JP5733960B2 - 撮像方法および撮像装置 - Google Patents
撮像方法および撮像装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5733960B2 JP5733960B2 JP2010263694A JP2010263694A JP5733960B2 JP 5733960 B2 JP5733960 B2 JP 5733960B2 JP 2010263694 A JP2010263694 A JP 2010263694A JP 2010263694 A JP2010263694 A JP 2010263694A JP 5733960 B2 JP5733960 B2 JP 5733960B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lights
- measurement
- tomographic images
- imaging
- information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 51
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 151
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 48
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 31
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 9
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims 2
- 210000001508 eye Anatomy 0.000 description 28
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 210000001525 retina Anatomy 0.000 description 8
- 238000012014 optical coherence tomography Methods 0.000 description 7
- 238000013461 design Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 230000004397 blinking Effects 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 2
- 238000012952 Resampling Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 210000005252 bulbus oculi Anatomy 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 210000004087 cornea Anatomy 0.000 description 1
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000004424 eye movement Effects 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
- G01B9/02027—Two or more interferometric channels or interferometers
- G01B9/02028—Two or more reference or object arms in one interferometer
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/102—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for optical coherence tomography [OCT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
- G01B9/02017—Interferometers characterised by the beam path configuration with multiple interactions between the target object and light beams, e.g. beam reflections occurring from different locations
- G01B9/02019—Interferometers characterised by the beam path configuration with multiple interactions between the target object and light beams, e.g. beam reflections occurring from different locations contacting different points on same face of object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02041—Interferometers characterised by particular imaging or detection techniques
- G01B9/02044—Imaging in the frequency domain, e.g. by using a spectrometer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/0209—Low-coherence interferometers
- G01B9/02091—Tomographic interferometers, e.g. based on optical coherence
Description
以下、本発明の実施例1について、図面を用いて詳細に説明する。本実施例は、被検査物の動きが無視できるような場合に特に有効である。
光源201から出射した光である出射光204はシングルモードファイバ210に導かれて光カプラ256に入射し、光カプラ256にて第1の光路と第2の光路と第3の光路の3つの光路を通る出射光204−1〜3に分割される。さらに、この3つの出射光204−1〜3のそれぞれは、偏光コントローラ253−1を通過し、光カプラ231−1〜3にて参照光205−1〜3と測定光206−1〜3とに分割される。このように分割された3つの測定光206−1〜3は、観察対象である被検眼207における網膜227等のそれぞれの測定個所によって反射あるいは散乱された戻り光208−1〜3となって戻される。そして、光カプラ231−1〜3によって、参照光路を経由してきた参照光205−1〜3と合波され合成光242−1〜3となる。合成光242−1〜3は、透過型回折格子241によって波長毎にそれぞれ分光され、ラインセンサ239の異なる領域に入射される。ラインセンサ239はセンサ素子毎に各波長の光強度を電圧に変換し、その信号を用いて、被検眼207の断層画像が構成される。
ここで、分光器について具体的に説明する。この構成では、複数の合成光を一個のラインセンサで処理するため、2次元センサに比べて低コストを実現することができる。
次に、装置の基本的な情報を取得し、校正することについて説明する。校正を行うことにより、複数の計測光を使った場合であっても、1本の計測光で取得したデータと同等に扱えるようにすることができる。あるいは被検査物の形状、例えば湾曲などに合わせて、コヒーレンスゲートの位置を必要量ずらして計測することが可能になる。これらは1本の計測光による断層装置では発生しない課題である。
図1を用いて実施例1における信号処理工程を示す。なお、各工程は、コンピュータ225の制御の下に各部が動作するものである。
本実施例は、測定中に動く被検査物を測定する場合に特に有効である。各測定領域の断層画像において、各測定領域内の隣接するB−Scan像は、略連続的になっている。一方、境界領域のB−Scan像は大きく移動していることがある。このような状況で2次元強度像やSlow Scan像を作成すると、装置の補正を行った場合でも連続的に接続した画像を得ることは難しいことがある。ここでは、実施例1との差分について特に説明する。
図5を用いて実施例2における信号処理工程を示す。
工程B1で境界領域の検索を行う。これについて図6を用いて説明する。図6(a)は各測定光で取得した断層画像の3次元配置を示す。第1の領域401、第2の領域402、第3の領域403の断層画像にそれぞれ0−191番の画像がある。そして、第1の領域401の154−191番目と第2の領域402の0−37番目がそれぞれ順番に一致するように設計されている。同様に第2の領域402の154−191番目と第3の領域403の0−37番目がそれぞれ一致するように設計されている。ここでは、重なり領域がある場合、第2の領域の断層画像を使う。当然、第1および第3の領域を使ってもよいし、コントラストなどを比較して良い方を選んでもよい。なお、この重なり領域は後述する境界領域に対応する。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (23)
- 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、前記複数の測定光に対応する複数の参照光による複数の合成光に基づいて、前記被検査物の複数の断層画像を取得する撮像方法であって、
前記複数の断層画像のズレ量が所定のレベル以下となるように、予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報に基づいて、前記複数の測定光に関する装置状態の補正を行う工程と
前記補正された装置状態で、前記複数の断層画像を取得する工程と、
を有することを特徴とする撮像方法。 - 前記予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報に基づいて前記複数の断層画像の補正を行う工程を更に有することを特徴とする請求項1に記載の撮像方法。
- 前記予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報に基づいて、前記被検査物において前記複数の測定光を走査することにより前記複数の合成光を取得することを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像方法。
- 前記複数の断層像の補正を行う工程の後に、前記複数の断層画像が重なる領域である境界領域の検索を行う工程と、前記境界領域における前記複数の断層画像のズレの補正を行う工程と、を有することを特徴とする請求項2に記載の撮像方法。
- 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、前記複数の測定光に対応する複数の参照光とによる複数の合成光に基づいて、前記被検査物の複数の断層画像を取得する撮像方法であって、
重なり合う領域を有する複数の第1の断層画像を生成するための各々の前記第1の断層画像に応じた前記複数の測定光を用いて複数の前記第1の断層画像を生成して記憶する工程と、
予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報と、記憶された複数の前記第1の断層画像とに基づいて、前記複数の測定光に関する装置状態を補正して、前記重なり合う領域における複数の前記第1の断層画像の各々のズレ量を所定のレベル以下とする工程と、
前記複数の測定光に関する装置状態の補正を行った後に、前記複数の測定光を前記被検査物に照射することにより、前記複数の測定光各々に応じた複数の合成光を取得する工程と、
複数の前記合成光の各々に基づき、前記重なり合う領域を有し且つ前記合成光に対応する複数の第2の断層画像を生成する工程と、
複数の前記第2の断層画像における前記重なり合う領域において複数の前記第2の断層画像各々についての連続性を担保する補正を行う工程と、
を有することを特徴とする撮像方法。 - 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と前記複数の測定光に対応する複数の参照光とによる複数の合成光に基づいて、前記被検査物の複数の断層画像を取得する工程と、
予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報に基づいて、前記複数の測定光に関する装置状態の補正を行う工程と、
前記補正された装置状態で、前記複数の断層画像の補正を行う工程と、
を有することを特徴とする撮像方法。 - 前記予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報が、前記複数の測定光に対して交差する面における前記複数の測定光の位置、倍率、前記複数の測定光の軸方向のズレ、分解能の内の少なくともいずれかに関する情報であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の撮像方法。
- 前記情報が、模型眼を用いて取得されることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の撮像方法。
- 前記複数の測定光に関する装置状態の補正は、前記複数の測定光に対応する複数のコヒーレンスゲートの位置および複数の撮像領域の位置の少なくとも何れかを変更して行われることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の撮像方法。
- 前記補正を行う工程では、前記情報に基づいて、前記複数の測定光の射出位置を変更して前記装置状態の補正を行うことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の撮像方法。
- 前記補正を行う工程では、前記情報に基づいて、前記複数の測定光の前記被検査物上のスキャン角度を変更して前記装置状態の補正を行うことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の撮像方法。
- 請求項1乃至11のいずれか一項に記載の撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
- 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、前記複数の測定光に対応する複数の参照光による複数の合成光に基づいて前記被検査物の複数の断層画像を取得する撮像装置であって、
