JP2003319015A

JP2003319015A - 多機能測定システム及び波形測定方法

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Publication number: JP2003319015A
Application number: JP2002121563A
Authority: JP
Inventors: Nobunari Takeuchi; 伸成竹内
Original assignee: Ando Electric Co Ltd
Current assignee: Ando Electric Co Ltd
Priority date: 2002-04-24
Filing date: 2002-04-24
Publication date: 2003-11-07
Anticipated expiration: 2022-04-24
Also published as: JP3900266B2

Abstract

(57)【要約】（修正有）【課題】オシロスコープやネットワークアナライザを用
いることなくビットエラー、伝達特性、及び信号波形が
測定できるようにする。【解決手段】第１のパルスパターン発生手段９によって
発生された基準パルスパターン信号を、被測定対象３を
介してエラーディテクタ８に入力する被測定信号の、ビ
ットエラー、伝達特性及び信号波形を測定する多機能測
定システムにおいて、エラーディテクタ８には、誤り検
出手段１２、制御/演算手段１３、記録手段１４及び表
示手段２０を備え、誤り検出手段１２には、基準パルス
パターン信号に同期したパルスパターンを発生する第２
のパルスパターン発生手段と、被測定信号をスライスす
るスレッシュドレベルを可変設定する手段と、被測定信
号に対応したクロック信号を任意の時間遅延させる遅延
時間可変手段と、スレッシュドレベル可変手段の出力と
第のパルスパターン発生手段の出力とを比較するデータ
比較手段とを備える多機能測定システム。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、デジタル信号の符
号誤りの測定に関し、BERT或いはPPG/EDと称される誤り
測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図面を用いて従来の誤り測定装置につい
て説明する。図１は従来の誤り測定装置を含む装置の１
例の構成を示すブロック図である。図１において、３は
被測定対象（DUT）であり、該被測定対象のBER（ビット
エラー）、周波数特性や位相測定等の伝達特性、及び被
測定対象の出力信号波形を測定する。

【０００３】この場合、ビットエラー、伝達特性、及び
信号波形の測定には、各々、ビットエラーテスター（BE
RT）、ネットワークアナライザ、及びオシロスコープ等
の測定器が必要である。また、図１において、１はパル
スパターンジェネレータ（PPG）であり、２はエラーデ
ィテクタ（ED）であり、パルスパターンジェネレータ
と、エラーディテクタとで、ビットエラーテスタ（BER
T）が構成されている。

【０００４】ビットエラーの測定は、パルスパターンジ
ェネレータ１から出力されたパルスパターン信号を被測
定対象３に入力し、該被測定対象３からの出力をエラー
ディテクタ２で受信して、当該被測定対象のビットエラ
ーを測定する。なお、パルスパターンジェネレータ１で
発生されたクロックは、エラーディテクタ２に与えられ
て、ビットエラーの測定のタイミングクロックとして使
用される。

【０００５】ネットワークアナライザの信号発生部４
と、ネットワークアナライザの信号受信部５とで、ネッ
トワークアナライザが構成されている。被測定対象の伝
達特性の測定時には、ビットエラー測定時に接続された
配線を除去して、新たに、被測定対象３の入力として、
ネットワークアナライザの信号発生部４を、被測定対象
３の出力に、ネットワークアナライザの信号受信部５と
を接続して、伝達測定の測定を実施する。なお、ネット
ワークアナライザの信号発生部４と、ネットワークアナ
ライザの信号受信部５とは、同期して動作する必要があ
る。図１では、別の構成として示しているが、ネットワ
ークアナライザの信号発生部４と、ネットワークアナラ
イザの信号受信部５とを一体化したネットワークアナラ
イザとして構成しても良い。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】被測定対象３の出力信
号波形は、オシロスコープ６によって測定できる。この
場合も、ネットワークアナライザの信号受信部５と、被
測定対象３の出力との接続を除去して、新たに、オシロ
スコープ６を接続し直す必要がある。この場合、被測定
対象３の入出力部に、分岐（図示せず）或いは信号切り
替え装置（図示せず）を具備すれば、接続変更は不要に
なるが、分岐では信号の損失や劣化が生じ、信号切り替
え装置でも、信号劣化が生じる。

【０００７】更に、ビットエラーテスタ及びネットワー
クアナライザ及びオシロスコープの３種類の測定器が必
要になり、操作性においても煩雑になると共に、その費
用も多く掛かるという問題があった。また、例えば、40
Gbpsという超高速の信号を扱う場合においては、分岐や
信号切り替え装置自身の特性が無視できなくなって、正
しいビットエラーの測定の実施ができなないという問題
もある。

【０００８】本発明の課題（目的）は、ビットエラーテ
スタの機能を有効に利用して、ビットエラーの測定のみ
ではなく、伝達特性、及び信号波形の測定をも可能にし
た測定システムを提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、第１のパルスパターン発生手段によって発生された
基準パルスパターン信号を、被測定対象を介して測定装
置（エラーディテクタED)に入力する被測定信号の、ビ
ットエラー、伝達特性及び信号波形を測定する多機能測
定システムにおいて、前記測定装置には、誤り検出手
段、制御/演算手段、記録手段及び表示手段を備え、前
記誤り検出手段には、前記基準パルスパターン信号に同
期したパルスパターンを発生する第２のパルスパターン
発生手段と、前記被測定信号をスライスするスレッシュ
ドレベルを可変設定するスレッシュドレベル可変手段
と、前記被測定信号に対応したクロック信号を任意の時
間遅延させる遅延時間可変手段と、前記スレッシュドレ
ベル可変手段の出力と前記第のパルスパターン発生手段
の出力とを比較するデータ比較手段とを備える構成とす
る。（請求項１）

【００１０】また、前記第１のパルスパターン発生手段
及び前記測定装置には、それぞれ記憶手段を備え、前記
記憶手段間は通信手段を介してデータの送受を前記制御
/演算手段によって管理する構成とする。（請求項２）
また、前記スレッシュドレベル可変手段の出力と前記第
のパルスパターン発生手段の出力とを比較することによ
って、被測定信号のビットエラーを測定する構成とす
る。（請求項３）

【００１１】また、前記遅延時間可変手段の遅延時間を
可変することによって被測定信号のフレーム同期を取る
フレーム同期手段と、前記フレーム同期手段によるフレ
ーム同期確立後に、前記遅延時間可変手段によって、任
意に時間を変化させた時点における前記被測定信号の電
圧値を複数個取得する電圧取得手段と、を備えて、前記
クロック信号の少なくとも１周期の期間における、前記
複数個の電圧値を時系列に並べて前記表示手段に、被測
定信号の信号波形として表示する構成とする。（請求項
４）

【００１２】また、前記フレーム同期手段は、前記遅延
時間可変手段の遅延時間を可変して、被測定信号と前記
第２のパルスパターン発生手段からのパルスパターンと
を前記データ比較手段によってビットエラーの測定を行
い、ビットエラーが規定値以内の場合に、フレーム同期
がとれていると判断する構成とする。（請求項５）また、前記電圧取得手段は、任意の遅延時間毎に、前記
スレッシュドレベルを可変させて、ビットエラーの値が
無から有に変化する時点の電圧を取得する構成とする。
（請求項６）

【００１３】また、前記被測定波形をフーリエ変換し
て、周波数特性及び位相特性を含む被測定対象の伝達特
性を求める手段を備える構成とする。（請求項７）また、前記第１のパルスパターン発生手段及び前記測定
装置に含まれる記憶手段には、前記第１のパルスパター
ン発生手段単独の周波数特性及び位相特性を含む伝達特
性を記憶しておく。（請求項８）

【００１４】また、遅延時間可変手段の遅延時間を可変
することによって被測定信号のフレーム同期を取るステ
ップと、フレーム同期確立後に、前記遅延時間可変手段
によって、任意に時間を変化させた時点における前記被
測定信号の電圧値を複数個取得するステップと、前記取
得した複数個の電圧値を時系列に並べるステップと、で
被測定信号の波形測定を実現する。（請求項９）

【００１５】また、前記電圧を取得するステップは、任
意の遅延時間毎に、被測定信号をスライスするスレッシ
ュドレベルを可変させて、ビットエラーの値が無から有
に変化する時点の電圧を取得する。（請求項１０）また、前記フレーム同期を取るステップは、前記遅延時
間可変手段の遅延時間を可変して、被測定信号と所定の
パルスパターンとをデータ比較手段によってビットエラ
ーの測定を行い、ビットエラーが規定値以内の場合に、
フレーム同期がとれていると判断する。（請求項１１）

【００１６】

【発明の実施の態様】以下、図２及び図３を用いて、本
発明のビットエラーテスタの説明を行う。図２は、本発
明のビットエラーテスタの実施の態様を示すブロック図
である。図２において、７で示すパルスパターンジェネ
レータ（PPG）は、第１のパルスパターン発生手段９、
第１の記録手段１０及び通信手段１１によって構成さ
れ、該パルスパターン発生手段９は、図１におけるパル
スパターンジェネレータ（PPG）と同一の内容である。

【００１７】８で示すエラーディテクタ（ED）は、誤り
検出手段１２、制御・演算手段１３、第２の記録手段１
４、通信手段１５及び表示手段２０から構成される。ま
た、３は被測定対象（DUT）であって、パルスパターン
ジェネレータ７とエラーディテクタ８の間に接続され
る。

【００１８】図３は、図２における誤り検出手段１２の
詳細な構成を示すブロック図である。図３において、１
６はスレッシュドレベル可変手段、１７はデータ比較手
段、１８は第２のパルスパターン発生手段、１９は遅延
時間可変手段である。

【００１９】パルスパターン発生手段９で発生したパル
スパターンは、被測定対象３に入力され、その出力は誤
り検出手段１２に入力される。ビットエラーの測定は、
上記の系で実行され、その測定結果は表示装置２０に表
示される。（この動作は、図１におけるビットエラーの
測定と同様である。）

【００２０】次に、図２における被測定対象の波形測定
について説明する。被測定対象の波形測定は以下の手順
で示す原理で実行される。ａ，入力信号のフレーム同期を取る。１度同期が取れた
後は、フレーム同期が取れなくなっても、誤り検出回路
の信号発生は、フレーム同期がとれた位相条件でそのま
ま動作させる。ｂ，入力信号の任意時刻において、入力信号のスレッシ
ュドレベルを変化させてて、誤り値の変化を求め、誤り
が無（０）から有りに変化する閾値をその時刻における
電圧値として測定する。ｃ，前記ｂにおける任意時刻を変化させ、同様の測定を
繰り返して、順次変化させた時刻における電圧値の測定
を実行する。ｄ，ｃの電圧値の測定を繰り返して、１フレーム分実行
する。ｅ，ｄで測定した電圧値を時系列に並び替え、１フレー
ム分の入力信号の波形を求める。任意時刻を時系列に沿
って変化させれば、並び替えは不要である。

【００２１】次にフレーム同期は、ビットエラーの測定
時と、波形測定時ではその動作が異なるので、図５のフ
ローチャートを用いて説明する。図５(a)は、ビットエ
ラーの測定時におけるフレーム同期の取り方のアルゴリ
ズムである。・ビットエラーの測定を開始する。（ステップ２１）・フレーム同期を取る。（ステップ２２）・誤り測定（ＢＥＲ測定）を行う。（ステップ２３）・ステップ２２の測定による誤りが既定値以内か否かの
判断をする。（ステップ２４）・ステップ２４の判断で、誤りが既定値以内（Ｙ）の場
合は、誤り測定を繰返し実行する。・また、ステップ２４の判断で、誤りが既定値以上
（Ｎ）の場合は、ステップ２２に戻ってフレーム同期を
取る。

【００２２】図５(b)は、波形測定時におけるフレーム
同期の取り方のアルゴリズムである。・波形測定を開始する。（ステップ２１）・フレーム同期を取る。（ステップ２２）・上述のａ〜えの手順で波形の取得を実行する。（ステ
ップ２５）波形測定においては、ビットエラーが如何なる値であっ
ても、フレーム同期の取得（ステップ２２）に戻ること
なく、前述のａ〜eの手順における波形の測定を継続し
て実行する。なお、波形測定時であっても、フレーム同
期が取れている状態における、ビットエラーは、ビット
エラー測定のビットエラー値として用いることができ
る。

【００２３】次に波形測定（取得）のアルゴリズムを、
図４のフローチャートを用いて説明する。・波形測定を開始する。（ステップ２７）・時刻Tiを任意時刻に設定する。（ステップ２８）通常は、測定時間軸の最小値に設定する。・スレッシュドレベルの設定で、スレッシュドレベル
（V）を測定レンジ間の１点に設定する。（ステップ２
９）通常は、測定レンジの最低値を初期値とする。・誤り測定（BER）を実行し、その値を一時的に記憶す
る。（ステップ３０）・前回の誤り測定の値と比較して、その値が変化したか
否かの判断をする。（ステップ３１）・ステップ３１の判断で、変化しない(N)場合、スレッ
シュドレベル（V）を可変（Vi＝Vi+ΔV）させる。（ス
テップ３２）そして、ステップ２９〜ステップ３２の処理を繰り返
す。・ステップ３１の判断で、変化した(Y)場合、時刻Tiに
おける電圧Vi＝Vとして、測定値Vを時刻Tiにおける電圧
値として得る。（ステップ３３）・次に、Tiの可変範囲、即ち測定時間の最大値を超えた
か否かの判断をする。（ステップ３４）・ステップ３４の判断で、最大値を超えない（N）の場
合、時刻Tiを可変（Ti＝Ti＋ΔT）する。（ステップ３
５）そして、ステップ２８〜ステップ３４の処理を繰り返
す。・ステップ３４の判断で、最大値を超えた（Y）の場
合、取得した電圧値Viを時系列に沿って並び替え（ステ
ップ３６）、処理を終了する。（ステップ３７）

【００２４】このようにして、被測定対象の時刻Tiに対
応する電圧値Viの関係の取得かでき、即ち波形の取得が
できることになる。なお、ステップ３１では、ビットエ
ラー（BER）の変化点に対する判断は、Vに対するビット
エラー（BER）をとり、その変化点を、ビットエラー（B
ER）をVで微分して求めても良い。

【００２５】次に本発明における信号（データ）流れを
図３を用いて説明する。図３において、スレッシュドレ
ベル可変手段１６には、被測定対象３からの入力信号、
及び制御/演算手段１３からスレッシュドレベルを設定
する直流電圧（V）が入力される。スレッシュドレベル
可変手段１６は、被測定対象からの入力信号電圧とスレ
ッシュドレベルを設定する直流電圧（V）とを比較し、
直流電圧（V）よりも入力信号電圧が高い場合には１
を、直流電圧（V）よりも入力信号電圧が低い場合には
０の論理信号を、データ比較手段１７に出力する。

【００２６】遅延時間可変手段１９によって遅延された
クロック信号は、データ比較手段１７及び第２のパルス
パターン発生手段１８に入力される。第２のパルスパタ
ーン発生手段１８では、第１のパルスパターン発生手段
９と同一のパルスパターンを発生する。そして、その位
相は、フレーム同期を取ることによって、誤り検出手段
１２（即ち、スレッシュドレベル可変手段１６）の入力
信号と同位相になる。

【００２７】データ比較手段１７は、スレッシュドレベ
ル可変手段１６の出力信号と、第２のパルスパターン発
生手段１８の出力信号とを、遅延時間可変手段１９から
の遅延されたクロック信号が入力された時刻で比較し、
両信号が一致しているか否かの判断を実行し、その結果
を第２のパルスパターン発生手段１８及び制御/演算手
段１３に出力する。制御/演算手段１３は、スレッシュ
ドレベル可変手段１６のスレッシュ度レベル電圧（V）
の設定を行うと共に、遅延時間可変手段１９の遅延時間
の設定等の制御を実行する。

【００２８】次に、本発明におけるスレッシュドレベル
電圧（Vi）の取得における動作を図７の波形図を用いて
説明する。図７において、クロック信号３８は、入力信
号とフレーム同期が取れているものとし、フレームの最
初を０（T=0）としている。また、被測定対象３からの
入力信号であるパルスパターン信号３９は、スレッシュ
ドレベル電圧とスレッシュドレベル可変手段で比較され
る。

【００２９】そして、スレッシュドレベル可変手段の比
較出力は、パルスパターン信号３９を、スレッシュドレ
ベル電圧でスライスした４０で示す如きデジタル信号
（２値信号）となる。第２のパルスパターン発生手段１
８の出力パルスパターンは、例えば、４１で示すような
期待値となっている。

【００３０】遅延時間可変手段１９の遅延出力がTiの場
合、データ比較手段１７は、遅延時間Tiにおける４０
（パルスパターン信号３９を、スレッシュドレベル電圧
でスライスした信号）と、４１（第２のパルスパターン
発生手段１８の出力パルスパターン（期待値））とを比
較して、エラーであるか否か（両者の信号が一致してい
るか否か）を制御/演算手段１３に出力する。

【００３１】制御/演算手段１３は、スレッシュドレベ
ル電圧（Vi）を可変して、例えば図８に示すような誤り
率が大きく変化する点(V=Vi)を求める。この例では、ス
レッシュドレベル電圧（V）が入力信号より高い時にエ
ラーになり、低い時にはエラーが無い、或いは少なくな
っている。このようにして、エラー或いはエラー率の変
化点のスレッシュドレベル電圧（Vi）が、入力信号パタ
ーンのTi時刻に対応した電圧として求まる。

【００３２】制御/演算手段１３は、クロック信号の１
周期の範囲、図７のｔの期間の波形を求めるために、遅
延時間可変手段１９によって、Ti点（遅延時間）を可変
させて入力信号波形を求める。この動作を遅延時間（T
i）を変化させて、繰り返し実行することによって、ク
ロック信号３８の１周期の入力信号波形４２を求めるこ
とができる。また、このクロック信号の１周期の動作を
繰り返しことによって、任意の区間の入力信号波形４２
を求めることができる。そして、求めた入力信号波形を
表示手段２０に送信して表示する。これは、従来のオシ
ロスコープ等で入力信号波形を測定するのと同様の機能
である。

【００３３】また、入力信号波形をビットレートの周期
の整数倍毎に分割して、それらを重ね合わせた波形を表
示するようにしても良い。これは、アイパターンと称さ
れる波形である。また、これらの波形をBER値と同時に
表示手段上に表示しても良い。

【００３４】次に被測定対象（DUT）の伝達特性測定に
ついて説明する。先ず、第1のパルスパターン発生手段
９の出力を、誤り検出手段１２と接続して、パルスパタ
ーンの１フレーム分の波形を上記手順で求める。次に、
制御/演手段１３によって、算求めた波形をフーリエ変
換して、周波数特性（成分）及び位相特性（成分）を求
める。なお、波形からフーリエ変換によって、周波数特
性及び位相特性を求める処理は公知の方法によって実行
される。

【００３５】上述の処理で求められた波形の周波数特性
の例を図６に示す。図６の例では、第１のパルスパター
ン発生手段９から出力されるパルスパターンとして、M
系列信号（擬似ランダムパターン）を用いた例である。
そして、求められた波形の周波数特性、位相特性を第２
の記録手段１４に記録する。

【００３６】次に、第１のパルスパターン発生手段９の
ビットレートを変更して、上述の手順と同様に、周波数
特性及び位相特性を求めて、第２の記録装置１４に記録
する。このように、複数のビットレートでの周波数特性
及び位相特性の測定を実行して、その値を第２の記録装
置１４に記録する。これは、図６の周波数特性の例から
明らかなように、特定の周波数での値が０になるからで
あり、ビットレートを変更すると、値が０になる位置
（周波数）が変化するので、総合的にみて、０の点を無
くすためである。第２の記録手段１４に記録された周波
数特性及び位相特性は、通信手段１５，１１を経由して
パルスパターン測定器（PPG）７内の第１の記録手段１
０に記録される。

【００３７】この第１のパルスパターン発生手段９の周
波数特性及び位相特性を測定する動作は、１回目のみで
良く、２回目からはこの手順は省略できる。その場合に
は、第１の記録手段１０に記録された周波数特性及び位
相特性を、通信手段１１，１５を経由してエラーディテ
クタ（ED）８内の第２の記録手段１０に記録される。

【００３８】次に測定したい被測定対象（DUT）３を、
第1のパルスパターン発生手段９の出力と、誤り検出手
段１２との間に接続する。この接続状態は、前述のビッ
トエラー（BER）の測定及び波形測定の場合と同じであ
るので、第１のパルスパターン発生手段９の周波数特性
及び位相特性を測定しておけば、接続変更は不要であ
る。

【００３９】被測定対象３の周波数特性及び位相特性の
測定は、被測定対象３を接続した状態で前述と同様の手
順で周波数特性及び位相特性の測定を実行して、その測
定値と第１の記録手段に記録されている第１のパルスパ
ターン発生手段９の周波数特性及び位相特性との差分を
求める。この両者の差分が、求める被測定対象３の周波
数特性及び位相特性になり、従来のネットワークアナラ
イザで測定して場合と、同様の測定結果が得られる。

【００４０】この周波数特性及び位相特性の測定結果
を、表示手段２０に表示する。また、この周波数特性及
び位相特性をビットエラーの測定結果及び波形測定の測
定結果と同時に表示手段上に表示しても良い。また、表
示動作を繰り返して、表示内容を変更しても良い。

【００４１】

【発明の効果】請求項１に記載の発明では、第１のパル
スパターン発生手段によって発生された基準パルスパタ
ーン信号を、被測定対象を介して測定装置に入力する被
測定信号の、ビットエラー、伝達特性及び信号波形を測
定する多機能測定システムにおいて、前記測定装置に
は、誤り検出手段、制御/演算手段、記録手段及び表示
手段を備え、前記誤り検出手段には、前記基準パルスパ
ターン信号に同期したパルスパターンを発生する第２の
パルスパターン発生手段と、前記被測定信号をスライス
するスレッシュドレベルを可変設定するスレッシュドレ
ベル可変手段と、前記被測定信号に対応したクロック信
号を任意の時間遅延させる遅延時間可変手段と、前記ス
レッシュドレベル可変手段の出力と前記第のパルスパタ
ーン発生手段の出力とを比較するデータ比較手段とを備
える構成とすることにより、基本的なビットエラーの測
定系で、被測定対象の周波数特性及び位相特性等の伝送
特性や波形の測定も可能である。

【００４２】また、請求項２に記載の発明では、前記第
１のパルスパターン発生手段及び前記測定装置には、そ
れぞれ記憶手段を備え、前記記憶手段間は通信手段を介
してデータの送受を前記制御/演算手段によって管理す
る構成とするので、遠隔地に第1のパルスパターン発生
手段と測定装置が配置された場合のも相互にデータの利
用が容易にできる。また、請求項３に記載の発明では、
前記スレッシュドレベル可変手段の出力と前記第のパル
スパターン発生手段の出力とを比較することによって、
被測定信号のビットエラーを測定できる。

【００４３】また、請求項４に記載の発明では、前記遅
延時間可変手段の遅延時間を可変することによって被測
定信号のフレーム同期を取るフレーム同期手段と、前記
フレーム同期手段によるフレーム同期確立後に、前記遅
延時間可変手段によって、任意に時間を変化させた時点
における前記被測定信号の電圧値を複数個取得する電圧
取得手段と、を備えて、前記クロック信号の少なくとも
１周期の期間における、前記複数個の電圧値を時系列に
並べて前記表示手段に、被測定信号の信号波形として表
示できる。

【００４４】また、請求項５に記載の発明では、前記フ
レーム同期手段は、前記遅延時間可変手段の遅延時間を
可変して、被測定信号と前記第２のパルスパターン発生
手段からのパルスパターンとを前記データ比較手段によ
ってビットエラーの測定を行い、ビットエラーが規定値
以内の場合に、フレーム同期がとれていると判断する構
成とするので、測定装置含まれる要素を有効に用いてフ
レーム同期が取れる。また、請求項６に記載の発明で
は、前記電圧取得手段は、任意の遅延時間毎に、前記ス
レッシュドレベルを可変させて、ビットエラーの値が無
から有に変化する時点の測定装置に含まれる要素を有効
に利用して電圧を取得できる。

【００４５】また、請求項７に記載の発明では、前記被
測定波形をフーリエ変換して、周波数特性及び位相特性
を含む被測定対象の伝達特性を求める手段を備えて、波
形測定の結果を有効に利用して伝達特性が得られる。ま
た、請求項８に記載の発明では、前記第１のパルスパタ
ーン発生手段及び前記測定装置に含まれる記憶手段に
は、前記第１のパルスパターン発生手段単独の周波数特
性及び位相特性を含む伝達特性を記憶しておくことによ
って、第１のパルスパターン発生手段単独の周波数特性
及び位相特性を何度も測定する必要がなくなる。

【００４６】また、請求項９に記載の発明では、遅延時
間可変手段の遅延時間を可変することによって被測定信
号のフレーム同期を取るステップと、フレーム同期確立
後に、前記遅延時間可変手段によって、任意に時間を変
化させた時点における前記被測定信号の電圧値を複数個
取得するステップと、前記取得した複数個の電圧値を時
系列に並べるステップとで被測定信号の波形測定を実現
できる。

【００４７】また、請求項１０に記載の発明では、前記
電圧を取得するステップは、任意の遅延時間毎に、被測
定信号をスライスするスレッシュドレベルを可変させ
て、ビットエラーの値が無から有に変化する時点の電圧
を取得するので、ビットエラーの測定装置を有効に利用
した電圧値の取得が可能になる。また、請求項１１に記
載の発明では、前記フレーム同期を取るステップは、前
記遅延時間可変手段の遅延時間を可変して、被測定信号
と所定のパルスパターンとをデータ比較手段によってビ
ットエラーの測定を行い、ビットエラーが規定値以内の
場合に、フレーム同期がとれていると判断するので、測
定装置に含まれるビットエラー測定機能をを有効に利用
したフレームの同期が可能になる。

【００４８】上述の如く、本発明では、ビットエラーの
測定のみでなく、被測定対象の周波数特性及び位相特性
等の伝送特性や波形の測定も可能である。したがって、
従来では必要であった、オシロスコープやネットワーク
アナライザが不要になる。また、周波数特性及び位相特
性等の伝送特性、ビットエラーの測定結果及び波形測定
の測定結果と同時に表示手段上に表示できる。また、波
形の測定及び伝送特性の測定に際して、接続変更が不要
になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来の周波数特性及び位相特性等の伝送特性、
ビットエラーの測定及び波形測定を実行するシステムの
接続構成を示す図である。

【図２】本発明の周波数特性及び位相特性等の伝送特
性、ビットエラーの測定及び波形測定を実行する装置の
構成を示すブロック図である。

【図３】本発明の誤り検出手段の構成を示すブロック図
である。

【図４】本発明での波形取得の手順を説明するフローチ
ャートである。

【図５】本発明でのフレーム同期をとる手順を説明する
フローチャートである。

【図６】周波数特性の例を示す図である。

【図７】本発明でのスレッシュドレベル電圧の取得を説
明する波形図である。

【図８】スレッシュドレベル電圧と誤り率との関係を示
す図である。

【符号の説明】

３被測定対象（DUT）１，７パルスパターン発生装置２，８エラーディテクタ（ED）９第１のパルスパターン発生手段１０第１の記録手段１１、１５通信手段１２誤り検出手段１３制御/演算手段１４第２の記録手段２０表示手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】第１のパルスパターン発生手段によって
発生された基準パルスパターン信号を、被測定対象を介
して測定装置に入力する被測定信号の、ビットエラー、
伝達特性及び信号波形を測定する多機能測定システムに
おいて、前記測定装置には、誤り検出手段、制御/演算手段、記
録手段及び表示手段を備え、前記誤り検出手段には、前記基準パルスパターン信号に同期したパルスパターン
を発生する第２のパルスパターン発生手段と、前記被測定信号をスライスするスレッシュドレベルを可
変設定するスレッシュドレベル可変手段と、前記被測定信号に対応したクロック信号を任意の時間遅
延させる遅延時間可変手段と、前記スレッシュドレベル可変手段の出力と前記第のパル
スパターン発生手段の出力とを比較するデータ比較手段
と、を備えることを特徴とする多機能測定システム。
【請求項２】前記第１のパルスパターン発生手段及び
前記測定装置には、それぞれ記憶手段を備え、前記記憶
手段間は通信手段を介してデータの送受を前記制御/演
算手段によって管理されていることを特徴とする請求項
１に記載の多機能測定システム。
【請求項３】前記スレッシュドレベル可変手段の出力
と前記第のパルスパターン発生手段の出力とを比較する
ことによって、被測定信号のビットエラーを測定するこ
とを特徴とする請求項１又は２に記載の多機能測定シス
テム。
【請求項４】前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変
することによって被測定信号のフレーム同期を取るフレ
ーム同期手段と、前記フレーム同期手段によるフレーム同期確立後に、前
記遅延時間可変手段によって、任意に時間を変化させた
時点における前記被測定信号の電圧値を複数個取得する
電圧取得手段と、を備えて、前記クロック信号の少なくとも１周期の期間
における、前記複数個の電圧値を時系列に並べて前記表
示手段に、被測定信号の信号波形として表示することを
特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の多機能
測定システム。
【請求項５】前記フレーム同期手段は、前記遅延時間
可変手段の遅延時間を可変して、被測定信号と前記第２
のパルスパターン発生手段からのパルスパターンとを前
記データ比較手段によってビットエラーの測定を行い、
ビットエラーが規定値以内の場合に、フレーム同期がと
れていると判断する、ことを特徴とする請求項４に記載の多機能測定システ
ム。
【請求項６】前記電圧取得手段は、任意の遅延時間毎
に、前記スレッシュドレベルを可変させて、ビットエラ
ーの値が無から有に変化する時点の電圧を取得するこ
と、ことを特徴とする請求項４又は５に記載の多機能測定シ
ステム。
【請求項７】前記被測定波形をフーリエ変換して、周
波数特性及び位相特性を含む被測定対象の伝達特性を求
める手段を備えることを特徴とする請求項１〜５のいず
れか１項に記載の多機能測定システム。
【請求項８】前記第１のパルスパターン発生手段及び
前記測定装置に含まれる記憶手段には、前記第１のパル
スパターン発生手段単独の周波数特性及び位相特性を含
む伝達特性が記憶されていることを特徴とする請求項７
に記載の多機能測定システム。
【請求項９】遅延時間可変手段の遅延時間を可変する
ことによって被測定信号のフレーム同期を取るステップ
と、フレーム同期確立後に、前記遅延時間可変手段によっ
て、任意に時間を変化させた時点における前記被測定信
号の電圧値を複数個取得するステップと、前記取得した複数個の電圧値を時系列に並べるステップ
と、を含むことを特徴とする被測定信号の波形測定方法。
【請求項１０】前記電圧を取得するステップは、任意
の遅延時間毎に、被測定信号をスライスするスレッシュ
ドレベルを可変させて、ビットエラーの値が無から有に
変化する時点の電圧を取得することを特徴とする請求項
９記載の被測定信号の波形測定方法。
【請求項１１】前記フレーム同期を取るステップは、
前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変して、被測定信
号と所定のパルスパターンとをデータ比較手段によって
ビットエラーの測定を行い、ビットエラーが規定値以内
の場合に、フレーム同期がとれていると判断することを
特徴とする請求項９又は１０に記載の被測定信号の波形
測定方法。