JP5567804B2 - 外観検査装置 - Google Patents
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Description
2 シミュレート装置(シミュレート部)
3 カメラ(撮像手段)
4 ランプ
5 LANケーブル
6 接続用ケーブル
10 検査対象物
C1 第1検査条件
C2 第2検査条件
Claims (5)
- 検査対象物を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により前記検査対象物を撮像して得られた画像データを用いて、前記検査対象物に存在する欠陥箇所を検出する欠陥箇所検出部と、
前記欠陥箇所検出部が検出した欠陥箇所と、欠陥箇所の数または位置の少なくとも何れか一方に関する第1検査条件とをもとに前記検査対象物の良否判定を行う検査部と、
前記画像データを用いて検出した欠陥箇所と、欠陥箇所の数または位置の少なくとも何れか一方に関して、第1検査条件とは異なる一乃至複数の第2検査条件とをもとに、前記検査対象物の良否判定を、前記検査部による良否判定と同時に行うシミュレート部とを有し、
前記検査部による不良品の判定数と、前記シミュレート部による不良品の判定数とを比較する比較手段を備え、前記比較手段による比較結果に基づいて、所定の条件を満たすと、第2検査条件を、第1検査条件として前記検査部に設定することを特徴とする外観検査装置。 - 前記第1検査条件による良否判定と、前記第2検査条件による良否判定とが異なる結果を示した検査対象物を抽出して、双方の良否判定結果を表示する表示部を備えたことを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。
- 前記表示部には、前記欠陥箇所検出部が検出した欠陥箇所の数及び位置、又は、前記検査対象物の映像のうち少なくとも何れか一方を表示することを特徴とする請求項2に記載の外観検査装置。
- 前記所定の条件は、不良品の判定数が所定数となるような第2検査条件であることを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。
- 前記所定の条件は、不良品の判定数が最も多い、あるいは、最も少ない第2検査条件であることを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。
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