JP5306075B2 - 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法 - Google Patents
光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5306075B2 JP5306075B2 JP2009151483A JP2009151483A JP5306075B2 JP 5306075 B2 JP5306075 B2 JP 5306075B2 JP 2009151483 A JP2009151483 A JP 2009151483A JP 2009151483 A JP2009151483 A JP 2009151483A JP 5306075 B2 JP5306075 B2 JP 5306075B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- state
- detected
- switching
- return
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/102—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for optical coherence tomography [OCT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B10/00—Other methods or instruments for diagnosis, e.g. instruments for taking a cell sample, for biopsy, for vaccination diagnosis; Sex determination; Ovulation-period determination; Throat striking implements
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B5/00—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
- A61B5/0059—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons using light, e.g. diagnosis by transillumination, diascopy, fluorescence
- A61B5/0062—Arrangements for scanning
- A61B5/0066—Optical coherence imaging
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B5/00—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
- A61B5/0059—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons using light, e.g. diagnosis by transillumination, diascopy, fluorescence
- A61B5/0073—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons using light, e.g. diagnosis by transillumination, diascopy, fluorescence by tomography, i.e. reconstruction of 3D images from 2D projections
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4795—Scattering, i.e. diffuse reflection spatially resolved investigating of object in scattering medium
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/1025—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for confocal scanning
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B5/00—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
- A61B5/72—Signal processing specially adapted for physiological signals or for diagnostic purposes
- A61B5/7235—Details of waveform analysis
- A61B5/7253—Details of waveform analysis characterised by using transforms
- A61B5/7257—Details of waveform analysis characterised by using transforms using Fourier transforms
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Ophthalmology & Optometry (AREA)
- Immunology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Description
フーリエドメイン方式の光干渉断層法を用いて被検査物を撮像する撮像装置であって、
測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光を検出する検出手段と、
前記検出手段により前記合成光を検出可能な第1の状態と、前記検出手段により前記参照光を検出可能な第2の状態とを切り替える第1の切替手段と、
前記第1の状態と、前記検出手段により前記戻り光を検出可能な第3の状態とを切り替える第2の切替手段と、
前記第3の状態で前記戻り光を検出する時間間隔が前記第2の状態で前記参照光を検出する時間間隔よりも長くなるように、前記第1及び第2の切替手段を制御する制御手段と、
前記第1の状態で検出された前記合成光と、前記第2の状態で検出された前記参照光と、前記第3の状態で検出された前記戻り光とを用いて、前記戻り光と前記参照光との干渉情報を取得する干渉情報取得手段と、を有する。
フーリエドメイン方式の光干渉断層法を用いて被検査物を撮像する撮像方法であって、
測定光を照射した前記被検査物からの戻り光を検出する時間間隔が該測定光に対応する参照光を検出する時間間隔よりも長くなるように、前記戻り光と前記参照光とを合成した合成光を検出可能な第1の状態と前記参照光を検出可能な第2の状態とを切り替える第1の切替手段と、前記第1の状態と前記戻り光を検出可能な第3の状態とを切り替える第2の切替手段とを制御する工程と、
前記第1の状態で検出された前記合成光と、前記第2の状態で検出された前記参照光と、前記第3の状態で検出された前記戻り光とを用いて、前記戻り光と前記参照光との干渉情報を取得する工程と、を含む。
まず、20は、光(低コヒーレンス光)を発生させるための光源である。光源20には、SLD(Super Luminescent Diode)を適用することができる。また、光源20には、ASE(Amplified Spontaneous Emission)も適用することができる。また、光源20には、チタンサファイアレーザなどの超短パルスレーザも適用することができる。このように、光源20は、低コヒーレンス光を発生させることの出来るものなら何でも良い。さらに、光源20から発生される光の波長は、特に制限されるものではないが、400nmから2μmの範囲である。波長の帯域は広いほど縦分解能がよくなる。一般的に中心波長が850nmの場合、50nmの帯域では、6μmの分解能、100nmの帯域では、3μmの分解能である。
また、別の本実施形態に係るフーリエドメイン方式の光干渉断層法を用いる撮像方法は、以下の各工程を少なくとも含む。
a)光を発生させる工程。
b)前記光を参照光と測定光とに分割する工程。
c)前記測定光を被検査物に照射する工程。
d)前記照射により得られる戻り光と前記参照光との合成光を検出する工程。
e)前記合成光を検出可能な第1の状態と、前記参照光を検出可能な第2の状態とを、あるいは前記第1の状態と前記測定光を検出可能な第3の状態とを切り替える工程。
f)前記第1の状態で検出された前記合成光と、前記第2あるいは第3の状態で検出された前記参照光あるいは前記測定光とを用いて、前記戻り光と前記参照光との干渉情報を取得する工程。
g)前記合成光から前記参照光の自己相関成分と前記戻り光の自己相関成分とを減算する工程。
h)前記減算された結果を前記参照光の自己相関成分で規格化する工程。
i)前記規格化された結果をフーリエ変換する工程。
j)前記被検査物の断層画像を取得する工程。
k)前記測定光の光量を検出する工程。
l)前記光量が規定値と異なる場合に前記第2の状態にする工程。
別の本実施形態における光断層画像撮像装置ついて、図2(a)を用いて説明する。
ここで、別の実施形態として、上述の実施形態に係る撮像方法を、コンピューターに実行させるためのプログラムとして、コンピューターが読み取り可能な記憶媒体(例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、CD−R、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ROM、EEPROM、ブルーレイディスクなど)に格納しても良い。また、別の実施形態として、上述の撮像方法をコンピューターに実行させるためのプログラムでも良い。
実施例1に係る光干渉断層法を用いる撮像装置(あるいは光断層画像撮像装置)の構成例について、図2(a)を用いて説明する。本実施例の光断層画像撮像装置は、全体としてマイケルソン型の干渉計を構成し、光を制御する部分は機械的な機構を用いている。
参照光114の自己相関成分である強度Ir(k)は、波数kと参照光の電場をEr(k)として、式1のように表される。
戻り光113の強度Is(k)と、戻り光の電場Es(k)、および参照光114の電場Er(k)の関係を考える。
図5に示すように、等価的な参照ミラーの位置401からi番目の界面の空間距離をziとし、そこでの反射率をR(zi)および、参照ミラーからzi位置までの往復の透過率をT(zi)とする。
従って、屈折率に変化が無ければ反射率は0で透過率は1となる。
また、反射率が負になる時は位相が反転する。
なお、簡単のため媒質中での吸収および多重反射の影響を無視する。
なお、この場合の断層は、第1の界面402、第2の界面403、第3の界面404から構成されており、更に光学的に等価な位置に参照ミラー401が示してある。
一方、第2の界面側から第1の界面に入射した光の透過率はt10とする。
これは、光源101及び分光器108の波長分散による影響を排除することに相当する。
更に、式9のフーリエ変換結果を積算することによって、共焦点レーザー走査検眼鏡像として利用することができる。すなわち、実際には被検査物からの戻り光が微弱なため式2で示される戻り光を計測できない場合がある。この場合は式7のように参照光114と戻り光113の掛け算によって戻り光113の成分を検出可能にすることができる。
計測を終了していない場合はステップS6に進む。所望の領域とは例えば、被検査物上でX方向に20μmステップで512ポイント、Y方向に20μmステップで512ポイントなどである。当然、距離、ポイント数は被検査物や装置によって異なってもよい。
次に、ステップS6において、X方向に動かすか判断する。
X方向に動かす場合はステップS7に進む。動かさない場合にはステップS8に進む。
次に、ステップS7において、X方向に所望の距離を動かし、ステップS8に進む。
所望の距離とは例えば20μmである。
次に、ステップS8において、Y方向に動かすか判断する。
Y方向に動かす場合はステップS9に進む。動かさない場合には、ステップS2に進む。
次に、ステップS9において、Y方向に所望の距離を動かし、ステップS2に進む。
所望の距離とは例えば20μmである。
最後に、ステップS10において測定を終了する。
当然、計測結果としては、図5の界面が断層像として表示される。
合波光は式7で示されるのに対して、必要な成分は式8である。参照光114と戻り光113の自己相関成分はノイズとなるため除去する必要がある。
参照光114の自己相関成分は、一般的な光源のSLDの場合で説明すると、原点をピークに原点から離れた位置まで徐々に減衰する像として断層像に重ね合わさる。さらに式8のように畳み込まれているため断層像を歪ませることになる。
これが断層像に重ね合わさりノイズとなる。すなわち、n(zi)ziで構成される像に、N1(z2−z1)、N2(z3−z2)、N1(z2−z1)+N2(z3−z2)の位置に像が出現する。
一般的には参照光114に起因する成分より広範囲となる。
戻り光113の自己相関成分を除去しない場合には、光学的に等価な位置にある参照ミラーと第1の界面の距離が被検査物の層の厚みより離れている必要がある。こうすれば、参照ミラー401と第1の界面402の間に層があるように表示されたとしても、断層成分と自己相関成分を分離することができる。
一般的に、光学的に等価な位置にある参照ミラー401を近づけることによって高感度な計測が可能となり、眼のような反射率が低い被検査物の場合には特に有効である。
また、参照光114のスペクトルで除算することで断層像の歪がなくなり高精度な画像を得ることができる。
なお、参照光114および戻り光113の自己相関成分を測定する方法として、複数の分光器を用いる方法が考えられる。
実施例2における光断層画像撮像装置の構成例について、図2(b)を用いて説明する。図2(b)は、本実施例における光断層画像撮像装置の光学系を説明するための模式図である。本実施例の光断層画像撮像装置は、全体としてマッハツェンダー型の干渉計を構成し、光を制御する部分は電気的に行う。
光源501から出射された光はシングルモードファイバー512−1を通して、レンズ511−1に導かれる。さらに、ビームスプリッタ503−1によって参照光505と測定光506とに分割される。測定光506は、被検査物である眼507によって反射や散乱により戻り光508となって戻される。参照光505と戻り光508は、方向性結合器521を介して分光器518に入射する。分光器518で取得された波長スペクトルなどのデータはコンピューター519に取り入れられる。なお、光源501は代表的な低コヒーレント光源であるSLD(Super Luminescent Diode)である。波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。
ここでは、日本人の平均的な眼球の直径とされる23mmの2倍のL1=46mmとする。
さらに、電動ステージ513は、矢印で図示している方向に移動することができ、参照光505の光路長を、調整・制御することができる。
ビームスプリッタ503−1によって分割された測定光506は、ビームスプリッタ503−2で反射される。次に、XYスキャナ504のミラーに入射される。
XYスキャナ504は、網膜510上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。
レンズ520−1、520−2は網膜510を測定光506で走査するための光学系であり、測定光506を角膜509の付近を支点として、網膜510をスキャンする役割がある。
ここでは、レンズ520−1、520−2の焦点距離はそれぞれ50mm、50mmである。
測定光506は眼507に入射すると、網膜510からの反射や散乱により戻り光508となる。
戻り光508は光アンプ517、光スイッチ516−2を経由し、方向性結合器521を介して分光器518に導かれる。
この参照光505を取得するか否かは制御プロファイルに基づいて判断する。
参照光505を取得する場合はステップS2−2に進み、取得しない場合はステップS3−1に進む。
また、ステップS3−1に進んだ際には、戻り光508を取得するか否かを判断する。
戻り光508を取得するか否かは制御プロファイルに基づいて判断する。
戻り光508を取得する場合はステップS3−2に進み、取得しない場合はステップS4−1に進む。
そして、ステップS3−2に進んだ際には、光スイッチ516−1により参照光505を遮断した状態で、分光器518で戻り光508を取得する。
戻り光508の自己相関成分である強度Is(k)は実施例1とは異なり、光アンプの波長分散G(k)が掛かり、式10で表される。
また、ステップS4−1に進んだ際には合波光を取得するか否かを判断する。合波光を取得するか否かは制御プロファイルに基づいて判断する。
取得する場合はステップS4−2に進み、取得しない場合はステップS5に進む。
このとき、参照光505と戻り光508の自己相関成分の他に干渉成分Irs(k)が現れる。合波光Iadd(k)から式1と式10を減算することによって式11を得ることができる。
取得方法は、例えば、眼の代わりにミラーを配置して、参照光505および戻り光508のスペクトルをそれぞれ取得し、演算をする。
測定を終了する場合にはステップS10に進み、終了しない場合はステップS6に進む。
そして、ステップS6に進んだ際にはX方向に動かすか否かを判断する。
X方向に動かす場合はステップS7に進む。動かさない場合にはステップS8に進む。
ステップS7に進んだ際にはX方向に所望の距離を動かし、ステップS8に進む。
ステップS8に進んだ際にはY方向に動かすか否かを判断する。
Y方向に動かす場合はステップS9に進む。動かさない場合にはステップS2−1に進む。
そして、ステップS9に進んだ際にはY方向に所望の距離を動かし、ステップS2−1に進む。以上のステップを経て、最終的にステップS5において測定を終了すると判断された場合、ステップS10に進み、測定を終了する。
実施例3においては、シャッターを用いた眼科用OCT装置の構成例について、図7を用いて説明する。図7に、本実施例における光断層画像撮像装置の光学系を説明するための模式図を示す。図2と同じ構成には同じ番号が付されており、ここでは、実施例1、2との差異のみを述べる。
ステップM1では、検出器803で光量を検出し、電気回路804で光量のモニターを行う。ステップA2では、光量のモニターが確実に開始されるまでの待機時間であり、例えば数十ミリ秒である。
ステップM2では、光量が規定の範囲であってかつ測定が終了していないことを確認する。それらを満たしている場合は、M1の工程に戻る。なお、規定の光量はANSIなどの規格で決められており、例えば700μWである。光量が規定の範囲外である場合はステップM3に進む。規定の範囲外とは、例えば、680−700μmでない場合である。測定が終了している場合にはステップA10に進み終了する。
ステップM3では、シャッター801が開いている場合にはシャッター801を閉める。そして、ステップM4のエラー処理の工程に進む。エラーの処理は、コンピューター111により分光器によるデータ取得を中止し、スキャナー104や参照ミラー115を初期位置に戻すことなどである。さらに、コンピューター104の画面にエラーメッセージを出力する。
12 戻り光
13 参照部
14 参照光
15 合成光
16 検出部
17 切替部
18 制御部
19 干渉情報取得部
20 光源
21 分割部
22 合成部
23 測定光
Claims (27)
- フーリエドメイン方式の光干渉断層法を用いて被検査物を撮像する撮像装置であって、
測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光を検出する検出手段と、
前記検出手段により前記合成光を検出可能な第1の状態と、前記検出手段により前記参照光を検出可能な第2の状態とを切り替える第1の切替手段と、
前記第1の状態と、前記検出手段により前記戻り光を検出可能な第3の状態とを切り替える第2の切替手段と、
前記第3の状態で前記戻り光を検出する時間間隔が前記第2の状態で前記参照光を検出する時間間隔よりも長くなるように、前記第1及び第2の切替手段を制御する制御手段と、
前記第1の状態で検出された前記合成光と、前記第2の状態で検出された前記参照光と、前記第3の状態で検出された前記戻り光とを用いて、前記戻り光と前記参照光との干渉情報を取得する干渉情報取得手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。 - 前記第1の切替手段は、前記測定光の光路において前記測定光を減光することにより前記第2の状態に切り替えることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記第1の切替手段は、前記測定光の透過率を減少させることにより前記第2の状態に切り替えることを特徴とする請求項1あるいは2に記載の撮像装置。
- 前記第1の切替手段は、前記測定光の光路を遮蔽することにより前記第2の状態に切り替えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記第1の切替手段は、前記測定光の光路を変更することにより前記第2の状態に切り替えることを特徴とする請求項1あるいは2に記載の撮像装置。
- 前記測定光の光量を検出する光量検出手段を有し、
前記制御手段が、前記検出された光量が所定の範囲内である場合、前記第2の状態から前記第1の状態に切り替えるように前記第1の切替手段を制御することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記測定光の光量を検出する光量検出手段を有し、
前記制御手段が、前記検出された光量が所定の範囲外で且つ前記第1の状態である場合、前記第2の状態に切り替えるように前記第1の切替手段を制御することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記第2の切替手段は、前記参照光の光路において前記参照光を減光することにより前記第3の状態に切り替えることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記制御手段が、予め設定されたタイミングに基づいて前記第1及び第2の切替手段を制御し、
前記合成光は、前記第1の状態のタイミングにおいて前記検出手段により検出されることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記制御手段が、前記第1の状態で前記合成光を検出する度に前記第2の状態における前記参照光の検出と前記第3の状態における前記戻り光の検出とを実行するように、前記第1及び第2の切替手段を制御することを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記制御手段が、前記第1の状態における前記合成光の検出と、前記第2の状態における前記参照光の検出と、前記第3の状態における前記戻り光の検出とを連続的に繰り返し実行するように、前記第1及び第2の切替手段を制御することを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 光を発生させるための光源と、
前記光源からの光を前記参照光と前記測定光とに分割する分割手段と、
前記検出手段で検出された前記合成光から、前記参照光の自己相関成分と前記戻り光の自己相関成分とを減算するための減算手段と、
前記減算された結果を前記参照光の自己相関成分で規格化するための規格化手段と、前記規格化された結果をフーリエ変換するための変換手段と、
前記被検査物の断層画像を取得するための断層画像取得手段と、
を有することを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記第1の切替手段は、前記戻り光の光路において前記戻り光を減光することにより前記第2の状態に切り替えることを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記載の撮像装置。
- フーリエドメイン方式の光干渉断層法を用いて被検査物を撮像する撮像システムであって、
測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光を検出する検出手段と、
前記検出手段により前記合成光を検出可能な第1の状態と、前記検出手段により前記参照光を検出可能な第2の状態とを切り替える第1の切替手段と、
前記第1の状態と、前記検出手段により前記戻り光を検出可能な第3の状態とを切り替える第2の切替手段と、
前記第3の状態で前記戻り光を検出する時間間隔が前記第2の状態で前記参照光を検出する時間間隔よりも長くなるように、前記第1及び第2の切替手段を制御する制御手段と、
前記第1の状態で検出された前記合成光と、前記第2の状態で検出された前記参照光と、前記第3の状態で検出された前記戻り光とを用いて、前記戻り光と前記参照光との干渉情報を取得する干渉情報取得手段と、
を有することを特徴とする撮像システム。 - 前記第1の切替手段は、前記測定光の光路において前記測定光を減光することにより前記第2の状態に切り替えることを特徴とする請求項14に記載の撮像システム。
- 前記第1の切替手段は、前記測定光の透過率を減少させることにより前記第2の状態に切り替えることを特徴とする請求項14あるいは15に記載の撮像システム。
- 前記第1の切替手段は、前記測定光の光路を遮蔽することにより前記第2の状態に切り替えることを特徴とする請求項14乃至16のいずれか1項に記載の撮像システム。
- 前記第1の切替手段は、前記測定光の光路を変更することにより前記第2の状態に切り替えることを特徴とする請求項14あるいは15に記載の撮像システム。
- 前記測定光の光量を検出する光量検出手段を有し、
前記制御手段が、前記検出された光量が所定の範囲内である場合、前記第2の状態から前記第1の状態に切り替えるように前記第1の切替手段を制御することを特徴とする請求項14乃至18のいずれか1項に記載の撮像システム。 - 前記測定光の光量を検出する光量検出手段を有し、
前記制御手段が、前記検出された光量が所定の範囲外で且つ前記第1の状態である場合、前記第2の状態に切り替えるように前記第1の切替手段を制御することを特徴とする請求項14乃至18のいずれか1項に記載の撮像システム。 - 前記制御手段が、前記第1の状態で前記合成光を検出する度に前記第2の状態における前記参照光の検出と前記第3の状態における前記戻り光の検出とを実行するように、前記第1及び第2の切替手段を制御することを特徴とする請求項14乃至20のいずれか1項に記載の撮像システム。
- 前記制御手段が、前記第1の状態における前記合成光の検出と、前記第2の状態における前記参照光の検出と、前記第3の状態における前記戻り光の検出とを連続的に繰り返し実行するように、前記第1及び第2の切替手段を制御することを特徴とする請求項14乃至21のいずれか1項に記載の撮像システム。
- 請求項14乃至22のいずれか1項に記載の撮像システムにおける前記制御手段及び前記干渉情報取得手段として、コンピュータを機能させることを特徴とするプログラム。
- フーリエドメイン方式の光干渉断層法を用いて被検査物を撮像する撮像方法であって、
測定光を照射した前記被検査物からの戻り光を検出する時間間隔が該測定光に対応する参照光を検出する時間間隔よりも長くなるように、前記戻り光と前記参照光とを合成した合成光を検出可能な第1の状態と前記参照光を検出可能な第2の状態とを切り替える第1の切替手段と、前記第1の状態と前記戻り光を検出可能な第3の状態とを切り替える第2の切替手段とを制御する工程と、
前記第1の状態で検出された前記合成光と、前記第2の状態で検出された前記参照光と、前記第3の状態で検出された前記戻り光とを用いて、前記戻り光と前記参照光との干渉情報を取得する工程と、
を含むことを特徴とする撮像方法。 - 前記制御する工程では、前記合成光を検出する度に前記参照光の検出と前記戻り光の検出とを実行するように、前記第1及び第2の切替手段を制御することを特徴とする請求項24に記載の撮像方法。
- 前記制御する工程では、前記第1の状態における前記合成光の検出と、前記第2の状態における前記参照光の検出と、前記第3の状態における前記戻り光の検出とを連続的に繰り返し実行するように、前記第1及び第2の切替手段を制御することを特徴とする請求項24あるいは25に記載の撮像方法。
- 請求項24乃至26のいずれか1項に記載の撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (11)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009151483A JP5306075B2 (ja) | 2008-07-07 | 2009-06-25 | 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法 |
CN2009801260431A CN102084240B (zh) | 2008-07-07 | 2009-07-06 | 使用光学相干层析成像法的成像设备和成像方法 |
CN201310330277.6A CN103393399B (zh) | 2008-07-07 | 2009-07-06 | 使用光学相干层析成像法的成像设备和成像方法 |
RU2011104091/28A RU2459197C1 (ru) | 2008-07-07 | 2009-07-06 | Устройство формирования изображения и способ формирования изображения с использованием оптической когерентной томографии |
EP09787986.0A EP2297567B1 (en) | 2008-07-07 | 2009-07-06 | Imaging apparatus and imaging method using optical coherence tomography |
KR1020137002884A KR101384005B1 (ko) | 2008-07-07 | 2009-07-06 | 광간섭 단층법을 사용하는 촬상 장치 및 촬상 방법, 및 컴퓨터 판독가능 저장 매체 |
KR1020117001933A KR20110036593A (ko) | 2008-07-07 | 2009-07-06 | 광간섭 단층법을 사용하는 촬상 장치 및 촬상 방법, 및 컴퓨터 판독가능 저장 매체 |
RU2012117760/28A RU2503949C1 (ru) | 2008-07-07 | 2009-07-06 | Устройство формирования изображения и способ формирования изображения с использованием оптической когерентной томографии |
PCT/JP2009/062642 WO2010005091A1 (en) | 2008-07-07 | 2009-07-06 | Imaging apparatus and imaging method using optical coherence tomography |
US12/991,734 US8760664B2 (en) | 2008-07-07 | 2009-07-06 | Imaging apparatus and imaging method using optical coherence tomography |
US14/274,898 US20140247426A1 (en) | 2008-07-07 | 2014-05-12 | Imaging apparatus and imaging method using optical coherence tomography |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008177158 | 2008-07-07 | ||
JP2008177158 | 2008-07-07 | ||
JP2009151483A JP5306075B2 (ja) | 2008-07-07 | 2009-06-25 | 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013134967A Division JP5587469B2 (ja) | 2008-07-07 | 2013-06-27 | 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010038910A JP2010038910A (ja) | 2010-02-18 |
JP2010038910A5 JP2010038910A5 (ja) | 2011-09-29 |
JP5306075B2 true JP5306075B2 (ja) | 2013-10-02 |
Family
ID=41119939
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009151483A Expired - Fee Related JP5306075B2 (ja) | 2008-07-07 | 2009-06-25 | 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8760664B2 (ja) |
EP (1) | EP2297567B1 (ja) |
JP (1) | JP5306075B2 (ja) |
KR (2) | KR101384005B1 (ja) |
CN (2) | CN102084240B (ja) |
RU (2) | RU2503949C1 (ja) |
WO (1) | WO2010005091A1 (ja) |
Families Citing this family (49)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5275880B2 (ja) | 2009-04-03 | 2013-08-28 | 株式会社トプコン | 光画像計測装置 |
JP5558735B2 (ja) | 2009-04-13 | 2014-07-23 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置及びその制御方法 |
JP5306269B2 (ja) * | 2009-06-25 | 2013-10-02 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法 |
JP5036785B2 (ja) * | 2009-10-23 | 2012-09-26 | キヤノン株式会社 | 光断層画像生成方法及び光断層画像生成装置 |
US20130107269A1 (en) * | 2010-03-17 | 2013-05-02 | National University Corporation Nagaoka University Of Technology | Electric field spectrum measurement device and object measurement device |
JP5637730B2 (ja) * | 2010-05-14 | 2014-12-10 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその撮像方法 |
JP2011257160A (ja) | 2010-06-04 | 2011-12-22 | Canon Inc | 光干渉断層撮像装置、光干渉断層撮像方法、およびプログラム |
JP2012042348A (ja) | 2010-08-19 | 2012-03-01 | Canon Inc | 断層画像表示装置およびその制御方法 |
JPWO2012029809A1 (ja) * | 2010-08-31 | 2013-10-31 | 達俊 塩田 | 形状測定装置 |
JP5733960B2 (ja) | 2010-11-26 | 2015-06-10 | キヤノン株式会社 | 撮像方法および撮像装置 |
JP5794664B2 (ja) * | 2011-01-20 | 2015-10-14 | キヤノン株式会社 | 断層画像生成装置及び断層画像生成方法 |
US8517537B2 (en) | 2011-01-20 | 2013-08-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical coherence tomographic imaging method and optical coherence tomographic imaging apparatus |
JP5901124B2 (ja) | 2011-03-10 | 2016-04-06 | キヤノン株式会社 | 撮像装置およびその制御方法 |
US9161690B2 (en) | 2011-03-10 | 2015-10-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Ophthalmologic apparatus and control method of the same |
JP5611259B2 (ja) * | 2011-03-31 | 2014-10-22 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置及びその制御方法 |
JP5771052B2 (ja) * | 2011-04-13 | 2015-08-26 | 株式会社吉田製作所 | プローブ |
JP5686684B2 (ja) * | 2011-07-19 | 2015-03-18 | 株式会社日立製作所 | 光学装置 |
JP5847490B2 (ja) | 2011-08-25 | 2016-01-20 | キヤノン株式会社 | 被検体情報取得装置 |
KR101258557B1 (ko) | 2011-11-24 | 2013-05-02 | 고려대학교 산학협력단 | 주파수 영역 광간섭 단층촬영 정보처리 장치 및 방법 |
US9243887B2 (en) | 2012-01-04 | 2016-01-26 | The Johns Hopkins University | Lateral distortion corrected optical coherence tomography system |
KR101862354B1 (ko) | 2012-01-09 | 2018-05-30 | 삼성전자주식회사 | 단층 영상 생성 방법 및 그 방법을 수행하는 단층 영상 생성 장치 |
US9095281B2 (en) * | 2012-02-10 | 2015-08-04 | Carl Zeiss Meditec, Inc. | Segmentation and enhanced visualization techniques for full-range fourier domain optical coherence tomography |
CN102599883B (zh) * | 2012-02-22 | 2014-03-26 | 无锡渝跃科技有限公司 | 用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统 |
CN103427334B (zh) | 2012-05-14 | 2018-09-25 | 三星电子株式会社 | 用于发射波长扫描光的方法和设备 |
TW201431224A (zh) * | 2013-01-18 | 2014-08-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 光源系統 |
US20140240470A1 (en) * | 2013-02-28 | 2014-08-28 | Codi Comercio Design Industrial, Lda | Method, system and device for improving optical measurement of ophthalmic spectacles |
CN105338932B (zh) | 2013-03-13 | 2017-07-04 | 光学医疗公司 | 用于激光手术系统的自由浮动式患者接口 |
WO2014158615A1 (en) * | 2013-03-13 | 2014-10-02 | Optimedica Corporation | Laser eye surgery system |
KR101603822B1 (ko) * | 2013-09-12 | 2016-03-15 | 주식회사 엘지화학 | 에폭시 수지용 충격보강제, 이의 제조방법 및 이를 포함하는 에폭시 수지 조성물 |
US10062164B2 (en) * | 2014-04-07 | 2018-08-28 | Mimo Ag | Method for the analysis of image data representing a three-dimensional volume of biological tissue |
US9192295B1 (en) * | 2014-06-11 | 2015-11-24 | L&R Medical Inc. | Focusing algorithm in OCT-only systems |
CN104116495B (zh) * | 2014-07-11 | 2016-02-10 | 北京理工大学 | 一种视网膜光学相干层析探测-显示系统 |
JP6599876B2 (ja) * | 2014-08-28 | 2019-10-30 | 興和株式会社 | 断層像撮影装置 |
JP6047202B2 (ja) * | 2015-06-08 | 2016-12-21 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮像装置、光干渉断層撮像方法、およびプログラム |
JP6632262B2 (ja) * | 2015-09-04 | 2020-01-22 | キヤノン株式会社 | 眼科装置及びその作動方法 |
KR102112940B1 (ko) | 2015-09-18 | 2020-05-19 | 애플 인크. | 기준 방식들에서의 측정 시간 분포 |
JP6628589B2 (ja) | 2015-12-11 | 2020-01-08 | 株式会社Screenホールディングス | 撮像装置 |
CN105796054B (zh) * | 2016-02-19 | 2018-09-07 | 深圳市斯尔顿科技有限公司 | 一种oct图像的处理方法及装置 |
CN109073462B (zh) | 2016-04-21 | 2021-09-24 | 苹果公司 | 用于参考切换的多路复用和编码 |
CN112504116B (zh) * | 2016-04-21 | 2023-04-07 | 诺威有限公司 | 在对图案化样本的计量测量中使用的测量系统 |
JP6758900B2 (ja) * | 2016-04-28 | 2020-09-23 | キヤノン株式会社 | 眼科撮像装置 |
WO2018119222A1 (en) * | 2016-12-21 | 2018-06-28 | The Curators Of The University Of Missouri | Systems and methods for airy beam optical coherence tomography |
US10660523B2 (en) * | 2017-07-07 | 2020-05-26 | Hideo Ando | Light-source unit, measurement apparatus, near-infrared microscopic apparatus, optical detection method, imaging method, calculation method, functional bio-related substance, state management method, and manufacturing method |
KR102044698B1 (ko) | 2017-12-27 | 2019-11-14 | 주식회사 휴비츠 | 슬라이드 구동 셔터 및 이를 구비한 광 간섭 단층촬영 장치 |
CN108567410B (zh) * | 2018-04-16 | 2024-05-17 | 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 | 光学相干层析和点扫描共焦同步成像系统 |
KR102092331B1 (ko) * | 2018-06-05 | 2020-03-23 | 주식회사 필로포스 | 이동 가능한 환경에 적합한 소형 oct용 분광기 |
WO2020044854A1 (ja) * | 2018-08-30 | 2020-03-05 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 生体計測装置、及び生体計測方法 |
US20220061644A1 (en) * | 2020-08-27 | 2022-03-03 | Nokia Technologies Oy | Holographic endoscope |
CA3096285A1 (en) * | 2020-10-16 | 2022-04-16 | Pulsemedica Corp. | Opthalmological imaging and laser delivery device, system and methods |
Family Cites Families (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5018855A (en) | 1988-10-26 | 1991-05-28 | Athens Corp. | Atomic absorption process monitoring |
US4989971A (en) * | 1989-07-14 | 1991-02-05 | Tektronix, Inc. | Automatic mask trigger for an optical time domain reflectometer |
US5317376A (en) * | 1992-12-03 | 1994-05-31 | Litton Systems, Inc. | Solid state pulsed coherent laser radar for short range velocimetry applications |
US5798837A (en) * | 1997-07-11 | 1998-08-25 | Therma-Wave, Inc. | Thin film optical measurement system and method with calibrating ellipsometer |
DE19814057B4 (de) | 1998-03-30 | 2009-01-02 | Carl Zeiss Meditec Ag | Anordnung zur optischen Kohärenztomographie und Kohärenztopographie |
US6243511B1 (en) * | 1999-02-04 | 2001-06-05 | Optical Switch Corporation | System and method for determining the condition of an optical signal |
US6785634B2 (en) | 2000-01-18 | 2004-08-31 | Intelligent Automation, Inc. | Computerized system and methods of ballistic analysis for gun identifiability and bullet-to-gun classifications |
RU2184347C2 (ru) * | 2000-08-09 | 2002-06-27 | Мазуренко Юрий Тарасович | Способ получения изображений внутренней структуры объектов |
US6982785B2 (en) | 2001-05-01 | 2006-01-03 | Van Den Engh Gerrrit J | Apparatus for determining radiation beam alignment |
US20020176085A1 (en) * | 2001-05-25 | 2002-11-28 | Hill Gregory S. | Feedback position control system and method for an interferometer |
JP3695360B2 (ja) * | 2001-07-04 | 2005-09-14 | 株式会社島津製作所 | フーリエ変換赤外分光光度計 |
GB2379977B (en) | 2001-09-25 | 2005-04-06 | Kidde Plc | High sensitivity particle detection |
US7729776B2 (en) * | 2001-12-19 | 2010-06-01 | Cardiac Pacemakers, Inc. | Implantable medical device with two or more telemetry systems |
WO2004043245A1 (en) * | 2002-11-07 | 2004-05-27 | Pawel Woszczyk | A method of fast imaging of objects by means of spectral optical coherence tomography |
KR20060130715A (ko) * | 2004-03-03 | 2006-12-19 | 닛본 덴끼 가부시끼가이샤 | 측위 시스템, 측위 방법, 및 그 프로그램 |
JP4409332B2 (ja) * | 2004-03-30 | 2010-02-03 | 株式会社トプコン | 光画像計測装置 |
WO2005099817A1 (en) * | 2004-04-07 | 2005-10-27 | Cardiac Pacemakers, Inc. | Rf wake-up of implantable medical device |
JP5053845B2 (ja) * | 2004-08-06 | 2012-10-24 | ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション | 光学コヒーレンス断層撮影法を使用して試料中の少なくとも1つの位置を決定するための方法、システムおよびソフトウェア装置 |
JP4505807B2 (ja) * | 2004-08-09 | 2010-07-21 | 国立大学法人 筑波大学 | 多重化スペクトル干渉光コヒーレンストモグラフィー |
US7663097B2 (en) * | 2004-08-11 | 2010-02-16 | Metrosol, Inc. | Method and apparatus for accurate calibration of a reflectometer by using a relative reflectance measurement |
US7310153B2 (en) * | 2004-08-23 | 2007-12-18 | Palo Alto Research Center, Incorporated | Using position-sensitive detectors for wavelength determination |
JP2006122649A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-05-18 | Nidek Co Ltd | 被検物体の測定方法、及び該方法を用いた眼科装置 |
JP4566685B2 (ja) * | 2004-10-13 | 2010-10-20 | 株式会社トプコン | 光画像計測装置及び光画像計測方法 |
US7248907B2 (en) * | 2004-10-23 | 2007-07-24 | Hogan Josh N | Correlation of concurrent non-invasively acquired signals |
JP4688094B2 (ja) * | 2004-11-02 | 2011-05-25 | 株式会社松風 | 光コヒーレンストモグラフィー装置 |
JP2007007297A (ja) * | 2005-07-01 | 2007-01-18 | Nidek Co Ltd | 被検物体の測定方法、及び該方法を用いた眼科装置 |
US20070019210A1 (en) * | 2005-07-19 | 2007-01-25 | Kuhn William P | Time-delayed source and interferometric measurement of windows and domes |
EP1813962A1 (de) * | 2006-01-27 | 2007-08-01 | Polytec GmbH | Messvorrichtung und Verfahren zur optischen Vermessung eines Objektes |
JP2009527770A (ja) * | 2006-02-24 | 2009-07-30 | ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション | 角度分解型のフーリエドメイン光干渉断層撮影法を遂行する方法及びシステム |
CN100520361C (zh) * | 2006-07-05 | 2009-07-29 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 全深度探测的频域光学相干层析成像的方法及其系统 |
CN100415158C (zh) * | 2006-09-08 | 2008-09-03 | 浙江大学 | 一种扩展光学相干层析成像动态范围的方法 |
US7439511B2 (en) * | 2007-01-31 | 2008-10-21 | Emcore Corporation | Pulsed terahertz frequency domain spectrometer with single mode-locked laser and dispersive phase modulator |
US8180131B2 (en) * | 2007-05-04 | 2012-05-15 | Bioptigen, Inc. | Methods, systems and computer program products for mixed-density optical coherence tomography (OCT) imaging |
US8115934B2 (en) * | 2008-01-18 | 2012-02-14 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Device and method for imaging the ear using optical coherence tomography |
WO2009140617A2 (en) * | 2008-05-15 | 2009-11-19 | Axsun Technologies, Inc. | Oct combining probes and integrated systems |
US7804599B2 (en) | 2008-07-24 | 2010-09-28 | MGM Instruments, Inc. | Fluid volume verification system |
JP5605998B2 (ja) | 2009-03-06 | 2014-10-15 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮像方法および装置 |
JP5605999B2 (ja) | 2009-03-06 | 2014-10-15 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮像方法および装置 |
JP4902721B2 (ja) | 2009-10-23 | 2012-03-21 | キヤノン株式会社 | 光断層画像生成装置及び光断層画像生成方法 |
JP5036785B2 (ja) | 2009-10-23 | 2012-09-26 | キヤノン株式会社 | 光断層画像生成方法及び光断層画像生成装置 |
-
2009
- 2009-06-25 JP JP2009151483A patent/JP5306075B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-07-06 KR KR1020137002884A patent/KR101384005B1/ko active IP Right Grant
- 2009-07-06 RU RU2012117760/28A patent/RU2503949C1/ru active
- 2009-07-06 EP EP09787986.0A patent/EP2297567B1/en active Active
- 2009-07-06 KR KR1020117001933A patent/KR20110036593A/ko active Application Filing
- 2009-07-06 US US12/991,734 patent/US8760664B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-07-06 CN CN2009801260431A patent/CN102084240B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2009-07-06 CN CN201310330277.6A patent/CN103393399B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2009-07-06 WO PCT/JP2009/062642 patent/WO2010005091A1/en active Application Filing
- 2009-07-06 RU RU2011104091/28A patent/RU2459197C1/ru not_active IP Right Cessation
-
2014
- 2014-05-12 US US14/274,898 patent/US20140247426A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2010005091A1 (en) | 2010-01-14 |
US20140247426A1 (en) | 2014-09-04 |
CN103393399B (zh) | 2016-01-20 |
US20110058175A1 (en) | 2011-03-10 |
CN103393399A (zh) | 2013-11-20 |
JP2010038910A (ja) | 2010-02-18 |
KR20130026502A (ko) | 2013-03-13 |
KR101384005B1 (ko) | 2014-04-10 |
CN102084240A (zh) | 2011-06-01 |
CN102084240B (zh) | 2013-08-21 |
US8760664B2 (en) | 2014-06-24 |
KR20110036593A (ko) | 2011-04-07 |
RU2012117760A (ru) | 2013-11-10 |
EP2297567A1 (en) | 2011-03-23 |
RU2503949C1 (ru) | 2014-01-10 |
EP2297567B1 (en) | 2020-01-22 |
RU2459197C1 (ru) | 2012-08-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5306075B2 (ja) | 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法 | |
US9833139B1 (en) | System and method for performing tear film structure measurement | |
JP5371315B2 (ja) | 光干渉断層撮像方法および光干渉断層撮像装置 | |
JP5306269B2 (ja) | 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法 | |
JP5864258B2 (ja) | スペクトル光コヒーレンス断層映像法を用いて構造データを収集する方法および装置 | |
EP3627093B1 (en) | Apparatus for parallel fourier domain optical coherence tomography imaging and imaging method using parallel fourier domain optical coherence tomography | |
CN107567305B (zh) | 摄像设备 | |
US20190290117A1 (en) | Interferometric fundus imaging method | |
US20170290514A1 (en) | Methods to improve axial resolution in optical coherence tomography | |
JP5990224B2 (ja) | 撮像装置及び撮像方法 | |
EP1870030A1 (en) | Apparatus and method for frequency domain optical coherence tomography | |
US11116394B2 (en) | System and method for performing tear film structure measurement | |
EP1870029A1 (en) | Apparatus and method for frequency domain optical coherence tomography | |
US20170211924A1 (en) | Instantaneous time domain optical coherence tomography | |
US11058297B2 (en) | 1060 nm wavelength range-based optical coherence tomography (OCT) system for anterior/posterior segment imaging of an eye | |
JP5726238B2 (ja) | 撮像装置及び撮像方法 | |
US20220007933A1 (en) | System and method for performing tear film structure measurement | |
Pedrosa | Swept Source Optical Coherence Tomography for Small Animals-Performance Parameters and Optic Modelling |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100201 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20100630 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110811 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110811 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120925 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121126 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130528 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130625 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5306075 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |