JP5627619B2 - Resin sealing device and method for manufacturing resin sealing body - Google Patents

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Description

本発明は、圧縮成形用の成形型と粉状又は粒状の樹脂封止用材料とを使用してチップ状の電子部品を樹脂封止して樹脂封止体を製造する、樹脂封止装置と樹脂封止体の製造方法とに関するものである。   The present invention relates to a resin sealing device that manufactures a resin sealing body by resin-sealing chip-shaped electronic components using a molding die for compression molding and a powdery or granular resin sealing material. The present invention relates to a method for producing a resin encapsulant.

ＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）チップ、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）チップ、チップコンデンサ等のチップ状電子部品（以下「チップ」という。）を樹脂封止する工程においては、流動性樹脂を硬化させることによって硬化樹脂からなる封止樹脂を形成する。このことにより、リードフレーム、プリント基板等（以下「基板本体」という。）に装着されたチップが樹脂封止される。近年、樹脂封止する方式として、トランスファ成形に加えて圧縮成形が使用されるようになっている（例えば、特許文献１参照）。トランスファ成形に比べて圧縮成形は、ボンディング用のワイヤに加わる流動性樹脂の圧力が小さいこと、封止樹脂の薄型化に対応できること、等の利点を有する。圧縮成形においては、流動性樹脂の原料として、熱硬化性樹脂からなる粉状又は粒状の樹脂封止用材料、又は、常温で液状である樹脂封止用材料（液状樹脂）を使用する。   In the step of resin-sealing chip-like electronic components (hereinafter referred to as “chips”) such as IC (Integrated Circuit) chips, LED (Light Emitting Diode) chips, and chip capacitors, a curable resin is obtained by curing a fluid resin. A sealing resin made of is formed. As a result, the chip mounted on the lead frame, printed circuit board or the like (hereinafter referred to as “substrate body”) is resin-sealed. In recent years, compression molding has been used in addition to transfer molding as a method for resin sealing (see, for example, Patent Document 1). Compared to transfer molding, compression molding has advantages such as that the pressure of the fluid resin applied to the bonding wire is small and that the sealing resin can be made thinner. In compression molding, a powdery or granular resin sealing material made of a thermosetting resin or a resin sealing material (liquid resin) that is liquid at room temperature is used as a raw material for the flowable resin.

本発明は、熱硬化性樹脂からなる粉状又は粒状の樹脂封止用材料を使用する場合を対象とする。樹脂封止装置が有する成形型のキャビティに樹脂封止用材料を供給し、成形型に設けられたヒータによって樹脂封止用材料を加熱して溶融させ、流動性を有する溶融樹脂（以下「流動性樹脂」という）を生成する。引き続き流動性樹脂を加熱して硬化させることによって、キャビティにおいて硬化樹脂からなる封止樹脂を形成する。   This invention makes object the case where the powdery or granular resin sealing material which consists of thermosetting resins is used. A resin sealing material is supplied to a cavity of a molding die included in the resin sealing device, and the resin sealing material is heated and melted by a heater provided in the molding die. Is referred to as a “resin”. Subsequently, the fluid resin is heated and cured to form a sealing resin made of a cured resin in the cavity.

ところで、近年、次の要請がますます強まっている。第１の要請は、完成品としての電子部品（以下「電子デバイス」という。）に対する、いわゆる軽薄短小化の要請である。したがって、ワイヤの小径化及び封止樹脂の薄型化の要請がいっそう強まっている。第２の要請は、ＬＥＤが広く採用されてきたことに伴う。電子デバイスのうちＬＥＤに代表される光デバイスにおいては、透光性を有する封止樹脂が使用される。封止樹脂に気泡（ボイド）が残存した場合には光学特性が損なわれる。したがって、光デバイスにおいては、封止樹脂に気泡が存在しないことが求められる。   By the way, in recent years, the following demands are getting stronger. The first requirement is a so-called light, thin and small requirement for an electronic component (hereinafter referred to as “electronic device”) as a finished product. Therefore, there is an increasing demand for a smaller wire diameter and a thinner sealing resin. The second requirement is accompanied by the wide adoption of LEDs. In an optical device typified by an LED among electronic devices, a sealing resin having translucency is used. When bubbles (voids) remain in the sealing resin, the optical properties are impaired. Therefore, the optical device is required to have no bubbles in the sealing resin.

特開２００７−１２５７８３号公報（第５〜９頁、第１図）JP 2007-125783 A (pages 5-9, FIG. 1)

封止樹脂の原材料である粉状又は粒状の樹脂封止用材料としては、通常、トランスファ成形の樹脂封止用材料として使用される樹脂タブレットの原材料が転用される。樹脂タブレットは、原材料である粉状又は粒状の樹脂封止用材料が円柱状に打錠されることによって形成される。トランスファ成形においては、ポットと呼ばれる円筒形の空間に供給された樹脂タブレットが加熱されて溶融することによって溶融樹脂が生成される。生成された溶融樹脂は、プランジャによって押圧されてキャビティに注入される。キャビティに注入された溶融樹脂は、加熱されることによって硬化する。ここまでの工程によって、硬化樹脂からなる封止樹脂が形成される。   As a powdery or granular resin sealing material that is a raw material of the sealing resin, a raw material of a resin tablet used as a resin sealing material for transfer molding is usually diverted. The resin tablet is formed by compressing a powdery or granular resin sealing material, which is a raw material, into a cylindrical shape. In transfer molding, a resin tablet supplied to a cylindrical space called a pot is heated and melted to produce a molten resin. The produced molten resin is pressed by the plunger and injected into the cavity. The molten resin injected into the cavity is cured by being heated. Through the steps so far, the sealing resin made of the cured resin is formed.

トランスファ成形においては、円柱状の樹脂タブレットがポットにおいて加熱されることによって溶融樹脂が生成される。したがって、樹脂タブレットの原材料である粉状又は粒状の樹脂封止用材料に対しては、粒径（粒子径）のばらつきが小さいことはそれほど要求されていない。このことから、樹脂タブレットの原材料であって圧縮成形において使用される粉状又は粒状の樹脂封止用材料の粒径は大きくばらついている場合が多い。なお、本出願書類においては、「粉状又は粒状」という用語は、微粉状、顆粒状、粒状、短い棒状、塊状、小さい板状、球に似た形状であって定まらない形状（例えば、ねじれた形状、不規則な形状、凹凸を有する形状）等を含む。以後、「粉状又は粒状の樹脂封止用材料」の総称として適宜「粒状樹脂」という用語を使用する。   In transfer molding, a molten resin is produced by heating a cylindrical resin tablet in a pot. Therefore, a small variation in particle size (particle size) is not so required for a powdery or granular resin sealing material that is a raw material of a resin tablet. From this, the particle size of the powdery or granular resin sealing material used as a raw material for resin tablets in compression molding often varies greatly. In the present application documents, the term “powder or granule” means a fine powder, granule, granule, short rod, lump, small plate, or a shape similar to a sphere but not defined (for example, twisted). Shapes, irregular shapes, irregular shapes) and the like. Hereinafter, the term “granular resin” is used as a general term for “powder or granular resin sealing material”.

ところで、本出願に係る発明の発明者らによって、次のことが見出された。第１に見出されたことは、樹脂封止用材料の粒径は、μｍオーダーから２〜３ｍｍ程度までという大きなばらつきを有することである。   By the way, the following things have been found by the inventors of the present invention. First, it has been found that the particle diameter of the resin sealing material has a large variation from the order of μm to about 2 to 3 mm.

第２に見出されたことは、上述した大きなばらつきを有する樹脂封止用材料を使用する場合には、キャビティに供給された樹脂封止用材料がキャビティ底面（キャビティにおける内底面）においてまだら状に配置される傾向があることである。特に、大きなばらつきを有する樹脂封止用材料を使用して封止樹脂の厚さ（基板本体の上面から封止樹脂の上面までの寸法をいう。以下同じ。）の目標値ｔがｔ＝０．２〜０．３ｍｍ程度のパッケージを製造しようとした場合を考える。この場合には、キャビティに供給すべき樹脂封止用材料が少量であることに起因してまだら状に配置される傾向が強い。この場合には、粒径に関して大きなばらつきを有する樹脂封止用材料がキャビティ底面においてばらついて配置されることになる。このことに起因して、キャビティにおいて、樹脂封止用材料が溶融して生成された流動性樹脂にチップが浸されるまでの過程において不均一に存在している流動性樹脂が流動する場合がある。流動性樹脂の流動は、ワイヤの変形、封止樹脂における未充填（言い換えれば気泡）等が発生する原因になる。   Secondly, when the resin sealing material having a large variation described above is used, the resin sealing material supplied to the cavity is mottled on the cavity bottom surface (inner bottom surface in the cavity). There is a tendency to be placed in. In particular, using a resin sealing material having a large variation, the target value t of the thickness of the sealing resin (the dimension from the upper surface of the substrate body to the upper surface of the sealing resin; the same applies hereinafter) is t = 0. Consider a case where a package of about 2 to 0.3 mm is to be manufactured. In this case, the resin sealing material to be supplied to the cavity has a strong tendency to be arranged in a mottled manner due to the small amount. In this case, the resin sealing material having a large variation in particle size is arranged in a distributed manner on the bottom surface of the cavity. Due to this, in the cavity, there is a case where the fluid resin present non-uniformly flows in the process until the chip is immersed in the fluid resin produced by melting the resin sealing material. is there. The flow of the flowable resin causes deformation of the wire, unfilling (in other words, bubbles) in the sealing resin, and the like.

第３に見出されたことは、突出して大きな粒径（例えば、１０ｔ程度）を有する粒状の樹脂封止用材料が存在する場合には、その樹脂封止用材料が充分に溶融していない段階においてワイヤに接触する場合があることである。ワイヤに対するこのような接触は、ワイヤの変形を引き起こす。   Thirdly, when there is a granular resin sealing material that protrudes and has a large particle size (for example, about 10 t), the resin sealing material is not sufficiently melted. There is a case where the wire may be touched in the stage. Such contact with the wire causes deformation of the wire.

第４に見出されたことは、シャッターとスリット部材とを組み合わせて樹脂封止用材料をキャビティに供給した場合に（例えば、特許文献１参照）、突出して大きな粒径を有する樹脂封止用材料の存在は流動性樹脂の重量の増加を引き起こすことである。このことによって、パッケージにおける封止樹脂の厚さｔのばらつきが大きくなる。   Fourthly, when a resin sealing material is supplied to the cavity by combining a shutter and a slit member (see, for example, Patent Document 1), the resin sealing has a large particle size. The presence of the material causes an increase in the weight of the flowable resin. This increases the variation in the thickness t of the sealing resin in the package.

第５に見出されたことは、樹脂封止用材料の特性によっては、小さい粒径を有する樹脂封止用材料は、キャビティに供給される場合に、本来樹脂封止用材料が存在しないはずの場所に付着するおそれがあることである。このような付着は、樹脂封止用材料の密度が小さい場合に、小さい粒径を有する樹脂封止用材料が浮遊することによって引き起こされることがある。また、このような付着は、樹脂封止用材料が帯電しやすい場合に、小さい粒径を有する樹脂封止用材料が静電気を帯びることによって引き起こされることがある。意図せざる場所への樹脂封止用材料の付着は、次の不具合を引き起こす。第１に、キャビティ底面において樹脂封止用材料がばらついて配置されることである。第２に、成形型の汚れである。第３に、型締めが不充分になることによる樹脂ばりの発生である。   The fifth finding is that, depending on the properties of the resin sealing material, the resin sealing material having a small particle size should be essentially free of the resin sealing material when supplied to the cavity. There is a possibility of adhering to the place. Such adhesion may be caused by floating of the resin sealing material having a small particle diameter when the density of the resin sealing material is small. Further, such adhesion may be caused when the resin sealing material having a small particle diameter is charged with static electricity when the resin sealing material is easily charged. Adhesion of the resin sealing material to an unintended place causes the following problems. First, the resin sealing material varies and is arranged at the bottom of the cavity. Second, it is dirt on the mold. Thirdly, resin flash is generated due to insufficient clamping.

本出願に係る発明が解決しようとする課題は、封止樹脂の原材料である粉状又は粒状の樹脂封止用材料の粒径のばらつきに起因して、ワイヤの変形、封止樹脂における気泡の発生、封止樹脂の厚さｔのばらつきの増大等の不具合が発生することである。   The problem to be solved by the invention according to the present application is that due to the variation in the particle size of the powdery or granular resin sealing material that is the raw material of the sealing resin, the deformation of the wire, the bubble in the sealing resin The occurrence of problems such as occurrence and increase in variation of the thickness t of the sealing resin occurs.

上述した課題を解決するために、本発明に係る樹脂封止装置は、キャビティを有する圧縮成形用の成形型を備え、キャビティに供給された粉状又は粒状の樹脂封止用材料を使用して厚さの目標値をｔ（ｍｍ）とする第１の規格を有する封止樹脂を成形することによって電子部品を樹脂封止する樹脂封止装置であって、樹脂封止装置の外部から電子部品が装着された封止前基板を受け入れる基板受入手段と、樹脂封止装置の外部から樹脂封止用材料を受け入れる樹脂材料受入手段と、樹脂封止用材料が樹脂封止装置に供給されてから成形型に搬入されるまでの間において、樹脂封止用材料の粒径Ｄに関する第２の規格であるＤ≦ａ×ｔ（ｍｍ）に基づいて樹脂封止用材料を選別する選別手段と（ａは正の実数）、選別された結果第２の規格を満たすと判断された第１の規格内材料を成形型に搬送する第１の搬送手段と、キャビティに供給された樹脂封止用材料を加熱して溶融させることによって溶融樹脂を生成する加熱手段とを備え、第１の規格は０．０３（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）であり、溶融樹脂が硬化することによって封止樹脂が成形されることを特徴とする。   In order to solve the above-described problems, a resin sealing device according to the present invention includes a compression mold having a cavity, and uses a powdery or granular resin sealing material supplied to the cavity. A resin sealing device for resin-sealing an electronic component by molding a sealing resin having a first standard with a target thickness value of t (mm), the electronic component being external from the resin sealing device A substrate receiving means for receiving a pre-sealing substrate mounted with resin, a resin material receiving means for receiving a resin sealing material from the outside of the resin sealing device, and after the resin sealing material is supplied to the resin sealing device Sorting means for sorting the resin sealing material based on D ≦ a × t (mm), which is the second standard for the particle size D of the resin sealing material, until it is carried into the mold ( a is a positive real number), and the selected result satisfies the second standard. First conveying means for conveying the first in-standard material determined to be formed to the mold, and heating means for generating a molten resin by heating and melting the resin sealing material supplied to the cavity; The first standard is 0.03 (mm) ≦ t ≦ 1.2 (mm), and the sealing resin is formed by curing the molten resin.

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、第１の規格は０．０５（ｍｍ）≦ｔ≦１．０（ｍｍ）であることを特徴とする。   The resin sealing device according to the present invention is characterized in that, in the above-described resin sealing device, the first standard is 0.05 (mm) ≦ t ≦ 1.0 (mm).

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、選別手段は、樹脂封止用材料を撮影して得られた画像に基づいて投影面積を算出し、該投影面積の面積円相当径を前記粒径Ｄとして取り扱うことによって樹脂封止用材料を選別し、ａの値は３．０であることを特徴とする。   Further, in the resin sealing device according to the present invention, in the above-described resin sealing device, the sorting unit calculates a projection area based on an image obtained by photographing the resin sealing material, and the projection area The resin sealing material is selected by handling the equivalent area circle diameter as the particle diameter D, and the value of a is 3.0.

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、選別手段は、気流による遠心力を利用して又は篩を利用して樹脂封止用材料を選別することを特徴とする。   Further, the resin sealing device according to the present invention is characterized in that, in the above-described resin sealing device, the sorting means sorts the resin sealing material using a centrifugal force by an air flow or using a sieve. To do.

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、成形型をそれぞれ有する１個又は複数個の成形手段を備え、基板受入手段と樹脂材料受入手段とは、平面視して１個又は複数個の成形手段に対して同じ側において並んで配置され、１個又は複数個の成形手段のうちの１個の成形手段は、平面視して基板受入手段と樹脂材料受入手段との少なくとも一方に隣接して、かつ、樹脂封止装置において着脱自在に設けられていることを特徴とする。   The resin sealing device according to the present invention includes one or a plurality of molding means each having a molding die in the above-described resin sealing device, and the substrate receiving means and the resin material receiving means are viewed in plan view. Are arranged side by side on the same side with respect to one or a plurality of molding means, and one molding means of the one or more molding means has a substrate receiving means and a resin material receiving means in plan view. And is detachably provided in the resin sealing device.

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、成形型をそれぞれ有する１個又は複数個の成形手段を備え、基板受入手段と樹脂材料受入手段とは、平面視して１個又は複数個の成形手段を挟んで相対向して配置され、１個又は複数個の成形手段のうちの１個の成形手段は、平面視して基板受入手段と樹脂材料受入手段との少なくとも一方に隣接して、かつ、樹脂封止装置において着脱自在に設けられていることを特徴とする。   The resin sealing device according to the present invention includes one or a plurality of molding means each having a molding die in the above-described resin sealing device, and the substrate receiving means and the resin material receiving means are viewed in plan view. The one or a plurality of molding means are arranged so as to face each other with one or a plurality of molding means interposed therebetween. The molding means includes a substrate receiving means and a resin material receiving means in a plan view. It is provided adjacent to at least one of the above and detachably in the resin sealing device.

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、複数個の成形手段のうちの１個の成形手段は平面視して他の成形手段に隣接して、かつ、樹脂封止装置において着脱自在に設けられていることを特徴とする。   Further, the resin sealing device according to the present invention is the above-described resin sealing device, wherein one of the plurality of molding means is adjacent to the other molding means in a plan view, and The sealing device is provided detachably.

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、選別手段によって選別された結果第２の規格のうちＤ≦ａ×ｔ（ｍｍ）を満たさないと判断された規格外材料を粉砕する粉砕手段と、粉砕された規格外材料を選別手段に搬送する第２の搬送手段とを備えることを特徴とする。   Further, the resin sealing device according to the present invention is out of the standard determined as not satisfying D ≦ a × t (mm) among the second standards as a result of the selection by the selecting means in the resin sealing device described above. A pulverizing unit that pulverizes the material and a second conveying unit that conveys the pulverized non-standard material to the sorting unit are provided.

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、少なくとも樹脂材料受入手段と選別手段と粉砕手段とを含む空間を仕切る仕切手段と、仕切られた空間を吸引する集塵手段とを備えることを特徴とする。   Further, the resin sealing device according to the present invention is the above-described resin sealing device, in which the partition means for partitioning the space including at least the resin material receiving means, the sorting means, and the pulverizing means, and the dust collection for sucking the partitioned space. Means.

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、選別手段と粉砕手段とは、受け入れられた樹脂封止用材料を処理する樹脂材料処理手段に含まれ、樹脂材料処理手段は、樹脂材料受入手段に隣接して、かつ、樹脂封止装置において着脱自在に設けられていることを特徴とする。   In the resin sealing device according to the present invention, in the above-described resin sealing device, the sorting unit and the pulverizing unit are included in the resin material processing unit that processes the received resin sealing material. The means is provided adjacent to the resin material receiving means and detachably provided in the resin sealing device.

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、樹脂封止用材料は樹脂材料を含み、樹脂材料は熱硬化性を有し、加熱手段は、溶融樹脂を加熱して硬化させることによって封止樹脂を成形することを特徴とする。   The resin sealing device according to the present invention is the above-described resin sealing device, wherein the resin sealing material includes a resin material, the resin material has thermosetting properties, and the heating means heats the molten resin. Then, the sealing resin is formed by curing.

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、キャビティに樹脂封止用材料を供給する第１の供給手段と、少なくともキャビティの上方まで第１の供給手段を移動させる移動手段と、キャビティの上方において又は第１の供給手段の上方において、キャビティに供給されるべき樹脂封止用材料に振動を加える加振手段とを備えることを特徴とする。   Further, the resin sealing device according to the present invention is the above-described resin sealing device, wherein the first supply means for supplying the resin sealing material to the cavity and the first supply means are moved at least above the cavity. The moving means and the vibration means for applying vibration to the resin sealing material to be supplied to the cavity are provided above the cavity or above the first supply means.

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、
少なくとも成形型が型締めされた状態においてキャビティを含む空間を成形型の外部から遮断して外気遮断空間を形成する外気遮断手段と、外気遮断空間を減圧する減圧手段とを備えることを特徴とする。 Moreover, the resin sealing device according to the present invention is the above-described resin sealing device,
At least in a state where the mold is clamped, an outside air blocking unit that blocks the space including the cavity from the outside of the mold to form an outside air blocking space, and a decompression unit that depressurizes the outside air blocking space is provided. .

また、本発明に係る樹脂封止装置は、上述した樹脂封止装置において、成形型が型開きされた状態においてキャビティに重なるようにして離型フィルムを供給する第２の供給手段と、キャビティにおける型面に向かって離型フィルムを吸引することによって離型フィルムを型面に密着させる吸引手段とを備えることを特徴とする。   Further, the resin sealing device according to the present invention is the above-described resin sealing device, wherein in the cavity, the second supply means for supplying the release film so as to overlap the cavity when the mold is opened, And a suction means for adhering the release film to the mold surface by sucking the release film toward the mold surface.

本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、樹脂封止装置に備えられた圧縮成形用の成形型が有するキャビティに粉状又は粒状を呈する樹脂封止用材料を供給し、該樹脂封止用材料を溶融させて溶融樹脂を生成し、該溶融樹脂を硬化させることによって厚さの目標値をｔ（ｍｍ）とする第１の規格を有する封止樹脂を成形することにより電子部品を樹脂封止して樹脂封止体を製造する樹脂封止体の製造方法であって、樹脂封止装置に樹脂封止用材料を受け入れる工程と、樹脂封止用材料の粒径Ｄに関する第２の規格であるＤ≦ａ×ｔ（ｍｍ）に基づいて樹脂封止用材料を選別する工程と（ａは正の実数）、樹脂封止用材料を選別した結果第２の規格を満たすと判断された第１の規格内材料を成形型に搬送する工程とを備え、第１の規格は０．０３（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）であることを特徴とする。   The method for producing a resin-sealed body according to the present invention supplies a resin-sealing material exhibiting powdery or granular form to a cavity of a compression-molding mold provided in a resin-sealing device, and the resin-sealing material An electronic component is formed by molding a sealing resin having a first standard with a target thickness value of t (mm) by melting a material for use to produce a molten resin and curing the molten resin. A resin sealing body manufacturing method for manufacturing a resin sealing body by sealing, a second step relating to a step of receiving a resin sealing material in a resin sealing device and a particle size D of the resin sealing material It is determined that the second standard is satisfied as a result of selecting the resin sealing material based on the standard D ≦ a × t (mm) (a is a positive real number) and selecting the resin sealing material. A step of transporting the first in-standard material to a mold, and the first standard is 0.03. Wherein the mm) is ≦ t ≦ 1.2 (mm).

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、第１の規格は０．０５（ｍｍ）≦ｔ≦１．０（ｍｍ）であることを特徴とする。   Moreover, the manufacturing method of the resin sealing body which concerns on this invention WHEREIN: In the manufacturing method of the resin sealing body mentioned above, the 1st specification is 0.05 (mm) <= t <= 1.0 (mm). Features.

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、樹脂封止用材料を選別する工程では、前記樹脂封止用材料を撮影して得られた画像に基づいて投影面積を算出し、該投影面積の面積円相当径を前記粒径Ｄとして取り扱うことによって前記樹脂封止用材料を選別し、ａの値は３．０であることを特徴とする。   Further, the resin sealing body manufacturing method according to the present invention was obtained by photographing the resin sealing material in the above-described resin sealing body manufacturing method, in the step of selecting the resin sealing material. A projected area is calculated based on an image, and the resin sealing material is selected by treating the equivalent area diameter of the projected area as the particle diameter D, and the value of a is 3.0. To do.

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、樹脂封止用材料を選別する工程では気流による遠心力を利用して又は篩を利用して樹脂封止用材料を選別することを特徴とする。   Moreover, the manufacturing method of the resin sealing body which concerns on this invention is a manufacturing method of the resin sealing body mentioned above. WHEREIN: In the process of classifying the resin sealing material, using the centrifugal force by an airflow or using a sieve The resin sealing material is selected.

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、樹脂封止用材料を選別する工程では樹脂封止装置の内部において樹脂封止用材料を選別することを特徴とする。   Moreover, the method for manufacturing a resin sealing body according to the present invention is the above-described method for manufacturing a resin sealing body, wherein the resin sealing material is selected inside the resin sealing device in the step of selecting the resin sealing material. It is characterized by doing.

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、樹脂封止用材料を選別する工程では樹脂封止装置の外部において樹脂封止用材料を選別することを特徴とする。   Moreover, the method for manufacturing a resin sealing body according to the present invention is the above-described method for manufacturing a resin sealing body, wherein the resin sealing material is selected outside the resin sealing device in the step of selecting the resin sealing material. It is characterized by doing.

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、選別した結果第２の規格のうちＤ≦ａ×ｔ（ｍｍ）を満たさないと判断された規格外材料を粉砕して粉砕済材料を生成する工程と、第２の規格に基づいて粉砕済材料を選別する工程と、粉砕済材料を選別した結果第２の規格を満たすと判断された第２の規格内材料を成形型に搬送する工程とを備えることを特徴とする。   Moreover, it was judged that the manufacturing method of the resin sealing body which concerns on this invention does not satisfy | fill D <= axt (mm) among 2nd specifications as a result of sorting in the manufacturing method of the resin sealing body mentioned above. The step of pulverizing the non-standard material to generate the pulverized material, the step of selecting the pulverized material based on the second standard, and the result of selecting the pulverized material are determined to satisfy the second standard. And a step of conveying a material within the specification of 2 to a mold.

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、粉砕済材料を生成する工程では樹脂封止装置の内部において規格外材料を粉砕することを特徴とする。   Moreover, the method for producing a resin-encapsulated body according to the present invention is characterized in that, in the above-described method for producing a resin-encapsulated body, the non-standard material is pulverized inside the resin-encapsulating apparatus in the step of generating the pulverized material. And

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、粉砕済材料を生成する工程では樹脂封止装置の外部において規格外材料を粉砕することを特徴とする。   Moreover, the method for producing a resin-encapsulated body according to the present invention is characterized in that, in the above-described method for producing a resin-encapsulated body, the non-standard material is pulverized outside the resin-encapsulating device in the step of generating the pulverized material. And

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、電子部品が装着された封止前基板を樹脂封止装置の外部から受け入れる基板受入手段と、樹脂封止用材料を樹脂封止装置の外部から受け入れる樹脂材料受入手段と、成形型をそれぞれ有する１個又は複数個の成形手段と、を有する樹脂封止装置を準備する工程と、基板受入手段に封止前基板を供給する工程と、樹脂材料受入手段に樹脂封止用材料を供給する工程とを備え、封止前基板を供給する工程と樹脂封止用材料を供給する工程とにおいては、互いに隣り合う基板受入手段と樹脂材料受入手段とにそれぞれ封止前基板と樹脂封止用材料とを供給することを特徴とする。   Moreover, the manufacturing method of the resin sealing body according to the present invention is the above-described manufacturing method of the resin sealing body, the substrate receiving means for receiving the pre-sealing substrate on which the electronic component is mounted from the outside of the resin sealing device, A step of preparing a resin sealing device having a resin material receiving means for receiving a resin sealing material from the outside of the resin sealing device and one or a plurality of molding means each having a molding die; and a substrate receiving means. A step of supplying a pre-sealing substrate and a step of supplying a resin sealing material to the resin material receiving means, and a step of supplying the pre-sealing substrate and a step of supplying the resin sealing material. The substrate pre-sealing and the resin sealing material are respectively supplied to the substrate receiving means and the resin material receiving means which are adjacent to each other.

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、電子部品が装着された封止前基板を樹脂封止装置の外部から受け入れる基板受入手段と、樹脂封止用材料を樹脂封止装置の外部から受け入れる樹脂材料受入手段と、成形型をそれぞれ有する１個又は複数個の成形手段と、を有する樹脂封止装置を準備する工程と、基板受入手段に封止前基板を供給する工程と、樹脂材料受入手段に樹脂封止用材料を供給する工程とを備え、封止前基板を供給する工程と樹脂封止用材料を供給する工程とにおいては、１個又は複数個の成形手段を挟んで相対向して配置された基板受入手段と樹脂材料受入手段とにそれぞれ封止前基板と樹脂封止用材料とを供給することを特徴とする。   Moreover, the manufacturing method of the resin sealing body according to the present invention is the above-described manufacturing method of the resin sealing body, the substrate receiving means for receiving the pre-sealing substrate on which the electronic component is mounted from the outside of the resin sealing device, A step of preparing a resin sealing device having a resin material receiving means for receiving a resin sealing material from the outside of the resin sealing device and one or a plurality of molding means each having a molding die; and a substrate receiving means. A step of supplying a pre-sealing substrate and a step of supplying a resin sealing material to the resin material receiving means, and a step of supplying the pre-sealing substrate and a step of supplying the resin sealing material. The substrate before sealing and the resin sealing material are respectively supplied to the substrate receiving means and the resin material receiving means arranged to face each other with one or a plurality of molding means interposed therebetween.

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、キャビティに樹脂封止用材料を供給する第１の供給手段をキャビティの上方まで移動させる工程と、キャビティに供給されるべき樹脂封止用材料に振動を加える工程とを備え、樹脂封止用材料に振動を加える工程では、キャビティの上方において又は第１の供給手段の上方において樹脂封止用材料に振動を加えることを特徴とする。   Moreover, the method for manufacturing a resin sealing body according to the present invention includes the step of moving the first supply means for supplying the resin sealing material to the cavity above the cavity in the method for manufacturing the resin sealing body described above. A step of applying vibration to the resin sealing material to be supplied to the cavity. In the step of applying vibration to the resin sealing material, the resin sealing material is provided above the cavity or above the first supply means. It is characterized by applying vibration to the material.

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、成形型に搬送する工程の後に、成形型を型締めする途中又は成形型を型締めした状態において、キャビティを含む空間を成形型の外部から遮断して外気遮断空間を形成する工程と、外気遮断空間を減圧する工程とを備えることを特徴とする。   Moreover, the manufacturing method of the resin sealing body which concerns on this invention is the state which clamped the shaping | molding die in the middle of the mold clamping after the process conveyed to a shaping | molding die in the manufacturing method of the resin sealing body mentioned above. The method includes: a step of blocking the space including the cavity from the outside of the mold to form an outside air blocking space; and a step of decompressing the outside air blocking space.

また、本発明に係る樹脂封止体の製造方法は、上述した樹脂封止体の製造方法において、成形型を型開きした状態においてキャビティに重なるようにして離型フィルムを供給する工程と、キャビティにおける型面に向かって離型フィルムを吸引することによって離型フィルムを型面に密着させる工程とを備えることを特徴とする。   The method for producing a resin-sealed body according to the present invention includes a step of supplying a release film so as to overlap a cavity in a state where the mold is opened in the method for producing a resin-sealed body described above, And a step of adhering the release film to the mold surface by sucking the release film toward the mold surface.

本発明によれば、封止樹脂の厚さが目標値をｔ（ｍｍ）とする第１の規格である０．０３（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）という規格を有している場合において、樹脂封止用材料の粒径ＤがＤ≦ａ×ｔ（ｍｍ）という第２の規格を満たす樹脂封止用材料を使用する。これにより、厚さの目標値ｔに対して大きな粒径Ｄを有する粒状樹脂の存在に起因する不具合の発生を抑制することができる。加えて、第１の規格は０．０５（ｍｍ）≦ｔ≦１．０（ｍｍ）であることとしてもよい。この場合には、上述した不具合の発生を抑制する効果が増大する。   According to the present invention, the thickness of the sealing resin has a standard of 0.03 (mm) ≦ t ≦ 1.2 (mm), which is a first standard in which the target value is t (mm). In this case, a resin sealing material that satisfies the second standard in which the particle diameter D of the resin sealing material satisfies D ≦ a × t (mm) is used. Thereby, generation | occurrence | production of the malfunction resulting from presence of the granular resin which has the large particle size D with respect to the target value t of thickness can be suppressed. In addition, the first standard may be 0.05 (mm) ≦ t ≦ 1.0 (mm). In this case, the effect of suppressing the occurrence of the above-described problems is increased.

本発明によれば、封止樹脂の厚さが目標値をｔ（ｍｍ）とする第１の規格である０．０３（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）という規格を有している場合に、樹脂封止装置に供給された樹脂封止用材料を、樹脂封止用材料の粒径Ｄに関する第２の規格であるＤ≦３．０×ｔ（ｍｍ）に基づいて選別する。この選別は、光学的な手段によって樹脂封止用材料を撮影して得られた画像におけるそれらの粒子の投影面積の面積円相当径に基づいて、行われる。選別された結果第２の規格を満たすと判断された第１の規格内材料を成形型に搬送する。このことによって、従来の樹脂封止用材料が供給された場合において、第２の規格を満たすと判断された第１の規格内材料を成形型に搬送することができる。したがって、厚さの目標値ｔに対して大きな粒径Ｄを有する粒状樹脂の存在に起因する不具合の発生を抑制することができる。   According to the present invention, the thickness of the sealing resin has a standard of 0.03 (mm) ≦ t ≦ 1.2 (mm), which is a first standard in which the target value is t (mm). In this case, the resin sealing material supplied to the resin sealing device is selected based on D ≦ 3.0 × t (mm), which is the second standard regarding the particle diameter D of the resin sealing material. This selection is performed based on the area equivalent circle diameter of the projected area of the particles in the image obtained by photographing the resin sealing material by optical means. As a result of the sorting, the first in-standard material determined to satisfy the second standard is conveyed to the mold. Thus, when the conventional resin sealing material is supplied, the first in-standard material determined to satisfy the second standard can be conveyed to the mold. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of problems caused by the presence of the granular resin having a large particle diameter D with respect to the target thickness t.

本発明によれば、封止樹脂の厚さが目標値をｔ（ｍｍ）とする第１の規格である０．０３（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）という規格を有している場合に、樹脂封止装置に供給された樹脂封止用材料を、樹脂封止用材料の粒径Ｄに関する第２の規格であるＤ≦３．０×ｔ（ｍｍ）に基づいて選別する。この選別は、光学的な手段によって樹脂封止用材料を撮影して得られた画像におけるそれらの粒子の投影面積の面積円相当径に基づいて、行われる。選別された結果第２の規格を満たさないと判断された規格外材料を粉砕して、粉砕された規格外材料を選別する。選別された結果第２の規格を満たすと判断された第１の規格内材料を、成形型に搬送する。したがって、厚さの目標値ｔに対して大きな粒径Ｄを有する粒状樹脂の存在に起因する不具合の発生を抑制することができる。加えて、樹脂封止用材料を有効に利用することができる。   According to the present invention, the thickness of the sealing resin has a standard of 0.03 (mm) ≦ t ≦ 1.2 (mm), which is a first standard in which the target value is t (mm). In this case, the resin sealing material supplied to the resin sealing device is selected based on D ≦ 3.0 × t (mm), which is the second standard regarding the particle diameter D of the resin sealing material. This selection is performed based on the area equivalent circle diameter of the projected area of the particles in the image obtained by photographing the resin sealing material by optical means. The non-standard material determined as not satisfying the second standard as a result of the selection is pulverized, and the pulverized non-standard material is selected. As a result of the sorting, the first in-standard material determined to satisfy the second standard is conveyed to the mold. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of problems caused by the presence of the granular resin having a large particle diameter D with respect to the target thickness t. In addition, the resin sealing material can be used effectively.

図１（１）〜（３）は、本発明に係る樹脂封止体の製造方法において、樹脂封止用材料を供給する工程、樹脂封止用材料を加熱する工程、及び、成形型を型締めする工程をそれぞれ示す概略図である。1 (1) to (3) show a step of supplying a resin sealing material, a step of heating the resin sealing material, and a molding die in the method for manufacturing a resin sealing body according to the present invention. It is the schematic which shows the process to fasten, respectively. 図２（１）〜（４）は、成形型を型締めした状態で流動性樹脂を硬化させる工程、封止樹脂を形成した後に成形型を型開きする工程、樹脂封止体からなる成形体を個片化する工程、及び、個片化されて完成した電子デバイスをそれぞれ示す概略図である。2 (1) to 2 (4) show a step of curing a fluid resin in a state in which the molding die is clamped, a step of opening the molding die after forming the sealing resin, and a molded body made of a resin sealing body. FIG. 3 is a schematic view showing a step of dividing the electronic device into individual pieces and an electronic device that has been cut into pieces and completed. 図３は、本発明に係る樹脂封止装置及び樹脂封止体の製造方法において使用される樹脂封止用材料について、封止樹脂の厚さの目標値ｔが０．１９ｍｍ、樹脂封止用材料の供給量ｗが４．９１ｇである場合において、粒径の規格（４水準）とキャビティ底面において樹脂封止用材料がばらついて配置された状況との関係を調べる実験の結果を示す説明図である。FIG. 3 shows a resin sealing material used in the method for manufacturing a resin sealing device and a resin sealing body according to the present invention. The target value t of the sealing resin thickness is 0.19 mm. Explanatory drawing which shows the result of the experiment which investigates the relationship between the condition (4 levels) of a particle size and the state where the resin sealing material varies and is arranged on the bottom of the cavity when the material supply amount w is 4.91 g It is. 図４は、本発明に係る樹脂封止装置及び樹脂封止体の製造方法において使用される樹脂封止用材料について、封止樹脂の厚さの目標値ｔが０．３２ｍｍ、樹脂封止用材料の供給量ｗが７．９１ｇである場合において、粒径の規格（４水準）とキャビティ底面において樹脂封止用材料がばらついて配置された状況との関係を調べる実験の結果を示す説明図である。FIG. 4 shows a resin sealing material used in the method for manufacturing a resin sealing device and a resin sealing body according to the present invention, where the target value t of the sealing resin thickness is 0.32 mm, Explanatory drawing which shows the result of the experiment which investigates the relationship between the condition (4 levels) of a particle size, and the state where the resin sealing material varies and is arranged on the bottom of the cavity when the material supply amount is 7.91 g It is. 図５は、本発明に係る樹脂封止装置の１つの例を示す平面図である。FIG. 5 is a plan view showing one example of the resin sealing device according to the present invention. 図６は、本発明に係る樹脂封止装置の他の例を示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing another example of the resin sealing device according to the present invention.

本発明によれば、封止樹脂の厚さが目標値をｔ（ｍｍ）とする０．０３（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）という第１の規格を有している場合において、樹脂封止用材料の粒径（粒子径）Ｄに関する第２の規格であるＤ≦３．０×ｔ（ｍｍ）に基づいて、樹脂封止装置に供給された樹脂封止用材料を選別する。この選別は、光学的な手段によって樹脂封止用材料を撮影して得られた画像におけるそれらの粒子の投影面積の面積円相当径に基づいて、行われる。選別された結果第２の規格を満たすと判断された第１の規格内材料を成形型に搬送する。一方、選別された結果第２の規格を満たさないと判断された規格外材料を粉砕して、粉砕された規格外材料を選別する。選別された結果第２の規格を満たすと判断された第１の規格内材料を成形型に搬送する。   According to the present invention, when the thickness of the sealing resin has the first standard of 0.03 (mm) ≦ t ≦ 1.2 (mm) with the target value being t (mm), Based on D ≦ 3.0 × t (mm), which is the second standard relating to the particle diameter (particle diameter) D of the resin sealing material, the resin sealing material supplied to the resin sealing device is selected. . This selection is performed based on the area equivalent circle diameter of the projected area of the particles in the image obtained by photographing the resin sealing material by optical means. As a result of the sorting, the first in-standard material determined to satisfy the second standard is conveyed to the mold. On the other hand, the non-standard material determined not to satisfy the second standard as a result of the selection is pulverized, and the pulverized non-standard material is selected. As a result of the sorting, the first in-standard material determined to satisfy the second standard is conveyed to the mold.

［実施例１］
図１〜図４を参照して、本発明に係る樹脂封止体の製造方法及び樹脂封止装置を説明する。なお、本出願書類におけるいずれの図についても、わかりやすくするために、適宜省略し又は誇張して模式的に描かれている。同一の構成要素には同一の符号を付して、説明を適宜省略する。 [Example 1]
With reference to FIGS. 1-4, the manufacturing method and resin sealing apparatus of the resin sealing body which concern on this invention are demonstrated. In addition, in order to make it easy to understand, all drawings in the present application document are schematically omitted and exaggerated as appropriate. The same components are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted as appropriate.

図１（１）に示されているように、本発明に係る樹脂封止装置は、下型１と上型２とを有する。下型１と上型２とは、併せて成形型を構成する。下型１と上型２との間には、樹脂封止用材料（後述）を供給する第１の供給手段３が進退自在に設けられている。下型１には、凹部からなるキャビティ４が設けられている。第１の供給手段３は、粉状又は粒状を呈する樹脂封止用材料５をキャビティ４に供給する。すなわち、キャビティ４は、樹脂封止用材料５が供給されるべき空間である。下型１と上型２との間には、離型フィルム６が張り渡された状態で供給される。   As shown in FIG. 1 (1), the resin sealing device according to the present invention has a lower mold 1 and an upper mold 2. The lower mold 1 and the upper mold 2 together constitute a mold. Between the lower mold | type 1 and the upper mold | type 2, the 1st supply means 3 which supplies the resin sealing material (after-mentioned) is provided so that advance / retreat is possible. The lower mold 1 is provided with a cavity 4 formed of a recess. The first supply means 3 supplies the cavity 4 with a resin sealing material 5 that is in the form of powder or particles. That is, the cavity 4 is a space to which the resin sealing material 5 is to be supplied. A release film 6 is supplied between the lower mold 1 and the upper mold 2 in a stretched state.

下型１と上型２とは、相対的に昇降することができる。これによって、下型１と上型２とは、相対的に接近して型締めし、かつ、相対的に離れて型開きする。図１には、下型１が外枠部材７とキャビティ部材８とによって構成され、外枠部材７が弾性部材（渦巻ばね等；図示なし）によって弾性支持されている例が示されている。外枠部材７はキャビティ４の側面を構成し、キャビティ部材８はキャビティ４の底面を構成する。これに限らず、一体的に設けられた下型１にキャビティ４が彫り込まれていてもよい。外枠部材７が弾性支持されていることに代えて、又はそのことに加えて、キャビティ部材８が弾性部材によって弾性支持されてもよい。   The lower mold 1 and the upper mold 2 can be moved up and down relatively. As a result, the lower mold 1 and the upper mold 2 are relatively close to each other and clamped, and are relatively separated from each other and the mold is opened. FIG. 1 shows an example in which the lower mold 1 is composed of an outer frame member 7 and a cavity member 8, and the outer frame member 7 is elastically supported by an elastic member (such as a spiral spring; not shown). The outer frame member 7 constitutes the side surface of the cavity 4, and the cavity member 8 constitutes the bottom surface of the cavity 4. However, the present invention is not limited thereto, and the cavity 4 may be engraved in the integrally provided lower mold 1. Instead of or in addition to the outer frame member 7 being elastically supported, the cavity member 8 may be elastically supported by the elastic member.

下型１には、離型フィルム６を吸引して下型１の型面に密着させるための、言い換えれば離型フィルム６を下型１の型面に吸着するための、吸引路９が設けられている。図１において２個の吸引路９にそれぞれ描かれた下向きの２本の矢印は、外部の吸引機構（図示なし）が離型フィルム６を吸引する様子を示す。下型１には、樹脂封止用材料５を加熱するヒータ１０が設けられている。なお、キャビティ部材８に設けられたヒータは図示されていない。   The lower mold 1 is provided with a suction path 9 for sucking the release film 6 to adhere to the mold surface of the lower mold 1, in other words, for adsorbing the release film 6 to the mold surface of the lower mold 1. It has been. In FIG. 1, two downward arrows drawn on the two suction paths 9 indicate how an external suction mechanism (not shown) sucks the release film 6. The lower mold 1 is provided with a heater 10 for heating the resin sealing material 5. Note that the heater provided in the cavity member 8 is not shown.

上型２には、下型１に対向する面（以下「上型２の型面」という）において、平面視してキャビティ４を取り囲むようにしてシール部材１１が設けられている。上型２の型面において平面視してシール部材１１の内側に、キャビティ４を含む空間における気体を吸引する吸引路１２が設けられている。   The upper mold 2 is provided with a seal member 11 on the surface facing the lower mold 1 (hereinafter referred to as “the mold surface of the upper mold 2”) so as to surround the cavity 4 in plan view. A suction path 12 for sucking gas in a space including the cavity 4 is provided inside the seal member 11 in plan view on the mold surface of the upper mold 2.

上型２には、基板本体１３に複数個のチップ１４が装着された封止前基板１５が、吸着などの周知の方法によって固定される。封止前基板１５は、平面視してキャビティ４を完全に含むとともにシール部材１１と吸引路１２との内側に位置するようにして、固定される。基板本体１３の電極とチップ１４の電極とは（いずれも図示なし）、金線などのワイヤ１６によって電気的に接続される。基板本体１３は、仮想的に設けられた格子状の境界線１７によって、複数の領域１８に区切られる。各領域１８には、１個又は複数個のチップ１４が装着される。   A pre-sealing substrate 15 having a plurality of chips 14 mounted on the substrate body 13 is fixed to the upper mold 2 by a known method such as suction. The pre-sealing substrate 15 is fixed so as to completely include the cavity 4 in a plan view and to be positioned inside the seal member 11 and the suction path 12. The electrode of the substrate body 13 and the electrode of the chip 14 (both not shown) are electrically connected by a wire 16 such as a gold wire. The substrate body 13 is divided into a plurality of regions 18 by a lattice-like boundary line 17 provided virtually. In each region 18, one or a plurality of chips 14 are mounted.

第１の供給手段３は、外枠１９と、外枠１９の下部に開閉自在に設けられた供給用シャッタ２０とを有する。供給用シャッタ２０が閉じた状態において、樹脂封止用材料５が収容される収容部２１が外枠１９の内側に形成される。   The first supply means 3 includes an outer frame 19 and a supply shutter 20 provided at the lower portion of the outer frame 19 so as to be freely opened and closed. In the state where the supply shutter 20 is closed, a storage portion 21 in which the resin sealing material 5 is stored is formed inside the outer frame 19.

本発明に係る樹脂封止装置及び樹脂封止体の製造方法において使用される樹脂封止用材料５について、説明する。樹脂封止用材料５は、次のようにして製造される。まず、熱硬化樹脂からなる粉状又は粒状の樹脂材料と、添加剤と、シリカ等からなるフィラー（充填剤）とを少なくとも含む原材料群を準備する。次に、原材料群を混練して第１の中間材料を生成する。次に、混練された第１の中間材料を粉砕して第２の中間材料を生成する。次に、所定の規格に基づいて第２の中間材料を選別する。第２の中間材料のうち所定の規格を満たすと判断された第１の規格内材料を、樹脂封止用材料５に決定する。   The resin sealing material 5 used in the resin sealing device and the resin sealing body manufacturing method according to the present invention will be described. The resin sealing material 5 is manufactured as follows. First, a raw material group including at least a powdery or granular resin material made of a thermosetting resin, an additive, and a filler (filler) made of silica or the like is prepared. Next, the raw material group is kneaded to produce a first intermediate material. Next, the kneaded first intermediate material is pulverized to produce a second intermediate material. Next, the second intermediate material is selected based on a predetermined standard. The first in-standard material determined to satisfy the predetermined standard among the second intermediate materials is determined as the resin sealing material 5.

樹脂材料としてエポキシ系樹脂又はシリコーン系樹脂を含むことができる。光デバイスを製造する目的で樹脂封止用材料５が使用される場合には、樹脂材料は透光性を有する。加えて、この場合には、樹脂封止用材料５に添加剤として蛍光体を含んでもよい。   An epoxy resin or a silicone resin can be included as the resin material. When the resin sealing material 5 is used for the purpose of manufacturing an optical device, the resin material has translucency. In addition, in this case, the resin sealing material 5 may contain a phosphor as an additive.

本発明においては、樹脂封止用材料５を使用して、硬化樹脂からなり厚さの目標値ｔを有する封止樹脂を形成する。厚さの目標値ｔの規格（第１の規格）としては、例えば、近年の電子デバイスに対する軽薄短小化の要請を考慮して０．１（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）であることとする。軽薄短小化に関するいっそう強い要請を考慮した場合には、第１の規格は０．０５（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）であることが好ましく、更には０．０５（ｍｍ）≦ｔ≦１．０（ｍｍ）であることが好ましい。電子デバイスの用途によってはチップ厚が１５μｍ程度になるという予測を考慮した場合には、第１の規格は０．０３（ｍｍ）≦ｔ≦１．０（ｍｍ）であることが好ましい。加えて、材料の有効利用を含めて考慮した場合には、第１の規格は０．０３（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）であることが好ましい。現実的な要請という観点からは、第１の規格は０．２（ｍｍ）≦ｔ≦１．０（ｍｍ）であることが好ましい。   In the present invention, the resin sealing material 5 is used to form a sealing resin made of a cured resin and having a target thickness t. The standard of thickness target value t (first standard) is, for example, 0.1 (mm) ≦ t ≦ 1.2 (mm) in consideration of the recent demand for lighter, thinner and smaller electronic devices. I will do it. In consideration of a stronger demand for miniaturization, the first standard is preferably 0.05 (mm) ≦ t ≦ 1.2 (mm), and more preferably 0.05 (mm) ≦ t. It is preferable that ≦ 1.0 (mm). In consideration of the prediction that the chip thickness will be about 15 μm depending on the use of the electronic device, the first standard is preferably 0.03 (mm) ≦ t ≦ 1.0 (mm). In addition, when considering the effective use of the material, the first standard is preferably 0.03 (mm) ≦ t ≦ 1.2 (mm). From the standpoint of practical requirements, the first standard is preferably 0.2 (mm) ≦ t ≦ 1.0 (mm).

樹脂封止用材料５は、粒径（粒子径）Ｄと封止樹脂の厚さの目標値ｔとに関する０．０３（ｍｍ）≦Ｄ≦３ｔ（ｍｍ）という所定の規格（第２の規格）を満たす。この第２の規格は、０．０５（ｍｍ）≦Ｄ≦２ｔ（ｍｍ）であることが好ましい。樹脂封止用材料５の関するこれらの規格については、後に詳しく説明する。本出願書類においては、樹脂封止用材料５の粒径Ｄは、光学的な手段によって樹脂封止用材料５を撮影して得られた画像におけるそれらの粒子の投影面積の面積円相当径を、意味する。具体的には、樹脂封止用材料５を撮影して得られた画像に基づいて投影面積を算出し、それらの投影面積の面積円相当径を粒径Ｄとして取り扱う。図１（１）においては、粒径Ｄを便宜的に示す。   The resin sealing material 5 has a predetermined standard (second standard) of 0.03 (mm) ≦ D ≦ 3 t (mm) regarding the particle size (particle diameter) D and the target value t of the thickness of the sealing resin. Is satisfied. This second standard is preferably 0.05 (mm) ≦ D ≦ 2 t (mm). These standards relating to the resin sealing material 5 will be described in detail later. In the present application documents, the particle diameter D of the resin sealing material 5 is the equivalent circle diameter of the projected area of the particles in the image obtained by photographing the resin sealing material 5 by optical means. ,means. Specifically, a projected area is calculated based on an image obtained by photographing the resin sealing material 5, and an area equivalent circle diameter of the projected area is handled as the particle diameter D. In FIG. 1 (1), the particle diameter D is shown for convenience.

なお、樹脂封止用材料５の粒径Ｄを、光学的な手段以外の他の手段、例えば、気流による遠心力、ふるい等の周知の手段によって測定した場合について説明する。この場合においては、上述した光学的な手段による粒径Ｄの測定値Ａと、他の手段による粒径Ｄの測定値Ｂとが、異なる可能性がある。したがって、測定値Ａと測定値Ｂとの相関を予め調べておいて、その相関に基づいて新たな第２の規格を定めることが好ましい。従来の第２の規格に代えて新たな第２の規格を採用して、その新たな第２の規格に基づいて樹脂封止用材料５の粒径Ｄについて判断することが好ましい。   In addition, the case where the particle diameter D of the resin sealing material 5 is measured by means other than optical means, for example, well-known means such as centrifugal force or sieving due to airflow will be described. In this case, there is a possibility that the measured value A of the particle diameter D by the optical means described above and the measured value B of the particle diameter D by other means are different. Therefore, it is preferable to examine the correlation between the measurement value A and the measurement value B in advance and to determine a new second standard based on the correlation. It is preferable to adopt a new second standard instead of the conventional second standard and determine the particle size D of the resin sealing material 5 based on the new second standard.

以下、本発明に係る樹脂封止装置を使用してチップ１４を樹脂封止することによって樹脂封止体を製造する樹脂封止体の製造方法について、図１と図２とを参照して説明する。引き続いて、チップ１４を樹脂封止して形成した成形体、言い換えれば樹脂封止体から電子デバイスを製造する電子デバイスの製造方法を説明する。   Hereinafter, a method for manufacturing a resin sealing body in which a resin sealing body is manufactured by resin sealing the chip 14 using the resin sealing apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. To do. Then, the manufacturing method of the electronic device which manufactures an electronic device from the molded object formed by resin-sealing the chip | tip 14 in other words, a resin sealing body is demonstrated.

図１（１）に示すように、下型１と上型２との間において、キャビティ４の上方に離型フィルム６を張り渡して供給する。その後に、吸引路９によってキャビティ４の底面に向かって離型フィルム６を吸引する。これにより、キャビティ４を構成する型面（以下「キャビティ面」という。）の全面に離型フィルム６を吸着させる。少なくともチップ１４を樹脂封止した後に下型１と上型２とが型開きする段階まで、離型フィルム６を吸着し続ける。なお、本出願書類においては、キャビティ面の全面に離型フィルム６が吸着した状態において樹脂封止用材料５が供給されるべき空間についても、便宜上「キャビティ」と呼ぶ。   As shown in FIG. 1 (1), a release film 6 is stretched and supplied above the cavity 4 between the lower mold 1 and the upper mold 2. Thereafter, the release film 6 is sucked toward the bottom surface of the cavity 4 by the suction path 9. As a result, the release film 6 is adsorbed on the entire mold surface (hereinafter referred to as “cavity surface”) constituting the cavity 4. The mold release film 6 is continuously adsorbed until the lower mold 1 and the upper mold 2 are opened after at least the chip 14 is sealed with the resin. In the present application document, a space in which the resin sealing material 5 is to be supplied in a state where the release film 6 is adsorbed on the entire cavity surface is also referred to as a “cavity” for convenience.

次に、下型１と上型２との間に第１の供給手段３を進入させ、キャビティ４の上方において第１の供給手段３を停止させる。その後に、供給用シャッタ２０を図の左右方向に開いて、キャビティ４に樹脂封止用材料５を供給する。   Next, the first supply means 3 enters between the lower mold 1 and the upper mold 2, and the first supply means 3 is stopped above the cavity 4. Thereafter, the supply shutter 20 is opened in the left-right direction in the figure, and the resin sealing material 5 is supplied to the cavity 4.

次に、図１（２）に示すように、キャビティ４に供給された樹脂封止用材料５を、ヒータ１０を使用して加熱する。このことにより、第１の供給手段３を溶融させて流動性樹脂（図１（３）の溶融樹脂２２を参照）を生成する。樹脂封止用材料５を加熱することに並行して、上型２を下降させる。なお、下型１を上昇させることもできる。要は、下型１と上型２とが相対的に近づけばよい。   Next, as shown in FIG. 1B, the resin sealing material 5 supplied to the cavity 4 is heated using a heater 10. As a result, the first supply means 3 is melted to produce a fluid resin (see the molten resin 22 in FIG. 1 (3)). In parallel with heating the resin sealing material 5, the upper mold 2 is lowered. In addition, the lower mold | type 1 can also be raised. In short, the lower mold 1 and the upper mold 2 should be relatively close to each other.

次に、図１（３）に示すように、更に上型２を下降させてシール部材１１の下端と下型１の型面とを接触させる。これによって、キャビティ４を含む空間であって成形型の外部から遮断された外気遮断空間２３を形成する。成形型の外部に設けられた減圧ポンプ（吸引ポンプ）、減圧タンク等の減圧手段（図示なし）を使用して、外気遮断空間２３を減圧する。これにより、外気遮断空間２３に含まれる微小な粒子と、外気遮断空間２３及び溶融樹脂２２に含まれる気体等とを、成形型の外部に排出する。図１（３）において吸引路１２付近に示された２本の上向きの矢印が、減圧によって成形型の外部に排出される気体等２４を示す。シール部材１１の下端と下型１の型面とが接触してから下型１と上型２とが完全に型締めされるまでの状態（中間型締め状態）において外気遮断空間２３を減圧する工程が開始されることが、好ましい。溶融樹脂２２が完全に硬化するまでの期間において外気遮断空間２３を減圧する工程が実行されることが、好ましい。   Next, as shown in FIG. 1 (3), the upper die 2 is further lowered to bring the lower end of the seal member 11 into contact with the die surface of the lower die 1. Thus, an outside air blocking space 23 that is a space including the cavity 4 and is blocked from the outside of the mold is formed. The outside air blocking space 23 is decompressed using decompression means (not shown) such as a decompression pump (suction pump) and a decompression tank provided outside the mold. Thereby, the minute particles contained in the outside air blocking space 23 and the gas contained in the outside air blocking space 23 and the molten resin 22 are discharged to the outside of the mold. Two upward arrows shown in the vicinity of the suction path 12 in FIG. 1 (3) indicate the gas 24 and the like 24 discharged to the outside of the mold due to the reduced pressure. The outside air blocking space 23 is decompressed in a state (intermediate mold clamping state) from when the lower end of the seal member 11 and the mold surface of the lower mold 1 come into contact until the lower mold 1 and the upper mold 2 are completely clamped. It is preferred that the process is started. It is preferable that the step of decompressing the outside air blocking space 23 is performed during a period until the molten resin 22 is completely cured.

次に、図２（１）に示すように、引き続いて上型２を下降させる。これにより、溶融樹脂２２にチップ１４とワイヤ１６とを浸漬して（浸けて）、下型１と上型２とを完全に型締めする。下型１と上型２とが完全に型締めされた状態（完全締め状態）において、下型１と上型２とによって溶融樹脂２２を加圧しながら引き続いて溶融樹脂２２を加熱する。これにより、溶融樹脂２２を硬化させて、図２（２）に示すように硬化樹脂からなる封止樹脂２５を形成する。   Next, as shown in FIG. 2 (1), the upper mold 2 is subsequently lowered. Thereby, the chip 14 and the wire 16 are immersed in the molten resin 22 (soaked), and the lower mold 1 and the upper mold 2 are completely clamped. In a state where the lower mold 1 and the upper mold 2 are completely clamped (completely clamped state), the molten resin 22 is subsequently heated while the molten resin 22 is pressurized by the lower mold 1 and the upper mold 2. As a result, the molten resin 22 is cured to form a sealing resin 25 made of a cured resin as shown in FIG.

次に、図２（２）に示すように、上型２を上昇させて下型１と上型２とを型開きする。その後に、基板本体１３とチップ１４とワイヤ１６と封止樹脂２５とを有する樹脂封止体（封止済基板）からなる成形体２６を、成形型の外に取り出す。ここまでの工程により、基板本体１３に装着された複数個のチップ１４を樹脂封止する工程が完了して、複数個のチップ１４が樹脂封止された成形体２６が完成する。   Next, as shown in FIG. 2 (2), the upper mold 2 is raised and the lower mold 1 and the upper mold 2 are opened. Thereafter, a molded body 26 made of a resin sealing body (sealed substrate) having the substrate body 13, the chip 14, the wire 16, and the sealing resin 25 is taken out of the mold. Through the steps so far, the step of resin-sealing the plurality of chips 14 mounted on the substrate body 13 is completed, and the molded body 26 in which the plurality of chips 14 are resin-sealed is completed.

