JP2011146792A - 誤り率測定装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】クロック制御部4は、被測定信号のデータ長の周期の整数倍となる分周比に設定して再生クロックを分周する。波形観測部5は、分周された再生クロックを用いて被測定信号をビット列波形として表示する。誤り率検出部3は、被測定信号のパターンを識別し、識別パターンデータの先頭と決めた位置から一部又は全部のデータを先頭パターンとして保持し、被測定信号が1周回して先頭パターンと一致したときに、識別パターンデータと既知のパルスパターンとの比較によりエラービットを検出し、エラービットを含む前後のビット列を保持する。制御部6は、ビット列波形からビット列を読み取り、保持されたエラービットと一致するまでビット列波形を時間軸方向に遅延させる。
【選択図】図1
Description
前記被測定信号から再生クロックを生成し、前記被測定信号のデータ長の周期の整数倍となる分周比に設定して前記再生クロックを分周するクロック制御部4と、
前記分周比で分周された再生クロックを用いて前記被測定信号をビット列波形として表示する波形観測部5と、
前記被測定信号のパターンを識別し、この識別された識別パターンデータに関して、先頭と決めた位置から一部又は全部のデータを先頭パターンとして保持し、前記被測定信号が1周回して前記先頭パターンと一致したときに、前記識別パターンデータと前記既知のパルスパターンとの比較によって前記識別パターンデータのエラービットを検出し、この検出したエラービットを含む前後のビット列を保持する誤り率検出部3と、
前記ビット列波形からビット列を読み取り、前記保持されたエラービットと一致するまで前記ビット列波形を時間軸方向に遅延させる制御部6とを備えたことを特徴とする。
前記制御部6は、前記被試験デバイスWから前記被測定信号が1周回して前記先頭パターンと一致するまでの遅延時間と、前記被試験デバイスから前記被測定信号がサンプリングされるまでの遅延時間との絶対遅延差を予め記憶された補正値に基づいて補正することを特徴とする。
前記被測定信号から再生クロックを生成し、前記被測定信号のデータ長の周期の整数倍となる分周比に設定して前記再生クロックを分周するステップと、
前記分周比で分周された再生クロックを用いて前記被測定信号をビット列波形として表示するステップと、
前記被測定信号のパターンを識別するステップと、
この識別された識別パターンデータに関して、先頭と決めた位置から一部又は全部のデータを先頭パターンとして保持するステップと、
前記被測定信号が1周回して前記先頭パターンと一致したときに、前記識別パターンデータと前記既知のパルスパターンとの比較によって前記識別パターンデータのエラービットを検出するステップと、
この検出したエラービットを含む前後のビット列を保持するステップと、
前記ビット列波形からビット列を読み取り、前記保持されたエラービットと一致するまで前記ビット列波形を時間軸方向に遅延させるステップとを含むことを特徴とする。
前記被試験デバイスWから前記被測定信号が1周回して前記先頭パターンと一致するまでの遅延時間と、前記被試験デバイスから前記被測定信号がサンプリングされるまでの遅延時間との絶対遅延差を予め記憶された補正値に基づいて補正するステップを更に含むことを特徴とする。
まず、パルスパターン発生器60は、制御部6の制御により、パルスパターン(基準パターン)のテスト信号を被試験デバイスWに出力する。被測定デバイスWからは、テスト信号の入力に伴う被測定信号がデータ識別部11に入力される。データ識別部11は、被測定デバイスWから被測定信号が入力されると、クロック制御部4からの再生クロックのクロックタイミングにより、被測定信号の信号レベル(High/Low)のパターンを識別し、この識別したパターンを識別パターンデータとしてデータ解析部12に出力する。
2 基準パターン発生部
3 誤り率検出部
4 クロック制御部
5 波形観測部
6 制御部
11 データ識別部
12 データ解析部
13 クロック再生手段
14 M分周手段
15 遅延制御手段
16 サンプリング手段
17 A/D変換手段
18 波形表示手段
60 パルスパターン発生器
W 被試験デバイス
Claims (4)
- 既知のパルスパターンによるテスト信号の入力に伴う被試験デバイス(W)からの被測定信号の誤り率を測定する誤り率測定装置(1)において、
前記被測定信号から再生クロックを生成し、前記被測定信号のデータ長の周期の整数倍となる分周比に設定して前記再生クロックを分周するクロック制御部(4)と、
前記分周比で分周された再生クロックを用いて前記被測定信号をビット列波形として表示する波形観測部(5)と、
前記被測定信号のパターンを識別し、この識別された識別パターンデータに関して、先頭と決めた位置から一部又は全部のデータを先頭パターンとして保持し、前記被測定信号が1周回して前記先頭パターンと一致したときに、前記識別パターンデータと前記既知のパルスパターンとの比較によって前記識別パターンデータのエラービットを検出し、この検出したエラービットを含む前後のビット列を保持する誤り率検出部(3)と、
前記ビット列波形からビット列を読み取り、前記保持されたエラービットと一致するまで前記ビット列波形を時間軸方向に遅延させる制御部(6)とを備えたことを特徴とする誤り率測定装置。 - 前記制御部(6)は、前記被試験デバイス(W)から前記被測定信号が1周回して前記先頭パターンと一致するまでの遅延時間と、前記被試験デバイスから前記被測定信号がサンプリングされるまでの遅延時間との絶対遅延差を予め記憶された補正値に基づいて補正することを特徴とする請求項1記載の誤り率測定装置。
- 既知のパルスパターンによるテスト信号の入力に伴う被試験デバイス(W)からの被測定信号の誤り率を測定する誤り率測定方法において、
前記被測定信号から再生クロックを生成し、前記被測定信号のデータ長の周期の整数倍となる分周比に設定して前記再生クロックを分周するステップと、
前記分周比で分周された再生クロックを用いて前記被測定信号をビット列波形として表示するステップと、
前記被測定信号のパターンを識別するステップと、
この識別された識別パターンデータに関して、先頭と決めた位置から一部又は全部のデータを先頭パターンとして保持するステップと、
前記被測定信号が1周回して前記先頭パターンと一致したときに、前記識別パターンデータと前記既知のパルスパターンとの比較によって前記識別パターンデータのエラービットを検出するステップと、
この検出したエラービットを含む前後のビット列を保持するステップと、
前記ビット列波形からビット列を読み取り、前記保持されたエラービットと一致するまで前記ビット列波形を時間軸方向に遅延させるステップとを含むことを特徴とする誤り率測定方法。 - 前記被試験デバイス(W)から前記被測定信号が1周回して前記先頭パターンと一致するまでの遅延時間と、前記被試験デバイスから前記被測定信号がサンプリングされるまでの遅延時間との絶対遅延差を予め記憶された補正値に基づいて補正するステップを更に含むことを特徴とする請求項3記載の誤り率測定方法。
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