JP2010038910A5 - - Google Patents

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  1. フーリエドメイン方式の光干渉断層法を用いて被検査物を撮像する撮像装置であって、
    測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光を検出する検出手段と、
    前記検出手段により前記合成光を検出可能な第１の状態と、前記検出手段により前記参照光を検出可能な第２の状態とを切り替える第１の切替手段と、
    前記第１の状態で検出された前記合成光と、前記第２の状態で検出された前記参照光とを用いて、前記戻り光と前記参照光との干渉情報を取得する干渉情報取得手段と、
    を有することを特徴とする撮像装置。
  2. 前記第１の切替手段は、前記測定光の光路において前記測定光を減光することにより前記第２の状態に切り替えることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
  3. 前記第１の切替手段は、前記測定光の透過率を減少させることにより前記第２の状態に切り替えることを特徴とする請求項１あるいは２に記載の撮像装置。
  4. 前記第１の切替手段は、前記測定光の光路を遮蔽することにより前記第２の状態に切り替えることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
  5. 前記第１の切替手段は、前記測定光の光路を変更することにより前記第２の状態に切り替えることを特徴とする請求項１あるいは２に記載の撮像装置。
  6. 前記測定光の光量を検出する光量検出手段と、
    前記検出された光量が所定の範囲内である場合、前記第２の状態から前記第１の状態に切り替えるように前記第１の切替手段を制御する制御手段と、
    を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
  7. 前記測定光の光量を検出する光量検出手段と、
    前記検出された光量が所定の範囲外で且つ前記第１の状態である場合、前記第２の状態に切り替えるように前記第１の切替手段を制御する制御手段と、
    を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
  8. 前記第１の状態と、前記検出手段により前記戻り光を検出可能な第３の状態とを切り替える第２の切替手段を有し、
    前記干渉情報取得手段は、前記第１の状態で検出された前記合成光と、前記第２の状態で検出された前記参照光と、前記第３の状態で検出された前記戻り光とを用いて、前記干渉情報を取得することを特徴とすることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の撮像装置。
  9. 前記第２の切替手段は、前記参照光の光路において前記参照光を減光することにより前記第３の状態に切り替えることを特徴とする請求項８に記載の撮像装置。
  10. 予め設定されたタイミングに基づいて前記第１及び第２の切替手段を制御する制御手段を有し、
    前記合成光は、前記第１の状態のタイミングにおいて前記検出手段により検出されることを特徴とする請求項８あるいは９に記載の撮像装置。
  11. 前記戻り光の取得時間が前記参照光の取得時間以上となるように前記第１及び第２の切替手段を制御する制御手段を有することを特徴とする請求項８あるいは９に記載の撮像装置。
  12. 光を発生させるための光源と、
    前記光源からの光を前記参照光と前記測定光とに分割する分割手段と、
    前記検出手段で検出された前記合成光から、前記参照光の自己相関成分と前記戻り光の自己相関成分とを減算するための減算手段と、
    前記減算された結果を前記参照光の自己相関成分で規格化するための規格化手段と、
    前記規格化された結果をフーリエ変換するための変換手段と、
    前記被検査物の断層画像を取得するための断層画像取得手段と、
    を有することを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の撮像装置。
  13. 前記第１の切替手段は、前記戻り光の光路において前記戻り光を減光することにより前記第２の状態に切り替えることを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の撮像装置。
  14. フーリエドメイン方式の光干渉断層法を用いて被検査物を撮像する撮像システムであって、
    測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光を検出する検出手段と、
    前記検出手段により前記合成光を検出可能な第１の状態と、前記検出手段により前記参照光を検出可能な第２の状態とを切り替える第１の切替手段と、
    前記第１の状態で検出された前記合成光と、前記第２の状態で検出された前記参照光とを用いて、前記戻り光と前記参照光との干渉情報を取得する干渉情報取得手段と、
    を有することを特徴とする撮像システム。
  15. フーリエドメイン方式の光干渉断層法を用いて被検査物を撮像する撮像方法であって、
    測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光を検出する工程と、
    前記合波した光を検出可能な第１の状態と、前記参照光を検出可能な第２の状態とを切り替える工程と、
    前記第１の状態で検出された前記合成光と、前記第２の状態で検出された前記参照光とを用いて、前記戻り光と前記参照光との干渉情報を取得する工程と、
    を含むことを特徴とする撮像方法。
  16. 請求項１５に記載の撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5275880B2 (ja) 2009-04-03 2013-08-28 株式会社トプコン 光画像計測装置
JP5558735B2 (ja) 2009-04-13 2014-07-23 キヤノン株式会社 光断層撮像装置及びその制御方法
JP5306269B2 (ja) * 2009-06-25 2013-10-02 キヤノン株式会社 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法
JP5036785B2 (ja) * 2009-10-23 2012-09-26 キヤノン株式会社 光断層画像生成方法及び光断層画像生成装置
WO2011115232A1 (ja) * 2010-03-17 2011-09-22 国立大学法人 長岡技術科学大学 電界スペクトル測定装置および物体測定装置
JP5637730B2 (ja) * 2010-05-14 2014-12-10 キヤノン株式会社 撮像装置及びその撮像方法
JP2011257160A (ja) 2010-06-04 2011-12-22 Canon Inc 光干渉断層撮像装置、光干渉断層撮像方法、およびプログラム
JP2012042348A (ja) 2010-08-19 2012-03-01 Canon Inc 断層画像表示装置およびその制御方法
JPWO2012029809A1 (ja) * 2010-08-31 2013-10-31 達俊 塩田 形状測定装置
JP5733960B2 (ja) 2010-11-26 2015-06-10 キヤノン株式会社 撮像方法および撮像装置
US8517537B2 (en) 2011-01-20 2013-08-27 Canon Kabushiki Kaisha Optical coherence tomographic imaging method and optical coherence tomographic imaging apparatus
JP5794664B2 (ja) * 2011-01-20 2015-10-14 キヤノン株式会社 断層画像生成装置及び断層画像生成方法
JP5901124B2 (ja) 2011-03-10 2016-04-06 キヤノン株式会社 撮像装置およびその制御方法
US9161690B2 (en) 2011-03-10 2015-10-20 Canon Kabushiki Kaisha Ophthalmologic apparatus and control method of the same
JP5611259B2 (ja) * 2011-03-31 2014-10-22 キヤノン株式会社 光断層撮像装置及びその制御方法
JP5771052B2 (ja) * 2011-04-13 2015-08-26 株式会社吉田製作所 プローブ
JP5686684B2 (ja) * 2011-07-19 2015-03-18 株式会社日立製作所 光学装置
JP5847490B2 (ja) 2011-08-25 2016-01-20 キヤノン株式会社 被検体情報取得装置
KR101258557B1 (ko) 2011-11-24 2013-05-02 고려대학교 산학협력단 주파수 영역 광간섭 단층촬영 정보처리 장치 및 방법
US9243887B2 (en) 2012-01-04 2016-01-26 The Johns Hopkins University Lateral distortion corrected optical coherence tomography system
KR101862354B1 (ko) * 2012-01-09 2018-05-30 삼성전자주식회사 단층 영상 생성 방법 및 그 방법을 수행하는 단층 영상 생성 장치
US9095281B2 (en) * 2012-02-10 2015-08-04 Carl Zeiss Meditec, Inc. Segmentation and enhanced visualization techniques for full-range fourier domain optical coherence tomography
CN102599883B (zh) * 2012-02-22 2014-03-26 无锡渝跃科技有限公司 用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统
CN103427334B (zh) 2012-05-14 2018-09-25 三星电子株式会社 用于发射波长扫描光的方法和设备
TW201431224A (zh) * 2013-01-18 2014-08-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 光源系統
US20140240470A1 (en) * 2013-02-28 2014-08-28 Codi Comercio Design Industrial, Lda Method, system and device for improving optical measurement of ophthalmic spectacles
US10751217B2 (en) 2013-03-13 2020-08-25 Amo Development, Llc Free floating patient interface for laser surgery system
JP6338256B2 (ja) 2013-03-13 2018-06-06 オプティメディカ・コーポレイションＯｐｔｉｍｅｄｉｃａ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ レーザ手術システム
KR101603822B1 (ko) * 2013-09-12 2016-03-15 주식회사 엘지화학 에폭시 수지용 충격보강제, 이의 제조방법 및 이를 포함하는 에폭시 수지 조성물
AU2015245909C1 (en) * 2014-04-07 2019-07-25 Mimo Ag Method for the analysis of image data representing a three-dimensional volume of biological tissue
US9192295B1 (en) * 2014-06-11 2015-11-24 L&R Medical Inc. Focusing algorithm in OCT-only systems
CN104116495B (zh) * 2014-07-11 2016-02-10 北京理工大学 一种视网膜光学相干层析探测-显示系统
JP6599876B2 (ja) * 2014-08-28 2019-10-30 興和株式会社 断層像撮影装置
JP6047202B2 (ja) * 2015-06-08 2016-12-21 キヤノン株式会社 光干渉断層撮像装置、光干渉断層撮像方法、およびプログラム
JP6632262B2 (ja) * 2015-09-04 2020-01-22 キヤノン株式会社 眼科装置及びその作動方法
US10690591B2 (en) 2015-09-18 2020-06-23 Apple Inc. Measurement time distribution in referencing schemes
JP6628589B2 (ja) * 2015-12-11 2020-01-08 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス 撮像装置
CN105796054B (zh) * 2016-02-19 2018-09-07 深圳市斯尔顿科技有限公司 一种oct图像的处理方法及装置
US11041758B2 (en) 2016-04-21 2021-06-22 Apple Inc. Multiplexing and encoding for reference switching
US10739277B2 (en) * 2016-04-21 2020-08-11 Nova Measuring Instruments Ltd. Optical system and method for measurements of samples
JP6758900B2 (ja) * 2016-04-28 2020-09-23 キヤノン株式会社 眼科撮像装置
WO2018119222A1 (en) * 2016-12-21 2018-06-28 The Curators Of The University Of Missouri Systems and methods for airy beam optical coherence tomography
US10660523B2 (en) * 2017-07-07 2020-05-26 Hideo Ando Light-source unit, measurement apparatus, near-infrared microscopic apparatus, optical detection method, imaging method, calculation method, functional bio-related substance, state management method, and manufacturing method
KR102044698B1 (ko) 2017-12-27 2019-11-14 주식회사 휴비츠 슬라이드 구동 셔터 및 이를 구비한 광 간섭 단층촬영 장치
CN108567410B (zh) * 2018-04-16 2024-05-17 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 光学相干层析和点扫描共焦同步成像系统
KR102092331B1 (ko) 2018-06-05 2020-03-23 주식회사 필로포스 이동 가능한 환경에 적합한 소형 oct용 분광기
WO2020044854A1 (ja) * 2018-08-30 2020-03-05 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 生体計測装置、及び生体計測方法
US20220061644A1 (en) * 2020-08-27 2022-03-03 Nokia Technologies Oy Holographic endoscope
CA3096285A1 (en) * 2020-10-16 2022-04-16 Pulsemedica Corp. Opthalmological imaging and laser delivery device, system and methods
CN118435471A (zh) * 2021-11-17 2024-08-02 通快激光系统半导体制造有限公司 通过激光脉冲干涉的方法和设备进行的反向反射保护

Family Cites Families (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5018855A (en) * 1988-10-26 1991-05-28 Athens Corp. Atomic absorption process monitoring
US4989971A (en) * 1989-07-14 1991-02-05 Tektronix, Inc. Automatic mask trigger for an optical time domain reflectometer
US5317376A (en) * 1992-12-03 1994-05-31 Litton Systems, Inc. Solid state pulsed coherent laser radar for short range velocimetry applications
US5798837A (en) * 1997-07-11 1998-08-25 Therma-Wave, Inc. Thin film optical measurement system and method with calibrating ellipsometer
DE19814057B4 (de) * 1998-03-30 2009-01-02 Carl Zeiss Meditec Ag Anordnung zur optischen Kohärenztomographie und Kohärenztopographie
US6243511B1 (en) * 1999-02-04 2001-06-05 Optical Switch Corporation System and method for determining the condition of an optical signal
US6785634B2 (en) * 2000-01-18 2004-08-31 Intelligent Automation, Inc. Computerized system and methods of ballistic analysis for gun identifiability and bullet-to-gun classifications
RU2184347C2 (ru) * 2000-08-09 2002-06-27 Мазуренко Юрий Тарасович Способ получения изображений внутренней структуры объектов
US6982785B2 (en) * 2001-05-01 2006-01-03 Van Den Engh Gerrrit J Apparatus for determining radiation beam alignment
US20020176085A1 (en) * 2001-05-25 2002-11-28 Hill Gregory S. Feedback position control system and method for an interferometer
JP3695360B2 (ja) * 2001-07-04 2005-09-14 株式会社島津製作所 フーリエ変換赤外分光光度計
GB2379977B (en) * 2001-09-25 2005-04-06 Kidde Plc High sensitivity particle detection
US7729776B2 (en) * 2001-12-19 2010-06-01 Cardiac Pacemakers, Inc. Implantable medical device with two or more telemetry systems
WO2004043245A1 (en) * 2002-11-07 2004-05-27 Pawel Woszczyk A method of fast imaging of objects by means of spectral optical coherence tomography
WO2005086375A1 (ja) * 2004-03-03 2005-09-15 Nec Corporation 測位システム、即位方法、及びそのプログラム
JP4409332B2 (ja) * 2004-03-30 2010-02-03 株式会社トプコン 光画像計測装置
US7359753B2 (en) * 2004-04-07 2008-04-15 Cardiac Pacemakers, Inc. System and method for RF wake-up of implantable medical device
EP1782020B1 (en) * 2004-08-06 2012-10-03 The General Hospital Corporation Process, system and software arrangement for determining at least one location in a sample using an optical coherence tomography
JP4505807B2 (ja) * 2004-08-09 2010-07-21 国立大学法人 筑波大学 多重化スペクトル干渉光コヒーレンストモグラフィー
US7663097B2 (en) * 2004-08-11 2010-02-16 Metrosol, Inc. Method and apparatus for accurate calibration of a reflectometer by using a relative reflectance measurement
US7310153B2 (en) * 2004-08-23 2007-12-18 Palo Alto Research Center, Incorporated Using position-sensitive detectors for wavelength determination
JP2006122649A (ja) * 2004-09-30 2006-05-18 Nidek Co Ltd 被検物体の測定方法、及び該方法を用いた眼科装置
JP4566685B2 (ja) * 2004-10-13 2010-10-20 株式会社トプコン 光画像計測装置及び光画像計測方法
US7248907B2 (en) * 2004-10-23 2007-07-24 Hogan Josh N Correlation of concurrent non-invasively acquired signals
JP4688094B2 (ja) * 2004-11-02 2011-05-25 株式会社松風 光コヒーレンストモグラフィー装置
JP2007007297A (ja) * 2005-07-01 2007-01-18 Nidek Co Ltd 被検物体の測定方法、及び該方法を用いた眼科装置
US20070019210A1 (en) * 2005-07-19 2007-01-25 Kuhn William P Time-delayed source and interferometric measurement of windows and domes
EP1813962A1 (de) * 2006-01-27 2007-08-01 Polytec GmbH Messvorrichtung und Verfahren zur optischen Vermessung eines Objektes
EP2309221A1 (en) * 2006-02-24 2011-04-13 The General Hospital Corporation Methods and systems for performing angle-resolved fourier-domain optical coherence tomography
CN100520361C (zh) * 2006-07-05 2009-07-29 中国科学院上海光学精密机械研究所 全深度探测的频域光学相干层析成像的方法及其系统
CN100415158C (zh) * 2006-09-08 2008-09-03 浙江大学 一种扩展光学相干层析成像动态范围的方法
US7439511B2 (en) * 2007-01-31 2008-10-21 Emcore Corporation Pulsed terahertz frequency domain spectrometer with single mode-locked laser and dispersive phase modulator
US8180131B2 (en) * 2007-05-04 2012-05-15 Bioptigen, Inc. Methods, systems and computer program products for mixed-density optical coherence tomography (OCT) imaging
US8115934B2 (en) * 2008-01-18 2012-02-14 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Device and method for imaging the ear using optical coherence tomography
EP2315999B1 (en) * 2008-05-15 2013-11-20 Axsun Technologies, Inc. Oct combining probes and integrated systems
US7804599B2 (en) * 2008-07-24 2010-09-28 MGM Instruments, Inc. Fluid volume verification system
JP5605999B2 (ja) * 2009-03-06 2014-10-15 キヤノン株式会社 光干渉断層撮像方法および装置
JP5605998B2 (ja) * 2009-03-06 2014-10-15 キヤノン株式会社 光干渉断層撮像方法および装置
JP5036785B2 (ja) * 2009-10-23 2012-09-26 キヤノン株式会社 光断層画像生成方法及び光断層画像生成装置
JP4902721B2 (ja) * 2009-10-23 2012-03-21 キヤノン株式会社 光断層画像生成装置及び光断層画像生成方法

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