JP5686684B2 - 光学装置 - Google Patents
光学装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5686684B2 JP5686684B2 JP2011157394A JP2011157394A JP5686684B2 JP 5686684 B2 JP5686684 B2 JP 5686684B2 JP 2011157394 A JP2011157394 A JP 2011157394A JP 2011157394 A JP2011157394 A JP 2011157394A JP 5686684 B2 JP5686684 B2 JP 5686684B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical
- optical system
- detection
- polarization
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 146
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 39
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 5
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000005315 distribution function Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007476 Maximum Likelihood Methods 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0072—Optical details of the image generation details concerning resolution or correction, including general design of CSOM objectives
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02034—Interferometers characterised by particularly shaped beams or wavefronts
- G01B9/02038—Shaping the wavefront, e.g. generating a spherical wavefront
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/447—Polarisation spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/02—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4795—Scattering, i.e. diffuse reflection spatially resolved investigating of object in scattering medium
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0056—Optical details of the image generation based on optical coherence, e.g. phase-contrast arrangements, interference arrangements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0068—Optical details of the image generation arrangements using polarisation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/0988—Diaphragms, spatial filters, masks for removing or filtering a part of the beam
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
Claims (8)
- 光源と、
前記光源からの光を第1の光と第2の光に分割する分割光学系と、
分割された前記第1の光を観察物体へ集光する集光光学系と、
前記観察物体からの反射光あるいは透過光の検出光を検出する検出光学系と、
前記検出光の偏光状態と前記第2の光の偏光状態を異なる偏光状態にする偏光光学素子と、
前記検出光と、前記観察物体に照射されない前記第2の光を重ね合わせる光学系と、
重ね合わせた合成応答光を分割する光学素子と、
前記合成応答光の光路に設置された偏光フィルタと、
分割された合成応答光をそれぞれ検出する検出器と、
少なくとも、前記第1の光と前記第2の光を重ね合わせる前の前記第2の光の光路中に設置された遮光領域を有する光学フィルタと、
それぞれの検出器からの信号を処理する電子回路と
電子回路からの出力を表示する表示装置と
を有することを特徴とする光学装置。 - 光源と、
前記光源からの光を第1の光と第2の光に分割する分割光学系と、
分割された前記第1の光を光ディスクへ集光する集光光学系と、
前記光ディスクからの検出光を検出する検出光学系と、
前記検出光の偏光状態と前記第2の光の偏光状態を異なる偏光状態にする偏光光学素子と、
前記検出光と、前記光ディスクに照射されない前記第2の光を重ね合わせる光学系と、
重ね合わせた合成応答光を分割する光学素子と、
前記合成応答光の光路に設置された偏光フィルタと、
分割された合成応答光をそれぞれ検出する検出器と、
少なくとも、前記第1の光と前記第2の光を重ね合わせる前の前記第2の光の光路中に設置された遮光領域を有する光学フィルタと、
それぞれの検出器からの信号を処理することで振幅情報を算出する電子回路と、
電子回路からの出力を信号処理する信号処理回路と、
制御信号生成光学系と、
前記制御信号生成光学系から出力されるトラッキングエラー信号とフォーカスエラー信号で前記光ディスクへの集光照射光位置を制御する制御機構と
を有することを特徴とする光学装置。 - 請求項1又は2に記載の光学装置において、前記検出光の偏光状態と前記第2の光の偏光状態は、s偏光とp偏光であることを特徴とする光学装置。
- 請求項1又は2に記載の光学装置において、前記検出光の偏光状態と前記第2の光の偏光状態は、右円偏光と左円偏光であることを特徴とする光学装置。
- 請求項1又は2に記載の光学装置において、前記光学フィルタは、中心部分を遮光することを特徴とする光学装置。
- 請求項1又は2に記載の光学装置において、レーザ光源のコヒーレンス長が略5mm以上であることを特徴とする光学装置。
- 請求項1又は2に記載の光学装置において、前記第1の光と前記第2の光の光量比を変える光学素子を有することを特徴とする光学装置。
- 請求項7記載の光学装置において、前記光学素子は、前記第2の光の光量を前記第1の光の光量以上とするものであることを特徴とする光学装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011157394A JP5686684B2 (ja) | 2011-07-19 | 2011-07-19 | 光学装置 |
US13/546,055 US9354434B2 (en) | 2011-07-19 | 2012-07-11 | Optical apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011157394A JP5686684B2 (ja) | 2011-07-19 | 2011-07-19 | 光学装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013024951A JP2013024951A (ja) | 2013-02-04 |
JP5686684B2 true JP5686684B2 (ja) | 2015-03-18 |
Family
ID=47555570
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011157394A Expired - Fee Related JP5686684B2 (ja) | 2011-07-19 | 2011-07-19 | 光学装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9354434B2 (ja) |
JP (1) | JP5686684B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6233603B2 (ja) * | 2012-12-05 | 2017-11-22 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 画像生成装置及び画像生成方法 |
US9170411B2 (en) * | 2013-10-11 | 2015-10-27 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Scanning optical microscope |
JP6125981B2 (ja) * | 2013-12-10 | 2017-05-10 | 株式会社トーメーコーポレーション | 光断層画像装置用サンプルクロック発生装置、および光断層画像装置 |
KR101639035B1 (ko) * | 2014-12-05 | 2016-07-12 | 세종대학교산학협력단 | 심혈관 광학 단층 촬영 장치 |
US20160313548A1 (en) * | 2015-04-21 | 2016-10-27 | Olympus Corporation | Method for capturing image of three-dimensional structure of specimen and microscopic device |
CN106980174B (zh) * | 2017-02-28 | 2019-04-16 | 浙江大学 | 一种综合性荧光超分辨显微成像装置 |
CN111568385B (zh) * | 2020-06-11 | 2022-05-27 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 光学相干层析设备的诊断检测方法、装置、系统 |
CN113091896B (zh) * | 2021-03-18 | 2023-03-14 | 西北工业大学 | 基于偏振光栅的动态测量任意光场完整信息的方法及光路 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1595422A (en) * | 1977-04-28 | 1981-08-12 | Nat Res Dev | Scaning microscopes |
JPS6236624A (ja) * | 1985-03-27 | 1987-02-17 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型光学顕微鏡 |
JP2605469B2 (ja) * | 1990-09-17 | 1997-04-30 | 日本電気株式会社 | 光ヘッド装置 |
JP2655066B2 (ja) | 1993-12-28 | 1997-09-17 | 日本電気株式会社 | 超解像光ヘッド装置 |
US5866911A (en) * | 1994-07-15 | 1999-02-02 | Baer; Stephen C. | Method and apparatus for improving resolution in scanned optical system |
US5883717A (en) * | 1996-06-04 | 1999-03-16 | Northeastern University | Optical quadrature interferometry utilizing polarization to obtain in-phase and quadrature information |
JPH1145058A (ja) * | 1997-07-25 | 1999-02-16 | Seiko Epson Corp | 表示装置 |
JPH11109252A (ja) * | 1997-10-01 | 1999-04-23 | Olympus Optical Co Ltd | 共焦点顕微鏡 |
US6721094B1 (en) * | 2001-03-05 | 2004-04-13 | Sandia Corporation | Long working distance interference microscope |
DE10227120A1 (de) * | 2002-06-15 | 2004-03-04 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Mikroskop, insbesondere Laserscanningmikroskop mit adaptiver optischer Einrichtung |
DE602004005338T2 (de) * | 2003-05-16 | 2007-12-13 | Université Libre de Bruxelles | Digitales holographisches mikroskop für dreidimensionale abbildung und verfahren zu dessen verwendung |
EP1856777A4 (en) * | 2005-01-24 | 2009-04-29 | Thorlabs Inc | COMPACT MULTIMODE LASER WITH QUICK SPECTRAL SCAN |
US8125648B2 (en) * | 2006-06-05 | 2012-02-28 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Polarization-sensitive spectral interferometry |
FR2902202B1 (fr) * | 2006-06-08 | 2008-09-26 | Centre Nat Rech Scient | Microscope confocal interferometrique |
JP4564948B2 (ja) | 2006-09-11 | 2010-10-20 | 株式会社日立製作所 | 光情報検出方法、光ヘッド及び光ディスク装置 |
US8405059B2 (en) * | 2007-02-02 | 2013-03-26 | King's College London | Method and apparatus for improving the resolution and/or sectioning ability of an imaging system |
US8023390B2 (en) * | 2007-02-23 | 2011-09-20 | Hitachi, Ltd. | Optical head and optical disk device |
JP5448353B2 (ja) * | 2007-05-02 | 2014-03-19 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層計を用いた画像形成方法、及び光干渉断層装置 |
JP5306075B2 (ja) * | 2008-07-07 | 2013-10-02 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法 |
JP5216465B2 (ja) * | 2008-08-01 | 2013-06-19 | 株式会社ミツトヨ | 変位測定装置、および変位測定方法 |
JP5081763B2 (ja) | 2008-08-13 | 2012-11-28 | 株式会社日立メディアエレクトロニクス | 光情報検出方法、光ピックアップ及び光情報記録再生装置 |
-
2011
- 2011-07-19 JP JP2011157394A patent/JP5686684B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-07-11 US US13/546,055 patent/US9354434B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013024951A (ja) | 2013-02-04 |
US20130021616A1 (en) | 2013-01-24 |
US9354434B2 (en) | 2016-05-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5686684B2 (ja) | 光学装置 | |
JP5492796B2 (ja) | 光学装置 | |
JP4610628B2 (ja) | 光ピックアップ装置および焦点調整方法 | |
JP4896884B2 (ja) | 光学ヘッド | |
JP5173656B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
WO2007105767A1 (ja) | 光ヘッド装置 | |
JP2008226293A (ja) | 光ピックアップ及び光ディスク装置 | |
JP4964306B2 (ja) | 光ヘッド装置 | |
JP2010170598A (ja) | 光ピックアップ装置および光ディスク装置 | |
JP4936053B2 (ja) | 光ピックアップ装置および光ディスク装置 | |
JP2007234194A (ja) | 光ヘッド装置 | |
JP2005135539A (ja) | 光ヘッドおよびそれを用いた光学的情報記録再生装置 | |
JP2009146528A (ja) | 光ピックアップ装置、及び光ディスク装置 | |
JP2011034623A (ja) | 光ピックアップ装置および光ディスク装置 | |
JP2011060382A (ja) | 光ピックアップ装置及びそれを用いた光ディスク装置 | |
JP2009020967A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JP5103367B2 (ja) | 光ピックアップ装置およびそれを用いた光ディスク装置 | |
JP3836491B2 (ja) | 光集積ユニット及び光ピックアップ装置 | |
JP2010192044A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
US8385182B2 (en) | Optical pickup apparatus | |
JP2006092606A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JP2014044780A (ja) | 光ピックアップ及びディスク装置 | |
WO2012114583A1 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JP2009140551A (ja) | 光学ピックアップおよび光ディスクドライブ | |
JP2006185541A (ja) | 光ピックアップ装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20131106 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140709 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140722 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140818 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141224 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150120 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5686684 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |