JP5607426B2 - 放射線検出装置及び放射線撮像システム - Google Patents

放射線検出装置及び放射線撮像システム Download PDF

Info

Publication number
JP5607426B2
JP5607426B2 JP2010123299A JP2010123299A JP5607426B2 JP 5607426 B2 JP5607426 B2 JP 5607426B2 JP 2010123299 A JP2010123299 A JP 2010123299A JP 2010123299 A JP2010123299 A JP 2010123299A JP 5607426 B2 JP5607426 B2 JP 5607426B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor panel
radiation detection
detection apparatus
protective film
scintillator layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010123299A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2011247822A (ja
JP2011247822A5 (enExample
Inventor
和美 長野
岡田　　聡
慶一 野村
陽平 石田
慶人 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2010123299A priority Critical patent/JP5607426B2/ja
Priority to US13/091,521 priority patent/US8653465B2/en
Publication of JP2011247822A publication Critical patent/JP2011247822A/ja
Publication of JP2011247822A5 publication Critical patent/JP2011247822A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5607426B2 publication Critical patent/JP5607426B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2006—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of a scintillator and photodetector which measures the means radiation intensity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
JP2010123299A 2010-05-28 2010-05-28 放射線検出装置及び放射線撮像システム Expired - Fee Related JP5607426B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010123299A JP5607426B2 (ja) 2010-05-28 2010-05-28 放射線検出装置及び放射線撮像システム
US13/091,521 US8653465B2 (en) 2010-05-28 2011-04-21 Radiation detection apparatus and radiation imaging system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010123299A JP5607426B2 (ja) 2010-05-28 2010-05-28 放射線検出装置及び放射線撮像システム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011247822A JP2011247822A (ja) 2011-12-08
JP2011247822A5 JP2011247822A5 (enExample) 2013-05-16
JP5607426B2 true JP5607426B2 (ja) 2014-10-15

Family

ID=45021308

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010123299A Expired - Fee Related JP5607426B2 (ja) 2010-05-28 2010-05-28 放射線検出装置及び放射線撮像システム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8653465B2 (enExample)
JP (1) JP5607426B2 (enExample)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013029384A (ja) 2011-07-27 2013-02-07 Canon Inc 放射線検出装置、その製造方法および放射線検出システム
JP6000680B2 (ja) 2012-06-20 2016-10-05 キヤノン株式会社 放射線検出装置、その製造方法及び撮像システム
JP6071283B2 (ja) 2012-07-04 2017-02-01 キヤノン株式会社 放射線検出装置及びその製造方法
JP6092568B2 (ja) 2012-10-11 2017-03-08 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP2015021752A (ja) 2013-07-16 2015-02-02 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その製造方法及び放射線検査装置
JP6310216B2 (ja) 2013-09-06 2018-04-11 キヤノン株式会社 放射線検出装置及びその製造方法並びに放射線検出システム
JP6671839B2 (ja) 2014-10-07 2020-03-25 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び撮像システム
JP6488635B2 (ja) * 2014-10-23 2019-03-27 コニカミノルタ株式会社 シンチレータパネル及び放射線検出器
JP6576064B2 (ja) 2015-03-18 2019-09-18 キヤノン株式会社 放射線検出装置、放射線撮像システム及び放射線検出装置の製造方法
EP3226038B1 (en) 2016-03-28 2020-05-06 Canon Kabushiki Kaisha Radiation detection apparatus and radiation imaging system
JP6778118B2 (ja) 2017-01-13 2020-10-28 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP6646002B2 (ja) * 2017-03-22 2020-02-14 富士フイルム株式会社 放射線検出器及び放射線画像撮影装置
KR102533078B1 (ko) * 2017-06-16 2023-05-16 삼성디스플레이 주식회사 광학 부재 및 이를 포함하는 표시 장치
WO2019012846A1 (ja) 2017-07-10 2019-01-17 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP7030478B2 (ja) 2017-11-09 2022-03-07 キヤノン株式会社 撮影台および放射線撮影システム
JP7564655B2 (ja) 2020-07-14 2024-10-09 キヤノン株式会社 放射線撮像パネル、放射線撮像装置、放射線撮像システム、および、シンチレータプレート
US11656370B2 (en) 2020-07-27 2023-05-23 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging panel, radiation imaging apparatus, radiation imaging system, method of manufacturing radiation imaging panel, and scintillator plate

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004317167A (ja) * 2003-04-11 2004-11-11 Canon Inc 放射線検出装置
EP1678525A1 (en) 2003-10-22 2006-07-12 Canon Kabushiki Kaisha Radiation detection device, scintillator panel, method of making the same, making apparatus, and radiation image pick-up system
JP4266898B2 (ja) 2004-08-10 2009-05-20 キヤノン株式会社 放射線検出装置とその製造方法および放射線撮像システム
JP4612876B2 (ja) 2004-08-10 2011-01-12 キヤノン株式会社 放射線検出装置、シンチレータパネル、これらの製造方法及び放射線検出システム
JP4208790B2 (ja) 2004-08-10 2009-01-14 キヤノン株式会社 放射線検出装置の製造方法
JP4594188B2 (ja) * 2004-08-10 2010-12-08 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム
US7514686B2 (en) 2004-08-10 2009-04-07 Canon Kabushiki Kaisha Radiation detecting apparatus, scintillator panel, their manufacturing method and radiation detecting system
JP2006058171A (ja) * 2004-08-20 2006-03-02 Fuji Photo Film Co Ltd マンモグラフィ用放射線画像変換パネルおよびその製造方法
JP2007155662A (ja) 2005-12-08 2007-06-21 Canon Inc 放射線検出装置及びそれを用いた放射線撮像システム
JP4921180B2 (ja) 2006-01-25 2012-04-25 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP5004848B2 (ja) 2007-04-18 2012-08-22 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム

Also Published As

Publication number Publication date
US8653465B2 (en) 2014-02-18
JP2011247822A (ja) 2011-12-08
US20110291018A1 (en) 2011-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5607426B2 (ja) 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP4266898B2 (ja) 放射線検出装置とその製造方法および放射線撮像システム
US8648312B2 (en) Radiation detection apparatus, manufacturing method thereof, and radiation detection system
JP6200173B2 (ja) 放射線検出装置及び放射線検出システム
US8704185B2 (en) Radiation detection apparatus, manufacturing method therefor, and radiation imaging system
JP6000680B2 (ja) 放射線検出装置、その製造方法及び撮像システム
US8779369B2 (en) Radiation detection apparatus, scintillator panel, method for manufacturing same and radiation detection system
US9006665B2 (en) Radiation detection apparatus and radiographic system
TWI780129B (zh) 放射線檢測器及放射線圖像攝影裝置
US20110147602A1 (en) Radiographic imaging apparatus, radiographic imaging system, and method of producing radiographic imaging apparatus
JP2001074845A (ja) 半導体装置及びそれを用いた放射線撮像システム
US20120318990A1 (en) Radiation detection panel and radiation imaging apparatus
JP2011137665A (ja) シンチレータパネル及び放射線撮像装置とその製造方法、ならびに放射線撮像システム
JP2006220439A (ja) シンチレータパネル、放射線検出装置及びその製造方法
JP2006189377A (ja) シンチレータパネル、放射線検出装置、及び放射線検出システム
TWI771385B (zh) 放射線檢測器以及放射線圖像攝影裝置
JP4208789B2 (ja) 放射線検出装置、その製造方法、シンチレータパネル、及び放射線検出システム
JP2006052980A (ja) 放射線検出装置
US20140093041A1 (en) Detecting apparatus, radiation detecting system, and method of manufacturing detecting apparatus
JP2004061116A (ja) 放射線検出装置及びシステム
JP6995666B2 (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP6555955B2 (ja) 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP2007057428A (ja) 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP5403848B2 (ja) 放射線検出装置及び放射線検出システム
WO2018124134A1 (ja) 放射線検出器及び放射線画像撮影装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130403

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130403

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131120

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131125

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140110

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140801

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140828

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5607426

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees