JP2014081276A - 試験光入射装置及び試験光入射方法 - Google Patents

Abstract

【課題】対照光ファイバ心線と試験光用光ファイバのアライメントが簡便な試験光入射装置を実現する。
【解決手段】被心線対照の対照光ファイバ心線２１に試験光を入射する試験光入射装置において、対照光ファイバ心線２１の曲げを形成する径を有する半円状の凹部１１１とこの凹部の両側に対照光ファイバ心線２１をガイドする一対のガイドＶ溝１１２，１１３と凹部１１１の底面に対照光ファイバ心線２１を固定する固定Ｖ溝１１４とが形成されるガイドブロック１１と、ガイドブロック１１の凹部１１１の径と略同径の円柱構造物１２２を備え、ガイドブロック１１の凹部１１１に形成された固定Ｖ溝１１４に対照光ファイバ心線２１を固定した状態で円柱構造物１２２を押しつけるように支持する支持部材１２３，１２４を備える支持ブロック１２とを具備し、ガイドブロック１１は、対照光ファイバ心線２１の曲げ部に試験光を入射する試験光用光ファイバ２２を備える。
【選択図】図７

Description

本発明は、心線対照光ファイバの側方から試験光を心線に入射する試験光入射装置及び試験光入射方法に関する。

所外線路における心線対照は、光開通工事、故障修理の際に行う対象線番の確認行為であって、現用回線等に影響を与えないために保守上、不可欠な工程となっている。
この心線対照に用いられる試験光は、通常、光回線を収容する通信ビルから光ファイバの心線に入射される（非特許文献１参照）。この場合、光線路保守支援システムが設置された通信ビルにおいては、保守拠点に設置されている支援操作端末から遠隔で試験光を入射することが可能である。これに対して、光線路保守支援システムが未設置のビルの場合は、作業者が当該ビルに入局し、試験用光源によって発生される試験光を光ファイバの心線に直接入射しているのが実状である。

特に、アクセス網において、光ファイバの使用状況を特定することを目的とする場合には、通信ビル内ではなく、アクセス網内のクロージャにおいて、試験光を光ファイバに入射する心線対照技術が要求される。クロージャ内からの試験光入射技術として、光ファイバ側方入射技術を用いた検討がなされている（非特許文献２参照）。この技術は、光ファイバ（被入射側光ファイバ）を曲げ、その曲げ部の側方から、試験光を入射させるための光ファイバ（プローブ光ファイバ）を付き当てることで、試験光を光ファイバの心線に直接入射する方法である。この技術の実用化にあたっては、試験光入射の際の光ファイバ同士のコアの調軸精度とその現場作業性がポイントとなっている。

これまでの入射方法としては、まず、平面上に形成され、断面がＶ字型のＶ溝にて被入射側光ファイバを固定する。この状態で、押圧板で被入射側光ファイバを鉛直方向に押圧して光ファイバ断面に扁平を生じさせることで、鉛直方向の微細調整を行う。続いて、Ｖ溝を回転軸として光ファイバを左右に振り、光ファイバの中心軸を微小に移動させて、固定されたプローブ光ファイバと調軸することで、水平方向の微細調整を行うといった方法が検討されている。しかしながら、この方法では、調軸工程の大部分を手動で実施しなければならず、現場への適用性においては、調軸精度が作業者のスキルや現場環境によって大きく左右される、作業性が悪いなどという課題があった。

小沼、高嶋、田端「新型光ファイバ心線対照器」, フジクラ技報, 第109号, pp13-17, 2011-5. 廣田、納戸、本田、真鍋、東「光ファイバ側方入力技術を用いた試験光入射機構の設計検討」, 光ファイバ応用技術技報, OFT2011-84，pp57-60, 2012-3.

