JP5746662B2 - ペリクルフレーム - Google Patents
ペリクルフレーム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5746662B2 JP5746662B2 JP2012109518A JP2012109518A JP5746662B2 JP 5746662 B2 JP5746662 B2 JP 5746662B2 JP 2012109518 A JP2012109518 A JP 2012109518A JP 2012109518 A JP2012109518 A JP 2012109518A JP 5746662 B2 JP5746662 B2 JP 5746662B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pellicle
- pellicle frame
- mask adhesive
- frame
- arc
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
- G03F1/62—Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof
- G03F1/64—Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof characterised by the frames, e.g. structure or material, including bonding means therefor
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
- G03F1/62—Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
- H01L21/0271—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers
- H01L21/0273—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers characterised by the treatment of photoresist layers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Description
本発明は、ペリクルをフォトマスクに載置する際に用いられるマスク粘着剤の厚みを、均一に形成することができるペリクルフレームに関するものである。
LSIや超LSI等の半導体製造或いは液晶ディスプレイ等の製造において、半導体ウエハー或いは液晶用原板に光を照射してパターンを作製するリソグラフィーの作業が行われる。この際に、フォトマスク或いはレチクルにゴミが付着していると、ゴミが写し込こまれて転写したパターンが変形したり、エッジがガサツいたものとなる他、下地が黒く汚れたりする等の現象が発生することがある。この作業は通常クリーンルームで行われているが、フォトマスクを常に清浄に保つことは難しい。例えばリソグラフィーの際に、ペリクルをフォトマスク上に載置して、フォトマスクへのゴミの付着を防止しつつ、焦点をフォトマスクのパターン上に合わせて露光することにより、ペリクル膜の上に付着したゴミに影響されることなく転写できる。
ペリクルをフォトマスクに載置するには、ペリクルフレームの一枠面に設けたマスク粘着剤を介してフォトマスクに貼り付けする。このときペリクルの内側と外側との通気源(以下、エアパスという)のないことが求められるため、マスク粘着剤とフォトマスクとの間は、全周に亘って均一に密着していなければならない。特許文献1にはエアパスの形成を防止する方法が記載されている。
マスク粘着剤は、両面テープを用いる場合を除き、空圧式のディスペンサを搭載した3軸直交ロボット等を使用してペリクルフレームにマスク粘着剤を塗布することで形成される。特許文献2にはペリクルフレームにマスク粘着剤を塗布する方法が記載されている。
本発明は、マスク粘着剤の厚みを均一に形成でき、エアパスの発生がないペリクルフレーム、およびそのペリクルフレームを用いたペリクルを提供することを目的とする。
前記の目的を達成するためになされた、特許請求の範囲の請求項1に記載されたペリクルフレームは、四隅が円弧をなす矩形のペリクルフレームであって、一方の枠面全周に渡って、ペリクルフレームの内周寄りにマスク粘着剤の塗布しろ面である一連の高段差が設けられ、外周寄りが低段差となり、四隅円弧部における高段差の幅が、ペリクルフレーム直線部における高段差の幅より大きいことを特徴とする。
請求項2に記載されたペリクルフレームは、段差は、円弧部と直線部とが滑らかにつながって形成されていることを特徴とする。
請求項3に記載されたペリクルは、請求項1または2に記載のペリクルフレームの他方の枠面側に、ペリクル膜が貼り付けされていることを特徴とする。
本発明のペリクルフレームは、円弧部におけるマスク粘着剤の厚みと直線部におけるマスク粘着剤の厚みとの差の要求精度を満たす。このペリクルフレームを用いたペリクルは、フォトマスクに載置した際にエアパスが生じない。
本発明に係るペリクルフレームを用いて作製されたペリクルの一例を図1に示す。ペリクル1は、四隅が円弧形状である矩形のペリクルフレーム2の下面にペリクル膜5が緊締して貼り付けられており、上面にはリソグラフィー等に用いられるフォトマスク(図示省略)に貼り付けるためのマスク粘着剤4が形成されている。ペリクルフレーム2には、段差3が設けられている。
図2に図1のX−X視断面図を示す。(a)に示すようにペリクルフレーム2には、その内周Cと外周Dとの間に段差3が設けられ、その断面形状は、(a)〜(c)に示すように内周寄りに高段差部が、外周寄りに低段差部が形成されている。高段差部にはマスク粘着剤4が形成されている。段差3は、高段差部に塗布されたマスク粘着剤4が流動する範囲を制限するものであって、マスク粘着剤4を所期の幅に形成するためものである。段差3の断面形状は、他にも凹字形状またはV字形状の溝とすることもできる。マスク粘着剤4の断面形状は、(a)に示す円弧形状の他、(b)に示す角丸形状または(c)に示す四角形状とすることができるが、貼り付け荷重の低減とエアパス形成防止の観点から(a)の円弧形状が好ましい。
また、マスク粘着剤4の片側をペリクルフレーム2の内周Cに沿って形成することで、フォトマスクに載置した際、ペリクル内側にペリクルフレーム表面が露出しなくなり、ゴミの発生を防止することができる。
また、マスク粘着剤4の片側をペリクルフレーム2の内周Cに沿って形成することで、フォトマスクに載置した際、ペリクル内側にペリクルフレーム表面が露出しなくなり、ゴミの発生を防止することができる。
図3にペリクルフレーム2の円弧をなす四隅の一を拡大した平面図を示す。ペリクルフレーム2の高段差部の幅は、円弧部Bにおいて最も大きいWcが、直線部AのWsよりも大きく形成されている。マスク粘着剤は、塗布後流動するが、円弧部Bの高段差部の幅を大きくすることで、表面張力により円弧部Bの内周Cに集中して流動することがなく、高段差部全体に広がるので、厚みが局所的に厚くなることがない。
なおここで円弧部とは、矩形のペリクルフレームの内周と外周、各々の隣り合う2辺を、円の一部をもってつないだときに、円弧形状をなした内周と外周とに挟まれた領域をいい、直線部とは、矩形のペリクルフレーム各辺の内周と外周とに挟まれた領域をいう。
なおここで円弧部とは、矩形のペリクルフレームの内周と外周、各々の隣り合う2辺を、円の一部をもってつないだときに、円弧形状をなした内周と外周とに挟まれた領域をいい、直線部とは、矩形のペリクルフレーム各辺の内周と外周とに挟まれた領域をいう。
図3における高段差部の幅は、塗布するマスク粘着剤の粘度を考慮して設定する。特に限定されないが、直線部AにおけるWsは通常3〜10mmであり、円弧部BにおけるWcが、Wsの110〜150%であることが好ましい。
マスク粘着剤4の厚みは、特に限定されないが通常1〜3mmであり、円弧部Bにおける平均厚みと、直線部Aにおける平均厚みとの差は10%以内であることが好ましく、5%以内であることがより好ましい。
マスク粘着剤4の厚みは、特に限定されないが通常1〜3mmであり、円弧部Bにおける平均厚みと、直線部Aにおける平均厚みとの差は10%以内であることが好ましく、5%以内であることがより好ましい。
図4に円弧部Bにおける段差3の形状の別な例を示す。(a)のように角張った形状でもよいし、(b)のように一部を突出させたような形状でもよい。
マスク粘着剤4の形成後は、これをつぶして厚みを均一にする平坦化を行う場合もあるが、本発明においては平坦化を必要とせず、平坦化を行った場合であっても厚み差がいっそう生じにくくなるという利点がある。
以下、本発明の実施例を詳細に説明するが、本発明の範囲はこれらの実施例に限定されるものではない。
図1に示すような外寸785×1338mm、内寸767×1320mm、高さ3.8mmのアルミニウム合金製ペリクルフレーム2を機械加工により製作した。ペリクルフレーム2の一面側全周の内周寄りに、マスク粘着剤塗布領域である高段差部を、高さを0.2mm、直線部Aにおける幅Wsを4mm、円弧部Bにおける最も大きい幅Wcを6mmとした段差3を設けた(図3参照)。
ペリクルフレーム2を使用して、図1に示すペリクル1を作製した。クラス10のクリーンルーム内において、純水と界面活性剤で良く洗浄し、完全に乾燥させた。マスク粘着剤4がペリクルフレーム2の高段差部の領域に未塗布無く塗れ広がるよう吐出量を設定したエア加圧式ディスペンサを用いて、シリコーン粘着剤(信越化学工業(株)製)を塗布した。さらに塗布したペリクル膜接着層を介してペリクル膜5を貼り付け、マスク粘着剤4の保護用セパレータ、通気孔用フィルタなどを取り付け、ペリクル1を完成させた。このペリクルのマスク粘着剤4の円弧部を観察したところ、盛上りは一切見られなかった。
マスク粘着剤4の厚みをダイヤルゲージで計測したところ、直線部Aにおける厚みは平均1.25mm、円弧部における厚みは平均1.29mmであった。さらに、良く洗浄した平滑な石英ガラス板にこのペリクルを貼り付け、ガラス面側からマスク粘着剤4の外観を観察した。その結果、マスク粘着剤4は全周に渡ってほぼ均等幅に貼り付いており、局所的な細りや浮きは観察されなかった。
ペリクルフレーム2を使用して、図1に示すペリクル1を作製した。クラス10のクリーンルーム内において、純水と界面活性剤で良く洗浄し、完全に乾燥させた。マスク粘着剤4がペリクルフレーム2の高段差部の領域に未塗布無く塗れ広がるよう吐出量を設定したエア加圧式ディスペンサを用いて、シリコーン粘着剤(信越化学工業(株)製)を塗布した。さらに塗布したペリクル膜接着層を介してペリクル膜5を貼り付け、マスク粘着剤4の保護用セパレータ、通気孔用フィルタなどを取り付け、ペリクル1を完成させた。このペリクルのマスク粘着剤4の円弧部を観察したところ、盛上りは一切見られなかった。
マスク粘着剤4の厚みをダイヤルゲージで計測したところ、直線部Aにおける厚みは平均1.25mm、円弧部における厚みは平均1.29mmであった。さらに、良く洗浄した平滑な石英ガラス板にこのペリクルを貼り付け、ガラス面側からマスク粘着剤4の外観を観察した。その結果、マスク粘着剤4は全周に渡ってほぼ均等幅に貼り付いており、局所的な細りや浮きは観察されなかった。
高段差部の直線部Aにおける幅Wsと円弧部Bにおける最も大きい幅Wcとをともに4mmとした以外は、実施例と同一のペリクルフレームにマスク粘着剤を塗布した。塗布後しばらくすると、図5に示すように、表面張力によって円弧部の外周領域からペリクルフレーム2の内周Cへマスク粘着剤4が流動し、盛上り部10が形成されたことを目視で確認した。これはマスク粘着剤4とフォトマスクとの間にエアパスを生じさせるため、ペリクルとして使用できないものであった。
