JP5065771B2 - Resin sealing device and resin sealing method - Google Patents
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Description
本発明は、半導体チップが搭載された被成形品(基板、リードフレームなど)を、樹脂にて圧縮封止する樹脂封止装置の技術分野に関する。 The present invention relates to a technical field of a resin sealing device that compresses and seals a molded product (a substrate, a lead frame, etc.) on which a semiconductor chip is mounted with a resin.
従来、図3に示したように、基板14上の平面的に異なる位置に複数配列された半導体チップ15を1つのキャビティ5内に配置して、該キャビティ5内に樹脂17を投入した上で圧縮成形する樹脂封止装置1が公知である(特許文献1参照)。この樹脂封止装置1では、数十個の半導体チップを大型基板上にマトリクス状に配列し、一括封止後に各パッケージにダイシングするという生産方式(MAP方式)が前提となっている。
Conventionally, as shown in FIG. 3, a plurality of
また、圧縮成形の場合、樹脂封止後の成形品のサイズ(特に厚み方向のサイズ)は、キャビティ内に供給する樹脂の量によって左右される。そのため、樹脂の供給にあたっては基板上に搭載されている半導体チップの数等を検出した上で、必要量が厳密に計量されて供給されている。これは、より上流の工程において半導体チップの不良が確認されたような場合に、基板に半導体チップが搭載されない場合があること等に起因している。 In the case of compression molding, the size of the molded product after resin sealing (particularly the size in the thickness direction) depends on the amount of resin supplied into the cavity. Therefore, when supplying the resin, the required amount is strictly measured and supplied after detecting the number of semiconductor chips mounted on the substrate. This is due to the fact that the semiconductor chip may not be mounted on the substrate when a defect of the semiconductor chip is confirmed in the upstream process.
しかしながら、従来の方式では圧縮時に許容範囲を超えた「樹脂流れ」が発生し、ボンディングワイヤ(金線)の切断や短絡を招くことがあった。これは、必要とされる樹脂17の量を正確にキャビティ5に供給した場合でも、その量は「キャビティ全体として」の総量が一致しているというに過ぎず、キャビティ5を区画化した場合に、区画ごとに最適な樹脂量が供給されていないためと考えられる。即ち、ある区画では、半導体チップが全量搭載されているために、他の区画と比べて必要とされる樹脂量が少ないにも関らず、キャビティ全体で均等割りした量に相当する樹脂が供給されていたり、一方、半導体チップが欠損しているために相対的に必要とされる樹脂量が多いにも関らず、キャビティ全体で均等割りした量に相当する樹脂が供給されている結果、圧縮により樹脂17が過剰な区画Aから樹脂が不足している区画Bへと流動するためである(図4参照)。
However, in the conventional method, a “resin flow” exceeding the allowable range occurs during compression, which may cause a cutting or short circuit of the bonding wire (gold wire). This is because even when the required amount of
発明は、かかる問題点を解決するべくなされたものであって、圧縮時に樹脂流れの少ない樹脂封止装置およびその方法を提供するものである。 The present invention has been made to solve such a problem, and provides a resin sealing device and a method for the same, which cause less resin flow during compression.
本発明は、基板またはリードフレーム上の平面的に異なる位置に複数配列された半導体チップを1つのキャビティ内に配置して、該キャビティ内に樹脂を供給した上で圧縮成形する樹脂封止装置であって、前記半導体チップの配列状況を前記基板またはリードフレームの所定の区画毎に検知する手段と、該検知する手段の検知結果に基づいて、前記キャビティにおける前記基板またはリードフレームの所定の区画に対応した位置に所望量の前記樹脂を供給する樹脂供給機構と、を備えることで上記課題を解決するものである。 The present invention relates to a resin sealing device in which a plurality of semiconductor chips arranged in different planes on a substrate or a lead frame are arranged in one cavity, resin is supplied into the cavity, and then compression molding is performed. And means for detecting the arrangement state of the semiconductor chips for each predetermined section of the substrate or the lead frame, and on the predetermined section of the substrate or the lead frame in the cavity based on the detection result of the detecting means. The above-mentioned problem is solved by providing a resin supply mechanism that supplies a desired amount of the resin to a corresponding position .
即ち、キャビティにおける所定の区画に対応した位置に必要な樹脂を供給することで、圧縮時における樹脂の流動を抑えている。区画の大きさや形は特に制限されるものではなく、自由に最適な設計が可能である。 That is, by supplying the resin required at positions corresponding to predetermined compartments in key Yabiti, thereby suppressing the flow of the resin at the time of compression. The size and shape of the compartment are not particularly limited, and an optimum design can be freely made .
例えば、前記所望量が、前記所定の区画内に配置される前記半導体チップの体積に基づいて決定されれば、区画毎に最適量の樹脂が供給される結果、樹脂流動が低減、防止される。 For example, the desired amount, wherein is arranged at a predetermined compartment is determined based on the volume of the semiconductor chip lever, as a result of the optimal amount of resin is supplied to each section, the resin flow reduction, are prevented .
また前記樹脂が、予備成形樹脂である場合には、樹脂を区分管理する(即ち、ここでは樹脂が分割する)ことによって樹脂のハンドリングが容易となると共に、樹脂を金型表面に載置する際に、樹脂下に空気を巻き込む等の可能性を低減できる。この際、隣り合う区画に配置された予備成形樹脂における隣接する辺の少なくとも一方を、当該辺の中央部において凸形状とすれば、当該予備成形樹脂が圧縮されて樹脂封止が行われる過程においてエアを排出することが可能となり、より高品質な封止が可能となる。 Further, when the resin is a preformed resin, the resin is managed by sorting (that is, the resin is divided here) to facilitate the handling of the resin and to place the resin on the mold surface. In addition, the possibility of entraining air under the resin can be reduced. At this time, if at least one of the adjacent sides in the preformed resin disposed in the adjacent section is convex at the center of the side, the preformed resin is compressed and the resin sealing is performed. Air can be discharged, and higher quality sealing becomes possible.
また、本発明は見方を変えれば、基板またはリードフレーム上の平面的に異なる位置に複数配列された半導体チップを1つのキャビティ内に配置して、該キャビティ内に樹脂を供給した上で圧縮成形する樹脂封止方法であって、前記半導体チップの配列状況を前記基板またはリードフレームの所定の区画毎に検知する工程と、該検知工程の検知結果に基づいて、前記キャビティにおける前記基板またはリードフレームの所定の区画に対応した位置に所望量の前記樹脂を供給する工程と、を含むことを特徴とする樹脂封止方法として捉えることも可能である。 In another aspect of the present invention, a plurality of semiconductor chips arranged in different planes on a substrate or a lead frame are arranged in one cavity, and resin is supplied into the cavity, followed by compression molding. A method for detecting the arrangement state of the semiconductor chips for each predetermined section of the substrate or the lead frame, and the substrate or the lead frame in the cavity based on a detection result of the detection step. And a step of supplying a desired amount of the resin to a position corresponding to the predetermined section.
本発明を適用することにより、封止異常を低減させることが可能となり、高品質な成形品(封止品)を安定して供給することができる。 By applying the present invention, it becomes possible to reduce sealing abnormality, and it is possible to stably supply a high-quality molded product (sealed product).
以下、添付図面を参照しつつ、本発明の実施形態の一例について説明する。 Hereinafter, an example of an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
図1は、本発明を適用した樹脂封止装置100におけるキャビティ105の平面図である。 FIG. 1 is a plan view of a cavity 105 in a resin sealing device 100 to which the present invention is applied.
樹脂封止装置100は、下型102と図示せぬ上型とを有して構成され、当該下型102と上型とで基板105がクランプ可能とされている。この基板105にはマトリクス状に、即ち平面的に異なる位置に複数の半導体チップ115が配列されている。この複数の半導体チップ115は全て、下型102の表面に形成される1つのキャビティ105に収まるように配置されている。このキャビティ105は、平面視した状態で、4つの区画(第1区画120、第2区画121、第3区画122、第4区画123)に仮想的に区画されている。なお、本実施形態では半導体チップ115が基板105に搭載されている例にて説明しているが、例えば、その他にリードフレーム上に搭載されているような場合も全く同様である。
The resin sealing device 100 includes a lower mold 102 and an upper mold (not shown), and the substrate 105 can be clamped between the lower mold 102 and the upper mold. A plurality of semiconductor chips 115 are arranged on the substrate 105 in a matrix, that is, at different positions in a plan view. The plurality of semiconductor chips 115 are all arranged so as to be accommodated in one cavity 105 formed on the surface of the lower mold 102. The cavity 105 is virtually divided into four sections (a first section 120, a second section 121, a
当該樹脂封止装置100では、金型(下型102と上型)が開いている状態で、図示せぬ基板供給機構によって、上型表面に基板105が供給される。この基板105は、上型の表面に備わっている吸着機構によって、所定のタイミングで吸着保持される。当該基板105が供給されるに当たって、事前に、パラメータとして当該基板105に存在する半導体チップ115の数や位置が検出される。当該検出は、例えば画像処理により検出してもよいし、当該樹脂封止装置100を含めた上位の生産情報システム(例えばCIM)、が構築されている場合には、その生産情報システムの情報を利用することも可能である。また、基板105のどの位置にどのような(例えばどの程度の体積を持つ)半導体チップが搭載されるかという情報は予め分かっているため、当該情報を基に、キャビティ105内に配置される半導体チップ115全体の体積を求めることができる。換言すれば、キャビティ105内に投入すべき樹脂の量を計算することが可能となっている。更に、本実施形態においては、キャビティ105を仮想的に区画しているが、当該区画に対応するように基板105側をも区画しており、区画毎の半導体チップ115の数等を把握し、キャビティ105の区画110、111、112、113毎にそれぞれ必要な樹脂の量を算出することも可能とされている。
In the resin sealing device 100, the substrate 105 is supplied to the upper mold surface by a substrate supply mechanism (not shown) with the molds (the lower mold 102 and the upper mold) opened. The substrate 105 is sucked and held at a predetermined timing by a suction mechanism provided on the surface of the upper mold. Before the substrate 105 is supplied, the number and position of the semiconductor chips 115 existing on the substrate 105 are detected as parameters in advance. The detection may be detected by, for example, image processing. When a higher-level production information system (for example, CIM) including the resin sealing device 100 is constructed, information on the production information system is displayed. It can also be used. In addition, since information on what (for example, what volume) semiconductor chip is mounted at which position of the substrate 105 is known in advance, the semiconductor disposed in the cavity 105 based on this information. The volume of the entire chip 115 can be obtained. In other words, the amount of resin to be put into the cavity 105 can be calculated. Furthermore, in this embodiment, the cavity 105 is virtually partitioned, but the substrate 105 side is also partitioned so as to correspond to the partition, and the number of semiconductor chips 115 for each partition is grasped. It is also possible to calculate the amount of resin required for each of the
一方、下型102のキャビティ105内には、図示せぬ樹脂供給機構によって、板状に予備成形された打錠樹脂110、111、112、113が供給される。ここで供給される樹脂は、キャビティ105の大きさを略4分割した程度の大きさであり、各樹脂110、111、112、113がそれぞれキャビティ105の4つの仮想区画(第1区画120、第2区画121、第3区画122、第4区画123)に供給される。
On the other hand, into the cavity 105 of the lower mold 102,
また、各樹脂110、111、112、113は、区画毎に必要とされる樹脂量にそれぞれ区分けされ管理調整されている。各区画には、それぞれ異なる数の半導体チップ115が配置されることとなる。即ち、第1区画120には0個、第2区画には3個、第3区画には約10.5個、第4区画には約9.5個配置される。そのため、各区画に供給されるべき樹脂の量は、第1区画120に供給される樹脂110の量>第2区画121に供給される樹脂111の量>第4区画123に供給される樹脂113の量>第3区画122に供給される樹脂112の量の順となる。
Each
このような状態で下型102と上型とを閉じ圧縮成形することにより、区画を超えて大きく樹脂の流れが生じることはない。仮に樹脂流れが生じた場合でも、理論的には各区画内における僅かなものとなっている。なお、区画の大きさや形は特に制限されるものではなく、自由に最適な設計が可能である。例えば区画をより細かく設定すればより高精度な樹脂流動の防止を実現することが可能である。 In such a state, the lower mold 102 and the upper mold are closed and compression-molded, so that a large resin flow does not occur beyond the section. Even if a resin flow occurs, it is theoretically small in each compartment. In addition, the size and shape of the compartment are not particularly limited, and an optimum design can be freely made. For example, if the compartments are set more finely, it is possible to prevent the resin flow with higher accuracy.
また本実施形態のように、樹脂が予備成形された所謂「板状の予備成形樹脂」である場合には、樹脂を区分け管理する(即ち分割する)ことによって樹脂のハンドリングが容易となると共に、樹脂を下型102表面(即ちキャビティ105内)に載置する際に、樹脂下に空気を巻き込む等の可能性を低減できる。 Further, when the resin is a so-called “plate-shaped preformed resin” in which the resin is preformed as in the present embodiment, the resin is easily handled by dividing and managing (that is, dividing) the resin, When the resin is placed on the surface of the lower mold 102 (that is, in the cavity 105), the possibility of air being entrained under the resin can be reduced.
なお、上記実施形態においては、樹脂が板状に予備成形された打錠樹脂を例に説明しているが、それ以外にも例えば、粉状樹脂、液状樹脂、粒状樹脂等であっても同様の効果を発揮させることができる。即ち、キャビティの区画に対応するように粉、液、粒のまとまりとして区分管理し、該区分管理された樹脂の樹脂量をキャビティの区画毎に所定のパラメータに基づいて決定することによって実現可能である。 In the above-described embodiment, the tableting resin in which the resin is preformed in a plate shape is described as an example, but other than that, for example, a powdery resin, a liquid resin, a granular resin, etc. The effect of can be demonstrated. In other words, it can be realized by classifying and managing as a set of powder, liquid, and grains corresponding to the cavity sections, and determining the resin amount of the section-controlled resin for each cavity section based on predetermined parameters. is there.
また、打錠樹脂110〜113は、図1ではそれぞれが略正方形であるが、この形状に限定されるものではない。例えば、図2(A)に示すように、隣り合う区画に配置された予備成形樹脂210、211における隣接する辺を、当該辺の中央部において円弧状に盛り上がった凸形状とすれば、当該予備成形樹脂210、211が圧縮されて樹脂封止が行われる過程においてエアを排出することが可能となり(同図(B)参照)、より高品質な封止が可能となる。その他にも、隣接する辺の中央部において三角形状に盛り上がった凸形状であったり(同図(C)参照)、更に、隣接する辺の中央部において台形状に盛り上がった凸形状(同図(D)参照)であっても同様にエアの排出が促されるという効果が期待できる。
Further, the tableting resins 110 to 113 are each substantially square in FIG. 1, but are not limited to this shape. For example, as shown in FIG. 2 (A), if the adjacent sides in the
本発明は、半導体チップを搭載した基板やリードフレーム等の被成形品を樹脂にて封止する樹脂封止装置に広く適用することが可能である。 The present invention can be widely applied to a resin sealing device that seals a molded product such as a substrate or a lead frame on which a semiconductor chip is mounted with a resin.
100…樹脂封止装置
102…下型
114…基板
105…キャビティ
110〜113…分割樹脂
115…半導体チップ
120…第1区画
121…第2区画
122…第3区画
123…第4区画
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Resin sealing apparatus 102 ... Lower mold 114 ... Substrate 105 ... Cavity 110-113 ... Divided resin 115 ... Semiconductor chip 120 ... 1st division 121 ...
Claims (5)
前記半導体チップの配列状況を前記基板またはリードフレームの所定の区画毎に検知する手段と、
該検知する手段の検知結果に基づいて、前記キャビティにおける前記基板またはリードフレームの所定の区画に対応した位置に所望量の前記樹脂を供給する樹脂供給機構と、
を備える
ことを特徴とする樹脂封止装置。 A resin sealing device in which a plurality of semiconductor chips arranged in different planes on a substrate or a lead frame are arranged in one cavity, and resin is supplied into the cavity and then compression molded,
Means for detecting the arrangement of the semiconductor chips for each predetermined section of the substrate or lead frame ;
A resin supply mechanism that supplies a desired amount of the resin to a position corresponding to a predetermined section of the substrate or the lead frame in the cavity based on a detection result of the detecting unit ;
Resin sealing apparatus comprising: a.
前記所望量が、前記所定の区画内に配置される前記半導体チップの体積に基づいて決定される
ことを特徴とする樹脂封止装置。 In claim 1,
The desired amount, the resin sealing apparatus, characterized in that that will be determined based on the volume of the semiconductor chip disposed in the predetermined compartment.
前記樹脂が、予備成形樹脂である
ことを特徴とする樹脂封止装置。 In claim 1 or 2,
The resin sealing device, wherein the resin is a preformed resin.
隣り合う前記区画に配置された前記予備成形樹脂における隣接する辺の少なくとも一方が、当該辺の中央部において凸形状とされている
ことを特徴とする樹脂封止装置。 In claim 3,
At least one of the adjacent sides in the preformed resin arranged in the adjacent compartments has a convex shape at the center of the side.
前記半導体チップの配列状況を前記基板またはリードフレームの所定の区画毎に検知する工程と、
該検知工程の検知結果に基づいて、前記キャビティにおける前記基板またはリードフレームの所定の区画に対応した位置に所望量の前記樹脂を供給する工程と、を含む
ことを特徴とする樹脂封止方法。 A resin sealing method in which a plurality of semiconductor chips arranged in different planes on a substrate or a lead frame are arranged in one cavity, and a resin is supplied into the cavity, followed by compression molding.
Detecting the arrangement of the semiconductor chips for each predetermined section of the substrate or lead frame;
Supplying a desired amount of the resin to a position corresponding to a predetermined section of the substrate or the lead frame in the cavity based on the detection result of the detection step.
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