前記複数の断層画像の各々のズレ量が所定のレベル以下となるように、予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報に基づいて、前記複数の測定光に関する装置状態の補正を行う補正手段と、
前記複数の測定光を前記被検査物に照射することにより、それぞれの合成光を取得する手段と、
前記補正された装置状態で、前記複数の断層画像を取得する取得手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。 - 予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報に基づいて前記複数の断層画像の補正を行う断層画像補正手段を更に有することを特徴とする請求項13に記載の撮像装置。
- 前記補正手段が、前記複数の参照光の光路長を制御する制御手段を有し、
前記制御手段は、前記複数の測定光の深さ方向の前記被検査物における撮像範囲がそれぞれ同じになるように制御することを特徴とする請求項13又は14に記載の撮像装置。 - 前記補正手段が、前記複数の参照光の光路長を制御する制御手段を有し、
前記制御手段は、前記複数の測定光の深さ方向の前記被検査物における撮像範囲の少なくとも一つを他と異なるように制御することを特徴とする請求項13又は14に記載の撮像装置。 - 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、前記複数の測定光に対応する複数の参照光とによる複数の合成光に基づいて、前記被検査物の複数の断層画像を取得する撮像装置であって、
重なり合う領域を有する複数の第1の断層画像を生成するための各々の前記第1の断層画像に応じた前記複数の測定光を用いて複数の前記第1の断層画像を生成して記憶する手段と、
予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報と、前記記憶する手段に記憶された複数の前記第1の断層画像とに基づいて、前記複数の測定光に関する装置状態を補正して、前記重なり合う領域における複数の前記第1の断層画像の各々のズレ量を所定のレベル以下とする手段と、
前記複数の測定光に関する装置状態の補正を行った後に、前記複数の測定光を前記被検査物に照射することにより、前記複数の測定光各々に応じた複数の合成光を取得する手段と、
複数の前記合成光の各々に基づき、前記重なり合う領域を有し且つ前記合成光に対応する複数の第2の断層画像を生成する手段と、
複数の前記第2の断層画像における前記重なり合う領域において複数の前記第2の断層画像各々についての連続性を担保する補正を行う補正手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。 - 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と前記複数の測定光に対応する複数の参照光による複数の合成光に基づいて、前記被検査物の複数の断層画像を取得する手段と、
予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報に基づいて、前記複数の測定光に関する装置状態の補正を行う手段と、
前記補正された装置状態で、前記複数の断層画像の補正を行う手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。 - 前記予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報が、前記複数の測定光に対して交差する面における前記複数の測定光の位置、倍率、前記複数の測定光の軸方向のズレ、分解能の内の少なくともいずれかに関する情報であることを特徴とする請求項13乃至18のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記情報が、模型眼を用いて取得されることを特徴とする請求項13乃至19のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記複数の測定光に関する装置状態の補正は、前記複数の測定光に対応するコヒーレンスゲートの位置および複数の撮像領域の位置の少なくとも何れかを変更して行われることを特徴とする請求項13乃至20のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記補正手段は、前記情報に基づいて、前記複数の測定光の射出位置を変更して前記装置状態の補正を行うことを特徴とする請求項13乃至20のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記補正手段は、前記情報に基づいて、前記複数の測定光の前記被検査物上のスキャン角度を変更して前記装置状態の補正を行うことを特徴とする請求項13乃至20のいずれか1項に記載の撮像装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010263694A JP5733960B2 (ja) | 2010-11-26 | 2010-11-26 | 撮像方法および撮像装置 |
US13/287,380 US8634081B2 (en) | 2010-11-26 | 2011-11-02 | Tomographic imaging method and tomographic imaging apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010263694A JP5733960B2 (ja) | 2010-11-26 | 2010-11-26 | 撮像方法および撮像装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012110575A JP2012110575A (ja) | 2012-06-14 |
JP2012110575A5 JP2012110575A5 (ja) | 2014-07-24 |
JP5733960B2 true JP5733960B2 (ja) | 2015-06-10 |
Family
ID=46126445
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010263694A Expired - Fee Related JP5733960B2 (ja) | 2010-11-26 | 2010-11-26 | 撮像方法および撮像装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8634081B2 (ja) |
JP (1) | JP5733960B2 (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5436076B2 (ja) | 2009-07-14 | 2014-03-05 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム |
JP5597012B2 (ja) * | 2010-03-31 | 2014-10-01 | キヤノン株式会社 | 断層画像撮像装置および断層画像撮像方法 |
JP2012042348A (ja) | 2010-08-19 | 2012-03-01 | Canon Inc | 断層画像表示装置およびその制御方法 |
JP5794664B2 (ja) | 2011-01-20 | 2015-10-14 | キヤノン株式会社 | 断層画像生成装置及び断層画像生成方法 |
US9161690B2 (en) | 2011-03-10 | 2015-10-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Ophthalmologic apparatus and control method of the same |
JP5836634B2 (ja) | 2011-05-10 | 2015-12-24 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及び方法 |
JP6105852B2 (ja) | 2012-04-04 | 2017-03-29 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及びその方法、プログラム |
JP5704150B2 (ja) * | 2012-11-21 | 2015-04-22 | 株式会社東京精密 | 白色干渉装置及び白色干渉装置の位置及び変位測定方法 |
WO2015183994A1 (en) | 2014-05-28 | 2015-12-03 | Santec Corporation | Non-invasive optical measurement of blood analyte |
WO2016084195A1 (ja) * | 2014-11-27 | 2016-06-02 | 株式会社東京精密 | 白色干渉装置及び白色干渉装置による位置及び変位測定方法 |
US10548520B2 (en) | 2015-04-01 | 2020-02-04 | Santec Corporation | Non-invasive optical measurement of blood analyte |
WO2016196463A1 (en) * | 2015-06-01 | 2016-12-08 | Santec Corporation | Optical coherence tomography system combining two wavelengths |
US10677580B2 (en) | 2016-04-27 | 2020-06-09 | Santec Corporation | Optical coherence tomography system using polarization switching |
US10502546B2 (en) | 2017-11-07 | 2019-12-10 | Santec Corporation | Systems and methods for variable-range fourier domain imaging |
US10973406B2 (en) | 2018-03-06 | 2021-04-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus, image processing method, and non-transitory computer readable medium |
US11213200B2 (en) | 2018-03-22 | 2022-01-04 | Santec Corporation | Topographical imaging using combined sensing inputs |
US10838047B2 (en) | 2018-04-17 | 2020-11-17 | Santec Corporation | Systems and methods for LIDAR scanning of an environment over a sweep of wavelengths |
US11067671B2 (en) | 2018-04-17 | 2021-07-20 | Santec Corporation | LIDAR sensing arrangements |
WO2020100626A1 (ja) * | 2018-11-12 | 2020-05-22 | 日本電気株式会社 | 光干渉断層撮像装置、撮像方法、及び、撮像プログラムを格納する非一時的なコンピュータ可読媒体 |
US20220065615A1 (en) * | 2018-12-20 | 2022-03-03 | Nec Corporation | Optical coherence tomography device |
US11819275B2 (en) | 2020-12-16 | 2023-11-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical coherence tomography apparatus, control method for optical coherence tomography apparatus, and computer-readable storage medium |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004037479A1 (de) | 2004-08-03 | 2006-03-16 | Carl Zeiss Meditec Ag | Fourier-Domain OCT Ray-Tracing am Auge |
JP5058627B2 (ja) * | 2007-02-26 | 2012-10-24 | 株式会社トプコン | 眼底観察装置 |
JP5317479B2 (ja) * | 2008-01-11 | 2013-10-16 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | X線ct装置 |
JP2010012109A (ja) * | 2008-07-04 | 2010-01-21 | Nidek Co Ltd | 眼底撮影装置 |
JP5306075B2 (ja) | 2008-07-07 | 2013-10-02 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法 |
JP5455001B2 (ja) * | 2008-12-26 | 2014-03-26 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置および光断層撮像装置の制御方法 |
JP5618533B2 (ja) * | 2008-12-26 | 2014-11-05 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層情報取得装置、撮像装置及び撮像方法 |
JP5364385B2 (ja) * | 2009-01-06 | 2013-12-11 | 株式会社トプコン | 光画像計測装置及びその制御方法 |
JP5570125B2 (ja) * | 2009-01-22 | 2014-08-13 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置 |
JP5605999B2 (ja) | 2009-03-06 | 2014-10-15 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮像方法および装置 |
JP5605998B2 (ja) | 2009-03-06 | 2014-10-15 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮像方法および装置 |
JP5737830B2 (ja) * | 2009-04-13 | 2015-06-17 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置及びその制御方法 |
JP5464891B2 (ja) * | 2009-04-13 | 2014-04-09 | キヤノン株式会社 | 補償光学系を備えた光画像取得装置、及び、その制御方法 |
JP5036785B2 (ja) | 2009-10-23 | 2012-09-26 | キヤノン株式会社 | 光断層画像生成方法及び光断層画像生成装置 |
JP4902721B2 (ja) | 2009-10-23 | 2012-03-21 | キヤノン株式会社 | 光断層画像生成装置及び光断層画像生成方法 |
JP5582772B2 (ja) | 2009-12-08 | 2014-09-03 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
JP5025715B2 (ja) | 2009-12-08 | 2012-09-12 | キヤノン株式会社 | 断層画像撮影装置、画像処理装置、画像処理システム、画像処理装置の制御方法及びプログラム |
JP2011257160A (ja) | 2010-06-04 | 2011-12-22 | Canon Inc | 光干渉断層撮像装置、光干渉断層撮像方法、およびプログラム |
JP2012042348A (ja) | 2010-08-19 | 2012-03-01 | Canon Inc | 断層画像表示装置およびその制御方法 |
-
2010
- 2010-11-26 JP JP2010263694A patent/JP5733960B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-11-02 US US13/287,380 patent/US8634081B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8634081B2 (en) | 2014-01-21 |
US20120133950A1 (en) | 2012-05-31 |
JP2012110575A (ja) | 2012-06-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5733960B2 (ja) | 撮像方法および撮像装置 | |
KR101515034B1 (ko) | 광간섭 단층촬상장치 및 그 제어장치 | |
JP5685013B2 (ja) | 光断層撮像装置及びその制御方法、プログラム | |
JP5483873B2 (ja) | 光断層撮像装置、および光断層撮像方法 | |
JP5610706B2 (ja) | 撮像装置および撮像方法 | |
JP5339828B2 (ja) | 光干渉断層撮像装置及び光干渉断層撮像方法 | |
JP5635898B2 (ja) | 眼底撮像装置及びその制御方法 | |
US9795292B2 (en) | Method for taking tomographic image of eye | |
JP6765786B2 (ja) | 撮像装置、撮像装置の作動方法、情報処理装置、及び情報処理装置の作動方法 | |
EP2478830A2 (en) | Optical coherence tomographic imaging method and apparatus | |
JP6987522B2 (ja) | 画像生成装置、画像生成方法、及びプログラム | |
JP2010201102A (ja) | 光断層画像撮像装置 | |
US8992015B2 (en) | Ophthalmologic apparatus and control method thereof | |
US8873065B2 (en) | Tomographic imaging apparatus and tomographic imaging method | |
JP5637721B2 (ja) | 断層撮像装置および断層撮像装置の制御装置 | |
JP2012147976A (ja) | 光断層画像撮像方法および光断層画像撮像装置 | |
JP5990932B2 (ja) | 眼光断層画像撮像装置 | |
JP5987355B2 (ja) | 眼光断層画像撮像装置 | |
JP5893248B2 (ja) | 光断層画像撮像方法および光断層画像撮像装置 | |
JP5700947B2 (ja) | 撮像装置及び撮像方法 | |
JP2012228544A (ja) | 光断層画像撮像装置 | |
JP6047202B2 (ja) | 光干渉断層撮像装置、光干渉断層撮像方法、およびプログラム | |
JP5637720B2 (ja) | 断層撮像方法および断層撮像装置の制御装置 | |
JP5921639B2 (ja) | 光干渉断層撮影装置、光干渉断層撮影装置の制御方法およびプログラム | |
JP5891001B2 (ja) | 断層撮影装置及び断層像の補正処理方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20120730 |
|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20120731 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20120831 |
|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20130701 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20131122 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140610 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140731 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140826 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141016 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150317 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150414 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5733960 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |