JP5590904B2 - 光学機器 - Google Patents

Description

本発明は、光学的な像振れ補正機能を有する光学機器に関する。

カメラや交換レンズ等の光学機器には、手振れ等の振れに起因する像振れを低減するために、角速度センサ等の振れ検出器によって検出した振れに応じて撮影レンズの一部を構成する光学ユニットをシフトさせる像振れ補正機能（防振機能）が搭載されている。

このような像振れ補正機能を使用しない場合は、光学ユニット（以下、シフトユニットという）が不用意にシフトして、周辺の部材と衝突したり撮影レンズの性能を低下させたりすることを防止するため、シフトユニットを所定位置に保持しておく必要がある。シフトユニットの保持には、光学機器の省電力を考慮して、シフトユニットのシフトを機械的に制限するロック機構が用いられることが多い。

ロック機構は、シフトユニットに係合又は当接することで該シフトユニットの所定位置からの変位を制限するロック部材と、該ロック部材をロック位置（ロック状態）とロック解除位置（アンロック状態）との間で動作させるアクチュエータとにより構成される。そして、光学機器に設けられた像振れ補正機能のＯＮ／ＯＦＦスイッチ、撮影開始スイッチ、電源ボタン等の操作部材の操作に応じてアクチュエータが駆動され、ロック機構がロック状態とアンロック状態との間で自動的に切り替えられる。

このようなロック機構には、製造誤差を吸収するとともに動作の信頼性を向上させるために、ある程度のガタが設けられている。このため、ロック機構がロック状態にあるときでも、そのガタの範囲内でのみシフトユニットの変位が許容される。

シフトユニットの光軸位置とロック機構のガタ範囲の中心位置とが一致するように設定するのが理想であるが、実際には、製造誤差等の理由によって、シフトユニットの光軸位置とロック機構のガタ範囲の中心位置とがずれることが多い。この場合のずれ量は個々の光学機器で異なるため、各光学機器の製造時に、ロック状態のシフトユニットの光軸位置をロック機構のガタ範囲の中心位置に一致させるような調整を行えばよい。

ところが、シフトユニットのシフト駆動には重力が影響する。つまり、シフトユニットの光軸位置をロック機構のガタ範囲の中心位置に一致させるようにアクチュエータへの通電を行っても、重力の影響によってシフトユニットの光軸位置がガタ範囲の中心位置からずれた位置までしかシフトユニットがシフトしないことがある。このときのずれ量は、ロック機構のガタ範囲を超える場合もある。この場合、シフトユニットの位置がロック状態とアンロック状態との間で動作するロック部材に干渉する位置となる。この結果、ロック部材の動作に伴ってシフトユニットが変位したり、ロック機構のロック状態やアンロック状態への動作が正常に行われなかったりする可能性がある。

これと同様の問題は、光学機器の状態変化に伴うアクチュエータへの通電電圧の低下や、温度変化によってロック部材が変形（膨張、収縮）することによるガタ範囲の変化によっても生じる。

特許文献１には、アクチュエータによりロック部材を動作させるロック機構において、ロック機構の動作が正常に行われなかった場合は、アクチュエータの駆動力を上げるようにその駆動条件を変えてアクチュエータを再駆動する光学機器が開示されている。

特許第３１８８３２１号公報

しかしながら、特許文献１にて開示されたようにアクチュエータの駆動力を上げて再駆動しても、ロック機構の正常動作が回復しない可能性がある。また、アクチュエータの駆動力を上げて強制的にロック機構を正常な状態に移行させようとすることで、シフトユニットの良好な動作特性が損なわれたり、アクチュエータへの通電量の増加によって消費電力が大きくなったりする。

本発明は、アクチュエータの駆動力を上げることなくロック機構の動作の信頼性を向上させることができるようにした光学機器を提供する。

本発明の一側面としての光学機器は、像振れを低減するためにシフト可能な光学ユニットと、該光学ユニットをシフトさせる第１のアクチュエータと、光学ユニットのシフトを制限するロック状態と該制限を解除するアンロック状態とに動作可能なロック機構と、該ロック機構をロック状態とアンロック状態との間で動作させる第２のアクチュエータと、ロック機構がロック状態にあるかアンロック状態にあるかを検出する状態検出器と、光学ユニットの位置が目標位置になるように第１のアクチュエータを駆動した後、第２のアクチュエータを駆動するコントローラとを有する。そして、コントローラは、ロック機構をロック状態およびアンロック状態のうち目標状態に動作させるように第２のアクチュエータを駆動した後、状態検出器による検出結果によってロック機構が目標状態にないと判別したときは、目標位置を変更して第１のアクチュエータを駆動した後、ロック機構を目標状態に動作させるように第２のアクチュエータを再駆動することを特徴とする。

本発明では、ロック機構が正常に動作しないと判別したときは、光学ユニットのシフト方向の位置を変更させるように第１のアクチュエータを駆動してから再度ロック機構を動作させるように第２のアクチュエータを駆動する。このため、本発明によれば、第２のアクチュエータの駆動力を上げることなくロック機構の動作の信頼性を向上させることができる。

本発明の実施例における像振れ補正ユニットの構成を示す分解斜視図。 実施例のカメラの側面図。 実施例のカメラの上面図。 実施例のカメラにおける像振れ補正システムの構成を示すブロック図。 実施例の像振れ補正システムの動作を示すフローチャート。 実施例の像振れ補正システムのアンロック動作を示すフローチャート。 実施例におけるロック機構のガタ範囲を説明する図。 実施例におけるロック機構の別のガタ範囲を説明する図。

以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明する。

図２および図３には、本発明の実施例である交換レンズ（光学機器）を含む一眼レフカメラシステムの構成を示している。これらの図において、２０２は一眼レフカメラ本体であり、２０１は該カメラ本体に着脱可能な交換レンズである。

２０３は交換レンズ２０１内に設けられたコントローラとしてのレンズ制御用ＣＰＵ（以下、レンズマイコンという）であり、２０４はカメラ本体２０２内に設けられたカメラ制御用ＣＰＵ（以下、カメラマイコンという）である。これらマイコン２０３，２０４は、マウント部を介して互いに通信を行う。

交換レンズ２０１において、２０５，２０６は交換レンズ２０１に加わったヨー方向およびピッチ方向の振れを検出するための振れ検出器としての角速度センサである。２０７は光学的に像振れを補正するために、光学ユニットを光軸に直交する方向にシフトさせる像振れ補正ユニットである。光学ユニットは、撮影光学系の一部を構成するシフトレンズと、該シフトレンズを保持するレンズ保持部材とを含む。像振れ補正ユニット２０７の具体的な構成については後述する。

２１５は光軸方向に移動して焦点調節を行うフォーカスレンズであり、２１６は光量調節を行う絞りユニットである。フォーカスレンズ２１５、シフトレンズ、絞りユニット２１６および図示しない他のレンズによって撮影光学系が構成される。

一方、カメラ本体２０２において、２０８はクイックリターンミラーであり、２０９はアップ動作したクイックリターンミラー２０８の動きを静止させるためのストッパである。２１０はシャッタ先幕であり、２１１はシャッタ後幕である。２１２は撮影光学系によって形成された被写体像を電気信号に変換するＣＣＤセンサやＣＭＯＳセンサ等の撮像素子である。

２１３はクイックリターンミラー２０８で反射した光（被写体像）をファインダ２１４に導くためのペンタプリズムである。

また、図３において、２１７は撮影（オートフォーカス動作、測光動作および撮像動作）を開始させるためのレリーズスイッチ、２１８はカメラシステムの電源をＯＮ／ＯＦＦするための電源スイッチである。

このように構成されたカメラシステムにおいて、電源スイッチ２１８がＯＮになると、カメラマイコン２０４およびレンズマイコン２０３が起動し、撮影可能状態に移行する。レリーズスイッチ２１７が半押し操作されると、不図示のＡＦセンサにより撮影光学系の焦点状態が検出され、該検出結果に応じてカメラマイコン２０４およびレンズマイコン２０３によるオートフォーカス動作が行われる。また、不図示の測光センサを用いた測光動作も行われ、カメラマイコン２０４は、測光結果に基づいてシャッタ速度や絞り値を演算する。さらに、レリーズスイッチ２１７が半押し操作されることに応じて、レンズマイコン２０３は、像振れ補正ユニット２０７の制御を開始する。像振れ補正ユニット２０７の制御については後述する。

続いてレリーズスイッチ２１７が全押し操作されると、カメラマイコン２０４は、レンズマイコン２０３を通じて絞りユニット２１６を演算した絞り値に駆動させ、クイックリターンミラー２０８をアップ動作させる。そして、シャッタ先幕２１０およびシャッタ後幕２１１を開閉動作させて撮像素子２１２を露光する。被写体像を光電変換した撮像素子２１２からの電気信号は、カメラマイコン２０４内の画像処理回路にて各種処理を受けることにより、撮影画像データが生成される。

図１には、像振れ補正ユニット２０７の構成を示している。この像振れ補正ユニット２０７では、シフトレンズ２を光軸に直交し、かつ互いに直交するピッチ方向（垂直方向）ｐおよびヨー方向（水平方向）ｙにシフトさせて像振れを低減（補正）する。

１はシフトレンズ２を保持するレンズ保持枠（レンズ保持部材）である。以下、シフトレンズ２とレンズ保持枠１とを合わせてシフトユニットともいう。

レンズ保持枠１の外周には３本のピン３が取り付けられている。３本のピン３がシフトベース７に形成された長穴部に挿入されることにより、シフトユニットは、シフトベース７によってピッチ方向ｐおよびヨー方向ｙにシフト可能に保持されるとともに、光軸方向への変位が阻止される。また、レンズ保持枠１がローリング止め部材４に形成されたピン部に係合することで、シフトユニットの光軸回りでの回転が阻止される。

シフトユニットのピッチ方向ｐへのシフト駆動に関する構成とヨー方向ｙへのシフト駆動に関する構成は同じであるので、以下ではピッチ方向ｐへのシフト駆動に関する構成を中心に説明する。なお、図１中の符号に付されたｐ，ｙはそれぞれ、その構成要素がピッチ方向およびヨー方向へのシフト駆動に関するものであることを示す。

レンズ保持枠１には、ヨーク５ｐと永久磁石６ｐにより構成される磁気回路が固定されている。一方、シフトベース７には、コイル８ｐが取り付けられている。コイル８ｐに通電することにより、コイル８ｐと永久磁石６ｐとの間に電磁力が発生し、該電磁力によってシフトユニットはピッチ方向ｐにシフト駆動される。コイル８ｐ、永久磁石６ｐおよびヨーク５ｐにより、シフトアクチュエータとしてのボイスコイルモータ（第１のアクチュエータ）が構成される。

また、レンズ保持枠１には、ターゲット９ｐが設けられており、該ターゲット９ｐと対向したシフト基板１０上にはフォトリフレクタ１１ｐが設けられている。フォトリフレクタ１１ｐから射出された近赤外光は、ターゲット９ｐ上に形成されたパターン上に投射される。ターゲット９ｐ上のパターンは、近赤外光の入射位置によって反射率が異なるように形成されているので、フォトリフレクタ１１ｐはパターンからの反射光量に応じた信号を出力する。レンズマイコン２０３は、フォトリフレクタ１１ｐからの信号によってシフトユニットの位置（シフト位置）を検出することができる。

レンズマイコン２０３は、フォトリフレクタ１１ｐの出力を増幅して不図示の駆動回路を通じてコイル８ｐに入力する。これにより、シフトユニットがシフト駆動されてフォトリフレクタ１１ｐの出力が変化する。これは閉じた系になり、フォトリフレクタ１１ｐの出力がゼロになる中立点で安定する。中立点は、像振れ補正ユニット２０７におけるシフトユニットの中心位置である。

この後、レンズマイコン２０３は、前述した角速度センサ２０５からの信号を積分して得られる振れ量（および振れ方向）に対応するシフトユニットのシフト駆動量を演算する。そして、フォトリフレクタ１１ｐによって得られるシフトユニットのシフト位置の変化量がシフト駆動量に一致するようにコイル８ｐに通電することにより、シフトユニットが振れ量に応じた位置にシフト駆動され、撮像素子２１２上での像振れを抑制する。

次に、像振れ補正ユニット２０７に設けられたロック機構について説明する。シフトベース７には、ロック／アンロック駆動用のステッピングモータ（第２のアクチュエータ）１２が取り付けられている。

前述したようにコイル８ｐへの通電によってシフトユニットを中心位置（中立点）に位置させた状態でステッピングモータ１２によりロックリング（ロック部材）１３をロック位置に回転させる。これにより、レンズ保持枠１に設けられた凸部１４がロックリング１３に形成された凹部１５に隣り合う部分に係合（当接）し、レンズ保持枠１のピッチ方向およびヨー方向のシフトが制限される。この状態を、ロック状態といい、ステッピングモータ１２によってロックリング１３を後述するアンロック位置からロック位置に回転（動作）させてロック状態にすることをロックリング１３またはロック機構のロック駆動という。

ロック状態となった後は、コイル８ｐへの通電がカットされるため、シフトユニットは、ロックリング１３とシフトユニットとの間に設けられたガタ（これについては後述する）の分だけ、重力によって下動した位置にて保持される。なお、このときの下動量はわずかであり、撮影光学系の光学性能には影響しない大きさである。

このようなロック状態を解除する際には、コイル８ｐへの通電によってシフトユニットを中心位置にシフトさせ、ステッピングモータ１２によりロックリング１３をロック駆動時とは逆の方向に回転させる。これにより、レンズ保持枠１に設けられた凸部１４とロックリング１３に形成された凹部１５とが同じ位相となり、凸部１４と凹部１５との間に形成されるスペース内でのシフトユニットのシフトが可能となる。この状態を、アンロック状態といい、ステッピングモータ１２によってロックリング１３をロック位置からアンロック位置に回転（動作）させてアンロック状態にすることをロックリング１３またはロック機構のアンロック駆動という。

図４には、図２および図３に示した一眼レフカメラシステムにおける像振れ補正ユニットの制御に関連する構成を示している。

像振れ補正ユニット２０７において、４０９は前述したシフトアクチュエータとしてのボイスコイルモータである。４１０は前述したように像振れ補正のためにシフト可能なシフトユニットである。４０３はステッピングモータ１２およびロックリング１３を含み、ロック状態とアンロック状態との間で動作可能なロック機構である。４１１はフォトリフレクタ１１ｐとターゲット９ｐに形成されたパターンとにより構成されるシフト位置検出部である。４０４はロック機構４０３がロック状態にあるかアンロック状態にあるかを検出して信号を出力する状態検出器である。

また、レンズマイコン２０３において、４０１はカメラマイコン２０４と通信を行うための通信制御部である。４０２はステッピングモータ１２を制御してロック機構４０３のロック駆動およびアンロック駆動を行わせるロック駆動制御部である。

４０７は補正量演算部であり、角速度センサ２０６からの信号を増幅および積分して振れ量を算出し、さらに該振れ量に対応するシフトユニットのシフト駆動量（補正量）を演算する。４０８は振れ補正制御部であり、シフト位置検出部４１１から得られるシフトユニットのシフト位置の変化量が、補正量演算部４０７で演算されたシフト駆動量に一致するようにボイスコイルモータ４０９のコイル８ｐに通電する。

４０５は状態検出器４０４からの出力がロック状態とアンロック状態のうちいずれを示すかを判別する判別部である。４０６は判別部４０５での判別結果に応じて、ロック駆動およびアンロック駆動におけるシフトユニット４１０の目標位置（制御上の中心位置）を変更する補正駆動量変更部である。

次に、図５のフローチャートを用いて像振れ補正に関する処理を説明する。像振れ補正制御は、レンズマイコン２０３がコンピュータプログラムに従って実行する。

ステップＳ５０１では、レンズマイコン２０３は、レリーズスイッチ２１７が半押し操作（ＳＷ１ ＯＮ）されたか否かを判別する。この時点では、ロック機構４０３はロック状態にある。レリーズスイッチ２１７が半押し操作されたときはステップＳ５０２に進み、半押し操作されていないときはステップＳ５０１を繰り返す。

ステップＳ５０２では、レンズマイコン２０３は、像振れ補正ユニットの動作に用いる電圧（振れ補正用電圧）をチェックする。

そして、ステップＳ５０３では、レンズマイコン２０３は、チェックした振れ補正用電圧が所定レベル以上であるか否かを判定し、所定レベル以上であるときはステップＳ５０４に進む。振れ補正用電圧が所定レベルより低いときは、像振れ補正ユニットを動作させることなく本制御を終了する。

ステップＳ５０４では、レンズマイコン２０３は、ロック機構４０３のアンロック駆動のための処理を行う。ここでの詳細な処理の内容は、図６を用いて後述する。

そして、ステップＳ５０５では、レンズマイコン２０３は、状態検出器４０４からの信号に基づいてロック機構４０３がアンロック状態になったか否かを判別する。ロック機構４０３がアンロック状態になっていればステップＳ５０６に進み、アンロック状態になっていなければロック状態を解除できないとみなして像振れ補正ユニットを動作させることなく本制御を終了する。

ステップＳ５０６では、レンズマイコン２０３（振れ補正制御部４０８）は、補正量演算部４０７で演算されたシフト駆動量とシフト位置検出部４１１により検出されたシフトユニット４１０のシフト位置の情報とを用いてボイスコイルモータ４０９を制御する。こうして、像振れ補正制御を行う。

その後、ステップＳ５０７で、レンズマイコン２０３は、レリーズスイッチ２１７の半押し操作が解除（ＳＷ１ ＯＦＦ）されたか否かを判別する。該半押し操作が解除されたときはステップＳ５０８に進み、半押し操作が解除されていないときはステップＳ５０７の判別を繰り返す。

ステップＳ５０８では、レンズマイコン２０３は、振れ補正制御を終了する。そして、ステップＳ５０９において、ロック機構４０３をロック駆動させるための処理を行わせる。

次に、図６のフローチャートおよび図７を用いて、図５のステップＳ５０４でレンズマイコン２０３が行うロック機構４０３のアンロック駆動処理について説明する。

図７（ａ）には、通常のロック状態におけるロックリング１３とシフトユニット４１０との間のガタを模式的に示している。実線の枠がガタの範囲を示す。Ｐ０（Ｘ０，Ｙ０）は、シフト位置検出部４１１によって検出されるシフトユニット４１０の中立点であり、通常の状態でのガタ範囲の中心位置にも相当する。なお、座標（Ｘ０，Ｙ０）において、Ｘ０はピッチ方向（ここではｘ）での位置を、Ｙ０はヨー方向ｙでの位置をそれぞれ示す。他の座標も同じである。

ここでは、図の下向きに重力が作用している状態を想定しており、ロック状態（かつボイスコイルモータ４０９への通電がカットされた状態）では、シフトユニット４１０は重力によってガタ範囲の下端位置Ｐ１（Ｘ，Ｙ）に位置する。

このロック状態からアンロック駆動する際には、前述したように、まずシフトユニット４１０を中心位置Ｐ０にセンタリングするようにボイスコイルモータ４０９に通電する。ここでは、重力の影響を打ち消すために、シフトユニット４１０の目標センタリング位置（目標位置）をＰ２に設定する。これにより、シフトユニットは、重力にかかわらず中心位置Ｐ０にシフトされる。この場合、ロックリング１３をスムーズにロック位置からアンロック位置に回転させることができ、ロック機構をアンロック状態とすることができる。

しかし、図７（ｂ）に示すように、製造誤差や温度変化によって部材が変形（膨張、収縮）することで、シフト位置検出部４１１によって検出される中心位置Ｐ０が、ガタ範囲の外側（下端位置Ｐ１よりも下側）に位置する場合がある。この場合、シフトユニット４１０を中心位置Ｐ０にセンタリングするようにボイスコイルモータ４０９に通電しても、シフトユニット４１０をガタ範囲の下端位置Ｐ１より下方にシフトさせることができない。しかも、シフトユニット４１０がロックリング１３に強く干渉する（押圧される）結果、ロックリング１３のアンロック位置への回転を妨げ、アンロック駆動を正常に行えない。

このような状況を回避するために、本実施例では、シフトユニット４１０の目標センタリング位置をＰ０からＰ３に変更する。

図６のステップＳ６０１において、レンズマイコン２０３は、シフト位置検出部４１１からの信号を通じてシフトユニット４１０の位置を検出する。なお、以下の説明では、図７中のｙ方向についてのみ説明する。ｘ方向についてはｙ方向と同様である。

次に、ステップＳ６０２では、レンズマイコン２０３は、ステップＳ６０１で検出したシフトユニット４１０の位置の目標センタリング位置からのずれ量を算出する。具体的には図７（ａ）に示す中心位置Ｐ０（Ｙｔ）とシフトユニット４１０の位置Ｐ１（Ｙ）との差であるΔＹを求める。

次にステップＳ６０３において、レンズマイコン２０３は、ΔＹが所定値αより小さいか否かを判別する。所定値αは、図７（ａ）中に点線で示した範囲を示す値であり、ΔＹが所定値αより小さければ、シフトユニット４１０がガタ範囲のほぼ中心位置に存在するとみなすことができる。ΔＹ＜±αの場合はステップＳ６０４に進み、ΔＹ≧±αの場合はステップＳ６０５に進む。なお、±は中心位置Ｐ０とシフトユニット４１０の位置Ｐ１とのずれの方向に対応している。

ステップＳ６０４では、レンズマイコン２０３は、シフトユニットのセンタリングが重力の影響を受けていないとして、目標センタリング位置ＹｔをＹｔ＝Ｙ０と設定する。そして、ステップＳ６０６に進む。

一方、ステップＳ６０５では、レンズマイコン２０３は、シフトユニットのセンタリングが重力の影響を受けているとして、該重力を打ち消すために、目標センタリング位置ＹｔをＹｔ＝Ｙ０±Ａに設定する。Ａは目標センタリング位置の補正量（補正駆動量）である。Ｙ０に対してＡを足すか引くかは中心位置Ｐ０に対する位置Ｐ１の方向による。位置Ｐ１が中心位置Ｐ０から負の方向にある図７（ａ）の例では、Ｙｔ＝Ｙ０＋Ａとする。この位置はＰ２の位置に相当する。そして、ステップＳ６０６に進む。

ステップＳ６０６では、レンズマイコン２０３は、シフトユニット４１０を設定した目標センタリング位置にシフトさせる。

そして、ステップＳ６０７では、レンズマイコン２０３（ロック駆動制御部４０２）は、ステッピングモータ１２を駆動してロック機構４０３のアンロック駆動を行わせる。

その後、ステップＳ６０８では、レンズマイコン２０３（判別部４０５）は、状態検出器４０４を通じてロック機構４０３がアンロック状態になったか否かを判別する。アンロック状態と判別した場合は、アンロック駆動が正常に行われたので、本処理を終了する。

一方、アンロック状態になっていないと判別した場合は、アンロック駆動が正常に行われていないとして、ステップＳ６０９に進む。

ステップＳ６０９では、レンズマイコン２０３（補正駆動量変更部４０６）は、目標センタリング位置を変更するための処理を行う。具体的には、補正駆動量Ａをより大きくするために、Ａに所定値ΔＡを加算する。

そして、ステップＳ６０５に戻ったレンズマイコン２０３は、目標センタリング位置（Ｙｔ＝Ｙ０＋Ａ）を再設定する。再設定された目標センタリング位置は、補正駆動量Ａがもとの補正駆動量Ａに所定値ΔＡが加算された値であるので、もとの目標センタリング位置に対して変更されたものとなる。具体的には、図７（ａ）に示した位置Ｐ２から図７（ｂ）に示した位置Ｐ３に変更される。

こうして目標センタリング位置を再設定（変更）した後、ステップＳ６０６に進んだレンズマイコン２０３は、シフトユニット４１０を新たな目標センタリング位置にシフトさせ、ステップＳ６０７でロック機構４０３のアンロック再駆動を行わせる。ステップＳ６０８でロック機構４０３がアンロック状態になったと判別した場合は本処理を終了する。アンロック状態になっていないと判別した場合は、再びステップＳ６０９，Ｓ６０５での目標センタリング位置の変更およびステップＳ６０６，６０７でのセンタリング再駆動およびアンロック再駆動を繰り返す。

なお、フローチャートとしては示していないが、図５のステップＳ５０９で行うロック駆動処理においても、シフトユニット４１０をセンタリングしてからロック機構４０３にロック駆動を行わせる。このとき、目標センタリング位置にシフトされた状態のシフトユニット４１０とロックリング１３との干渉によって正常にロック状態（目標状態）にならない場合は、補正駆動量Ａを変更することで目標センタリング位置を変更し、ロック再駆動を行う。このようにして正常なロック駆動を確保する。

図８には、図７（ｂ）とは異なる方向に製造誤差や温度変化による部材の変形が生じた場合を模式的に示している。この例では、重力は−ｙ方向（図の下方）に作用している。また、シフト位置検出部４１１により検出されるシフトユニット４１０の中立点Ｐ０はガタ範囲のｘ方向の外側に位置する。

このような場合、シフトユニット４１０の目標センタリング位置をｙ方向（第１の方向）に補正すると、シフトユニット４１０をガタ範囲の中心位置付近にシフトさせることができず、シフトユニット４１０はロックリング１３に干渉する。この結果、アンロック駆動を正常に行えない。

これを回避するためには、シフトユニット４１０の目標センタリング位置をＰ４にｘ方向（第２の方向）に補正する。すなわち、重力の作用方向とは異なる（直交する）方向に目標センタリング位置を補正すればよい。

具体的には、図６での目標センタリング位置の変更とアンロック再駆動を所定回数行ってもロック機構４０３がアンロック状態にならない場合等に、ステップＳ６０５において目標センタリング位置の補正方向をｙ方向からｘ方向に変更すればよい。

以上説明したように、本実施例では、ロック機構が正常に駆動できない場合には、シフトユニットの目標センタリング位置を変更し、該目標センタリング位置にシフトユニットをシフトさせた後に、ロック機構の再駆動を行う。これにより、ロック機構を駆動するアクチュエータの駆動力を増加させることなく、ロック機構の動作の信頼性を向上させることができる。

以上説明した各実施例は代表的な例にすぎず、本発明の実施に際しては、各実施例に対して種々の変形や変更が可能である。

像振れ補正ユニットのロック機構の動作の信頼性が高い光学機器を提供できる。

１ レンズ保持枠
２ シフトレンズ
８ｐ，８ｙ コイル
１２ ステッピングモータ
１３ ロックリング

Claims (5)

1. 像振れを低減するためにシフト可能な光学ユニットと、
   該光学ユニットをシフトさせる第１のアクチュエータと、
   前記光学ユニットのシフトを制限するロック状態と該制限を解除するアンロック状態とに動作可能なロック機構と、
   該ロック機構を前記ロック状態と前記アンロック状態との間で動作させる第２のアクチュエータと、
   前記ロック機構が前記ロック状態にあるか前記アンロック状態にあるかを検出する状態検出器と、
   前記光学ユニットの位置が目標位置になるように前記第１のアクチュエータを駆動した後、前記第２のアクチュエータを駆動するコントローラとを有し、
   前記コントローラは、
   前記ロック機構を前記ロック状態および前記アンロック状態のうち目標状態に動作させるように前記第２のアクチュエータを駆動した後、前記状態検出器による検出結果によって前記ロック機構が前記目標状態にないと判別したときは、前記目標位置を変更して前記第１のアクチュエータを駆動した後、前記ロック機構を前記目標状態に動作させるように前記第２のアクチュエータを再駆動することを特徴とする光学機器。
2. 前記コントローラは、前記光学ユニットを第１の方向へ駆動するように前記第１のアクチュエータを駆動してから、前記第２のアクチュエータの再駆動を行っても、前記ロック機構が前記目標状態にならないときは、前記光学ユニットを前記第１の方向にさらに駆動するように前記第１のアクチュエータを駆動してから前記第２のアクチュエータを再駆動することを特徴とする請求項１に記載の光学機器。
3. 前記コントローラは、前記光学ユニットを第１の方向へ駆動する前記第１のアクチュエータの駆動と、前記第２のアクチュエータの再駆動を所定回数行っても、前記ロック機構が前記目標状態にならないときは、前記光学ユニットを前記第１の方向とは異なる第２の方向に駆動するように前記第１のアクチュエータを駆動してから前記第２のアクチュエータを再駆動することを特徴とする請求項１または２に記載の光学機器。
4. 前記第１の方向が重力方向であることを特徴とする請求項２または３に記載の光学機器。
5. 前記光学ユニットの位置を検出する位置検出部をさらに有し、該位置検出部によって検出された前記光学ユニットの位置が、前記光学ユニットのガタ範囲の外側にあるときは、前記目標位置を変更することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光学機器。