JP5570403B2 - 測定装置および信号状態特定方法 - Google Patents

Description

本発明は、入力した複数の交流信号の信号状態を特定する測定装置および信号状態特定方法に関するものである。

この種の測定装置として、特開２００５−３３７９８０号公報において出願人が開示した交流信号測定装置が知られている。この交流信号測定装置は、フィルタ部、検出信号生成部、周波数測定部、周波数算出部、クロック生成部、Ａ／Ｄ変換部および信号処理部などを備えて、入力した交流信号についての物理量を測定する。この場合、フィルタ部は、入力した交流信号に含まれているノイズ成分を除去し、検出信号生成部は、交流信号のゼロクロスを検出して検出信号を出力する。周波数測定部は、交流信号の各周期の期首を示す検出信号から期末を示す検出信号までの時間を計測し、その時間に基づいて交流信号の周波数を測定して周波数データを出力する。周波数算出部は、周波数データに基づいてサンプリング周波数を算出してサンプリング周波数を示す設定データを出力する。クロック生成部は、設定データで示される周波数のサンプリングクロックを生成する。Ａ／Ｄ変換部は、サンプリングクロックに同期して交流信号をサンプリングしてデジタルデータを出力し、信号処理部は、デジタルデータに基づいて交流信号の物理量（例えば、電圧の実効値）を測定する測定処理を実行する。

特開２００５−３３７９８０号公報（第４−６頁、第１−２図）

ところが、上記した従来の交流信号測定装置には、改善すべき以下の課題がある。すなわち、上記の交流信号測定装置を含むこの種の測定装置では、例えば、複数の交流信号を入力して測定処理を行う複数チャンネルの構成とした場合においては、一般的に、チャンネル毎に異なる記憶領域が記憶部に設けられ、各記憶領域に各チャンネルのデジタルデータが記憶される。また、このような構成において、各チャンネルのデジタルデータを用いてディップ、スウェルおよび瞬停などのイベント（事象）の発生を、各交流信号のゼロクロスによって区分される半周期毎に検出する機能をさらに備えた構成では、図５に示すように、一般的に、検出したイベントを示すイベント情報も、チャンネル毎に設けられた各記憶領域にチャンネル毎に別々に記憶される。なお、同図および後述する図６では、イベントが発生したことを示す「ＩＮ」のイベント情報と、イベントが発生していないことを示す「ＯＵＴ」のイベント情報が、３つのチャンネル毎に設けた３つの記憶領域にそれぞれ記憶されている状態を図示する。

一方、三相の交流電圧信号のように、周波数が互いに等しくかつ位相が互いに異なる複数の交流信号を入力して各交流信号の信号状態を特定してその結果から各交流信号の品質の良否を評価する評価方法が知られている。この評価方法では、例えば、ディップおよびスウェルについては、図５，６に示すように、３つの交流信号の１つ以上において発生した状態を第１の信号状態と特定し、３つの交流信号のいずれにおいても発生していない状態を第２の信号状態と特定する（両図では、第１の信号状態を「第１」と記載し、第２の信号状態を「第２」と記載する）。また、瞬停については、３つの交流信号の全てにおいて発生した状態を第３の信号状態と特定し、３つの交流信号の１つ以上において発生していない状態を第４の信号状態と特定する。そして、例えば、第１の信号状態および第３の信号状態となった頻度が多いときには各交流信号の品質が不良であるとの評価を行い、第１の信号状態および第３の信号状態となった頻度が少なかったり、第２の信号状態および第４の信号状態が長く続くときには各交流信号の品質が良好であるとの評価を行う。

しかしながら、従来の測定装置を用いて上記したようにイベント情報をチャンネル毎に別々に記憶させたときには、実際には位相が互いに異なっているにも拘わらず、記憶領域内では、図６に示すように、位相が異なることによる各チャンネルにおける半周期同士の時間的なずれ（この例では１／３周期のずれ）が反映されず、これに起因して３つの交流信号の信号状態が実際とは異なる信号状態と特定される結果（図５，６参照）、上記した評価方法での評価を正しく行うことが困難であるという課題が存在する。

本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、複数の交流信号における半周期毎のイベントの発生の有無に基づいて特定される各交流信号の信号状態を正確に特定し得る測定装置および信号状態特定方法を提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく請求項１記載の測定装置は、位相が互いに異なる複数の交流信号を入力して当該各交流信号における予め決められた事象の発生を当該各交流信号のゼロクロスによって区分される半周期毎に検出する事象発生検出部を備えた測定装置であって、前記交流信号の全てにおける前記半周期の各終了時点によって画定される各単位画定時間にそれぞれ対応する複数の単位記憶領域が設けられている記憶部と、１つの前記単位画定時間が含まれる前記各交流信号の前記半周期における事象の発生の有無に基づいて特定される当該各交流信号の信号状態を当該単位画定時間毎に特定すると共に、当該単位画定時間に対応する前記単位記憶領域に前記特定した信号状態を示す状態情報を記憶させる処理部とを備えている。

また、請求項２記載の測定装置は、請求項１記載の測定装置において、前記処理部は、１つの前記単位画定時間が含まれる前記各交流信号の前記半周期の１つ以上において前記事象としての第１の事象が発生したときを前記信号状態としての第１の信号状態と特定して当該単位画定時間に対応する前記単位記憶領域に当該第１の信号状態を示す前記状態情報としての第１状態情報を記憶させ、前記１つの単位画定時間が含まれる前記各交流信号の前記半周期のいずれにおいても前記第１の事象が発生していないときを前記信号状態としての第２の信号状態と特定して当該第２の信号状態を示す前記状態情報としての第２状態情報を当該単位画定時間に対応する前記単位記憶領域に記憶させる。

また、請求項３記載の測定装置は、請求項１または２記載の測定装置において、前記処理部は、１つの前記単位画定時間が含まれる前記各交流信号の前記半周期の全てにおいて前記事象としての第２の事象が発生したときを前記信号状態としての第３の信号状態と特定して当該単位画定時間に対応する前記単位記憶領域に当該第３の信号状態を示す前記状態情報としての第３状態情報を記憶させ、前記１つの単位画定時間が含まれる前記各交流信号の１つ以上において前記第２の事象が発生していないときを前記信号状態としての第４の信号状態と特定して当該単位画定時間に対応する前記単位記憶領域に当該第４の信号状態を示す前記状態情報としての第４状態情報を記憶させる。

また、請求項４記載の信号状態特定方法は、位相が互いに異なる複数の交流信号を入力して当該各交流信号における予め決められた事象の発生を当該各交流信号のゼロクロスによって区分される半周期毎に検出し、前記交流信号の全てにおける前記半周期の各終了時点によって画定される１つの単位画定時間が含まれる前記各交流信号の前記半周期における事象の発生の有無に基づいて特定される当該各交流信号の信号状態を当該単位画定時間毎に特定し、前記各単位画定時間にそれぞれ対応して記憶部に設けられている各単位記憶領域に前記特定した信号状態を示す状態情報を記憶させる。

請求項１記載の測定装置、および請求項４記載の信号状態特定方法では、入力した位相が互いに異なる複数の交流信号の全てにおける半周期の各終了時点によって画定される単位画定時間が含まれる各交流信号の半周期における事象の発生の有無に基づいて特定される各交流信号の信号状態を単位画定時間毎に特定し、各単位画定時間にそれぞれ対応して記憶部に設けられている各単位記憶領域に、特定した信号状態を示す状態情報を記憶させる。このため、この測定装置および信号状態特定方法では、単位画定時間毎の信号状態そのものを示す状態情報を単位画定時間の時系列が特定可能な状態で記憶部に記憶させることができる結果、半周期同士の時間的なずれが反映されない情報を用いることに起因して実際とは異なる信号状態を特定するおそれのある従来の構成とは異なり、各交流信号の実際の信号状態を、状態情報を用いて正確に把握することができる。このため、この測定装置および信号状態特定方法によれば、例えば、ある種類の信号状態となった頻度が多いときには各交流信号の品質が不良であるとの評価を行い、また、その信号状態となった頻度が少なかったり、他の種類の信号状態が長く続くときには各交流信号の品質が良好であるとの評価を行う評価方法を行う際に、その評価を正しく行うことができる。

また、請求項２記載の測定装置では、１つの単位画定時間が含まれる各交流信号の半周期の１つ以上において第１の事象が発生したときを第１の信号状態と特定してその単位画定時間に対応する単位記憶領域に第１状態情報を記憶させ、１つの単位画定時間が含まれる各交流信号の半周期のいずれにおいても第１の事象が発生していないときを第２の信号状態と特定してその単位画定時間に対応する単位記憶領域に第２状態情報を記憶させる。このため、この測定装置によれば、第１の事象の発生の有無に基づいて信号状態を特定し、その信号状態となった頻度に基づいて各交流信号の品質を評価するような評価方法において、各信号状態となった頻度を正確に把握することができるため、交流信号の品質の評価を正しく行うことができる。

また、請求項３記載の測定装置では、１つの単位画定時間が含まれる各交流信号の半周期の全てにおいて第２の事象が発生したときを第３の信号状態と特定してその単位画定時間に対応する単位記憶領域に第３状態情報を記憶させ、１つの単位画定時間が含まれる各交流信号の半周期の１つ以上において第２の事象が発生していないときを第４の信号状態と特定してその単位画定時間に対応する単位記憶領域に第４状態情報を記憶させる。このため、この測定装置によれば、瞬停の発生の有無に基づいて信号状態を特定し、その信号状態となった頻度に基づいて各交流信号の品質を評価するような評価方法において、各信号状態となった頻度を正確に把握することができるため、交流信号の品質の評価を正しく行うことができる。

測定装置１の構成を示す構成図である。 測定装置１の動作を説明する第１の説明図である。 測定装置１の動作を説明する第２の説明図である。 測定装置１の動作を説明する第３の説明図である。 従来の測定装置の動作を説明する第１の説明図である。 従来の測定装置の動作を説明する第２の説明図である。

以下、測定装置および信号状態特定方法の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。

最初に、測定装置の一例としての測定装置１の構成について説明する。図１に示す測定装置１は、周波数が互いに等しくかつ位相が互いに異なる複数の交流信号（一例として、図２に示す三相の交流電圧信号Ｓｕ，Ｓｖ，Ｓｗ（以下、区別しないときには「交流電圧信号Ｓ」ともいう））を入力して、各交流電圧信号Ｓにおけるディップ、スウェルおよび瞬停等のイベント（予め決められた事象の一例）を検出すると共に、その検出結果に基づいて各交流電圧信号Ｓの信号状態（各交流電圧信号Ｓ全体としての信号状態）が後述する第１〜第４の信号状態のいずれであるかを特定可能に構成されている。また、測定装置１は、各交流電圧信号Ｓについての物理量（例えば、電圧の実効値）を測定可能に構成されている。具体的には、測定装置１は、信号処理部１１、サンプリング部１２、操作部１３、表示部１４、記憶部１５および処理部１６を備えて構成されている。

信号処理部１１は、入力した交流電圧信号Ｓに含まれているノイズ成分を除去する信号処理を実行する。また、信号処理部１１は、図１に示すように、複数（この例では、３つ）の交流電圧信号Ｓを入力して上記の信号処理を実行可能な複数チャンネル（この例では、Ｃｈ１〜Ｃｈ３までの３チャンネル）の構成となっている。また、信号処理部１１は、交流電圧信号Ｓの周波数（公称周波数：５０Ｈｚおよび６０Ｈｚ）にそれぞれ対応付けられて互いに電気的特性の異なる複数（一例として、２つ）のフィルタ回路２１を各チャンネル毎に備えて構成されている。なお、同図では、各チャンネル毎に１つのフィルタ回路２１のみを図示している。フィルタ回路２１は、交流電圧信号Ｓに含まれている公称周波数よりも高周波の成分および低周波の成分を除去する（つまり、公称周波数の成分を抽出する）バンドパスフィルタで構成されている。また、信号処理部１１は、操作部１３に対する切り替え操作によってこれら複数のフィルタ回路２１の中から切り替えられたフィルタ回路２１によって交流電圧信号Ｓに対して上記の信号処理を実行する。

サンプリング部１２は、信号処理部１１によって信号処理が実行された後の交流電圧信号Ｓを入力してデジタルデータ（サンプリングデータ）Ｄｄを出力するサンプリング処理を実行する。また、サンプリング部１２は、図１に示すように、複数（この例では３つ）のサンプリング回路３１を備えて３つの交流電圧信号Ｓを入力して上記の信号処理を実行可能な複数チャンネル（この例では、Ｃｈ１〜Ｃｈ３までの３チャンネル）の構成となっている。サンプリング回路３１は、上記したサンプリング処理を実行して、図外のサンプリングクロック生成回路によって生成される予め決められたサンプリング周期（周波数）のサンプリングクロックに同期して交流電圧信号Ｓをサンプリングする。この場合、デジタルデータＤｄは、処理部１６よって実行される後述する測定処理において、交流電圧信号Ｓの物理量（例えば、電圧の実効値）の測定、および交流電圧信号Ｓにおけるイベントの検出に用いられる。また、サンプリング部１２は、一例として、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array ）で構成されている。なお、サンプリング部１２を処理部１６と共にＣＰＵで構成することもできる。

操作部１３は、処理の開始を指示する操作や、公称周波数を切り替える（フィルタ回路を切り替える）切り替え操作などを行うための各種のスイッチを備えて構成され、それらが操作されたときに操作信号Ｓｏを出力する。表示部１４は、処理部１６の制御に従って各種の画像や測定値を表示する。

記憶部１５は、処理部１６の制御に従い、処理部１６によって生成される情報であって後述する第１〜第４の信号状態をそれぞれ示す状態情報Ｄｓ１〜Ｄｓ４（以下、区別しないときには「状態情報Ｄｓ」ともいう）を記憶する。また、記憶部１５は、ディップの発生の有無に基づいて特定した信号状態を示す状態情報Ｄｓを記憶するための記憶領域Ｆｆ１、スウェルの発生の有無に基づいて特定した信号状態を示す状態情報Ｄｓを記憶するための記憶領域Ｆｆ２、および瞬停の発生の有無に基づいて特定した信号状態を示す状態情報Ｄｓを記憶するための記憶領域Ｆｆ３（以下、記憶領域Ｆｆ１〜Ｆｆ３を区別しないときには「記憶領域Ｆｆ」ともいう）を有している。さらに、記憶部１５は、各交流電圧信号Ｓのゼロクロス（立ち上がりのゼロクロス、および立ち下がりのゼロクロス：図２参照）によって区分される全ての交流電圧信号Ｓにおける半周期Ｔｈの各終了時点Ｔｐによって画定される各単位画定時間Ｔｕにそれぞれ対応する複数の単位記憶領域Ｆｕが、上記した各記憶領域Ｆｆ１〜Ｆｆ３にそれぞれ設けられるように構成されており、各単位画定時間Ｔｕ毎の状態情報Ｄｓを各単位記憶領域Ｆｕに記憶する。なお、同図の上段では、交流電圧信号Ｓｕ，Ｓｖ，Ｓｗの波形と、半周期Ｔｈ、終了時点Ｔｐおよび単位画定時間Ｔｕとの関係を示し、同図の下段では、各交流電圧信号Ｓｕ，Ｓｖ，Ｓｗの各半周期Ｔｈと各単位画定時間Ｔｕとの関係を示すと共に、各単位画定時間Ｔｕに対応付けて設けられている各単位記憶領域Ｆｕが単位画定時間Ｔｕの時系列と同じ時系列で並んでいる状態を概念的に示している。

処理部１６は、操作部１３から出力される操作信号Ｓｏに従って測定装置１を構成する各部を制御する。また、処理部１６は、事象発生検出部として機能し、各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈにおけるディップおよびスウェル（いずれも、予め決められた第１の事象（イベント）に相当する）の発生をデジタルデータＤｄに基づいて検出すると共に、各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈにおける瞬停（予め決められた第２の事象（イベント）に相当する）をデジタルデータＤｄに基づいて検出する。

また、処理部１６は、状態情報記憶処理を実行する。処理部１６は、この状態情報記憶処理において、上記した単位画定時間Ｔｕが含まれる各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈにおけるイベントの発生の有無に基づいて特定される各交流電圧信号Ｓの信号状態が、後述する第１〜第４の信号状態のいずれであるかを単位画定時間Ｔｕ毎に特定すると共に、信号状態を特定した単位画定時間Ｔｕに対応する単位記憶領域Ｆｕにその信号状態を示す状態情報Ｄｓを記憶させる。この場合、この測定装置１では、一例として、単位画定時間Ｔｕが含まれる各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈの１つ以上においてディップまたはスウェルが発生した状態が第１の信号状態として規定され、単位画定時間Ｔｕが含まれる各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈのいずれにおいてもディップもスウェルも発生していない状態が第２の信号状態として規定されている。また、単位画定時間Ｔｕが含まれる各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈの全てにおいて瞬停が発生した状態が第３の信号状態として規定され、単位画定時間Ｔｕが含まれる各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈの１つ以上において瞬停が発生していない状態が第４の信号状態として規定されている。

また、処理部１６は、測定処理を実行し、デジタルデータＤｄを用いて交流電圧信号Ｓの物理量（例えば、電圧の実効値）を測定する。さらに、処理部１６は、上記した状態情報記憶処理によって記憶部１５に記憶させた状態情報Ｄｓに基づく各交流電圧信号Ｓの状態や、測定した物理量を表示部１４に表示させる。

次に、周波数が互いに等しくかつ位相が互いに異なる複数の交流信号を入力して各交流信号の信号状態を測定装置１を用いて特定する信号状態特定方法、およびその際の測定装置１の動作について説明する。なお、周波数が５０Ｈｚで位相が互いに１２０°異なる三相の交流電圧信号Ｓｕ，Ｓｖ，Ｓｗを交流信号として入力する例について説明する。

この測定装置１では、操作部１３に対して処理の開始を指示する操作が行われたときに、信号処理部１１の各フィルタ回路２１（例えば、５０Ｈｚ用のフィルタ回路２１）が、信号ケーブルを介して入力した交流電圧信号Ｓ（交流電圧信号Ｓｕ，Ｓｖ，Ｓｗ）のノイズ成分を除去する信号処理をそれぞれ開始し、処理後の交流電圧信号Ｓをサンプリング部１２に出力する。また、サンプリング部１２の各サンプリング回路３１が、サンプリング処理をそれぞれ開始して、サンプリングクロックに同期して交流電圧信号Ｓをサンプリングすることにより、デジタルデータＤｄを生成して処理部１６に出力する。

次いで、処理部１６は、図２に示すように、各交流電圧信号Ｓと基準値（０Ｖ）とのゼロクロス（交差）を検出し、立ち上がりのゼロクロスおよび立ち下がりのゼロクロスによって区分される各交流電圧信号Ｓの半周期ＴｈをデジタルデータＤｄに基づいて特定する。また、処理部１６は、各半周期Ｔｈにおけるイベント（ディップ、スウェルおよび瞬停）の発生をデジタルデータＤｄに基づいて検出すると共に、各半周期Ｔｈにおける瞬停をデジタルデータＤｄに基づいて検出する。

さらに、処理部１６は、状態情報記憶処理を実行する。この状態情報記憶処理では、処理部１６は、各交流電圧信号Ｓにおける半周期Ｔｈの終了時点Ｔｐ（図２参照）によって画定される各単位画定時間Ｔｕが含まれる各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈにおいてイベントが発生したか否か（発生の有無）に基づいて、各交流電圧信号Ｓの信号状態が第１〜第４の信号状態のいずれであるかを単位画定時間Ｔｕ毎に特定する。また、処理部１６は、単位画定時間Ｔｕに対応する記憶部１５における記憶領域Ｆｆの単位記憶領域Ｆｕにその信号状態を示す状態情報Ｄｓを記憶させる。

次に、各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈにおけるディップの発生の有無に基づいて各交流電圧信号Ｓの信号状態を単位画定時間Ｔｕ毎に特定する際の状態情報記憶処理を具体的に説明する。この際に、処理部１６は、次のような処理を行う。例えば図３に示すように、処理部１６は、まず、単位画定時間Ｔｕ１が含まれる交流電圧信号Ｓｕ，Ｓｖ，Ｓｗにおける各々の半周期Ｔｈ１の中で、交流電圧信号Ｓｖの半周期Ｔｈ１においてディップが発生したときには（同図では、ディップが発生した旨を「ＩＮ」で示し、ディップが発生していない旨を「ＯＵＴ」で示す）、各交流電圧信号Ｓの信号状態が上記した第１の信号状態（各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈの１つ以上においてディップが発生した状態）であることを特定する。次いで、処理部１６は、記憶部１５の記憶領域Ｆｆ１における単位画定時間Ｔｕ１に対応する単位記憶領域Ｆｕに、特定した第１の信号状態を示す状態情報Ｄｓ１を記憶させる。この際に、処理部１６は、同図に示すように、その単位画定時間Ｔｕ１の終了時点を画定する半周期Ｔｈの終了時点Ｔｐに対応する交流電圧信号Ｓのチャンネル（この例では、交流電圧信号Ｓｖを入力するＣｈ２）を特定可能なチャンネル情報を状態情報Ｄｓ１と共に単位記憶領域Ｆｕに記憶させる。

続いて、処理部１６は、図３に示すように、単位画定時間Ｔｕ２が含まれる交流電圧信号Ｓｕ，Ｓｗにおける各々の半周期Ｔｈ１、および単位画定時間Ｔｕ２が含まれる交流電圧信号Ｓｖにおける半周期Ｔｈ２のいずれにおいてもディップが発生していないときには、各交流電圧信号Ｓの信号状態が上記した第２の信号状態（単位画定時間Ｔｕが含まれる各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈのいずれにおいてもディップが発生していない状態）であることを特定する。次いで、処理部１６は、記憶部１５の記憶領域Ｆｆ１における単位画定時間Ｔｕ２に対応する単位記憶領域Ｆｕに、特定した第２の信号状態を示す状態情報Ｄｓ２を上記したチャンネル情報と共に記憶させる。以下、処理部１６は、同様の処理を行うことにより、同図に示すように、各半周期Ｔｈにおけるディップの発生の有無に基づいて各交流電圧信号Ｓの信号状態を単位画定時間Ｔｕ毎に特定して、各単位画定時間Ｔｕに対応する単位記憶領域Ｆｕに、特定した信号状態を示す状態情報Ｄｓをチャンネル情報と共に記憶させる。

また、処理部１６は、各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈにおけるスウェルの発生の有無に基づいて各交流電圧信号Ｓの信号状態を特定する際には、上記したディップの発生の有無に基づく各交流電圧信号Ｓの信号状態を特定する際の状態情報記憶処理と同様に状態情報記憶処理を行って記憶部１５の記憶領域Ｆｆ２における各単位記憶領域Ｆｕに、状態情報Ｄｓおよびチャンネル情報を記憶させる。

次に、各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈにおける瞬停の発生の有無に基づいて各交流電圧信号Ｓの信号状態を単位画定時間Ｔｕ毎に特定する際の状態情報記憶処理を具体的に説明する。この際には、処理部１６は、次のような処理を行う。例えば図４に示すように、処理部１６は、まず、単位画定時間Ｔｕ１が含まれる交流電圧信号Ｓｕ，Ｓｖ，Ｓｗにおける各々の半周期Ｔｈ１の中で、交流電圧信号Ｓｖの半周期Ｔｈ１において瞬停が発生していないときには（同図では、瞬停が発生した旨を「ＩＮ」で示し、瞬停が発生していない旨を「ＯＵＴ」で示す）、各交流電圧信号Ｓの信号状態が上記した第４の信号状態（各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈの１つ以上において瞬停が発生していない状態）であることを特定する。次いで、処理部１６は、記憶部１５の記憶領域Ｆｆ３における単位画定時間Ｔｕ１に対応する単位記憶領域Ｆｕに、特定した第４の信号状態を示す状態情報Ｄｓ４をチャンネル情報と共に記憶させる。

続いて、処理部１６は、図４に示すように、単位画定時間Ｔｕ２が含まれる交流電圧信号Ｓｕ，Ｓｗにおける各々の半周期Ｔｈ１、および単位画定時間Ｔｕ２が含まれる交流電圧信号Ｓｖにおける半周期Ｔｈ２の全てにおいて瞬停が発生したときには、各交流電圧信号Ｓの信号状態が上記した第３の信号状態（各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈの全てにおいて瞬停が発生した状態）であることを特定する。次いで、処理部１６は、記憶部１５の記憶領域Ｆｆ２における単位画定時間Ｔｕ２に対応する単位記憶領域Ｆｕに、特定した第３の信号状態を示す状態情報Ｄｓ３をチャンネル情報と共に記憶させる。以下、処理部１６は、同様の処理を行うことにより、同図に示すように、各半周期Ｔｈにおける瞬停の発生の有無に基づいて各交流電圧信号Ｓの信号状態を単位画定時間Ｔｕ毎に特定して、各単位画定時間Ｔｕに対応する単位記憶領域Ｆｕに、特定した信号状態を示す状態情報Ｄｓおよびチャンネル情報を記憶させる。

この場合、図３，４に示すように、この測定装置１では、各交流電圧信号Ｓにおける半周期Ｔｈの終了時点Ｔｐによって画定される各単位画定時間Ｔｕにそれぞれ対応させて記憶部１５に設けられる各単位記憶領域Ｆｕに単位画定時間Ｔｕ毎の状態情報Ｄｓを記憶させる。つまり、この測定装置１では、単位画定時間Ｔｕ毎の信号状態そのものを示す状態情報Ｄｓを単位画定時間Ｔｕの時系列が特定可能な状態で記憶部１５に記憶させている。このため、この測定装置１では、半周期Ｔｈ同士の時間的なずれが反映されないイベント情報を用いるため実際とは異なる信号状態を特定するおそれのある従来の構成とは異なり、状態情報Ｄｓを用いることで、図３，５に示すように、各交流電圧信号Ｓの実際の信号状態を正確に把握することが可能となっている（両図では、第１の信号状態を「第１」と記載し、第２の信号状態を「第２」と記載する）。このため、この測定装置１では、例えば、ある信号状態（この例では、第１の信号状態）となった頻度が多いときには各交流電圧信号Ｓの品質が不良であるとの評価を行い、また、その信号状態となった頻度が少なかったり、他の信号状態（この例では、第２の信号状態）が長く続くときには各交流電圧信号Ｓの品質が良好であるとの評価を行う評価方法を行う際に、各交流電圧信号Ｓの評価を正しく行うことが可能となっている。

また、処理部１６は、上記した状態情報記憶処理と並行して測定処理を実行し、デジタルデータＤｄを用いて各交流電圧信号Ｓの物理量（例えば、電圧の実効値）を測定する。また、処理部１６は、状態情報記憶処理によって記憶部１５に記憶させた状態情報Ｄｓに基づく各交流電圧信号Ｓの信号状態、および測定した物理量を表示部１４に表示させる。

このように、この測定装置１および信号状態特定方法では、入力した複数の交流電圧信号Ｓの全てにおける半周期Ｔｈの終了時点Ｔｐによって画定される単位画定時間Ｔｕが含まれる各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈにおけるイベントの発生の有無に基づいて特定される各交流電圧信号Ｓの信号状態を単位画定時間Ｔｕ毎に特定し、各単位画定時間Ｔｕにそれぞれ対応して記憶部１５に設けられている各単位記憶領域Ｆｕに特定した信号状態を示す状態情報Ｄｓを記憶させる。このため、この測定装置１および信号状態特定方法では、単位画定時間Ｔｕ毎の信号状態そのものを示す状態情報Ｄｓを単位画定時間Ｔｕの時系列が特定可能な状態で記憶部１５に記憶させることができる結果、半周期Ｔｈ同士の時間的なずれが反映されないイベント情報を用いることに起因して実際とは異なる信号状態を特定するおそれのある従来の構成とは異なり、各交流電圧信号Ｓの実際の信号状態を、状態情報Ｄｓを用いて正確に把握することができる。このため、この測定装置１および信号状態特定方法によれば、例えば、ある種類の信号状態となった頻度が多いときには各交流電圧信号Ｓの品質が不良であるとの評価を行い、また、その信号状態となった頻度が少なかったり、他の種類の信号状態が長く続くときには各交流電圧信号Ｓの品質が良好であるとの評価を行う評価方法を行う際に、その評価を正しく行うことができる。

また、この測定装置１および信号状態特定方法では、１つの単位画定時間Ｔｕが含まれる各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈの１つ以上においてディップまたはスウェル（第１の事象）が発生したときを第１の信号状態と特定してその単位画定時間Ｔｕに対応する単位記憶領域Ｆｕに状態情報Ｄｓ１を記憶させ、１つの単位画定時間Ｔｕが含まれる各交流信号の半周期Ｔｈのいずれにおいてもディップまたはスウェルが発生していないときを第２の信号状態と特定してその単位画定時間Ｔｕに対応する単位記憶領域Ｆｕに状態情報Ｄｓ２を記憶させる。このため、この測定装置１および信号状態特定方法によれば、ディップまたはスウェルの発生の有無に基づいて信号状態を特定し、その信号状態となった頻度に基づいて各交流電圧信号Ｓの品質を評価するような評価方法において、各信号状態となった頻度を正確に把握することができるため、交流電圧信号Ｓの品質の評価を正しく行うことができる。

また、この測定装置１および信号状態特定方法では、１つの単位画定時間Ｔｕが含まれる各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈの全てにおいて瞬停（第２事象）が発生したときを第３の信号状態と特定してその単位画定時間Ｔｕに対応する単位記憶領域Ｆｕに状態情報Ｄｓ３を記憶させ、１つの単位画定時間Ｔｕが含まれる各交流電圧信号Ｓの半周期Ｔｈの１つ以上において瞬停が発生していないときを第４の信号状態と特定してその単位画定時間Ｔｕに対応する単位記憶領域に状態情報Ｄｓ４を記憶させる。このため、この測定装置１および信号状態特定方法によれば、瞬停の発生の有無に基づいて信号状態を特定し、その信号状態となった頻度に基づいて各交流電圧信号Ｓの品質を評価するような評価方法において、各信号状態となった頻度を正確に把握することができるため、交流電圧信号Ｓの品質の評価を正しく行うことができる。

なお、測定装置および信号状態特定方法は、上記の構成および方法に限定されない。例えば、３つの交流電圧信号Ｓを入力して状態情報記憶処理を実行する構成および方法について上記したが、交流電流信号などの交流電圧信号Ｓ以外の他の交流信号を入力して状態情報記憶処理を実行する構成および方法を採用することもできる。また、交流信号の数も上記の構成および方法において例示した３つに限定されず、周波数が互いに等しくかつ位相が互いに異なる限り、２つまたは４つ以上の任意の複数を採用することができ、これらの各交流信号について上記した状態情報記憶処理を実行することができる。

１ 測定装置
１５ 記憶部
１６ 処理部
Ｄｓ１〜Ｄｓ４状態情報
Ｆｆ１〜Ｆｆ３ 記憶領域
Ｆｕ 単位記憶領域
Ｓｕ，Ｓｖ，Ｓｗ 交流電圧信号
Ｔｈ 半周期
Ｔｐ 終了時点
Ｔｕ 単位画定時間

Claims (4)

1. 位相が互いに異なる複数の交流信号を入力して当該各交流信号における予め決められた事象の発生を当該各交流信号のゼロクロスによって区分される半周期毎に検出する事象発生検出部を備えた測定装置であって、
   前記交流信号の全てにおける前記半周期の各終了時点によって画定される各単位画定時間にそれぞれ対応する複数の単位記憶領域が設けられている記憶部と、
   １つの前記単位画定時間が含まれる前記各交流信号の前記半周期における事象の発生の有無に基づいて特定される当該各交流信号の信号状態を当該単位画定時間毎に特定すると共に、当該単位画定時間に対応する前記単位記憶領域に前記特定した信号状態を示す状態情報を記憶させる処理部とを備えている測定装置。
2. 前記処理部は、１つの前記単位画定時間が含まれる前記各交流信号の前記半周期の１つ以上において前記事象としての第１の事象が発生したときを前記信号状態としての第１の信号状態と特定して当該単位画定時間に対応する前記単位記憶領域に当該第１の信号状態を示す前記状態情報としての第１状態情報を記憶させ、前記１つの単位画定時間が含まれる前記各交流信号の前記半周期のいずれにおいても前記第１の事象が発生していないときを前記信号状態としての第２の信号状態と特定して当該第２の信号状態を示す前記状態情報としての第２状態情報を当該単位画定時間に対応する前記単位記憶領域に記憶させる請求項１記載の測定装置。
3. 前記処理部は、１つの前記単位画定時間が含まれる前記各交流信号の前記半周期の全てにおいて前記事象としての第２の事象が発生したときを前記信号状態としての第３の信号状態と特定して当該単位画定時間に対応する前記単位記憶領域に当該第３の信号状態を示す前記状態情報としての第３状態情報を記憶させ、前記１つの単位画定時間が含まれる前記各交流信号の１つ以上において前記第２の事象が発生していないときを前記信号状態としての第４の信号状態と特定して当該単位画定時間に対応する前記単位記憶領域に当該第４の信号状態を示す前記状態情報としての第４状態情報を記憶させる請求項１または２記載の測定装置。
4. 位相が互いに異なる複数の交流信号を入力して当該各交流信号における予め決められた事象の発生を当該各交流信号のゼロクロスによって区分される半周期毎に検出し、
   前記交流信号の全てにおける前記半周期の各終了時点によって画定される１つの単位画定時間が含まれる前記各交流信号の前記半周期における事象の発生の有無に基づいて特定される当該各交流信号の信号状態を当該単位画定時間毎に特定し、
   前記各単位画定時間にそれぞれ対応させて記憶部に設けられている各単位記憶領域に前記特定した信号状態を示す状態情報を記憶させる信号状態特定方法。

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