次に、図２（３）に示すように、粘着フィルムや吸着等の周知の方法を使用して、成形体２６をステージ（図示なし）に固定する。回転刃２７を使用して、各境界線１７に沿って成形体２６を完全に切断する（フルカットする）。具体的には、図２（３）におけるＸ方向の各境界線１７とＹ方向の各境界線１７とにそれぞれ沿って、成形体２６を完全に切断する。これによって、成形体２６の個片化（ｓｉｎｇｕｌａｔｉｏｎ）が実行される。ここまでの工程によって、成形体２６が各領域１８単位に個片化されて、図２（４）に示された電子デバイス２８が製造される。各電子デバイス２８は、基板本体１３が各領域１８単位に個片化された単位基板２９と、チップ１４と、ワイヤ１６と、封止樹脂２５が各領域１８単位に個片化された単位封止樹脂３０とを有する。   Next, as shown in FIG. 2 (3), the molded body 26 is fixed to a stage (not shown) using a known method such as an adhesive film or adsorption. Using the rotary blade 27, the molded body 26 is completely cut (full cut) along each boundary line 17. Specifically, the molded body 26 is completely cut along each boundary line 17 in the X direction and each boundary line 17 in the Y direction in FIG. Thereby, singulation of the molded body 26 is performed. Through the steps so far, the molded body 26 is separated into units of each region 18 and the electronic device 28 shown in FIG. 2 (4) is manufactured. Each electronic device 28 includes a unit substrate 29 in which the substrate body 13 is divided into units in each region 18, a chip 14, a wire 16, and a sealing resin 25 in units of each region 18. And a stop resin 30.

なお、成形体２６を個片化する工程では、フルカットすることに代えて、成形体２６の厚さ方向の途中まで溝を形成した後に（ハーフカットした後に）成形体２６に外力を加えて個片化してもよい。回転刃２７に代えて、レーザ光、ウォータージェット、ワイヤソー等を使用することもできる。   In the step of dividing the molded body 26 into pieces, instead of full cutting, an external force is applied to the molded body 26 after forming a groove halfway in the thickness direction of the molded body 26 (after half-cutting). You may divide into pieces. Instead of the rotary blade 27, a laser beam, a water jet, a wire saw or the like can be used.

以下、本発明に係る樹脂封止装置において使用される樹脂封止用材料５について、粒径Ｄと封止樹脂２５の厚さの目標値ｔとに関する所定の規格を説明する。第１に、樹脂封止用材料５の粒径Ｄの規格の下限について説明する。粒径Ｄの規格の下限については、封止樹脂２５の厚さの目標値ｔが大きい場合はいうまでもなく小さい場合においても原則として定める必要がない。しかし、樹脂封止用材料の特性によっては、樹脂封止用材料が浮遊すること又は帯電することに起因して、本来樹脂封止用材料５が存在しないはずの場所に付着するという問題が発生することがある。この問題を防止するためには、樹脂封止用材料５の粒径Ｄの規格の下限がある程度大きな値であることが好ましい。経験から、粒径Ｄの値が０．０５ｍｍ未満である場合には、樹脂封止用材料５を供給したり搬送したりする際に浮遊や帯電等が発生しやすいことが判明した。加えて、粒径Ｄの値が０．０３ｍｍ未満である場合には、上述した浮遊や帯電等がいっそう発生しやすいことが判明した。これらのことに基づいて、粒径Ｄの規格の下限については、０．０３ｍｍ以上であることが好ましく、０．０５ｍｍ以上であることがいっそう好ましいといえる。したがって、粒径Ｄの規格の下限を設ける場合には、下限として０．０３（ｍｍ）≦Ｄであること、好ましくは０．０５（ｍｍ）≦Ｄであること、に決定した。   Hereinafter, the predetermined standard regarding the particle diameter D and the target value t of the thickness of the sealing resin 25 will be described for the resin sealing material 5 used in the resin sealing device according to the present invention. First, the lower limit of the standard of the particle diameter D of the resin sealing material 5 will be described. The lower limit of the standard of the particle size D need not be determined in principle even when the target value t of the thickness of the sealing resin 25 is large, as well as when it is small. However, depending on the characteristics of the resin sealing material, there is a problem that the resin sealing material 5 adheres to a place where the resin sealing material 5 should not originally exist due to floating or charging of the resin sealing material. There are things to do. In order to prevent this problem, it is preferable that the lower limit of the standard of the particle diameter D of the resin sealing material 5 is a certain large value. From experience, it has been found that when the value of the particle diameter D is less than 0.05 mm, floating or electrification or the like is likely to occur when the resin sealing material 5 is supplied or conveyed. In addition, when the value of the particle diameter D is less than 0.03 mm, it has been found that the above-described floating and charging are more likely to occur. Based on these matters, the lower limit of the standard of the particle diameter D is preferably 0.03 mm or more, and more preferably 0.05 mm or more. Therefore, when the lower limit of the standard of the particle diameter D is provided, the lower limit is determined to be 0.03 (mm) ≦ D, preferably 0.05 (mm) ≦ D.

第２に、樹脂封止用材料５の粒径Ｄの規格の上限について説明する。粒径Ｄの規格の上限については、次の手順によって決定した。第１の手順として、粒径Ｄが特定の範囲（４水準）に収まるようにして、樹脂封止用材料５を選別した。第２の手順として、封止樹脂２５の厚さの目標値ｔ（ｍｍ）として適当な値からなる２水準を設定した。第３の手順として、それぞれの封止樹脂２５の厚さの目標値ｔ（２水準）に対応する樹脂封止用材料５の重量ｗ（ｇ）を算出して、その重量の樹脂封止用材料５を実際に評価用キャビティ（平面寸法：２３３×６７ｍｍ）に散布した。散布された樹脂封止用材料５がそのキャビティ底面を覆う割合（以下「樹脂占有率」という。）を、光学的に測定した。第４の手順として、その樹脂封止用材料５を使用して樹脂封止した場合に、実際の封止樹脂２５の厚さのばらつき等の点においてどの程度の樹脂占有率であれば許容できるかということについて評価した。以上の４つの手順によって、実際に使用できると思われる樹脂封止用材料５の粒径Ｄについて、規格の上限を決定した。   Secondly, the upper limit of the standard of the particle diameter D of the resin sealing material 5 will be described. The upper limit of the standard for the particle size D was determined by the following procedure. As a first procedure, the resin sealing material 5 was selected so that the particle diameter D was within a specific range (4 levels). As a second procedure, two levels having appropriate values were set as the target value t (mm) of the thickness of the sealing resin 25. As a third procedure, the weight w (g) of the resin sealing material 5 corresponding to the target value t (two levels) of the thickness of each sealing resin 25 is calculated, and the resin sealing material of that weight is used. Material 5 was actually sprayed into the evaluation cavity (planar dimension: 233 × 67 mm). The ratio (hereinafter referred to as “resin occupancy rate”) of the sprayed resin sealing material 5 covering the bottom surface of the cavity was optically measured. As a fourth procedure, when the resin sealing material 5 is used for resin sealing, the degree of resin occupancy is acceptable in terms of variations in the thickness of the actual sealing resin 25 and the like. I evaluated it. By the above four procedures, the upper limit of the standard was determined for the particle size D of the resin sealing material 5 that could be actually used.

以下、樹脂封止用材料５の粒径Ｄの規格の上限を決定した手順について、図３と図４とを参照して説明する。第１の手順として、樹脂封止用材料５を選別して、粒径Ｄが次の範囲（４水準）に収まる樹脂封止用材料Ｍａ、Ｍｂ、Ｍｃ、Ｍｄを準備した。
樹脂封止用材料Ｍａ：Ｄ＝１．０〜２．０ｍｍ
樹脂封止用材料Ｍｂ：Ｄ＝０．２〜２．０ｍｍ
樹脂封止用材料Ｍｃ：Ｄ＝０．２〜１．０ｍｍ
樹脂封止用材料Ｍｄ：Ｄ＝０．２〜０．４ｍｍ Hereinafter, the procedure for determining the upper limit of the standard of the particle diameter D of the resin sealing material 5 will be described with reference to FIGS. 3 and 4. As a first procedure, the resin sealing material 5 was selected, and resin sealing materials Ma, Mb, Mc, and Md having a particle diameter D falling within the following range (four levels) were prepared.
Resin sealing material Ma: D = 1.0 to 2.0 mm
Resin sealing material Mb: D = 0.2 to 2.0 mm
Resin sealing material Mc: D = 0.2 to 1.0 mm
Resin sealing material Md: D = 0.2 to 0.4 mm

第２の手順として、封止樹脂２５の厚さの目標値ｔ（ｍｍ）として、ｔ＝０．１９（ｍｍ）及びｔ＝０．３２（ｍｍ）の２水準を設定した。ｔ＝０．１９（ｍｍ）という値は、近年の電子デバイス２８に対する軽薄短小化の要請を考慮して設定された値である。   As a second procedure, two levels of t = 0.19 (mm) and t = 0.32 (mm) were set as target values t (mm) for the thickness of the sealing resin 25. The value of t = 0.19 (mm) is a value set in consideration of the recent demand for lighter, thinner and smaller electronic devices 28.

第３の手順として、封止樹脂２５の厚さの目標値ｔがｔ＝０．１９（ｍｍ）及び０．３２（ｍｍ）の場合において、封止樹脂２５の厚さの目標値ｔ（２水準）にそれぞれ対応する樹脂封止用材料５の重量を算出した。算出された重量は、ｔ＝０．１９（ｍｍ）の場合には４．９１（ｇ）、ｔ＝０．３２（ｍｍ）の場合には７．９１（ｇ）であった。上述した重量の値は、チップ１４が装着された場合における算出値（理論値）である。   As a third procedure, when the target value t of the thickness of the sealing resin 25 is t = 0.19 (mm) and 0.32 (mm), the target value t (2 of the thickness of the sealing resin 25 The weight of the resin sealing material 5 corresponding to each level was calculated. The calculated weight was 4.91 (g) when t = 0.19 (mm) and 7.91 (g) when t = 0.32 (mm). The above-described weight value is a calculated value (theoretical value) when the chip 14 is mounted.

なお、実験では、基板本体１３にチップ１４が装着されていない状態において、言い換えればダミー基板を対象として、樹脂封止用材料５を供給した。実際の供給量ｗとして、ｔ＝０．１９（ｍｍ）の場合に相当する４．９１ｇに代えて６．０３ｇの樹脂封止用材料５を、ｔ＝０．３２（ｍｍ）の場合に相当する７．９１ｇに代えて１０．１６ｇの樹脂封止用材料５を、それぞれ評価用キャビティに散布した。   In the experiment, in a state where the chip 14 is not mounted on the substrate body 13, in other words, the resin sealing material 5 is supplied for the dummy substrate. As the actual supply amount w, 6.03 g of the resin sealing material 5 instead of 4.91 g corresponding to the case of t = 0.19 (mm) corresponds to the case of t = 0.32 (mm). In place of 7.91 g, 1016 g of the resin sealing material 5 was dispersed in the evaluation cavities.

引き続いて、第３の手順として、ｗ＝４．９１（ｇ）の樹脂封止用材料５に相当する樹脂封止用材料Ｍａ、Ｍｂ、Ｍｃ、Ｍｄを準備して、それらを評価用キャビティに順次散布した。同様に、ｗ＝７．９１（ｇ）の樹脂封止用材料５に相当する樹脂封止用材料Ｍａ、Ｍｂ、Ｍｃ、Ｍｄを準備して、それらを評価用キャビティに順次散布した。散布された樹脂封止用材料５の状態を、評価用キャビティの上方から撮影した。撮影によって得られた画像を２値化して、樹脂封止用材料５の樹脂占有率を算出した。具体的には、２５６階調（レベル０を黒とし、レベル２５５を白とする）を有する画像においてレベル２５をしきい値として画像を２値化した。２値化画像においてレベル２５以下を「樹脂封止用材料が存在する」と判断して、評価用キャビティの底面において樹脂封止用材料が存在する部分の面積比を算出した。   Subsequently, as a third procedure, resin sealing materials Ma, Mb, Mc, and Md corresponding to the resin sealing material 5 of w = 4.91 (g) are prepared, and these are used as evaluation cavities. We sprayed sequentially. Similarly, resin sealing materials Ma, Mb, Mc, and Md corresponding to the resin sealing material 5 of w = 7.91 (g) were prepared, and these were sequentially dispersed in the evaluation cavity. The state of the dispersed resin sealing material 5 was photographed from above the evaluation cavity. The image obtained by photographing was binarized, and the resin occupation ratio of the resin sealing material 5 was calculated. Specifically, in an image having 256 gradations (level 0 is black and level 255 is white), the image is binarized using level 25 as a threshold value. In the binarized image, level 25 or less was judged as “the resin sealing material is present”, and the area ratio of the portion where the resin sealing material was present on the bottom surface of the evaluation cavity was calculated.

供給量ｗ＝４．９１（ｇ）の場合において、樹脂封止用材料Ｍａ〜Ｍｄのそれぞれが散布された状態を２値化して得られた画像と樹脂占有率の円グラフとを図３（１）〜（４）に示す。供給量ｗ＝７．９１（ｇ）の場合において、樹脂封止用材料Ｍａ〜Ｍｄのそれぞれが散布された状態を２値化して得られた画像と樹脂占有率の円グラフとを図４（１）〜（４）に示す。   In the case of the supply amount w = 4.91 (g), an image obtained by binarizing the state where each of the resin sealing materials Ma to Md is dispersed and a pie chart of the resin occupancy rate are shown in FIG. Shown in 1) to (4). In the case of the supply amount w = 7.91 (g), an image obtained by binarizing the state where each of the resin sealing materials Ma to Md is dispersed and a pie chart of the resin occupation ratio are shown in FIG. Shown in 1) to (4).

第４の手順として、図３（１）〜（４）に示された４種類の樹脂封止用材料Ｍａ〜Ｍｄを使用して、厚さの目標値ｔ＝０．１９（ｍｍ）の封止樹脂２５を成形した（図２（２）参照）。その結果に基づいて、図３（１）〜（３）の場合には封止樹脂２５として許容されないと判断され、図３（４）の場合には封止樹脂２５として余裕を持って許容されると判断された。   As a fourth procedure, the four types of resin sealing materials Ma to Md shown in FIGS. 3 (1) to (4) are used to seal the target thickness t = 0.19 (mm). The stop resin 25 was molded (see FIG. 2 (2)). Based on the result, it is determined that the sealing resin 25 is not allowed in the cases of FIGS. 3 (1) to 3 (3), and the sealing resin 25 is allowed with a margin in the case of FIG. 3 (4). It was determined.

図３に示された結果に基づいて、第１に、樹脂封止用材料５の粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の下限の値としてＤ＝０．２（ｍｍ）が妥当であると判断された。粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の下限がＤ＝１．０（ｍｍ）の場合は、評価用キャビティの底面において樹脂封止用材料５がまだら状に配置される傾向が強いので（図３（１）参照）、封止樹脂２５として許容されないことは明らかである。   Based on the results shown in FIG. 3, first, it is determined that D = 0.2 (mm) is appropriate as the lower limit value of the standard of the particle diameter D (mm) of the resin sealing material 5. It was. When the lower limit of the standard of the particle size D (mm) is D = 1.0 (mm), the resin sealing material 5 tends to be arranged in a mottled shape on the bottom surface of the evaluation cavity (FIG. 3 ( It is obvious that the sealing resin 25 is not allowed as shown in 1).

図３に示された結果に基づいて、第２に、樹脂封止用材料５の粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の上限の値は、Ｄ＝０．４（ｍｍ）以上で１．０（ｍｍ）以下の範囲に存在すると予想される。粒径Ｄに関するこの範囲は、樹脂封止用材料５の粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の下限が０．２ｍｍである場合のうち図３（３）に示された場合と図３（４）に示された場合との間であって、樹脂占有率が４１％以上で８４％以下の範囲に相当する。   Based on the results shown in FIG. 3, second, the upper limit value of the standard of the particle diameter D (mm) of the resin sealing material 5 is 1.0 (1.0) when D = 0.4 (mm) or more. mm) is expected to exist in the following range. This range regarding the particle diameter D is the case shown in FIG. 3 (3) and FIG. 3 (4) when the lower limit of the standard of the particle diameter D (mm) of the resin sealing material 5 is 0.2 mm. The resin occupancy rate corresponds to a range of 41% or more and 84% or less.

引き続いて、第４の手順として、図４（１）〜（４）に示された４種類の樹脂封止用材料Ｍａ〜Ｍｄを使用して、厚さの目標値ｔ＝０．３２（ｍｍ）の封止樹脂２５を成形した（図２（２）参照）。その結果に基づき、図４（１）、（２）に示された場合には封止樹脂２５として許容されないものと判断され、図４（３）、（４）に示された場合には封止樹脂２５として許容されるものと判断された。加えて、図４（３）に示された場合が許容される限界であると判断された。したがって、図４（特に図４（３））に示された結果に基づいて、樹脂封止用材料５の粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の下限が０．２ｍｍである場合においては、粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の上限としてＤ＝１．０（ｍｍ）が適当であると推定する。粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の上限としてのＤ＝１．０（ｍｍ）という値は、封止樹脂２５の厚さの目標値ｔ＝０．３２（ｍｍ）に対してはＤ／ｔ＝３．１２５という関係に相当する。なお、図４（３）に示された場合（Ｄ＝０．２〜１．０ｍｍ）において、樹脂占有率は７２％である。   Subsequently, as a fourth procedure, a target thickness value t = 0.32 (mm) using the four types of resin sealing materials Ma to Md shown in FIGS. ) Sealing resin 25 was molded (see FIG. 2B). Based on the result, it is judged that the sealing resin 25 is not allowed in the case shown in FIGS. 4 (1) and (2), and the sealing is shown in FIGS. 4 (3) and (4). It was judged to be acceptable as the stop resin 25. In addition, it was determined that the case shown in FIG. 4 (3) is an acceptable limit. Therefore, based on the result shown in FIG. 4 (particularly FIG. 4 (3)), when the lower limit of the standard of the particle diameter D (mm) of the resin sealing material 5 is 0.2 mm, the particle diameter It is estimated that D = 1.0 (mm) is appropriate as the upper limit of the standard of D (mm). The value D = 1.0 (mm) as the upper limit of the standard of the particle diameter D (mm) is D / t = for the target value t = 0.32 (mm) of the thickness of the sealing resin 25. This corresponds to the relationship of 3.125. In the case shown in FIG. 4 (3) (D = 0.2 to 1.0 mm), the resin occupation ratio is 72%.

引き続いて、第４の手順として、図４に基づいて推定された粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の上限（Ｄ＝１．０（ｍｍ））に相当する樹脂占有率（７２％）に基づいて、図３に示された場合における粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の上限について検討する。図３（３）においては粒径Ｄ（ｍｍ）がＤ＝０．２〜１．０ｍｍで樹脂占有率が４１％、図３（４）においては粒径Ｄ（ｍｍ）がＤ＝０．２〜０．４ｍｍで樹脂占有率が８４％である。これらの間において樹脂占有率が７２％である場合を比例計算すると、粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の上限として、Ｄ＝０．５６７ｍｍが得られる。このＤ＝０．５６７ｍｍという値は、樹脂占有率が７２％である場合に相当するとともに、封止樹脂２５の厚さの目標値ｔ＝０．１９（ｍｍ）に対してはＤ／ｔ＝２．９９という関係に相当する。   Subsequently, as a fourth procedure, based on the resin occupation ratio (72%) corresponding to the upper limit (D = 1.0 (mm)) of the standard of the particle diameter D (mm) estimated based on FIG. The upper limit of the standard of the particle diameter D (mm) in the case shown in FIG. 3 (3), the particle size D (mm) is D = 0.2 to 1.0 mm and the resin occupancy is 41%. In FIG. 3 (4), the particle size D (mm) is D = 0.2. The resin occupancy is 84% at ˜0.4 mm. When proportionally calculating the case where the resin occupancy is 72% among these, D = 0.567 mm is obtained as the upper limit of the standard of the particle diameter D (mm). This value of D = 0.567 mm corresponds to the case where the resin occupancy is 72%, and D / t = for the target value t = 0.19 (mm) of the thickness of the sealing resin 25. This corresponds to the relationship of 2.99.

以上をまとめると、粒径Ｄ（ｍｍ）の規格について、規格の下限が０．２ｍｍである場合における規格の上限と封止樹脂２５の厚さの目標値ｔ（ｍｍ）との関係は、図３の場合がＤ／ｔ＝３．１２５であり、図４の場合がＤ／ｔ＝２．９９である。これらのことに基づいて、粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の上限と封止樹脂２５の厚さの目標値ｔ（ｍｍ）との関係については、Ｄ／ｔ＝３．０が概ね妥当であると判断する。   Summarizing the above, regarding the standard of the particle diameter D (mm), the relationship between the upper limit of the standard and the target value t (mm) of the thickness of the sealing resin 25 when the lower limit of the standard is 0.2 mm is shown in FIG. In the case of 3, D / t = 3.125, and in the case of FIG. 4, D / t = 2.99. Based on these facts, D / t = 3.0 is generally appropriate for the relationship between the upper limit of the standard of the particle diameter D (mm) and the target value t (mm) of the thickness of the sealing resin 25. Judge.

なお、図３（４）の場合は封止樹脂２５として余裕を持って許容されると判断された。このことに基づいて、図３（４）に示された場合、すなわち粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の上限と封止樹脂２５の厚さの目標値ｔ（ｍｍ）との関係がＤ／ｔ≒２．１１の場合が好ましいと判断する。したがって、粒径Ｄ（ｍｍ）の規格の上限と封止樹脂２５の厚さの目標値ｔ（ｍｍ）との好ましい関係については、Ｄ／ｔ＝２．０が概ね妥当であると判断する。   In the case of FIG. 3 (4), it was determined that the sealing resin 25 is allowed with a margin. Based on this, the relationship between the upper limit of the standard of the particle diameter D (mm) and the target value t (mm) of the thickness of the sealing resin 25 is shown in FIG. It is determined that the case of ≈ 2.11. Therefore, regarding the preferable relationship between the upper limit of the standard of the particle diameter D (mm) and the target value t (mm) of the thickness of the sealing resin 25, it is determined that D / t = 2.0 is generally appropriate.

ここまでの説明から、粒径Ｄ（ｍｍ）については次の規格が妥当であるといえる。第１に、粒径Ｄの規格の下限を設ける場合には０．０３（ｍｍ）≦Ｄであることであり、好ましくは０．０５（ｍｍ）≦Ｄであることである。第２に、粒径Ｄの規格の上限としては、封止樹脂２５の厚さの目標値ｔ（ｍｍ）との関係がＤ≦３．０×ｔであることであり、好ましくはＤ≦２．０×ｔであることである。   From the description so far, it can be said that the following standard is appropriate for the particle diameter D (mm). First, in the case where the lower limit of the standard of the particle diameter D is provided, 0.03 (mm) ≦ D, and preferably 0.05 (mm) ≦ D. Second, the upper limit of the standard of the particle diameter D is that the relationship between the thickness of the sealing resin 25 and the target value t (mm) is D ≦ 3.0 × t, and preferably D ≦ 2. 0.0 × t.

したがって、粒径Ｄ（ｍｍ）についての規格は次に示すようになる。その規格は、粒径Ｄと封止樹脂２５の厚さの目標値ｔ（ｍｍ）とに関するＤ≦３．０×ｔ（ｍｍ）という規格である。この規格は、樹脂封止用材料５の歩留まり（有効利用率）を高めるという観点から好ましい。その一方、更に薄い電子デバイス２８に対応するという観点からは、Ｄ≦２．０×ｔ（ｍｍ）という規格が好ましい。樹脂封止用材料５の浮遊や帯電を抑制するという観点に基づいてこれらの規格に下限を設ける場合には、０．０３（ｍｍ）≦Ｄという規格、又は、０．０５（ｍｍ）≦Ｄという規格が加えられる。   Therefore, the standard for the particle size D (mm) is as follows. The standard is a standard of D ≦ 3.0 × t (mm) regarding the particle diameter D and the target value t (mm) of the thickness of the sealing resin 25. This standard is preferable from the viewpoint of increasing the yield (effective utilization rate) of the resin sealing material 5. On the other hand, from the viewpoint of corresponding to a thinner electronic device 28, the standard D ≦ 2.0 × t (mm) is preferable. In the case where these standards are provided with a lower limit based on the viewpoint of suppressing floating and electrification of the resin sealing material 5, a standard of 0.03 (mm) ≦ D or 0.05 (mm) ≦ D The standard is added.

本実施例において使用される樹脂封止用材料５は、封止樹脂２５の厚さの目標値ｔの規格（第１の規格）として、０．０３（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）という規格（好ましくは０．０５（ｍｍ）≦ｔ≦１．０（ｍｍ）という規格）を満たすことを前提として、次の規格（第２の規格）を満たす。それは、粒径Ｄと封止樹脂２５の厚さの目標値ｔとに関する、Ｄ≦３．０×ｔ（ｍｍ）という規格である。更に薄い電子デバイス２８に対応するという観点からは、好ましくはＤ≦２．０×ｔ（ｍｍ）という規格である。これらの規格に下限を設ける場合には、０．０３（ｍｍ）≦Ｄという規格、又は、０．０５（ｍｍ）≦Ｄという規格が加えられる。   The resin sealing material 5 used in this example is 0.03 (mm) ≦ t ≦ 1.2 (mm) as a standard (first standard) of the target value t of the thickness of the sealing resin 25. ) (Preferably 0.05 (mm) ≦ t ≦ 1.0 (mm)), the following standard (second standard) is satisfied. It is a standard of D ≦ 3.0 × t (mm) regarding the particle diameter D and the target value t of the thickness of the sealing resin 25. From the viewpoint of corresponding to a thinner electronic device 28, the standard is preferably D ≦ 2.0 × t (mm). When these standards are provided with a lower limit, a standard of 0.03 (mm) ≦ D or a standard of 0.05 (mm) ≦ D is added.

樹脂封止用材料５がこの規格を満たすことによって、次の効果が得られる。第１に、封止樹脂２５の厚さの目標値ｔが小さい場合においても、言い換えればキャビティ４に供給される樹脂封止用材料５が少量の場合においても、樹脂封止用材料５がキャビティ底面においてばらついて配置されることが抑制される。このことによって、図１、２に示されたキャビティ４において、樹脂封止用材料５が溶融して生成された流動性樹脂２２が流動することが抑制される。したがって、ワイヤ１６の変形、封止樹脂２５における未充填等の発生が抑制される。   When the resin sealing material 5 satisfies this standard, the following effects can be obtained. First, even when the target value t of the thickness of the sealing resin 25 is small, in other words, even when the amount of the resin sealing material 5 supplied to the cavity 4 is small, the resin sealing material 5 is the cavity. Dispersion at the bottom surface is suppressed. Thereby, in the cavity 4 shown in FIGS. 1 and 2, the fluid resin 22 generated by melting the resin sealing material 5 is suppressed from flowing. Accordingly, the deformation of the wire 16 and the occurrence of unfilling in the sealing resin 25 are suppressed.

第２に、粒径Ｄの上限が適正な値に抑えられる。したがって、厚さの目標値ｔに対して大きな粒径を有する粒状樹脂の存在に起因する不具合の発生が抑制される。具体的には、パッケージにおける封止樹脂の厚さｔのばらつきが抑制される。   Second, the upper limit of the particle diameter D is suppressed to an appropriate value. Therefore, the occurrence of defects due to the presence of the granular resin having a large particle size with respect to the target thickness value t is suppressed. Specifically, variation in the thickness t of the sealing resin in the package is suppressed.

第３に、小さい粒径を有する樹脂封止用材料５が浮遊することによって、又は、静電気を帯びることによって引き起こされる、意図せざる場所への樹脂封止用材料５の付着が抑制される。したがって、このような樹脂封止用材料５の付着に起因する不具合の発生が抑制される。   Thirdly, adhesion of the resin sealing material 5 to an unintended place caused by floating of the resin sealing material 5 having a small particle diameter or charging with static electricity is suppressed. Therefore, the occurrence of problems due to the adhesion of the resin sealing material 5 is suppressed.

なお、本出願書類においては、粒径Ｄの規格の下限値は、その下限値よりも小さい粒径Ｄを含む樹脂封止用材料５を排除することを意味するものではない。実際には、樹脂封止用材料５を搬送したり計量したりする過程において、樹脂封止用材料５が割れたり欠けたりすることによって微小な粉体又は粒体（樹脂封止用材料５に起因する微粒子であって以下「樹脂系微粒子」という。）が生成される可能性がある。このような樹脂系微粒子は、粒径Ｄの規格の下限値よりも小さい粒径Ｄを有する可能性がある。したがって、粒径Ｄの規格の下限値よりも小さい粒径Ｄを有する樹脂系微粒子が存在することを理由として本出願における樹脂封止用材料５に該当しないと判断することは、妥当ではない。   In the present application documents, the lower limit value of the standard for the particle size D does not mean that the resin sealing material 5 including the particle size D smaller than the lower limit value is excluded. Actually, in the process of transporting or weighing the resin sealing material 5, the resin sealing material 5 is cracked or chipped, so that a fine powder or particle (on the resin sealing material 5). The resulting fine particles may be referred to as “resin-based fine particles”). Such resin-based fine particles may have a particle size D smaller than the lower limit of the standard of the particle size D. Therefore, it is not appropriate to determine that the resin-based fine particles 5 having a particle diameter D smaller than the lower limit value of the standard of the particle diameter D do not correspond to the resin sealing material 5 in the present application.

［実施例２］
本発明に係る樹脂封止装置の１つの実施例を、図５を参照して説明する。図５に示されているように、樹脂封止装置Ａ１は、材料受入手段３１と、樹脂材料処理手段３２と、複数個（図５では２個）の成形手段３３と、成形体払出手段３４とを備える。材料受入手段３１は、封止前基板１５を受け入れる基板受入手段３５と、樹脂封止用材料５を受け入れる樹脂材料受入手段３６とを備える。材料受入手段３１から樹脂材料処理手段３２と複数個の成形手段３３とを順次経由して成形体払出手段３４に至るまで、搬送レール３７が設けられている。搬送レール３７には主搬送手段３８が設けられている。主搬送手段３８は搬送レール３７に沿って図の横方向に移動することができる。なお、成形手段３３は単数個であってもよい。 [Example 2]
One embodiment of the resin sealing device according to the present invention will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 5, the resin sealing device A <b> 1 includes a material receiving means 31, a resin material processing means 32, a plurality of (two in FIG. 5) forming means 33, and a molded body discharging means 34. With. The material receiving unit 31 includes a substrate receiving unit 35 that receives the pre-sealing substrate 15 and a resin material receiving unit 36 that receives the resin sealing material 5. A conveying rail 37 is provided from the material receiving means 31 through the resin material processing means 32 and the plurality of molding means 33 to the molded body discharging means 34 in order. Main conveyance means 38 is provided on the conveyance rail 37. The main conveyance means 38 can move in the horizontal direction in the figure along the conveyance rail 37. Note that the number of forming means 33 may be one.

材料受入手段３１は、樹脂封止装置Ａ１の外部から封止前基板１５を受け入れる基板受入部３９と、受け入れた封止前基板１５を主搬送手段３８に搬送する基板搬送部４０とを有する。樹脂材料受入手段３６は、樹脂封止装置Ａ１の外部から樹脂封止用材料５を受け入れる樹脂受入部４１と、受け入れた樹脂封止用材料５の重量・体積等を計量する計量部４２とを有する。計量されるべき樹脂封止用材料５又は計量された樹脂封止用材料５は、例えば、トレイ等からなる容器４３に収容される。容器４３に収容された樹脂封止用材料５は、第１の樹脂搬送部４４によってその容器４３ごと主搬送手段３８に搬送される。   The material receiving unit 31 includes a substrate receiving unit 39 that receives the pre-sealing substrate 15 from the outside of the resin sealing apparatus A1, and a substrate transfer unit 40 that transfers the received pre-sealing substrate 15 to the main transfer unit 38. The resin material receiving means 36 includes a resin receiving portion 41 that receives the resin sealing material 5 from the outside of the resin sealing device A1, and a measuring portion 42 that measures the weight, volume, and the like of the received resin sealing material 5. Have. The resin sealing material 5 to be weighed or the weighed resin sealing material 5 is accommodated in a container 43 made of, for example, a tray. The resin sealing material 5 accommodated in the container 43 is conveyed to the main conveying means 38 together with the container 43 by the first resin conveying unit 44.

基板受入手段３５と樹脂材料受入手段３６とは、第１の樹脂搬送部４４が進退する際に必要に応じて開閉するシャッタ４５によって仕切られていることが好ましい。このことにより、樹脂系微粒子を含む微粒子が基板受入手段３５に侵入することが抑制される。   The substrate receiving means 35 and the resin material receiving means 36 are preferably partitioned by a shutter 45 that opens and closes as necessary when the first resin transport portion 44 advances and retreats. This suppresses the entry of fine particles including resin fine particles into the substrate receiving means 35.

本実施例に係る樹脂封止装置Ａ１においては、樹脂材料処理手段３２に関する第１の構成が採用される。材料受入手段３１に隣り合って、樹脂封止装置Ａ１において樹脂材料処理手段３２が着脱自在に設けられている。したがって、樹脂材料処理手段３２は、必要に応じて樹脂封止装置Ａ１に取り付けられ、又は、必要に応じて樹脂封止装置Ａ１から取り外される。   In the resin sealing device A1 according to the present embodiment, the first configuration relating to the resin material processing means 32 is employed. Adjacent to the material receiving means 31, a resin material processing means 32 is detachably provided in the resin sealing device A1. Therefore, the resin material processing means 32 is attached to the resin sealing device A1 as necessary or removed from the resin sealing device A1 as necessary.

樹脂材料処理手段３２は、樹脂封止用材料５を粒径の規格に従って選別する選別手段４６と、選別された結果規格よりも粒径が大きいと判断された規格外材料を粉砕する粉砕手段４７とを有する。加えて、樹脂材料処理手段３２は、樹脂受入部４１と選別手段４６と粉砕手段４７との間において樹脂封止用材料５及び規格外材料を搬送する、第２の樹脂搬送部４８を有する。   The resin material processing unit 32 includes a sorting unit 46 that sorts the resin sealing material 5 in accordance with a particle size standard, and a crushing unit 47 that crushes a non-standard material that is determined to have a particle size larger than the standard as a result of the sorting. And have. In addition, the resin material processing unit 32 includes a second resin transport unit 48 that transports the resin sealing material 5 and the nonstandard material between the resin receiving unit 41, the sorting unit 46, and the crushing unit 47.

選別手段４６として、例えば、光学的な手段、気流による遠心力、ふるい等の周知の手段が、選ばれて又は適宜組み合わせて使用される。粉砕手段４７として、例えば、撹拌、ロールミル等の周知の手段が使用される。選別手段４６と粉砕手段４７とは樹脂材料処理手段３２に含まれる。   As the sorting means 46, for example, known means such as optical means, centrifugal force by airflow, and sieve are selected or used in appropriate combination. As the pulverizing means 47, for example, known means such as stirring and a roll mill are used. The sorting means 46 and the pulverizing means 47 are included in the resin material processing means 32.

樹脂系微粒子等が基板受入手段３５に侵入することを防止するために、樹脂材料処理手段３２には次の構成要素が設けられていることが好ましい。それらの構成要素は、樹脂材料受入手段３６と選別手段４６と粉砕手段４７とを含む空間をシャッタ４５と協働して他の空間から遮断するシャッタ４９と、シャッタ４５とシャッタ４９とによって遮断された空間に存在する微粒子を吸引して集塵する集塵手段５０とを含む。   In order to prevent resin-based fine particles and the like from entering the substrate receiving means 35, the resin material processing means 32 is preferably provided with the following components. These components are blocked by the shutter 49 that blocks the space including the resin material receiving means 36, the sorting means 46, and the crushing means 47 from the other spaces in cooperation with the shutter 45, and the shutter 45 and the shutter 49. Dust collecting means 50 for sucking and collecting fine particles present in the space.

選別手段４６において適用される粒径Ｄの規格としては、封止樹脂２５の厚さの目標値ｔの規格に関連づけて次の規格を採用することができる。厚さの目標値ｔの規格（第１の規格）として、例えば、０．０３（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）という規格（好ましくは０．０５（ｍｍ）≦ｔ≦１．０（ｍｍ）という規格）を採用する。粒径Ｄの規格（第２の規格）として、例えば、０．０３（ｍｍ）≦Ｄ≦３．０×ｔ（ｍｍ）という規格（好ましくは０．０５（ｍｍ）≦Ｄ≦２．０×ｔ（ｍｍ）という規格）を採用する。   As the standard of the particle diameter D applied in the sorting means 46, the following standard can be adopted in relation to the standard of the target value t of the thickness of the sealing resin 25. As a standard of thickness target value t (first standard), for example, a standard of 0.03 (mm) ≦ t ≦ 1.2 (mm) (preferably 0.05 (mm) ≦ t ≦ 1.0 The standard (mm) is adopted. As a standard (second standard) of the particle size D, for example, a standard of 0.03 (mm) ≦ D ≦ 3.0 × t (mm) (preferably 0.05 (mm) ≦ D ≦ 2.0 × t (mm)).

複数個の成形手段３３は、それぞれ次の構成要素を有する。構成要素として挙げられるものは、まず、チェイスホルダ５１と、チェイスホルダ５１に取り付けられキャビティ４を有する下型１と、下型１に対向して設けられ封止前基板１５が固定される上型２（図５には図示なし）と、である。次に、下型１と上型２との間に離型フィルム６を供給し巻き取る第２の供給手段５２である。次に、下型１と上型２との間に形成された外気遮断空間（図１（３）に示された外気遮断空間２３を参照）を減圧する減圧ポンプ５３である。   Each of the plurality of forming means 33 has the following components. Examples of components include a chase holder 51, a lower mold 1 attached to the chase holder 51 and having a cavity 4, and an upper mold provided facing the lower mold 1 and to which the substrate 15 before sealing is fixed. 2 (not shown in FIG. 5). Next, the second supply means 52 supplies and releases the release film 6 between the lower mold 1 and the upper mold 2. Next, there is a decompression pump 53 that depressurizes an outside air blocking space (see the outside air blocking space 23 shown in FIG. 1 (3)) formed between the lower mold 1 and the upper mold 2.

成形体払出手段３４には、成形体２６を搬送する成形体搬送部５４と、成形体２６が収容されるトレイ等からなる成形体用容器５５が配置される成形体収容部５６とが設けられる。   The molded body dispensing means 34 is provided with a molded body transporting section 54 that transports the molded body 26 and a molded body housing section 56 in which a molded body container 55 including a tray or the like in which the molded body 26 is housed is disposed. .

本実施例に係る樹脂封止装置Ａ１においては、樹脂材料処理手段３２に関する第１の構成に加えて、単数個又は複数個（図５では２個）の成形手段３３に関する第２の構成が採用される。図５に示された左側の成形手段３３は、樹脂材料処理手段３２に隣り合って、かつ、右側の成形手段３３に隣り合って（言い換えれば樹脂材料処理手段３２と右側の成形手段３３とに挟まれて）、樹脂封止装置Ａ１において着脱自在に設けられている。右側の成形手段３３は、左側の成形手段３３に隣り合って、かつ、成形体払出手段３４に隣り合って（言い換えれば左側の成形手段３３と成形体払出手段３４とに挟まれて）、樹脂封止装置Ａ１において着脱自在に設けられている。   In the resin sealing device A1 according to the present embodiment, in addition to the first configuration relating to the resin material processing means 32, the second configuration relating to the single or plural (two in FIG. 5) molding means 33 is adopted. Is done. The left molding means 33 shown in FIG. 5 is adjacent to the resin material processing means 32 and adjacent to the right molding means 33 (in other words, between the resin material processing means 32 and the right molding means 33). The resin sealing device A1 is detachably provided. The right molding means 33 is adjacent to the left molding means 33 and adjacent to the molded body discharging means 34 (in other words, sandwiched between the left molding means 33 and the molded body discharging means 34). The sealing device A1 is detachably provided.

なお、樹脂封止装置Ａ１に単数個の成形手段３３が設けられている場合には、樹脂封止装置Ａ１においてその成形手段３３が、樹脂材料処理手段３２と成形体払出手段３４とに挟まれて、取り付けられている。仮に樹脂封止装置Ａ１から成形体払出手段３４が取り外されたとすれば、樹脂封止装置Ａ１においてその単数個の成形手段３３の右側に隣り合って他の成形手段３３を着脱することができる。   When a single molding unit 33 is provided in the resin sealing device A1, the molding unit 33 is sandwiched between the resin material processing unit 32 and the molded body discharging unit 34 in the resin sealing device A1. Attached. If the molded body discharging means 34 is removed from the resin sealing device A1, the other molding means 33 can be attached and detached adjacent to the right side of the single molding means 33 in the resin sealing device A1.

本実施例に係る樹脂封止装置Ａ１は、次の効果を奏する。第１に、選別手段４６によって選別された結果第２の規格を満たさないと判断された規格外材料を、粉砕手段４７によって粉砕する。粉砕された規格外材料を選別手段４６によって選別する。選別された結果第２の規格を満たすと判断された第１の規格内材料を成形型に搬送する。したがって、樹脂封止装置Ａ１に供給された樹脂封止用材料５を有効に利用することができる。   The resin sealing device A1 according to the present embodiment has the following effects. First, the non-standard material determined as not satisfying the second standard as a result of being sorted by the sorting means 46 is crushed by the pulverizing means 47. The ground non-standard material is sorted by the sorting means 46. As a result of the sorting, the first in-standard material determined to satisfy the second standard is conveyed to the mold. Therefore, the resin sealing material 5 supplied to the resin sealing device A1 can be used effectively.

第２に、樹脂材料処理手段３２に関して第１の構成を採用することにより、必要に応じて、事後的に樹脂材料処理手段３２を樹脂封止装置Ａ１に取り付け、又は、事後的に樹脂材料処理手段３２を樹脂封止装置Ａ１から取り外すことができる。このことによって、樹脂封止用材料５の仕様、電子デバイス２８の封止樹脂２５の厚さｔ（図２参照）等に応じて、樹脂封止装置Ａ１に対して樹脂材料処理手段３２を事後的に取り付けること、及び、樹脂封止装置Ａ１から樹脂材料処理手段３２を事後的に取り外すことができる。加えて、第１の工場において樹脂封止装置Ａ１から取り外した樹脂材料処理手段３２を、その樹脂材料処理手段３２を必要とする第２の工場に移送して、第２の工場が保有していた樹脂封止装置Ａ１に取り付けることができる。したがって、樹脂封止装置Ａ１を使用する電子デバイス２８（図２（４）参照）のメーカーは、市場の動向や樹脂封止用材料５及び電子デバイス２８の仕様の変化等に応じて、樹脂封止装置Ａ１に樹脂材料処理手段３２を容易に着脱することができる。   Secondly, by adopting the first configuration with respect to the resin material processing means 32, the resin material processing means 32 is attached to the resin sealing device A1 afterwards as needed, or the resin material processing is performed afterwards. The means 32 can be removed from the resin sealing device A1. As a result, the resin material processing means 32 is applied to the resin sealing device A1 in accordance with the specifications of the resin sealing material 5 and the thickness t (see FIG. 2) of the sealing resin 25 of the electronic device 28. And the resin material processing means 32 can be removed from the resin sealing device A1 afterwards. In addition, the resin material processing means 32 removed from the resin sealing device A1 in the first factory is transferred to a second factory that requires the resin material processing means 32, and the second factory holds it. It can be attached to the resin sealing device A1. Therefore, the manufacturer of the electronic device 28 (see FIG. 2 (4)) that uses the resin sealing device A1 determines the resin sealing according to the market trend, changes in the specifications of the resin sealing material 5 and the electronic device 28, and the like. The resin material processing means 32 can be easily attached to and detached from the stopper A1.

第３に、各成形手段３３に関して第２の構成を採用することによって、各成形手段３３は、必要に応じて樹脂封止装置Ａ１に取り付けられ、又は、必要に応じて樹脂封止装置Ａ１から取り外される。このことにより、市場の動向や需要の増減等に応じて、樹脂封止装置Ａ１に対して成形手段３３を取り付けて増設すること、及び、樹脂封止装置Ａ１から成形手段３３を取り外して成形手段３３の数を減少させることができる。加えて、第１の工場において樹脂封止装置Ａ１から取り外した成形手段３３を、例えば、需要が旺盛な他の地域に立地する第２の工場に移送して、第２の工場が保有していた樹脂封止装置Ａ１に取り付けることができる。したがって、樹脂封止装置Ａ１を使用する電子デバイス２８（図２（４）参照）のメーカーは、市場の動向や需要の増減等に応じて電子デバイス２８の生産能力を容易に調整することができる。   Thirdly, by adopting the second configuration with respect to each molding means 33, each molding means 33 is attached to the resin sealing device A1 as necessary, or from the resin sealing device A1 as necessary. Removed. As a result, the molding means 33 is attached to the resin sealing device A1 and added in accordance with the market trend and the increase / decrease in demand, and the molding means 33 is detached from the resin sealing device A1 and molded. The number of 33 can be reduced. In addition, the molding means 33 removed from the resin sealing device A1 in the first factory is transferred to, for example, a second factory located in another area where demand is strong, and the second factory holds it. It can be attached to the resin sealing device A1. Therefore, the manufacturer of the electronic device 28 (see FIG. 2 (4)) that uses the resin sealing device A1 can easily adjust the production capacity of the electronic device 28 according to market trends, increase / decrease in demand, and the like. .

第４に、樹脂材料受入手段３６と選別手段４６と粉砕手段４７とを含む空間をシャッタ４５とシャッタ４９とによって他の空間から遮断し、遮断された空間に存在する樹脂系微粒子等を吸引して集塵する集塵手段５０を設ける。このことによって、樹脂系微粒子を含む微粒子を集塵することができる。したがって、樹脂系微粒子を含む異物が封止前基板１５等に付着することによって発生する不具合を抑制することができる。   Fourth, the space including the resin material receiving means 36, the sorting means 46, and the crushing means 47 is blocked from other spaces by the shutter 45 and the shutter 49, and the resin-based fine particles and the like existing in the blocked space are sucked. A dust collecting means 50 for collecting the dust is provided. As a result, fine particles including resin-based fine particles can be collected. Therefore, it is possible to suppress problems caused by foreign matters including resin-based fine particles adhering to the pre-sealing substrate 15 or the like.

第５に、離型フィルム６を使用することによって、下型１から成形体２６を容易に離型させることができる（図２（２）参照）。加えて、離型フィルム６を介して、キャビティ面に設けられた微細な凹凸を封止樹脂２５に確実に転写することができる。これらのことによって、電子デバイス２８（図２（４）参照）を製造する場合において品質を向上させることができる。特に、微細な凹凸を含むレンズ（例えば、フレネルレンズ等）を有する光デバイスを製造する場合において、品質を顕著に向上させることができる。   Fifth, by using the release film 6, the molded body 26 can be easily released from the lower mold 1 (see FIG. 2 (2)). In addition, fine irregularities provided on the cavity surface can be reliably transferred to the sealing resin 25 via the release film 6. By these, quality can be improved when manufacturing the electronic device 28 (refer FIG. 2 (4)). In particular, when manufacturing an optical device having a lens (for example, a Fresnel lens or the like) including fine irregularities, the quality can be remarkably improved.

第６に、少なくとも中間型締め状態において外気遮断空間２３を形成して、その外気遮断空間２３を減圧する（図１（３）参照）。これにより、封止樹脂２５における気泡の発生が抑制される。したがって、電子デバイス２８（図２（４）参照）を製造する場合において品質を向上させることができる。特に、透光性の封止樹脂２５を有する光デバイスを製造する場合において、品質を顕著に向上させることができる。   Sixth, the outside air blocking space 23 is formed at least in the intermediate mold clamping state, and the outside air blocking space 23 is decompressed (see FIG. 1 (3)). Thereby, generation | occurrence | production of the bubble in the sealing resin 25 is suppressed. Therefore, the quality can be improved when the electronic device 28 (see FIG. 2 (4)) is manufactured. In particular, when manufacturing an optical device having the translucent sealing resin 25, the quality can be remarkably improved.

［実施例３］
本発明に係る樹脂封止装置の他の実施例を、図６を参照して説明する。図６に示されているように、樹脂封止装置Ａ２においては、次の構成が採用されている。 [Example 3]
Another embodiment of the resin sealing device according to the present invention will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 6, the following configuration is adopted in the resin sealing device A2.

第１の構成として、図６に示された左側の成形手段３３は、基板受入手段５７に隣り合って、かつ、右側の成形手段３３に隣り合って（言い換えれば基板受入手段５７と右側の成形手段３３とに挟まれて）、樹脂封止装置Ａ２において着脱自在に設けられている。右側の成形手段３３は、左側の成形手段３３に隣り合って、かつ、成形体払出手段３４に隣り合って（言い換えれば左側の成形手段３３と成形体払出手段３４とに挟まれて）、樹脂封止装置Ａ２において着脱自在に設けられている。   As a first configuration, the left molding means 33 shown in FIG. 6 is adjacent to the substrate receiving means 57 and adjacent to the right molding means 33 (in other words, the substrate receiving means 57 and the right molding means). It is sandwiched between the means 33) and is detachably provided in the resin sealing device A2. The right molding means 33 is adjacent to the left molding means 33 and adjacent to the molded body discharging means 34 (in other words, sandwiched between the left molding means 33 and the molded body discharging means 34). The sealing device A2 is detachably provided.

第２の構成として、図５に示された樹脂封止装置Ａ１においては樹脂材料受入手段３６が材料受入手段３１に含まれていたことに対して、樹脂封止装置Ａ２においては、基板受入手段５７から独立した樹脂材料受入手段５８が、樹脂材料処理手段５９に隣り合って設けられている。図６においては、樹脂材料受入手段５８と樹脂材料処理手段５９とが図の上下方向に隣り合っている。樹脂材料受入手段５８と樹脂材料処理手段５９とが、併せて樹脂材料用手段６０を構成する。加えて、樹脂材料受入手段５８と樹脂材料処理手段５９とは、それぞれ独立したモジュールであって、樹脂材料用手段６０においてそれぞれ着脱できるように構成されている。すなわち、樹脂材料受入手段５８を有する樹脂材料用手段６０に、事後的に樹脂材料処理手段５９を取り付けることができる。   As a second configuration, in the resin sealing device A1 shown in FIG. 5, the resin material receiving means 36 is included in the material receiving means 31, whereas in the resin sealing device A2, the substrate receiving means is included. Resin material receiving means 58 independent of 57 is provided adjacent to the resin material processing means 59. In FIG. 6, the resin material receiving means 58 and the resin material processing means 59 are adjacent to each other in the vertical direction of the figure. The resin material receiving means 58 and the resin material processing means 59 together constitute a resin material means 60. In addition, the resin material receiving means 58 and the resin material processing means 59 are independent modules, and are configured to be detachable from the resin material means 60. That is, the resin material processing means 59 can be attached to the resin material means 60 having the resin material receiving means 58 later.

なお、樹脂封止装置Ａ２に単数個の成形手段３３が設けられている場合には、樹脂封止装置Ａ２においてその成形手段３３が、基板受入手段５７と成形体払出手段３４とに挟まれて取り付けられる。仮に樹脂封止装置Ａ２から樹脂材料用手段６０と成形体払出手段３４とが取り外されたとすれば、樹脂封止装置Ａ２において、その単数個の成形手段３３の右側に隣り合って他の成形手段３３を着脱することができる。   In the case where a single molding means 33 is provided in the resin sealing device A2, the molding means 33 is sandwiched between the substrate receiving means 57 and the molded body discharging means 34 in the resin sealing device A2. It is attached. If the resin material means 60 and the molded body discharging means 34 are removed from the resin sealing device A2, in the resin sealing device A2, another molding means is adjacent to the right side of the single molding means 33. 33 can be attached and detached.

第３の構成として、樹脂材料用手段６０が、平面視して単数個又は複数個の成形手段３３（図６では２個）を挟んで、基板受入手段５７とは反対側に設けられている。したがって、樹脂封止装置Ａ２において、封止前基板１５を受け入れる基板受入手段５７と、粉状又は粒状を呈する樹脂封止用材料５を受け入れ選別し必要に応じて規格外材料を粉砕する樹脂材料用手段６０とが、最も離れて位置する。   As a third configuration, the resin material means 60 is provided on the side opposite to the substrate receiving means 57 with the single or plural molding means 33 (two in FIG. 6) sandwiched therebetween in plan view. . Therefore, in the resin sealing apparatus A2, the substrate receiving means 57 for receiving the substrate 15 before sealing, and the resin material for receiving and selecting the resin sealing material 5 exhibiting powdery or granular form and pulverizing the nonstandard material as necessary. The use means 60 is located farthest away.

第１の構成によれば、各成形手段３３は、必要に応じて樹脂封止装置Ａ２に取り付けられ、又は、必要に応じて樹脂封止装置Ａ２から取り外される。したがって、樹脂封止装置Ａ２を使用する電子デバイス２８（図２（４）参照）のメーカーは、市場の動向や需要の増減等に応じて電子デバイス２８の生産能力を容易に調整することができる。   According to the 1st structure, each shaping | molding means 33 is attached to resin sealing apparatus A2 as needed, or is removed from resin sealing apparatus A2 as needed. Therefore, the manufacturer of the electronic device 28 (see FIG. 2 (4)) that uses the resin sealing device A2 can easily adjust the production capacity of the electronic device 28 according to market trends, increase / decrease in demand, and the like. .

第２の構成によれば、樹脂材料受入手段５８を有する樹脂材料用手段６０に、事後的に樹脂材料処理手段５９を取り付けることができる。したがって、電子デバイス２８が有する単位封止樹脂３０（図２（４）参照）の薄型化が進む等の技術動向の変化に伴い、電子デバイス２８のメーカーの要望に応じて、事後的に樹脂材料処理手段５９を追加することができる。   According to the second configuration, the resin material processing means 59 can be attached to the resin material means 60 having the resin material receiving means 58 later. Therefore, as the unit sealing resin 30 (see FIG. 2 (4)) of the electronic device 28 has become thinner, the resin material can be used later according to the demands of the manufacturer of the electronic device 28. Processing means 59 can be added.

第３の構成によれば、樹脂系微粒子等が基板受入手段５７に侵入することを防止することができる。したがって、樹脂系微粒子を含む異物が封止前基板１５等に付着することによって発生する不具合を防止することができる。   According to the third configuration, resin-based fine particles and the like can be prevented from entering the substrate receiving means 57. Therefore, it is possible to prevent problems caused by foreign matters including resin-based fine particles adhering to the pre-sealing substrate 15 or the like.

加えて、樹脂封止装置Ａ２に選別手段４６と粉砕手段４７とが設けられている。このことによって、図５に示された樹脂封止装置Ａ１の場合と同様に、樹脂封止装置Ａ２に供給された樹脂封止用材料５を有効に利用することができる。   In addition, sorting means 46 and crushing means 47 are provided in the resin sealing device A2. Accordingly, the resin sealing material 5 supplied to the resin sealing device A2 can be effectively used as in the case of the resin sealing device A1 shown in FIG.

また、樹脂材料受入手段５８と選別手段４６と粉砕手段４７とを含む空間をシャッタ４５によって他の空間から遮断し、遮断された空間に存在する微粒子を吸引して集塵する集塵手段５０を設ける。このことによって、図５に示された樹脂封止装置Ａ１の場合と同様に、樹脂系微粒子を含む異物が封止前基板１５等に付着することによって発生する不具合を抑制することができる。   Further, a dust collecting means 50 that blocks the space including the resin material receiving means 58, the sorting means 46, and the pulverizing means 47 from other spaces by the shutter 45, and sucks and collects fine particles present in the blocked space. Provide. As a result, similarly to the case of the resin sealing device A1 shown in FIG. 5, it is possible to suppress problems caused by foreign matters including resin-based fine particles adhering to the pre-sealing substrate 15 and the like.

また、樹脂封止装置Ａ２において、離型フィルム６を使用する。このことによって、図５に示された樹脂封止装置Ａ１の場合と同様に、電子デバイス２８（図２（４）参照）を製造する場合において品質を向上させることができる。   Moreover, the release film 6 is used in the resin sealing device A2. As a result, as in the case of the resin sealing device A1 shown in FIG. 5, the quality can be improved when the electronic device 28 (see FIG. 2 (4)) is manufactured.

また、樹脂封止装置Ａ２において、少なくとも中間型締め状態において外気遮断空間２３を形成して、その外気遮断空間２３を減圧する（図１（３）参照）。このことにより、図５に示された樹脂封止装置Ａ１の場合と同様に、電子デバイス２８（図２（４）参照）を製造する場合において品質を向上させることができる。   Further, in the resin sealing device A2, the outside air blocking space 23 is formed at least in the intermediate mold clamping state, and the outside air blocking space 23 is decompressed (see FIG. 1 (3)). As a result, as in the case of the resin sealing device A1 shown in FIG. 5, the quality can be improved when the electronic device 28 (see FIG. 2 (4)) is manufactured.

なお、図６に示された樹脂封止装置Ａ２において、成形体払出手段３４と樹脂材料用手段６０との平面的な位置を入れ替えてもよい。このように入れ替えた場合には、樹脂材料用手段６０が、図６に示された右側の成形手段３３に隣り合って、かつ、成形体払出手段３４に隣り合って（言い換えれば、右側の成形手段３３と成形体払出手段３４とに挟まれて）、樹脂封止装置Ａ２において着脱自在に設けられている。   In the resin sealing device A2 shown in FIG. 6, the planar positions of the molded body dispensing means 34 and the resin material means 60 may be interchanged. In this case, the resin material means 60 is adjacent to the right molding means 33 shown in FIG. 6 and adjacent to the molded body discharging means 34 (in other words, the right molding means). The resin sealing device A2 is detachably provided between the means 33 and the molded body discharging means 34).

本出願書類において説明する粒径Ｄは、光学的な手段によって樹脂封止用材料５を撮影して得られた画像におけるそれらの粒子の投影面積の面積円相当径を意味する。したがって、同一の樹脂封止用材料５を対象として、面積円相当径の測定（算出）以外の他の測定法、例えば、フェレー径の測定、遮光法やふるい分け法等を使用して粒径Ｄを測定した場合には、本出願書類における粒径Ｄとは異なった測定値が得られる可能性がある。他の測定法を使用して粒径Ｄを測定した場合には、本出願書類における測定法によって測定した場合の測定値に置き換えて、本出願書類において説明する粒径Ｄの規格に含まれるか否かを判断する。言い換えれば、他の測定法を使用して得られた測定値と本出願書類において説明する粒径Ｄの規格とをそのまま対比することは妥当ではない。   The particle diameter D described in the present application document means an area equivalent circle diameter of the projected area of these particles in an image obtained by photographing the resin sealing material 5 by optical means. Therefore, for the same resin sealing material 5, the particle diameter D can be measured by using a measurement method other than the measurement (calculation) of the equivalent circle diameter, for example, the measurement of the ferret diameter, the shading method, the screening method, or the like. May be measured, which may be different from the particle diameter D in the present application document. If the particle size D is measured using another measurement method, is it replaced with the measurement value when measured by the measurement method in the present application document and included in the standard of the particle size D described in the present application document? Judge whether or not. In other words, it is not appropriate to directly compare the measurement values obtained using other measurement methods with the standard of the particle size D described in the present application document.

樹脂封止用材料５の粒径Ｄを測定する場合には、トレイに散布された樹脂封止用材料５を上方から撮影する方法、フィーダから自由落下する樹脂封止用材料５を側方から撮影する方法等が使用される。しかし、これらに限定されない。供給しようとする樹脂封止用材料５の全数を対象として粒径Ｄを測定することができる。これに代えて、供給しようとする樹脂封止用材料５から一部分のサンプルを抜き取って、そのサンプルを対象として粒径Ｄを測定することができる。   When measuring the particle diameter D of the resin sealing material 5, a method of photographing the resin sealing material 5 sprayed on the tray from above, the resin sealing material 5 that freely falls from the feeder from the side. A method of photographing is used. However, it is not limited to these. The particle diameter D can be measured for all the resin sealing materials 5 to be supplied. Instead, a part of the sample can be extracted from the resin sealing material 5 to be supplied, and the particle diameter D can be measured for the sample.

ここまでの説明においては、樹脂封止用材料５を粒径Ｄの規格に従って選別する選別手段４６と、選別された結果規格よりも粒径Ｄが大きいと判断された規格外材料を粉砕する粉砕手段４７とを、樹脂封止装置Ａ１、Ａ２の内部に設けた例について説明した（図５、６参照）。これに限らず、変形例として、選別手段と粉砕手段との双方を樹脂封止装置の外部に設けてもよい。この場合には、樹脂封止装置の外部において予め選別され必要に応じて粉砕された樹脂封止用材料５を、樹脂封止装置に供給することができる。   In the description so far, the sorting means 46 for sorting the resin sealing material 5 in accordance with the standard for the particle size D, and the pulverization for pulverizing the non-standard material determined to have a particle size D larger than the standard as a result of the sorting. The example which provided the means 47 inside resin sealing apparatus A1 and A2 was demonstrated (refer FIG. 5, 6). Not only this but as a modification, you may provide both a selection means and a grinding | pulverization means outside the resin sealing apparatus. In this case, the resin sealing material 5 that has been selected in advance outside the resin sealing device and pulverized as necessary can be supplied to the resin sealing device.

他の変形例として、選別手段を樹脂封止装置の内部に設け、粒径Ｄの規格を満たさないと判断された規格外材料を粉砕する粉砕手段を樹脂封止装置の外部に設けてもよい。規格外材料を粉砕手段に移送する工程は、作業者が手動で行ってもよく、レールに沿って動く搬送手段や往復するように回転するアームを有する搬送手段を使用して行ってもよい。   As another modified example, the selecting means may be provided inside the resin sealing device, and the pulverizing means for pulverizing the nonstandard material determined not to satisfy the standard of the particle diameter D may be provided outside the resin sealing device. . The step of transferring the nonstandard material to the crushing means may be performed manually by an operator, or may be performed using a conveying means that moves along a rail or a conveying means that has an arm that rotates so as to reciprocate.

ここまでの説明において、供給用シャッタ２０に代えて、第１の供給手段３に樹脂封止用材料５の落とし口を設けてもよい。この場合には、キャビティ４に樹脂封止用材料５を落としながら第１の供給手段３を移動させることによって、キャビティ４に樹脂封止用材料５を供給する。樹脂封止用材料５の落とし口として、樋状の形状を有する落とし口をほぼ水平に設けることが好ましい。加えて、平面視してキャビティ４の型面に対して樹脂封止用材料５を落とす軌跡が、互いに重ならずかつ交わらないようにして、第１の供給手段３を移動させることが好ましい。更に、加振手段を使用して落とし口に振動を加えることによって樹脂封止用材料５を振動させながら、キャビティ４の型面に対して樹脂封止用材料５を落とすことが好ましい。   In the description so far, instead of the supply shutter 20, the first supply means 3 may be provided with an outlet for the resin sealing material 5. In this case, the resin sealing material 5 is supplied to the cavity 4 by moving the first supply means 3 while dropping the resin sealing material 5 into the cavity 4. As a dropper for the resin sealing material 5, a dropper having a bowl shape is preferably provided almost horizontally. In addition, it is preferable to move the first supply means 3 so that the locus of dropping the resin sealing material 5 with respect to the mold surface of the cavity 4 in plan view does not overlap and do not intersect with each other. Furthermore, it is preferable that the resin sealing material 5 is dropped with respect to the mold surface of the cavity 4 while vibrating the resin sealing material 5 by applying vibration to the drop port using a vibrating means.

次の構成を採用してもよい。第１の構成は、外枠を有する第１の供給手段を設け、平面視して外枠と外枠の内側とを覆うようにして第１の供給手段の下面に矩形状の離型フィルム６を吸着し、外枠と離型フィルム６とに囲まれた空間からなる収容部に樹脂封止用材料５を供給するという構成である。この構成によれば、収容部に樹脂封止用材料５が収容された状態で、第１の供給手段をキャビティ４の上方に移動させる。離型フィルム６に対する吸着を解除するとともに、キャビティ４の内面に離型フィルム６を吸着する。このことによって、キャビティ４に離型フィルム６と樹脂封止用材料５とを供給する。   The following configuration may be adopted. In the first configuration, a first release means having an outer frame is provided, and a rectangular release film 6 is formed on the lower surface of the first supply means so as to cover the outer frame and the inner side of the outer frame in plan view. The resin sealing material 5 is supplied to the housing portion formed of a space surrounded by the outer frame and the release film 6. According to this configuration, the first supply means is moved above the cavity 4 in a state where the resin sealing material 5 is accommodated in the accommodating portion. While releasing the adsorption to the release film 6, the release film 6 is adsorbed to the inner surface of the cavity 4. Thus, the release film 6 and the resin sealing material 5 are supplied to the cavity 4.

第２の構成は、凹部を有する第１の供給手段を設け、凹部に樹脂封止用材料５を供給して、第１の供給手段の上面に矩形状の離型フィルム６を吸着し、第１の供給手段を反転させるという構成である。この構成によれば、反転した第１の供給手段をキャビティ４の上方に移動させる。離型フィルム６に対する吸着を解除するとともに、キャビティ４の内面に離型フィルム６を吸着する。このことによって、キャビティ４に離型フィルム６と樹脂封止用材料５とを供給する。   The second configuration includes a first supply unit having a recess, supplies the resin sealing material 5 to the recess, adsorbs the rectangular release film 6 on the upper surface of the first supply unit, In this configuration, one supply means is reversed. According to this configuration, the inverted first supply means is moved above the cavity 4. While releasing the adsorption to the release film 6, the release film 6 is adsorbed to the inner surface of the cavity 4. Thus, the release film 6 and the resin sealing material 5 are supplied to the cavity 4.

上述した２つの構成のいずれにおいても、第１の供給手段に対して樹脂封止用材料５を供給する際に、加振手段を使用することができる。第１の供給手段に対して樹脂封止用材料５を落とす落とし口に振動を加えることによって、樹脂封止用材料５を振動させる。第１の供給手段の上方において樹脂封止用材料５を振動させながら、第１の供給手段に対して樹脂封止用材料５を落とすことが好ましい。   In either of the two configurations described above, the vibration means can be used when the resin sealing material 5 is supplied to the first supply means. The resin sealing material 5 is vibrated by applying vibration to a drop port through which the resin sealing material 5 is dropped with respect to the first supply means. It is preferable to drop the resin sealing material 5 on the first supply means while vibrating the resin sealing material 5 above the first supply means.

ここまでの説明においては、封止前基板１５と成形体２６とを搬送する搬送系と樹脂封止用材料５を搬送する搬送系とを、主搬送手段３８として共通にする例について説明した（図５、６参照）。これに代えて、封止前基板１５と成形体２６とを搬送する搬送系と樹脂封止用材料５を搬送する搬送系とを、別系統にしてもよい。   In the description so far, the example in which the transport system for transporting the pre-sealing substrate 15 and the molded body 26 and the transport system for transporting the resin sealing material 5 are shared as the main transport means 38 has been described ( (See FIGS. 5 and 6). Instead of this, the transport system for transporting the pre-sealing substrate 15 and the molded body 26 and the transport system for transporting the resin sealing material 5 may be separate systems.

ここまでの説明においては、１個の成形手段３３に１組の成形型が設けられた構成について説明した（図５、６参照）。これに代えて、１個の成形手段３３に対して、下型１と上型２とを含む１組の成形型を２組用意して、上段と下段との２段にそれぞれ１組の成形型を配置してもよい。この場合には、共通した型開閉機構を動作させることによって、上段の１組の成形型と下段の１組の成形型とを実質的に同時に型締めすること及び型開きすることができる。共通した型開閉機構としては、例えば、サーボモータ、油圧シリンダ等の駆動源と、ラック・アンド・ピニオン等の伝達手段とを使用する。この構成によれば、同じ専有面積を有する成形手段３３を使用した場合において２倍の生産効率を実現することができる。   In the description so far, the configuration in which one set of forming dies is provided in one forming means 33 has been described (see FIGS. 5 and 6). Instead of this, two sets of molds including the lower mold 1 and the upper mold 2 are prepared for one molding means 33, and one set is formed in each of the upper and lower stages. A mold may be placed. In this case, by operating a common mold opening / closing mechanism, the upper set of molds and the lower set of molds can be clamped and opened substantially simultaneously. As a common mold opening / closing mechanism, for example, a drive source such as a servo motor or a hydraulic cylinder and a transmission means such as a rack and pinion are used. According to this configuration, double production efficiency can be realized when the molding means 33 having the same exclusive area is used.

ここまでの説明においては、離型フィルム６を使用する実施例について説明した（図２（２）、５、６参照）。成形型に使用される材料の物性と封止樹脂２５の物性との組合せによっては、離型フィルム６を使用しなくてもよい。   In the description so far, the embodiment using the release film 6 has been described (see FIGS. 2 (2), 5 and 6). Depending on the combination of the physical properties of the material used for the mold and the physical properties of the sealing resin 25, the release film 6 may not be used.

ここまでの説明においては、少なくとも中間型締め状態において外気遮断空間２３を形成して、その外気遮断空間２３を減圧する実施例について説明した（図１（３）参照）。封止樹脂２５に対して要求される気泡等に関する品質水準によっては、外気遮断空間２３を形成してその外気遮断空間２３を減圧することを実施しなくてもよい。   In the description so far, the embodiment has been described in which the outside air blocking space 23 is formed at least in the intermediate mold clamping state and the outside air blocking space 23 is decompressed (see FIG. 1 (3)). Depending on the quality level required for the bubbles or the like required for the sealing resin 25, it is not necessary to form the outside air blocking space 23 and depressurize the outside air blocking space 23.

ここまでの説明においては、図２（３）、（４）に示すように、成形体２６を各領域１８単位に個片化する。例えば、図２（３）におけるＸ方向に４個、かつ、Ｙ方向に４個の領域１８が存在する場合には、成形体２６がそれぞれ１個の領域１８からなる１６個の電子デバイス２８に個片化される。これに限らず、Ｘ方向に１個かつＹ方向に４個にまとまる領域（以下「１×４」と示す。）に成形体２６を個片化して、又は、４×１にまとまる領域に成形体２６を個片化して、それぞれ４個の領域１８からなる４個の電子デバイス２８を製造することができる。加えて、成形体２６を２×２の領域に個片化して、それぞれ４個の領域１８からなる４個の電子デバイス２８を製造することができる。更に、成形体２６から端部における不要な部分を除去して、成形体２６を４×４の領域に個片化して、１６個の領域１８からなる１個の電子デバイス２８を製造することができる。したがって、チップ１４がＬＥＤチップの場合には、列状又は面状の光デバイス（発光体）を容易に製造することができる。   In the description so far, as shown in FIGS. 2 (3) and 2 (4), the molded body 26 is divided into individual regions 18 units. For example, in the case where there are four regions 18 in the X direction and four regions 18 in the Y direction in FIG. 2 (3), the compact 26 has 16 electronic devices 28 each composed of one region 18. It is divided into pieces. Not limited to this, the molded body 26 is divided into pieces in a region (hereinafter referred to as “1 × 4”) that is one piece in the X direction and four pieces in the Y direction, or is formed into a region that is gathered in 4 × 1. The body 26 can be separated into four electronic devices 28 each consisting of four regions 18. In addition, the molded body 26 can be divided into 2 × 2 regions, and four electronic devices 28 each having four regions 18 can be manufactured. Further, an unnecessary portion at the end portion is removed from the molded body 26, and the molded body 26 is separated into 4 × 4 areas to manufacture one electronic device 28 composed of 16 areas 18. it can. Therefore, in the case where the chip 14 is an LED chip, it is possible to easily manufacture a row or planar optical device (light emitting body).

本発明は、上述した実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で、必要に応じて、任意にかつ適宜に組み合わせ、変更し、又は選択して採用できるものである。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be arbitrarily combined, modified, or selected and adopted as necessary without departing from the spirit of the present invention. is there.

１ 下型
２ 上型
３ 第１の供給手段
４ キャビティ
５ 樹脂封止用材料
６ 離型フィルム
７ 外枠部材
８ キャビティ部材
９ 吸引路（吸引手段）
１０ ヒータ（加熱手段）
１１ シール部材（外気遮断手段）
１２ 吸引路（減圧手段）
１３ 基板本体
１４ チップ（電子部品）
１５ 封止前基板
１６ ワイヤ
１７ 境界線
１８ 領域
１９ 外枠
２０ 供給用シャッタ
２１ 収容部
２２ 溶融樹脂
２３ 外気遮断空間
２４ 排出される気体等
２５ 封止樹脂
２６ 成形体（樹脂封止体）
２７ 回転刃
２８ 電子デバイス
２９ 単位基板
３０ 単位封止樹脂
３１ 材料受入手段
３２、５９ 樹脂材料処理手段
３３ 成形手段
３４ 成形体払出手段
３５、５７ 基板受入手段
３６、５８ 樹脂材料受入手段
３７ 搬送レール
３８ 主搬送手段（第１の搬送手段）
３９ 基板受入部
４０ 基板搬送部
４１ 樹脂受入部
４２ 計量部
４３ 容器
４４ 第１の樹脂搬送部
４５、４９ シャッタ（仕切手段）
４６ 選別手段
４７ 粉砕手段
４８ 第２の樹脂搬送部（第２の搬送手段）
５０ 集塵手段
５１ チェイスホルダ
５２ 第２の供給手段
５３ 減圧ポンプ（減圧手段）
５４ 成形体搬送部
５５ 成形体用容器
５６ 成形体収容部
６０ 樹脂材料用手段
Ａ１、Ａ２ 樹脂封止装置
Ｄ 粒径
ｔ 封止樹脂の厚さの目標値 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Lower mold | type 2 Upper mold | type 3 1st supply means 4 Cavity 5 Resin sealing material 6 Release film 7 Outer frame member 8 Cavity member 9 Suction path (suction means)
10 Heater (heating means)
11 Seal member (outside air blocking means)
12 Suction passage (pressure reduction means)
13 Substrate body 14 Chip (electronic component)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 15 Substrate before sealing 16 Wire 17 Boundary line 18 Area | region 19 Outer frame 20 Supply shutter 21 Housing | casing part 22 Molten resin 23 Outside air blocking space 24 Gas discharged | emitted 25 Sealing resin 26 Molded body (resin sealing body)
27 Rotating blade 28 Electronic device 29 Unit substrate 30 Unit sealing resin 31 Material receiving means 32, 59 Resin material processing means 33 Molding means 34 Molded body dispensing means 35, 57 Substrate receiving means 36, 58 Resin material receiving means 37 Conveying rail 38 Main transfer means (first transfer means)
39 Substrate receiving section 40 Substrate transport section 41 Resin receiving section 42 Weighing section 43 Container 44 First resin transport section 45, 49 Shutter (partitioning means)
46 Sorting means 47 Crushing means 48 Second resin transport section (second transport means)
50 Dust collecting means 51 Chase holder 52 Second supply means 53 Pressure reducing pump (pressure reducing means)
54 Molded body conveyance section 55 Molded body container 56 Molded body accommodation section 60 Resin material means A1, A2 Resin sealing device D Particle size t Target value of sealing resin thickness

Claims (28)

キャビティを有する圧縮成形用の成形型を備え、前記キャビティに供給された粉状又は粒状の樹脂封止用材料を使用して封止樹脂を成形し、該封止樹脂の厚さの目標値をｔ（ｍｍ）とする第１の規格に従って、基板本体に装着された電子部品を前記封止樹脂によって樹脂封止する樹脂封止装置であって、
前記樹脂封止装置の外部から前記基板本体に前記電子部品が装着された封止前基板を受け入れる基板受入手段と、
前記樹脂封止装置の外部から前記樹脂封止用材料を受け入れる樹脂材料受入手段と、
前記樹脂封止用材料が前記樹脂封止装置に供給されてから前記成形型に搬入されるまでの間において、前記樹脂封止用材料の粒径Ｄに関する第２の規格であるＤ≦ａ×ｔ（ｍｍ）に基づいて前記樹脂封止用材料を選別する、前記樹脂封止装置の内部において設けられた選別手段と（ａは正の実数）、
選別された結果前記第２の規格を満たすと判断された第１の規格内材料を前記成形型に搬送する第１の搬送手段と、
前記キャビティに供給された前記樹脂封止用材料を加熱して溶融させることによって溶融樹脂を生成する加熱手段とを備え、
前記厚さは前記基板本体の上面から前記封止樹脂の上面までの寸法であり、
前記第１の規格は０．０３（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）であり、
前記溶融樹脂が硬化することによって前記封止樹脂が成形されることを特徴とする樹脂封止装置。 A compression molding mold having a cavity is provided, a sealing resin is molded using a powdery or granular resin sealing material supplied to the cavity, and a target value of the thickness of the sealing resin is set. In accordance with a first standard of t (mm), a resin sealing device for resin sealing an electronic component mounted on a substrate body with the sealing resin ,
A substrate receiving means for receiving a pre-sealing substrate in which the electronic component is mounted on the substrate body from the outside of the resin sealing device;
A resin material receiving means for receiving the resin sealing material from the outside of the resin sealing device;
D ≦ a ×, which is the second standard for the particle size D of the resin sealing material, from when the resin sealing material is supplied to the resin sealing device until it is carried into the mold. sorting means provided inside the resin sealing device for sorting the resin sealing material based on t (mm) (a is a positive real number);
A first conveying means for conveying a first in-standard material determined to satisfy the second standard as a result of sorting to the mold;
Heating means for generating a molten resin by heating and melting the resin sealing material supplied to the cavity;
The thickness is a dimension from the upper surface of the substrate body to the upper surface of the sealing resin,
The first standard is 0.03 (mm) ≦ t ≦ 1.2 (mm),
The resin sealing device, wherein the sealing resin is formed by curing the molten resin. 請求項１に記載された樹脂封止装置において、
前記第１の規格は０．０５（ｍｍ）≦ｔ≦１．０（ｍｍ）であることを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device according to claim 1,
The first standard is 0.05 (mm) ≦ t ≦ 1.0 (mm). 請求項１又は２に記載された樹脂封止装置において、
前記選別手段は、前記樹脂封止用材料を撮影して得られた画像に基づいて投影面積を算出し、該投影面積の面積円相当径を前記粒径Ｄとして取り扱うことによって前記樹脂封止用材料を選別し、
ａの値は３．０であることを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device according to claim 1 or 2,
The selecting means calculates a projected area based on an image obtained by photographing the resin sealing material, and treats the area equivalent circle diameter of the projected area as the particle diameter D, thereby sealing the resin. Sort materials,
The value of a is 3.0, The resin sealing device characterized by the above-mentioned. 請求項１又は２に記載された樹脂封止装置において、
前記選別手段は、気流による遠心力を利用して又は篩を利用して前記樹脂封止用材料を選別することを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device according to claim 1 or 2,
The said sealing | blocking means sorts the said resin sealing material using the centrifugal force by airflow, or using a sieve, The resin sealing apparatus characterized by the above-mentioned. 請求項１〜４のいずれかに記載された樹脂封止装置において、
前記成形型をそれぞれ有する１個又は複数個の成形手段を備え、
前記基板受入手段と前記樹脂材料受入手段とは、平面視して１個又は複数個の前記成形手段に対して同じ側において並んで配置され、
１個又は複数個の前記成形手段のうちの１個の前記成形手段は、平面視して前記基板受入手段と前記樹脂材料受入手段との少なくとも一方に隣接して、かつ、前記樹脂封止装置において着脱自在に設けられていることを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device described in any one of Claims 1-4,
Comprising one or a plurality of molding means each having the mold;
The substrate receiving means and the resin material receiving means are arranged side by side on the same side with respect to one or a plurality of the forming means in a plan view,
One of the molding means or one of the molding means is adjacent to at least one of the substrate receiving means and the resin material receiving means in a plan view, and the resin sealing device A resin sealing device, wherein the device is detachable. 請求項１〜４のいずれかに記載された樹脂封止装置において、
前記成形型をそれぞれ有する１個又は複数個の成形手段を備え、
前記基板受入手段と前記樹脂材料受入手段とは、平面視して１個又は複数個の前記成形手段を挟んで相対向して配置され、
１個又は複数個の前記成形手段のうちの１個の前記成形手段は、平面視して前記基板受入手段と前記樹脂材料受入手段との少なくとも一方に隣接して、かつ、前記樹脂封止装置において着脱自在に設けられていることを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device described in any one of Claims 1-4,
Comprising one or a plurality of molding means each having the mold;
The substrate receiving means and the resin material receiving means are arranged to face each other with one or a plurality of the molding means in plan view,
One of the molding means or one of the molding means is adjacent to at least one of the substrate receiving means and the resin material receiving means in a plan view, and the resin sealing device A resin sealing device, wherein the device is detachable. 請求項１〜６のいずれかに記載された樹脂封止装置において、
複数個の前記成形手段のうちの１個の前記成形手段は平面視して他の前記成形手段に隣接して、かつ、前記樹脂封止装置において着脱自在に設けられていることを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device according to any one of claims 1 to 6,
One of the plurality of molding means is provided adjacent to the other molding means in plan view and detachably provided in the resin sealing device. Resin sealing device. 請求項１〜７のいずれかに記載された樹脂封止装置において、
前記選別手段によって選別された結果前記第２の規格のうちＤ≦ａ×ｔ（ｍｍ）を満たさないと判断された規格外材料を粉砕する粉砕手段と、
粉砕された前記規格外材料を前記選別手段に搬送する第２の搬送手段とを備えることを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device according to any one of claims 1 to 7,
A pulverizing means for pulverizing a non-standard material determined not to satisfy D ≦ a × t (mm) among the second specifications as a result of the selection by the selecting means;
A resin sealing device comprising: a second transport unit that transports the pulverized nonstandard material to the sorting unit. 請求項１〜８のいずれかに記載された樹脂封止装置において、
少なくとも前記樹脂材料受入手段と前記選別手段と前記粉砕手段とを含む空間を仕切る仕切手段と、
仕切られた前記空間を吸引する集塵手段とを備えることを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device according to any one of claims 1 to 8,
Partition means for partitioning a space including at least the resin material receiving means, the sorting means, and the pulverizing means;
And a dust collecting means for sucking the partitioned space. 請求項８又は９に記載された樹脂封止装置において、
前記選別手段と前記粉砕手段とは、受け入れられた前記樹脂封止用材料を処理する樹脂材料処理手段に含まれ、
前記樹脂材料処理手段は、前記樹脂材料受入手段に隣接して、かつ、前記樹脂封止装置において着脱自在に設けられていることを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device according to claim 8 or 9,
The sorting means and the pulverizing means are included in the resin material processing means for processing the received resin sealing material,
The resin material processing means is provided adjacent to the resin material receiving means and detachably provided in the resin sealing device. 請求項１〜１０のいずれかに記載された樹脂封止装置において、
前記樹脂封止用材料は樹脂材料を含み、
前記樹脂材料は熱硬化性を有し、
前記加熱手段は、前記溶融樹脂を加熱して硬化させることによって前記封止樹脂を成形することを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device according to any one of claims 1 to 10,
The resin sealing material includes a resin material,
The resin material has thermosetting properties,
The resin sealing device, wherein the heating means forms the sealing resin by heating and curing the molten resin. 請求項１〜１１のいずれかに記載された樹脂封止装置において、
前記キャビティに前記樹脂封止用材料を供給する第１の供給手段と、
少なくとも前記キャビティの上方まで前記第１の供給手段を移動させる移動手段と、
前記キャビティの上方において又は前記第１の供給手段の上方において、前記キャビティに供給されるべき前記樹脂封止用材料に振動を加える加振手段とを備えることを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device according to any one of claims 1 to 11,
First supply means for supplying the resin sealing material to the cavity;
Moving means for moving the first supply means to at least above the cavity;
A resin sealing device comprising: a vibration means for applying vibration to the resin sealing material to be supplied to the cavity above the cavity or above the first supply means. 請求項１〜１１のいずれかに記載された樹脂封止装置において、
少なくとも前記成形型が型締めされた状態において前記キャビティを含む空間を前記成形型の外部から遮断して外気遮断空間を形成する外気遮断手段と、
前記外気遮断空間を減圧する減圧手段とを備えることを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device according to any one of claims 1 to 11,
An outside air blocking means for blocking the space including the cavity from the outside of the mold at least when the mold is clamped to form an outside air blocking space;
A resin sealing device comprising: a decompression unit that decompresses the outside air blocking space. 請求項１〜１１のいずれかに記載された樹脂封止装置において、
前記成形型が型開きされた状態において前記キャビティに重なるようにして離型フィルムを供給する第２の供給手段と、
前記キャビティにおける型面に向かって前記離型フィルムを吸引することによって前記離型フィルムを前記型面に密着させる吸引手段とを備えることを特徴とする樹脂封止装置。 In the resin sealing device according to any one of claims 1 to 11,
Second supply means for supplying a release film so as to overlap the cavity in a state where the mold is opened;
A resin sealing device comprising: suction means for adhering the release film to the mold surface by sucking the release film toward the mold surface in the cavity. 樹脂封止装置に備えられた圧縮成形用の成形型が有するキャビティに粉状又は粒状を呈する樹脂封止用材料を供給し、該樹脂封止用材料を溶融させて溶融樹脂を生成し、該溶融樹脂を硬化させることによって封止樹脂を成形し、該封止樹脂の厚さの目標値をｔ（ｍｍ）とする第１の規格に従って、基板本体に装着された電子部品を前記封止樹脂によって樹脂封止して樹脂封止体を製造する樹脂封止体の製造方法であって、
前記樹脂封止装置に前記樹脂封止用材料を受け入れる工程と、
前記樹脂封止用材料の粒径Ｄに関する第２の規格であるＤ≦ａ×ｔ（ｍｍ）に基づいて前記樹脂封止用材料を前記樹脂封止装置の内部において選別する工程と（ａは正の実数）、
前記樹脂封止用材料を選別した結果前記第２の規格を満たすと判断された第１の規格内材料を前記成形型に搬送する工程とを備え、
前記厚さは前記基板本体の上面から前記封止樹脂の上面までの寸法であり、
前記第１の規格は０．０３（ｍｍ）≦ｔ≦１．２（ｍｍ）であることを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 Supplying a resin-sealing material in powder or granular form to a cavity of a compression-molding mold provided in the resin-sealing device, melting the resin-sealing material to produce a molten resin, According to a first standard, a sealing resin is formed by curing a molten resin, and a target value of the thickness of the sealing resin is t (mm). A method for producing a resin-sealed body by resin-sealing to produce a resin-sealed body,
Receiving the resin sealing material in the resin sealing device;
Sorting the resin sealing material inside the resin sealing device based on D ≦ a × t (mm) which is the second standard for the particle size D of the resin sealing material; Positive real number),
And a step of conveying the first standard material determined to satisfy the second standard as a result of selecting the resin sealing material to the mold,
The thickness is a dimension from the upper surface of the substrate body to the upper surface of the sealing resin,
The first standard is 0.03 (mm) ≦ t ≦ 1.2 (mm). 請求項１５に記載された樹脂封止体の製造方法において、
前記第１の規格は０．０５（ｍｍ）≦ｔ≦１．０（ｍｍ）であることを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing object according to claim 15,
Said 1st specification is 0.05 (mm) <= t <= 1.0 (mm), The manufacturing method of the resin sealing body characterized by the above-mentioned. 請求項１６に記載された樹脂封止体の製造方法において、
前記樹脂封止用材料を選別する工程では、前記樹脂封止用材料を撮影して得られた画像に基づいて投影面積を算出し、該投影面積の面積円相当径を前記粒径Ｄとして取り扱うことによって前記樹脂封止用材料を選別し、
ａの値は３．０であることを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing object according to claim 16,
In the step of selecting the resin sealing material, a projected area is calculated based on an image obtained by photographing the resin sealing material, and an area equivalent circle diameter of the projected area is handled as the particle diameter D. The resin sealing material is sorted by
The value of a is 3.0, The manufacturing method of the resin sealing body characterized by the above-mentioned. 請求項１６に記載された樹脂封止体の製造方法において、
前記樹脂封止用材料を選別する工程では気流による遠心力を利用して又は篩を利用して前記樹脂封止用材料を選別することを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing object according to claim 16,
The method for producing a resin sealing body, wherein in the step of selecting the resin sealing material, the resin sealing material is selected using centrifugal force generated by an air flow or using a sieve. 請求項１５〜１８に記載された樹脂封止体の製造方法において、
前記樹脂封止用材料を選別する工程では前記樹脂封止装置の内部において前記樹脂封止用材料を選別することを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing body described in Claims 15-18,
In the step of selecting the resin sealing material, the resin sealing material is selected inside the resin sealing device. 請求項１５〜１８に記載された樹脂封止体の製造方法において、
前記樹脂封止用材料を選別する工程では前記樹脂封止装置の外部において前記樹脂封止用材料を選別することを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing body described in Claims 15-18,
In the step of selecting the resin sealing material, the resin sealing material is selected outside the resin sealing device. 請求項１５〜２０のいずれかに記載された樹脂封止体の製造方法において、
選別した結果前記第２の規格のうちＤ≦ａ×ｔ（ｍｍ）を満たさないと判断された規格外材料を粉砕して粉砕済材料を生成する工程と、
前記第２の規格に基づいて前記粉砕済材料を選別する工程と、
前記粉砕済材料を選別した結果前記第２の規格を満たすと判断された第２の規格内材料を前記成形型に搬送する工程とを備えることを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing body according to any one of claims 15 to 20,
A step of pulverizing a non-standard material determined not to satisfy D ≦ a × t (mm) of the second standard as a result of sorting, and generating a pulverized material;
Sorting the crushed material based on the second standard;
And a step of conveying the second in-standard material determined to satisfy the second standard as a result of selecting the pulverized material to the molding die. 請求項２１に記載された樹脂封止体の製造方法において、
前記粉砕済材料を生成する工程では前記樹脂封止装置の内部において前記規格外材料を粉砕することを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing object according to claim 21,
In the step of generating the pulverized material, the nonstandard material is pulverized inside the resin sealing device. 請求項２１に記載された樹脂封止体の製造方法において、
前記粉砕済材料を生成する工程では前記樹脂封止装置の外部において前記規格外材料を粉砕することを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing object according to claim 21,
In the step of generating the pulverized material, the non-standard material is pulverized outside the resin sealing device. 請求項１５〜２３のいずれかに記載された樹脂封止体の製造方法において、
前記電子部品が装着された封止前基板を前記樹脂封止装置の外部から受け入れる基板受入手段と、前記樹脂封止用材料を前記樹脂封止装置の外部から受け入れる樹脂材料受入手段と、前記成形型をそれぞれ有する１個又は複数個の成形手段と、を有する前記樹脂封止装置を準備する工程と、
前記基板受入手段に前記封止前基板を供給する工程と、
前記樹脂材料受入手段に前記樹脂封止用材料を供給する工程とを備え、
前記封止前基板を供給する工程と前記樹脂封止用材料を供給する工程とにおいては、互いに隣り合う前記基板受入手段と前記樹脂材料受入手段とにそれぞれ前記封止前基板と前記樹脂封止用材料とを供給することを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing body according to any one of claims 15 to 23,
Substrate receiving means for receiving the pre-sealing substrate on which the electronic component is mounted from the outside of the resin sealing device, resin material receiving means for receiving the resin sealing material from the outside of the resin sealing device, and the molding Preparing one or a plurality of molding means each having a mold, and the resin sealing device having,
Supplying the substrate before sealing to the substrate receiving means;
Supplying the resin sealing material to the resin material receiving means,
In the step of supplying the substrate before sealing and the step of supplying the material for resin sealing, the substrate before sealing and the resin sealing are respectively connected to the substrate receiving means and the resin material receiving means that are adjacent to each other. The manufacturing method of the resin sealing body characterized by supplying the material for operation. 請求項１５〜２３のいずれかに記載された樹脂封止体の製造方法において、
前記電子部品が装着された封止前基板を前記樹脂封止装置の外部から受け入れる基板受入手段と、前記樹脂封止用材料を前記樹脂封止装置の外部から受け入れる樹脂材料受入手段と、前記成形型をそれぞれ有する１個又は複数個の成形手段と、を有する前記樹脂封止装置を準備する工程と、
前記基板受入手段に前記封止前基板を供給する工程と、
前記樹脂材料受入手段に前記樹脂封止用材料を供給する工程とを備え、
前記封止前基板を供給する工程と前記樹脂封止用材料を供給する工程とにおいては、１個又は複数個の前記成形手段を挟んで相対向して配置された前記基板受入手段と前記樹脂材料受入手段とにそれぞれ前記封止前基板と前記樹脂封止用材料とを供給することを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing body according to any one of claims 15 to 23,
Substrate receiving means for receiving the pre-sealing substrate on which the electronic component is mounted from the outside of the resin sealing device, resin material receiving means for receiving the resin sealing material from the outside of the resin sealing device, and the molding Preparing one or a plurality of molding means each having a mold, and the resin sealing device having,
Supplying the substrate before sealing to the substrate receiving means;
Supplying the resin sealing material to the resin material receiving means,
In the step of supplying the pre-sealing substrate and the step of supplying the resin sealing material, the substrate receiving means and the resin which are arranged to face each other with one or a plurality of the forming means interposed therebetween. A method for manufacturing a resin sealing body, comprising supplying the substrate before sealing and the resin sealing material to a material receiving means, respectively. 請求項１５〜２５のいずれかに記載された樹脂封止体の製造方法において、
前記キャビティに前記樹脂封止用材料を供給する第１の供給手段を前記キャビティの上方まで移動させる工程と、
前記キャビティに供給されるべき前記樹脂封止用材料に振動を加える工程とを備え、
前記樹脂封止用材料に振動を加える工程では、前記キャビティの上方において又は前記第１の供給手段の上方において前記樹脂封止用材料に振動を加えることを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing body according to any one of claims 15 to 25,
Moving a first supply means for supplying the resin sealing material to the cavity to above the cavity;
Adding vibration to the resin sealing material to be supplied to the cavity,
In the step of applying vibration to the resin sealing material, a vibration is applied to the resin sealing material above the cavity or above the first supply means. . 請求項１５〜２５のいずれかに記載された樹脂封止体の製造方法において、
前記成形型に搬送する工程の後に、前記成形型を型締めする途中又は前記成形型を型締めした状態において、前記キャビティを含む空間を前記成形型の外部から遮断して外気遮断空間を形成する工程と、
前記外気遮断空間を減圧する工程とを備えることを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing body according to any one of claims 15 to 25,
After the step of transporting to the mold, the space including the cavity is blocked from the outside of the mold to form an outside air blocking space while the mold is being clamped or in a state where the mold is clamped. Process,
And a step of depressurizing the outside air blocking space. 請求項１５〜２５のいずれかに記載された樹脂封止体の製造方法において、
前記成形型を型開きした状態において前記キャビティに重なるようにして離型フィルムを供給する工程と、
前記キャビティにおける型面に向かって前記離型フィルムを吸引することによって前記離型フィルムを前記型面に密着させる工程とを備えることを特徴とする樹脂封止体の製造方法。 In the manufacturing method of the resin sealing body according to any one of claims 15 to 25,
Supplying a release film so as to overlap the cavity in a state where the mold is opened; and
And a step of adhering the release film to the mold surface by sucking the release film toward the mold surface in the cavity.
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Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6071216B2 (en) * 2012-02-28 2017-02-01 Ｔｏｗａ株式会社 Manufacturing method of resin sealing material and resin sealing device
CN104515105A (en) * 2013-09-27 2015-04-15 西安信唯信息科技有限公司 COB craft lamp board cooling method of ball lamp LED
JP6104787B2 (en) * 2013-12-18 2017-03-29 Ｔｏｗａ株式会社 Resin molding apparatus and resin molding method
JP6143665B2 (en) * 2013-12-26 2017-06-07 Ｔｏｗａ株式会社 Semiconductor sealing method and semiconductor sealing device
JP6071869B2 (en) * 2013-12-27 2017-02-01 Ｔｏｗａ株式会社 Resin molding apparatus and resin molding method
JP6270532B2 (en) * 2014-02-24 2018-01-31 Ｔｏｗａ株式会社 Resin molding apparatus and resin molding method
JP6491508B2 (en) 2015-03-23 2019-03-27 Ｔｏｗａ株式会社 Resin sealing device and method of manufacturing resin molded product
TWI618615B (en) * 2015-08-12 2018-03-21 Zhao Chang Wen Method for forming thermosetting resin package sheet
JP6506680B2 (en) * 2015-11-09 2019-04-24 Ｔｏｗａ株式会社 Resin sealing apparatus and resin sealing method
CN106827343A (en) * 2016-01-28 2017-06-13 诸建芬 A kind of automobile absorber oil seal sealing ring extrusion die
JP6491120B2 (en) * 2016-02-13 2019-03-27 Ｔｏｗａ株式会社 Resin sealing device, resin sealing method, and resin molded product manufacturing method
JP6672103B2 (en) * 2016-08-01 2020-03-25 Ｔｏｗａ株式会社 Resin molding apparatus and resin molded article manufacturing method
JP6212609B1 (en) * 2016-08-19 2017-10-11 Ｔｏｗａ株式会社 Resin molding apparatus and resin molded product manufacturing method
JP6923423B2 (en) * 2017-11-21 2021-08-18 Ｔｏｗａ株式会社 Manufacturing method of transport equipment, resin molding equipment and resin molded products
TWI787411B (en) * 2018-02-16 2022-12-21 日商山田尖端科技股份有限公司 Resin molding device
JP6923503B2 (en) * 2018-11-27 2021-08-18 Ｔｏｗａ株式会社 Resin molding equipment and manufacturing method of resin molded products
TWI744572B (en) 2018-11-28 2021-11-01 蔡憲聰 Semiconductor package with in-package compartmental shielding and fabrication method thereof
US10923435B2 (en) 2018-11-28 2021-02-16 Shiann-Tsong Tsai Semiconductor package with in-package compartmental shielding and improved heat-dissipation performance
US11239179B2 (en) 2018-11-28 2022-02-01 Shiann-Tsong Tsai Semiconductor package and fabrication method thereof
US10896880B2 (en) 2018-11-28 2021-01-19 Shiann-Tsong Tsai Semiconductor package with in-package compartmental shielding and fabrication method thereof
JP6802314B2 (en) * 2018-11-28 2020-12-16 宗哲 蔡 Semiconductor package and its manufacturing method
US11211340B2 (en) 2018-11-28 2021-12-28 Shiann-Tsong Tsai Semiconductor package with in-package compartmental shielding and active electro-magnetic compatibility shielding
JP6845903B1 (en) * 2019-09-18 2021-03-24 Ｔｏｗａ株式会社 Molding mold, resin molding equipment and manufacturing method of resin molded products
CN111785698B (en) * 2020-07-13 2021-11-02 江苏友润微电子有限公司 Integrated circuit packaging process

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2656350B2 (en) * 1989-05-30 1997-09-24 日東電工株式会社 Optical semiconductor device, method for producing the same, and resin composition for encapsulating optical semiconductor used therein
EP0742586A3 (en) * 1995-05-02 1998-03-11 Texas Instruments Incorporated Improvements in or relating to integrated circuits
JPH09314612A (en) * 1996-05-31 1997-12-09 Towa Kk Resin seal molding apparatus of electronic part
JP2833589B2 (en) * 1996-07-31 1998-12-09 日本電気株式会社 Resin sealing molding apparatus and resin sealing method for semiconductor device
JP3642637B2 (en) * 1996-08-20 2005-04-27 アピックヤマダ株式会社 Resin molding equipment
JP4262468B2 (en) * 2002-10-30 2009-05-13 アピックヤマダ株式会社 Resin molding method, resin molding apparatus, and support jig used therefor
US7022410B2 (en) * 2003-12-16 2006-04-04 General Electric Company Combinations of resin compositions and methods of use thereof
JP4326786B2 (en) * 2002-11-26 2009-09-09 Ｔｏｗａ株式会社 Resin sealing device
JP5010303B2 (en) * 2007-02-09 2012-08-29 住友重機械工業株式会社 Resin sealing device
WO2008126527A1 (en) * 2007-03-13 2008-10-23 Towa Corporation Method of compression molding for electronic part and apparatus therefor
JP4855329B2 (en) * 2007-05-08 2012-01-18 Ｔｏｗａ株式会社 Electronic component compression molding method and apparatus
JP5086945B2 (en) * 2008-09-05 2012-11-28 株式会社東芝 Manufacturing method of semiconductor device
US8410619B2 (en) * 2008-12-10 2013-04-02 Sumitomo Bakelite Co., Ltd. Granular epoxy resin composition for encapsulating semiconductor, semiconductor device using the same and method for producing semiconductor device
MY152389A (en) * 2008-12-10 2014-09-15 Sumitomo Bakelite Co Resin composition for encapsulating semiconductor, method for producing semiconductor device and semiconductor device
JP2010247429A (en) * 2009-04-15 2010-11-04 Apic Yamada Corp Resin sealing apparatus and resin sealing method using the same
US9178120B2 (en) * 2010-04-02 2015-11-03 Kaneka Corporation Curable resin composition, curable resin composition tablet, molded body, semiconductor package, semiconductor component and light emitting diode
JP5744422B2 (en) * 2010-06-17 2015-07-08 キヤノン株式会社 Imprint method, imprint apparatus, sample shot extraction method, and article manufacturing method using the same
JP6071216B2 (en) * 2012-02-28 2017-02-01 Ｔｏｗａ株式会社 Manufacturing method of resin sealing material and resin sealing device

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