深さが前記対照光ファイバ心線の径より浅いことを特徴とする請求項1記載の試験光入射装置。
- 前記試験光用光ファイバは、その中心のガラス部先端が球面状に加工されることを特徴とする請求項1記載の試験光入射装置。
- 前記試験光用光ファイバは、その中心のガラス部先端が樹脂で覆われることを特徴とする請求項1記載の試験光入射装置。
- 前記試験光用光ファイバは、先端部にフェルールで覆われたシングルモードファイバを装着し、そのフェルール先端部に前記固定V溝を形成してなることを特徴とする請求項1記載の試験光入射装置。
- 被心線対照の対照光ファイバ心線に試験光を入射する試験光入射方法において、
前記対照光ファイバ心線に曲げを加えるためのガイドブロックに、前記対照光ファイバ心線の曲げを形成する径を有する半円状の凹部とこの凹部の両側に前記対照光ファイバ心線をガイドする一対のガイドV溝と前記凹部の底面に前記対照光ファイバ心線を固定する固定V溝とを形成し、
前記ガイドブロックに接合される支持ブロックに、前記ガイドブロックの凹部の径と略同径の円柱構造物と、前記ガイドブロックの凹部に形成された固定V溝に前記対照光ファイバ心線を固定した状態で前記円柱構造物を押しつけるように支持する支持部材を備える支持ブロックを形成し、
前記ガイドブロックには、前記ガイドブロック及び支持ブロックの接合により前記凹部と円柱構造物との間に前記対照光ファイバ心線が挟まれた状態で前記対照光ファイバ心線の曲げ部に前記試験光を入射する試験光用光ファイバを内挿させることを特徴とする試験光入射方法。
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