JP5590000B2 - ポリシリコン膜の膜厚評価方法 - Google Patents
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Description
ポリシリコン膜を有する試験用シリコンウエーハを2枚以上準備し、それぞれの前記試験用シリコンウエーハのポリシリコン膜に対して、膜厚測定とX線回折測定法により回折面からの回折強度測定とを行い、所定の換算係数を用いて前記測定された回折強度を前記測定された膜厚に換算する換算式を求める換算式算出工程と、
その後、前記シリコンウエーハ上の膜厚が未知のポリシリコン膜に対してX線回折測定法により回折面からの回折強度測定を行い、該測定された回折強度に基づいて前記換算式により前記シリコンウエーハ上のポリシリコン膜の膜厚を算出する膜厚算出工程とを有することを特徴とするポリシリコン膜の膜厚評価方法を提供する。
前記膜厚算出工程において、シリコンウエーハ上のポリシリコン膜に対してX線回折測定法により前記3種の回折面からの回折強度測定を行うことが好ましい。
前記膜厚算出工程におけるシリコンウエーハが(110)面のシリコンウエーハの場合は、回折強度が測定される3種の回折面は(111)面、(311)面、及び(400)面であり、又は
前記膜厚算出工程におけるシリコンウエーハが(111)面のシリコンウエーハの場合は、回折強度が測定される3種の回折面は(220)面、(311)面、及び(400)面であることが好ましい。
前記膜厚算出工程において、選択された換算式を用いることが好ましい。
換算回折強度=回折面からの回折強度×所定の換算係数 式(1)
換算回折強度の合計値=回折面Aの換算回折強度+回折面Bの換算回折強度+回折面Cの換算回折強度 式(2)
(式(2)中、回折面A〜Cは回折強度が測定された3種の回折面を示す。)
膜厚=D×換算回折強度の合計値+E 式(3)
(式(3)中、D、Eは換算回折強度の合計値を膜厚に1次近似させたときに得られる係数と定数である。)
膜厚=D×{回折面Aの回折強度×換算係数a+回折面Bの回折強度×換算係数b+回折面Cの回折強度×換算係数c}+E (4)
(式(4)中、換算係数a〜cはそれぞれ回折面A〜Cの所定の換算係数を示す。また、D、Eは前記同様である。)
厚さ1.48〜2.22μmのポリシリコン膜が付いた(100)シリコンウェーハ(24水準)を用意し、サンプル1〜8は1050℃で60分の熱処理を施し、サンプル9〜16は1150℃で60分の熱処理を施し、サンプル17〜24は1150℃で120分の熱処理を施した。これらの配向性は熱処理を施した後で異なっている。例えば、(220)配向性は熱処理後のサンプル間で9〜90%までの差がある。
膜厚=7.036E−6×換算回折強度の合計値+1.165 (5)
膜厚=7.036E−6×{(111)面の回折強度×0.67+(220)面の回折強度×2.86+(311)面の回折強度×44.0}+1.165 (6)
Claims (4)
- シリコンウエーハ上のポリシリコン膜の膜厚を評価する方法であって、
ポリシリコン膜を有する試験用シリコンウエーハを2枚以上準備し、それぞれの前記試験用シリコンウエーハのポリシリコン膜に対して、膜厚測定とX線回折測定法により回折面からの回折強度測定とを行い、所定の換算係数を用いて前記測定された回折強度を前記測定された膜厚に換算する換算式を求める換算式算出工程と、
その後、前記シリコンウエーハ上の膜厚が未知のポリシリコン膜に対してX線回折測定法により回折面からの回折強度測定を行い、該測定された回折強度に基づいて前記換算式により前記シリコンウエーハ上のポリシリコン膜の膜厚を算出する膜厚算出工程とを有し、
前記換算式算出工程において、前記試験用シリコンウエーハのポリシリコン膜に対してX線回折測定法により3種の回折面からの回折強度測定を行い、該各回折面の回折強度に対して前記所定の換算係数を掛ける各回折面の換算回折強度の算出、該各回折面の換算回折強度を足し合わせる換算回折強度の合計値の算出、及び該換算回折強度の合計値の前記ポリシリコン膜の膜厚への換算を行う前記換算式を求め、
前記膜厚算出工程において、前記シリコンウエーハ上のポリシリコン膜に対してX線回折測定法により前記3種の回折面からの回折強度測定を行うことを特徴とするポリシリコン膜の膜厚評価方法。 - 前記膜厚算出工程における前記シリコンウエーハが(100)面のシリコンウエーハの場合は、回折強度が測定される前記3種の回折面は(111)面、(220)面、及び(311)面であり、
前記膜厚算出工程における前記シリコンウエーハが(110)面のシリコンウエーハの場合は、回折強度が測定される前記3種の回折面は(111)面、(311)面、及び(400)面であり、又は
前記膜厚算出工程における前記シリコンウエーハが(111)面のシリコンウエーハの場合は、回折強度が測定される前記3種の回折面は(220)面、(311)面、及び(400)面であることを特徴とする請求項1に記載のポリシリコン膜の膜厚測定方法。 - 前記換算式算出工程において、2つ以上の前記換算係数を用いて2つ以上の前記換算式を算出し、該換算式により算出された前記試験用シリコンウエーハのポリシリコン膜の膜厚と前記膜厚測定で測定された前記試験用シリコンウエーハのポリシリコン膜の膜厚との相関関係が最も高くなる換算式を選択し、
前記膜厚算出工程において、前記選択された換算式を用いることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のポリシリコン膜の膜厚測定方法。 - 前記膜厚算出工程において、前記ポリシリコン膜の2以上の点で膜厚を算出することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載のポリシリコン膜の膜厚測定方法。
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