JP5617546B2 - 応力測定方法 - Google Patents
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Description
1回転中に応力の極大値及び極小値が生じる前記回転装置の応力変動部、及び、1回転中の応力が実質的に一定である応力不変部を互いに一体に回転させ、前記極大値が現れるタイミングで、前記応力変動部を含む第1温度分布、及び、前記応力不変部についての第1基準温度分布を取得し、前記極小値が現れるタイミングで、前記応力変動部を含む第2温度分布、及び、前記応力不変部についての第2基準温度分布を取得し、前記第1基準温度分布と前記第2基準温度分布との差に基づいて前記第1温度分布及び第2温度分布のいずれか一方を補正し、補正した温度分布と、他方の応力変動部を含む温度分布とを比較した差に基づいて応力変動値を求める、というものである。
この場合、赤外線サーモグラフィで撮影しやすい平板等の部材を用いることができる。
この場合、別部材を用意しなくてよい。
この場合、平均をとることによって、局部的かつ突発的な画素の温度に影響されず、全体として妥当な値を得ることができる。
《等速ジョイントの構造》
まず、応力測定の対象となる等速ジョイントの構造について説明する。
図1は、回転装置としての等速ジョイント1の軸方向断面図である。本実施形態の等速ジョイント1は、固定式ボール型等速ジョイント(一般に「ツェッパ型等速ジョイント」とも称する。)であり、外輪10と、内輪20と、ボール30と、保持器40と、シャフト50とを備えている。
次に、等速ジョイント1の外輪10を測定対象とした応力測定装置60について説明する。図2は、等速ジョイント1の赤外線応力測定を示す模式図である。図3は、赤外線カメラ及びミラーの配置を示す模式図である。応力測定装置60は、図2および図3に示すように、軸支台61と、荷重付与部62と、赤外線カメラ63と、ロックインプロセッサ64と、演算部65と、表示部66と、2枚のミラー67,68とを備える。
次に、基本的な応力測定方法の手順について図6および図7を参照して説明する。図6は、応力測定方法の工程の流れを示す図である。図7は、着目箇所の荷重変動を示すグラフである。
最後の応力分布算出工程104では、演算部65が、温度変化演算に基づいて、A領域の応力分布を算出する。そして、この応力分布の算出結果は、表示部66のモニタ上に表示される。
また、上記のような応力測定方法では、温度分布に基づいて応力を求めるので、数値解析のような条件設定の難しさが無く、また、歪みゲージを用いて微小な変位を測定するような難しさもない。
ところが、上記の基本的な応力測定方法において、ミラー67,68を経由しての背面撮影と、ミラー67,68を経由しない正面撮影とでは、撮影条件が異なる。撮影条件が異なると、実物の温度は同じであっても、検出する温度に差が出る。また、正面撮影と背面撮影とでは、応力以外の何らかの外乱により温度測定に誤差が入り込む可能性もある。
すなわち、等速ジョイントのような回転による応力変動を伴う回転装置についての赤外線サーモグラフィは、複数方向から撮影するので、撮影条件が異なり、このことが、温度測定の誤差を生じさせる原因となる。そこで、このような誤差を無くすための対策を講じる。なお、後述の補正演算は、図6における温度変化演算工程103に含めることができる。
また、(b)の画像を(c)の画像に補正する以外に、(a)の画像を(b)の画像の温度に近づけるように補正した後、それを、(b)の画像と比較して温度差分布・応力分布を求めることも可能である。
Y={(θL−θS)/W}・X+θS
但し、Wは、画像上の基準板70iの幅である。このような補正によれば、外輪の画像に対応した画素ごとに補正値を変化させて、緻密な補正を行うことができる。なお、基準板70の画像の縦方向に温度変化の傾向がある場合も同様に補正を行うことができる。
図11は、補正の第2実施例における基準部の設け方を示す図である。本実施例では応力測定時に基準板70は設けないが、その代わりに、1回転中に応力が実質的にほぼ0で一定である基準部(応力不変部)80を、外輪10の外面の一部(例えば2箇所)とする。この場合、前述の基準板70という別部材を設けなくてよいという利点がある。
なお、上記の応力測定方法は、等速ジョイントを測定対象としたが、対象はこれに限定されず、種々の回転装置に適用可能である。
Claims (4)
- 回転装置が回転動作することによって生じる応力を、赤外線サーモグラフィを用いて複数の方向から撮影することにより測定する応力測定方法であって、
1回転中に応力の極大値及び極小値が生じる前記回転装置の応力変動部、及び、1回転中の応力が実質的に一定である応力不変部を互いに一体に回転させ、
前記極大値が現れるタイミングで、前記応力変動部を含む第1温度分布、及び、前記応力不変部についての第1基準温度分布を取得し、
前記極小値が現れるタイミングで、前記応力変動部を含む第2温度分布、及び、前記応力不変部についての第2基準温度分布を取得し、
前記第1基準温度分布と前記第2基準温度分布との差に基づいて前記第1温度分布及び第2温度分布のいずれか一方を補正し、
補正した温度分布と、他方の応力変動部を含む温度分布とを比較した差に基づいて応力変動値を求める、
ことを特徴とする応力測定方法。 - 前記応力不変部は、前記回転装置の外側に設けた応力測定用の別部材である請求項1記載の応力測定方法。
- 前記応力不変部は、前記回転装置の外面の一部である請求項1記載の応力測定方法。
- 前記第1基準温度分布と前記第2基準温度分布との差とは、前記第1基準温度分布の全画素の温度の平均値と、前記第2基準温度分布の全画素の温度の平均値との差である請求項1又は2に記載の応力測定方法。
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