JP6409349B2 - 応力計測システム及び応力計測方法 - Google Patents
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Description
また、この特許文献1に記載のシステムでは、測定対象物に対して動力機構が周期的な荷重を付与しており、また、動力機構からこの荷重の時間変化を示す荷重信号が出力される。そして、この荷重信号と同期する周波数の信号を前記時系列データから抽出するロックイン処理が行われ、これにより前記時系列データからノイズ成分が低減され、応力の計測精度が高められている。
そこで、本発明の目的は、赤外線カメラにより得られたデータから不要な成分を除去して、応力測定精度を向上させることにある。
これにより、第1周波数データから不要な成分(ノイズ成分)を効果的に除去することができる。なお、信号強度を低減する処理には、信号強度をゼロにする処理が含まれる。
これにより、演算部が基本周波数及び高次周波数を求めると、処理装置のフィルタ処理部によってフィルタ処理が行われる。
以下に説明する応力計測システム10(図2参照)は、計測対象物である転がり軸受50の外輪51に発生する応力を、赤外線カメラ(赤外線サーモグラフィ)21による画像を用いて計測することができる。
まず、測定の対象となる転がり軸受50について、図1により説明する。転がり軸受50は、外輪51と、内輪52と、これら外輪51と内輪52との間に介在する複数の転動体(玉)53と、これら複数の転動体53を周方向に沿って等間隔で保持する環状の保持器54とを備えている。外輪51の内周面には外輪軌道面(外輪軌道溝)55が形成されており、内輪52の外周面には内輪軌道面(内輪軌道溝)56が形成されている。外輪51、内輪52及び転動体53は、例えば軸受鋼等の金属製である。保持器54は、金属製又は樹脂製である。
そこで、外輪51の各部に発生する周期的な応力に起因して、各部には熱弾性効果に因る発熱(温度上昇)又は吸熱(温度降下)が生じることから、本実施形態の応力計測システム10(図2参照)では、この発熱及び吸熱に起因する軌道輪(本実施形態では外輪51)の温度変化を赤外線カメラ21が画像として捉え、この画像を処理装置30が処理することで軌道輪の各部に発生する応力(応力絶対値)を求めることができる。
応力計測システム10の構成について説明する。図2に示すように、本実施形態の応力計測システム10は、赤外線カメラ21及びこの赤外線カメラ21の取得画像を処理する処理装置30の他に、モニタからなる表示部13、支台15及び動力機構16を備えている。
転がり軸受50の少なくとも外輪51の表面(外周面)には、合成樹脂等からなる艶消し黒色の塗料が塗布されている。この塗料の厚さは、20〜25μmである。この塗料により、外輪51の表面(測定対象表面)の熱放射率は、黒体を1.0とした場合、約0.94となる。このように、外輪51の表面の熱放射率を高くすることにより、熱放射により放出される熱量が多くなる。したがって、外輪51の表面の温度変化をより確実に検出することが可能となる。
動力機構16は、変速機付きモータ17を備えている。このモータ17の出力軸にはシャフト18が連結されており、このシャフト18に転がり軸受50の内輪52が外嵌して固定されている。以上より、固定状態にある外輪51に対して、モータ17の回転により内輪52を所定回転速度で回転させることができる。
なお、演算部40は、コンピュータからなる処理装置30とは別のコンピュータ(演算器)から構成されていてもよく、この場合、双方のコンピュータはデータの受け渡しが可能であり、演算部40の計算結果の情報を処理装置30が取得し処理できる。
表示部13は、処理装置30により算出された応力分布を表示する。
情報取得部32は、赤外線カメラ21から前記時系列画像GA1を取得して記憶部31に格納する。具体的に説明すると、情報取得部32は、赤外線カメラ21から入力される時系列画像GA1の画像信号をデジタルデータに変換して記憶部31に格納する。特に、情報取得部32は、時系列画像GA1を構成する各フレームに含まれる画素毎に画像信号をデジタルデータに変換して記憶部31に格納する。このように画像信号がデジタルデータに変換されて生成された画素毎のデータを、第1時系列データと呼ぶ。この第1時系列データの一例を図4に示す。図4に示すように、第1時系列データP1は、一つの画素に関する温度の時間変化を示すデータである。
この応力データは画素毎の応力値を示しており、また、前記各機能部は、時系列画像GA1に含まれる全ての画素について各処理を実行する。そこで、応力算出部36は、これら画素の応力データに基づいて外輪51に作用している応力分布を示すデータを生成する。そして、表示処理部37は、この応力分布を示すデータを表示部13に画像として出力させる。
なお、外輪51の特定部XSは、外輪51の内の任意に設定される部分であり、例えば、発生応力が最も高くなると推定される部分とすることができるが、本実施形態では、外輪51の外周面の内の、外輪軌道面55の底部55a(図1参照)の径方向外側に対応する部分を、特定部XSとしている。このため、この特定部XSを含む領域を、赤外線カメラ21は撮像する必要がある。
以上の構成を備えている応力計測システム10が行う応力計測方法について説明する。
図9は、応力計測方法を示すフローチャートである。この応力計測方法は、計算工程(ステップSt21)、撮像工程(ステップSt11)、第1変換工程(ステップSt12)、フィルタ処理工程(ステップSt13)、第2変換工程(ステップSt14)、第3変換工程(ステップSt15)、判定工程(ステップSt16)及び表示工程(ステップSt17)を備えている。
この演算のために、記憶部31には、予め、転がり軸受(深溝玉軸受)の特性値である外輪に発生する応力変動の周波数、つまり、転がり軸受の回転による応力発生頻度を示す基本周波数F0を算出するためのプログラム7として、幾何計算に関する関係式(幾何計算式)が記憶されている。基本周波数F0[Hz]を算出するための第1の幾何計算式は、次の式(1)で表される。
そして、演算部40は、仕様情報8が示す値を前記関係式(第1及び第2の幾何計算式)に代入して演算することにより、転がり軸受50の特定部XSに生じる応力発生頻度を示す基本周波数F0[Hz]を算出する。更に、演算部40は、この基本周波数F0[Hz]を整数倍し、高次周波数F1,F2・・・[Hz]を算出する。高次周波数は、基本周波数F0に整数N(Nは、2以上の整数)を乗じることで算出される。
内輪52の回転速度 : fr=1.383[Hz]
外輪51の回転速度 : fd=0[Hz]
転動体(玉)53の平均直径 : DW=7.938(mm)
転動体(玉)53のピッチ円直径 : dm=39(mm)
転動体(玉)53の接触角 : α=0(度)
転動体(玉)53の数 : Q=9(個)
なお、この計算工程(ステップSt21)を、撮像工程(ステップSt11)等と、同じタイミングで行うことができるが、別のタイミングで行ってもよい。すなわち、撮像工程開始前に計算工程を行ってもよい。
これらの要因による特定部XSの温度変化が、ノイズとして第1時系列データP1に含まれることとなる。これらの要因による外輪51の特定部XSの温度変化は、赤外線カメラ21の温度分解能以上となる場合が多い。
これにより、周波数F0,F1,F2の値を含む区画周波数帯Δfのみが残され、それ以外の周波数帯のデータは削除される。なお、第1周波数データS1を区画する前記所定幅(区画周波数帯Δf)は、例えば、0.25〜0.75Hzとすることができる。
以上のように、本実施形態に係る応力計測システム10によって実行される応力計測方法は、転がり軸受50の外輪(測定対象物)51に発生する応力を計測する方法であって、計算工程(ステップSt21)では、外輪51の特定部XSに生じる応力発生頻度を示す基本周波数F0及びこの基本周波数F0の整数倍の高次周波数F1,F2・・・が、幾何計算により求められる。
そして、撮像工程(ステップSt11)では、外輪51が赤外線カメラ21により撮像され、第1変換工程(ステップSt12)では、この赤外線カメラ21により得られた外輪51の特定部XSの温度の時間変化を示す第1時系列データP1をフーリエ変換して周波数毎の信号強度を示す第1周波数データS1が生成される。
フィルタ処理工程(ステップSt13)では、この第1周波数データS1に対してフィルタ処理を行うことにより第2周波数データS2が生成される。
第2変換工程(ステップSt14)では、第2周波数データS2に対して逆フーリエ変換処理を行うことにより外輪51の特定部XSの温度の時間変化を示す第2時系列データP2が生成され、第3変換工程(ステップSt15)では、この第2時系列データP2が、外輪51の特定部XSに発生している応力を示す応力データに変換される。
この結果、転がり軸受50が回転している実用状態において、この転がり軸受50を構成する外輪51にどのような応力が発生しているかを精度よく把握することが可能となり、転がり軸受50の最適設計に貢献できる。
また、外輪51に生じる応力には、その応力に起因する1次成分の他に、高調波成分(高次周波数)が含まれる。従来のロックイン処理は、荷重信号に基づいて応力を算出するため、1次成分のみが考慮された応力の算出であり、高調波成分を考慮した応力の算出が不可能である。
また、フーリエ変換部33及び逆フーリエ変換部35は、FFTや逆FFTとは異なる他の離散型フーリエ変換アルゴリズムを用いた処理を行う構成であってもよい。更に、高速フーリエ変換処理や逆高速フーリエ変換処理が行われる前に、窓関数(例えばハニング窓関数等)を用いた処理が行われてもよい。
また、処理装置30を構成する前記各機能部は、それぞれ専用の集積回路から構成されていてもよい。また、これら機能部の一部を纏めて1つの集積回路から構成してもよい。
30:処理装置 31:記憶部 32:情報取得部
33:フーリエ変換部 34:フィルタ処理部 35:逆フーリエ変換部
36:応力算出部 37:表示処理部 38:入力部
40:演算部 50:転がり軸受 51:外輪(測定対象物)
P1:第1時系列データ P2:第2時系列データ S1:第1周波数データ
S2:第2周波数データ F0:基本周波数
F1,F2:高次周波数
Claims (3)
- 測定対象物に発生する応力を計測する応力計測システムであって、
入力荷重を変動させずに一定速度で回転する前記測定対象物を撮像する赤外線カメラと、前記赤外線カメラにより得られた前記測定対象物の温度の時間変化を示す第1時系列データの処理を行う処理装置と、を備え、
前記処理装置は、
前記第1時系列データに対してフーリエ変換処理して周波数毎の信号強度を示す第1周波数データを生成するフーリエ変換部と、
前記第1周波数データに対してフィルタ処理を行うことにより第2周波数データを生成するフィルタ処理部と、
前記第2周波数データに対して逆フーリエ変換処理を行うことにより前記測定対象物の温度の時間変化を示す第2時系列データを生成する逆フーリエ変換部と、
前記第2時系列データを前記測定対象物に発生している応力を示す応力データに変換する応力算出部と、
を備え、
前記フィルタ処理部は、前記フィルタ処理として、幾何計算により前記測定対象物の物性値として求められた前記測定対象物に生じる応力発生頻度を示す基本周波数及び当該基本周波数の整数倍の高次周波数それぞれに対応する周波数のデータを、前記第1周波数データから抽出する処理を行い、
前記フィルタ処理部は、前記フィルタ処理として、前記幾何計算により求められた前記基本周波数及び前記高次周波数それぞれに対応する周波数以外の周波数のデータの信号強度を低減することにより、当該基本周波数及び当該高次周波数それぞれに対応する周波数のデータを、前記第1周波数データから抽出することを特徴とする応力計測システム。 - 前記幾何計算を実行するためのプログラムが記憶されている記憶部と、
前記基本周波数及び当該基本周波数の整数倍の高次周波数を前記プログラムに基づいて算出する演算部と、を更に備えている請求項1に記載の応力計測システム。 - 測定対象物に発生する応力を計測する応力計測方法であって、
入力荷重を変動させずに一定速度で回転する前記測定対象物に生じる応力発生頻度を示す基本周波数及び当該基本周波数の整数倍の高次周波数を、前記測定対象物の物性値として幾何計算により求める計算工程と、
入力荷重を変動させずに一定速度で回転する前記測定対象物を赤外線カメラにより撮像する撮像工程と、
前記赤外線カメラにより得られた前記測定対象物の温度の時間変化を示す第1時系列データをフーリエ変換して周波数毎の信号強度を示す第1周波数データを生成する第1変換工程と、
前記第1周波数データに対してフィルタ処理を行うことにより第2周波数データを生成するフィルタ処理工程と、
前記第2周波数データに対して逆フーリエ変換処理を行うことにより前記測定対象物の温度の時間変化を示す第2時系列データを生成する第2変換工程と、
前記第2時系列データを前記測定対象物に発生している応力を示す応力データに変換する第3変換工程と、
を備え、
前記フィルタ処理工程では、前記計算工程において求められた前記基本周波数及び前記高次周波数それぞれに対応する周波数のデータを、前記第1周波数データから抽出し、
前記フィルタ処理工程では、前記フィルタ処理として、前記幾何計算により求められた前記基本周波数及び前記高次周波数それぞれに対応する周波数以外の周波数のデータの信号強度を低減することにより、当該基本周波数及び当該高次周波数それぞれに対応する周波数のデータを、前記第1周波数データから抽出することを特徴とする応力計測方法。
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