以上述べたように、従来の試験光入射装置では、調軸工程の大部分を手動で実施しなければならず、現場への適用性においては、調軸精度が作業者のスキルや現場環境によって大きく左右される、作業性が悪いなどという課題があった。
そこで本発明は、上記の課題を鑑みてなされたもので、作業者のスキルによらず、被対照光ファイバ心線をセットするだけで、容易に所定の調軸精度で側方から試験光を入射することのできる試験光入射装置及び試験光入射方法を提供することを目的とする。

本発明に係る光信号入射装置は、以下のような態様の構成とする。
（１）被心線対照の対照光ファイバ心線に試験光を入射する試験光入射装置において、前記対照光ファイバ心線の曲げを形成する径を有する半円状の凹部とこの凹部の両側に前記対照光ファイバ心線をガイドする一対のガイドＶ溝と前記凹部の底面に前記対照光ファイバ心線を固定する固定Ｖ溝とが形成されるガイドブロックと、前記ガイドブロックの凹部の径と略同径の円柱構造物を備え、前記ガイドブロックの凹部に形成された固定Ｖ溝に前記対照光ファイバ心線を固定した状態で前記円柱構造物を押しつけるように支持する支持部材を備える支持ブロックとを具備し、前記ガイドブロックは、前記ガイドブロック及び支持ブロックの接合により前記凹部と円柱構造物との間に前記対照光ファイバ心線が挟まれた状態で前記対照光ファイバ心線の曲げ部に前記試験光を入射する試験光用光ファイバを備える態様とする。

（２）（１）において、前記ガイドブロックは、左右対称の第１及び第２のブロックを接合する構造であり、前記第１及び第２のブロックは、接合によって前記凹部、一対のガイドＶ溝、固定Ｖ溝が形成される形状であって、前記第１及び第２のブロックには、側部から前記凹部の底部に向けて延設され、前記試験光用光ファイバを収容する試験光用溝が形成される態様とする。

（３）（１）において、前記支持ブロックの支持部材は、前記ガイドブロックを前記円柱構造物が前記凹部の底面に接合する方向にスライドさせる構造の態様とする。
（４）（１）において、前記固定Ｖ溝は、少なくとも一部の深さが前記対照光ファイバ心線の径より浅い構造の態様とする。

（５）（１）において、前記試験光用光ファイバは、その中心のガラス部先端が球面状に加工される態様とする。
（６）（１）において、前記試験光用光ファイバは、その中心のガラス部先端が樹脂で覆われる態様とする。
（７）（１）において、前記試験光用光ファイバは、先端部にフェルールで覆われたシングルモードファイバを装着し、そのフェルール先端部に前記固定Ｖ溝を形成してなる態様とする。

本発明に係る光信号入射方法は、以下のような態様の構成とする。
（８）被心線対照の対照光ファイバ心線に試験光を入射する試験光入射方法において、前記対照光ファイバ心線に曲げを加えるためのガイドブロックに、前記対照光ファイバ心線の曲げを形成する径を有する半円状の凹部とこの凹部の両側に前記対照光ファイバ心線をガイドする一対のガイドＶ溝と前記凹部の底面に前記対照光ファイバ心線を固定する固定Ｖ溝とを形成し、前記ガイドブロックに接合される支持ブロックに、前記ガイドブロックの凹部の径と略同径の円柱構造物と、前記ガイドブロックの凹部に形成された固定Ｖ溝に前記対照光ファイバ心線を固定した状態で前記円柱構造物を押しつけるように支持する支持部材を備える支持ブロックを形成し、前記ガイドブロックには、前記ガイドブロック及び支持ブロックの接合により前記凹部と円柱構造物との間に前記対照光ファイバ心線が挟まれた状態で前記対照光ファイバ心線の曲げ部に前記試験光を入射する試験光用光ファイバを内挿させる態様とする。

以上のように、本発明により、対照光ファイバ心線と試験光用光ファイバのアライメントが簡便な試験光入射装置を実現することができる。これにより、アクセス網内のクロージャからの試験光を入射できるため、アクセス網の保守運用が簡易になる。さらに、光ファイバ曲げ部とプローブ光ファイバを高効率な入出力結合系を簡易に構成することが可能となり、光ファイバを切断することなく通信線路の二重化を実現することができ、光ファイバを切断することなく心線対照光を挿入することができるなど、高い保守運用性を有する光ファイバネットワークを実現することができる。

したがって、上記構成による試験光入射装置及び試験光入射方法は、作業者のスキルによらず、被対照光ファイバ心線をセットするだけで、容易に所定の調軸精度で側方から試験光を入射することのできる試験光入射装置及び試験光入射方法を提供することができる。

第１の実施形態に係る試験光入射装置のガイドブロックの構造を示す図である。 第１の実施形態に係る試験光入射装置の支持ブロックの構造を示す図である。 第１の実施形態に係る試験光入射装置のガイドブロック及び支持ブロックを用いた光ファイバ心線の挟み込みの手順と固定処理を説明するための図である。 第２の実施形態に係る試験光入射装置の構造を示す図である。 第２の実施形態に係る試験光入射装置において、試験光用光ファイバを固定した様子を示す図である。 第２の実施形態に係る試験光入射装置において、ガイドブロックに試験光用光ファイバを埋め込んだ様子を示す図である。 第３の実施形態として、第１及び第２の実施形態に従い、対照光ファイバ心線をガイドブロックと支持ブロックで挟み込んだ状態を示す図である。 第３の実施形態として、図７の心線対照構造の内部における試験光結合の様子を示す概略図である。 第３の実施形態として、対照光ファイバ心線と試験光用光ファイバのアライメント方法を示す図である。 第５の実施形態を説明するために、対照光ファイバ心線と試験光用光ファイバとの接触部分を示す概略図である。 第５の実施形態に係る試験光用光ファイバの構造を示す図である。 第６の実施形態として、対照光ファイバ心線と試験光用光ファイバとの接触部分の構造を示す概略図である。 第７の実施形態に係る試験光用光ファイバの先端部分を示す断面図である。 第７の実施形態に係る試験光用光ファイバのフェルールの先端加工内容を示す図である。 第７の実施形態に係る試験光用光ファイバをガイドブロックに組み込んだ構成を示す図である。 第７の実施形態において、図１５に示すガイドブロックに対照光ファイバを渡して円柱構造物で挟み込む状態、及び対照光ファイバの心線がフェルールの先端部に形成されたＶ溝に固定される様子を示す図である。 第７の実施形態に係る試験光用光ファイバにより試験光を対照光ファイバ心線に入射する様子を示す図である。

添付の図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。以下に説明する実施の形態は本発明の構成の例であり、本発明は、以下の実施の形態に制限されるものではない。
（第１の実施形態）
第１の実施形態に係る試験光入射装置は、図１に示すガイドブロック１１と図２に示す支持ブロック１２で構成される。

図１に示すガイドブロック１１は、所定の厚さを持った金属ブロックである。このガイドブロック１１には、図１（Ａ）に示すように、正面から見て上側から中央に向かうように、一定の径による半円状の凹部１１１が形成され、（Ｂ）に示すように上方から見て半円状の凹部１１１の両側から底部に向けて光ファイバ心線をガイドするためのＶ字型の一対の溝（以下、ガイドＶ溝と記す）１１２，１１３が形成され、凹部１１１の底部には光ファイバ心線を仮固定するためのＶ字型の溝（以下、固定Ｖ溝）１１４が形成される。このガイドブロック１１は、支持ブロック１２との位置決めを容易にするため、略台形状に成形されている。

一方、図２に示す支持ブロック１２は、金属製のベース１２１の上面に、ガイドブロック１１の凹部１１１の底部と略半円に渡って当接するように、凹部１１１の径と同径の円柱状の構造部（以下、円柱構造物）１２２が一体形成される。また、その円柱構造物１２２がガイドブロック１１の凹部１１１の底部で当接する位置で係止するように、支持ブロック１２のベース１２１の上面に、ガイドブロック１１の台形両側面に沿ってスライド自在に支持する一対のスライド補助部材１２３，１２４が一体形成される。これにより、支持ブロック１２の円柱構造物１２２が凸となり、ガイドブロック１１の凹部１１１との間で光ファイバを挟み込むことで、光ファイバを曲げることができる。

図３に上記実施形態のガイドブロック１１及び支持ブロック１２を用いた光ファイバ心線２１の挟み込みの手順と光ファイバ心線２１の固定処理について説明する。まずは、図３（Ａ１），（Ａ２）に示すように、光ファイバ心線２１をガイドブロック１１の一対のガイドＶ溝１１２，１１３の間に渡した状態で、支持ブロック１２の円柱構造部１２２とガイドブロック１１の一対のガイドＶ溝１１２，１１３との間に光ファイバ心線２１が挟まれるようにする。次に、図３（Ｂ１），（Ｂ２）に示すように、片側のブロック１１または１２をスライド補助部材１２３，１２４に沿って動かし、光ファイバ心線２１を挟み込んでいく。このとき、支持ブロック１２のスライド補助部材１２３，１２４に沿わせてブロック１１を移動させるため、スムーズに挟み込むことができる。

光ファイバ心線２１は、ガイドブロック１１に形成されたガイドＶ溝１１２，１１３の底面に移動する。これより、ガイドＶ溝１１２，１１３は光ファイバ２１をＶ溝底面に移動させる機能を有することが分かる。さらに、ガイドブロック１１と支持ブロック１２のスライドにより円柱状構造物１２２で挟み込んでいく。これにより、図３（Ｃ１），（Ｃ２）に示すように、光ファイバ心線２１はガイドブロック１１の凹部１１１の底面の形成した固定Ｖ溝１１４に固定される。同時に、支持ブロック１２の円柱構造物１２２を用い、挟み込んでいるため、光ファイバ２１は曲げを形成する。この支持ブロック１２の円柱構造物１２２とガイドブロック１１の溝の形状を変えることにより、曲げ半径の大きさ、角度、真円率を制御できる。

このように、ガイドブロック１１と支持ブロック１２を用いることにより、光ファイバ心線２１を曲げると同時に固定Ｖ溝１１４の中心に光ファイバ心線２１を配置することができる。
（第２の実施形態）
第２の実施形態では、図１に示した半円状の凹部１１１とＶ溝１１２〜１１４を有するガイドブロック１１に設けられる、試験光入射構造について、図４乃至図６を参照して説明する。

ここで、図４（Ａ）は、全体構成を示す斜視図、同図（Ｂ）は分解斜視図、同図（Ｃ）は正面図を示している。また、図５は試験光用光ファイバを固定した様子を示す断面図、図６はガイドブロック１１に試験光用光ファイバを埋め込んだ様子を示す図である。

まず、ガイドブロック１１は、一定の厚さを有する二つのブロック（ブロックＡ、Ｂと定義）を重ね合わせ、例えばねじ止めにより一体化したものである。これらのブロックＡ，Ｂは、図４（Ｂ）に示すように、互いに左右対称であり、重ねたときにＶ溝１１２〜１１４が形成されるように、それぞれテーパ部が形成される。さらに、各ブロックＡ，Ｂには、互いに対向する位置に、側面から凹部１１１の底部に向かうＶ字型の溝（試験光用溝）１１５が形成される。

試験光用溝１１５は、図５に示すように、試験光を入射するための光ファイバ２２（２２１はガラス部、２２２は被覆部）が配置された状態で、左右からブロックＡ，Ｂで試験光用光ファイバ２２の被覆部２２２が固定される深さとする。この場合、試験光溝１１５は同じ形状のため、試験光用光ファイバ２２は、ブロックＡ，Ｂの中心となる。これにより、試験光を入射する光ファイバ２２をガイドブロック１１の中心に配置し埋め込むことができる。

（第３の実施形態）
第３の実施形態では、対照光ファイバ心線２１と試験光用光ファイバ２２とのアライメント方法について述べる。
図７は第１及び第２の実施形態に従い、対照光ファイバ心線２１をガイドブロック１１と支持ブロック１２で挟み込んだ状態を示している。対照光ファイバ心線２１がガイドブロック１１の凹部１１１に沿って曲げられており、ガイドブロック１１の中に埋め込まれた光ファイバ２２を通じて、試験光が対照光ファイバ心線２１へ光結合させることができる。

図８は図７の心線対照構造の内部における試験光結合の様子を示す概略図である。両者の光ファイバの間に空隙が生じないように屈折率整合剤３１を塗布する。試験光用光ファイバ２２から出射された試験光は、屈折率整合剤３１を介し、対照光ファイバ心線２１へ試験光を結合させることで、対照光ファイバ心線２１へ試験光を通す。このようにしてＸ，Ｙ軸の平面アライメントができる。この方法であれば、光ファイバを曲げられる環境であれば、心線対照試験を実施でき、アクセス網であれば、クロージャの中で可能である。

図９（Ａ），（Ｂ）に対照光ファイバ心線２１と試験光用光ファイバ２２のアライメント方法を示す。ここでは第１の実施形態、第２の実施形態で示した方法を用いる。ブロック１１，１２で対照光ファイバ心線２１を挟み込んだ後、試験光が対照光ファイバ心線２１へ結合する微小領域の状態を示す。第１及び第２の実施形態に従うと、ブロックＡ，Ｂは図９に示す構造となり、第１の実施形態で示した対照光ファイバ心線２１はガイドＶ溝１１２，１１３内に配置され、試験光用光ファイバ２２は第２の実施形態で説明したようにブロックＡ，Ｂで挟み込まれ、試験光用溝１１５内に配置されることで、対照光ファイバ心線２１と試験光用光ファイバ２２の高さ方向（Ｚ軸）のアライメントを調整することができる。しがたって、第３の実施形態では３軸アライメントができるため、試験光を対照光ファイバ心線２１へ結合することができる。

（第４の実施形態）
被覆が付いた光ファイバは、被覆外径の中心とガラス外径の中心が完全に一致していることはなく、必ず偏心している。上記実施形態では、被覆外径を基準にしているため、対照光ファイバ心線２１のコアの中心と試験光用光ファイバ２２のコアの中心がずれる可能性がある。

そこで、両光ファイバのコア中心のずれ量を抑制するために、光ファイバを固定する溝を光ファイバの外径よりも浅くする。これにより、被覆がつぶれるため、両光ファイバコアの中心がずれにくくなり、結合効率が向上する。本心線対照構造のブロック１１、ブロック１２の溝に対しても、ファイバ外径よりも小さな溝を適用するとよい。

（第５の実施形態）
第５の実施形態では、対照光ファイバ心線２１の被覆部を傷つけずに、かつ、結合効率を高めるための試験光用光ファイバ２２の加工について述べる。
図１０は、第５の実施形態を説明するために、対照光ファイバ心線２１と試験光用光ファイバ２２との接触部分を示す概略図で、図中、２２１は試験用光ファイバ２２のガラス部、２２２はその被覆部である。本実施形態において、課題は、試験光用光ファイバ２２のガラス部２２１の先端が図１０に示すように角張っていると、その角が対照光ファイバ心線２１に接することによる対照光ファイバ心線２１の表面への加傷、ファイバ折損につながることにある。加傷がないようにするためには、試験光用光ファイバ２２のガラス部２２１の先端部と対照光ファイバ２１の曲げ部に空隙を設けなければならないが、これでは当然、結合効率が劣化する。

そこで、本実施形態では、図１１（Ａ）に示す試験光用光ファイバ２２におけるガラス部２２１の先端の角を、研磨シートを用いて研磨し、図１１（Ｂ）に示すように先端を半球面上にする。これにより、上記の課題を解決することができる。または、光ファイバ先端部を接着剤で覆い、溝から漏れ出した接着材を研磨することでも同等の効果を得られる。

（第６の実施形態）
第６の実施形態では、対照光ファイバ心線２１との結合効率を高めるための試験光用光ファイバ２２の加工について述べる。
図１２は、第６の実施形態として、対照光ファイバ心線２１と試験光用光ファイバ２２との接触部分の構造を示す概略図で、図中、２２１は試験用光ファイバ２２のガラス部、２２２はその被覆部、２２３は硬化反応により形成した光導波路である。本実施形態では、図１２に示すように、光ファイバガラス部２２１の先端に光硬化性樹脂を充填し、その先端から心線対照する光ファイバ心線２１までの空間を、樹脂を硬化させた光導波路によって結合する。これによって、空隙からの光の漏れを抑制できるため、結合効率を向上させる。

（第７の実施形態）
第７の実施形態では、試験光用光ファイバ２２の先端にフェルールを加工した部品を装着して対照光ファイバ心線２１に当接させる構造について述べる。
図１３は第７の実施形態に係る試験光用光ファイバ２２の先端部分を示す断面図である。この光ファイバ２２の先端部は、ＳＣコネクタ２２４を介してシングルモードファイバ２２５が装着され、このシングルモードファイバ２２５の他方の端部には樹脂によるフェルール２２６が装着される。フェルール２２６の先端部はファイバ部分と共に斜めにカットされ、研磨面となるように形成される。

図１４（Ａ）はフェルール２２６の先端加工部を拡大して示す上面図、図１４（Ｂ）はそのフェルール２２６の先端に、試験光用光ファイバ２２の先端として配置されるシングルモードファイバの端面が露出する位置に形成されるＶ溝を示す拡大図である。
図１５（Ａ）、（Ｂ）はそれぞれフェルール２２６が装着された試験光用光ファイバ２２をガイドブロック（図１及び図４に示したものと同等であるが、試験光用溝１１５がフェルールの径に合わせて形成されるものとする）１１に組み込んだ状態を示す正面図及び上面図である。この場合、ガイドブロック１１の凹部１１１の底面にフェルール２２６の先端部が露出され、その先端部に形成されるＶ溝がガイド用のＶ溝１１２〜１１４と連続するように調整される。

図１６（Ａ）は図１５に示すガイドブロック１１に対照光ファイバ２１を渡して支持ブロック（図示せず）の心線押さえ部材となる円柱構造物１２２で挟み込む状態を示す正面図、同図（Ｂ）は対照光ファイバ２１の心線がフェルール２２６の先端部に形成されたＶ溝に固定される様子を示す上面図である。

図１７（Ａ）はフェルール２２６を装着したシングルモードファイバ２２５に試験光を入射する様子を示す断面図、同図（Ｂ）はフェルール２２６の先端部のＶ溝に固定された対照光ファイバ心線２１にシングルモードファイバ２２５から試験光を入射する様子を示す断面図である。

すなわち、本実施形態は、フェルール２２６の加工方法を述べており、図１３に示すように、フェルール２２６の中心にシングルモードファイバを挿通させ、その先端部を斜めに研磨をする。次に、図１４に示すように研磨面に対してＶ溝２２７を形成する。このとき、Ｖ溝２２７の中心とフェルール２２６内に内蔵されたシングルモードファイバ２２５のコア中心が一致するようにＶ溝２２７を形成する。

ガイドブロック１１には、加工されたフェルール２２６が収容され、その凹部１１１の底面には、図１５（Ｂ）に示すように、加工されたフェルール２２６の先端部が露出される。このとき、フェルールＶ溝２２７とガイドブロック１１のＶ溝１１５の中心が一致するように一体形成される。ここで、図１６に示すように、図１５のブロック１１に対しファイバ心線２１を設置し、そのファイバ心線２１を押圧することで、曲げ部を作り出すことができる。

図１７（Ｂ）に示すように、ファイバ心線２１の曲げ頂点が試験光を挿入するシングルモードファイバ２２５の先端に配置する構造であり、フェルール２２６に加工されたＶ溝２２７にファイバ曲げ部が設置され、さらに、曲面を有する治具（円柱構造物）１２２で光ファイバ心線２１が押されるため、光ファイバ心線２１が曲がり、その曲げ部の頂点が試験光を入射するためのシングルモードファイバ２２５に接近するため、試験光がファイバ心線２１に入射する構造となる。

以上のように、上記の各実施形態の組み合わせにより、対照光ファイバ心線２１と試験光用光ファイバ２２のアライメントが簡便な試験光入射装置を実現することができ、これにより、アクセス網内のクロージャからの試験光を入射できるため、アクセス網の保守運用が簡易になる。更に、光ファイバ曲げ部と試験光用光ファイバ２２を高効率な入出力結合系を簡易に構成することが可能となり、光ファイバ心線２１を切断することなく通信線路の二重化を実現することができ、光ファイバを切断することなく心線対照光を挿入することができるなど、高い保守運用性を有する光ファイバネットワークを実現することができる。

尚、本発明は上記実施の形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施の形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素からいくつかの構成を削除してもよい。さらに、異なる実施形態例に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。

１１…ガイドブロック、１１１…凹部、１１２，１１３…ガイドＶ溝、１１４…固定Ｖ溝、１１５…試験光用溝、１２…支持ブロック、１２１…ベース、１２２…円柱構造物、１２３，１２４…スライド補助部材、２１…対照光ファイバ心線、２２…試験光用光ファイバ、３１…屈折率整合剤、２２１…試験光用光ファイバガラス部、２２２…試験光用光ファイバ被覆部、２２４…ＳＣコネクタ、２２５…シングルモードファイバ、２２６…フェルール、２２７…Ｖ溝。

Claims (8)

1. 被心線対照の対照光ファイバ心線に試験光を入射する試験光入射装置において、
   前記対照光ファイバ心線の曲げを形成する径を有する半円状の凹部とこの凹部の両側に前記対照光ファイバ心線をガイドする一対のガイドＶ溝と前記凹部の底面に前記対照光ファイバ心線を固定する固定Ｖ溝とが形成されるガイドブロックと、
   前記ガイドブロックの凹部の径と略同径の円柱構造物を備え、前記ガイドブロックの凹部に形成された固定Ｖ溝に前記対照光ファイバ心線を固定した状態で前記円柱構造物を押しつけるように支持する支持部材を備える支持ブロックと
   を具備し、
   前記ガイドブロックは、前記ガイドブロック及び支持ブロックの接合により前記凹部と円柱構造物との間に前記対照光ファイバ心線が挟まれた状態で前記対照光ファイバ心線の曲げ部に前記試験光を入射する試験光用光ファイバを備えることを特徴とする試験光入射装置。
2. 前記ガイドブロックは、左右対称の第１及び第２のブロックを接合する構造であり、
   前記第１及び第２のブロックは、接合によって前記凹部、一対のガイドＶ溝、固定Ｖ溝が形成される形状であって、
   前記第１及び第２のブロックには、側部から前記凹部の底部に向けて延設され、前記試験光用光ファイバを収容する試験光用溝が形成されることを特徴とする請求項１記載の試験光入射装置。
3. 前記支持ブロックの支持部材は、前記ガイドブロックを前記円柱構造物が前記凹部の底面に接合する方向にスライドさせる構造であることを特徴とする請求項１記載の試験光入射装置。
4. 前記固定Ｖ溝は、少なくとも一部の深さが前記対照光ファイバ心線の径より浅いことを特徴とする請求項１記載の試験光入射装置。
5. 前記試験光用光ファイバは、その中心のガラス部先端が球面状に加工されることを特徴とする請求項１記載の試験光入射装置。
6. 前記試験光用光ファイバは、その中心のガラス部先端が樹脂で覆われることを特徴とする請求項１記載の試験光入射装置。
7. 前記試験光用光ファイバは、先端部にフェルールで覆われたシングルモードファイバを装着し、そのフェルール先端部に前記固定Ｖ溝を形成してなることを特徴とする請求項１記載の試験光入射装置。
8. 被心線対照の対照光ファイバ心線に試験光を入射する試験光入射方法において、
   前記対照光ファイバ心線に曲げを加えるためのガイドブロックに、前記対照光ファイバ心線の曲げを形成する径を有する半円状の凹部とこの凹部の両側に前記対照光ファイバ心線をガイドする一対のガイドＶ溝と前記凹部の底面に前記対照光ファイバ心線を固定する固定Ｖ溝とを形成し、
   前記ガイドブロックに接合される支持ブロックに、前記ガイドブロックの凹部の径と略同径の円柱構造物と、前記ガイドブロックの凹部に形成された固定Ｖ溝に前記対照光ファイバ心線を固定した状態で前記円柱構造物を押しつけるように支持する支持部材を備える支持ブロックを形成し、
   前記ガイドブロックには、前記ガイドブロック及び支持ブロックの接合により前記凹部と円柱構造物との間に前記対照光ファイバ心線が挟まれた状態で前記対照光ファイバ心線の曲げ部に前記試験光を入射する試験光用光ファイバを内挿させることを特徴とする試験光入射方法。

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