1はペリクル、2はペリクルフレーム、3は段差、4はマスク粘着剤、5はペリクル膜、10はマスク粘着剤の盛上り部、Aはペリクルフレームの直線部、Bはペリクルフレームの円弧部、Cはペリクルフレームの内周、Dはペリクルフレームの外周、Wcは円弧部における高段差部の最大幅、Wsは直線部における高段差部の幅である。
Claims (3)
- 四隅が円弧をなす矩形のペリクルフレームであって、一方の枠面全周に渡って、ペリクルフレームの内周寄りにマスク粘着剤の塗布しろ面である一連の高段差が設けられ、外周寄りが低段差となり、四隅円弧部における高段差の幅が、ペリクルフレーム直線部における高段差の幅より大きいことを特徴とするペリクルフレーム。
- 段差は、円弧部と直線部とが滑らかにつながって形成されていることを特徴とする請求項1に記載のペリクルフレーム。
- 請求項1または2に記載のペリクルフレームの他方の枠面側に、ペリクル膜が貼り付けされていることを特徴とするペリクル。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012109518A JP5746662B2 (ja) | 2012-05-11 | 2012-05-11 | ペリクルフレーム |
KR1020130034428A KR102070074B1 (ko) | 2012-05-11 | 2013-03-29 | 펠리클 프레임 |
TW102116299A TWI457699B (zh) | 2012-05-11 | 2013-05-08 | 防塵薄膜組件框架 |
CN201310170901.0A CN103389618B (zh) | 2012-05-11 | 2013-05-10 | 防尘薄膜组件框架 |
HK14101538.1A HK1188486A1 (zh) | 2012-05-11 | 2014-02-18 | 防塵薄膜組件框架 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012109518A JP5746662B2 (ja) | 2012-05-11 | 2012-05-11 | ペリクルフレーム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013238637A JP2013238637A (ja) | 2013-11-28 |
JP5746662B2 true JP5746662B2 (ja) | 2015-07-08 |
Family
ID=49533925
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012109518A Active JP5746662B2 (ja) | 2012-05-11 | 2012-05-11 | ペリクルフレーム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5746662B2 (ja) |
KR (1) | KR102070074B1 (ja) |
CN (1) | CN103389618B (ja) |
HK (1) | HK1188486A1 (ja) |
TW (1) | TWI457699B (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6293041B2 (ja) * | 2014-12-01 | 2018-03-14 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレームおよびこれを用いたペリクル |
JP6347741B2 (ja) | 2014-12-25 | 2018-06-27 | 信越化学工業株式会社 | ペリクル |
JP6632057B2 (ja) * | 2016-01-07 | 2020-01-15 | 信越化学工業株式会社 | ペリクル |
KR102002689B1 (ko) * | 2017-09-08 | 2019-07-23 | 주식회사 에프에스티 | 펠리클 프레임 |
TWI670562B (zh) * | 2018-06-21 | 2019-09-01 | 美商微相科技股份有限公司 | 光罩保護組件結構 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3642145B2 (ja) | 1997-02-21 | 2005-04-27 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルの製造方法及びペリクルのレチクル貼着用粘着剤層への貼着用ライナー |
JP3330898B2 (ja) * | 1999-04-26 | 2002-09-30 | 沖電気工業株式会社 | ペリクル |
JP4007752B2 (ja) * | 1999-07-30 | 2007-11-14 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 大型ペリクル用枠体及び大型ペリクル |
JP2005091983A (ja) * | 2003-09-19 | 2005-04-07 | Toppan Printing Co Ltd | Rfタグにより識別されるフォトマスク、ペリクル、ペリクル付きフォトマスク及び収納ケース |
JP2005308901A (ja) * | 2004-04-19 | 2005-11-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクルフレーム及びそれを用いたフォトリソグラフィー用ペリクル |
JP4637053B2 (ja) * | 2006-05-15 | 2011-02-23 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルおよびペリクル剥離装置 |
JP4921184B2 (ja) * | 2007-01-19 | 2012-04-25 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレームへの膜接着剤の塗布方法 |
TWI537674B (zh) * | 2008-09-12 | 2016-06-11 | Asahi Kasei E Materials Corp | Mask mask film, mask mask and mask mask the use of the box |
JP5481106B2 (ja) * | 2009-06-24 | 2014-04-23 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレーム及びリソグラフィ用ペリクル |
JP5199217B2 (ja) * | 2009-11-02 | 2013-05-15 | 信越化学工業株式会社 | ペリクル |
JP2011164402A (ja) | 2010-02-10 | 2011-08-25 | Shin-Etsu Chemical Co Ltd | ペリクルの製造方法 |
JP5940283B2 (ja) * | 2011-11-04 | 2016-06-29 | 信越化学工業株式会社 | ペリクル |
-
2012
- 2012-05-11 JP JP2012109518A patent/JP5746662B2/ja active Active
-
2013
- 2013-03-29 KR KR1020130034428A patent/KR102070074B1/ko active IP Right Grant
- 2013-05-08 TW TW102116299A patent/TWI457699B/zh active
- 2013-05-10 CN CN201310170901.0A patent/CN103389618B/zh active Active
-
2014
- 2014-02-18 HK HK14101538.1A patent/HK1188486A1/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013238637A (ja) | 2013-11-28 |
CN103389618A (zh) | 2013-11-13 |
KR102070074B1 (ko) | 2020-01-28 |
TWI457699B (zh) | 2014-10-21 |
HK1188486A1 (zh) | 2014-05-02 |
CN103389618B (zh) | 2015-12-23 |
KR20130126465A (ko) | 2013-11-20 |
TW201400978A (zh) | 2014-01-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5047232B2 (ja) | ペリクル | |
JP5746662B2 (ja) | ペリクルフレーム | |
JP5411596B2 (ja) | ペリクルフレーム及びリソグラフィ用ペリクル | |
TWI613511B (zh) | 防塵薄膜組件 | |
KR102468171B1 (ko) | 펠리클 프레임 및 이것을 사용한 펠리클 | |
KR102565514B1 (ko) | 펠리클 프레임 및 펠리클 | |
JP2011007934A (ja) | ペリクルフレーム及びリソグラフィ用ペリクル | |
KR102407079B1 (ko) | 펠리클 | |
JP6532428B2 (ja) | ペリクル | |
JP4951051B2 (ja) | ペリクルフレーム及びペリクル | |
JP6304884B2 (ja) | ペリクルの貼り付け方法 | |
KR20200074864A (ko) | 포토리소그래피용 펠리클막 및 이것을 구비한 펠리클 | |
JP2006056544A (ja) | ペリクルフレーム、および該フレームを用いたフォトリソグラフィー用ペリクル | |
KR102399704B1 (ko) | 펠리클 | |
EP2568336B1 (en) | A pellicle for lithography and a method of making thereof | |
JP2017122830A (ja) | ペリクル | |
KR102112519B1 (ko) | 리소그래피용 펠리클 | |
JP6156998B2 (ja) | ペリクル | |
JP2005338722A (ja) | ペリクルフレーム及びフォトリソグラフィー用ペリクル | |
JP2005308901A (ja) | ペリクルフレーム及びそれを用いたフォトリソグラフィー用ペリクル | |
JP4343775B2 (ja) | ペリクルフレーム及びフォトリソグラフィー用ペリクル | |
JP6975702B2 (ja) | ペリクルフレームおよびペリクル |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140626 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150421 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150508 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5746662 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |